JP3240470B2 - 静電気測定装置 - Google Patents

静電気測定装置

Info

Publication number
JP3240470B2
JP3240470B2 JP10679398A JP10679398A JP3240470B2 JP 3240470 B2 JP3240470 B2 JP 3240470B2 JP 10679398 A JP10679398 A JP 10679398A JP 10679398 A JP10679398 A JP 10679398A JP 3240470 B2 JP3240470 B2 JP 3240470B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
case
sensor
air purge
tip
air
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP10679398A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH11304862A (ja
Inventor
哲 綿野
勝行 上橋
輝夫 鈴木
憲史 鈴木
康夫 森川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kasuga Denki Inc
Original Assignee
Kasuga Denki Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kasuga Denki Inc filed Critical Kasuga Denki Inc
Priority to JP10679398A priority Critical patent/JP3240470B2/ja
Priority to US09/276,467 priority patent/US6225809B1/en
Publication of JPH11304862A publication Critical patent/JPH11304862A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3240470B2 publication Critical patent/JP3240470B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/60Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating electrostatic variables, e.g. electrographic flaw testing
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R29/00Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
    • G01R29/12Measuring electrostatic fields or voltage-potential

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Electrochemistry (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、粉粒体、溶剤など
の流動又は堆積或いは噴霧する物質の静電気や微粒子を
含むガスの静電気を、電界や電位や電荷量等の静電気的
変量として測定する装置に関する。
【0002】
【従来の技術】特公平7−1291号公報には、容器内
で流動する粉粒体の帯電電位を検出する装置が開示され
ている。この装置は、ガスで粉粒体を流動させる容器の
外面に電位センサを取り付け、この電位センサの検出部
を容器に設けられた検出口(窓孔)に対向させ、この検
出口と電位センサとの間の板状の間隙にエアーを噴射し
て、垂直なエアーカーテンを形成することにより、電位
センサの検出部への粉粒体の接触を防止しながら、粉粒
体の電位を測定するものである。
【0003】また、特開平5−126883号には、複
写機等に用いられる現像剤等の導電性粉体をサンプリン
グしてその帯電電荷を測定するに当たり、計測器の測定
誤差を修正するための校正装置が開示されている。この
装置は、導電性粉体をろう斗から落下させながら、所定
の電圧を印加し、その時の粉粒体の電荷量を吸引式ファ
ラデーゲージで測定し、その測定値を基準ファラデーゲ
ージと比較して、その誤差を電荷計測器毎に予め校正す
る。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上記の前者の従来技術
では、流動する帯電粉粒体(浮遊帯電粉粒雲)の電位を
測定することを意図しているものの、次のような問題点
があった。 容器内で浮遊する浮遊帯電粉粒雲の電位は、容器の
中心部で最大値となり、側壁部では零ボルトに近くなる
ため、側壁部に電位センサを設置して電位を測定すると
いう方法では、意図する電位測定値が得られない。 エアーカーテンは、容器の検出口の背面に沿って流
れるエアーの層流であるため、容器から粉粒体を逆に電
位センサの検出部中に導入する事態も生じ、粉粒体が電
位センサ内に入り込んでセンサ本来の検出精度を保証で
きなくなってしまう問題がある。 浮遊帯電粉粒雲からなるべく高い電位を得ようとす
ると、電位センサを容器の側壁外部ではなく容器の内方
へ配置することになるが、そうすると、浮遊帯電粉粒雲
が容器内で形成する電界を乱すとか、電位検出電極に粉
粒体が衝突して電位検出電極自体が帯電し、測定誤差が
生ずるとか、電位検出電極と浮遊帯電粉粒雲との間で着
火性の放電が発生する危険性がある。
【0005】後者の従来技術は、導電性粉体をサンプリ
ングしてファラデーゲージに入れて電荷量を計測するも
ので、現に流動している粉粒体や溶剤やガスの静電気を
リアルタイムで測定することはできなく、またその校正
方法も、サンプリングした導電性粉体を用いて行うため
非常に面倒である。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、粉粒
体、溶剤などの流動又は堆積或いは噴霧する物質の静電
気や微粒子を含むガスの静電気を、電界や電位や電荷量
等の静電気的変量として測定するにあたり、測定領域及
びその周辺の電界を乱したりセンサの検出電極が帯電す
るというようなことなく、リアルタイムで的確かつ精度
良く測定でき、また測定器の校正を簡単に行える静電気
測定装置を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るため、本発明の静電気測定装置は、プローブと測定器
と校正用チェッカとからなる。検出電極及び静電気検出
回路をセンサケースに内蔵したセンサを、気体噴出用の
エアーパージ孔を先端に設けたエアーパージケース中に
収容したプローブと、センサからの出力により電界や電
位や電荷量等の静電気的変量を測定する測定器と、直流
高電圧を印加される金属平板、及び該金属平板に対して
前記エアーパージケースの先端が一定の間隔を保持する
ようにプローブを着脱自在に支持するホルダを有する校
正用チェッカとからなる。そして、該校正用チェッカの
金属平板を模擬帯電物体としてその静電気をセンサで検
出することにより、測定器の校正を行えるようにしたも
のである。
【0008】この場合、金属平板に、プローブのエアー
パージ孔から噴出される気体を通過させる複数の通気孔
を設けると、プローブのエアーパージケースから気体を
噴射させながら校正が行える。
【0009】センサの検出精度を良くするため、センサ
ケースの先端部に設けられた検出孔を、エアーパージケ
ースのエアーパージ孔と対向させる。センサケースの先
端部とエアーパージケースの先端部との間に気体を導く
ため、1本又は複数本のエアーパージ用配管をエアーパ
ージケース内に設け、又は、エアーパージケースとセン
サケースとの間に、エアーパージ孔へ気体を導くエアー
通路を形成する。
【0010】センサケース中にも気体を供給して該セン
サケースの検出孔から気体を噴射させ、エアーパージケ
ースのエアーパージ孔からエアーパージケース外へ噴出
させると良い。
【0011】また、センサケースをセンサ収納管に収納
してエアーパージケース中に収容するとともに、センサ
ケースとセンサ収納管との間にセンサ保持筒を介在さ
せ、センサ収納管の先端部の内面と、センサケースの先
端及びセンサ保持筒の先端との間に間隙を形成し、この
間隙に連通するエアー通路をセンサ保持筒に形成しても
よい。
【0012】
【発明の実施の形態】次に、本発明の実施の形態を図面
に基づいて詳述する。
【0013】図1に本発明の第1の実施形態を示す。こ
の静電気検出装置は、プローブAと、これと接続する測
定器Bと、プローブAの先端部に着脱自在に装着するこ
とができる携帯型の校正用チェッカCとからなる。
【0014】図2にプローブAの外観、図3に断面、図
4に先端面を示す。プローブAは、円筒形のエアーパー
ジケース1をフレックスパイプ2の先端に接続ナット3
により連結保持し、フレックスパイプ2を屈曲させるこ
とにより、エアーパージケース1を任意の方向に指向さ
せることができるようになっている。
【0015】エアーパージケース1は、後筒4と、これ
より小径でその先端部内に嵌合固定した前筒5と、この
前筒5の先端部内に嵌合固定してその先端開口を閉じた
先端キャップ6とでプローブ本体7とし、このプローブ
本体7内にセンサ8を収容保持したものである。後筒
4、前筒5及び先端キャップ6はいずれも金属製であ
る。先端キャップ6には、その内面に円形の凹部9が設
けられているとともに、この凹部9の中央から外面に開
口する円形のエアーパージ孔10が設けられている。前
筒5には中筒11が設けられている。この中筒11は、
鍔部12により前筒5と一体になっている。この鍔部1
2の前面と先端キャップ6の内面との間には、空隙13
が形成されている。
【0016】センサ8は、角筒状(又は円筒状)の金属
製センサケース14内に検出電極及び静電気検出回路を
内蔵した振動容量型又はチョッパ型であり、公知のよう
に、測定対象と検出電極との間の静電容量を、圧電音叉
等の機械的手段により周期的に変化させて検出電極上に
周期的に変化する電荷を誘起させ、この電荷の移動によ
って生ずる電流を検出回路で電圧に変換して信号を出力
する。
【0017】センサケース14は、中筒11中を貫通さ
せて止め金具15により中筒11に固定されている。中
筒11の前後端には、センサケース14との間隙を前後
で閉じるパッキン16が設けられている。センサケース
14の先端部は、先端キャップ6の凹部9中に突入し
て、この凹部9の内面との間に空隙17を形成してい
る。この空隙17は、後端が上記空隙13に連続し、ま
たエアーパージ孔10により先端キャップ6外に開口し
ている。センサケース14の先端には、先端キャップ6
のエアーパージ孔10よりも小さい検出孔18(図4)
が設けられている。この検出孔18はエアーパージ孔1
0の近くに位置しており、センサ8による電界の検出
は、これら検出孔18及びエアーパージ孔10を通じて
行われる。
【0018】センサケース14の後端には共用ホース1
9が接続されている。この共用ホース19は、図2に示
すようにフレックスパイプ2外において、分岐ジョイン
ト20によりケーブル21とエアーホース22とに接続
され、センサケース14内の検出回路を外部電気機器と
接続するための電気配線と、センサケース14内にエア
ーを供給する配管とを兼ねている。
【0019】また、図4に示すように、中筒11の鍔部
12には貫通孔23が設けられ、この貫通孔23に、エ
アー供給パイプ24が先端部をねじ込んで接続されてい
る。このエアー供給パイプ24には、フレックスパイプ
2内において、ソケット25や継手26や可撓性チュー
ブ27等を介してエアーホース28が接続されている。
このエアーホース28は、図2に示すように、フレック
スパイプ2外において、分岐ジョイント29により上記
エアーホース22と共に共通エアーホース30に接続さ
れており、エアーホース22を通じてセンサケース14
内にエアーが供給されると同時に、エアーホース28及
び空隙13・17にもエアーが供給される。なお、図3
の例では、エアー供給パイプ24を1本だけ示している
が、図8に示すように、複数本のエアー供給パイプ24
を平行にして、それぞれを上記のようにしてプローブ本
体7内に設置してもよい。
【0020】従って、センサケース14の先端部の回り
の空隙13・17を通ってエアーパージ孔10からエア
ーが噴出されると同時に、センサケース14内に供給さ
れたエアーが検出孔18から噴出される。この場合、エ
アーパージ孔10からの噴出圧よりも検出孔18からの
噴出圧の方が高くなるため、空隙17に入ったエアーが
検出孔18へ逆流することはない。プローブ本体7の先
端のエアーパージ孔10からエアーが噴出されるので、
プローブ本体7内に粉粒体や塵埃が流入するのを防止
(エアーパージ)できるとともに、これと同時にセンサ
ケース14の先端の検出孔18からもエアーが噴出され
るので、検出孔18に対しては粉粒体や塵埃の流入を二
重に防止(二重にエアーパージ)できる。また、エアー
供給パイプ24から空隙13に入ったエアーは、センサ
ケース14の先端部の回りの空隙17を通ってからエア
ーパージ孔10より噴出されるので、センサケース14
の先端部の外面への粉粒体等の付着も防止できる。
【0021】また、特に図の例では、金属製先端キャッ
プ6に凹部9を設け、この凹部9にセンサケース14の
先端部を突入させて空隙17を形成しているので、セン
サ8を保護するためにプローブ本体7内に収容していて
も、検出孔18をエアーパージ孔10に出来るだけ近づ
けてセンサ8の検出性能を確保できる。
【0022】校正用チェッカCは、図5及び図6に示す
ような円筒形のチェッカケース31内に、図7に示すよ
うな直流高電圧発生回路Dを実装した回路基板32、プ
リント基板33及び電源電池34を内蔵し、チェッカケ
ース31の後端を閉じる後蓋35に、電源スイッチ36
及び電池蓋37を設けたものである。プリント基板33
は、チェッカケース31の軸線と直角になるように回路
基板32の前端に固定されている。プリント基板33の
前面には、金属平板である銅箔38が張り付けられ、ま
たチェッカケース31の前端開口よりやや内方には、ス
トッパ39がプリント基板33と平行にして固定されて
いる。
【0023】図7に示す直流高電圧発生回路Eは、電源
電池34の直流電圧を昇圧する(例えば、1.5Vを+
5Vにする)昇圧回路(DC/DCコンバータ)40
と、その昇圧された電圧を可変抵抗41による所定の範
囲内(例えば、1.5V〜4V)の定電圧に設定する定
電圧回路42と、その定電圧により発振する発振駆動回
路43と、発振駆動回路43の高周波電圧を昇圧する高
周波トランス44と、高周波トランス44の二次電圧を
直流に整流するとともに増幅する倍電圧整流回路45
と、倍電圧整流回路45から抵抗46を介して上記銅箔
38に印加される直流の高電圧の正負の極性を切り替え
る極性切替スイッチ47と、動作確認ランプ48とで構
成されている。
【0024】このような校正用チェッカCを用いて校正
するときには、図5に示すように、プローブAのエアー
パージケース1の先端部の外周に、校正用チェッカCの
チェッカケース31の先端部を着脱自在に嵌合させる。
このとき、エアーパージケース1の先端面がチェッカケ
ース31内のストッパ39に当接するところまで嵌合さ
せると、センサ8が銅箔38に対して一定の間隔を保持
した状態で対向する。
【0025】この状態のまま、校正用チェッカCの電源
スイッチ36をオンにすると、極性切替スイッチ47で
設定した極性の一定の直流高電圧が銅箔38に印加され
るので、この銅箔38が、一定の高電圧に帯電した模擬
帯電物体となる。そこで、図1に示した測定器Bにおい
て、その表示部49の感度調整摘み50を回して増幅器
51の増幅率を調整する。この増幅器51は、プローブ
Aからの出力を増幅して表示部52に表示させるので、
表示部52に表示される値が、銅箔38による静電気の
電界又は電位或いは電荷量の値と対応するように調整す
ることにより、測定器Bを校正することができる。
【0026】このようにして測定器Bを校正してから、
校正用チェッカCをプローブAから外し、上記のように
エアーパージしながら実際の測定を行えば、電界又は電
位或いは電荷量をリアルタイムで精度良く測定できる。
その測定データをパーソナルコンピュータ等でデータ処
理するため、外部出力端子53から外部出力できるよう
になっている。校正用チェッカCは、プローブAに対し
着脱自在な携帯型であるため、測定器Bの校正を随時に
行える。
【0027】測定器Bには、共通エアーホース30を通
じて上記のようにエアー供給するエアー供給系の制御機
構も装備されている。
【0028】図9及び図10はプローブの他の例を示
す。このプローブA’は、センサ8の角筒状(又は円筒
状)の金属製センサケース14を、それより少し大きい
角筒状(又は円筒状)の金属製外ケースであるエアーパ
ージケース1内に収納し、センサケース14の先端面1
4aとエアーパージケース1の先端壁の内面1aとの
間、及びセンサケース14の周壁外面14bとエアーパ
ージケース1の周壁内面1bとの間に狭い隙間を形成
し、この隙間にエアー等の気体をエアーパージケース1
の後端から供給し、またエアーパージケース1のエアー
パージ孔10を、センサケース14の検出孔18と同じ
位置に設けるとともに、この検出孔18と同等に小さく
して、上述したプローブAよりも速い流速でエアーパー
ジ孔10から気体を噴射するようにしたものである。
【0029】例えば、エアーパージ孔10の直径を1m
m〜5mm程度とし、これに伴うセンサ8の電界検出感
度の低下を防ぐために、センサケース14の先端面14
aとエアーパージケース1の先端壁の内面1aとの隙間
は約1mm程度と小さくし、またセンサケース14の周
壁外面14bとエアーパージケース1の周壁内面1bと
の隙間も、プローブA’の小型化を図るため約1〜5m
m程度とする。
【0030】図11に示すように、センサケース14中
にも、その後端からエアーホース28aを通じて気体を
供給し、センサケース14の検出孔18からもエアーパ
ージを行えば、センサケース14に対するエアーパージ
がより確実になる。このようなことは、図2〜図4に示
したプローブAについても同様である。また、エアーパ
ージケース1を二重壁構造として、その二重壁の隙間か
らもエアー等の気体を供給できるようにすることもでき
る。
【0031】図12から図14に校正用チェッカの他の
例を示す。この校正用チェッカC’は、ゴム足付きの台
板60上に箱状の枠板61を固定し、この枠板61の内
側に、円形孔62を中央に有する支持板63を垂直に固
定し、この支持板63の裏側に、複数のスペーサ64で
一定の間隔を保持して金属平板65を垂直に固定すると
ともに、支持板63の前面中央に、その円形孔62と一
致させて円筒形ホルダ66を固着したものである。
【0032】金属平板65には、複数の通気孔67が支
持板63の円形孔62の領域を含む範囲に貫設されてい
る。円筒形ホルダ66は、図2から図4に示したプロー
ブAのエアーパージケース1の先端部を抜き差し自在に
挿入することができる内径で、該円筒形ホルダ66の内
周面の中間には、エアーパージケース1の先端と係合し
てストッパとなる段部66aが形成されている。枠板6
1には、直流高電圧電源(図示せず)からのケーブルの
先端を接続することにより、金属平板65に直流高電圧
を印加できる高電圧印加用接続端子68が取り付けられ
ている。
【0033】この校正用チェッカC’を用いて校正する
場合には、図2から図4に示したプローブAのエアーパ
ージケース1の先端部をホルダ66内に挿入し、金属平
板65に直流高電圧を印加してこれを模擬帯電物体とし
て図1に示した測定器Bを校正する。この場合、金属平
板65に複数の通気孔67が設けられているので、エア
ーパージケース1のエアーパージ孔10からエアーを噴
出させながら、校正を行うことができる。
【0034】図15ないし図17にプローブの別の具体
例を示す。このプローブA”のエアーパージケース1
は、先端キャップ6と内筒70と外筒71とでエアーパ
ージケース本体7を構成している。また、センサケース
14を、先端部72aが閉じたセンサ収納管72中に前
後のセンサ保持筒73・74を介して収納して、センサ
収納管72と共にエアーパージケース1内に収容し、セ
ンサ収納管72と先端キャップ6の凹部9との間に空隙
17を形成している。内筒70には、この空隙17に連
通する複数のエアー通路(横孔)75が設けられ、各エ
アー通路75の後端にエアー供給パイプ(図示せず)が
接続されている。
【0035】また、センサ収納管72の先端部72aの
内面と、センサケース14の先端及び前側のセンサ保持
筒73の先端との間には僅かな空隙76が形成され、こ
の間隙76は、センサ収納管72の先端部72aに設け
られた連通孔72bを通じて上記空隙17に連通してい
る。更に、センサケース14の外周面と前側のセンサ保
持筒73の内周面との間には、センサ保持筒73の内周
面の長溝による複数のエアー通路77が形成されてい
る。これらエアー通路77の前端は、上記間隙76に連
通し、後端は、前後のセンサ保持筒73と74との間に
おいてセンサ収納管72内に形成された空隙78と連通
している。この空隙78には、センサ収納管72の外周
面のニップル79に配管接続される別のエアー供給管
(図示せず)からエアーが供給されるようになってい
る。符号80は、センサケース14と後側のセンサ保持
筒74との間をシールするシール材である。
【0036】従って、エアーパージケース1内におい
て、センサ収納管72の先端部周辺の空隙17を通って
エアーパージ孔10からエアーが噴出されると同時に、
センサ収納管72内でも、センサケース14の先端部7
2aの周りを通って、連通孔72b及びエアーパージ孔
10からエアーが噴出されるので、二重にエアーパージ
できる。
【0037】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、センサを
プローブの本体であるエアーパージケース中に収容して
保護し、該エアーパージケースの先端のエアーパージ孔
からエアー等の気体を噴射しながら測定するので、粉粒
体、溶剤などの流動又は堆積或いは噴霧する物質の静電
気や微粒子を含むガスの静電気を、測定領域及びその周
辺の電界を乱したりセンサの検出電極が帯電するという
ようなことなく、リアルタイムで的確かつ精度良く測定
できる。
【0038】また、プローブに対して着脱自在な校正用
チェッカを用い、その金属平板に直流高電圧を印加して
模擬帯電物体とし、その静電気をプローブ内のセンサで
検出することにより、測定器を校正できるので、校正作
業が簡単となり、校正を随時行うことにより常に高精度
の測定値が得られる。
【0039】更に、センサケースの先端部の外面への粉
粒体や塵埃の付着を防止でき、特に、二重にエアーパー
ジすれば、粉粒体や塵埃の付着を更に確実に防止して、
検出精度を一層向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による静電気測定装置の概要図である。
【図2】この静電気測定装置に含まれるプローブの一例
の外観側面図である。
【図3】同プローブの断面図である。
【図4】同プローブのエアーパージケースの正面図であ
る。
【図5】校正用チェッカの一例の断面図である。
【図6】同上の後面図である。
【図7】同校正用チェッカに組み込まれている直流高電
圧発生回路の電気回路図である。
【図8】図3に示したプローブの変形例の断面図であ
る。
【図9】プローブの他の例の外観斜視図である。
【図10】同上の簡略断面図である。
【図11】センサケース中にも気体を供給するプローブ
の簡略断面図である。
【図12】校正用チェッカの他の例の斜視図である。
【図13】同上の正面図である。
【図14】同じく一部を切欠した側面図である。
【図15】プローブの別の具体例の縦断面図である。
【図16】同上の横断面図である。
【図17】同上の一部の切欠斜視図である。
【符号の説明】
A・A’・A” プローブ B 測定器 1 エアーパージケース 8 センサ 10 エアーパージ孔 14 センサケース 18 検出孔 C・C’ 校正用チェッカ D 直流高電圧発生回路 38 銅箔(金属平板) 65 金属平板 66 ホルダ 67 通気孔 72 センサ収納管 72b 連通孔 73 センサ保護筒 75・77 エアー通路 76 間隙
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 森川 康夫 埼玉県新座市野火止5−25−17 (56)参考文献 特開 平11−304863(JP,A) 特開 平10−62471(JP,A) 特開 昭60−37568(JP,A) 特開 平5−61304(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01R 29/24 G01N 27/60

Claims (6)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】検出電極及び静電気検出回路をセンサケー
    スに内蔵したセンサを、気体噴出用のエアーパージ孔を
    先端に設けたエアーパージケース中に収容したプローブ
    と、前記センサからの出力により電界や電位や電荷量等
    の静電気的変量を測定する測定器と、直流高電圧を印加
    される金属平板、及び該金属平板に対して前記エアーパ
    ージケースの先端が一定の間隔を保持するように前記プ
    ローブを着脱自在に支持するホルダを有する校正用チェ
    ッカとからなり、該校正用チェッカの金属平板を模擬帯
    電物体としてその静電気をセンサで検出することによ
    り、測定器の校正を行えるようにしたことを特徴とする
    静電気測定装置。
  2. 【請求項2】校正用チェッカの金属平板に、プローブの
    エアーパージ孔から噴出される気体を通過させる複数の
    通気孔を設けたことを特徴とする請求項1に記載の静電
    気測定装置。
  3. 【請求項3】センサケースの先端部に設けられた検出孔
    を、エアーパージケースの先端のエアーパージ孔と対向
    させ、センサケースの先端部とエアーパージケースの先
    端部との間に気体を導くエアーパージ用配管を、エアー
    パージケース内に設けたことを特徴とする、請求項1又
    は2に記載の静電気測定装置。
  4. 【請求項4】センサケースの先端部に設けられた検出孔
    を、エアーパージケースの先端のエアーパージ孔と対向
    させ、エアーパージケースとセンサケースの間に、エア
    ーパージ孔へ気体を導くエアー通路を形成したことを特
    徴とする、請求項1又は2に記載の静電気測定装置。
  5. 【請求項5】センサケース中にも気体を供給して該セン
    サケースの検出孔から気体を噴射させ、エアーパージケ
    ースのエアーパージ孔からエアーパージケース外へ噴出
    させることを特徴とする請求項3又は4に記載の静電気
    測定装置。
  6. 【請求項6】センサケースをセンサ収納管に収納してエ
    アーパージケース中に収容するとともに、センサケース
    とセンサ収納管との間にセンサ保持筒を介在させ、セン
    サ収納管の先端部の内面と、センサケースの先端及びセ
    ンサ保持筒の先端との間に間隙を形成し、この間隙に連
    通するエアー通路をセンサ保持筒に形成したことを特徴
    とする請求項1又は2に記載の静電気測定装置。
JP10679398A 1998-04-16 1998-04-16 静電気測定装置 Expired - Fee Related JP3240470B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10679398A JP3240470B2 (ja) 1998-04-16 1998-04-16 静電気測定装置
US09/276,467 US6225809B1 (en) 1998-04-16 1999-03-25 Static electricity measuring system

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10679398A JP3240470B2 (ja) 1998-04-16 1998-04-16 静電気測定装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH11304862A JPH11304862A (ja) 1999-11-05
JP3240470B2 true JP3240470B2 (ja) 2001-12-17

Family

ID=14442781

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP10679398A Expired - Fee Related JP3240470B2 (ja) 1998-04-16 1998-04-16 静電気測定装置

Country Status (2)

Country Link
US (1) US6225809B1 (ja)
JP (1) JP3240470B2 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8410805B2 (en) 2009-02-27 2013-04-02 Fujitsu Limited Electric field detection probe, method thereof, and manufacturing method of circuit board
JP7262178B2 (ja) 2018-01-31 2023-04-21 アサヒ飲料株式会社 飲料および飲料への乳風味付与方法

Families Citing this family (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2006114887A1 (ja) * 2005-04-25 2006-11-02 Mayekawa Mfg. Co., Ltd スラッシュ流体の製造方法及び製造装置
US20100013654A1 (en) * 2008-07-16 2010-01-21 Williams Bruce A Self-contained monitoring and remote testing device and method
TWI345698B (en) * 2008-09-10 2011-07-21 Asustek Comp Inc Fan module and system
KR100970277B1 (ko) 2008-09-23 2010-07-16 한국산업기술시험원 전계 측정기용 교정 장치
KR101113945B1 (ko) 2009-04-20 2012-03-14 장희중 전압감지기구
US9476928B2 (en) * 2009-04-28 2016-10-25 Textron Innovations Inc. System and method for detecting sensor leakage
MX2013004442A (es) * 2010-10-22 2013-12-16 Laitram Llc Sistema transportador, banda, y metodo para la medicion y control de la electricidad estatica.
CN103033552B (zh) * 2012-12-28 2015-04-15 工业和信息化部电子第五研究所 微结构材料机械性能退化检测方法
EP2787357B1 (de) * 2013-04-05 2019-08-07 Omicron electronics GmbH Verfahren und Vorrichtung zum Testen eines Transformators
FR3005525B1 (fr) * 2013-05-07 2015-04-24 Labinal Gaine de protection d'un harnais electrique afin de prevenir sa deterioration
US10001509B2 (en) * 2014-10-30 2018-06-19 Tongfu Microelectronics Co., Ltd. Semiconductor testing fixture and fabrication method thereof
US10598703B2 (en) * 2015-07-20 2020-03-24 Eaton Intelligent Power Limited Electric fuse current sensing systems and monitoring methods
EP3391063B1 (de) * 2015-12-18 2022-04-20 Omicron electronics GmbH Mobile transformatorprüfvorrichtung und verfahren zum prüfen eines leistungstransformators
US10935508B2 (en) * 2017-08-28 2021-03-02 Xiamen Eco Lighting Co. Ltd. Liquid detection device and liquid detection system for abnormal liquid on a surface
US11289298B2 (en) 2018-05-31 2022-03-29 Eaton Intelligent Power Limited Monitoring systems and methods for estimating thermal-mechanical fatigue in an electrical fuse
US11143718B2 (en) 2018-05-31 2021-10-12 Eaton Intelligent Power Limited Monitoring systems and methods for estimating thermal-mechanical fatigue in an electrical fuse
CN111693787A (zh) * 2020-04-30 2020-09-22 北京兴天通电讯科技有限公司 一种便携式雷电预警系统
CN111947690B (zh) * 2020-07-17 2022-04-19 中国航空工业集团公司北京长城航空测控技术研究所 一种静电传感器循环测试装置
CN114252709B (zh) * 2021-12-29 2023-11-14 江西鑫铂瑞科技有限公司 一种中控系统台电信号校准辅助系统

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4139813A (en) * 1977-04-01 1979-02-13 Xerox Corporation Adaptor for an electrometer probe to permit contact potential measurements and method for using same
JPH05126883A (ja) 1991-11-07 1993-05-21 Mita Ind Co Ltd 粉体電荷計測器の校正装置
JP3341268B2 (ja) 1993-04-20 2002-11-05 豊和工業株式会社 工具ホルダ
JP2887744B2 (ja) 1996-08-22 1999-04-26 春日電機株式会社 静電気検知装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8410805B2 (en) 2009-02-27 2013-04-02 Fujitsu Limited Electric field detection probe, method thereof, and manufacturing method of circuit board
JP7262178B2 (ja) 2018-01-31 2023-04-21 アサヒ飲料株式会社 飲料および飲料への乳風味付与方法

Also Published As

Publication number Publication date
US6225809B1 (en) 2001-05-01
JPH11304862A (ja) 1999-11-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3240470B2 (ja) 静電気測定装置
US4970391A (en) Radiation detector with an ionizable gas atop an integrated circuit
US5136247A (en) Apparatus and methods for calibrated work function measurements
US6472887B1 (en) Capacitive sensor for sensing the amount of material in a container
US5247832A (en) Vibrator-type level sensor
JP6730154B2 (ja) 微粒子測定装置および微粒子測定システム
CA1288529C (en) Radiation detector with an ionizable gas atop an integrated circuit
ATE352031T1 (de) Vorrichtung zur messung der teilchengrösse
EP0763719A1 (en) Device for measuring flow rate of powder, method and device for supplying powder
EP1426772B1 (en) Impedance measuring circuit, its method, and capacitance measuring circuit
JP3240471B2 (ja) 粉粒体の静電界測定方法及び装置
US6771075B2 (en) Air ion measuring device
US20190217627A1 (en) Inkjet Recording Apparatus
US4147981A (en) Electrostatic voltmeter probe positioned on the outside of a housing and vibrated by a piezoelectric transducer within the housing
US4139813A (en) Adaptor for an electrometer probe to permit contact potential measurements and method for using same
JP2887744B2 (ja) 静電気検知装置
JP4130188B2 (ja) 表面電位計
US4127806A (en) Shielded electrometer whose output is used to control width of pulses fed back to the shield and associated battery test circuitry
JPH06281622A (ja) 液中粒子の電荷測定装置
JP2003156551A (ja) 容量計の校正方法、校正用標準容量ボックス、静電容量の測定方法、容量測定用ボックス及び容量計
JP3443807B2 (ja) 超音波漏洩検出装置
JP4568171B2 (ja) 粒子帯電量分布測定装置
JPH0474702B2 (ja)
JP3093717B2 (ja) 粉体帯電量測定装置
JPH0587852A (ja) 感光ドラムの表面電位測定用プローブ

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091019

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091019

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101019

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101019

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111019

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111019

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121019

Year of fee payment: 11

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121019

Year of fee payment: 11

R360 Written notification for declining of transfer of rights

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R360

R360 Written notification for declining of transfer of rights

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R360

R371 Transfer withdrawn

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R371

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121019

Year of fee payment: 11

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121019

Year of fee payment: 11

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121019

Year of fee payment: 11

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131019

Year of fee payment: 12

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees