JP3240471B2 - 粉粒体の静電界測定方法及び装置 - Google Patents

粉粒体の静電界測定方法及び装置

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JP3240471B2 JP10679798A JP10679798A JP3240471B2 JP 3240471 B2 JP3240471 B2 JP 3240471B2 JP 10679798 A JP10679798 A JP 10679798A JP 10679798 A JP10679798 A JP 10679798A JP 3240471 B2 JP3240471 B2 JP 3240471B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、容器又は配管内で
流動又は堆積する粉粒体が形成する静電界を測定する方
法及び装置に関し、各種の粉粒体処理システム(乾燥、
造粒、整粒、混練、空気輸送等)に広範に適用できるも
のである。
【0002】
【従来の技術】特公平7−1291号公報には、流動層
(容器内)で流動する粉粒体の帯電電位を検出する方法
が開示されている。この方法は、ガスで粉粒体を流動さ
せる容器の外面に電位センサを取り付け、この電位セン
サの検出部を容器に設けられた検出口(窓孔)に対向さ
せ、この検出口と電位センサとの間の板状の間隙にエア
ーを噴射して、垂直なエアーカーテンを形成することに
より、電位センサの検出部への粉粒体の接触を防止しな
がら、粉粒体の電位を測定するものである。
【0003】また、特開平5-126883号には、複
写機等に用いられる現像剤等の導電性粉体をサンプリン
グしてその帯電電荷を測定するに当たり、計測器の測定
誤差を修正するための校正方法が開示されている。この
方法は、導電性粉体をろう斗から落下させながら、所定
の電圧を印加し、その時の粉粒体の電荷量を吸引式ファ
ラデーゲージで測定し、その測定値を基準ファラデーゲ
ージと比較して、その誤差を電荷計測器毎に予め校正す
る。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上記の前者の従来技術
では、流動する帯電粉粒体(浮遊帯電粉粒雲)の電位を
測定することを意図しているものの、次のような問題点
があった。 容器内で浮遊する浮遊帯電粉粒雲の電位
は、容器の中心部で最大値となり、側壁部では零ボルト
に近くなるため、側壁部に電位センサを設置して電位を
測定するという方法では、意図する電位測定値が得られ
ない。 エアーカーテンは、容器の検出口の背面に沿
って流れるエアーの層流であるため、容器から粉粒体を
逆に電位センサの検出部中に導入する事態も生じ、粉粒
体が電位センサ内に入り込んでセンサ本来の検出精度を
保証できなくなってしまう問題がある。 浮遊帯電粉
粒雲からなるべく高い電位を得ようとすると、電位セン
サを容器の側壁外部ではなく容器の内方へ配置すること
になるが、そうすると、浮遊帯電粉粒雲が容器内で形成
する電界を乱すとか、電位検出電極に粉粒体が衝突して
電位検出電極自体が帯電し、測定誤差が生ずるとか、電
位検出電極と浮遊帯電粉粒雲との間で着火性の放電が発
生する危険性がある。
【0005】後者の従来技術は、導電性粉体をサンプリ
ングしてファラデーゲージに入れて電荷量を計測するも
ので、現に容器内で流動している粉粒体をリアルタイム
で測定することはできなく、またその校正方法も、サン
プリングした導電性粉体を用いて行うため非常に面倒で
ある。
【0006】ところで、浮遊帯電粉粒雲の静電気を測定
する場合、その粉粒体の電荷量(電荷密度)を測定する
ことが望ましいが、電荷密度は、測定範囲の面積又は体
積が特定されなければならない。しかし、容器内や配管
中で現に流動している粉粒体について、測定範囲の面積
又は体積を特定するには無理がある。
【0007】ところが、電荷密度と電界とは密接な関係
があり、電荷によって生ずるのが電界であるため、電荷
密度そのものでなくとも、浮遊帯電粉粒雲の静電気を電
界として検出すれば、電荷密度に近い測定結果が得られ
ることになる。また、容器内や配管中で流動する粉粒体
の場合には、容器又は配管の側壁部位で電界が最大とな
る。
【0008】本発明は、このような観点から、容器内や
配管中で流動又は堆積する粉粒体が形成する静電界を、
容器内や配管中の電界を乱したりセンサの検出電極が帯
電するというようなことなく、側壁部位においてリアル
タイムで的確に測定でき、しかも精度の高い電界測定値
が得られる粉粒体の静電界測定方法及び装置を提案した
ものである。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明の第1の態様の方
法は、粉粒体が形成する静電界を、容器の壁に設けられ
た検出口を通じて静電界センサにより測定する方法であ
って、容器の壁に擬した接地金属平板の検出口に静電界
センサを臨ませるとともに、該静電界センサに対して、
金属平板に直流高電圧を印加した模擬帯電物体を平行に
対向させ、これら金属平板間に平等電界を形成した状態
で静電界センサの検出値を校正した後、静電界センサを
容器の壁の検出口に臨ませて、粉粒体が形成する静電界
を測定する。すなわち、模擬の測定により静電界センサ
の校正を事前に行ってから、静電界センサを容器の壁に
実際に設置して実測を行う。
【0010】本発明の第2の態様の方法は、静電界セン
サを容器の壁に設置した後でも随時に校正できるように
するもので、静電界センサとして、検出電極及び電界検
出回路を内蔵したセンサケースをエアーパージケース内
に収容したセンサを用い、またこの静電界センサのため
の校正用チェッカとして、直流高電圧発生回路と金属平
板とを本体ケースに内蔵したチェッカを用いる。そし
て、この校正用チェッカの本体ケースを静電界センサの
エアーパージケースの先端に着脱自在に取り付け、直流
高電圧発生回路により金属平板に直流高電圧を印加し
て、該金属平板を模擬帯電物体として静電界センサの検
出値を校正した後、校正用チェッカを静電界センサから
外し、該静電界センサのエアーパージケース中に気体を
供給して、エアーパージケースの先端のエアーパージ孔
から気体を噴出させながら、粉粒体が形成する静電界
を、エアーパージ孔及びセンサケースの検出孔を通じて
測定する。
【0011】また、本発明による静電界測定装置は、容
器の壁に設けられた検出口に静電界センサを設置し、容
器の内部で粉粒体が形成する静電界を静電界センサで検
出してその値を測定するものであって、直流高電圧発生
回路と金属平板とを本体ケースに内蔵し、この本体ケー
スを前記静電界センサのエアーパージケースの先端に着
脱自在に取り付けて、直流高電圧発生回路により金属平
板に直流高電圧を印加することにより、該金属平板を模
擬帯電物体とすることができる校正用チェッカを備えて
いる。
【0012】静電界センサをエアーパージして、その内
部に粉粒体が入り込まないようにするため、静電界セン
サとして、検出電極及び電界検出回路を内蔵したセンサ
ケースをエアーパージケース内に収容したセンサを用
い、そのエアーパージケース中に気体を供給して、該エ
アーパージケースの先端のエアーパージ孔から気体を噴
出させながら、粉粒体が形成する静電界を、エアーパー
ジ孔及びセンサケースの検出孔を通じて測定する。
【0013】また、静電界センサの構造としては、セン
サケースをセンサ収納管中に収納して、このセンサ収納
管と共にエアーパージケース内に収容し、これらセンサ
収納管とエアーパージケースとの間、及びセンサケース
とセンサ収納管との間に、エアーパージ孔へ気体を導く
エアー通路を形成したものが良い。
【0014】
【発明の実施の形態】次に、本発明の実施の形態を図面
に基づいて詳述する。
【0015】先ず、本発明において使用する静電界セン
サの一例について説明する。図1に外観を示す静電界セ
ンサAは、円筒形のエアーパージケース1をフレックス
パイプ2の先端に接続ナット3により連結保持し、フレ
ックスパイプ2を屈曲させることにより、エアーパージ
ケース1を任意の方向に指向させることができるように
なっている。
【0016】エアーパージケース1は、図2に示すよう
に、後筒4と、これより小径でその先端部内に嵌合固定
した前筒5と、この前筒5の先端部内に嵌合固定してそ
の先端開口を閉じた先端キャップ6とでエアーパージケ
ース本体7とし、このエアーパージケース本体7内にセ
ンサ8を収容保持したものである。後筒4、前筒5及び
先端キャップ6はいずれも金属製である。先端キャップ
6には、その内面に円形の凹部9が設けられているとと
もに、この凹部9の中央から外面に開口する円形のエア
ーパージ孔10が設けられている。前筒5には中筒11
が設けられている。この中筒11は、鍔部12により前
筒5と一体になっている。この鍔部12の前面と先端キ
ャップ6の内面との間には、空隙13が形成されてい
る。
【0017】センサ8は、角筒状(又は円筒状)の金属
製センサケース14内に検出電極及び電界検出回路を内
蔵した振動容量型又はチョッパ型であり、公知のよう
に、測定対象と検出電極との間の静電容量を、圧電音叉
等の機械的手段により周期的に変化させて検出電極上に
周期的に変化する電荷を誘起させ、この電荷の移動によ
って生ずる電流を検出回路で電圧に変換して信号を出力
する。
【0018】センサケース14は、中筒11中を貫通さ
せて止め金具15により中筒11に固定されている。中
筒11の前後端には、センサケース14との間隙を前後
で閉じるパッキン16が設けられている。センサケース
14の先端部は、先端キャップ6の凹部9中に突入し
て、この凹部9の内面との間に空隙17を形成してい
る。この空隙17は、後端が上記空隙13に連続し、ま
たエアーパージ孔10により先端キャップ6外に開口し
ている。センサケース14の先端には、先端キャップ6
のエアーパージ孔10よりも小さい検出孔18(図3)
が設けられている。この検出孔18はエアーパージ孔1
0の近くに位置しており、センサ8による電界の検出
は、これら検出孔18及びエアーパージ孔10を通じて
行われる。
【0019】センサケース14の後端には共用ホース1
9が接続されている。この共用ホース19は、図1に示
すようにフレックスパイプ2外において、分岐ジョイン
ト20によりケーブル21とエアーホース22とに接続
され、センサケース14内の検出回路を外部電気機器と
接続するための電気配線と、センサケース14内にエア
ーを供給する配管とを兼ねている。
【0020】また、図2に示すように、中筒11の鍔部
12には貫通孔23が設けられ、この貫通孔23に、エ
アー供給パイプ24が先端部をねじ込んで接続されてい
る。このエアー供給パイプ24には、フレックスパイプ
2内において、ソケット25や継手26や可撓性チュー
ブ27等を介してエアーホース28が接続されている。
このエアーホース28は、図1に示すように、フレック
スパイプ2外において、分岐ジョイント29により上記
エアーホース22と共に共通エアーホース30に接続さ
れており、エアーホース22を通じてセンサケース14
内にエアーが供給されると同時に、エアーホース28及
び空隙13・17にもエアーが供給される。なお、図2
の例では、エアー供給パイプ24を1本だけ示している
が、その本数は1本でも、複数本でもよい。
【0021】従って、センサケース14の先端部の回り
の空隙13・17を通ってエアーパージ孔10からエア
ーが噴出されると同時に、センサケース14内に供給さ
れたエアーが検出孔18から噴出される。この場合、エ
アーパージ孔10からの噴出圧よりも検出孔18からの
噴出圧の方が高くなるため、空隙17に入ったエアーが
検出孔18へ逆流することはない。エアーパージケース
本体7の先端のエアーパージ孔10からエアーが噴出さ
れるので、エアーパージケース本体7内に粉粒体や塵埃
が流入するのを防止(エアーパージ)できるとともに、
これと同時にセンサケース14の先端の検出孔18から
もエアーが噴出されるので、検出孔18に対しては粉粒
体や塵埃の流入を二重に防止(二重にエアーパージ)で
きる。また、エアー供給パイプ24から空隙13に入っ
たエアーは、センサケース14の先端部の回りの空隙1
7を通ってからエアーパージ孔10より噴出されるの
で、センサケース14の先端部の外面への粉粒体や塵埃
の付着も防止できる。
【0022】また、特に図の例では、金属製先端キャッ
プ6に凹部9を設け、この凹部9にセンサケース14の
先端部を突入させて空隙17を形成しているので、セン
サ8を保護するためにエアーパージケース本体7内に収
容していても、検出孔18をエアーパージ孔10に出来
るだけ近づけてセンサ8の検出性能を確保できる。
【0023】上記のような静電界センサAを実際に使用
する場合には、図4に示すように、例えば粉粒体を流動
させながら乾燥させる流動乾燥機Cの側壁C1に設けら
れた検出口に静電界センサAを取り付け、流動乾燥機C
の外部において静電界センサAに電界測定装置Bを接続
して、流動乾燥機C内の側壁部位の静電界を測定する
が、その取り付けを最初に行う前に、模擬測定により静
電界センサAの測定値を次のように事前に校正する。
【0024】図5に示すように、流動乾燥機Cの側壁C
1に擬した接地金属平板C1’を用意して、その検出口
C2’に静電界センサAのエアーパージケース1を着脱
自在に取り付け、接地金属平板C1’に金属平板C2を
平行に対向させ、この金属平板C2に直流高電圧を印加
して模擬帯電物体とし、これら接地金属平板C1’と金
属平板C2との間に平等電界を形成する。接地金属平板
C1’は電気的に接地しておく。
【0025】そして、電界測定装置Bにおいて、その電
界表示部49の感度調整摘み50を回して増幅器51の
増幅率を調整する。この増幅器51は、静電界センサA
からの出力を増幅して表示部52に表示させるので、表
示部52に表示される値が、模擬帯電物体である金属平
板C2による電界の値と対応するように調整することに
より、電界測定装置Bを校正することができる。
【0026】このように校正してから、静電界センサA
を流動乾燥機Cの側壁C1に設けられた検出口に取り付
けて実測する。この場合、エアーパージ孔10を流動乾
燥機Cの内方に指向させて上記のようにエアーパージし
ながら実際の測定を行えば、流動乾燥機C内で粉粒体が
形成する電界、特に側壁部位における電界をリアルタイ
ムで精度良く測定できる。その測定データをパーソナル
コンピュータ等でデータ処理するため、外部出力端子5
3から外部出力できるようになっている。
【0027】電界測定装置Bには、共通エアーホース3
0を通じて上記のようにエアー供給するエアー供給系の
制御機構も装備されている。
【0028】また、図6、図7及び図8に示す携帯型の
校正用チェッカDを用いれば、電界測定装置Bの校正を
随時に行えるもので、次にこの校正用チェッカDの構造
について説明する。
【0029】校正用チェッカDは、図6及び図7に示す
ような円筒形の本体ケース31内に、図8に示すような
直流高電圧発生回路Eを実装した回路基板32、プリン
ト基板33及び電源電池34を内蔵し、本体ケース31
の後端を閉じる後蓋35に、電源スイッチ36及び電池
蓋37を設けたものである。プリント基板33は、本体
ケース31の軸線と直角になるように回路基板32の前
端に固定されている。プリント基板33の前面には、金
属平板である銅箔38が張り付けられ、また本体ケース
31の前端開口よりやや内方には、ストッパ39がプリ
ント基板33と平行にして固定されている。
【0030】図8に示す直流高電圧発生回路Eは、電源
電池34の直流電圧を昇圧する(例えば、1.5Vを+
5Vにする)昇圧回路(DC/DCコンバータ)40
と、その昇圧された電圧を可変抵抗41による所定の範
囲内(例えば、1.5V〜4V)の定電圧に設定する定
電圧回路42と、その定電圧により発振する発振駆動回
路43と、発振駆動回路43の高周波電圧を昇圧する高
周波トランス44と、高周波トランス44の二次電圧を
直流に整流するとともに増幅する倍電圧整流回路45
と、倍電圧整流回路45から抵抗46を介して上記銅箔
38に印加される直流の高電圧の正負の極性を切り替え
る極性切替スイッチ47と、動作確認ランプ48とで構
成されている。
【0031】このような校正用チェッカDを用いて校正
するときには、図6に鎖線で示すように、静電界センサ
Aのエアーパージケース1の先端部の外周に、校正用チ
ェッカDの本体ケース31の先端部を着脱自在に嵌合さ
せる。このとき、エアーパージケース1の先端面が本体
ケース31内のストッパ39に当接するところまで嵌合
させると、センサ8が銅箔38に対して一定の間隔を保
持した状態で対向する。
【0032】この状態のまま、校正用チェッカDの電源
スイッチ36をオンにすると、極性切替スイッチ47で
設定した極性の一定の直流高電圧が銅箔38に印加され
るので、この銅箔38が、一定の高電圧に帯電した模擬
帯電物体となる。そこで、図5に示した電界測定装置B
において、その電界表示部49の感度調整摘み50を回
して増幅器51の増幅率を調整する。この増幅器51
は、静電界センサAからの出力を増幅して表示部52に
表示させるので、表示部52に表示される値が、銅箔3
8による電界の値と対応するように調整することによ
り、電界測定装置Bを校正することができる。
【0033】このように校正した後、校正用チェッカD
を静電界センサAから外してから、静電界センサAを流
動乾燥機Cの側壁C1の検出口に取り付け、上記と同様
に実測する。
【0034】図9に静電界センサの別の具体例を示す。
この静電界センサA’のエアーパージケース1は、先端
キャップ6と内筒70と外筒71とでエアーパージケー
ス本体7を構成している。また、センサケース14を、
先端部72aが閉じたセンサ収納管72中に前後のセン
サ保持筒73・74を介して収納して、センサ収納管7
2と共にエアーパージケース1内に収容し、センサ収納
管72と先端キャップ6の凹部9との間に空隙17を形
成している。内筒70には、この空隙17に連通する複
数のエアー通路(横孔)75が設けられ、各エアー通路
75の後端にエアー供給パイプ24が接続されている。
【0035】また、センサケース14の外周面とセンサ
収納管72の内周面との間には、前後のセンサ保持筒7
3と74との間において空隙76が形成されている。こ
の空隙76は、センサケース14と前側のセンサ保持筒
73との間に形成されたエアー通路76と連通し、更に
このエアー通路76は、センサケース14の先端外面と
センサ収納管72の先端部72aの内面との間の僅かな
間隙に連通している。そして、空隙76には、センサ収
納管72の外周に配管された別のエアー供給管(図示せ
ず)からセンサ収納管72に設けられた孔77を通じて
エアーを供給されるようになっている。また、センサ収
納管72の先端部72aには、センサケース14の検出
孔18(図3)と一致する連通孔72bが設けられてい
る。
【0036】従って、エアーパージケース1内におい
て、センサ収納管72の先端部周辺の空隙17を通って
エアーパージ孔10からエアーが噴出されると同時に、
センサ収納管72内でも、センサケース14の先端部7
2aの周りを通って、連通孔72b及びエアーパージ孔
10からエアーが噴出されるので、二重にエアーパージ
できる。
【0037】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、直流高電
圧を印加した模擬帯電物体を用いて平等電界を形成し、
静電界センサの検出値を校正した後、静電界センサを容
器の壁の検出口に臨ませて、粉粒体が形成する静電界の
実測を行うので、粉粒体が形成する静電界を、容器内や
配管内の電界を乱したりセンサの検出電極が帯電すると
いうようなことなく、側壁部位においてリアルタイムで
的確に測定でき、しかも精度の高い電界測定値が得られ
る。
【0038】請求項2及び4に係る発明によれば、静電
界センサが、センサケースをエアーパージケース内に収
容し、エアーパージケースの先端のエアーパージ孔から
気体を噴出させるので、粉粒体等が静電界センサの検出
孔からセンサケース内に流入するのを的確に防止して、
精度良く検出できるとともに、センサケースの先端部の
外面への粉粒体や塵埃の付着も防止できる。また、エア
ーパージケースの先端に着脱自在な専用の校正用チェッ
カを用いて校正を随時に簡単に行える。
【0039】請求項3及び5に係る発明によれば、二重
にエアーパージできるので、粉粒体や塵埃の付着を更に
確実に防止して、検出精度を一層向上させることができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の方法において使用する静電界センサの
一例の外観側面図である。
【図2】同静電界センサの断面図である。
【図3】同静電界センサのエアーパージケースの正面図
である。
【図4】本発明の方法の一実施例の概要図である。
【図5】静電界センサに電界測定装置を接続し、金属平
板を模擬帯電物体として電界測定装置を校正する状態を
示す図である。
【図6】本発明の方法において使用する校正用チェッカ
の一例の断面図である。
【図7】同上の後面図である。
【図8】同校正用チェッカに組み込まれている直流高電
圧発生回路の電気回路図である。
【図9】静電界センサの別の具体例の断面図である。
【符号の説明】
A・A’ 静電界センサ B 電界測定装置 1 エアーパージケース 8 センサ 10 エアーパージ孔 14 センサケース 18 検出孔 B 電界測定装置 C 流動乾燥機 C1 側壁 C1’ 接地金属平板 C2’ 検出口 C2 金属平板(模擬帯電物体) D 校正用チェッカ E 直流高電圧発生回路 38 銅箔(模擬帯電物体) 72 センサ収納管 72b 連通孔 75・76 エアー通路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 鈴木 憲史 千葉県千葉市中央区仁戸名町480−158 (72)発明者 森川 康夫 埼玉県新座市野火止5−25−17 (72)発明者 山田 敏雄 東京都荒川区東日暮里2の39の10の401 (72)発明者 伊藤 義弘 東京都練馬区北町3−10−18 不二パウ ダル株式会社内 (56)参考文献 特開 平11−304862(JP,A) 特開 平10−62471(JP,A) 特開 昭60−37568(JP,A) 特開 平5−61304(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01R 29/24 G01N 27/60

Claims (5)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】粉粒体が形成する静電界を、容器の壁に設
    けられた検出口を通じて静電界センサにより測定する方
    法であって、前記容器の壁に擬した接地金属平板の検出
    口に前記静電界センサを臨ませるとともに、該静電界セ
    ンサに対して、金属平板に直流高電圧を印加した模擬帯
    電物体を平行に対向させ、これら金属平板間に平等電界
    を形成した状態で静電界センサの検出値を校正した後、
    該静電界センサを前記容器の壁の検出口に臨ませて、粉
    粒体が形成する静電界を測定することを特徴とする、粉
    粒体の静電界測定方法。
  2. 【請求項2】粉粒体が形成する静電界を、容器の壁に設
    けられた検出口を通じて静電界センサにより測定する方
    法であって、前記静電界センサとして、検出電極及び電
    界検出回路を内蔵したセンサケースをエアーパージケー
    ス内に収容したセンサを用い、またこの静電界センサの
    ための校正用チェッカとして、直流高電圧発生回路と金
    属平板とを本体ケースに内蔵したチェッカを用い、この
    校正用チェッカの本体ケースを静電界センサのエアーパ
    ージケースの先端に着脱自在に取り付け、前記直流高電
    圧発生回路により金属平板に直流高電圧を印加して、該
    金属平板を模擬帯電物体として静電界センサの検出値を
    校正した後、校正用チェッカを静電界センサから外し、
    該静電界センサのエアーパージケース中に気体を供給し
    て、エアーパージケースの先端のエアーパージ孔から気
    体を噴出させながら、粉粒体が形成する静電界を、前記
    エアーパージ孔及びセンサケースの検出孔を通じて測定
    することを特徴とする、粉粒体の静電界測定方法。
  3. 【請求項3】センサケースをセンサ収納管中に収納し
    て、このセンサ収納管と共にエアーパージケース内に収
    容し、これらセンサケースとセンサ収納管との間に形成
    したエアー通路からもエアー等の気体を供給して、エア
    ーパージ孔から気体を噴出させることを特徴とする、請
    求項2に記載の粉粒体の静電界測定方法。
  4. 【請求項4】容器の壁に設けられた検出口に静電界セン
    サを設置し、容器の内部で粉粒体が形成する静電界を静
    電界センサで検出してその値を測定する静電界測定装置
    において、前記静電界センサは、検出電極及び電界検出
    回路を内蔵したセンサケースをエアーパージケース内に
    収容し、そのエアーパージケース中に気体を供給して、
    該エアーパージケースの先端のエアーパージ孔から気体
    を噴出させる構造であり、また直流高電圧発生回路と金
    属平板とを本体ケースに内蔵し、この本体ケースを前記
    静電界センサのエアーパージケースの先端に着脱自在に
    取り付けて、直流高電圧発生回路により金属平板に直流
    高電圧を印加することにより、該金属平板を模擬帯電物
    体とすることができる校正用チェッカを備えたことを特
    徴とする、粉粒体の静電界測定装置。
  5. 【請求項5】センサケースをセンサ収納管中に収納し
    て、このセンサ収納管と共にエアーパージケース内に収
    容し、これらセンサ収納管とエアーパージケースとの
    間、及びセンサケースとセンサ収納管との間に、エアー
    パージ孔へ気体を導くエアー通路を形成したことを特徴
    とする、請求項4に記載の粉粒体の静電界測定装置。
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