JP3239797B2 - 材料試験機 - Google Patents
材料試験機Info
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、試験片の荷重−変
位特性などを測定する材料試験機に関する。
位特性などを測定する材料試験機に関する。
【０００２】
【従来の技術】図１０は本発明に適用される材料試験機
の全体の構成を示すブロック図である。この図１０にお
いて、材料試験機は、大別して３つの部分、すなわち、
試験機本体部２と、試験機本体部２の制御および試験デ
ータの蓄積のための制御装置１と、材料試験機で行われ
る試験条件の設定や、試験後のデータ処理方法の設定を
ユーザが行うための入出力操作部３とで構成される。
の全体の構成を示すブロック図である。この図１０にお
いて、材料試験機は、大別して３つの部分、すなわち、
試験機本体部２と、試験機本体部２の制御および試験デ
ータの蓄積のための制御装置１と、材料試験機で行われ
る試験条件の設定や、試験後のデータ処理方法の設定を
ユーザが行うための入出力操作部３とで構成される。
【０００３】入出力操作部３は、ＣＲＴ１０、キーボー
ド１１、マウス１２などで構成され、ユーザがキーボー
ド１１あるいはマウス１２を介して引張試験、圧縮試験
などの試験方法やその他の試験条件、そして試験データ
の処理方法などについて入力する。そのときの設定条件
や実験結果などがＣＲＴ１０に表示される。
ド１１、マウス１２などで構成され、ユーザがキーボー
ド１１あるいはマウス１２を介して引張試験、圧縮試験
などの試験方法やその他の試験条件、そして試験データ
の処理方法などについて入力する。そのときの設定条件
や実験結果などがＣＲＴ１０に表示される。
【０００４】制御装置１はコンピュータおよびその周辺
装置で構成され、入出力操作部３を介してユーザにより
設定された試験条件に基づき、後述する試験機本体部２
を駆動制御するとともにこの試験機本体部２より試験デ
ータを逐次入力し、試験終了後にはデータを処理してＣ
ＲＴ１０に表示する。なお、制御装置１にはデータの処
理結果を打ち出すためにプリンタ１３、そして試験条件
や実験で得られたデータを保存するために補助記憶装置
１４が接続される。
装置で構成され、入出力操作部３を介してユーザにより
設定された試験条件に基づき、後述する試験機本体部２
を駆動制御するとともにこの試験機本体部２より試験デ
ータを逐次入力し、試験終了後にはデータを処理してＣ
ＲＴ１０に表示する。なお、制御装置１にはデータの処
理結果を打ち出すためにプリンタ１３、そして試験条件
や実験で得られたデータを保存するために補助記憶装置
１４が接続される。
【０００５】試験機本体部２は、試験片ＴＰに対して引
張や圧縮などの荷重を加え、そのときの試験片ＴＰの挙
動を調べるためのものであり、テーブル２２の上に立設
された一対のねじ棹２３、２４の上端にはヨーク２５が
横架されるとともに、ねじ棹２３、２４にクロスヘッド
２６が螺合される。
張や圧縮などの荷重を加え、そのときの試験片ＴＰの挙
動を調べるためのものであり、テーブル２２の上に立設
された一対のねじ棹２３、２４の上端にはヨーク２５が
横架されるとともに、ねじ棹２３、２４にクロスヘッド
２６が螺合される。
【０００６】テーブル２２にモータ３１および変速機３
２が設置され、これらモータ３１および変速機３２でね
じ棹２３および２４が回転駆動されてクロスヘッド２６
が昇降する。モータ３１はモータドライバ３３を介して
制御装置１によって制御される。
２が設置され、これらモータ３１および変速機３２でね
じ棹２３および２４が回転駆動されてクロスヘッド２６
が昇降する。モータ３１はモータドライバ３３を介して
制御装置１によって制御される。
【０００７】クロスヘッド２６にはロードセル２７を介
して上つかみ具２８が、そしてテーブル２２には下つか
み具２９が設けられる。試験片ＴＰはこれら上つかみ具
２８および下つかみ具２９によって両端を把持され、ク
ロスヘッド２６の昇降にともない、引張荷重または圧縮
荷重が与えられる。
して上つかみ具２８が、そしてテーブル２２には下つか
み具２９が設けられる。試験片ＴＰはこれら上つかみ具
２８および下つかみ具２９によって両端を把持され、ク
ロスヘッド２６の昇降にともない、引張荷重または圧縮
荷重が与えられる。
【０００８】試験片ＴＰに与えられる荷重はロードセル
２７により検出され、ヘッドアンプ３７、Ａ／Ｄコンバ
ータ３８を介して制御装置１に入力される。
２７により検出され、ヘッドアンプ３７、Ａ／Ｄコンバ
ータ３８を介して制御装置１に入力される。
【０００９】変速機３２には、エンコーダ３５が設置さ
れ、変速機３２の回転あるいはねじ棹２３、２４の回転
に応じたパルス信号を出力する。このエンコーダ３５か
らのパルス信号はカウンタ３６でカウントされ、このカ
ウント結果が制御装置１に入力される。制御装置１はカ
ウンタ３６からの入力や変速機３２の変速比、そしてね
じ棹２３、２４のねじピッチなどに基づいて試験片ＴＰ
の変位を検出する。
れ、変速機３２の回転あるいはねじ棹２３、２４の回転
に応じたパルス信号を出力する。このエンコーダ３５か
らのパルス信号はカウンタ３６でカウントされ、このカ
ウント結果が制御装置１に入力される。制御装置１はカ
ウンタ３６からの入力や変速機３２の変速比、そしてね
じ棹２３、２４のねじピッチなどに基づいて試験片ＴＰ
の変位を検出する。
【００１０】試験機本体部２にはさらに、試験の開始お
よび停止を指示するためのスイッチ３０が設けられてお
り、ユーザが上述したように入出力操作部３で試験方法
や試験後のデータ処理方法などを設定した後、スイッチ
３０を操作することにより材料試験機は作動を開始し、
試験片ＴＰに与えられた荷重と、その荷重時における試
験片ＴＰの変位を検出し、試験片ＴＰの荷重−変位特性
が測定される。
よび停止を指示するためのスイッチ３０が設けられてお
り、ユーザが上述したように入出力操作部３で試験方法
や試験後のデータ処理方法などを設定した後、スイッチ
３０を操作することにより材料試験機は作動を開始し、
試験片ＴＰに与えられた荷重と、その荷重時における試
験片ＴＰの変位を検出し、試験片ＴＰの荷重−変位特性
が測定される。
【００１１】
【発明が解決しようとする課題】上述の材料試験機で
は、試験条件あるいは試験後のデータ処理方法の設定に
際して、図１１に示すような設定画面で項目を設定し、
そして各種のパラメータを設定していた。ところが、上
述した材料試験機で各種の設定を行うには材料試験に関
する専門知識を必要としていた。これについて図１１を
参照して説明する。
は、試験条件あるいは試験後のデータ処理方法の設定に
際して、図１１に示すような設定画面で項目を設定し、
そして各種のパラメータを設定していた。ところが、上
述した材料試験機で各種の設定を行うには材料試験に関
する専門知識を必要としていた。これについて図１１を
参照して説明する。
【００１２】図１１は、ＣＲＴ１０に表示されるデータ
処理項目条件設定モード、すなわち材料試験で得られた
データの処理項目と、その処理項目における処理条件と
を設定するためのモードの画面を示したものである。画
面左上のデータ処理項目リストＤＬには、上から順に弾
性率、上降伏点荷重、．．．、耐力１荷重などが表示さ
れている。ユーザは、これらの項目の中からマウス１２
（図１０）を用いて処理したい項目を選択する。図１１
の例においては、上降伏点荷重の文字ＵＹが白黒反転し
て表示されており、上降伏点荷重がデータ処理項目とし
て選択されていることが示されている。
処理項目条件設定モード、すなわち材料試験で得られた
データの処理項目と、その処理項目における処理条件と
を設定するためのモードの画面を示したものである。画
面左上のデータ処理項目リストＤＬには、上から順に弾
性率、上降伏点荷重、．．．、耐力１荷重などが表示さ
れている。ユーザは、これらの項目の中からマウス１２
（図１０）を用いて処理したい項目を選択する。図１１
の例においては、上降伏点荷重の文字ＵＹが白黒反転し
て表示されており、上降伏点荷重がデータ処理項目とし
て選択されていることが示されている。
【００１３】上述のようにデータ処理項目として上降伏
点荷重が選択されるのにともない、データ処理項目リス
トの右には３つのウィンドウが表示される。これらのウ
ィンドウについて順次説明すると、パラメータウィンド
ウＰＷは、データの表示桁数や表示単位、そして印刷す
るときの印字位置について設定するためのものである。
計算点ウィンドウＣＷは、上降伏点を求める際の計算点
を設定するためのものである。合否判定ウィンドウＪＷ
は、試験片ＴＰ（図１０）の試験結果に対して自動的に
合否判定をするか否かを設定するためのもので、合否判
定をする際には判定基準の上限および下限が設定可能と
なる。
点荷重が選択されるのにともない、データ処理項目リス
トの右には３つのウィンドウが表示される。これらのウ
ィンドウについて順次説明すると、パラメータウィンド
ウＰＷは、データの表示桁数や表示単位、そして印刷す
るときの印字位置について設定するためのものである。
計算点ウィンドウＣＷは、上降伏点を求める際の計算点
を設定するためのものである。合否判定ウィンドウＪＷ
は、試験片ＴＰ（図１０）の試験結果に対して自動的に
合否判定をするか否かを設定するためのもので、合否判
定をする際には判定基準の上限および下限が設定可能と
なる。
【００１４】以上の設定操作に基づき、データ処理すべ
き項目およびその設定内容が画面下部に一覧表示され
る。このようなマン・マシンインターフェイスによれ
ば、処理項目が選択されるのに応じて必要な設定項目が
ポップアップウィンドウに表示されるので、スムーズに
処理条件ならびに処理項目の設定が可能となる反面、材
料試験に関する知識が十分でないとデータ処理項目リス
トのそれぞれの項目が何を意味しているのか、あるいは
何をもって数値算定のよりどころとするのか等が判らな
いため、これらのデータ処理条件の設定をすることが困
難であった。
き項目およびその設定内容が画面下部に一覧表示され
る。このようなマン・マシンインターフェイスによれ
ば、処理項目が選択されるのに応じて必要な設定項目が
ポップアップウィンドウに表示されるので、スムーズに
処理条件ならびに処理項目の設定が可能となる反面、材
料試験に関する知識が十分でないとデータ処理項目リス
トのそれぞれの項目が何を意味しているのか、あるいは
何をもって数値算定のよりどころとするのか等が判らな
いため、これらのデータ処理条件の設定をすることが困
難であった。
【００１５】本発明の目的は、材料試験に関する知識が
豊富でなくても容易にデータ処理項目や処理条件等の設
定が可能な材料試験機を提供することを目的とする。
豊富でなくても容易にデータ処理項目や処理条件等の設
定が可能な材料試験機を提供することを目的とする。
【００１６】
【課題を解決するための手段】一実施の形態を示す図４
および図１０に対応づけて本発明を説明すると、材料試
験の試験データの処理項目の設定をするための操作部材
１１、１２と；操作部材１１、１２により設定される処
理項目に関する情報を表示する表示部１０とを有し；材
料試験の種類に対応した代表的な線図Ｃを表示部１０に
図柄で表示するとともに図柄の特定の点に対応した試験
データ処理項目ＣＥ、ＵＹ、ＩＬ、ＢＦ、ＬＹ、ＩＦ、
ＭＬ、ＥＮを特定の点近傍に文字表示し；文字表示を指
定することで試験データ処理項目を選択可能とすること
により上述した目的を達成する。
および図１０に対応づけて本発明を説明すると、材料試
験の試験データの処理項目の設定をするための操作部材
１１、１２と；操作部材１１、１２により設定される処
理項目に関する情報を表示する表示部１０とを有し；材
料試験の種類に対応した代表的な線図Ｃを表示部１０に
図柄で表示するとともに図柄の特定の点に対応した試験
データ処理項目ＣＥ、ＵＹ、ＩＬ、ＢＦ、ＬＹ、ＩＦ、
ＭＬ、ＥＮを特定の点近傍に文字表示し；文字表示を指
定することで試験データ処理項目を選択可能とすること
により上述した目的を達成する。
【００１７】
【発明の実施の形態】以下、図１〜図９を参照して本発
明の実施の形態について説明する。なお、本発明の実施
の形態に係る材料試験機の構成は図１０に示したものと
同様であり、その図および説明は省略し、適宜図１０を
参照して説明する。
明の実施の形態について説明する。なお、本発明の実施
の形態に係る材料試験機の構成は図１０に示したものと
同様であり、その図および説明は省略し、適宜図１０を
参照して説明する。
【００１８】図１〜図９は、本発明の実施の形態に係る
材料試験機のＣＲＴ１０（図１０）に映し出される材料
試験処理プログラムの画面を示す。
材料試験機のＣＲＴ１０（図１０）に映し出される材料
試験処理プログラムの画面を示す。
【００１９】図１は、キーボード１１またはマウス１２
（図１０）により、システムに関するメニューが選択さ
れ、これに対応するウィンドウが開いている状態を示
す。このシステムに関するメニューでは、試験結果を表
示する際の単位系や、材料破断後の試験機の動作に関し
て設定可能となっている。そして、設定可能な項目に対
応してそれぞれ絵表示がなされており、ユーザは設定し
たい項目を表す絵表示の右に表示されている長方形の枠
内に、マウス１２（図１０）を用いてＣＲＴ画面上に表
示されているポインタＰを移動させ、マウス１２の左ボ
タン１２Ｌ（図１０）を押し下げればよい（以後、上記
動作を単にクリックと呼ぶ）。このようなグラフィカル
ユーザインターフェイスにより、直観的に条件の設定が
可能となっている。
（図１０）により、システムに関するメニューが選択さ
れ、これに対応するウィンドウが開いている状態を示
す。このシステムに関するメニューでは、試験結果を表
示する際の単位系や、材料破断後の試験機の動作に関し
て設定可能となっている。そして、設定可能な項目に対
応してそれぞれ絵表示がなされており、ユーザは設定し
たい項目を表す絵表示の右に表示されている長方形の枠
内に、マウス１２（図１０）を用いてＣＲＴ画面上に表
示されているポインタＰを移動させ、マウス１２の左ボ
タン１２Ｌ（図１０）を押し下げればよい（以後、上記
動作を単にクリックと呼ぶ）。このようなグラフィカル
ユーザインターフェイスにより、直観的に条件の設定が
可能となっている。
【００２０】図２は、試験条件設定メニューが選択さ
れ、これに対応するウィンドウが開いている状態を示
す。この試験条件に関するメニューでは、試験モードや
バッチ処理の内容、試験速度等の試験条件などが設定可
能となっている。図２に示すウィンドウにおいても絵表
示がなされており、例えば、ウィンドウ左上の試験モー
ドの表示ＴＭをクリックすることにより、図２では表示
されていないがポップアップメニューが表示され、引張
試験や圧縮試験、あるいは曲げ試験などの試験モードが
選択できる。なお、この図２においてはピールモードが
選択されており、このピールモードで条件を設定する意
味のない項目の表示部分には操作禁止マークＩが表示さ
れる。この操作禁止マークＩが表示されている項目表示
についてはクリックを受け付けないようになっているた
め、操作の不慣れなユーザが誤った設定をすることがな
い。なお、図２に示す画面で、条件名あるいは絵表示の
近傍にアルファベットのＦと、それに続く数字が記され
ているものがあるが、これらのものについてはクリック
によらず、キーボード１１（図１０）に設けられた不図
示のファンクションキーを押すことによってもファンク
ションキー番号に対応したそれぞれの設定等を選択する
ことが可能である。
れ、これに対応するウィンドウが開いている状態を示
す。この試験条件に関するメニューでは、試験モードや
バッチ処理の内容、試験速度等の試験条件などが設定可
能となっている。図２に示すウィンドウにおいても絵表
示がなされており、例えば、ウィンドウ左上の試験モー
ドの表示ＴＭをクリックすることにより、図２では表示
されていないがポップアップメニューが表示され、引張
試験や圧縮試験、あるいは曲げ試験などの試験モードが
選択できる。なお、この図２においてはピールモードが
選択されており、このピールモードで条件を設定する意
味のない項目の表示部分には操作禁止マークＩが表示さ
れる。この操作禁止マークＩが表示されている項目表示
についてはクリックを受け付けないようになっているた
め、操作の不慣れなユーザが誤った設定をすることがな
い。なお、図２に示す画面で、条件名あるいは絵表示の
近傍にアルファベットのＦと、それに続く数字が記され
ているものがあるが、これらのものについてはクリック
によらず、キーボード１１（図１０）に設けられた不図
示のファンクションキーを押すことによってもファンク
ションキー番号に対応したそれぞれの設定等を選択する
ことが可能である。
【００２１】図３は、データ処理条件メニューが選択さ
れ、これに対応したウィンドウが開いている状態を示
す。この図３に表示されているグラフは、図２で示した
試験条件設定ウィンドウでピールモードが選択されてい
るのに対し、連動して表示される。なお、図３に表示さ
れているグラフの線図Ｃは実際の試験結果ではなく、ピ
ールモードの試験で得られるデータの代表的な例が図柄
として表示されている。このグラフ中には、ピーク点、
全平均、凸点平均、凸凹平均、凹点平均のデータ処理項
目表示ＰＰ、ＡＶ、ＶＡ、ＢＡ、ＣＡが、線図Ｃにおけ
るそれぞれのデータ処理項目の持つ意味を端的に示す点
の近傍に表示されている。ユーザは、これらのデータ処
理項目表示をクリックすることにより、データ処理項目
を選択することができる（データ処理項目の選択方法に
ついては後述）。選択されたデータ処理項目は画面右側
のデータ処理項目一覧に表示される。グラフ中で、前半
削除あるいは後半削除とあるのは、試験データの平均を
求める際の計算処理対象範囲を設定するためのもので、
試験片の変位量（ｍｍ）で設定される。また、画面下部
に表示されている平均値、標準偏差、などの表示は、複
数の試験片ＴＰ（図１０）を試験して得られたピーク
点、凸点平均などの試験データの統計処理を選択するた
めのものである。このように、データ処理項目がそれぞ
れどのような意味を持つのかについてグラフィカルに表
示することで、ユーザは直観的にデータ処理項目を選択
することができる。
れ、これに対応したウィンドウが開いている状態を示
す。この図３に表示されているグラフは、図２で示した
試験条件設定ウィンドウでピールモードが選択されてい
るのに対し、連動して表示される。なお、図３に表示さ
れているグラフの線図Ｃは実際の試験結果ではなく、ピ
ールモードの試験で得られるデータの代表的な例が図柄
として表示されている。このグラフ中には、ピーク点、
全平均、凸点平均、凸凹平均、凹点平均のデータ処理項
目表示ＰＰ、ＡＶ、ＶＡ、ＢＡ、ＣＡが、線図Ｃにおけ
るそれぞれのデータ処理項目の持つ意味を端的に示す点
の近傍に表示されている。ユーザは、これらのデータ処
理項目表示をクリックすることにより、データ処理項目
を選択することができる（データ処理項目の選択方法に
ついては後述）。選択されたデータ処理項目は画面右側
のデータ処理項目一覧に表示される。グラフ中で、前半
削除あるいは後半削除とあるのは、試験データの平均を
求める際の計算処理対象範囲を設定するためのもので、
試験片の変位量（ｍｍ）で設定される。また、画面下部
に表示されている平均値、標準偏差、などの表示は、複
数の試験片ＴＰ（図１０）を試験して得られたピーク
点、凸点平均などの試験データの統計処理を選択するた
めのものである。このように、データ処理項目がそれぞ
れどのような意味を持つのかについてグラフィカルに表
示することで、ユーザは直観的にデータ処理項目を選択
することができる。
【００２２】図４も図３と同様にデータ処理条件メニュ
ーが選択された場合に開くウィンドウ表示を示してい
る。図２に示した試験条件メニューで引張試験が選択さ
れたのにともない、引張試験で得られるデータを特徴的
に示す代表的な線図Ｃが図柄として表示されている。そ
して、図３を参照して説明したのと同様に、グラフ中に
は上降伏点、弾性率などの表示のあるデータ処理項目表
示ＵＹ、ＣＥなどが、線図Ｃにおけるそれぞれのデータ
処理項目の内容を端的に示す点の近傍に表示されてお
り、所望のデータ処理項目表示をクリックすることでデ
ータ処理項目が選択される（データ処理項目の選択方法
については後述）。選択されたデータ処理項目が画面右
側のデータ処理項目一覧に表示されるのも図３を参照し
て説明したのと同様である。
ーが選択された場合に開くウィンドウ表示を示してい
る。図２に示した試験条件メニューで引張試験が選択さ
れたのにともない、引張試験で得られるデータを特徴的
に示す代表的な線図Ｃが図柄として表示されている。そ
して、図３を参照して説明したのと同様に、グラフ中に
は上降伏点、弾性率などの表示のあるデータ処理項目表
示ＵＹ、ＣＥなどが、線図Ｃにおけるそれぞれのデータ
処理項目の内容を端的に示す点の近傍に表示されてお
り、所望のデータ処理項目表示をクリックすることでデ
ータ処理項目が選択される（データ処理項目の選択方法
については後述）。選択されたデータ処理項目が画面右
側のデータ処理項目一覧に表示されるのも図３を参照し
て説明したのと同様である。
【００２３】続いて図５を参照し、図４に示す画面でデ
ータ処理項目表示をクリックした場合に表示されるポッ
プアップメニューＰＭについて説明する。図５は、図４
に示したデータ処理条件の設定画面において上降伏点の
データ処理項目表示ＵＹをクリックし、それに応じて上
降伏点に関するデータ処理条件を決定するためのポップ
アップメニューＰＭが表示されている状態を示す。この
ポップアップメニューに表示された各項目名のうち、Ｃ
ＲＴ１０（図１０）に表示させたい項目の右側に表示さ
れた枠内にポインタＰを合わせてクリックすることによ
りＯＦＦ表示がＯＮ表示に変わる。そして、表示させた
い項目を選択し終えた後に、ポップアップメニューＰＭ
の右下部分にあるＯＫの表示ＣＬをクリックすることに
よりポップアップメニューＰＭは閉じるとともに画面右
側のデータ処理項目一覧の表示部分に上降伏点が選択さ
れたことが表示される。
ータ処理項目表示をクリックした場合に表示されるポッ
プアップメニューＰＭについて説明する。図５は、図４
に示したデータ処理条件の設定画面において上降伏点の
データ処理項目表示ＵＹをクリックし、それに応じて上
降伏点に関するデータ処理条件を決定するためのポップ
アップメニューＰＭが表示されている状態を示す。この
ポップアップメニューに表示された各項目名のうち、Ｃ
ＲＴ１０（図１０）に表示させたい項目の右側に表示さ
れた枠内にポインタＰを合わせてクリックすることによ
りＯＦＦ表示がＯＮ表示に変わる。そして、表示させた
い項目を選択し終えた後に、ポップアップメニューＰＭ
の右下部分にあるＯＫの表示ＣＬをクリックすることに
よりポップアップメニューＰＭは閉じるとともに画面右
側のデータ処理項目一覧の表示部分に上降伏点が選択さ
れたことが表示される。
【００２４】図３あるいは図４に示す画面において、そ
の他のデータ処理項目を示す表示をクリックした場合に
表示されるポップアップメニューについて、図６〜図８
を参照して説明する。図６〜図８は、図３あるいは図４
に示すデータ処理条件設定メニューの画面内のグラフ上
に表示されているデータ処理項目表示をクリックしたと
きに表示されるポップアップメニューを示している。そ
して図６は、ピールモードが選択されている場合のデー
タ処理条件設定画面（図３）において、データ処理項目
表示ＰＰ、ＡＶなどがクリックされることにより画面上
に表示されるポップアップメニューを、図７〜図８は、
引張試験モードが選択されている場合のデータ処理条件
設定画面（図４）において、データ処理項目表示ＣＥ、
ＢＦなどがクリックされることにより画面上に表示され
るポップアップメニューを示す。なお、これらのポップ
アップメニューは、実際には図５に示したように図３あ
るいは図４などのデータ処理条件設定画面に重ねて表示
されるが、図６〜図８においてはポップアップメニュー
の部分のみを示す。
の他のデータ処理項目を示す表示をクリックした場合に
表示されるポップアップメニューについて、図６〜図８
を参照して説明する。図６〜図８は、図３あるいは図４
に示すデータ処理条件設定メニューの画面内のグラフ上
に表示されているデータ処理項目表示をクリックしたと
きに表示されるポップアップメニューを示している。そ
して図６は、ピールモードが選択されている場合のデー
タ処理条件設定画面（図３）において、データ処理項目
表示ＰＰ、ＡＶなどがクリックされることにより画面上
に表示されるポップアップメニューを、図７〜図８は、
引張試験モードが選択されている場合のデータ処理条件
設定画面（図４）において、データ処理項目表示ＣＥ、
ＢＦなどがクリックされることにより画面上に表示され
るポップアップメニューを示す。なお、これらのポップ
アップメニューは、実際には図５に示したように図３あ
るいは図４などのデータ処理条件設定画面に重ねて表示
されるが、図６〜図８においてはポップアップメニュー
の部分のみを示す。
【００２５】図６の（ａ）〜（ｅ）に示すポップアップ
メニューと、図３におけるデータ処理項目表示との対応
について説明すると、図６（ａ）が図３のピーク点表示
ＰＰを、図６（ｂ）が図３の全平均表示ＡＶを、以下同
様に図６（ｃ）が凸点平均表示ＶＡ、図６（ｄ）が凸凹
平均表示ＢＡ、図６（ｅ）が凹点平均表示ＣＡをクリッ
クしたときに、クリックされたデータ処理項目表示の近
傍に表示されるポップアップメニューを示している。
メニューと、図３におけるデータ処理項目表示との対応
について説明すると、図６（ａ）が図３のピーク点表示
ＰＰを、図６（ｂ）が図３の全平均表示ＡＶを、以下同
様に図６（ｃ）が凸点平均表示ＶＡ、図６（ｄ）が凸凹
平均表示ＢＡ、図６（ｅ）が凹点平均表示ＣＡをクリッ
クしたときに、クリックされたデータ処理項目表示の近
傍に表示されるポップアップメニューを示している。
【００２６】続いて図７の（ａ）〜（ｄ）および図８
（ａ）〜（ｄ）に示すポップアップメニューと図４にお
けるデータ処理表示項目表示との対応について説明する
と、図７（ａ）が図４の中間点（荷重、応力指定）表示
ＩＦを、以下同様に図７（ｂ）が弾性率表示ＣＥを、図
７（ｃ）が中間点（変位、歪指定）表示ＩＬを、図７
（ｄ）が下降伏点表示ＬＹを、図８（ａ）が耐力点表示
ＢＦを、図８（ｂ）が破断点表示ＢＰを、図８（ｃ）が
エネルギー表示ＥＮを、図８（ｄ）が最大点表示ＭＬを
クリックしたときに、クリックされたデータ処理項目表
示の近傍に表示されるポップアップメニューを示してい
る。なお、これら図６〜図８に示すポップアップメニュ
ー中での操作方法は図５を参照して説明したものと同様
であり、その説明を省略する。
（ａ）〜（ｄ）に示すポップアップメニューと図４にお
けるデータ処理表示項目表示との対応について説明する
と、図７（ａ）が図４の中間点（荷重、応力指定）表示
ＩＦを、以下同様に図７（ｂ）が弾性率表示ＣＥを、図
７（ｃ）が中間点（変位、歪指定）表示ＩＬを、図７
（ｄ）が下降伏点表示ＬＹを、図８（ａ）が耐力点表示
ＢＦを、図８（ｂ）が破断点表示ＢＰを、図８（ｃ）が
エネルギー表示ＥＮを、図８（ｄ）が最大点表示ＭＬを
クリックしたときに、クリックされたデータ処理項目表
示の近傍に表示されるポップアップメニューを示してい
る。なお、これら図６〜図８に示すポップアップメニュ
ー中での操作方法は図５を参照して説明したものと同様
であり、その説明を省略する。
【００２７】図９は、試験メニューが選択され、これに
対応したウィンドウが開いている状態を示す。この試験
メニューでは、図１〜図８を参照して説明した、システ
ムに関するメニュー、試験条件設定メニュー、データ処
理条件設定メニュー、あるいはポップアップメニューな
どで設定された内容に基づいて試験結果を表示する。図
９に示す画面には、試験中、あるは試験終了後のデータ
がグラフ化されて逐次表示される。そのグラフの下部に
はメニューが表示され、必要に応じてそれぞれの表示を
クリックすることにより、既に補助記憶装置１４（図１
０）に記録されたデータの読み込み（Ｆ５）、試験条件
の補助記憶装置１４への保存（Ｆ６）、試験データの印
刷（Ｆ７）、再試験（Ｆ８）などの処理を指示すること
ができる。なお、図９の例においては、試験途中で試験
速度変更を指示するＦ９あるいはクロスヘッド２６（図
１０）のストロークの変更を指示するＦ１０については
操作禁止マークＩが表示され、クリックを受け付けない
ので誤操作することがない。なお、これら試験速度、ス
トロークの変更は、図２に示す試験条件設定画面におけ
る設定内容によっては操作可能となり、特に未知の試験
片を試験する際に、試験片の挙動を観察しながら試験速
度やストロークを変更する場合などに有効である。
対応したウィンドウが開いている状態を示す。この試験
メニューでは、図１〜図８を参照して説明した、システ
ムに関するメニュー、試験条件設定メニュー、データ処
理条件設定メニュー、あるいはポップアップメニューな
どで設定された内容に基づいて試験結果を表示する。図
９に示す画面には、試験中、あるは試験終了後のデータ
がグラフ化されて逐次表示される。そのグラフの下部に
はメニューが表示され、必要に応じてそれぞれの表示を
クリックすることにより、既に補助記憶装置１４（図１
０）に記録されたデータの読み込み（Ｆ５）、試験条件
の補助記憶装置１４への保存（Ｆ６）、試験データの印
刷（Ｆ７）、再試験（Ｆ８）などの処理を指示すること
ができる。なお、図９の例においては、試験途中で試験
速度変更を指示するＦ９あるいはクロスヘッド２６（図
１０）のストロークの変更を指示するＦ１０については
操作禁止マークＩが表示され、クリックを受け付けない
ので誤操作することがない。なお、これら試験速度、ス
トロークの変更は、図２に示す試験条件設定画面におけ
る設定内容によっては操作可能となり、特に未知の試験
片を試験する際に、試験片の挙動を観察しながら試験速
度やストロークを変更する場合などに有効である。
【００２８】以上の実施の形態の説明においては、マウ
ス１２、あるいはキーボード１１（図１０）により試験
条件やデータ処理項目などを設定する例について説明し
たが、これに代えてトラックボールやタッチパネルなど
の、他のポインティングデバイスを用いるものであって
もよい。
ス１２、あるいはキーボード１１（図１０）により試験
条件やデータ処理項目などを設定する例について説明し
たが、これに代えてトラックボールやタッチパネルなど
の、他のポインティングデバイスを用いるものであって
もよい。
【００２９】以上の発明の実施の形態と請求項との対応
において、マウス１２あるいはキーボード１１が操作部
材を、ＣＲＴ１０が表示部を、それぞれ構成する。
において、マウス１２あるいはキーボード１１が操作部
材を、ＣＲＴ１０が表示部を、それぞれ構成する。
【００３０】
【発明の効果】以上説明したように、本発明に係る材料
試験機によれば、材料試験の種類に対応した代表的な線
図を表示部に図柄で表示するとともにその図柄の特定の
点に対応した試験データ処理項目を図柄の特定の点近傍
に文字表示し、マウスなどの操作部材でその文字表示を
指定することにより試験データ処理項目を選択できる。
これにより、材料試験に関する深い専門知識を有しない
ユーザであっても、それぞれの試験データ処理項目がど
のような処理内容であるのかについて視覚で捕らえるこ
とができるので、容易に試験データ処理項目を設定する
ことが可能となるとともに誤った設定等を防止すること
ができる。
試験機によれば、材料試験の種類に対応した代表的な線
図を表示部に図柄で表示するとともにその図柄の特定の
点に対応した試験データ処理項目を図柄の特定の点近傍
に文字表示し、マウスなどの操作部材でその文字表示を
指定することにより試験データ処理項目を選択できる。
これにより、材料試験に関する深い専門知識を有しない
ユーザであっても、それぞれの試験データ処理項目がど
のような処理内容であるのかについて視覚で捕らえるこ
とができるので、容易に試験データ処理項目を設定する
ことが可能となるとともに誤った設定等を防止すること
ができる。
【図１】 本発明による材料試験機のＣＲＴ表示画面
（システムメニュー表示状態）を示す図。
（システムメニュー表示状態）を示す図。
【図２】 本発明による材料試験機のＣＲＴ表示画面
（試験条件設定メニュー表示状態）を示す図。
（試験条件設定メニュー表示状態）を示す図。
【図３】 本発明による材料試験機のＣＲＴ表示画面
（データ処理条件設定メニュー表示状態）を示す図。
（データ処理条件設定メニュー表示状態）を示す図。
【図４】 本発明による材料試験機のＣＲＴ表示画面
（データ処理条件設定メニュー表示状態）で、引張試験
モードが選択されている場合の画面を示す図。
（データ処理条件設定メニュー表示状態）で、引張試験
モードが選択されている場合の画面を示す図。
【図５】 本発明による材料試験機のＣＲＴ表示画面
（データ処理条件設定メニュー表示状態）で、データ処
理項目を選択中の画面を示す図。
（データ処理条件設定メニュー表示状態）で、データ処
理項目を選択中の画面を示す図。
【図６】 本発明による材料試験機のＣＲＴ表示画面の
一部（データ処理項目が選択されたときに表示されるポ
ップアップメニュー）の例を示す図。
一部（データ処理項目が選択されたときに表示されるポ
ップアップメニュー）の例を示す図。
【図７】 本発明による材料試験機のＣＲＴ表示画面の
一部（データ処理項目が選択されたときに表示されるポ
ップアップメニュー）の、別の例を示す図。
一部（データ処理項目が選択されたときに表示されるポ
ップアップメニュー）の、別の例を示す図。
【図８】 本発明による材料試験機のＣＲＴ表示画面の
一部（データ処理項目が選択されたときに表示されるポ
ップアップメニュー）の、さらに別の例を示す図。
一部（データ処理項目が選択されたときに表示されるポ
ップアップメニュー）の、さらに別の例を示す図。
【図９】 本発明による材料試験機のＣＲＴ表示画面
（試験メニュー表示状態）を示す図。
（試験メニュー表示状態）を示す図。
【図１０】 材料試験機の構成を示す図。
【図１１】 材料試験機のＣＲＴ表示画面（データ処理
項目選択メニュー表示状態）を示す図。
項目選択メニュー表示状態）を示す図。
１ 制御装置 ２ 試験機本体部 ３ 入出力操作部 １０ ＣＲＴ １１ キーボード １２ マウス
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平８−297081（ＪＰ，Ａ) 特開 平６−162149（ＪＰ，Ａ) 特開 平９−159589（ＪＰ，Ａ) 実開 平５−30756（ＪＰ，Ｕ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01N 3/00 - 3/62 G01D 21/00 ＪＩＣＳＴファイル（ＪＯＩＳ)
Claims (1)
- 【請求項１】 材料試験の試験データの処理項目の設定
をするための操作部材と、 前記操作部材により設定される前記処理項目に関する情
報を表示する表示部とを有し、 材料試験の種類に対応した代表的な線図を前記表示部に
図柄で表示するとともに前記図柄の特定の点に対応した
試験データ処理項目を前記特定の点の近傍に文字表示
し、 前記文字表示を指定することにより前記試験データ処理
項目が選択可能なことを特徴とする材料試験機。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11482997A JP3239797B2 (ja) | 1997-05-02 | 1997-05-02 | 材料試験機 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11482997A JP3239797B2 (ja) | 1997-05-02 | 1997-05-02 | 材料試験機 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10307089A JPH10307089A (ja) | 1998-11-17 |
| JP3239797B2 true JP3239797B2 (ja) | 2001-12-17 |
Family
ID=14647742
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11482997A Expired - Fee Related JP3239797B2 (ja) | 1997-05-02 | 1997-05-02 | 材料試験機 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3239797B2 (ja) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003068847A (ja) * | 2001-08-24 | 2003-03-07 | Hitachi Chem Co Ltd | 接着力測定方法、積層膜及び半導体素子 |
| JP2004110485A (ja) * | 2002-09-19 | 2004-04-08 | Hitachi Kokusai Electric Inc | 株価情報表示装置 |
| JP2007064886A (ja) * | 2005-09-01 | 2007-03-15 | Shimadzu Corp | 材料試験機 |
| JP4710578B2 (ja) * | 2005-12-06 | 2011-06-29 | 株式会社島津製作所 | 材料試験機 |
| JPWO2007141855A1 (ja) * | 2006-06-07 | 2009-10-15 | 株式会社島津製作所 | 試験機および試験方法 |
| JP4893442B2 (ja) * | 2007-04-17 | 2012-03-07 | 株式会社島津製作所 | 材料試験機 |
-
1997
- 1997-05-02 JP JP11482997A patent/JP3239797B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH10307089A (ja) | 1998-11-17 |
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