JP3231735B2 - Ｉｃソケットのコンタクト方法 - Google Patents
Ｉｃソケットのコンタクト方法Info
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、ＩＣの特性試験を
行なう際に使用するＩＣソケットにおいて、被測定ＩＣ
のリードとＩＣソケットの測定子とのコンタクト圧力を
制御するＩＣソケットのコンタクト方法に関する。
行なう際に使用するＩＣソケットにおいて、被測定ＩＣ
のリードとＩＣソケットの測定子とのコンタクト圧力を
制御するＩＣソケットのコンタクト方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、リードの形状がフラットのまま、
あるいはガルウィング型に形成された表面実装型のフラ
ットパッケージＩＣ等の特性試験を行なう際には、図４
の模式図に示すように、本体部１Ａに複数のリード１Ｂ
を備えたＩＣ１を、真空吸着手段（図示せず）等により
ＩＣソケット３上に供給し、ＩＣソケット３に設けられ
た複数の測定子２（コンタクトピン）上にＩＣ１のそれ
ぞれのリード１Ｂを対応させて載置し、上方向から垂直
に押圧力Ｐを加えてコンタクトブロック４を押し下げ、
ＩＣ１のリード１Ｂを測定子２にコンタクトさせ、リー
ド１Ｂと測定子２とを電気的導通状態にして測定部１０
より電源電圧を供給し、特性試験を行なう方法が一般的
である。
あるいはガルウィング型に形成された表面実装型のフラ
ットパッケージＩＣ等の特性試験を行なう際には、図４
の模式図に示すように、本体部１Ａに複数のリード１Ｂ
を備えたＩＣ１を、真空吸着手段（図示せず）等により
ＩＣソケット３上に供給し、ＩＣソケット３に設けられ
た複数の測定子２（コンタクトピン）上にＩＣ１のそれ
ぞれのリード１Ｂを対応させて載置し、上方向から垂直
に押圧力Ｐを加えてコンタクトブロック４を押し下げ、
ＩＣ１のリード１Ｂを測定子２にコンタクトさせ、リー
ド１Ｂと測定子２とを電気的導通状態にして測定部１０
より電源電圧を供給し、特性試験を行なう方法が一般的
である。
【０００３】ここで、上述した押圧力Ｐを加える手段と
しては、例えば、手動で上蓋を締め付けるもの、あるい
は、特開平１−２２１６８１号公報に示されているよう
に、エアシリンダやリニアモータを用いるものなどが提
案されている。本発明は、このうちのリニアモータを応
用して押圧力の制御を行なうようにしたＩＣソケットの
コンタクト方法を提供するものである。
しては、例えば、手動で上蓋を締め付けるもの、あるい
は、特開平１−２２１６８１号公報に示されているよう
に、エアシリンダやリニアモータを用いるものなどが提
案されている。本発明は、このうちのリニアモータを応
用して押圧力の制御を行なうようにしたＩＣソケットの
コンタクト方法を提供するものである。
【０００４】ところで、この押圧力Ｐが一定であって
も、品種変更によってリード１Ｂの厚さや高さにばらつ
きがあったり、また、測定子２の上端位置が一定でなか
ったりすると、それぞれのコンタクト圧力にばらつきを
生じ、コンタクト不良が発生して正確な特性試験ができ
ないという問題がある。そこで従来は、押圧力Ｐを調整
したり、コンタクトブロック４の下限位置をストッパを
設けて制御したりして、この問題の解決を図ってきた。
も、品種変更によってリード１Ｂの厚さや高さにばらつ
きがあったり、また、測定子２の上端位置が一定でなか
ったりすると、それぞれのコンタクト圧力にばらつきを
生じ、コンタクト不良が発生して正確な特性試験ができ
ないという問題がある。そこで従来は、押圧力Ｐを調整
したり、コンタクトブロック４の下限位置をストッパを
設けて制御したりして、この問題の解決を図ってきた。
【０００５】しかし、従来のエアシリンダあるいはリニ
アモータを用いたコンタクト圧力調整方法では、加圧力
レベルを調整する手段が、エアシリンダの場合はエアレ
ギュレータであり、リニアモータの場合は供給電流調整
ノブである。そして、これらの調整手段を用いて調整後
の加圧力を一定に維持するようになっている。
アモータを用いたコンタクト圧力調整方法では、加圧力
レベルを調整する手段が、エアシリンダの場合はエアレ
ギュレータであり、リニアモータの場合は供給電流調整
ノブである。そして、これらの調整手段を用いて調整後
の加圧力を一定に維持するようになっている。
【０００６】すなわち、従来の加圧方法は、測定子２と
リード１Ｂとの接触圧力を調整し維持するものではな
く、エアシリンダやリニアモータ等のアクチュエータの
駆動力を調整し維持するものとなっている。その結果、
アクチュエータ駆動部に劣化が生じた場合には、電流消
費などにより駆動動作自体に駆動力の多くを費やすこと
となり、測定子２とリード１Ｂのコンタクト部に所定の
接触圧力を供給維持できなくなるという問題がある。
リード１Ｂとの接触圧力を調整し維持するものではな
く、エアシリンダやリニアモータ等のアクチュエータの
駆動力を調整し維持するものとなっている。その結果、
アクチュエータ駆動部に劣化が生じた場合には、電流消
費などにより駆動動作自体に駆動力の多くを費やすこと
となり、測定子２とリード１Ｂのコンタクト部に所定の
接触圧力を供給維持できなくなるという問題がある。
【０００７】また、従来のエアシリンダやリニアモータ
では、測定子２とリード１Ｂとが接触する際の速度を低
速に変化させることが困難であるため、リード１Ｂの外
装メッキである半田が削り取られ、半田屑としてリード
１Ｂに付着し、ＩＣ１の電気的特性や外観を損なうとい
う問題も発生していた。
では、測定子２とリード１Ｂとが接触する際の速度を低
速に変化させることが困難であるため、リード１Ｂの外
装メッキである半田が削り取られ、半田屑としてリード
１Ｂに付着し、ＩＣ１の電気的特性や外観を損なうとい
う問題も発生していた。
【０００８】そこで、これらの問題を解決するために、
アクチュエータ駆動にはリニアステッピングモータ（リ
ニアパルスモータ）を用いて速度変化を可能とし、測定
子２とリード１Ｂとの接触圧力は、リニアパルスモータ
の偏差で加圧力を制御させることによって、モータ自身
が自動的に動作する方法を提案した。
アクチュエータ駆動にはリニアステッピングモータ（リ
ニアパルスモータ）を用いて速度変化を可能とし、測定
子２とリード１Ｂとの接触圧力は、リニアパルスモータ
の偏差で加圧力を制御させることによって、モータ自身
が自動的に動作する方法を提案した。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、品種によっ
てリードの本数に増減があっても、また、リードの厚み
あるいは測定子の高さや強度にばらつきがあっても、測
定子とリードの接触圧力を所定の加圧力で一定に長時間
維持できる方法を提供するものである。
てリードの本数に増減があっても、また、リードの厚み
あるいは測定子の高さや強度にばらつきがあっても、測
定子とリードの接触圧力を所定の加圧力で一定に長時間
維持できる方法を提供するものである。
【００１０】
【課題を解決するための手段】本発明は、ＩＣの特性試
験を行なう際、ＩＣソケット上に被測定ＩＣを供給し、
被測定ＩＣの上方からコンタクトブロックを降下させ、
被測定ＩＣのリードとＩＣソケットの測定子とを押圧接
触させるＩＣソケットのコンタクト方法において、押圧
力を発生させるアクチュエータとしてリニアステッピン
グモータを使用し、押圧力が無負荷である時のコンタク
トブロックの位置を動作指令位置（ＰＣ）とし、押圧力
が加わり始め前記リードと測定子が良好な接触抵抗とな
った時のコンタクトブロックの位置を実際の停止位置
（ＥＣ）とし、前記ＰＣ値とＥＣ値との差を偏差ＣＰ値
としてリニアエンコーダで検出し、それぞれの値をパル
ス数でコントローラに入力し、ＰＣ値とＣＰ値をそれぞ
れ初期値として設定しておくことによってリニアステッ
ピングモータが最適の位置まで動作することを特徴とす
るＩＣソケットのコンタクト方法である。
験を行なう際、ＩＣソケット上に被測定ＩＣを供給し、
被測定ＩＣの上方からコンタクトブロックを降下させ、
被測定ＩＣのリードとＩＣソケットの測定子とを押圧接
触させるＩＣソケットのコンタクト方法において、押圧
力を発生させるアクチュエータとしてリニアステッピン
グモータを使用し、押圧力が無負荷である時のコンタク
トブロックの位置を動作指令位置（ＰＣ）とし、押圧力
が加わり始め前記リードと測定子が良好な接触抵抗とな
った時のコンタクトブロックの位置を実際の停止位置
（ＥＣ）とし、前記ＰＣ値とＥＣ値との差を偏差ＣＰ値
としてリニアエンコーダで検出し、それぞれの値をパル
ス数でコントローラに入力し、ＰＣ値とＣＰ値をそれぞ
れ初期値として設定しておくことによってリニアステッ
ピングモータが最適の位置まで動作することを特徴とす
るＩＣソケットのコンタクト方法である。
【００１１】また、リード本数の増減に応じて前記ＰＣ
値とＣＰ値をリード１本毎にそれぞれ初期値として設定
することを特徴とするＩＣソケットのコンタクト方法で
ある。
値とＣＰ値をリード１本毎にそれぞれ初期値として設定
することを特徴とするＩＣソケットのコンタクト方法で
ある。
【００１２】また、品種変更によるリード本数の変更が
あった場合、前記コンタクトブロックをコントローラか
らの制御でＰＣ値を自動で切り換えて下降させ、初期設
定値であるＣＰ値と一致すればその位置まで動作させ、
異なる場合は再度ＰＣ値を切り換えてＰＣ値とＣＰ値の
初期設定値が一致するまでコンタクトブロックを動作さ
せ、一致した位置で連続測定を繰り返すことを特徴とす
るＩＣソケットのコンタクト方法である。
あった場合、前記コンタクトブロックをコントローラか
らの制御でＰＣ値を自動で切り換えて下降させ、初期設
定値であるＣＰ値と一致すればその位置まで動作させ、
異なる場合は再度ＰＣ値を切り換えてＰＣ値とＣＰ値の
初期設定値が一致するまでコンタクトブロックを動作さ
せ、一致した位置で連続測定を繰り返すことを特徴とす
るＩＣソケットのコンタクト方法である。
【００１３】また、前記偏差ＣＰ値と押圧力とは、相関
関係にあることを特徴とするＩＣソケットのコンタクト
方法である。
関係にあることを特徴とするＩＣソケットのコンタクト
方法である。
【００１４】また、リードと測定子が接触を開始すると
同時に、コントローラからの指令によりリニアステッピ
ングモータの速度制御を行ない、コンタクトブロックの
動作速度を低速にすることを特徴とするＩＣソケットの
コンタクト方法である。
同時に、コントローラからの指令によりリニアステッピ
ングモータの速度制御を行ない、コンタクトブロックの
動作速度を低速にすることを特徴とするＩＣソケットの
コンタクト方法である。
【００１５】また、前記偏差ＣＰ値に基づいてリニアス
テッピングモータを動作させることによって、リードと
測定子の接触圧力をリニアステッピングモータ自身が自
動的に制御することを特徴とするＩＣソケットのコンタ
クト方法である。
テッピングモータを動作させることによって、リードと
測定子の接触圧力をリニアステッピングモータ自身が自
動的に制御することを特徴とするＩＣソケットのコンタ
クト方法である。
【００１６】
【発明の実施の形態】次に、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して詳細に説明する。図１は本発明の一実
施の形態を説明する模式図である。同図（ａ）は全体構
成を示し、同図（ｂ）は同図（ａ）のＡ部詳細図であ
る。
て図面を参照して詳細に説明する。図１は本発明の一実
施の形態を説明する模式図である。同図（ａ）は全体構
成を示し、同図（ｂ）は同図（ａ）のＡ部詳細図であ
る。
【００１７】図１を参照すると、ＩＣソケット３の上に
被測定ＩＣ１を位置させ、このＩＣ１は本体部１ＡをＩ
Ｃソケット３によってガイドされ、かつリード１Ｂが測
定子２と接触する状態になるように置かれている。そし
て、このＩＣ１の上方には、ＩＣ１のリード１Ｂを押さ
えつけ測定子２に押圧接触させるためのコンタクトブロ
ック４が設けられている。このコンタクトブロック４
は、アクチュエータであるリニアステッピングモータ６
とロッド９で接続され、垂直直動動作を行なうようにな
っている。
被測定ＩＣ１を位置させ、このＩＣ１は本体部１ＡをＩ
Ｃソケット３によってガイドされ、かつリード１Ｂが測
定子２と接触する状態になるように置かれている。そし
て、このＩＣ１の上方には、ＩＣ１のリード１Ｂを押さ
えつけ測定子２に押圧接触させるためのコンタクトブロ
ック４が設けられている。このコンタクトブロック４
は、アクチュエータであるリニアステッピングモータ６
とロッド９で接続され、垂直直動動作を行なうようにな
っている。
【００１８】このリニアステッピングモータ６は、コン
タクトブロック４に取り付けられた連結棒５Ａ、５Ｂを
介してリニアエンコーダ７に接続されており、リニアエ
ンコーダ７からのコンタクトブロック４の位置検出信号
をコントローラ８に入力することによって、動作制御を
行なうようにしたセミクローズドループ制御を採用して
いる。
タクトブロック４に取り付けられた連結棒５Ａ、５Ｂを
介してリニアエンコーダ７に接続されており、リニアエ
ンコーダ７からのコンタクトブロック４の位置検出信号
をコントローラ８に入力することによって、動作制御を
行なうようにしたセミクローズドループ制御を採用して
いる。
【００１９】次に、図２を参照してコンタクトブロック
の制御動作について説明する。図２はコンタクトブロッ
クの位置関係を示す説明図である。図２において、ＰＣ
n はリニアステッピングモータ６の動作指令位置を示す
値であり、リードと接触子が接触していない時のコンタ
クトブロック４の停止位置を表わしている。ここで、添
え字ｎはＩＣのリード本数に対応する数値である。
の制御動作について説明する。図２はコンタクトブロッ
クの位置関係を示す説明図である。図２において、ＰＣ
n はリニアステッピングモータ６の動作指令位置を示す
値であり、リードと接触子が接触していない時のコンタ
クトブロック４の停止位置を表わしている。ここで、添
え字ｎはＩＣのリード本数に対応する数値である。
【００２０】また、ＥＣn はコンタクトブロック４の実
際の停止位置を示す値であり、供給されたＩＣのリード
と接触子が接触し、押圧力が加わった時のコンタクトブ
ロック４の停止位置を示す値である。また、ＣＰn は、
ＰＣn とＥＣn との差で表わされ、この値をリニアステ
ッピングモータ６の偏差と呼ぶ。そして、これらの値Ｐ
Ｃn ，ＥＣn 、ＣＰn は、それぞれパルス数で与えられ
る数値である。以下、これらの値は添字ｎを省略して説
明する。
際の停止位置を示す値であり、供給されたＩＣのリード
と接触子が接触し、押圧力が加わった時のコンタクトブ
ロック４の停止位置を示す値である。また、ＣＰn は、
ＰＣn とＥＣn との差で表わされ、この値をリニアステ
ッピングモータ６の偏差と呼ぶ。そして、これらの値Ｐ
Ｃn ，ＥＣn 、ＣＰn は、それぞれパルス数で与えられ
る数値である。以下、これらの値は添字ｎを省略して説
明する。
【００２１】上記の説明をもう少し具体的に述べると、
まず、リニアステッピングモータ６に動作指令位置であ
るＰＣ値を与え動作させると、コンタクトブロック４は
ＰＣ値に相当する位置まで動作する。しかし、実際の停
止位置は、リニアエンコーダ７が検出した位置であるＥ
Ｃ値で与えられる。
まず、リニアステッピングモータ６に動作指令位置であ
るＰＣ値を与え動作させると、コンタクトブロック４は
ＰＣ値に相当する位置まで動作する。しかし、実際の停
止位置は、リニアエンコーダ７が検出した位置であるＥ
Ｃ値で与えられる。
【００２２】次に、動作指令位置ＰＣと停止位置ＥＣと
の差は、コントローラ８によって偏差ＣＰ値と計算さ
れ、無負荷の場合の偏差ＣＰ値はゼロに近い値となる。
これに対し、コンタクトブロック４がＩＣと接触する
と、測定子の反力がリニアステッピングモータ６のロッ
ド９を押し上げるため、コンタクトブロック４は動作指
令位置のＰＣ値まで到達することができず、ＰＣ値とＥ
Ｃ値の差である偏差ＣＰ値は大きくなる。
の差は、コントローラ８によって偏差ＣＰ値と計算さ
れ、無負荷の場合の偏差ＣＰ値はゼロに近い値となる。
これに対し、コンタクトブロック４がＩＣと接触する
と、測定子の反力がリニアステッピングモータ６のロッ
ド９を押し上げるため、コンタクトブロック４は動作指
令位置のＰＣ値まで到達することができず、ＰＣ値とＥ
Ｃ値の差である偏差ＣＰ値は大きくなる。
【００２３】この偏差ＣＰ値と、コンタクトブロックが
リードを押さえつける押圧力（コンタクト圧力）との間
には、図３の特性図に示すような相関関係があることが
実験的に得られている。この押圧力は、測定子とリード
間の接触圧力にほぼ等しい圧力であることから、接触圧
力を代用する特性を示す値であり、この特性を応用し
て、最適な押圧力に相当する偏差ＣＰ値（パルス数）を
得ることによって、リニアステッピングモータ自身で最
適な接触圧力制御を自動で行なうことを可能としてい
る。
リードを押さえつける押圧力（コンタクト圧力）との間
には、図３の特性図に示すような相関関係があることが
実験的に得られている。この押圧力は、測定子とリード
間の接触圧力にほぼ等しい圧力であることから、接触圧
力を代用する特性を示す値であり、この特性を応用し
て、最適な押圧力に相当する偏差ＣＰ値（パルス数）を
得ることによって、リニアステッピングモータ自身で最
適な接触圧力制御を自動で行なうことを可能としてい
る。
【００２４】次に、本発明における一実施の形態の動作
について、図面を参照して説明する。まず、図１に示す
ように、ＩＣ１がＩＣソケット３上にセットされると、
次にリニアステッピングモータ６が動作してロッド９を
介してコンタクトブロック４を降下させ、コンタクトブ
ロック４はＩＣ１のリード１Ｂと接触し、測定子２を押
し下げる。
について、図面を参照して説明する。まず、図１に示す
ように、ＩＣ１がＩＣソケット３上にセットされると、
次にリニアステッピングモータ６が動作してロッド９を
介してコンタクトブロック４を降下させ、コンタクトブ
ロック４はＩＣ１のリード１Ｂと接触し、測定子２を押
し下げる。
【００２５】この接触により、リニアステッピングモー
タ６には測定子２を押し下げた時の反力が作用し、この
反力に相当する量である偏差ＣＰが生じる。この偏差Ｃ
Ｐは、クローズドループ制御の偏差（パルス数）に相当
するものであり、コントローラにより計算される。
タ６には測定子２を押し下げた時の反力が作用し、この
反力に相当する量である偏差ＣＰが生じる。この偏差Ｃ
Ｐは、クローズドループ制御の偏差（パルス数）に相当
するものであり、コントローラにより計算される。
【００２６】また、接触開始点では、コンタクトブロッ
ク４の動作スピードを低速にしないとはんだ屑の発生率
が高くなることがあるため、偏差ＣＰが増え始めた接触
開始点でリニアステッピングモータ６にコントローラ８
より速度変更指令を与え、超低速に切替える。
ク４の動作スピードを低速にしないとはんだ屑の発生率
が高くなることがあるため、偏差ＣＰが増え始めた接触
開始点でリニアステッピングモータ６にコントローラ８
より速度変更指令を与え、超低速に切替える。
【００２７】この接触開始点を過ぎ始めると偏差ＣＰが
増え始め、良好で安定した接触抵抗になる位置（良品判
定が可能となる位置）までコンタクトブロック４を下降
動作させる。そして、安定した良好な接触抵抗になった
位置をＰＣ１（１はＩＣのリード本数に対応する添字）
として、そのときの偏差ＣＰ１を求める。このとき求め
られたＰＣ１とＣＰ１は、リード本数に対して特定化で
きる値である。
増え始め、良好で安定した接触抵抗になる位置（良品判
定が可能となる位置）までコンタクトブロック４を下降
動作させる。そして、安定した良好な接触抵抗になった
位置をＰＣ１（１はＩＣのリード本数に対応する添字）
として、そのときの偏差ＣＰ１を求める。このとき求め
られたＰＣ１とＣＰ１は、リード本数に対して特定化で
きる値である。
【００２８】この方法により、リード本数の増加に応じ
て、または減少に応じてＰＣ値とＣＰ値をそれぞれ初期
値として設定する。この際、ＰＣ値とＣＰ値は相関関係
にあり、初期値の設定は、接触子が疲労を起こしていな
い新品の状態で行なうものとする。
て、または減少に応じてＰＣ値とＣＰ値をそれぞれ初期
値として設定する。この際、ＰＣ値とＣＰ値は相関関係
にあり、初期値の設定は、接触子が疲労を起こしていな
い新品の状態で行なうものとする。
【００２９】実際の測定時に、品種変更によってリード
本数に変更があった場合には、コントローラ８からの制
御でＰＣ値を自動で切り換えてコンタクトブロック４を
下降させ、初期設定の既定値であるＣＰ値と一致すれば
その位置まで動作させ、また、異なる場合は再度ＰＣ値
を切り換えてＰＣ値とＣＰ値の既定値が一致するまでコ
ンタクトブロック４を動作させる。そして、一致した位
置で連続測定を繰り返して行なう。
本数に変更があった場合には、コントローラ８からの制
御でＰＣ値を自動で切り換えてコンタクトブロック４を
下降させ、初期設定の既定値であるＣＰ値と一致すれば
その位置まで動作させ、また、異なる場合は再度ＰＣ値
を切り換えてＰＣ値とＣＰ値の既定値が一致するまでコ
ンタクトブロック４を動作させる。そして、一致した位
置で連続測定を繰り返して行なう。
【００３０】また、連続測定中に、品種変更によって他
品種との間でリード１Ｂの厚みや測定子２の脚長にバラ
ツキが生じた場合は、コンタクトブロック４が自動で位
置補正を加えることも可能である。つまり、リード本数
と押圧力を与えなくても、ＰＣ値とＣＰ値の初期値と一
致するかどうかをチェックして、リニアステッピングモ
ータ６が良好で安定した接触状態を維持して測定するこ
とができる。
品種との間でリード１Ｂの厚みや測定子２の脚長にバラ
ツキが生じた場合は、コンタクトブロック４が自動で位
置補正を加えることも可能である。つまり、リード本数
と押圧力を与えなくても、ＰＣ値とＣＰ値の初期値と一
致するかどうかをチェックして、リニアステッピングモ
ータ６が良好で安定した接触状態を維持して測定するこ
とができる。
【００３１】以上述べてきたように、本発明は、ＩＣの
特性試験を行なう際に使用されるＩＣソケットの測定子
とＩＣリードとの間の接触圧を制御し、確実な特性試験
を行なう方法であって、リニアステッピングモータ自身
が圧力センサーの働きを行ないながら、品種変更によっ
てリード本数に変更があっても、また、リードの厚みや
測定子の脚長にばらつきがあっても、適正な速度や接触
圧を、リニアステッピングモータ自身が自動的に制御し
て行なうことができる。
特性試験を行なう際に使用されるＩＣソケットの測定子
とＩＣリードとの間の接触圧を制御し、確実な特性試験
を行なう方法であって、リニアステッピングモータ自身
が圧力センサーの働きを行ないながら、品種変更によっ
てリード本数に変更があっても、また、リードの厚みや
測定子の脚長にばらつきがあっても、適正な速度や接触
圧を、リニアステッピングモータ自身が自動的に制御し
て行なうことができる。
【００３２】
【発明の効果】従来のコンタクト方法では、品種変更に
よるリード本数の増減に対し任意の適正レベルの押圧力
を設定しなければならなかったが、本発明では、最初に
ＰＣ値、ＣＰ値を設定しておけば、リード本数の増減が
あっても押圧力をその都度設定しなくても良く、初期設
定さえしておけば、リニアステッピングモータ自身が自
動で最適な位置まで動作するという利点がある。
よるリード本数の増減に対し任意の適正レベルの押圧力
を設定しなければならなかったが、本発明では、最初に
ＰＣ値、ＣＰ値を設定しておけば、リード本数の増減が
あっても押圧力をその都度設定しなくても良く、初期設
定さえしておけば、リニアステッピングモータ自身が自
動で最適な位置まで動作するという利点がある。
【００３３】また、従来は、押圧力のレベルを一定に維
持するために供給電流調整を行なっていたが、駆動部の
劣化等で生じる駆動ロスに電流を消費することがあり、
実際に必要な測定子とリード間の接触圧を所定の値に長
期間維持できないという問題があったが、本発明は、Ｐ
Ｃ値、ＥＣ値、ＣＰ値をパソコン画面等に表示させるこ
ともでき、初期の設定値に異常が発生した場合には、コ
ントローラより警報出力を発することも可能であり、こ
れによって、所定の押圧力を維持させることができ、品
種替えによる測定子の脚長高さや強さのバラツキがあっ
ても、所定の押圧力をリニアステッピングモータ自身の
制御で維持させることができる。これにより、測定子と
リード間の接触圧を所定の値に長時間維持することがで
き、ＩＣの特性を確実にかつ安定して測定することがで
きるという効果がある。
持するために供給電流調整を行なっていたが、駆動部の
劣化等で生じる駆動ロスに電流を消費することがあり、
実際に必要な測定子とリード間の接触圧を所定の値に長
期間維持できないという問題があったが、本発明は、Ｐ
Ｃ値、ＥＣ値、ＣＰ値をパソコン画面等に表示させるこ
ともでき、初期の設定値に異常が発生した場合には、コ
ントローラより警報出力を発することも可能であり、こ
れによって、所定の押圧力を維持させることができ、品
種替えによる測定子の脚長高さや強さのバラツキがあっ
ても、所定の押圧力をリニアステッピングモータ自身の
制御で維持させることができる。これにより、測定子と
リード間の接触圧を所定の値に長時間維持することがで
き、ＩＣの特性を確実にかつ安定して測定することがで
きるという効果がある。
【図１】 本発明の一実施の形態を説明する模式図
で、図（ａ）は全体構成を示し、図（ｂ）は図（ａ）の
Ａ部詳細である。
で、図（ａ）は全体構成を示し、図（ｂ）は図（ａ）の
Ａ部詳細である。
【図２】 本発明におけるコンタクトブロックの制御
動作を示す説明図である。
動作を示す説明図である。
【図３】 本発明におけるリニアステッピングモータ
の偏差と押圧力との相関関係を示す特性図である。
の偏差と押圧力との相関関係を示す特性図である。
【図４】 従来のコンタクト方法を説明する模式図で
ある。
ある。
１ ＩＣ １Ａ 本体部 １Ｂ リード ２ 測定子 ３ ＩＣソケット ４ コンタクトブロック ５Ａ、５Ｂ 連結棒 ６ リニアステッピングモータ ７ リニアエンコーダ ８ コントローラ ９ ロッド １０ 測定部
Claims (6)
- 【請求項１】 ＩＣの特性試験を行なう際、ＩＣソケッ
ト上に被測定ＩＣを供給し、被測定ＩＣの上方からコン
タクトブロックを降下させ、被測定ＩＣのリードとＩＣ
ソケットの測定子とを押圧接触させるＩＣソケットのコ
ンタクト方法において、押圧力を発生させるアクチュエ
ータとしてリニアステッピングモータを使用し、押圧力
が無負荷である時のコンタクトブロックの位置を動作指
令位置（ＰＣ）とし、押圧力が加わり始め前記リードと
測定子が良好な接触抵抗となった時のコンタクトブロッ
クの位置を実際の停止位置（ＥＣ）とし、前記ＰＣ値と
ＥＣ値との差を偏差ＣＰ値としてリニアエンコーダで検
出し、それぞれの値をパルス数でコントローラに入力
し、ＰＣ値とＣＰ値をそれぞれ初期値として設定してお
くことによってリニアステッピングモータが最適の位置
まで動作することを特徴とするＩＣソケットのコンタク
ト方法。 - 【請求項２】 リード本数の増減に応じて前記ＰＣ値と
ＣＰ値をリード１本毎にそれぞれ初期値として設定する
ことを特徴とする請求項１記載のＩＣソケットのコンタ
クト方法。 - 【請求項３】 品種変更によるリード本数の変更があっ
た場合、前記コンタクトブロックをコントローラからの
制御でＰＣ値を自動で切り換えて下降させ、初期設定値
であるＣＰ値と一致すればその位置まで動作させ、異な
る場合は再度ＰＣ値を切り換えてＰＣ値とＣＰ値の初期
設定値が一致するまでコンタクトブロックを動作させ、
一致した位置で連続測定を繰り返すことを特徴とする請
求項１記載のＩＣソケットのコンタクト方法。 - 【請求項４】 前記偏差ＣＰ値と押圧力とは、相関関係
にあることを特徴とする請求項１記載のＩＣソケットの
コンタクト方法。 - 【請求項５】 リードと測定子が接触を開始すると同時
に、コントローラからの指令によりリニアステッピング
モータの速度制御を行ない、コンタクトブロックの動作
速度を低速にすることを特徴とする請求項１記載のＩＣ
ソケットのコンタクト方法。 - 【請求項６】 前記偏差ＣＰ値に基づいてリニアステッ
ピングモータを動作させることによって、リードと測定
子の接触圧力をリニアステッピングモータ自身が自動的
に制御することを特徴とする請求項１記載のＩＣソケッ
トのコンタクト方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12742099A JP3231735B2 (ja) | 1999-05-07 | 1999-05-07 | Ｉｃソケットのコンタクト方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12742099A JP3231735B2 (ja) | 1999-05-07 | 1999-05-07 | Ｉｃソケットのコンタクト方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000321326A JP2000321326A (ja) | 2000-11-24 |
| JP3231735B2 true JP3231735B2 (ja) | 2001-11-26 |
Family
ID=14959530
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12742099A Expired - Fee Related JP3231735B2 (ja) | 1999-05-07 | 1999-05-07 | Ｉｃソケットのコンタクト方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3231735B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
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|---|---|---|---|---|
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| CN111413546A (zh) * | 2020-04-07 | 2020-07-14 | 宁波市重强电器有限公司 | 一种电连接器的接触电阻分析方法 |
| CN117406067B (zh) * | 2023-12-11 | 2024-02-13 | 上海捷策创电子科技有限公司 | 一种芯片测试座的压力检测装置及检测方法 |
-
1999
- 1999-05-07 JP JP12742099A patent/JP3231735B2/ja not_active Expired - Fee Related
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