JP3224805B2 - Ccd型固体撮像素子 - Google Patents

Ccd型固体撮像素子

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JP3224805B2
JP3224805B2 JP2000176189A JP2000176189A JP3224805B2 JP 3224805 B2 JP3224805 B2 JP 3224805B2 JP 2000176189 A JP2000176189 A JP 2000176189A JP 2000176189 A JP2000176189 A JP 2000176189A JP 3224805 B2 JP3224805 B2 JP 3224805B2
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pulse
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transistor
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はCCD型撮像素子に関
し、特に低消費電力駆動が容易にでき、また低消費電力
で、かつ低雑音な出力回路を有する2次元CCD型撮像
素子に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、家庭用ビデオカメラ等に用いられ
る固体撮像素子には、CCD型固体撮像素子が広く用い
られている。このような従来のCCD型固体撮像素子は
図15に示すインターライン型と呼ばれる素子構成をも
ち、表1に示す駆動条件で駆動がなされ、図16に示す
構成によりカメラシステムの中で用いられる。図15に
おいて、1は光電変換を行うホトダイオード、2および
3はホトダイオード1で光電変換された信号電荷を転送
するための垂直CCD2及び水平CCD3、4は水平C
CD3とトランジスタ5〜10で構成された出力回路と
を仕切るアウトプットゲート、5は水平CCD3から信
号電荷が送られてくる初段ソースフォロワードライバト
ランジスタ6のゲート部に接続された浮遊拡散層を水平
CCD3の1転送周期ごとにリセットするためのリセッ
トトランジスタ、6および8はそれぞれ初段ソースフォ
ロワーを構成するドライバトランジスタと負荷トランジ
スタ、9および10はそれぞれ次段ソースフォロワーを
構成するドライバトランジスタと負荷トランジスタであ
る。垂直CCD2の中の区切りは1つのポリシリコン電
極からなる1転送段を示し、水平CCD3の中の区切り
は第1層ポリシリコンと第2層ポリシリコン電極からな
る1転送段を示す。また、水平CCD3とアウトプット
ゲート4を構成する第2層ポリシリコン電極下にはチャ
ネル電圧を低くするためボロンのイオン打ち込みがなさ
れている。また、リセットトランジスタ5は水平CCD
3を構成する第1層ポリシリコン電極下のnチャネルを
含む部分と同一工程で形成されたディプレッション型電
界効果トランジスタからなる。v1、v2、v3、v4
は垂直CCD2を駆動するための4相のパルスの入力端
子、h1およびh2は水平CCD3を駆動するための2
相のパルスの入力端子、ogはアウトプットゲート4の
直流バイアス電圧入力端子、rgは上記リセットトラン
ジスタ5のゲートに印加されるリセットパルス入力端
子、rdは浮遊拡散層のリセット電圧入力端子、vgは
負荷トランジスタ8および10のゲート電圧入力端子、
odは出力回路部の電源電圧入力端子、subは基板電
圧入力端子、wellはウェル電圧入力端子、vssは
集積回路で通常用いられている保護回路のウェル電圧入
力端子、outは信号出力端子である。
【0003】ホトダイオード1で光電変換された信号電
荷は、v1もしくはv3端子に高電圧が印加され1行分
の信号電荷が一括して垂直CCD2に送られ、ついでv
1からv4端子に中電圧と低電圧の電圧レベルをもつ4
相のパルスが印加され、これにより一行単位で水平CC
D3に転送され、その後h1およびh2端子に2相の水
平CCD転送パルスが印加され水平CCD3内を順次転
送される。ここで、水平CCD転送パルス発生回路は図
16におけるドライバ163に内蔵されている。水平C
CD3から初段ソースフォロワードライバトランジスタ
6のゲート部に接続された浮遊拡散層に転送された信号
電荷による電位変化がトランジスタ6および8からなる
初段ソースフォロワーにより検出され、トランジスタ9
および10からなる次段ソースフォロワ−によりout
端子に出力される。ついで、rg端子にリセットパルス
が印加されリセットトランジスタ5は導通状態となり、
浮遊拡散層はrd端子に印加されたリセット電圧にリセ
ットされる。以上の動作が繰り返され、信号が順次出力
される。また、sub端子には通常はホトダイオードで
生じる過剰電荷を排出するため所定の直流電圧が印加さ
れ、動解像度の向上とフリッカ防止を目的とした電子シ
ャッターを実現するため走査の途中で高電圧が印加され
る。このような構成と動作を持つCCD型固体撮像素子
は通例表1に示す駆動条件により駆動がなされる。表1
は図15に示した各端子に印加されるパルスと直流バイ
アス電圧の1例を示すものである。
【0004】
【表1】 ウェル電極端子電圧を基準電圧としてv1からv4端子
には暗電流低減のため最低電圧が垂直CCD2のn層の
表面にp型反転層が形成される電圧(以下ピンニング電
圧)以下とした負値の垂直CCD走査パルスが印加さ
れ、ホトダイオード1から垂直CCD2への信号電荷転
送時には、v1、v3端子に高電圧が印加される。(ま
た、h1、h2端子には図16のタイミング発生器16
2の出力電圧がドライバ163を介することなく直接印
加される。これは、ドライバを設けることによる不要な
消費電力の発生を防ぎ、カメラシステムを低消費電力化
するためである。)さらに、水平CCDから浮遊拡散層
への電荷転送をとどこおりなく行うために、OG端子に
はh1並びにh2端子に印加される水平CCD転送パル
スの高電圧に等しい電圧が、rd端子にはアウトプット
ゲート4下のチャネル電圧より十分に高い電圧が印加さ
れる。rg端子の低電圧は浮遊拡散層からの信号電荷の
漏れを防ぐために水平CCD転送パルスの低電圧に等し
く、高電圧は十分に低いオン抵抗を実現するため水平C
CD転送パルスの高電圧より十分に高い電圧を印加す
る。また、od端子には電源電圧の種類の数を増やさな
いためにrd端子と同一電圧が印加される。一方、su
b端子に印加される過剰電荷排出用の直流電圧は素子ご
とにばらつくため各素子ごとに調整がなされ、電子シャ
ッターパルスのための高電圧は素子のばらつきの上限値
に設定される。
【0005】以上のCCD型固体撮像素子は図16に示
す構成によりカメラ内で用いられる。図中、161は図
15に示したCCD型固体撮像素子、162はCCD型
固体撮像素子161を駆動するためのタイミング発生
器、163は各パルスの電圧値を必要とする値にして供
給するためのドライバ、164はCCD型固体撮像素子
161の出力から雑音を除去するための相関二重サンプ
リング回路、165は信号の出力レベルに応じて電圧利
得を変える自動利得制御回路、166はA/D変換器、
167はディジタル信号処理回路、168はD/A変換
器、169はカメラのバッテリ170からカメラ各部に
必要な電圧を供給するDC−DC変換器である。これら
タイミング発生器162、相関二重サンプリング回路1
64と自動利得制御回路165、ディジタル信号処理装
置167、A/D変換器166、D/A変換器168
は、それぞれ単一電源で動作する単一チップ上に形成さ
れたの集積回路から成る。CCD型固体撮像素子161
は、タイミング発生器162でタイミングを発生しDC
−DC変換器169により電圧の供給されたドライバ1
63により所定の電圧値にしたパルスと、DC−DC変
換器169から供給される直流電圧とにより駆動され、
固体撮像素子161からの出力信号は相関2重サンプリ
ング回路164と自動利得制御回路165により雑音除
去・利得制御された後、A/D変換器166によりディ
ジタル信号に変換されディジタル信号処理装置167で
信号処理がなされ、再びD/A変換器168によりアナ
ログ信号に変換されTV信号となる。なお、この種のC
CD型固体撮像素子については、例えば、テレビジョン
学会技術報告、13巻、11号、pp.61−72(1
989.2)、テレビジョン学会技術報告、12巻、1
3号、pp.31−36(1988.2)において、さ
らに、この種のCCD型固体撮像素子をもちいたカメラ
のディジタル信号処理装置についてはアイ・エス・エス
・シィー・シィー・ ダイジェスト オブ テクニカル
ペーパーズ 第250頁から第251頁(1991)
(ISSCCDIGEST OF TECHNICAL
PAPERS pp.250−251(1987))
において論じられている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】上記従来技術は、CC
D型固体撮像素子の駆動に使い勝手の改善や低消費電力
化の考慮がされておらず、撮像素子の使い勝手が悪く、
カメラの低消費電力化が困難である。さらに、撮像素子
内の出力回路の低消費電力化・低雑音化が難しいという
問題があった。すなわち、第1に、周辺回路の単一電源
化が進む中で、図15に示したCCD型撮像素子の駆動
には表1に示す多値の電圧レベルを持つパルスと直流電
圧が必要であり、図16に示すようにこれら多値電圧を
発生するためのドライバ163とDC−DC変換器16
9をカメラシステムの中に設けなければならなかった。
これがCCD型撮像素子を扱いにくいものとする一因と
なっていた。さらに信号処理回路のディジタル化により
カメラの無調整化が進む中で、sub端子に印加される
過剰電荷排出用の直流電圧を素子毎に調整しなければな
らない点も、CCD型撮像素子を扱いにくいものとする
他の一因となっていた。また、第2に、カメラの低消費
電力化を目指し、タイミング発生器162や信号処理装
置167の電源電圧は現状の5Vから3.3V、さらに
は1.5Vと低電圧化が図られている。しかし、高速転
送が必要な水平CCD3の駆動電圧を下げることは困難
である。従って、タイミング発生器162の出力電圧を
h1およびh2端子に印加して水平CCD3を駆動する
ことが困難となり、水平CCDを駆動するためのドライ
バをカメラシステム内に設ける必要が有った。このよう
にドライバ部を撮像素子外部に設けるとドライバと撮像
素子の配線容量や撮像素子のピン容量等の寄生容量を駆
動するための無効電力が発生し、カメラの低消費電力化
を阻む一因となっていた。さらに、上述した多値電圧を
発生するDC−DC変換169の電力は下げることがで
きず、これが、カメラの低消費電力化を阻む他の一因と
なっていた。さらに、第3に、タイミング発生器162
の0〜5Vの出力電圧を水平CCD転送パルス発生回路
を内蔵するドライバ163(図16参照)を経由してh
1およびh2端子に印加し、水平CCD3を駆動してい
るために、水平CCD3のチャネル電圧が高く、rd端
子電圧が高くなる。この結果、rd端子と等しい電圧に
設定される出力回路の電源電圧であるod端子電圧も高
くなり、出力回路で発生する消費電力が大きくなってい
た。このため、od端子電圧を低くすることが望まれて
いた。さらに、電源電圧が高いために、チャネル長の短
いトランジスタを用いることが困難であり雑音が大きい
という問題も生じていた。以上述べた従来技術の各種問
題点に対して、本発明においては上記第3の問題点を解
消すること、すなわち、出力回路の電源電圧を下げるこ
とにより低消費電力のCCD型固体撮像素子の出力回路
を提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】以上述べた本発明の目的
を達成するために、請求項1においては、光を電気信号
に変換する光電変換素子群と、この光電変換素子群で発
生した光信号電荷を順次転送する垂直CCDおよび水平
CCDと、この水平CCDからの光信号電荷を一時保持
する初段ソースフォロワードライバトランジスタのゲー
トに接続された浮遊拡散層と、この浮遊拡散層に入力が
接続されている出力回路とを有するCCD型固体撮像素
子において、トリガパルスを入力とし、最低電圧が負で
あるパルスを発生させ、かつ、この負電圧パルスを上記
の水平CCDの電極に出力する水平CCD転送パルス発
生回路を有するCCD型固体撮像素子としたものであ
る。
【0008】また、請求項2においては、上記の出力回
路は多段のソースフォロワー回路から構成されており、
これらソースフォロワー回路の次段以降のソースフォロ
ワー回路のドライバトランジスタの基板不純物濃度は初
段のソースフォロワー回路のドライバトランジスタの基
板不純物濃度より低くすることにより上記請求項1のC
CD型固体撮像素子を実現したものである。
【0009】
【発明の実施の形態】以下図により本発明の実施の形態
を説明する。
【0010】まず、本発明の水平CCD転送パルス発生
回路では、その最低電圧を負とすることにより、水平C
CD下のチャネル電圧が低くなり、図15におけるrd
端子の電圧を下げられる。さらに、その最低電圧は無効
な電圧領域を生じないようにチャネル電圧を低くするた
めのイオン打ち込みがなされた水平CCDの第2層ポリ
シリコン電極下のピンニング電圧より高い値とする。こ
の結果、水平CCD転送パルス最低電圧は垂直CCD転
送パルスの最低電圧より高い負の値となる。一方、その
電圧振幅は消費電力低減のため通例垂直CCD転送パル
スより小さい。そこで、本実施の形態では水平CCDの
転送パルスを外部からの正のトリガーパルスをレベルシ
フトした後負電源回路の電圧振幅を制限することにより
発生させる構成とした。図1は上記構成による具体的回
路を示すもので、正の入力トリガパルスから最低電圧が
負の水平CCD転送パルスを発生させ、かつこの負の転
送パルスを水平CCDの電極に出力する水平CCD転送
パルス発生回路である。図中、51は結合容量、52は
クランプダイオード、53は第1の反転回路を構成する
nチャネルMOSトランジスタ、54は第1の反転回路
を構成するpチャネルMOSトランジスタ、55は第2
の反転回路を構成するnチャネルMOSトランジスタ、
56は第2の反転回路を構成するpチャネルMOSトラ
ンジスタで、また、57は、パルスの負電圧を制限する
ためのpチャネルMOSトランジスタ、58、59はp
チャネルMOSトランジスタ57のゲートにバイアス電
圧を与えるpチャネルMOSトランジスタ、60、6
1、62はバイアス電圧発生回路を構成するnチャネル
MOSトランジスタである。ここで、図1における電源
電圧はVssは負電圧値としている。なお、nチャネル
MOSトランジスタ60、61、62のウェル電極端子
はそれぞれのMOSトランジスタのソースに接続され各
トランジスタのしきい電圧は等しくなっている。
【0011】トリガパルス入力のH1/H2端子に印加
された正のトリガパルスは、結合容量51を経てトラン
ジスタ53〜56により従属接続された反転回路を経由
し、これから得られたパルスはpチャネルMOSトラン
ジスタ57により最低電圧が制限され、水平CCD転送
パルスとしてMOSトランジスタ57のドレインから出
力される。第2の反転回路の出力が0Vの時ノードEは
nチャネルMOSトランジスタ60〜62で構成された
バイアス電圧発生回路のバイアス電圧からpチャネルM
OSトランジスタ59のしきい電圧だけ高い値となって
いる。第2の反転回路の出力が負電源電圧Vssになる
とトランジスタ57のドレインもしくはソースとゲート
との間の容量結合により、ノードEの電圧は低くなる。
この後、ノードEの電圧がある電圧以下になるとトラン
ジスタ58が導通し、ノードEは上記バイアス電圧発生
回路のバイアス電圧よりpチャネルMOSトランジスタ
58のしきい電圧だけ低い値にクランプされる。この結
果、第2の反転回路の出力はノードEよりpチャネルM
OSトランジスタ57のしきい電圧だけ高い値、すなわ
ちバイアス電圧発生回路のバイアス電圧と等しい値に制
限される。
【0012】このように本発明によれば、外部から印加
された正のトリガーパルスをレベルシフトした後、負電
源に接続された水平CCDパルス発生回路により、最低
電圧が負の水平CCD転送パルスを発生させる事がで
き、これにより出力回路の電源電圧を下げることが可能
となっている。なお、パルスの高電圧を制限するにはト
ランジスタ57から59をnチャネルMOSトランジス
タとし所望のバイアス電圧を与えれば良く、また、パル
スの電圧を制限するために電源電圧に電圧リミッタを掛
けても良い。
【0013】次に、水平CCD出力回路は図2に示すト
ランジスタ5〜10の多段構成によるソースフォロワー
回路で構成されている。次段以降のソースフォロワー回
路のドライバトランジスタ9の基板不純物濃度を初段の
ソースフォロワー回路のドライバトランジスタ6の基板
不純物濃度より低くしている。すなわち、通例、初段の
ドライバトランジスタ6が飽和動作し出力回路が線形範
囲で動作するためには、出力回路電源電圧はリセット電
圧より初段のドライバトランジスタ6のしきい電圧引い
た値より高い必要がある。従って、出力回路電源電圧を
下げるには初段ドライバトランジスタ6のしきい電圧を
大きな値とすれば良い。しかし、図15で述べたような
次段のドライバトランジスタ9が初段ドライバトランジ
スタ6と同一の構造を持つ従来例の場合にはトランジス
タのしきい電圧が高すぎると次段ドライバトランジスタ
9が十分に導通せず次段の動作が困難となる。そこで、
本実施の形態では次段以降のドライバトランジスタの基
板不純物濃度を初段のドライバトランジスタ6の基板不
純物濃度より低くし、初段ドライバトランジスタのしき
い電圧を高くしod電圧を下げると共に、次段以降のド
ライバトランジスタのしきい電圧を低くし、線形動作範
囲で次段が動作するようにした。
【0014】上記の構造による集積回路の出力回路を図
11に示す。図中、111、112は初段ソースフォロ
ワーを構成するドライバトランジスタ、負荷トランジス
タ、113、114は次段ソースフォロワーを構成する
ドライバトランジスタ、負荷トランジスタ、115、1
16は終段ソースフォロワーを構成するドライバトラン
ジスタ、負荷トランジスタ、117は図8で述べた負荷
トランジスタのバイアス電圧発生回路、119は図3
(b)で述べた光電変換部と同様のn型基板20上に形
成されたpウェル21と2重pウェル22の形成領域、
118はpウェル21と同じ深さを持ちやや濃度の高い
第3のpウェルの形成領域である。2重pウェル層はス
ミア抑圧のため高濃度に設定されている。初段ソースフ
ォロワーの出力電圧は初段ドライバトランジスタ111
の大きなしきい電圧による電圧降下により低い電圧とな
る。一方、次段及び終段のドライバトランジスタ11
3、115のしきい電圧は0Vに近い小さな値で、しき
い電圧による電圧降下は少なく各段の入力電圧と出力電
圧はほぼ等しく、次段及び終段の動作が困難となること
はない。以上のように本発明によれば次段以降のドライ
バトランジスタ113、115の基板不純物濃度を初段
のドライバトランジスタ111の基板不純物濃度より低
くすることにより、次段以降の動作範囲を困難にするこ
となく初段における高いしきい電圧による大きな電圧降
下を実現し、電源電圧を低くすることが出来る。なお、
本実施の形態では出力回路の周波数特性改善を目的とし
てソースフォロワーが3段構成の場合を述べたが、段数
は2段以上であれば本発明の効果は同様に得られる。以
下、本発明に関連した各種実施の形態を示す。第1の実
施の形態本発明の第1の実施の形態を図2から図9によ
り説明する。図2は第1の実施の形態の全体構成図、図
3(a)は第1の実施の形態の図2のA−A’部の断面
図、図3(b)は図2のB−B’部分の断面図、図3
(c)はpチャネルトランジスタに対応する部分の断面
図、図4は第1の実施の形態の垂直CCD転送パルス発
生回路、図5は第1の実施の形態の垂直CCD3値パル
ス発生回路、図1は第1の実施の形態の水平CCD転送
パルス発生回路、図6は第1の実施の形態のリセットパ
ルス発生回路、図7は第1の実施の形態のリセットドレ
イン電圧発生回路、図8は第1の実施の形態の出力回路
負荷トランジスタのバイアス電圧発生回路、図9は第1
の実施の形態の基板電圧発生回路である。
【0015】図2において1から10は図15と同じ構
成のものである。但し、リセットトランジスタ5は水平
CCDを構成する第2層ポリシリコン電極下と同様のイ
オン打ち込みのされたディプレッション型トランジスタ
からなる。11は図9に示す基板電圧発生回路、12は
図4に示す垂直CCD転送パルス発生回路、13は図5
に示す垂直CCD3値パルス発生回路、14は図1に示
す水平CCD転送パルス発生回路、15は図6に示すリ
セットパルス発生回路、16は図7に示すリセット電圧
発生回路、17は図8に示す出力回路負荷トランジスタ
のバイアス電圧発生回路である。V1、V2、V3、V
4は垂直CCD2の転送パルスのトリガ入力端子、V1
R、V3Rは垂直CCD2の読み出しパルスのトリガ入
力端子、H1およびH2は水平CCD3の転送パルスの
トリガ入力端子、RGはリセットパルスのトリガ入力端
子、SUBは電子シャッターパルスのトリガ入力端子、
WELLはウェル電圧入力端子、VDDは正電源電圧入
力端子、Vssは負電源電圧入力端子、OUTは信号出
力端子である。タイミング発生器のトリガ−パルスと
正、負の2電源から所定の電圧を持つパルスと直流電圧
が素子内部で発生し図15で述べたと同様の動作が行わ
れる。
【0016】通例、集積回路内で用いられる昇圧回路は
電流駆動能力が小さい。そこで、正電源は大きな電流駆
動能力を必要とされる最高電圧以上、負電源は大きな電
流駆動能力を必要とされる最低電圧以下とする必要があ
る。2次元CCD型撮像素子の場合、大きな電流駆動能
力が必要とされるのは、垂直CCD2と水平CCD3の
転送パルスの高低電圧並びに出力回路の電源電圧であ
る。以上の結果、正電源電圧値は出力回路の電源電圧値
より高くすればよい。出力回路の電源には常時貫通電流
がながれているので、不用な消費電力を発生させないた
めに、本実施の形態では、正電源値は出力回路の電源電
圧値と等しくした。また、負電源値は垂直CCDの転送
パルスの最低電圧値より低くすれば良い。不用な降圧器
を設けなくても良いように、本実施の形態では、負電源
値は垂直CCD2の転送パルスの最低電圧値と等しくし
た。すなわち、本実施の形態では、正電源値は出力回路
の電源電圧値と等しく、負電源値は垂直CCD2の転送
パルスの最低電圧値と等しくすることにより、タイミン
グ発生器のトリガパルスと正、負の2電源から所定の電
圧を持つパルスと直流電圧を素子内部で容易に発生する
ことが可能となっている。
【0017】11から17の内蔵回路における消費電力
を低減するために相補型MOSトランジスタにより回路
を構成することが望ましい。本実施の形態では、このよ
うな相補型のトランジスタをCCD型撮像素子を形成す
るための製造工程に何ら変更をすることなく実現してい
る。図3を用いてこの点について説明する。同図(a)
は図2のA−A’部に対応する部分の断面図であり従来
と同様である。図中、20はn型基板、21はp型ウェ
ル、22はスミア電荷等の不要電荷のCCDn層23へ
の混入を防ぐためのp型2重ウェル、24はCCDのポ
リシリコン電極、25はホトダイオードn層26から基
板への過剰電荷排出を低い電圧で行うためのnウェル、
27は暗電流を抑圧するためにホトダイオード表面に設
けられたp+層、28は遮光用第2層アルミである。ま
た、図3(b)は図2のB−B’部のnチャネルトラン
ジスタの断面図であり従来と同様である。図中、20、
21、22、24は図3(a)と同様であり、29は配
線用の第1層アルミ、30はnチャネルMOSトランジ
スタのn型ソースドレイン拡散層である。11から17
の内蔵回路を実現するためのnチャネルMOSトランジ
スタは図(b)と同様の構造を持つ。図(c)は11か
ら17の内蔵回路を実現するため新たに設けたpチャネ
ルMOSトランジスタの断面構造図を示す。20、2
4、25、27は図3(a)と同様で、29は図3
(b)と同様である。なお、p+層27と配線層29と
のコンタクトは従来例におけるp型ウェル21と配線層
29とのコンタクトと同時に行われる。本実施の形態で
は、pチャネルトランジスタのソースおよびドレイン拡
散層をホトダイオード表面に設けられたp+層と兼用す
ることにより、CCD型撮像素子を形成するための製造
工程に何ら変更をすることなく相補型のトランジスタを
実現している。
【0018】なお、pチャネルトランジスタのしきい電
圧を低くしたい場合にはn型ウェル25をpチャネルト
ランジスタ下に設けなくても良い。また、水平CCDの
第2層ポリシリコン電極下に打ち込まれるチャネル電圧
調整用の通例ボロンからなるイオン打ち込みをポリシリ
コン電極24の下に打ち込んでも良い。逆に、しきい電
圧を高くしたい場合にはホトダイオードn層26をトラ
ンジスタ下に設ければ良い。さらに、nチャネルトラン
ジスタのしきい電圧を小さくしたい場合にはp型2重ウ
ェル22をnチャネルトランジスタ下に設けなくても良
い。また、本実施の形態のpチャネルトランジスタを用
いる際にはソースドレイン拡散層27がn型基板20に
対し順方向にバイアスされないようにn型基板に印加さ
れる電圧は正電源より高い電圧としている。 (1)垂直CCD転送パルス発生回路 低電圧が負の垂直CCDの転送パルスを外部からの正の
トリガパルスにより発生させるにはレベルシフトを行い
電圧増幅することが必要である。図5に第1の実施の形
態の垂直CCD転送パルス発生回路を示す。図中、31
は結合容量、32はクランプダイオード、33は第1の
反転回路を構成するnチャネルMOSトランジスタ、3
4は第1の反転回路を構成するpチャネルMOSトラン
ジスタ、35は第2の反転回路を構成するnチャネルM
OSトランジスタ、36は第2の反転回路を構成するp
チャネルMOSトランジスタである。外部からの正のパ
ルスはダイオード32により負電源Vssにクランプさ
れた入力点Aに結合容量31を介し電圧シフトして伝達
される。ついで、第1の反転回路により電圧増幅された
後、第2の反転回路で電流増幅され垂直CCD転送パル
スとなる。外部パルスの電圧振幅は垂直CCD転送パル
スの電圧振幅より小さいため、第1の反転回路は外部パ
ルスの電圧が高いときに貫通電流が流れる。この貫通電
流を小さくし消費電力低減するためには第1の反転回路
の電流駆動能力は低くせざるを得ず、大容量の垂直CC
D電極を駆動できない。そこで、本実施の形態では第2
の反転回路を設け、第1の反転回路には高い電流駆動能
力がなくても良いようにしている。すなわち、本実施の
形態によれば、入力点が外部パルスと容量により結合
し、かつ、負電源にクランプされた第1の反転回路を設
けることによりレベルシフトと電圧増幅を行い、第1の
反転回路の出力を入力とする第2の反転回路を設けるこ
とで消費電力の低い垂直CCD転送パルス発生器を実現
している。なお、ダイオード32は図3のp型ウェル2
1内にn型拡散層を設けることにより容易に実現でき
る。さらに、クランプはダイオード接続されたMOSト
ランジスタで行っても良い。 (2)垂直CCD3値パルス発生回路 本実施の形態では垂直CCD転送パルスを発生する負電
源回路と読み出しパルスを発生する正電源回路を設け、
この2つの回路の出力をスイッチにより切り替えること
により垂直CCD3値パルスを発生させる。図5に第1
の実施の形態の垂直CCD3値パルス発生回路を示す。
図中、41は結合容量、42はクランプダイオード、4
3、37は第1の反転回路を構成するnチャネルMOS
トランジスタ、44、38は第1の反転回路を構成する
pチャネルMOSトランジスタ、45、39は第2の反
転回路を構成するnチャネルMOSトランジスタ、4
6、40は第2の反転回路を構成するpチャネルMOS
トランジスタで、41から46で構成される回路あるい
は37から40で構成される回路は図2と同様の回路で
ある。また、47は垂直CCD転送パルス発生回路と垂
直CCD電極間のスイッチとなるnチャネルMOSトラ
ンジスタ、48は読み出しパルス発生回路と垂直CCD
電極間のスイッチとなるpチャネルMOSトランジスタ
である。なお、nチャネルMOSトランジスタ47のウ
ェルは第2の反転回路の出力に接続され基板効果による
しきい電圧の増加を防いでいる。負値の垂直転送パルス
を発生する転送パルス発生回路は負電源とアース電源間
に設けられ、転送パルス発生回路を構成するMOSトラ
ンジスタ43から46の各端子間電圧はVss以下とな
る。また、正値の読み出しパルスを発生する読み出しパ
ルス発生回路は正電源とアース電源間に設けられ、読み
出しパルス発生回路を構成するMOSトランジスタ37
から40の各端子間電圧がVDD以下となる。
【0019】垂直CCD2の読み出しパルスのトリガ入
力端子V1R、V3Rに低い電圧が印加されている時は
ノードBの電圧はVDD、ノードCの電圧は0Vとなっ
ている。この結果、nチャネルMOSトランジスタ47
が導通し負電圧を有する垂直CCD2の転送パルスが垂
直CCD電極に接続されたノードDに印加される。一
方、ゲート接地されたpチャネルMOSトランジスタ4
8のソースドレインには0Vもしくは負電源電圧Vss
が印加されているので導通することはない。ついで、転
送パルスが0Vとなった状態でトリガ入力端子V1R、
V3Rに高い電圧が掛ると、ノードBが0Vとなりnチ
ャネルMOSトランジスタ47が遮断状態となる。一
方、ノードCがVDDとなりpチャネルMOSトランジ
スタ48が導通し垂直CCD電極に接続されたノードD
にVDDが印加される。すなわち、ノードBの電圧がV
DDとなりnチャネルMOSトランジスタ47が導通し
ている時には0からVssの転送パルスが垂直CCD電
極に接続されたノードDに印加され、読み出しパルス発
生回路の出力となるノードCの電圧は0Vとなってい
る。この結果、pチャネルMOSトランジスタ48のソ
ース・ドレイン間電圧は最大でもVssとなる。また、
ノードCがVDDとなりpチャネルMOSトランジスタ
48が導通し垂直CCD電極に接続されたノードDにV
DDが印加される時には、垂直CCD転送パルスを発生
する負電源回路の出力は0Vとなっている。この結果、
nチャネルMOSトランジスタ47のソース・ドレイン
間電圧は最大でもVDDとなる。
【0020】以上述べたように、本実施の形態によれば
垂直CCD3値パルスを垂直CCD転送パルスを発生す
る負電源回路と読み出しパルスを発生する正電源回路と
を設け、この2つの回路の出力をスイッチにより切り替
えることにより、各MOSトランジスタのソースドレイ
ン間電圧をVDDもしくはVssと低い値としながら3
値パルスを発生することができる。また、MOSトラン
ジスタ47をnチャネル、MOSトランジスタ48をp
チャネルで構成し、各MOSトランジスタのオフ時のゲ
ート電圧を接地電圧としたことにより、次のような作用
効果がある。すなわち、ノードBの電圧がVDDとなり
nチャネルMOSトランジスタ47が導通している時に
は0からVssの転送パルスが垂直CCD電極に接続さ
れたノードDに印加される。この時、読み出しパルス発
生回路の出力となるノードCの電圧は0Vとなってい
る。以上の結果、ゲートに0Vを加えることにより、p
チャネルMOSトランジスタ48を遮断状態とすること
ができ、そのゲート・ソース間電圧は0V、ゲート・ド
レイン間電圧は最大でもVssとできる。また、読み出
しパルス発生回路の出力であるノードCの電圧がVDD
となりpチャネルMOSトランジスタ48が導通する
と、垂直CCD電極に接続されたノードDにVDDが印
加される。この時、垂直CCD転送パルスを発生する負
電源回路の出力は0Vとなっている。以上の結果、ゲー
ト電圧を0Vとすることにより、nチャネルMOSトラ
ンジスタ47を遮断状態にすることができ、そのゲート
・ソース間電圧は0V、ゲート・ドレイン間電圧は最大
でもVDDにすることができる。したがってオフ時の各
スイッチMOSトランジスタのゲート・ドレイン間電圧
とゲート・ソース間電圧をVDDもしくはVssと低い
値としながら3値パルスを発生することができる。 (3)水平CCD転送パルス発生回路 本実施の形態の水平CCD転送パルスは出力回路の電源
電圧を下げるためにその最低電圧を負とし、またリセッ
ト電圧を出力回路と別に昇圧して得ている。さらに、そ
の最低電圧は無効な電圧領域を生じないようにチャネル
電圧を低くするためのイオン打ち込みがなされた水平C
CDの第2層ポリシリコン電極下のピンニング電圧より
高い値とする。この結果、水平CCD転送パルス最低電
圧は垂直CCD転送パルスの最低電圧より高い負の値と
なる。一方、その電圧振幅は消費電力低減のため通例垂
直CCD転送パルスより小さい。そこで、本実施の形態
では水平CCDの転送パルスを外部からの正のトリガー
パルスをレベルシフトした後負電源回路の電圧振幅を制
限することにより発生させる。図1に第1の実施の形態
の水平CCD転送パルス発生回路を示す。図中、51は
結合容量、52はクランプダイオード、53は第1の反
転回路を構成するnチャネルMOSトランジスタ、54
は第1の反転回路を構成するpチャネルMOSトランジ
スタ、55は第2の反転回路を構成するnチャネルMO
Sトランジスタ、56は第2の反転回路を構成するpチ
ャネルMOSトランジスタで、51から56で構成され
る回路は図4と同様の回路である。また、57は、パル
スの負電圧を制限するためのpチャネルMOSトランジ
スタ、58、59はpチャネルMOSトランジスタ57
のゲートにバイアス電圧を与えるpチャネルMOSトラ
ンジスタ、60、61、62はバイアス電圧発生回路を
構成するnチャネルMOSトランジスタである。なお、
nチャネルMOSトランジスタ60、61、62のウェ
ル電極端子はそれぞれのソースに接続され各トランジス
タのしきい電圧は等しくなっている。図3におけるH1
およびH2端子に印加されたトリガパルスにより発生し
たパルスは、pチャネルMOSトランジスタ57により
負電圧が制限され、水平CCD転送パルスとなる。第2
の反転回路の出力が0Vの時ノードEはバイアス電圧発
生回路のバイアス電圧からpチャネルMOSトランジス
タ59のしきい電圧だけ高い値となっている。第2の反
転回路の出力がVssとなるとトランジスタ57のドレ
インもしくはソースとゲート間の容量結合により、ノー
ドEの電圧は低くなる。この後、ノードEの電圧がある
電圧以下になるとトランジスタ58が導通し、ノードE
はバイアス電圧発生回路のバイアス電圧よりpチャネル
MOSトランジスタ58のしきい電圧だけ低い値にクラ
ンプされる。この結果、第2の反転回路の出力はノード
EよりpチャネルMOSトランジスタ57のしきい電圧
だけ高い値、すなわち、バイアス電圧発生回路のバイア
ス電圧と等しい値に制限される。本実施の形態によれば
水平CCDの転送パルスを外部からの正のトリガーパル
スをレベルシフトした後負電源回路の電圧振幅を制限す
ることにより発生させる事ができる。
【0021】なお、パルスの高電圧を制限するにはトラ
ンジスタ57から59をnチャネルMOSトランジスタ
とし所望のバイアス電圧を与えれば良く、また、パルス
の電圧を制限するために電源電圧に電圧リミッタを掛け
ても良い。 (4)リセットパルス発生回路 本実施の形態ではアウトプットゲートの直流バイアス電
圧は水平CCD転送パルスの高電圧である0Vとする。
また、リセットトランジスタ5はアウトプットゲートを
構成する第2層ポリシリコン電極下と同様のディプレッ
ション型トランジスタからなる。この結果、浮遊拡散層
からの信号電荷の漏れを防ぐためにはリセットパルスの
低電圧は0V以下であれば良い。そこで、本実施の形態
では正電源と0Vを2電源とする回路によりリセットパ
ルスを発生させている。図6に第1の実施の形態のリセ
ットパルス発生回路を示す。図中、63は第1の反転回
路を構成するnチャネルMOSトランジスタ、64は第
1の反転回路を構成するpチャネルMOSトランジス
タ、65は第2の反転回路を構成するnチャネルMOS
トランジスタ、66は第2の反転回路を構成するpチャ
ネルMOSトランジスタで、63から66で構成される
回路は図4と同様の回路である。本実施の形態によれば
リセットパルスは外部からの正のトリガパルスを電圧増
幅することにより発生させる事ができる。 (5)リセット電圧発生回路 本実施の形態では出力回路の電源電圧を下げるためにリ
セット電圧を出力回路の電源電圧と別にし、リセット電
圧を出力回路の電源電圧から昇圧により発生させる。
【0022】図7に第1の実施の形態のリセット電圧発
生回路を示す。図中、63から66は図6と同様であ
り、71はチャ−ジポンプ用容量、72、73はダイオ
ード接続されたnチャネルMOSトランジスタである。
なお、nチャネルMOSトランジスタ72のウェルは電
源VDDに接続され基板効果によるしきい電圧の上昇を
防いでいる。トリガパルスによるチャージポンプによ
り、正電源電圧VDDからnチャネルMOSトランジス
タのしきい電圧だけ降下した直流電圧の約2倍がリセッ
ト電圧となる。本実施の形態によれば出力回路の電源電
圧よりリセット電圧を昇圧により発生させることによ
り、何ら外部から供給される電源数を増加させることな
く出力回路の電源電圧をリセット電圧より低い電圧にす
ることができる。
【0023】なお、高いリセット電圧を得るためにしき
い電圧の低いnチャネルMOSトランジスタが必要なと
きには図3(b)の構造で2重pウェルを設けない構造
のトランジスタを用いれば良い。 (6)負荷トランジスタバイアス電圧発生回路 図8に負荷トランジスタバイアス電圧発生回路を示す。
図中、81、82、83はバイアス電圧発生回路を構成
するnチャネルMOSトランジスタである。なお、nチ
ャネルMOSトランジスタ81、82、83のウェルは
それぞれのソースに接続され各トランジスタのしきい電
圧は等しくなっている。電源電圧はダイオード接続され
たトランジスタにより1/3に分圧され負荷のバイアス
電圧となる。なお、バイアス電圧は必要に応じ自由に設
定できることは言うまでもない。 (7)基板電圧発生回路 n型基板20には常時は過剰電圧排出用の直流電圧を印
加し、電子シャッター動作時には高い正電圧を印加する
必要がある。本実施の形態ではこの高い電圧を外部のト
リガ−パルスより電圧増幅したパルスを容量結合により
基板に印加し発生させている。図9に第1の実施の形態
の基板電圧発生回路を示す。図中、91は結合容量、9
2はクランプダイオード、93は第1の反転回路を構成
するnチャネルMOSトランジスタ、94は第1の反転
回路を構成するpチャネルMOSトランジスタ、95は
第2の反転回路を構成するnチャネルMOSトランジス
タ、96は第2の反転回路を構成するpチャネルMOS
トランジスタで、91から96で構成される回路は図4
と同様の回路である。また、97は第2の反転回路と基
板間の結合容量、99は基板容量、98は基板に印加さ
れる直流電圧VDDと基板間のスイッチである。なお、
スイッチ98はCCDを構成していると同様のnチャネ
ルディプレッションMOSトランジスタからなる。SU
B端子に印加される電圧が低いときにはノードFの電圧
はVDDとなり、スイッチ98が導通し基板電圧はVD
Dとなる。一方、ノードGはVssとなっている。SU
B端子に印加される電圧が高くなると、まず、ノードF
がVssとなりスイッチ98が閉じる。この後、ノード
GがVssからVDDとなり、基板電圧は(VDD−V
ss)の電圧を容量97と基板容量99で容量分割した
値だけ上昇する。本実施の形態では以上述べたように容
量結合により昇圧を行うことにより高速で基板に高い電
圧を印加できる。また、スイッチとしてCCDを構成し
ているnチャネルディプレッションMOSトランジスタ
を用いることにより電圧降下なくVDDを基板に印加
し、かつ、昇圧が可能となっている。
【0024】なお、シャッターパルスの振幅を大きくす
るために結合容量を大きくしたいときには結合容量を素
子外部に設けても良い。また、シャッターパルスの振幅
を大きくする必要のないときは低電圧側電源Vssを0
Vとしても良い。さらに、スイッチ98が遮断状態とな
ったときゲートドレイン間にかかる高電圧が問題となる
ときには図中H部に図1で述べたと同様の電圧リミッタ
を設ければ良い。これによりスイッチ98のゲートにか
かる低電圧はソース電圧がVDDのときスイッチが遮断
状態となる最低電圧とすることができ、ゲートドレイン
間電圧の低減が可能となる。
【0025】以上の本実施の形態によれば、単一レベル
の外部パルスと正、負の2電源により駆動でき、使い勝
手が良く、カメラの低消費電力化を可能とする2次元C
CD型固体撮像素子を提供できる。また、外部パルスか
ら負値の水平CCD駆動パルスを発生させる回路、出力
回路の電源電圧からリセット電圧を発生する昇圧回路を
内蔵することにより出力回路の電源電圧を低くでき、低
消費電力かつ低雑音の出力回路を実現できる。第2の実
施の形態 第1の実施の形態の垂直CCD3値パルス発生回路では
読み出しパルスの電圧がVDDであり電圧値が不足する
場合がある。本実施の形態は正電源電圧VDDを垂直C
CDの駆動電極に印加後さらに容量結合により昇圧を行
うことにより正電源電圧以上の読み出し電圧を実現した
ものである。図10に第2の実施の形態の垂直CCD3
値パルス発生回路を示す。図中、41から47、48、
37から40は図5と同様である。104は第3の反転
回路を構成するnチャネルMOSトランジスタ、105
は第3の反転回路を構成するpチャネルMOSトランジ
スタ、106は第4の反転回路を構成するnチャネルM
OSトランジスタ、107は第4の反転回路を構成する
pチャネルMOSトランジスタ、103は昇圧の為のダ
イオード接続されたnチャネルMOSトランジスタ、1
02は昇圧パルスを伝達するためのゲート接地されたp
チャネルMOSトランジスタ、101は第4の反転回路
と垂直CCD電極との結合容量である。
【0026】垂直CCDの読み出しパルスのトリガ入力
端子V1R、V3Rに低い電圧が掛っているときはノー
ドBの電圧はVDD、ノードC、Iの電圧は0Vとなっ
ている。この結果、nチャネルMOSトランジスタ47
が導通し垂直CCDの転送パルスが垂直CCD電極に接
続されたノードDに印加される。一方、ゲート接地され
たpチャネルMOSトランジスタ48のソースドレイン
には0Vもしくは負電源電圧Vssが印加されているの
で導通することはない。さらに、pチャネルMOSトラ
ンジスタ102のドレインも0Vであり導通することは
なく、そのソースはフローティングとなり、昇圧用の結
合容量101は転送パルスの負荷となることはない。つ
いで、転送パルスが0Vとなった状態でトリガ−入力端
子V1R、V3Rに高い電圧が印加されると、ノードB
が0VとなりnチャネルMOSトランジスタ47が非導
通となる。一方、ノードCがVDDとなりpチャネルM
OSトランジスタ48が導通し垂直CCD電極に接続さ
れたノードDはVDDからトランジスタ103のしきい
電圧分だけ降下した電圧が印加される。この後、ノード
Iが0VからVDDとなり、pチャネルMOSトランジ
スタ102が導通し、この電圧変化により結合容量10
1を介しノードDの電圧がさらに上昇する。以上述べた
ように、本実施の形態によれば正電源電圧VDDを垂直
CCDの駆動電極に印加後さらに容量結合により昇圧を
行うことにより正電源電圧以上の読み出し電圧を実現で
きる。なお、読み出しパルスの振幅を大きくするために
結合容量を大きくしたいときには結合容量を素子外部に
設けても良い。 第3の実施の形態 通例、初段のドライバトランジスタが飽和動作し出力回
路が線形範囲で動作するためには、出力回路電源電圧は
リセット電圧より初段のドライバトランジスタのしきい
電圧を引いた値より高い必要がある。従って、出力回路
電源電圧を下げるには初段ドライバトランジスタ6のし
きい電圧を大きな値とすれば良い。しかし、図15で述
べたような二段目のドライバ9が初段ドライバ6と同一
の構造を持つ従来例の場合にはトランジスタのしきい電
圧が高すぎると次段ドライバトランジスタが十分に導通
せず次段の動作が困難となる。そこで、本実施の形態で
は次段以降のドライバトランジスタの基板不純物濃度を
初段のドライバトランジスタの基板不純物濃度より低く
し、次段以降のドライバトランジスタのしきい電圧を低
くし、線形動作範囲で次段が動作するようにした。図1
1に第3の実施の形態の出力回路構成図を示す。図中、
111、112は初段ソースフォロワーを構成するドラ
イバトランジスタ、負荷トランジスタ、113、114
は次段ソースフォロワーを構成するドライバトランジス
タ、負荷トランジスタ、115、116は終段ソースフ
ォロワーを構成するドライバトランジスタ、負荷トラン
ジスタ、117は図8で述べた負荷トランジスタのバイ
アス電圧発生回路、119は図3(b)で述べた光電変
換部と同様のn型基板20上に形成されたpウェル21
と2重pウェル22の形成領域、118はpウェル21
と同じ深さを持ちやや濃度の高い第3のpウェルの形成
領域である。2重pウェル層はスミア抑圧のため高濃度
に設定されている。初段ソースフォロワーの出力電圧は
初段ドライバトランジスタ111の大きなしきい電圧に
よる電圧降下により低い電圧となる。一方、次段及び終
段のドライバトランジスタ113、115のしきい電圧
は0Vに近い小さな値で、しきい電圧による電圧降下は
少なく各段の入力電圧と出力電圧はほぼ等しく、次段及
び終段の動作が困難となることはない。本実施の形態に
よれば次段以降のドライバトランジスタ113、115
の基板不純物濃度を初段のドライバトランジスタ111
の基板不純物濃度より低くすることにより、次段以降の
動作範囲を困難にすることなく初段における高いしきい
電圧による大きな電圧降下を実現し、電源電圧を低め、
低消費電力、かつ、低雑音の出力回路を実現できる。な
お、本実施の形態では出力回路の周波数特性改善を目的
としてソースフォロワーが3段構成の場合を述べたが、
段数は2段以上であれば本発明の効果は同様にえられ
る。また、電子シャッター時の誤動作を防ぐため第3の
pウェル118をpウェル21と同じ深さでやや高濃度
としたが、誤動作が問題とならないときは、第3のpウ
ェル118をpウェル21と同一構造にすれば良い。さ
らに、負荷トランジスタ112、114、116は11
9と同一構造のウェル内に形成しても良い。また、ドラ
イバトランジスタ113、115を分離されたウェル内
に形成し、そのウェルを各ソースフォロワーの出力に接
続し基板効果をなくすことにより、各トランジスタのし
きい電圧をさらに0Vに近づけることができる。 第4の実施の形態 第1の実施の形態では基板にかかる過剰電圧排出用の直
流電圧は正電源VDDとした。しかし、従来技術の項で
説明したようにこの直流電圧は素子ごとにばらつき調整
が必要である。そこで、本実施の形態においては、VD
Dより昇圧した電圧から基板にかかる直流電圧を降圧に
より発生させ、この降圧器に電圧を調整する手段を付加
したものである。本発明の第4の実施の形態を図12か
ら図13により説明する。図12は第4の実施例の全体
構成図、図13は第4の実施の形態の基板電圧発生回路
である。図12において1から10、12から17は図
2と同様である。121は図13に示す基板電圧発生回
路である。また、V1、V2、V3、V4、V1R、V
3R、H1、H2、RG、SUB、WELL、VDD、
Vss、OUTも図2と同様である。タイミング発生器
のトリガ−パルスと正、負の2電源から所定の電圧を持
つパルスと直流電圧が素子内部で発生し図17で述べた
と同様の動作が行われる。図13で、91から99は図
9と同様、139は図7と同様の直流昇圧回路、131
から134はバイアス電圧を発生するためのnチャネル
MOSトランジスタ、135はバイアス電圧を調整する
ためのフューズ、137は昇圧した電圧をバイアス電圧
に応じ降下させ直流の基板電圧を発生させるCCDを構
成していると同様のnチャネルディプレッションMOS
トランジスタ、138はトランジスタ137にわずかな
バイアス電流を流すための負荷トランジスタ、136は
負荷トランジスタ138にバイアス電圧を供給する図8
と同様の回路である。昇圧回路139の出力電圧は13
1から134により発生したバイアス電圧よりnチャネ
ルディプレッションMOSトランジスタ137のしきい
電圧の絶対値だけ高い電圧に降下され基板直流電圧とな
る。負荷138より供給されるバイアス電流は基板に高
い電圧が発生した際の誤動作を防いでいる。さらに、電
圧降下をnチャネルディプレッションMOSトランジス
タで行うことにより電源電圧VDD以下のバイアス電圧
を与えてもVDD以上の基板電圧を発生することが可能
となっている。また、スイッチ98はVDD以上の電圧
を伝達するためそのウェルを基板電圧発生回路の出力に
接続し基板効果によるしきい電圧上昇を防いでいる。本
回路の他の動作は図9と同様である。基板電圧の調整は
必要に応じフュ−ズ135を切断することにより可能と
なっている。フューズを切断することにより、ノードJ
の電圧が上昇し基板電圧は高くなる。本実施の形態によ
ればVDDより昇圧した電圧から基板にかかる直流電圧
を降圧により発生させ、この降圧器に電圧を調整する手
段を付加することにより、素子内部で基板電圧調整がで
き、CCD型撮像素子の使い勝手が良くなる。 第5の実施の形態 第1の実施の形態では各端子に外部からトリガパルスを
印加しなければならず、カメラシステムを構築するには
タイミング発生器と2次元CCD型素子の配線を行わな
ければならない。本実施の形態はこのような煩雑さを回
避するためタイミング発生器も内蔵した例である。図1
4に第5の実施の形態の構成図を示す。図中、1から1
7は図2と同様で、141はタイミング発生器142の
電源を外部の正電源VDDから発生させる降圧回路であ
る。外部の基本クロックから各パルスのタイミングパル
スがタイミング発生器142により発生し、図2と同様
にこのパルスと正、負の電源から所定の電圧レベルのパ
ルスと直流電圧が発生し、図2と同様の動作が行われ
る。本実施例によれば、単一の外部パルスと正、負の2
電源とアースにより駆動でき、使い勝手の良い2次元C
CD型固体撮像素子を提供できる。
【0027】以上の実施の形態では、インターラインC
CD型撮像素子の例を述べたが、本発明は、CCD型撮
像素子の具体的構成に依らず、フレームインターライン
型、フレームトランスファー型、チャージスィープ型等
のCCD型撮像素子でも同様に実施できる。また、本発
明は、垂直CCD並びに水平CCDの具体的構成に依ら
ず例えば、水平CCDが2本並列に設けられたCCD型
撮像素子でも同様の効果がある。以上の結果、第1の実
施の形態については表2で示す駆動条件で駆動がなさ
れ、図17に示す構成によりカメラシステムの中で用い
られる。また第5の実施の形態については表3で示す駆
動条件で駆動がなされ、図18に示す構成によりカメラ
システムの中で用いられる。何れも従来の表1に示され
たものより電源電圧の種類が非常に少なくなっているこ
とがわかる。
【0028】
【表2】
【0029】
【表3】
【発明の効果】本発明によれば、CCD型固体撮像素子
の出力回路の電源電圧を下げることが出来るので、出力
回路の消費電力低減を図ることが出来た。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明における水平CCD転送パルス発生回路
を示す回路図。
【図2】本発明の第1の実施の形態の全体構成を示すブ
ロック図。
【図3】図2のA−A’、B−B’に対応する部分並び
にpチャネルMOSトランジスタの断面構造を示す断面
図。
【図4】垂直CCD転送パルス発生回路を示す回路図。
【図5】垂直CCD3値パルス発生基本回路の回路図。
【図6】リセットパルス発生回路を示す回路図。
【図7】リセット電圧発生回路を示す回路図。
【図8】出力回路負荷トランジスタのバイアス電圧発生
回路を示す回路図。
【図9】基板電圧発生回路を示す回路図。
【図10】垂直CCD3値パルス発生回路の回路図。
【図11】本発明の第3の実施の形態の出力回路構成を
示す回路図。
【図12】本発明の第4の実施の形態の全体構成を示す
回路図。
【図13】図12の基板電圧発生回路を示すブロック
図。
【図14】本発明の第5の実施の形態の全体構成を示す
ブロック図。
【図15】従来のCCD型固体撮像素子の全体構成を示
すブロック図。
【図16】従来のCCDカメラブロック図。
【図17】第1の実施の形態のCCD型固体撮像素子の
CCDカメラブロック図。
【図18】第5の実施の形態のCCD型固体撮像素子の
CCDカメラブロック図。
【符号の説明】
1…ホトダイオード、 2…垂直CCD、 3
…水平CCD、4…アウトプットゲート、 5…リセッ
トゲート、6、111…初段ソースフォロワードライバ
トランジスタ、8、112…初段ソースフォロワー負荷
トランジスタ、9、113…次段ソースフォロワードラ
イバトランジスタ、10、114…次段ソースフォロワ
ー負荷トランジスタ、11、121…基板電圧発生回
路、 12…垂直CCD転送パルス発生回路、13…
垂直CCD3値パルス発生回路、14…水平転送パルス
発生回路、15…リセットパルス発生回路、 16
…リセット電圧発生回路、17…負荷ゲートバイアス発
生回路、 20…n型基板、21…p型ウェル、
22…p型2重ウェル、 23…垂直CCDn層、2
4…ポリシリコン電極、 25…nウェル、 26…
ホトダイオードn層、27…表面p+層、 28
…遮光用第2層アルミ、29…配線用第1層アルミ、3
0…n型拡散層、31、41、51、71、91、9
7、101…結合容量、32、42、52、92…クラ
ンプダイオード、33、43、37、53、63、93
…第1反転回路nチャネルトランジスタ、34、44、
38、54、64、94…第1反転回路pチャネルトラ
ンジスタ、35、45、39、55、65、95…第2
反転回路nチャネルトランジスタ、36、46、40、
56、66、96…第2反転回路pチャネルトランジス
タ、47…nチャネルトランジスタスイッチ、48、1
02…pチャネルトランジスタスイッチ、57…pチャ
ネルトランジスタ電圧リミッタ、58、59…電圧リミ
ット用pチャネルトランジスタ、60、61、62、8
1、82、83、131、132、133、134…バ
イアス電圧発生回路nチャネルトランジスタ、72、7
3、103…昇圧回路nチャネルトランジスタ、98…
nチャネルディプレッショントランジスタスイッチ、9
9…基板容量、104…第3反転回路nチャネルトラン
ジスタ、105…第3反転回路pチャネルトランジス
タ、106…第4反転回路nチャネルトランジスタ、1
07…第4反転回路pチャネルトランジスタ、115…
終段ソースフォロワードライバトランジスタ、116…
終段ソースフォロワー負荷トランジスタ、117、13
6…バイアス電圧発生回路、 118…第3pウェ
ル、119…pウェル21とp型2重ウェル22の形成
領域、135…フューズ、137…nチャネルディプレ
ッショントランジスタ電圧リミッタ、138…負荷nチ
ャネルトランジスタ、 139…昇圧回路、14
1…降圧回路、 142…タイミング発生回
路、V1、V2、V3、V4…垂直CCD転送トリガ−
パルス入力端子、V1R、V3R…垂直CCD読み出し
トリガ−パルス入力端子、H1、H2…水平CCD転送
トリガ−パルス入力端子、RG…リセットトリガ−パル
ス入力端子、SUB…電子シャッタートリガ−パルス入
力端子、 VDD…正電源入力端子、Vss…負電源入
力端子、 OUT…信号出力端子、WELL…ウ
ェル電圧入力端子、161、171、181…CCD型
撮像素子、162…タイミング発生器、163…ドライ
バ、164…相関二重サンプリング回路、165…自動
利得制御回路、166…A/D変換器、167…ディジ
タル信号処理回路、168…D/A変換器、169…D
C−DC変換器、170…カメラのバッテリー。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 小野 秀行 東京都国分寺市東恋ケ窪一丁目280番地 株式会社日立製作所 中央研究所内 (72)発明者 佐藤 朗 東京都国分寺市東恋ケ窪一丁目280番地 株式会社日立製作所 中央研究所内 (56)参考文献 特開 昭60−235590(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H04N 5/30 - 5/335

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】光を電気信号に変換する光電変換素子群
    と、該光電変換素子群で発生した光信号電荷を順次転送
    する垂直CCDおよび水平CCDと、該水平CCDから
    の光信号電荷を一時保持する浮遊拡散層と、該浮遊拡散
    層に入力が接続された出力回路とを有するCCD型固体
    撮像素子において、 トリガパルスを入力とし最低電圧が負であるパルスを発
    生させ、かつ該パルスを上記水平CCDの電極に出力す
    る水平CCD転送パルス発生回路を有することを特徴と
    するCCD型固体撮像素子。
  2. 【請求項2】上記出力回路は多段のソースフォロワー回
    路からなり、該ソースフォロワー回路の次段以降のソー
    スフォロワー回路のドライバトランジスタの基板不純物
    濃度は初段のソースフォロワー回路のドライバトランジ
    スタの基板不純物濃度より低いことを特徴とする請求項
    1に記載のCCD型固体撮像素子。
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