JP3211534B2 - 画像処理による物品の検査装置および方法 - Google Patents
画像処理による物品の検査装置および方法Info
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Description
【０００１】
【技術分野】この発明は，ベルト・コンベア等によって
搬送される物品の撮影画像を処理し，物品が不良かどう
かを検査するための装置および方法に関する。
搬送される物品の撮影画像を処理し，物品が不良かどう
かを検査するための装置および方法に関する。
【０００２】
【従来技術】従来の画像処理による物品（ワーク）の検
査装置の構成が図４に示されている。ベルト・コンベア
上を搬送されるワークの映像信号（アナログ信号）が，
カメラからＡ／Ｄ変換回路101 に与えられる。この映像
信号は，Ａ／Ｄ変換回路101によってディジタル・デー
タ（画像データ）に変換され，マルチプレクサ102 およ
びフレーム・メモリ103 に与えられる。フレーム・メモ
リ103 には，ベルト・コンベア上のワークを検出するセ
ンサからの信号も与えられる。ワークの検出信号がセン
サからフレーム・メモリ103 に与えられると，フレーム
・メモリ103 がワークの画像データを記憶する。
査装置の構成が図４に示されている。ベルト・コンベア
上を搬送されるワークの映像信号（アナログ信号）が，
カメラからＡ／Ｄ変換回路101 に与えられる。この映像
信号は，Ａ／Ｄ変換回路101によってディジタル・デー
タ（画像データ）に変換され，マルチプレクサ102 およ
びフレーム・メモリ103 に与えられる。フレーム・メモ
リ103 には，ベルト・コンベア上のワークを検出するセ
ンサからの信号も与えられる。ワークの検出信号がセン
サからフレーム・メモリ103 に与えられると，フレーム
・メモリ103 がワークの画像データを記憶する。
【０００３】フレーム・メモリ103 に記憶された画像デ
ータは，マルチプレクサ102 に与えられる。マルチプレ
クサ102 は，レジスタ107 の出力データの値にしたがっ
てＡ／Ｄ変換回路101 またはフレーム・メモリ103 のい
ずれかの画像データを表示装置に与える。表示装置は，
この画像データで表される画像を表示する。Ａ／Ｄ変換
回路101 からの画像データは，動画像として表示され
る。フレーム・メモリ103 の画像データは，静止画像と
して表示される。
ータは，マルチプレクサ102 に与えられる。マルチプレ
クサ102 は，レジスタ107 の出力データの値にしたがっ
てＡ／Ｄ変換回路101 またはフレーム・メモリ103 のい
ずれかの画像データを表示装置に与える。表示装置は，
この画像データで表される画像を表示する。Ａ／Ｄ変換
回路101 からの画像データは，動画像として表示され
る。フレーム・メモリ103 の画像データは，静止画像と
して表示される。
【０００４】特徴量算出回路104 およびＣＰＵ105 は，
フレーム・メモリ103 に記憶された画像データに基づい
て，撮影されたワークが不良かどうか（例えばバリの有
無）を判定する。不良と判定されると，ＣＰＵ105 は異
常ランプ110 を点灯させる等して，オペレータに不良ワ
ークが検出されたことを通知する。
フレーム・メモリ103 に記憶された画像データに基づい
て，撮影されたワークが不良かどうか（例えばバリの有
無）を判定する。不良と判定されると，ＣＰＵ105 は異
常ランプ110 を点灯させる等して，オペレータに不良ワ
ークが検出されたことを通知する。
【０００５】しかし，この従来の検査装置では，不良ワ
ークが検出されても，ベルト・コンベア上を搬送されて
くる次のワークがセンサによって検出されると，この次
のワークの画像データがフレーム・メモリ103 に記憶さ
れる。これにより，不良ワークの画像データは消去され
てしまう。したがって，オペレータが異常ランプ110等
による通知を受けて，不良ワークの状態や不良箇所等を
確認しようとしても，できないといった問題があった。
また，オペレータが不良ワークの確認を行うためには，
ベルト・コンベアそのものを停止しなければならないと
いう問題もあった。
ークが検出されても，ベルト・コンベア上を搬送されて
くる次のワークがセンサによって検出されると，この次
のワークの画像データがフレーム・メモリ103 に記憶さ
れる。これにより，不良ワークの画像データは消去され
てしまう。したがって，オペレータが異常ランプ110等
による通知を受けて，不良ワークの状態や不良箇所等を
確認しようとしても，できないといった問題があった。
また，オペレータが不良ワークの確認を行うためには，
ベルト・コンベアそのものを停止しなければならないと
いう問題もあった。
【０００６】
【発明の開示】この発明の目的は，物品を検査し，物品
が不良と判定されたときには，その物品の画像を継続し
て表示することにより，オペレータが不良物品の状態や
不良箇所等を確認できるようにすることにある。
が不良と判定されたときには，その物品の画像を継続し
て表示することにより，オペレータが不良物品の状態や
不良箇所等を確認できるようにすることにある。
【０００７】この発明による画像処理による物品の検査
装置は，検査されるべき物品を撮像し，その物品を表す
画像データを出力する撮像装置，上記撮像装置から出力
される画像データを検査のために記憶する第１の画像デ
ータ記憶手段，上記画像データを表示のために記憶する
第２の画像データ記憶手段，上記第１の画像データ記憶
手段に記憶された画像データに基づいて物品の良否を判
定し，不良と判定したときに不良表示指令を発生する検
査手段，および上記第２の画像データ記憶手段に記憶さ
れた画像データによって表される不良物品の画像の表示
装置への表示を，上記不良表示指令があったときには，
表示解除指令があるまで継続するように制御する表示制
御手段を備えている。
装置は，検査されるべき物品を撮像し，その物品を表す
画像データを出力する撮像装置，上記撮像装置から出力
される画像データを検査のために記憶する第１の画像デ
ータ記憶手段，上記画像データを表示のために記憶する
第２の画像データ記憶手段，上記第１の画像データ記憶
手段に記憶された画像データに基づいて物品の良否を判
定し，不良と判定したときに不良表示指令を発生する検
査手段，および上記第２の画像データ記憶手段に記憶さ
れた画像データによって表される不良物品の画像の表示
装置への表示を，上記不良表示指令があったときには，
表示解除指令があるまで継続するように制御する表示制
御手段を備えている。
【０００８】この発明による画像処理よる物品の検査方
法は，検査されるべき物品を撮像して，その物品を表す
画像データを出力し，上記出力した画像データを検査の
ために第１のメモリに記憶し，上記出力した画像データ
を表示のために第２のメモリに記憶し，上記第１のメモ
リに記憶した画像データに基づいて物品の良否を判定
し，不良と判定したときに不良表示指令を発生し，上記
第２のメモリに記憶した画像データによって表される不
良物品の画像の表示装置への表示を，上記不良表示指令
があったときには，表示解除指令があるまで継続するよ
うに制御するものである。
法は，検査されるべき物品を撮像して，その物品を表す
画像データを出力し，上記出力した画像データを検査の
ために第１のメモリに記憶し，上記出力した画像データ
を表示のために第２のメモリに記憶し，上記第１のメモ
リに記憶した画像データに基づいて物品の良否を判定
し，不良と判定したときに不良表示指令を発生し，上記
第２のメモリに記憶した画像データによって表される不
良物品の画像の表示装置への表示を，上記不良表示指令
があったときには，表示解除指令があるまで継続するよ
うに制御するものである。
【０００９】不良物品の表示の方法には，いくつかの方
法がある。一つは，すべての物品を撮像ごとに表示する
ものである。不良表示指令がなければ，次の物品の画像
データが得られると，表示画像が次の物品の画像に切り
換えられる。不良表示指令があれば，指令された画像が
表示され続ける。もう一つは，すべての物品を撮像ごと
に表示するのではなく，不良表示指令があったときにの
みその不良物品の画像を表示するものである。
法がある。一つは，すべての物品を撮像ごとに表示する
ものである。不良表示指令がなければ，次の物品の画像
データが得られると，表示画像が次の物品の画像に切り
換えられる。不良表示指令があれば，指令された画像が
表示され続ける。もう一つは，すべての物品を撮像ごと
に表示するのではなく，不良表示指令があったときにの
みその不良物品の画像を表示するものである。
【００１０】第１および第２の画像データ記憶手段（第
１および第２のメモリ）への画像データの記憶の方法と
して，次のようなものがある。一つは，第１および第２
の画像データ記憶手段に，一旦画像データを記憶するも
のである。物品の撮像ごとに，第１および第２の画像デ
ータ記憶手段の内容が，撮像された物品の画像データに
書き換えられる。不良表示指令があると，次の物品の画
像データが与えられても，第２の画像データ記憶手段
（第２のメモリ）にはこの画像データは記憶されず，前
の物品の画像データが保持され続ける。もう一つは，物
品の撮像ごとに，第１の画像データ記憶手段（第１のメ
モリ）に画像データを記憶し，不良表示指令があると，
第１の画像データ記憶手段から第２の画像データ記憶手
段に画像データを転送するものである。
１および第２のメモリ）への画像データの記憶の方法と
して，次のようなものがある。一つは，第１および第２
の画像データ記憶手段に，一旦画像データを記憶するも
のである。物品の撮像ごとに，第１および第２の画像デ
ータ記憶手段の内容が，撮像された物品の画像データに
書き換えられる。不良表示指令があると，次の物品の画
像データが与えられても，第２の画像データ記憶手段
（第２のメモリ）にはこの画像データは記憶されず，前
の物品の画像データが保持され続ける。もう一つは，物
品の撮像ごとに，第１の画像データ記憶手段（第１のメ
モリ）に画像データを記憶し，不良表示指令があると，
第１の画像データ記憶手段から第２の画像データ記憶手
段に画像データを転送するものである。
【００１１】表示解除指令の方法として，次のようなも
のがあろう。一つは，オペレータによって入力される解
除指令により，表示解除を行うものである。もう一つ
は，タイマ等があらかじめ定められた一定時間を計時
し，一定時間経過後に表示を解除するもの，または一定
時間経過後に第２の画像データ記憶手段（第２のメモ
リ）の画像データを強制的に消去するものである。
のがあろう。一つは，オペレータによって入力される解
除指令により，表示解除を行うものである。もう一つ
は，タイマ等があらかじめ定められた一定時間を計時
し，一定時間経過後に表示を解除するもの，または一定
時間経過後に第２の画像データ記憶手段（第２のメモ
リ）の画像データを強制的に消去するものである。
【００１２】これらの不良物品の表示方法，画像データ
の記憶方法および表示解除指令方法のそれぞれについ
て，任意に選んだ各方法を組み合わせることができる。
の記憶方法および表示解除指令方法のそれぞれについ
て，任意に選んだ各方法を組み合わせることができる。
【００１３】この発明によれば，検査されるべき物品
（例えばベルト・コンベア上を次々と搬送されてくる物
品）が，撮像装置によって撮像される。撮像された物品
の画像データは，物品の検査のために第１の画像データ
記憶手段（第１のメモリ）に記憶される。また，この画
像データは，物品の画像を表示するために第２の画像デ
ータ記憶手段（第２のメモリ）にも記憶される。
（例えばベルト・コンベア上を次々と搬送されてくる物
品）が，撮像装置によって撮像される。撮像された物品
の画像データは，物品の検査のために第１の画像データ
記憶手段（第１のメモリ）に記憶される。また，この画
像データは，物品の画像を表示するために第２の画像デ
ータ記憶手段（第２のメモリ）にも記憶される。
【００１４】検査手段は，第１の画像データ記憶手段に
記憶された画像データに基づいて物品の良否を判定す
る。不良と判定した場合には，検査手段はこの不良物品
の画像を表示するための不良表示指令を発生する。そし
て，この指令により，第２の画像データ記憶手段に記憶
された画像データによって表される不良物品の画像が，
表示解除指令があるまで継続して，表示装置に表示され
る。
記憶された画像データに基づいて物品の良否を判定す
る。不良と判定した場合には，検査手段はこの不良物品
の画像を表示するための不良表示指令を発生する。そし
て，この指令により，第２の画像データ記憶手段に記憶
された画像データによって表される不良物品の画像が，
表示解除指令があるまで継続して，表示装置に表示され
る。
【００１５】この発明によれば，不良物品が検出される
と，この不良物品の画像が，表示解除指令があるまで継
続して表示装置に表示される。したがって，オペレータ
は，不良物品の状態や不良箇所等を確認することができ
る。また，この表示を行っているときにも，次の新たな
物品の画像データは第１の画像データ記憶手段（第１の
メモリ）に記憶されるので，次の物品の検査を中断する
ことなく続けて行うことができる。したがって，不良物
品の確認を行うために，物品を搬送するベルト・コンベ
ア等を停止しなければならないという問題もない。
と，この不良物品の画像が，表示解除指令があるまで継
続して表示装置に表示される。したがって，オペレータ
は，不良物品の状態や不良箇所等を確認することができ
る。また，この表示を行っているときにも，次の新たな
物品の画像データは第１の画像データ記憶手段（第１の
メモリ）に記憶されるので，次の物品の検査を中断する
ことなく続けて行うことができる。したがって，不良物
品の確認を行うために，物品を搬送するベルト・コンベ
ア等を停止しなければならないという問題もない。
【００１６】
【実施例の説明】図１は，ワーク（物品）の良否（バリ
の有無等）を検査するシステム（以下，ワーク検査シス
テムという）の構成を示す斜視図である。このワーク検
査システムは，検査装置１，カメラ２（ＣＣＤカメラ
等），センサ３（光電センサ等）およびベルト・コンベ
ア４から構成されている。
の有無等）を検査するシステム（以下，ワーク検査シス
テムという）の構成を示す斜視図である。このワーク検
査システムは，検査装置１，カメラ２（ＣＣＤカメラ
等），センサ３（光電センサ等）およびベルト・コンベ
ア４から構成されている。
【００１７】ワークＷは，ベルト・コンベア４上を次々
と搬送されてくる。センサ３は，ワークＷを検出するも
のである。センサ３は，ワークＷを検出すると，検出信
号を検査装置１に与える。カメラ２は，ベルト・コンベ
ア４上を搬送されるワークＷを撮影するものである。カ
メラ２は，センサ３がワークＷを検出したときにこのワ
ークＷを撮影できる位置に設置されている。カメラ２が
撮影した映像信号（動画信号）は検査装置１に与えられ
る。検査装置１は，カメラ２およびセンサ３からの信号
に基づいて後に詳述する処理を行う。
と搬送されてくる。センサ３は，ワークＷを検出するも
のである。センサ３は，ワークＷを検出すると，検出信
号を検査装置１に与える。カメラ２は，ベルト・コンベ
ア４上を搬送されるワークＷを撮影するものである。カ
メラ２は，センサ３がワークＷを検出したときにこのワ
ークＷを撮影できる位置に設置されている。カメラ２が
撮影した映像信号（動画信号）は検査装置１に与えられ
る。検査装置１は，カメラ２およびセンサ３からの信号
に基づいて後に詳述する処理を行う。
【００１８】図２は，検査装置１の構成を示すブロック
図である。この検査装置１は，Ａ／Ｄ変換回路11，マル
チプレクサ12，表示制御回路13，表示装置14（ＣＲＴ表
示装置，液晶表示装置等），処理用フレーム・メモリ15
（ＲＡＭ等），不良ワーク用フレーム・メモリ16（ＲＡ
Ｍ等），特徴量算出回路17，ＣＰＵ18，ＲＯＭ19，ＲＡ
Ｍ20，入力装置21（キーボード，ポインティング・デバ
イス等），ＡＮＤゲート22および23，ならびにレジスタ
24から構成されている。
図である。この検査装置１は，Ａ／Ｄ変換回路11，マル
チプレクサ12，表示制御回路13，表示装置14（ＣＲＴ表
示装置，液晶表示装置等），処理用フレーム・メモリ15
（ＲＡＭ等），不良ワーク用フレーム・メモリ16（ＲＡ
Ｍ等），特徴量算出回路17，ＣＰＵ18，ＲＯＭ19，ＲＡ
Ｍ20，入力装置21（キーボード，ポインティング・デバ
イス等），ＡＮＤゲート22および23，ならびにレジスタ
24から構成されている。
【００１９】図３は，センサ３からの信号，レジスタ24
の第１〜第３ビットの出力信号，ゲート22および23の出
力信号，処理用フレーム・メモリ15および不良ワーク用
フレーム・メモリ16の処理（データ読込み），ならびに
特徴量算出回路17およびＣＰＵ18の処理（ワークの特徴
量の算出，ワークが不良かどうかの判定）を示すタイム
・チャートである。
の第１〜第３ビットの出力信号，ゲート22および23の出
力信号，処理用フレーム・メモリ15および不良ワーク用
フレーム・メモリ16の処理（データ読込み），ならびに
特徴量算出回路17およびＣＰＵ18の処理（ワークの特徴
量の算出，ワークが不良かどうかの判定）を示すタイム
・チャートである。
【００２０】レジスタ24は，少なくとも第１〜第３ビッ
トの３ビットの記憶容量をもつ。第１ビットの出力信号
は，ゲート22およびマルチプレクサ12に与えられてい
る。第２ビットの出力信号は，ゲート23およびマルチプ
レクサ12に与えられている。第３ビットの出力信号は，
マルチプレクサ12に与えられている。ワーク検査システ
ムにおいてワークの検査が開始される際に，第１および
第２ビットの値は，ＣＰＵ18によって１（ハイ・レベル
（Ｈレベル））に初期化される。第３ビットの値は，Ｃ
ＰＵ18によって０（ロー・レベル（Ｌレベル））に初期
化される。初期化のプログラムは，ＲＯＭ19にあらかじ
め記憶されている。
トの３ビットの記憶容量をもつ。第１ビットの出力信号
は，ゲート22およびマルチプレクサ12に与えられてい
る。第２ビットの出力信号は，ゲート23およびマルチプ
レクサ12に与えられている。第３ビットの出力信号は，
マルチプレクサ12に与えられている。ワーク検査システ
ムにおいてワークの検査が開始される際に，第１および
第２ビットの値は，ＣＰＵ18によって１（ハイ・レベル
（Ｈレベル））に初期化される。第３ビットの値は，Ｃ
ＰＵ18によって０（ロー・レベル（Ｌレベル））に初期
化される。初期化のプログラムは，ＲＯＭ19にあらかじ
め記憶されている。
【００２１】マルチプレクサ12には，Ａ／Ｄ変換回路1
1，処理用フレーム・メモリ15および不良ワーク用フレ
ーム・メモリ16からの画像データが入力される。レジス
タ24の第１ビットの出力信号がＬレベルで，第２および
第３ビットの出力信号がＨレベルの場合には，処理用フ
レーム・メモリ15からの画像データが表示制御回路13へ
出力される。第２ビットの出力信号がＬレベルで，第１
および第３ビットの出力信号がＨレベルの場合には，不
良ワーク用フレーム・メモリ16からの画像データが表示
制御回路13へ出力される。第３ビットの出力信号がＬレ
ベルで，第１および第２ビットの出力信号がＨレベルの
場合には，Ａ／Ｄ変換回路11からの画像データが表示制
御回路13へ出力される。第１〜第３ビットの出力信号の
すべてがＨレベルの場合には，処理用フレーム・メモリ
15からの画像データが表示制御回路13に与えられる。第
１〜第３ビットのうちの二つ以上の出力信号がＬレベル
になることは組合せ禁止であり，時間的に先にＬレベル
になったものにしたがって出力される画像データの選択
が行われるであろう。
1，処理用フレーム・メモリ15および不良ワーク用フレ
ーム・メモリ16からの画像データが入力される。レジス
タ24の第１ビットの出力信号がＬレベルで，第２および
第３ビットの出力信号がＨレベルの場合には，処理用フ
レーム・メモリ15からの画像データが表示制御回路13へ
出力される。第２ビットの出力信号がＬレベルで，第１
および第３ビットの出力信号がＨレベルの場合には，不
良ワーク用フレーム・メモリ16からの画像データが表示
制御回路13へ出力される。第３ビットの出力信号がＬレ
ベルで，第１および第２ビットの出力信号がＨレベルの
場合には，Ａ／Ｄ変換回路11からの画像データが表示制
御回路13へ出力される。第１〜第３ビットの出力信号の
すべてがＨレベルの場合には，処理用フレーム・メモリ
15からの画像データが表示制御回路13に与えられる。第
１〜第３ビットのうちの二つ以上の出力信号がＬレベル
になることは組合せ禁止であり，時間的に先にＬレベル
になったものにしたがって出力される画像データの選択
が行われるであろう。
【００２２】表示制御回路13に与えられた画像データ
は，この回路13の制御の下，表示装置14の表示画面に表
示される。初期状態において，第１および第２ビットの
値は１に，第３ビットの値は０に設定されるので，Ａ／
Ｄ変換回路11からのデータが表示制御回路13に与えら
れ，表示装置14の表示画面に表示される。
は，この回路13の制御の下，表示装置14の表示画面に表
示される。初期状態において，第１および第２ビットの
値は１に，第３ビットの値は０に設定されるので，Ａ／
Ｄ変換回路11からのデータが表示制御回路13に与えら
れ，表示装置14の表示画面に表示される。
【００２３】ワークの検査が開始されると，カメラ２か
らの動画の映像信号（アナログ信号）がＡ／Ｄ変換回路
11に与えられる。Ａ／Ｄ変換回路11では，与えられた映
像信号がディジタル・データ（画像データ）に変換され
る。この画像データは，マルチプレクサ12，処理用フレ
ーム・メモリ15および不良ワーク用フレーム・メモリ16
に与えられる。
らの動画の映像信号（アナログ信号）がＡ／Ｄ変換回路
11に与えられる。Ａ／Ｄ変換回路11では，与えられた映
像信号がディジタル・データ（画像データ）に変換され
る。この画像データは，マルチプレクサ12，処理用フレ
ーム・メモリ15および不良ワーク用フレーム・メモリ16
に与えられる。
【００２４】センサ３からの信号は，ゲート22および23
に与えられる。この信号は，センサ３がワークＷを検出
していない状態ではＨレベルの状態に維持される。セン
サ３が第１のワークを検出すると（時刻ｔ1 ），センサ
３は時間間隔（数μ秒程度）の短いＬレベルの信号を発
生する。初期状態においてレジスタ24の第１および第２
ビットの出力信号はＨレベルであるので，このＬレベル
信号はゲート22および23を介して処理用フレーム・メモ
リ15および不良ワーク用フレーム・メモリ16にそれぞれ
与えられる。
に与えられる。この信号は，センサ３がワークＷを検出
していない状態ではＨレベルの状態に維持される。セン
サ３が第１のワークを検出すると（時刻ｔ1 ），センサ
３は時間間隔（数μ秒程度）の短いＬレベルの信号を発
生する。初期状態においてレジスタ24の第１および第２
ビットの出力信号はＨレベルであるので，このＬレベル
信号はゲート22および23を介して処理用フレーム・メモ
リ15および不良ワーク用フレーム・メモリ16にそれぞれ
与えられる。
【００２５】処理用フレーム・メモリ15は，ゲート22か
ら与えられる信号がＬレベルからＨレベルに変化する立
上りエッジにおいて，Ａ／Ｄ変換回路11からの画像デー
タを読み込んで記憶する。同様にして，不良ワーク用フ
レーム・メモリ16もゲート23からの信号の立上りエッジ
において，Ａ／Ｄ変換回路11からの画像データを読み込
んで記憶する。読み込まれる画像データの量は，表示装
置14の表示画面の少なくとも一画面分である。この画像
データは，第１のワークを撮影した画像データである。
ら与えられる信号がＬレベルからＨレベルに変化する立
上りエッジにおいて，Ａ／Ｄ変換回路11からの画像デー
タを読み込んで記憶する。同様にして，不良ワーク用フ
レーム・メモリ16もゲート23からの信号の立上りエッジ
において，Ａ／Ｄ変換回路11からの画像データを読み込
んで記憶する。読み込まれる画像データの量は，表示装
置14の表示画面の少なくとも一画面分である。この画像
データは，第１のワークを撮影した画像データである。
【００２６】特徴量算出回路17は，処理用フレーム・メ
モリ15に記憶された第１のワークの画像データに基づい
て，第１のワークの特徴量を算出する。特徴量には，ワ
ークの面積，重心位置，主軸角等が含まれる。算出され
た特徴量は，ＣＰＵ18に与えられる。
モリ15に記憶された第１のワークの画像データに基づい
て，第１のワークの特徴量を算出する。特徴量には，ワ
ークの面積，重心位置，主軸角等が含まれる。算出され
た特徴量は，ＣＰＵ18に与えられる。
【００２７】ＣＰＵ18は，与えられた第１のワークの特
徴量を正常なワークの特徴量と比較して，第１のワーク
が不良かどうかを判定する。正常なワークの特徴量およ
び判定のためのプログラムは，ＲＯＭ19にあらかじめ記
憶されている。ＲＡＭ20は，この判定処理の途中で発生
する中間データ等を一時的に記憶するためのものであ
る。
徴量を正常なワークの特徴量と比較して，第１のワーク
が不良かどうかを判定する。正常なワークの特徴量およ
び判定のためのプログラムは，ＲＯＭ19にあらかじめ記
憶されている。ＲＡＭ20は，この判定処理の途中で発生
する中間データ等を一時的に記憶するためのものであ
る。
【００２８】第１のワークが正常であると判定される
と，ＣＰＵ18は第２のワークの処理待ちの状態となる。
と，ＣＰＵ18は第２のワークの処理待ちの状態となる。
【００２９】第２のワークも同様にして処理される。す
なわち，センサ３によって第２のワークが検出されると
（時刻ｔ2 ），第２のワークの画像データが処理用フレ
ーム・メモリ15および不良ワーク用フレーム・メモリ16
にそれぞれ記憶される。処理用フレーム・メモリ15に記
憶された画像データに基づいて，第２のワークの特徴量
が特徴量算出回路17によって求められる。ＣＰＵ18は，
この求められた特徴量に基づいて第２のワークが不良か
どうかを判定する。
なわち，センサ３によって第２のワークが検出されると
（時刻ｔ2 ），第２のワークの画像データが処理用フレ
ーム・メモリ15および不良ワーク用フレーム・メモリ16
にそれぞれ記憶される。処理用フレーム・メモリ15に記
憶された画像データに基づいて，第２のワークの特徴量
が特徴量算出回路17によって求められる。ＣＰＵ18は，
この求められた特徴量に基づいて第２のワークが不良か
どうかを判定する。
【００３０】第２のワークが不良と判定された場合に
は，ＣＰＵ18はレジスタ24の第２ビットの値を０に，第
３ビットの値を１にそれぞれ設定する。これにより，第
２ビットの出力信号はＬレベルに，第３ビットの出力信
号はＨレベルにそれぞれなる（時刻ｔ3 ）。第２ビット
の出力信号がＬレベルとなるので，センサ３からの第ｎ
のワーク（ｎ≧３の整数）の検出信号がゲート23に入力
されても（時刻ｔ4 ），ゲート23の出力信号に立上りエ
ッジは生じない。したがって，第ｎのワークの画像デー
タは不良ワーク用フレーム・メモリ16には読み込まれな
い。不良ワーク用フレーム・メモリ16には，第２のワー
ク，すなわち不良ワークの画像データが保持される。処
理用フレーム・メモリ15には，ゲート22を介して第ｎの
ワークの検出信号が入力され，第ｎのワークの画像デー
タが記憶される。そして，特徴量算出回路17およびＣＰ
Ｕ18によって，第ｎのワークの良否検査が行われる。
は，ＣＰＵ18はレジスタ24の第２ビットの値を０に，第
３ビットの値を１にそれぞれ設定する。これにより，第
２ビットの出力信号はＬレベルに，第３ビットの出力信
号はＨレベルにそれぞれなる（時刻ｔ3 ）。第２ビット
の出力信号がＬレベルとなるので，センサ３からの第ｎ
のワーク（ｎ≧３の整数）の検出信号がゲート23に入力
されても（時刻ｔ4 ），ゲート23の出力信号に立上りエ
ッジは生じない。したがって，第ｎのワークの画像デー
タは不良ワーク用フレーム・メモリ16には読み込まれな
い。不良ワーク用フレーム・メモリ16には，第２のワー
ク，すなわち不良ワークの画像データが保持される。処
理用フレーム・メモリ15には，ゲート22を介して第ｎの
ワークの検出信号が入力され，第ｎのワークの画像デー
タが記憶される。そして，特徴量算出回路17およびＣＰ
Ｕ18によって，第ｎのワークの良否検査が行われる。
【００３１】レジスタ24の第２ビットの出力信号がＬレ
ベルであり，第１および第３ビットの出力信号がＨレベ
ルであるので，不良ワーク用フレーム・メモリ16に記憶
された画像データは，マルチプレクサ12を介して表示制
御回路13に与えられる。そして，この不良ワークの画像
が，表示装置14の表示画面に表示される。
ベルであり，第１および第３ビットの出力信号がＨレベ
ルであるので，不良ワーク用フレーム・メモリ16に記憶
された画像データは，マルチプレクサ12を介して表示制
御回路13に与えられる。そして，この不良ワークの画像
が，表示装置14の表示画面に表示される。
【００３２】また，ＣＰＵ18は，不良ワークを検出する
と，異常ランプ25を点灯させるなどして，オペレータに
不良ワークが検出されたことを知らせる。表示装置14の
表示画面には，不良ワークである第２のワークが表示さ
れているので，オペレータはこの不良ワークの状態や不
良箇所等を視覚により確認することができる。
と，異常ランプ25を点灯させるなどして，オペレータに
不良ワークが検出されたことを知らせる。表示装置14の
表示画面には，不良ワークである第２のワークが表示さ
れているので，オペレータはこの不良ワークの状態や不
良箇所等を視覚により確認することができる。
【００３３】オペレータは，この確認が終了すると，リ
セット命令を入力装置21からＣＰＵ18に与えることがで
きる。リセット命令が与えられると，ＣＰＵ18はレジス
タ24の第２ビットを１に，第３ビットを０にそれぞれ設
定（リセット）する（時刻ｔ5 ）。これにより，初期状
態と同じ状態に戻る。
セット命令を入力装置21からＣＰＵ18に与えることがで
きる。リセット命令が与えられると，ＣＰＵ18はレジス
タ24の第２ビットを１に，第３ビットを０にそれぞれ設
定（リセット）する（時刻ｔ5 ）。これにより，初期状
態と同じ状態に戻る。
【００３４】このように，この検査装置によれば，不良
ワークが検出されると，不良ワークの画像データが不良
ワーク用フレーム・メモリ16に保持される。そして，オ
ペレータによってリセット命令が入力されるまで，表示
装置14に不良ワークの画像が表示され続ける。したがっ
て，オペレータは，不良ワークの状態や不良箇所等を視
覚により確認することができる。一方，この不良ワーク
に続く次のワークの画像データは処理用フレーム・メモ
リ15に記憶されて，ワークの良否検査が続行される。し
たがって，不良ワークの確認を行うために，ベルト・コ
ンベア４を停止する必要もない。また，オペレータはリ
セット命令を入力装置21から入力することにより，検査
装置１を初期状態に戻すこともできるので，次の新たな
不良ワークの表示と確認を行うこともできる。
ワークが検出されると，不良ワークの画像データが不良
ワーク用フレーム・メモリ16に保持される。そして，オ
ペレータによってリセット命令が入力されるまで，表示
装置14に不良ワークの画像が表示され続ける。したがっ
て，オペレータは，不良ワークの状態や不良箇所等を視
覚により確認することができる。一方，この不良ワーク
に続く次のワークの画像データは処理用フレーム・メモ
リ15に記憶されて，ワークの良否検査が続行される。し
たがって，不良ワークの確認を行うために，ベルト・コ
ンベア４を停止する必要もない。また，オペレータはリ
セット命令を入力装置21から入力することにより，検査
装置１を初期状態に戻すこともできるので，次の新たな
不良ワークの表示と確認を行うこともできる。
【００３５】初期状態において，レジスタ24の第１〜第
３ビットのすべてを１に設定することもできる。これに
より，処理用フレーム・メモリ15に各ワークの画像デー
タを記憶させるとともに，この各ワークの画像（静止画
像）を表示装置14に表示させることもできる。不良ワー
クが検出された場合には，レジスタ24の第２ビットのみ
を０にすることにより，上述のように不良ワークの画像
のみを継続して表示させることができる。
３ビットのすべてを１に設定することもできる。これに
より，処理用フレーム・メモリ15に各ワークの画像デー
タを記憶させるとともに，この各ワークの画像（静止画
像）を表示装置14に表示させることもできる。不良ワー
クが検出された場合には，レジスタ24の第２ビットのみ
を０にすることにより，上述のように不良ワークの画像
のみを継続して表示させることができる。
【００３６】また，オペレータはレジスタ24の第１〜第
３ビットの値を入力装置21を用いて設定することもでき
る。レジスタ24の第１ビットの値を０に，第２および第
３ビットの値を１にそれぞれ設定することにより，処理
用フレーム・メモリ15に画像データが読み込まれるのを
防止して，処理用フレーム・メモリ15の画像データを表
示装置14の表示画面に表示させることもできる。
３ビットの値を入力装置21を用いて設定することもでき
る。レジスタ24の第１ビットの値を０に，第２および第
３ビットの値を１にそれぞれ設定することにより，処理
用フレーム・メモリ15に画像データが読み込まれるのを
防止して，処理用フレーム・メモリ15の画像データを表
示装置14の表示画面に表示させることもできる。
【００３７】特徴量算出回路17が行う処理をプログラム
で記述してＲＯＭ19に格納することにより，ＣＰＵ18が
特徴量算出回路17の処理を行うこともできる。この場合
に，特徴量算出回路17は必要なくなる。また，処理用フ
レーム・メモリ15と不良ワーク用フレーム・メモリ16と
を一つのメモリによって実現することもできる。この場
合に，メモリが二つの領域に分割され，一方の領域が処
理用フレーム・メモリ15の領域に，他方の領域が不良ワ
ーク用フレーム・メモリ16の領域にそれぞれ割り当てら
れるであろう。
で記述してＲＯＭ19に格納することにより，ＣＰＵ18が
特徴量算出回路17の処理を行うこともできる。この場合
に，特徴量算出回路17は必要なくなる。また，処理用フ
レーム・メモリ15と不良ワーク用フレーム・メモリ16と
を一つのメモリによって実現することもできる。この場
合に，メモリが二つの領域に分割され，一方の領域が処
理用フレーム・メモリ15の領域に，他方の領域が不良ワ
ーク用フレーム・メモリ16の領域にそれぞれ割り当てら
れるであろう。
【図１】ワーク検査システムの構成を示す斜視図であ
る。
る。
【図２】検査装置の構成を示すブロック図である。
【図３】検査装置の処理を示すタイム・チャートであ
る。
る。
【図４】従来の検査装置の構成を示すブロック図であ
る。
る。
１ 検査装置 ２ カメラ ３ センサ ４ ベルト・コンベア 11，101 Ａ／Ｄ変換回路 12，102 マルチプレクサ 13 表示制御回路 14 表示装置 15 処理用フレーム・メモリ 16 不良ワーク用フレーム・メモリ 17，104 特徴量算出回路 18，105 ＣＰＵ 19，108 ＲＯＭ 20，109 ＲＡＭ 21，106 入力装置 22，23 ＡＮＤゲート 24，107 レジスタ 25，110 異常ランプ 103 フレーム・メモリ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) B07C 5/00,5/38 B07C 7/04 B65G 43/00 - 43/10
Claims (2)
- 【請求項１】 検査されるべき物品を撮像し，その物品
を表す画像データを出力する撮像装置，上記撮像装置か
ら出力される画像データを検査のために記憶する第１の
画像データ記憶手段，上記画像データを表示のために記
憶する第２の画像データ記憶手段，上記第１の画像デー
タ記憶手段に記憶された画像データに基づいて物品の良
否を判定し，不良と判定したときに不良表示指令を発生
する検査手段，および上記第２の画像データ記憶手段に
記憶された画像データによって表される不良物品の画像
の表示装置への表示を，上記不良表示指令があったとき
には，表示解除指令があるまで継続するように制御する
表示制御手段を備えている，画像処理による物品の検査
装置。 - 【請求項２】 検査されるべき物品を撮像して，その物
品を表す画像データを出力し，上記出力した画像データ
を検査のために第１のメモリに記憶し，上記出力した画
像データを表示のために第２のメモリに記憶し，上記第
１のメモリに記憶した画像データに基づいて物品の良否
を判定し，不良と判定したときに不良表示指令を発生
し，上記第２のメモリに記憶した画像データによって表
される不良物品の画像の表示装置への表示を，上記不良
表示指令があったときには，表示解除指令があるまで継
続するように制御する，画像処理による物品の検査方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP35157293A JP3211534B2 (ja) | 1993-12-29 | 1993-12-29 | 画像処理による物品の検査装置および方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP35157293A JP3211534B2 (ja) | 1993-12-29 | 1993-12-29 | 画像処理による物品の検査装置および方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07196130A JPH07196130A (ja) | 1995-08-01 |
| JP3211534B2 true JP3211534B2 (ja) | 2001-09-25 |
Family
ID=18418189
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP35157293A Expired - Lifetime JP3211534B2 (ja) | 1993-12-29 | 1993-12-29 | 画像処理による物品の検査装置および方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3211534B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4711300B2 (ja) * | 2005-12-20 | 2011-06-29 | アンリツ産機システム株式会社 | 物品検査装置 |
| JP6250993B2 (ja) * | 2013-09-11 | 2017-12-20 | 株式会社東芝 | センサ情報管理装置、センサ情報管理方法 |
-
1993
- 1993-12-29 JP JP35157293A patent/JP3211534B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH07196130A (ja) | 1995-08-01 |
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