JPH03278184A - 検査装置 - Google Patents

検査装置

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JPH03278184A
JPH03278184A JP7673690A JP7673690A JPH03278184A JP H03278184 A JPH03278184 A JP H03278184A JP 7673690 A JP7673690 A JP 7673690A JP 7673690 A JP7673690 A JP 7673690A JP H03278184 A JPH03278184 A JP H03278184A
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JP
Japan
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image data
processing
image
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memory
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JP7673690A
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Inventor
Yoshiro Suzuki
義郎 鈴木
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Terumo Corp
Original Assignee
Terumo Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は検査装置に関し、特に生産ライン等で生産され
る部品や製品等の外観形状を連続して読取って検査する
検査装置に関するものである。
[従来の技術] 一般に、テレビカメラより連続して画像信号を入力して
検査処理を行う検査装置では、カメラよりの画像信号は
1フイールド1/60秒または1フレーム1/30秒を
1区切りとして、連続して入力される。しかし、このよ
うな画像信号は、各画面毎に処理されず、所定の画面単
位で処理されている。これは、検査工程が、画像入力、
その入力した画像データに基づく計測、判定処理工程と
いうように順次実施されるため、1画面に対する計測や
判定処理に要するトータル処理時間がブランキング時間
を越えてしまい、その処理中に入力された画像信号が無
視されてしまうためである。
[発明が解決しようとする課題] このために、処理時間に応じた一定の時間間隔を検査可
能最高周期として定め、その周期に従って、入力された
画像信号を処理していた。また、この検査周期よりも速
い周期での処理を行うには、ソフトウェアにより処理で
はむすかしく、実時間処理のための高速の専用回路を設
計しなければならず、そのような高速回路は高価なもの
となってしまう。
本発明は上記従来例に鑑みてなされたもので、計測や判
定に要する時間がブランキング時間を越えても、その処
理時間が1フイールドまたは1スキヤン内であれば、入
力される全画面に対して計測や判定処理を行うことがで
きる検査装置を提供することを目的とする。
[課題を解決するための手段] 上記目的を達成するために本発明の検査装置は以下の様
な構成からなる。即ち、 被検査品を光学的に読取ってその画像データを基に前記
被検査品を検査する検査装置であって、前記被検査品の
画像データを実時間で入力する入力手段と、前記入力手
段により入力される画像データを順次記憶する複数画面
分のメモリを備えた記憶手段と、前記記憶手段に記憶さ
れた画像データを順次読出して処理する処理手段とを備
える。
[作用] 以上の構成において、被検査品の画像データを実時間で
入力し、その入力された画像データを順次記憶する複数
画面分のメモリを備えた記憶手段に記憶する。この記憶
手段の記憶容量は、少な(とも所定時間内に、記憶され
た画像データを順次読出して処理する処理手段により処
理される画像データ量相当となるように設定されている
従って、この所定時間内に入力された企画面分の画像デ
ータが、この処理手段により確実に処理されることにな
る。
[実施例] 以下、添付図面を参照して本発明の好適な実施例を詳細
に説明する。
[検査機器の説明 (第1図)] 第1図は実施例の検査機器の概略構成を示すブロック図
である。
図において、100はテレビカメラで、生産ラインで製
造される部品や製品等を撮像して、映像信号形式で検査
機器本体101に入力している。
102は画像入力部で、テレビカメラlOOよりのアナ
ログ映像信号を入力し、画像変換部103でデジタル信
号に変換している。104は画像データ抽出部で、画像
変換部103によりデジタル信号に変換された画像信号
を圧縮して、例えばその被検査品の形状の輪郭を表わす
座標データ列や、明暗を表わす点の座標データ列、或は
明部または暗部の幅を表わすデータ列、または明部また
は暗部グループ数を表わすデータ列等に変換している。
105は画像メモリで、複数の画面を記憶できるように
複数のフレームメモリで構成されている。106はメモ
リ制御部で、画像メモリ105の空きエリアを指示する
とともに、計測判定部107に対し、次に計測処理を行
う画像データが格納されている画像メモリ領域を指示し
ている。また、計測判定部107により処理された画像
データが記憶されている画像メモリ105のフレームメ
モリ領域を認識して、その領域の先頭に次の画像データ
を格納するように指示することもできる。更に、このメ
モリ制御部106は、画像メモリ105がフルになった
ときは警告信号109を外部に出力する。計測判定部1
07は、画像メモリ105の画像データをもとに、その
被検査品の形状などを検査し、不良品か良品かを判定し
ている。
108は検査指示回路で、外部より入力される検査指令
信号110により、検査する必要があることを示すフラ
グをセットして、計測判定部107に知らせるものであ
る。なお、計測判定部107における判定結果或は測定
結果は、信号線111を通してモニタあるいはプリンタ
などの表示・出力装置に出力されて記録される。112
は検査結果等を記憶するための記憶部で、この記憶部1
12は、本体101に脱着可能な、例えばハードディス
ク等の外部記憶装置であってもよい。
[動作説明 (第1図、第2図)] 第2図は実施例の検査機器における画像メモリ105へ
の画像データの格納順序及び計測判定部107による計
測判定処理順序を示す概念図である。
第2図(A)は画像メモリ105に全熱画像データが記
憶されていない状態で、画像入力部102、画像変換部
103及び画像データ抽出部104を介して画像データ
が入力された状態を示しており、ここでは画像メモリ1
05の先頭のフレームメモリAに記憶される。第2図(
B)は次のテレビ画面の画像データの入力時を示し、こ
こでは次のフレームメモリBに記憶される。そして、こ
のとき、フレームメモリAに記憶されている画像データ
が、計測判定部107により計測・判定のために読出さ
れている。
第2図(C)は更に次の状態を示す図で、ここではフレ
ームメモリCに画像データが入力され、フレームメモリ
Bの画像データが計測判定部107により読出されて処
理されている。この状態では、フレームメモリAの画像
データは既に処理済みであるため、次にフレームデータ
をフレームメモリAに格納するようにしてもよい。
しかし、この第2図では、計測判定処理に要する時間が
、1フレームの画像データを入力する時間と同じ大きさ
になるように設定されているが、この計測判定処理に要
する時間が長くなると、このようにはいかなくなる。
そこでこの実施例では、検査タイミングを間欠的なもの
とし、その検査タイミング時間内で取り込まれる画像デ
ータの最大フレーム数に相当するフレームメモリを、画
像メモリ105内に確保しておくようにしている。そし
て、この検査時間内で入力される全てのフレームの画像
データを記憶しておき、その全画面データに対して計測
判定処理を行うようにする。
つぎに、この処理を第3図のフローチャートを参照して
説明する。
第3図は実施例の検査機器のメモリ制御部106で実行
される制御処理を示すフローチャートである。
先ずステップS1で、操作パネル110より計測周期を
入力する。ここでは、前述したように間欠的な計測処理
を想定しているため、その検査に要する周期時間を入力
するものである。次にステップS2に進み、その入力さ
れた計測周期と、入力される画像データの1フイ一ルド
時間または1フレ一ム時間とを基に、必要な画像メモリ
105のフレームメモリ数を確保する。
次にステップS3に進み、画像データを入力して、各フ
レーム毎に順次画像メモリ105のフレームメモリに格
納していく。次にステップS4に進み、最も古い未処理
の画像データを含むフレームメモリを指示して、検査指
示回路108を介して計測判定部107による計測判定
処理を起動する。
次にステップS5に進み、画像メモリ105がフルかど
うかを調べ、フルでなければステップS6に進み、計測
周期が終了したかどうかをみる。
計測時間が終了していなければステップS3に戻り、次
に入力する画像データを順次画像メモリ105に格納す
る。ステップS6で計測周期が終了するとステップS8
に進み、画像メモリ104の未処理データを計測判定部
107に知らせ、これら画像データを基に空き時間を利
用して計測判定が行われる。
一方、ステップS5で画像メモリ105がフルのときは
ステップS7に進み、警告信号109により画像メモリ
105がフルになったことを外部機器等に報知する。通
常の処理では、この警告信号が出力される状態は生じ得
ないはずであるが、例えばステップS2で必要なフレー
ムメモリ数を画像メモリ105内に確保できなかったよ
うな場合等に、この警告信号109が出力される事態が
発生する可能性がある。この場合は、処理中断するか、
或は既に処理済みの画像データが記憶されているフレー
ムメモリのうち先頭のフレームメモリより、順次入力し
た画像データを格納するようにしてもよい。
なお、例えば画像変換部103より入力されるlフレー
ム分の画像データ量が多いときは、画像データ抽出部1
04により、抽出する画像データ量を減少させることが
できる。これにより、後続の1フレ一ム分の画像データ
に対する計測判定処理に要する時間を短縮できる。従っ
て、画像メモリ105に必要なフレームメモリ数を確保
できなかった場合や、計測処理などの処理時間が長くな
りそうな場合は、この画像データ抽出部104に対して
画像データ量が少なくなるような抽出条件を設定するこ
とにより、確実に1フレーム或は1フイールドに相当す
る時間内で、画像データの計測判定ができるにすること
ができる。
以上説明したように本実施例によれば、検査対象となる
企画面分の画像データに対して計測判定処理を行うこと
ができる。
また、間欠的な検査を行うことにより、その検査タイミ
ング内の全画像データを処理できる。更に必要ならば、
検査タイミング間の空き時間を利用して画像データに基
づく計測判定処理を行うことができる効果がある。
また更に、画像データの抽出条件を設定することにより
、1フレームの画像データに対する計測等に要する時間
を短縮できる。
また、処理時間がオーバーしたことにより、画像メモリ
の容量が不足したときに警告出力を行うことにより、検
査結果の信頼性を増すことができる。
[発明の効果] 以上説明したように本発明によれば、計測や判定に要す
る時間がブランキング時間を越えることがあっても、検
査タイミング内で入力される全画面に対して計測や判定
処理を行うことができる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は実施例の検査機器の概略構成を示すブロック図
、 第2図は実施例の検査機器における画像メモリへの画像
データの入力及び画像メモリの画像データの計測判定処
理の概念を示す図、そして第3図は実施例の検査機器に
おける検査処理を示すフローチャートである。 図中、100・・・テレビカメラ、101・・・検査機
器本体、102・・・画像入力部、103・・・画像変
換部、1 モリ、 足部、 号、1 04・・・画像データ抽出部、105・・・画像メ10
6・・・メモリ制御部、107・・・計測・判108・
・・検査指示回路、109・・・警告信10・・・検査
指令、112・・・記憶部である。

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)被検査品を光学的に読取つてその画像データを基
    に前記被検査品を検査する検査装置であつて、 前記被検査品の画像データを実時間で入力する入力手段
    と、 前記入力手段により入力される画像データを順次記憶す
    る複数画面分のメモリを備えた記憶手段と、 前記記憶手段に記憶された画像データを順次読出して処
    理する処理手段とを備え、 前記記憶手段の記憶容量は、少なくとも所定時間内に前
    記処理手段により処理される画像データ量相当であるこ
    とを特徴とする検査装置。
  2. (2)前記処理手段は前記記憶手段より抽出する画像デ
    ータ量を削減することにより、前記画像データの処理時
    間を短縮させる処理時間短縮手段を更に含むことを特徴
    とする請求項第1項に記載の検査装置。
  3. (3)前記処理手段は前記記憶手段に記憶されている画
    像データが検査対象画像かどうかを判別する手段を更に
    含み、前記処理手段は判別された検査対象画像のみを入
    力して処理するようにしたことを特徴とする請求項第1
    項に記載の検査装置。
  4. (4)前記入力手段より入力される画像データ量が前記
    記憶手段の記憶容量以上になつたときに警告信号で報知
    する報知手段を更に有することを特徴とする請求項第1
    項に記載の検査装置。
JP7673690A 1990-03-28 1990-03-28 検査装置 Pending JPH03278184A (ja)

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JP7673690A JPH03278184A (ja) 1990-03-28 1990-03-28 検査装置

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JP7673690A JPH03278184A (ja) 1990-03-28 1990-03-28 検査装置

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JP (1) JPH03278184A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007047009A (ja) * 2005-08-10 2007-02-22 Hitachi High-Technologies Corp 半導体デバイスの欠陥検査方法及びその装置
JP2017223459A (ja) * 2016-06-13 2017-12-21 株式会社キーエンス 画像処理センサ、画像処理方法

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