JP3206984B2 - レンズ総合検査機 - Google Patents
レンズ総合検査機Info
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Description
するものであり、特に、レンズの面形状、中心肉厚、偏
心、屈折異常等を一度に測定して、被検レンズの合否を
判定できるレンズ総合検査機に関する。
は、多数のレンズが用いられている。近年は、これらの
レンズに非球面を用いることも多くなってきた。しかし
ながら、加工後のレンズの検査、特に、非球面レンズの
検査はまことに面倒なものである。
レンズの2つの面(非球面又は球面)の形状を、1面ず
つフィゾー形の干渉計あるいは接触針方式の形状測定機
で測定し、次に、そのレンズの中心肉厚をダイヤルゲー
ジ等の接触式測定機で検査し、最後に、2つの面の偏心
をサイダ方式の芯取機、類似の方法、又は、非球面専用
に開発された特殊な偏心測定機等(特開平1−2961
32号)で調べるという具合である。上記の方法は、レ
ンズの測定項目一つずつについて別の測定機を用いるた
め、能率が悪く、接触方式の測定機では、被検レンズを
傷つける心配もあり、大量生産品のレンズの検査には適
さなかった。
題点に鑑みてなされたものであり、その目的は、レンズ
の面形状、中心肉厚、偏心はもちろん、レンズ素材の屈
折率の設計値からのズレによって生ずる光線屈折の異常
までも一度の測定で測定し、レンズの合否を判定できる
レンズ総合検査機を提供することである。
明のレンズ総合検査機は、光源と、該光源からの光束を
2つの光路に分割する光束分割手段と、前記2つの光路
の中、一方の光路中にレンズの製作誤差を求めるための
比較対象として配置された基準レンズと、前記2つの光
路の中の他方の光路中に配置された被検レンズと、前記
基準レンズを透過した一方の光束と前記被検レンズを透
過した他方の光束とを再び合成する光束合成手段と、前
記光束合成手段の後方に少なくとも1つ設けられた結像
手段と、前記結像手段によって形成される干渉縞に基づ
いて位相データを算出する手段、算出された位相データ
から収差量を算出する手段、及び、算出された収差量か
ら前記被検レンズの合否を判定する判定手段を有する演
算手段と、を備えた縦型マッハツェンダー干渉計タイプ
のレンズ総合検査機において、前記の算出された収差量
から前記被検レンズの合否を判定する判定手段を有する
演算手段中に、レンズの設計製作上の項目である 面偏心量 中心肉厚と面曲率に対応する量 面形状と屈折率異常に対応する量 のそれぞれを分離して算出する算出手段を備え、少なく
とも、算出された面偏心量を合否判定の対象項目とする
ことを特徴とするものである。この場合、面偏心量は、
位相データのティルトとコマ収差の少なくとも2成分に
てその算出手段にて算出されることが望ましい。
計を用い、その干渉計の等価の2つの光路に被検レンズ
と基準レンズを配置し、被検レンズの光路で生ずる波面
収差と基準レンズの光路で生ずる波面収差の差を干渉縞
として得て、干渉縞の形を解析して、レンズ面形状、レ
ンズ肉厚、偏心等の値を知るものであるので、1回の測
定で、レンズの肉厚、面曲率、偏心、面形状、脈理等の
誤差によって生じる不良を容易に発見することができ、
レンズの生産性を大幅に向上させることができる。
基づいて説明する。図1は、本発明の1実施例の全体の
構成を示す図である。このレンズ総合検査機は、基本的
に、マッハツェンダー型の干渉計4に干渉縞解析用の画
像処理用ワークステーション5を組み合せたものであ
る。
NDフィルター43を通過させた後、ビームエキスパン
ダー12によりその径を広げ、明るさ絞り15を通し
て、ビームスプリッター16で2つの光路R、Sに分
け、別のビームスプリッター24でこれらの光路を再び
合成して、スクリーン10上に干渉縞を結像させるもの
である。
6で分けられた2つの光路R、S上には、それぞれ基準
レンズ6と被検レンズ7とが配置されている。なお、被
検レンズ7が凹レンズの場合には、図示のように、入射
レンズ8、9が2つの光路R、S上にバヨネットマウン
ト又はスライダー方式等によって固定される。
ンズの中から、被検レンズ7の設計値に近いレンズを前
述の従来方法等によって見つけ出しておく。あるいは、
精研削加工等によって、設計値に近い精度の良いレンズ
を作り、基準レンズ6として用いてもよい。
価に作られているので、被検レンズ7の基準レンズ6に
対する光路差、あるいは、より正確には、被検レンズ7
の光路で生ずる波面収差と基準レンズ6の光路で生ずる
波面収差の差が、干渉縞としてスクリーン10上に結像
されるようになっている。スクリーン10は、レーザー
のスペックルパターンを避けるため、毎秒数回回転して
いる。この上に形成される干渉縞の形を解析して、レン
ズ面形状、レンズ肉厚、偏心等の値を知ることができる
が、これについては後述する。
ザー11からの光は可変NDフィルター43を通過した
後、ビームエキスパンダー12によりその径が広げられ
る。ビームエキスパンダー12を構成する凸レンズ13
は、スライド機構等により、焦点距離の異なる2種類又
はそれ以上のものを交換して利用することができる。こ
の凸レンズ13としては、顕微鏡の対物レンズ等を用い
るとよい。ビームエキスパンダー12のコリメータ14
は、焦点距離200〜500mmの接合レンズを用いる
とよい。なお、ビームエキスパンダー12中の符号44
はピンホールを示す。
り15を通った光は、上記のように、ビームスプリッタ
ー16で2つの光路R、Sに分けられ、それぞれミラー
17、18で反射される。一方の光路Sのミラー18に
はピエゾ素子19が付いており、ミラー18の角度をわ
ずかに変えることにより、干渉縞をスキャンして、前述
の波面収差の差の付号を含めた値を、3〜8枚の位相の
異なる干渉縞から求めることができる。
には、入射レンズ9により集光光束として、被験レンズ
7に入射させる。入射レンズ8、9は、開口数(NA)
の大きい凹レンズでも測定できるように、2種類のもの
がバヨネットマウント等で交換可能になっており、その
1つはNA0.996程度、もう1つはNA0.88程
度である。これらのレンズとしては、特開平4−981
1号記載のもの等が用いられる。これらのレンズは、上
記のようにバヨネットマウント等で光路内に設置される
が、2光路R、Sのそれぞれの光軸に対して、偏心なく
設置できるよう、少なくとも一方のレンズには偏心調整
機構が設けられている。偏心調整機構は、バヨネットの
干渉計マウント側に設けてもよいし、レンズのマウント
側に設けてもよいし、両方に設けてもよい。
であり、被検凹レンズ7の2面の有効径を十分カバーす
るような最適な光軸上の位置に固定することができる。
その位置は、マグネスケール等のデジタルノギスで直読
できるようになっている。
2に断面を示すようなレンズホルダー20に載せられ、
光路中のステージ21上に置かれる。ステージ21の基
準面からレンズ7(6)の頂点までの高さHは、被検レ
ンズ7(6)の種類毎に異なっており、被検レンズ7
(6)の2つの面の有効径を光束が十分覆うことがで
き、かつ、被検レンズ7(6)通過後の光束が集光レン
ズ23(22)をケラレることなく通過し、かつ、被検
レンズ7(6)とスクリーン10とが光学的に共役とな
るような高さHに選ばれている。したがって、ステージ
21の高さは、被検レンズ7の種類が変わっても変更す
る必要がないので、取り扱い上便利である。なお、被検
レンズ7用のステージ21は水平に置かれており、ま
た、図1に上下を示すごとく、4は縦型のマッハツェン
ダー干渉計であるため、レンズホルダー20、被検レン
ズ7は重力によりステージ21上に置かれる。基準レン
ズ6側の構造も同様であるが、ステージ21の基準面は
垂直になるため、基準レンズホルダー20は基準レンズ
ステージ21にバネ等で圧着される。また、基準レンズ
6は、基準レンズホルダー20に接着又は板バネ等で固
定しておくので、垂直の配置でも落ちることはない。
に配置される集光レンズ22、23は固定されており、
これらを通過した光束はビームスプリッター24で一つ
に合成され、スクリーン10上に干渉縞を作る。集光レ
ンズ22、23としては、入射レンズ8、9と同じレン
ズを用いればよい。
に調節可能であり、被検レンズ7とスクリーン10が共
役になる位置の近傍で、かつ、干渉縞の歪曲収差が小さ
くなる位置に設置される。ここで、干渉縞の歪曲収差と
いうのは、図3に被検レンズ7からスクリーン10に至
る光路図を示すように、被検レンズ7面での光線の間隔
が等間隔でも、つまり、点A、B、C、D、Eが等間隔
でも、スクリーン10上でそれらが不等間隔、つまり、
点A’、B’、C’、D’、E’が不等間隔になってし
まうことである。これは、被検レンズ7の高さHとスク
リーン10の位置、及び、入射レンズ9の光軸上の位置
を最適に選べば、スクリーン10上でも光線が等間隔に
なるようにすることができる。このためには、全光学系
の光線追跡を行って最適な位置を選べばよい。このと
き、被検レンズ7とスクリーン10との共役関係は多少
崩れてもよい。
ムスプリッター24で一緒になり、結像レンズ25によ
ってスクリーン10上に干渉縞を作る。結像レンズ25
は干渉計4のフレームに固定されている。
はアライメント絞り26がある。この使い方は後述す
る。
る。補助接写レンズ27としては、焦点距離50〜13
5mm、Fナンバーが4より明るい写真レンズが好適で
ある。補助接写レンズ27の後方にはTVズームレンズ
28が配置され、補助接写レンズ27とTVズームレン
ズ28はほぼアフォーカルになっており、TVズームレ
ンズ28により干渉縞は適当な大きさにされ、TVカメ
ラのCCD29上に結像される。アライメント絞り26
と補助接写レンズ27とは、スクリーン10と一体に光
軸方向に移動可能になっている。
力し、ここで干渉縞が解析されて、被検レンズ7の各種
寸法、公差が明らかになり、合格・不合格が判定され
る。
アルタイムで観測することができる。そのために、テレ
ビモニター30はTVカメラからのNTSC信号をその
まま取り込んでいる。カラーディスプレイ31には、画
像処理後の結果が表示される。
り15は、被検レンズ7となるべく共役な位置45に置
くのがよい。図1の例では、ビームエキスパンダー12
の凸レンズ13とコリメータ14の間がそれに当たる。
なぜなら、凹レンズ測定時、干渉縞のサイズはこの絞り
15の径で決まるからである。
っての操作手順を述べる。まず、光路S中のシャッター
32を閉じ、光路R中のシャッター33を開き、基準レ
ンズ6をステージ21の上に置く。この時、レンズ6の
中心が干渉計光軸の中心と一致するようにするために、
アライメント絞り26を開閉して、スクリーン10上に
映るレンズ6を通った光束の像(明るい円盤)が絞り2
6の開閉と共に均等にケラレるように、基準レンズ6の
ステージ21の微動調節を行う。
被検レンズ7をレンズホルダー20と共にステージ21
上に置く。
0を光軸後方から見た図で、ステージ21上にはV字形
の溝を持つ支え34があり、レンズホルダー20の外周
を支えつつ、レンズホルダー20を光軸回りに回転させ
ることができる。レンズホルダー20を回転させて被検
レンズ7を回した時、被検レンズ7と基準レンズ6との
干渉でできる干渉縞の形が、被検レンズ7の回転と共に
形を変えずに回るように、ステージ21の微動調節を行
う。このようにして、レンズホルダー20の回転中心が
光軸上にくるようにすることができる。以上で、初期設
定は終了である。
21からレンズホルダー20を取り出し、レンズホルダ
ー20に被検レンズ7を入れ、支え34に突き当てる。
この時、ステージ21の光軸方向(Z方向)微動ネジを
動かして、干渉縞がヌルフリンジに近づくようにしても
よいが、光軸と直交する方向の微動ネジは動かさない。
これが本レンズ総合検査機の特徴である。このため、1
個のレンズの検査毎に、従来、毎回微動ネジをX、Y、
Zの3軸について動かしていたアライメント操作が簡略
化され、高速にレンズの検査をすることができる。
査項目を検査する方法について述べる。
を行って得た複数の干渉縞から、位相データ(波面収差
の差に相当するデータ)が得られる。これは、フリンジ
スキャンと呼ばれる技術である。この解析から、レンズ
諸検査項目のデータを得る方法を次に説明する。
示す。まず、ステップ1で上記のように測定して、ステ
ップ2で位相データを得る。位相データをW(ρ,θ)
で表す。これを、ステップ3でツェルニケ(Zerni
ke)の多項式で展開する。例えば、3次までのツェル
ニケ多項式で展開すればよい。この定義は、汎用レンズ
設計プログラム“CodeV”で用いられているものと
同じである。
をツェルニケ多項式の係数から求める。
差が許容できるか否かを判断する。ここで、球面収差は
主にレンズの肉厚誤差、又は、レンズの曲率誤差で生ず
る。したがって、シミュレーションによって、レンズの
許容肉厚誤差、又は、許容曲率誤差で生ずる球面収差係
数を求めておいて、その値より測定から得た球面収差が
大きければ、不合格とする。
レンズの面の偏心によって生じるので、ステップ6で、
この3つの収差(あるいは、この中の1つ又は2つの収
差)の解析から、レンズの2つの面の光軸に対する偏心
を計算し、ステップ7で、計算により得られた偏心が許
容できるか否かを判断する。
非球面レンズの2つの面を通過した光束による干渉縞
を、図1の装置で測定することができるので、レンズ肉
厚と2つの面の形状が設計値に比較的近いと仮定すれ
ば、干渉縞の解析により、各面の干渉計光軸に対する、
偏心と方位、傾きと方位を求めることが可能である。干
渉縞をツェルニケ多項式で3次収差の範囲で解析した
時、偏心情報は、x、y各方向のティルト:Z2 、
Z3 、x、y各方向の非点収差:Z5 、Z6 、x、y各
方向のコマ収差:Z7 、Z8 の独立した6つの成分に含
まれるから、1つのレンズの中の一方の面だけが非球面
のレンズであれば、非球面のx、y方向の偏心:δAX,
δAY、非球面のx、y方向の傾き:εAX, εAY、球面の
x、y方向の偏心:δSX, δSYの6つの未知数を連立方
程式を解くことによって、求めることができる。
の中、Z2 〜Z8 は、式(1)を用いて干渉縞の解析に
よって求められる。
ョンプログラム(例えば、“CodeV”)を用いて求
める。
て並べると、下式(3)のように、独立な成分は9つだ
けである。
ので、当然の結果である。非点収差の項は、そのx成分
がy方向偏心で生ずることに注意してほしい。
場合も同様である(ただし、未知数は4つに減る。)。
データから3次収差で展開した成分を引き去る。する
と、残った収差は、不定形のレンズ面の製作誤差、ある
いは、ガラス又はプラスチック等のレンズ素材の脈理に
よって生ずるものである。
(R.M.S.)あるいは最大値と最小値の差(P.
V.値)に、限界値を設定しておけば、これらの製作誤
差による不良レンズを発見することができる。この判定
を次のステップ9で行う。
位相データの解析で合否を判定したが、1枚の干渉縞の
形から眼視によってティルト、コマ、球面収差等の成分
を読み取ることも慣れればできるので、高速、簡単に合
否が判定できる。
る。干渉計本体は、アルミ又は鉄等の板材の組み合せ、
鋳物で作るのが一般的であるが、温度変化に弱い欠点が
ある。そこで、カーボンファイバー材(商品名:グラノ
ック(日本石油(株)製)、石油ピッチ系炭素繊維)等
を用いれば、温度に対する膨張係数がほとんど0のた
め、温度が変化しても狂いの出ない干渉計を作ることが
できる。
形状記憶合金でできたリング35を用いた例を示すもの
で、図7は平面図、図8は側面図である。図4のホルダ
ー20のように、被検レンズ7をホルダー20の穴の中
に入れると、穴とレンズのガタで偏心が起き、測定の誤
差が生じる。これを解決したのが図7〜8の例で、ヒー
ター36によってリング35の温度が上昇すると、リン
グ35が広がり、レンズ7を取り出すことができる。電
源を切り、リング35の温度が下がると、リング35が
縮まり、レンズ7が固定される。この状態で測定すれば
よい。低温時のリング35の形の中心と光軸の中心とを
一致させておけば、ガタによる偏心の影響のない測定が
できる。なお、温度の上下とリング35の形状の変化と
は、上述の逆にしてもよい。
法について述べる。マッハツェンダー型干渉計では、2
光路の波面収差の差が測定誤差となって出てくる。これ
は、画像処理時に補正してやればよい。図9にこのとき
のフローチャートを示す。このフローチャートから処理
は明らかであるので、説明は省く。
値からのズレの補正にも用いることができる。
形状の設計値からのズレΔが分かっていれば、これによ
って生ずる波面収差W0 は、 W0 =Δ(n−1)/λ ・・・式(4) である。nはレンズの屈折率で、λはレーザー光源の波
長である。したがって、式(4)で求まるW0 を計算し
ておき、図9のフローチャートのに書き込めば、基準
レンズの設計値からのズレが補正されて、高精度の判定
ができる。
て、基準レンズ6に、被検レンズ7の形状に近いが形が
異なるレンズを用いることもできる。Δを測定し、W0
を式(4)で計算しておけばよいのである。
いて、被検レンズ7に非球面レンズを用いることも可能
になる。
ャンによって求めた位相データから3次収差を求めて、
それからレンズの偏心量が求まることを示したが、さら
に精密に行う場合は、次のようにする。
(Δx,Δy)だけ、被検レンズ7を微動させ、図6の
偏心測定を繰り返す。統計平均をとることにより、1回
だけの測定から求めるのに比べて、精度の良いデータが
得られる。
波面収差としてはザイデルの3次収差に限らず、5次、
7次、9次等、高次の波面収差を用いてもよい。その場
合、精度がより向上する。
連の解析ソフトは、ユーザー側でプログラム可能にして
おくとよい。これは、簡単なインタープリターをC言語
等で作成して、ワークステーションにインストールして
おき、ワークステーションのキーボードからユーザーが
プログラムを入力すると、それに従って一連の解析が行
われる。
明の検査機とを組み合せた例を示す斜視図で、図6、図
9、図10等のフローチャートによる画像処理を用いた
自動判定により、無人のレンズ合否判定が可能となる。
この場合、各レンズの外径を干渉計光軸の中心に位置決
めすることが必要となるが、位置決め用のセンサー38
により所定の位置に±1μm程度の精度で設定すること
ができる。位置決め用センサー38としては、顕微鏡に
TVカメラを組み合せたものが考えられる。その外、接
触式の位置センサー等を用いてもよい。
5に46で示すように、空気抜き用の穴を何カ所かにあ
け、それに網を張っておくとよい。網を張るのは、被検
レンズ7がこの穴から下へ落下するのを防止するためで
ある。図5は図4を光軸を含む断面で切った図であり、
空気抜きの穴46によって、ステージ21にホルダー2
0を載せた時、被検レンズ7がホルダー20から飛び出
るのを防止できる。
したものの外、図12に示すように、透明なガラス板3
9で作り、その上に被検レンズ7を載せてもよい。図
中、40はレンズ7の周囲を支えるリングで、支え難い
直径の小さなレンズの場合に有効である。
代わりに、V溝41でレンズ7を受けるようにしてもよ
い。この時、支えられたレンズ7の光軸中心が干渉計光
軸の中心と一致するようにしておく必要がある。なお、
V溝41はステージ21の上に載せて使用する。
たガイド42でレンズ7を受け、干渉縞を観測する例で
ある。被検レンズ7をガイド42に沿って送ることで、
次から次へと測定できるので、便利である。ガイド42
の隅で受けたレンズ7の光軸と干渉計光軸とが一致する
ように、ガイド42の位置を決めておく。
5のように、干渉縞の密な方向がCCD29の対角方向
になるように、レンズホルダー20を回転させて合否判
定を行うとよい。その理由は、CCD29のナイキスト
限界は図16のようになるので、対角方向の方がより細
かい周波数の縞までエリアジングを起こすことなく検出
できるからである。図16において、Px はCCD29
の水平方向ピッチ、Py はCCD29の垂直方向ピッ
チ、Ux はCCD29の水平方向像面周波数、Uy はC
CD29の垂直方向像面周波数である。
かの実施例に基づいて説明したが、本発明はこれら実施
例に限定されず種々の変形が可能である。
のレンズ総合検査機によると、縦型マッハツェンダー干
渉計を用い、その干渉計の等価の2つの光路に被検レン
ズと基準レンズを配置し、被検レンズの光路で生ずる波
面収差と基準レンズの光路で生ずる波面収差の差を干渉
縞として得て、干渉縞の形を解析して、レンズ面形状、
レンズ肉厚、偏心等の値を知るものであるので、1回の
測定で、レンズの肉厚、面曲率、偏心、面形状、脈理等
の誤差によって生じる不良を容易に発見することがで
き、レンズの生産性を大幅に向上させることができる。
構成を示す図である。
断面図である。
る。
図である。
ある。
る。
ある。
み合せた例を示す斜視図である。
る。
である。
平面図である。
る。
Claims (2)
- 【請求項1】 光源と、該光源からの光束を2つの光路
に分割する光束分割手段と、前記2つの光路の中、一方
の光路中にレンズの製作誤差を求めるための比較対象と
して配置された基準レンズと、前記2つの光路の中の他
方の光路中に配置された被検レンズと、前記基準レンズ
を透過した一方の光束と前記被検レンズを透過した他方
の光束とを再び合成する光束合成手段と、前記光束合成
手段の後方に少なくとも1つ設けられた結像手段と、前
記結像手段によって形成される干渉縞に基づいて位相デ
ータを算出する手段、算出された位相データから収差量
を算出する手段、及び、算出された収差量から前記被検
レンズの合否を判定する判定手段を有する演算手段と、
を備えた縦型マッハツェンダー干渉計タイプのレンズ総
合検査機において、 前記の算出された収差量から前記被検レンズの合否を判
定する判定手段を有する演算手段中に、レンズの設計製
作上の項目である 面偏心量 中心肉厚と面曲率に対応する量 面形状と屈折率異常に対応する量 のそれぞれを分離して算出する算出手段を備え、少なく
とも、算出された面偏心量を合否判定の対象項目とする
ことを特徴とするレンズ総合検査機。 - 【請求項2】 請求項1において、面偏心量は、位相デ
ータのティルトとコマ収差の少なくとも2成分にて前記
算出手段にて算出されることを特徴とするレンズ総合検
査機。
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