JP3206019B2 - 分析装置 - Google Patents
分析装置Info
- Publication number
- JP3206019B2 JP3206019B2 JP15873791A JP15873791A JP3206019B2 JP 3206019 B2 JP3206019 B2 JP 3206019B2 JP 15873791 A JP15873791 A JP 15873791A JP 15873791 A JP15873791 A JP 15873791A JP 3206019 B2 JP3206019 B2 JP 3206019B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- data
- range
- time
- converter
- analyzer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Landscapes
- Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、分析装置に係わり、特
に、イオンクロマトグラフなどの分析装置において取込
んだデ―タがオ―バ―フロ―したときにそれを接ぎデ―
タのオ―バ―フロ―を回避するようにした分析装置に関
する。
に、イオンクロマトグラフなどの分析装置において取込
んだデ―タがオ―バ―フロ―したときにそれを接ぎデ―
タのオ―バ―フロ―を回避するようにした分析装置に関
する。
【0002】
【従来の技術】従来、イオンクロマトグラフなどの分析
装置では、A/D変換器の分解能を上げるために、20
ビットのA/D変換器を使用していた。しかし、このよ
うな分析装置では0.1nsec/cmから5msec
/cmまでの範囲が必要となるため、20ビットのA/
D変換器を三段階に切換え、ハイで±10μsec/c
m、ノ―マルで±100μsec/cm、ロ―で±15
00μsec/cmとして使用している。このようにA
/D変換器を三段階に切り換えるため、例えば、試料中
にハイレンジで測定したい成分とノ―マルレンジ若しく
はロ―レンジで測定したい成分が共存している場合には
二度分析を行なわなわなければならないという欠点があ
った。
装置では、A/D変換器の分解能を上げるために、20
ビットのA/D変換器を使用していた。しかし、このよ
うな分析装置では0.1nsec/cmから5msec
/cmまでの範囲が必要となるため、20ビットのA/
D変換器を三段階に切換え、ハイで±10μsec/c
m、ノ―マルで±100μsec/cm、ロ―で±15
00μsec/cmとして使用している。このようにA
/D変換器を三段階に切り換えるため、例えば、試料中
にハイレンジで測定したい成分とノ―マルレンジ若しく
はロ―レンジで測定したい成分が共存している場合には
二度分析を行なわなわなければならないという欠点があ
った。
【0003】このため、16ビットのA/D変換器を使
用してデ―タを接ぐ方法も試みられていたが、この方法
ではA/D変換器の速度が速く、デ―タの1回の取込み
間隔20msecの間に三段階のデ―タを全て取り、し
かもオ―バ―フロ―時に次のデ―タを使用するようにし
ていた。
用してデ―タを接ぐ方法も試みられていたが、この方法
ではA/D変換器の速度が速く、デ―タの1回の取込み
間隔20msecの間に三段階のデ―タを全て取り、し
かもオ―バ―フロ―時に次のデ―タを使用するようにし
ていた。
【0004】
【発明が解決しようとする問題点】本発明は、かかる従
来例の欠点などに鑑みてなされたものであり、その課題
は、レンジ切り換え時間がデータ取り込み間隔よりも長
い時間を要する分析装置において、A/D変換器の速度
が速くても測定デ―タのオ―バ―フロ―時にゲインを切
換え、その間のデ―タを直接或いは他の関数によってデ
―タを作って接げるような分析装置を提供することにあ
る。
来例の欠点などに鑑みてなされたものであり、その課題
は、レンジ切り換え時間がデータ取り込み間隔よりも長
い時間を要する分析装置において、A/D変換器の速度
が速くても測定デ―タのオ―バ―フロ―時にゲインを切
換え、その間のデ―タを直接或いは他の関数によってデ
―タを作って接げるような分析装置を提供することにあ
る。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明は、レンジ切り換
え時間がデータ取り込み間隔よりも長い時間を要する分
析装置において、測定デ―タ取込み時にA/D変換器の
デ―タがオ―バ―フロ―したとき自動的にレンジ切換え
を行い、以前取り込んだデ―タからレンジ切換え時に取
れなかったデ―タを、直線或いは他の関数を用いてデ―
タを作り、かつ、このデータを所定時間出力し、デ―タ
の接ぎを行うことにより前記課題を解決したものであ
る。
え時間がデータ取り込み間隔よりも長い時間を要する分
析装置において、測定デ―タ取込み時にA/D変換器の
デ―タがオ―バ―フロ―したとき自動的にレンジ切換え
を行い、以前取り込んだデ―タからレンジ切換え時に取
れなかったデ―タを、直線或いは他の関数を用いてデ―
タを作り、かつ、このデータを所定時間出力し、デ―タ
の接ぎを行うことにより前記課題を解決したものであ
る。
【0006】
【作用】本発明は、次のように作用する。即ち、A/D
変換器のレンジ切換時間がデ―タ取込み時間より長い場
合でも自動的にレンジを切換え、その間のデ―タは一次
関数や他の関数によって作成される。このため、低濃度
の試料を高濃度で分析することも可能となり、低濃度試
料と高濃度試料が共存した場合にも1回で分析できるよ
うになる。
変換器のレンジ切換時間がデ―タ取込み時間より長い場
合でも自動的にレンジを切換え、その間のデ―タは一次
関数や他の関数によって作成される。このため、低濃度
の試料を高濃度で分析することも可能となり、低濃度試
料と高濃度試料が共存した場合にも1回で分析できるよ
うになる。
【0007】
【実施例】以下、本発明について図を用いて詳細に説明
する。図1は本発明実施例の構成説明図であり、図中、
1は高速液体クロマトグラフなどの分析装置に装着され
た検出器である導電率計、2はレンジ切換部分、3はA
/D変換器、4は例えばCPUでなる演算部である。ま
た、図2は、本発明実施例の動作を説明するためのフロ
―チャ―トである。
する。図1は本発明実施例の構成説明図であり、図中、
1は高速液体クロマトグラフなどの分析装置に装着され
た検出器である導電率計、2はレンジ切換部分、3はA
/D変換器、4は例えばCPUでなる演算部である。ま
た、図2は、本発明実施例の動作を説明するためのフロ
―チャ―トである。
【0008】以下、図1と図2を用いて、本発明実施例
の動作説明を行なう。図1において、導電率計1からの
デ―タは、レンジ切換部分2を介してハイレンジ若しく
は使用者の指定したレンジでA/D変換器3へ送られて
A/D変換される。また、オ―バ―フロ―時には、レン
ジを一段階下げて再度A/D変換器3によりデ―タ取り
を行う。
の動作説明を行なう。図1において、導電率計1からの
デ―タは、レンジ切換部分2を介してハイレンジ若しく
は使用者の指定したレンジでA/D変換器3へ送られて
A/D変換される。また、オ―バ―フロ―時には、レン
ジを一段階下げて再度A/D変換器3によりデ―タ取り
を行う。
【0009】この間に0.3秒の時間が必要であり、デ
―タの取込み間隔は0.02秒であって約15回のデ―
タが失われる。この15回のデ―タを前に取り込んだデ
―タにより、直線または他の関数などを使用してデ―タ
を作りリアルタイムでデ―タが出てくるようにする。
―タの取込み間隔は0.02秒であって約15回のデ―
タが失われる。この15回のデ―タを前に取り込んだデ
―タにより、直線または他の関数などを使用してデ―タ
を作りリアルタイムでデ―タが出てくるようにする。
【0010】尚、レンジ間のゲインの相違は、一定の補
正係数を使用して予め補正しておく。また、デ―タが小
さくなってきた場合には、レンジを下げた時と同様にし
てレンジを一つ上げ、その間同様のデ―タ作成を行うよ
うにする。
正係数を使用して予め補正しておく。また、デ―タが小
さくなってきた場合には、レンジを下げた時と同様にし
てレンジを一つ上げ、その間同様のデ―タ作成を行うよ
うにする。
【0011】以下、レンジが二段階の切換を行う場合に
ついて図2を用いて詳しく説明する。最初、ユ―ザ―
(使用者)によりレンジの設定を行う(図2の10
1)。次に、設定されたレンジによってデ―タの取込み
が行われる(図2の102)。その後、デ―タがオ―バ
―フロ―しているか否かが判断される(図2の10
3)。オ―バ―フロ―していると判断した場合には、レ
ンジを一段階下げると共にレンジを戻すときの或値を決
める(図2の104)。
ついて図2を用いて詳しく説明する。最初、ユ―ザ―
(使用者)によりレンジの設定を行う(図2の10
1)。次に、設定されたレンジによってデ―タの取込み
が行われる(図2の102)。その後、デ―タがオ―バ
―フロ―しているか否かが判断される(図2の10
3)。オ―バ―フロ―していると判断した場合には、レ
ンジを一段階下げると共にレンジを戻すときの或値を決
める(図2の104)。
【0012】次に、以前のデ―タから0.3秒間のデ―
タを作る(図2の105)。このようにして作ったデ―
タを0.3秒間は出力する(図2の106)。このデ―
タはA/D変換器3に取り込まれ(図2の107)、そ
の後、デ―タがオ―バ―フロ―しているか否かが判断さ
れる(図2の108)。オ―バ―フロ―していないと判
断した場合には、更に、デ―タが或値より小さいか否か
が判断される(図2の109)。デ―タが或値より小さ
いと判断された場合にはレンジを一段階上げる(図2の
110)。
タを作る(図2の105)。このようにして作ったデ―
タを0.3秒間は出力する(図2の106)。このデ―
タはA/D変換器3に取り込まれ(図2の107)、そ
の後、デ―タがオ―バ―フロ―しているか否かが判断さ
れる(図2の108)。オ―バ―フロ―していないと判
断した場合には、更に、デ―タが或値より小さいか否か
が判断される(図2の109)。デ―タが或値より小さ
いと判断された場合にはレンジを一段階上げる(図2の
110)。
【0013】次に、以前のデ―タから0.3秒間のデ―
タを作る(図2の111)。このようにして作ったデ―
タを0.3秒間は出力する(図2の112)。また、レ
ンジを三段階で切り換えるときには、レンジを一段階切
り換えた後に、もう一段切り換える必要があるか否かの
チェックが必要となるため、最大0.6秒間デ―タを作る
必要がある。この場合、再度上述の動作(即ち、図2の
105から109に至る動作)を繰り返すようにする。
尚、本発明は上述の実施例に限定されることなく種々の
変形が可能である。
タを作る(図2の111)。このようにして作ったデ―
タを0.3秒間は出力する(図2の112)。また、レ
ンジを三段階で切り換えるときには、レンジを一段階切
り換えた後に、もう一段切り換える必要があるか否かの
チェックが必要となるため、最大0.6秒間デ―タを作る
必要がある。この場合、再度上述の動作(即ち、図2の
105から109に至る動作)を繰り返すようにする。
尚、本発明は上述の実施例に限定されることなく種々の
変形が可能である。
【0014】
【発明の効果】以上詳しく説明したような本発明によれ
ば、A/D変換器3のレンジ切換時間がデ―タ取込み時
間より長い場合でも自動的にレンジを切換え、その間の
デ―タは一次関数や他の関数によって作成されるように
なる。このため、低濃度の成分を高濃度レンジで分析す
ることも可能となり、同一試料中に低濃度成分と高濃度
成分が共存した場合にも1回の分析で試料を分析できる
利点がある。
ば、A/D変換器3のレンジ切換時間がデ―タ取込み時
間より長い場合でも自動的にレンジを切換え、その間の
デ―タは一次関数や他の関数によって作成されるように
なる。このため、低濃度の成分を高濃度レンジで分析す
ることも可能となり、同一試料中に低濃度成分と高濃度
成分が共存した場合にも1回の分析で試料を分析できる
利点がある。
【0015】従って、本発明によれば、レンジ切り換え
時間がデータ取り込み間隔よりも長い時間を要する分析
装置において、A/D変換器の速度が速くても測定デ―
タのオ―バ―フロ―時にゲインを切換え、その間のデ―
タを直接或いは他の関数によってデ―タを作り、かつ、
このデータを所定時間出力することにより、デ―タを接
げるような分析装置が実現する。
時間がデータ取り込み間隔よりも長い時間を要する分析
装置において、A/D変換器の速度が速くても測定デ―
タのオ―バ―フロ―時にゲインを切換え、その間のデ―
タを直接或いは他の関数によってデ―タを作り、かつ、
このデータを所定時間出力することにより、デ―タを接
げるような分析装置が実現する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明実施例のブロック回路図である。
【図2】従来例のブロック回路図である。
1 導電率計 2 レンジ切換え部分 3 A/D変換器 4 演算部
Claims (1)
- 【請求項1】センサから連続して出力される測定デ―タ
をレンジ切換え手段およびA/D変換器を介して取り込
んで、そのデータから測定成分を分析するようにした分
析装置であって、レンジ切り換え時間がデータ取り込み
間隔よりも長い時間を要する分析装置において、データ
取込み時にA/D変換器のデ―タがオ―バ―フロ―した
とき前記レンジ切換え手段で自動的にレンジ切換えを行
い、以前取り込んだデ―タからレンジ切換え時に取れな
かったデ―タを、直線或いは他の関数を用いてデ―タを
作り、かつ、このデータを所定時間出力することによ
り、レンジ切換え時間がデ―タ取込み間隔より長い場合
にもデ―タの接ぎを行うことを特徴とする分析装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15873791A JP3206019B2 (ja) | 1991-06-28 | 1991-06-28 | 分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15873791A JP3206019B2 (ja) | 1991-06-28 | 1991-06-28 | 分析装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH055756A JPH055756A (ja) | 1993-01-14 |
JP3206019B2 true JP3206019B2 (ja) | 2001-09-04 |
Family
ID=15678237
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP15873791A Expired - Fee Related JP3206019B2 (ja) | 1991-06-28 | 1991-06-28 | 分析装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3206019B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101869616B (zh) * | 2010-05-25 | 2013-12-04 | 郑志强 | 一种育发液及其制造方法 |
-
1991
- 1991-06-28 JP JP15873791A patent/JP3206019B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101869616B (zh) * | 2010-05-25 | 2013-12-04 | 郑志强 | 一种育发液及其制造方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH055756A (ja) | 1993-01-14 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP1431758A4 (en) | MEASURING INSTRUMENT AND CONCENTRATION MEASURING DEVICE | |
JP3206019B2 (ja) | 分析装置 | |
US7890074B2 (en) | Data acquisition system | |
JP3675047B2 (ja) | データ処理装置 | |
JPH10186041A (ja) | X線分析装置のパルスプロセッサ | |
SE9201972D0 (sv) | Felstroemsfilter | |
JPS5819183B2 (ja) | アナログファクシミリ信号の2値サンプリング法 | |
JPH0457092B2 (ja) | ||
JP3289438B2 (ja) | クロマトグラフィーのデータ処理装置 | |
JPH027511B2 (ja) | ||
JP2876762B2 (ja) | クロマトグラフのデータ処理装置 | |
JP3219893B2 (ja) | 原子炉出力解析装置 | |
JP3959177B2 (ja) | ガス分析計用機器の封入ガスシール方法 | |
JPH11142371A (ja) | 電子サンプリング回路 | |
JP3428417B2 (ja) | クロマトグラフ | |
JPH06258309A (ja) | プロセスガスクロマトグラフ | |
JP2001235419A (ja) | 赤外線ガス分析計 | |
JP2006133097A (ja) | 試験装置 | |
JPH04190158A (ja) | クロマトグラフによる定量分析方法および装置 | |
JP3618543B2 (ja) | 質量分析計における高分解能電場掃引装置 | |
JPS62294940A (ja) | クロマトスキヤナ | |
KR100200714B1 (ko) | 집적회로 측정 방법 및 이를 위한 장치 | |
JPH0587795A (ja) | ガスクロマトグラフ | |
JPS63131059A (ja) | ガスクロマトグラフ | |
JPH08212968A (ja) | 質量分析計 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |