JP3189910U - 粒子を監視する装置 - Google Patents
粒子を監視する装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP3189910U JP3189910U JP2014600002U JP2014600002U JP3189910U JP 3189910 U JP3189910 U JP 3189910U JP 2014600002 U JP2014600002 U JP 2014600002U JP 2014600002 U JP2014600002 U JP 2014600002U JP 3189910 U JP3189910 U JP 3189910U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- ejector
- aerosol
- supply channel
- stream
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 239000002245 particle Substances 0.000 title claims abstract description 43
- 238000012806 monitoring device Methods 0.000 title description 3
- 239000000443 aerosol Substances 0.000 claims abstract description 84
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 claims abstract description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 abstract description 2
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 13
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 8
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 6
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 6
- 238000005040 ion trap Methods 0.000 description 5
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 239000011859 microparticle Substances 0.000 description 3
- 238000009423 ventilation Methods 0.000 description 3
- 238000002485 combustion reaction Methods 0.000 description 2
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 2
- 239000010419 fine particle Substances 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005265 energy consumption Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000008821 health effect Effects 0.000 description 1
- 239000002105 nanoparticle Substances 0.000 description 1
- 239000000615 nonconductor Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N1/00—Sampling; Preparing specimens for investigation
- G01N1/02—Devices for withdrawing samples
- G01N1/22—Devices for withdrawing samples in the gaseous state
- G01N1/2247—Sampling from a flowing stream of gas
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N1/00—Sampling; Preparing specimens for investigation
- G01N1/02—Devices for withdrawing samples
- G01N1/22—Devices for withdrawing samples in the gaseous state
- G01N1/24—Suction devices
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N1/00—Sampling; Preparing specimens for investigation
- G01N1/28—Preparing specimens for investigation including physical details of (bio-)chemical methods covered elsewhere, e.g. G01N33/50, C12Q
- G01N1/38—Diluting, dispersing or mixing samples
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/06—Investigating concentration of particle suspensions
- G01N15/0656—Investigating concentration of particle suspensions using electric, e.g. electrostatic methods or magnetic methods
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N1/00—Sampling; Preparing specimens for investigation
- G01N1/02—Devices for withdrawing samples
- G01N1/22—Devices for withdrawing samples in the gaseous state
- G01N1/2202—Devices for withdrawing samples in the gaseous state involving separation of sample components during sampling
- G01N2001/222—Other features
- G01N2001/2223—Other features aerosol sampling devices
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N1/00—Sampling; Preparing specimens for investigation
- G01N1/02—Devices for withdrawing samples
- G01N1/22—Devices for withdrawing samples in the gaseous state
- G01N1/2247—Sampling from a flowing stream of gas
- G01N2001/2264—Sampling from a flowing stream of gas with dilution
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N1/00—Sampling; Preparing specimens for investigation
- G01N1/02—Devices for withdrawing samples
- G01N1/22—Devices for withdrawing samples in the gaseous state
- G01N1/24—Suction devices
- G01N2001/242—Injectors or ejectors
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N2015/0038—Investigating nanoparticles
Landscapes
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Pathology (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Biomedical Technology (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Dispersion Chemistry (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
- Nozzles (AREA)
- Indicating Or Recording The Presence, Absence, Or Direction Of Movement (AREA)
Abstract
【課題】エーロゾルを含むチャネル又は空間内の粒子を監視する装置を提供する。【解決手段】装置1は、入口チャンバ4と、エゼクタ24と、本質的に粒子のないガス流Cを、入口チャンバ4を介してエゼクタ24に送り込むように配置されるガス供給源6、16、18と、ガス供給源6、16、18及びエゼクタ24によってもたらされる吸引によってチャネル11又は空間から入口チャンバ4へとサンプル・エーロゾルの流れAをもたらすように配置される少なくとも1つのサンプル入口2とを備える。装置1は、サンプル・エーロゾルを本質的に粒子のないガス流Cに混合するために、サンプル入口2と入口チャンバ4との間に配置されるサンプル供給チャネル5をさらに備える。サンプル供給チャネル5は、サンプル・エーロゾルの流れAを本質的に粒子のないガス流Cとは反対方向に少なくとも部分的に方向付けるように配置される。【選択図】図1
Description
本考案は、粒子を監視する装置に関し、とりわけ、独立請求項1のプリアンブルに記載された装置に関する。
多くの工業プロセス及び燃焼プロセスにおいて微粒子が形成される。さらに、ダクト及び換気システム内に、並びに室内空間内に流れる吸い込み空気の中に、微粒子が存在する。さまざまな理由で、これらの微粒子が測定される。微粒子の測定は、それらによる健康への潜在的影響を理由に、並びに、工業プロセス及び燃焼プロセスの動作を監視することも理由に実施される場合がある。また、空気質を監視するために換気システム内の微粒子が測定される。微粒子を監視する別の理由は、工業プロセスにおけるナノサイズ粒子の使用及び製造の増加である。上記の理由により、信頼できる微粒子測定器及び方法が必要とされる。
微粒子を測定するための従来技術の方法及び装置の1つは、国際公開第2009/109688A1号の文献に記載されている。この従来技術の方法では、清浄で本質的に粒子のないガスが装置内に供給され、主流として、入口チャンバを介して装置内部に設けられたエゼクタに方向付けられる。さらに、清浄なガスは、入口チャンバに供給される前及びその間にイオン化される。イオン化された清浄なガスは、好ましくは音速で又は音速に近い速度でエゼクタに送ることができる。清浄なガスのイオン化は、例えばコロナ帯電器を用いて行うことができる。入口チャンバはさらに、微粒子を有するエーロゾルを含むチャネル又は空間と流体連通するように配置されたサンプル入口を備える。清浄なガスの流れ及びエゼクタは共に、サンプル・エーロゾルの流れがダクト又は空間から入口チャンバまで形成されるような、サンプル入口への吸引を生じさせる。したがって、サンプル・エーロゾルの流れは、例えばエゼクタへの側方流としてもたらされる。イオン化された清浄なガスは、粒子を帯電させる。帯電した粒子をさらに、エーロゾルを含有するダクト又は空間に戻すように案内することができる。よって、エーロゾルのサンプルの微粒子は、帯電した粒子によって運ばれる電荷を監視することによって監視される。自由イオンを除去すること、さらにイオン・トラップを用いて除去することが可能である。
微粒子監視装置に対する重要な要求の1つは、信頼できる動作及び効率的な動作である。さらに、これらの微粒子監視装置は、低いエネルギ消費で、且つ、微粒子測定をリアルタイムで継続的に実施するように動作され得ることも望ましい。
意外にも、従来技術の微粒子測定装置における1つの問題は、サンプル・エーロゾルの流れの中の粒子に対する非効率的な帯電であることが分っている。本質的に粒子のないイオン化ガスのエゼクタまでの速度が高いとき、サンプル・エーロゾルの流れの中の粒子を帯電させるためには限られた時間しかない。サンプル・エーロゾルの流れの中の粒子の非効率的な帯電により、粒子の測定が信頼できないものになる。
本考案の目的は、従来技術の欠点が克服された又は少なくとも軽減された装置を提供することである。本考案の目的は、請求項1の特徴部分による装置によって達成される。当該装置は、サンプル・エーロゾルを本質的に粒子のないガス流に混合するために、サンプル入口と入口チャンバとの間に配置されたサンプル供給チャネルを備える。
本考案の好ましい実施例は従属項に開示される。
本考案は、エーロゾルを含むチャネル又は空間内の粒子を監視する装置を提供する概念に基づく。当該装置内では、本質的に、サンプル・エーロゾルは、本質的に粒子のないガスに対する向流として装置に供給される。換言すると、サンプル・エーロゾルの流れは、サンプル・エーロゾルを本質的に粒子のないガス流に混合するために、本質的に粒子のないガス流とは反対方向に少なくとも部分的に導かれる。サンプル・エーロゾルは、本質的に粒子のないガス流とは反対方向に、又は、本質的に粒子のないガス流に対して所定の角度で、直接的に方向付けされ得る。よって、サンプル・エーロゾルの流れ方向は、本質的に粒子のないイオン化ガス流とは反対方向に流れ成分を有するように、サンプル・エーロゾルの流れは、装置に且つ本質的に粒子のないイオン化ガス流の方へ供給される。
本考案の目的は、サンプル入口と入口チャンバとの間に配置されたサンプル供給チャネルを備える装置によって達成される。サンプル供給チャネルは、サンプル・エーロゾルの流れを、本質的に粒子のないガス流とは反対方向に入口チャンバに少なくとも部分的に供給するように配置される。装置の本体内にサンプル供給チャネルを設けることができる。一実施例では、サンプル供給チャネルは入口チャンバ内に設けられる。サンプル供給チャネルは、装置の本体及びエゼクタによって形成されることが可能であり、又は、別個のコンジットとすることができる。
本考案の利点は、サンプル・エーロゾルの流れを、本質的に粒子のないイオン化ガス流に対して、反対方向に少なくとも部分的に方向付けることにより、サンプル・エーロゾルと本質的に粒子のないイオン化ガス流との効果的な混合がもたらされることである。サンプル・エーロゾルの流れと本質的に粒子のないイオン化ガス流との効果的な混合により、サンプル・エーロゾルの流れの中の粒子の帯電が向上且つ加速する。これにより、サンプル・エーロゾルの流れの中の粒子全てが確実に帯電される。粒子監視装置の動作はサンプル・エーロゾルの流れの中の粒子を帯電させることに基づく。したがって、サンプル・エーロゾルの流れの中の粒子の効率的且つ信頼できる帯電により、装置の動作が向上し、信頼できる正確な測定結果がもたらされることになる。
以下で、添付の図面を参照しながら、好ましい実施例に関連して本考案をより詳細に説明する。
図1は、微粒子、とりわけ、1μm未満の直径を有する粒子を監視する装置1の一実施例を示す。当該装置は本体17を有し、本体17内に、微粒子を監視又は測定するためにサンプル・エーロゾルの流れが導かれる。装置1は、エーロゾル・ダクト11に接続され、エーロゾル・ダクト11内には、エーロゾルの流れFが存在する。よって、装置1は、エーロゾルの流れFの中の微粒子を監視するように配置される。エーロゾル・ダクトは、工業プロセスの排気ダクト又は換気ダクトであってもよい。或いは、エーロゾル・ダクトは、エーロゾルを含む任意の空間、又は、エーロゾルの流れFを有する任意のダクト若しくはチャネルであってもよい。
装置1は、サンプル・エーロゾルの流れAを装置1へ導くためのサンプル入口2を備える。サンプル入口2は、エーロゾル・ダクト11及び装置1の内部と流体連通する。装置1は、好ましくは、分析されたサンプル・エーロゾルの流れBが装置1から排気される際に通るサンプル出口10も備える。図1の実施例では、分析されたサンプル・エーロゾルBは、エーロゾル・ダクト11に戻される。分析されたサンプル・エーロゾルBを周囲大気又は他の場所へ直接的に案内するように、サンプル出口10を配置することもできる。したがって、装置1は、サンプル・エーロゾルAを収集せず、又は蓄えない。代替実施例では、装置は、1つ又は複数のサンプル入口を備えるサンプル入口構成体2を備えることもできる。さらに、装置は、1つ又は複数のサンプル出口を備えるサンプル出口構成体10を備えることもできる。図1では、サンプル入口2及びサンプル出口10は、短いチャネルとして示されるが、代替実施例では、サンプル入口2及びサンプル出口10は、装置1の本体17に設けられた単なる開口であってもよい。
装置1は、入口チャンバ4を備え、サンプル入口2は、エーロゾル・ダクト11と入口チャンバ4との間で流体連通するように配置される。装置は、清浄で粒子のないガスCを入口チャンバ4へと供給するためのガス供給源をさらに備える。ガス供給源は、ガス供給接続18を備え、ガス供給接続18を介して、清浄なガスが、ガス源からもたらされ得る。ガスから粒子を本質的に除去するために、フィルタなどでガスを清浄にすることができる。清浄なガスは、空気又は他の適切なガスであってもよい。清浄なガスを、ガス源から温度調整器に送り込むことができ、温度調整器は、空気の加熱又は冷却いずれかを行うことができる。電磁バルブを切り替えることにより、フロー・コントローラへガスを送り込むことができ、清浄なガス流Cを所望の値に設定することができる。フロー・コントローラを、例えば、加減弁、臨界開口、フロー・メータ、マス・フロー・コントローラなどとすることができる。フロー・コントローラを、加圧ガスから粒子を本質的に除去するフィルタに接続することができ、それによって、加圧ガス内の粒子濃度は、サンプル・エーロゾルの流れA内の粒子濃度よりも際立って低くなる。次に、清浄なガスは、ガス供給接続18を通して測定装置1に送り込まれる。
装置1は、清浄なガスの供給チャネル16をさらに備え、清浄なガスの供給チャネル16を通して、清浄なガスが装置1の入口チャンバ4に送り込まれる。清浄なガスの供給チャネルは、入口チャンバ4の中へ開口するノズル・ヘッド6を備える。清浄なガスの供給源は、清浄なガスをノズル・ヘッド6から入口チャンバ4に送り込む前又はその間に清浄なガスの少なくとも一部をイオン化するイオン化デバイス14も備える。図1の実施例では、イオン化デバイスは、清浄なガスの供給チャネル16内に延在するコロナ・ニードル14である。ノズル・ヘッド6及びコロナ・ニードル14は、有利には、コロナ・ニードル14がノズル・ヘッド6付近に本質的に延在するように配置される。これにより、コロナ・ニードル14は清潔なままであり、イオン生成が向上する。コロナ・ニードル14は、1つ又は複数の電気絶縁体20によって、清浄なガスのチャネル、及び、装置1の本体17から分離される。上記にしたがって、ガスの供給チャネル16は、本質的に粒子のないイオン化ガス流Cを入口チャンバ4にもたらすように配置される。
装置は、エゼクタ24をさらに備える。したがって、エゼクタ24は中細チャネルを形成する中細ノズル24と、エゼクタ24のスロート8とを備える。エゼクタ24は、中細ノズルのベンチュリ効果を利用して、主流体流の圧力エネルギを運動エネルギに変換する、ポンプのようなデバイスである。運動エネルギは、側方流体流を吸引する及び側方流体流の吸引を同伴する低圧ゾーンを作り出す。主流体流及び側方流体流は、少なくとも部分的にエゼクタ24で混合される。主流体流及び側方流体流は、エゼクタ入口開口部7を通してエゼクタ・スロート8に送り込まれる。エゼクタ24のスロート8を通過後、混合流体が膨張し且つ速度が低下し、結果として、速度エネルギを圧力エネルギに変換し戻すことによって混合流体の再圧縮が生じる。代替実施例では、装置は、1つ又は複数の清浄なガスの供給チャネル16、コロナ・ニードル14及びエゼクタ24を備えることもできる。
図1の実施例では、本質的に粒子のないイオン化ガス流Cは、主流としてエゼクタのスロート8に送り込まれる。したがって、清浄なガスの供給チャネル16及びノズル・ヘッド6は、本質的に粒子のないガス流Cを高速でスロート8に送り込むように配置される。本質的に粒子のないガス流Cの速度は、音速、又は、音速に近い速度が好ましい。エゼクタ24では、本質的に粒子のないガス流Cは、サンプル入口2に対して吸引力を形成し、サンプル・エーロゾルの流れAが入口チャンバ4に吸引され得るようにする。サンプル・エーロゾルの流れAは、エゼクタ24の側方流を形成する。サンプル・エーロゾルの流れAの流量は、本質的に、エゼクタ24の形状、及び、本質的に粒子のないイオン化ガス流Cの流量によってのみ左右される。好ましい実施例では、主流Cの側方流Aに対する比率は小さく、好ましくは1:1未満であり、より好ましくは1:3未満である。上記によると、サンプル・エーロゾルの流れAを装置1に積極的に送り込む必要はないが、それは、清浄なガスの供給源及びエゼクタ24によって吸引されることが可能である。
本質的に粒子のないイオン化ガス流C、及び、サンプル・エーロゾルの流れは、入口チャンバ4及びエゼクタ24で混合され、それにより、サンプル・エーロゾルの流れAの粒子は、イオン化された清浄なガス流Cによる混合が行われる間に帯電されるようになっている。装置1は、イオン捕捉室22をさらに備える。イオン捕捉室22は、サンプル・エーロゾルの流れAの粒子に付着していないイオンを除去するためのイオン・トラップ12を備える。イオン・トラップ12は、上記の自由イオンを除去するための収集電圧を備える。自由イオンを捕捉するために使用される電圧は、装置1の設計パラメータに左右されるが、通常、イオン・トラップ12の電圧は、10V〜30kVである。また、イオン・トラップ12の電圧は、除去された核モードの粒子又は凝集モードの最小粒子に対してさえも調節され得る。
混合されたサンプル・エーロゾル及び本質的に清浄なガスは、サンプル・エーロゾルのイオン化粒子と共に出口10を通して装置1から放出される。出口10は、吐出流Bを装置1から外へ排出するために、イオン捕捉室22と流体連通する。出口10は、吐出流Bをエーロゾル・ダクト11に戻すか、周囲大気又は他の場所に供給するように配置され得る。
エーロゾル・ダクト11内のエーロゾルFの粒子は、サンプル・エーロゾルの流れAの帯電した粒子によって運ばれる電荷を測定することによって監視される。好ましい実施例では、エーロゾルFの粒子は、帯電した粒子と共に装置1から漏出する電荷を測定することによって監視される。帯電した粒子によって運ばれる電荷の測定を多くの他の方法によって行うことができる。一実施例では、帯電した粒子によって運ばれる電荷を、サンプル出口10から漏出する正味電流を測定することによって測定することができる。小電流を通常はpAレベルで測定することができるように、装置1全体を周囲のシステムから分離する。分離された装置(すなわち、本体17の壁内のパイント)と周囲のシステムの接地点との間で電位計を組み立てることができる。この種の構成によって、電位計は、イオン化粒子と共に、分離された装置1から漏出する電荷を測定することができる。換言すると、この種の構成により漏出する電流が測定される。
本考案では、入口チャンバ4内での本質的に粒子のないイオン化ガス流とサンプル・エーロゾルとの混合は、サンプル・エーロゾルの流れCを、本質的に粒子のないガス流Cとは反対方向に入口チャンバ4に少なくとも部分的に送り込むことによって向上する。したがって、装置1は、サンプル供給チャネル5を備える。図5では、サンプル供給チャネル5は、サンプル・エーロゾルを、本質的に粒子のないガス流Cとは本質的に反対方向に入口チャンバ4へと送り込むように配置される。図1に示されるように、サンプル供給チャネル5は、エゼクタ・スロート8及び清浄なガスの供給チャネル16と本質的に平行に延在する。よって、サンプル・エーロゾルは、本質的に粒子のないイオン化ガス流Cに対する向流として、矢印Dの方向に、入口チャンバ4に送り込まれる。
図1に示されるように、サンプル供給チャネル5は、サンプル入口2と入口チャンバ4との間に配置される。この配置により、サンプル・エーロゾルと本質的に粒子のないイオン化ガスとが、入口チャンバ4内でそれぞれ反対方向に流れると、それらは、効率的に混合される。図1の実施例では、サンプル入口2は、ノズル・ヘッド6の下流に設けられ、サンプル供給チャネル5は、サンプル入口2から清浄なガスの供給チャネル16とは反対方向に延在する。さらに、サンプル入口2は、エゼクタ入口開口部7の下流に設けられ、サンプル供給チャネル5は、本質的に粒子のないガス流Cの流れ方向に、実質的にサンプル入口2とエゼクタ入口開口部7との間に延在する。図1の実施例では、サンプル供給チャネル5は、装置の本体17内に設けられる。サンプル供給チャネルを、入口チャンバ4内に少なくとも部分的に設けることもできる。図1のサンプル供給チャネルは、装置の本体17の側壁とエゼクタ24の構造体とによって形成される。しかしながら、サンプル供給チャネルを、装置1の本体17内に、又は、入口チャンバ4内に配置される別個のコンジット又はパイプなどによって設けることもできる。
図2は、本質的に粒子のないガス流Cとは反対方向に、又は換言すると、本質的に粒子のないガス流Cの流れ方向に対して所定の角度で、サンプル・エーロゾルが少なくとも部分的に送り込まれる本考案の別の実施例を示す。一実施例では、サンプル・エーロゾルの流れは、本質的に粒子のないガス流Cの流れ方向に対して45度未満の角度で、入口チャンバ4に送り込まれる。別の実施例では、サンプル・エーロゾルの流れは、本質的に粒子のないガス流Cの流れ方向に対する30度未満の角度で、入口チャンバ4に送り込まれるのが好ましい。上記角度は十分に小さいものでなければならず、サンプル供給チャネルは、本質的に粒子のないイオン化ガス流Cが本質的に粒子のないイオン化ガスの流れによってサンプル供給チャネル5へもたらされる圧力が高すぎないように配置されなければならない。これは、本質的に粒子のないイオン化ガス流がサンプル供給チャネルへ入り込むことができないことを意味する。これにより、エーロゾルのチャネルから装置までの吸引が確実に維持される。図2に示されるように、サンプル供給チャネル5は、矢印Dの方向に、本質的に粒子のないイオン化ガス流Cへ向かう角度で、サンプル・エーロゾルの流れを方向付けすることで、その流れが効率的に混合され、サンプル・エーロゾルの粒子が帯電されるようにする。これにより、サンプル・エーロゾルの粒子が急速にイオン化される。
図2に示されるように、サンプル供給チャネルは、本質的に粒子のないガス流Cの方へ、サンプル・エーロゾルの対向流を少なくとも部分的にもたらす。これは、サンプル供給チャネル5を45度未満の角度で、好ましくは、図2に示されるように、エゼクタ・スロート8、又は、本質的に粒子のないイオン化ガス流C、若しくは、清浄なガスの供給チャネル16の流れ方向に対して30度未満に延在するように配置することによって達成される。図2の実施例では、サンプル入口2は、ノズル・ヘッド6の下流に設けられ、サンプル供給チャネル5は、清浄なガス供給チャネル16とは反対方向の角度でサンプル入口2から延在する。さらにサンプル入口2は、エゼクタ入口開口部7の下流に設けられ、サンプル供給チャネル5は、実質的にサンプル入口2とエゼクタ入口開口部7との間に延在する。図2の実施例では、サンプル供給チャネル5は、装置の本体17内に設けられる。サンプル供給チャネルを、少なくとも部分的に入口チャンバ4内に設けることもできる。図1のサンプル供給チャネルは、エゼクタ24の構造体によって形成される。しかしながら、サンプル供給チャネルを、装置1の本体17内に又は入口チャンバ4内に配置された別個のコンジット又はパイプなどによって設けることもできる。また、サンプル供給チャネル5を設けるために、他の構造上の特徴を装置に追加することもできる。
技術の進歩に伴って、本考案の基本的概念をさまざまな方法で実行可能であることは、当業者には明らかである。したがって、本考案及びその実施例は上記実例に制限されるのではなく、実用新案登録請求の範囲内で変更可能である。
Claims (16)
- エーロゾルを含むチャネル(11)又は空間内の粒子(54)を監視する装置(1)であって、前記装置(1)は、
入口チャンバ(4)と、
エゼクタ(24)と、
本質的に粒子のないガス流(C)を、前記入口チャンバ(4)を介して前記エゼクタ(24)に送り込むように配置されるガス供給源(6、16、18)と、
前記ガス供給源(6、16、18)及び前記エゼクタ(24)によってもたらされる吸引によって前記チャネル(11)又は前記空間から前記入口チャンバ(4)へとサンプル・エーロゾルの流れ(A)をもたらすように配置される少なくとも1つのサンプル入口(2)とを備え、
前記装置(1)は、前記サンプル・エーロゾルを前記本質的に粒子のないガス流(C)に混合するために、前記サンプル入口(2)と前記入口チャンバ(4)との間に配置されるサンプル供給チャネル(5)をさらに備え、
前記サンプル供給チャネル(5)は、前記サンプル・エーロゾルの流れ(A)を前記本質的に粒子のないガス流(C)とは反対方向に少なくとも部分的に方向付けるように配置されることを特徴とする、装置。 - 前記サンプル供給チャネル(5)は、前記サンプル・エーロゾルの流れ(A)を前記本質的に粒子のないガス流(C)とは反対方向に本質的に方向付けるように配置されることを特徴とする、請求項1に記載の装置。
- 前記サンプル供給チャネル(5)は、前記サンプル・エーロゾルの流れ(A)を前記本質的に粒子のないガス流(C)に対して所定の角度で方向付けるように配置されることを特徴とする、請求項1に記載の装置。
- 前記サンプル供給チャネル(5)は、前記サンプル・エーロゾルの流れ(A)を前記本質的に粒子のないガス流(C)に対して45度未満の角度で方向付けるように配置されることを特徴とする、請求項3に記載の装置。
- 前記サンプル供給チャネル(5)は、前記サンプル・エーロゾルの流れ(A)を前記本質的に粒子のないガス流(C)に対して30度未満の角度で方向付けるように配置されることを特徴とする、請求項3又は4に記載の装置。
- 前記サンプル供給チャネル(5)は、前記本質的に粒子のないガス流(C)の方へ、前記サンプル・エーロゾルの流れ(A)の対向流を少なくとも部分的にもたらすように配置されることを特徴とする、請求項1から5までのいずれか一項に記載の装置。
- 前記ガス供給源(6、16、18)は、前記本質的に粒子のないガス流(C)を前記エゼクタ(24)に送り込むように配置されるノズル・ヘッド(6)を備え、前記サンプル入口(2)は、前記ノズル・ヘッド(6)の下流に設けられることを特徴とする、請求項1から6までのいずれか一項に記載の装置。
- 前記エゼクタ(24)は、前記本質的に粒子のないガス流(C)と前記サンプル・エーロゾル(A)が前記エゼクタ(24)に供給される際に通るエゼクタ入口開口部(7)を備え、前記サンプル入口(2)は、前記エゼクタ入口開口部(7)の下流に設けられることを特徴とする、請求項1から7までのいずれか一項に記載の装置。
- 前記サンプル供給チャネル(5)は、前記本質的に粒子のないガス流(C)の流れ方向に、前記サンプル入口(2)と前記エゼクタ入口開口部(7)との間に延在することを特徴とする、請求項8に記載の装置。
- 前記エゼクタ(24)は、前記本質的に粒子のないガス流(C)と前記サンプル・エーロゾル(A)とが流れる際に通るエゼクタ・スロート(8)を備え、前記サンプル供給チャネル(5)は前記エゼクタ・スロート(8)と本質的に平行に延在するように配置されることを特徴とする、請求項1から9までのいずれか一項に記載の装置。
- 前記エゼクタ(24)は、前記本質的に粒子のないガス流(C)と前記サンプル・エーロゾル(A)とが流れる際に通る前記エゼクタ・スロート(8)を備え、前記サンプル供給チャネル(5)は、45度未満、好ましくは、前記エゼクタ・スロート(8)に対して30度未満の角度に延在するように配置されることを特徴とする、請求項1から9までのいずれか一項に記載の装置。
- 前記装置(1)は本体(17)を備え、前記サンプル供給チャネル(5)は前記装置(1)の前記本体(17)内に設けられることを特徴とする、請求項1から11までのいずれか一項に記載の装置。
- 前記サンプル供給チャネル(5)は前記入口チャンバ(4)内に少なくとも部分的に設けられることを特徴とする、請求項1から12までのいずれか一項に記載の装置。
- 前記サンプル供給チャネル(5)は、前記装置(1)の前記本体(17)と前記エゼクタ(24)とによって形成されることを特徴とする、請求項1から13までのいずれか一項に記載の装置。
- 前記サンプル供給チャネル(5)は、前記装置(1)の前記本体(17)内に配置される別個のコンジットによって形成されることを特徴とする、請求項1から13までのいずれか一項に記載の装置。
- 前記装置(1)は、前記本質的に粒子のないガス流(C)の少なくとも一部をイオン化するイオン化デバイス(14)を備えることを特徴とする、請求項1から15までのいずれか一項に記載の装置。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FI20115272 | 2011-03-21 | ||
FI20115272A FI20115272A0 (fi) | 2011-03-21 | 2011-03-21 | Laitteisto hiukkasten tarkkailemiseksi |
PCT/FI2012/050246 WO2012127104A1 (en) | 2011-03-21 | 2012-03-15 | Apparatus for monitoring particles |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP3189910U true JP3189910U (ja) | 2014-04-10 |
Family
ID=43806482
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014600002U Expired - Fee Related JP3189910U (ja) | 2011-03-21 | 2012-03-15 | 粒子を監視する装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3189910U (ja) |
CN (1) | CN203705221U (ja) |
DE (1) | DE212012000076U1 (ja) |
FI (1) | FI20115272A0 (ja) |
WO (1) | WO2012127104A1 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014503077A (ja) * | 2011-01-18 | 2014-02-06 | ペガソー オーワイ | 粒子モニター装置及び方法 |
JP2014145627A (ja) * | 2013-01-28 | 2014-08-14 | Ngk Spark Plug Co Ltd | 外部ガス流を利用した微粒子センサ |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB201609868D0 (en) | 2016-06-06 | 2016-07-20 | Cambridge Entpr Ltd | Particle measurement apparatus |
CN107607447A (zh) * | 2017-08-21 | 2018-01-19 | 黑龙江科技大学 | 一种精确测量低浓度粉尘浓度的装置和方法 |
JP2019168245A (ja) * | 2018-03-22 | 2019-10-03 | 日本特殊陶業株式会社 | 微粒子センサの取付構造、微粒子センサ、センサ取付部、及びセンサ取付部付き通気管 |
JP2019168243A (ja) * | 2018-03-22 | 2019-10-03 | 日本特殊陶業株式会社 | 微粒子センサ |
JP2019168246A (ja) * | 2018-03-22 | 2019-10-03 | 日本特殊陶業株式会社 | 微粒子センサ |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3986386A (en) * | 1974-04-12 | 1976-10-19 | Exxon Research And Engineering Company | Particulate sampling system |
JP2004205253A (ja) * | 2002-12-24 | 2004-07-22 | Horiba Ltd | 排ガス希釈装置 |
FI20080182A0 (fi) | 2008-03-04 | 2008-03-04 | Navaro 245 Oy | Mittausmenetelmä ja -laite |
-
2011
- 2011-03-21 FI FI20115272A patent/FI20115272A0/fi not_active Application Discontinuation
-
2012
- 2012-03-15 WO PCT/FI2012/050246 patent/WO2012127104A1/en active Application Filing
- 2012-03-15 CN CN201290000376.7U patent/CN203705221U/zh not_active Expired - Fee Related
- 2012-03-15 JP JP2014600002U patent/JP3189910U/ja not_active Expired - Fee Related
- 2012-03-15 DE DE212012000076U patent/DE212012000076U1/de not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014503077A (ja) * | 2011-01-18 | 2014-02-06 | ペガソー オーワイ | 粒子モニター装置及び方法 |
JP2014145627A (ja) * | 2013-01-28 | 2014-08-14 | Ngk Spark Plug Co Ltd | 外部ガス流を利用した微粒子センサ |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
FI20115272A0 (fi) | 2011-03-21 |
CN203705221U (zh) | 2014-07-09 |
DE212012000076U1 (de) | 2013-10-24 |
WO2012127104A1 (en) | 2012-09-27 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3189910U (ja) | 粒子を監視する装置 | |
KR101659486B1 (ko) | 에어로졸 상태의 입자들을 모니터하기 위한 장치 | |
KR101556252B1 (ko) | 입자 측정 방법 및 장치 | |
CN105424570B (zh) | 一种机动车尾气细颗粒物数浓度的测量装置及方法 | |
CN202939037U (zh) | 用于监测内燃机的排气系统中的细小颗粒浓度的设备 | |
CN203443878U (zh) | 用于监测包括气溶胶的通道或空间内的颗粒的装置 | |
US20150192508A1 (en) | Apparatus and Process for Producing Acknowledged Air Flow and The Use of Such Apparatus in Measuring Particle Concentration in Acknowledged Air Flow | |
KR101312318B1 (ko) | 자연대류형 에어로졸 시험 장치 및 그 시험방법 | |
JP6049636B2 (ja) | 粒子モニター装置及び方法 | |
CN104867806A (zh) | 用于解吸附样品的进样方法和装置 | |
SE449440B (sv) | Nebulisator for framstellning av submicron, homogen aerosol | |
FI126815B (en) | EQUIPMENT FOR PARTICULATE MONITORING | |
JP2005078980A (ja) | 除電装置 | |
JP6134572B2 (ja) | 微粒子測定装置 | |
TWI310703B (en) | An electrospraying of particles collecting system |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20131121 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 3189910 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |