JP3176861B2 - 位置測定装置 - Google Patents

位置測定装置

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  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、目盛板が一連の
異なったコード語を形成するため、測定方向へ連続的に
配置された符号要素付きの符号トラックを有し、走査ユ
ニットが重なっていない多数の完全なコード語を走査す
るため、測定方向へ連続的に配置された検出素子を有
し、コード語あるいは復号化されたコード語を誤り検査
装置に導入し、誤りに関して検査し、目盛板に対して測
定方向に相対移動する走査ユニットの絶対位置を測定す
る位置測定装置に関する。
【0002】
【従来の技術】この種の位置測定装置は特開平4−15
22号公報に開示されている。図2に示す位置測定装置
の場合、目盛板は測定方向へ連続的に配置された符号要
素を伴う符号トラックで構成されている。これ等の符号
要素は擬似ランダム分布にして配置されているので、連
続的に配置された一定数の符号要素がそれぞれ一つのコ
ード語を、または全ての符号要素が連続した並びのコー
ド語を形成する。この種のコードはチェーン・コードと
称されている。目盛板は多数のグループの検出素子で走
査され、同時に多数の複雑で重なっていないコード語を
走査する。読取誤りを認識するため、これ等のコード語
は誤り検査装置に導入され、そこで実測位置の間隔が検
出グループの間隔と比較される。そして、両者が一致し
ないと、警報信号が出力される。
【0003】この位置測定装置の難点は、主にコード語
に誤りのある読取を認識することにある。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】この発明の課題は、使
用にあって信頼性の高い位置測定装置を提供することに
ある。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記の課題は、この発明
により、目盛板1が一連の異なったコード語CWを形成
するため、測定方向Xへ連続的に配置された符号要素C
付きの符号トラック3を有し、走査ユニット2,12が
重なっていない多数の完全なコード語CWを走査するた
め、測定方向Xへ連続的に配置された検出素子Dを有
し、コード語CWあるいは復号化されたコード語AWを
誤り検査装置5,15に導入し、誤りに関して検査し、
目盛板1に対して測定方向Xに相対移動する走査ユニッ
ト2,12の絶対位置を測定する位置測定装置にあっ
て、同時に検出した多数のコード語CWから正しいコー
ド語CWを認識し、その時の絶対位置を決定するため、
前記の正しいコード語CWを使用し、誤りを含むと解し
たコード語CWを他の処理に対して排除することによっ
て解決されている。
【0006】この発明による他の有利な構成は、特許請
求の範囲の従属請求項に記載されている。
【0007】
【発明の実施の形態】以下、図面に示す実施例に基づき
この発明をより詳しく説明する。図1には、目盛板1が
示してあり、この目盛板1に対して相対運動する走査ユ
ニット2により走査される。目盛板1には、測定方向X
へ連続的に並んだ幅P1の符号要素Cを有する符号トラ
ック3がある。符号要素Cはチェーン・コードを形成す
る。つまり、符号要素Cは測定方向Xへ擬似ランダムに
分布し、連続した並びの異なったコード語を形成する。
ハッチングを付けた符号要素C35, C37は、例えば非透
光性で、ハッチングを付けていない符号要素、例えばC
36は透光性である。そのため、目盛板1を光電走査する
と、各非透光性の符号要素Cに二進値0が、また各透光
性の符号要素Cに二進値1が付属している。符号要素C
は磁気的あるいは静電容量的に走査できるように形成す
ることもできる。この種のチェーン・コードは、例えば
ドイツ特許第 39 42 625 A1 号明細書に詳しく開示され
ている。チェーン・コードを用いると、絶対位置測定装
置を特に簡単にしかも場所を節約して形成できる。
【0008】符号トラック3を走査するため、測定方向
Xへ連続的に配置されている多数の検出素子Dが設けて
ある。これ等の検出素子Dはフォトダイオード・アレー
の受光領域、所謂CCDアレー(CCD= charge coup
led device)である。検出素子Dの間隔P2 は、理解を
容易にする例の場合、符号要素Cの幅P1 と同じであ
る。この発明は、符号要素Cの幅P1 がP2 とは異なる
場合、特にP1 がP2 の数倍になっている場合でも使用
できる。
【0009】走査ユニット2には、重なっていない完全
な3つのコード語CWを読み取るため、少なくとも複数
の検出素子Dがある。各コード語CWはこの例の場合 1
6 ビットで構成され、二つのコード語の間の間隔はそれ
ぞれ 4ビットである。その結果、走査範囲は 56 ビット
あるいは 56 符号要素となる。3つのコード語CW46,
CW66, CW86は、共通の走査時点で符号トラック3の
互いに間隔を保った位置のところで生じ、各コード語C
W46, CW66, CW86の絶対位置AW46, AW66, AW
86を決定するため復号化装置4に導入される。復号化装
置4は、例えばEPROMの表の形にした記憶器であ
り、そのアドレスはコード語CW46, CW66, CW86で
ある。この発明によれば、コード語CW46, CW66, C
W86自体あるいはこれ等から得られる絶対位置AW46,
AW66, AW86を図2の誤り検査装置5に導入する。こ
の誤り検査装置5では、可能な全ての差、つまりコード
語CW46, CW66, CW86の測定した間隔IA1,IA2,
IA3 を算出し、目標間隔SA1,SA2,SA3 と比較す
る。これ等の目標間隔SA1,SA2,SA3 は検出素子D
の配置から与えられる。コード語CW45とコード語CW
66の間の目標間隔SA1 およびコード語CW66とコード
語CW86の間の目標間隔SA2 はそれぞれ 20ビットに
なり、コード語長プラスそれぞれ 4ビットの中間スペー
スに相当する。コード語CW46とコード語CW86の間の
目標間隔SA3 は 40 ビットであり、二つのコード語長
プラスそれぞれ 4ビットの二つの中間スペースに相当す
る。比較結果に応じて、誤り読取と解されたコード語C
W66,CW86を他の処理に対して排除し、正しい読取と
解されたコード語CW46は後続電子回路6,例えば位置
表示部あるいはNC制御部に導入する。正しい読取と解
されたコード語CW46を使用する選択回路7は図2に模
式的に示してある。以下に表を示す。この表に従い選択
回路7は比較結果に応じて定まるコード語CW46〜CW
86を次の処理に対して阻止する(無効)あるいは使用す
る(有効)。
【0010】
【表1】 3つのコード語CW46〜CW86の場合、どれか一つのコ
ード語が誤りで、これを認識でき、残りの二つのコード
語の一つを正しいコード語として更に処理するため後続
電子回路6へ導入し、測定動作を中断しないことが分か
る。重なっていないコード語CWを多数走査すれば、そ
れだけ多数のコード語が誤りを含むが、それにもかかわ
らず他のコード語CWの一つを正しいコード語CWとし
て判別して他の処理に導入する。同時に多数のコード語
CWを走査すれば、それだけコード語CWの少なくとも
一つを正しいものとして認識する確率が高く、位置測定
装置を使用する場合の信頼性が高まる。4つのコード語
を走査する場合、任意の二つのコード語が誤りを含んで
よいので、使用時の信頼性は支持できる経費で著しく高
まることが分かる。
【0011】誤り検査装置5が更に誤りと認識したコー
ド語CWの数に応じて警報信号Wを出力するなら特に有
利である。図3には、この発明の他の実施例が示してあ
る。走査ユニット12により符号トラック3から重なっ
ていない少なくとも2つのコード語CW100 とCW150
が読み取られる。符号トラック3の符号には、例えば検
査ビットがあるので、誤りを含む読取コード語CW100
を周知の規則に従って認識できる。これには、両方のコ
ード語CW100 とCW150 を誤り検査装置15に導入
し、この中で各コード語CW100,CW150 を他方のコー
ド語CW150,CW100 とは無関係に周知の規則に従い検
査する。誤りを含むと解されたコード語CW100 は選択
回路17により他の処理に対して排除される。これに反
して、一方の正しいと解されたコード語CW150 を後続
電子回路16に導入する。コード語CW100,CW150 の
誤り検査は、最も簡単な場合、ドイツ特許第 12 87 630
C号明細書あるいはドイツ実用新案登録第 80 25 630 C
号明細書による周知のパリティー検査あるいは冗長ビッ
トを走査して行われる。コード語CW100,CW150 を検
査する規則は、例えば W.Wesley Peterson の書籍、Pru
efbare und korrigierbare Codes (検査可能で修正可
能なコード),Oldenbourg Verlag, 1967 年の特に第 1
84〜 215頁に開示されているので、これに対して詳しい
説明は省く。図示していないが、コード語CW100,CW
150 の代わりに、復号化されたコード語も誤り検査装置
15に導入できる。
【0012】後続電子回路6,16に導入される正しい
と解されたコード語あるいは絶対位置は検出素子の目標
位置に応じて修正されることは当然自明である。例え
ば、正しい絶対位置が最初の 16 個の検出素子により得
られ、これ等の検出素子が基準位置として使用されるな
ら、コード語CW46を直接、あるいは復号化して後続電
子回路6に導入できる。しかし、この場合、コード語C
W66が正しいと解されれば、このコード語CW66を前記
基準位置に対する間隔SA1 ほど修正しなければならな
い。コード語CW86が正しいと解されれば、このコード
語CW86を間隔SA3 ほど修正しなければならない。こ
の修正は電算機で行われる。この電算機内では、例えば
(CW66マイナスSA1 )あるいは(CW86マイナスS
A3 )の計算が行われる。選択された基準位置に対する
間隔SA1,SA3 を計算する他の可能性は、誤りのない
場合、AW46=AW66=AW86となるように復号化装置
4を形成することにある。これは、例えばコード語CW
46のデコード表に対して、コード語CW66のデコード表
を 20 桁ほど、またコード語CW86のデコード表を 40
桁ほどずらして読み取ることによって達成される。
【0013】この発明は、単一チェーン・コードを走査
する場合に特に有利に採用できる。この場合、走査ユニ
ット2をただ一つの符号素子Cほどずらすだけで異なっ
たコード語となる。この発明は、単一トラックのブロッ
クコードのある絶対位置測定装置にも採用できる。この
発明は測長装置や測角装置に採用できる。分解能を高め
るため、符号トラックの傍に増分式トラックを配置して
いもよい。
【0014】
【発明の効果】以上説明したように、この発明で得られ
る利点は、特に符号トラックの走査された部分の誤りが
認識されるだけでなく、誤りを含むコード語を除去し
て、許容される点にある。互いに完全に無関係な多数の
コード語を走査する場合、少なくとも一つのコード語を
正しく読み取る確率は非常に大きい。それ故、この発明
により位置測定装置の使用時の信頼性が高まる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 目盛板と走査ユニットの平面図、
【図2】 この発明の誤り検査装置のブロック図、
【図3】 他の誤り検査装置のブロック図。
【符号の説明】
1 目盛板 2,12 走査ユニット 3 符号トラック 4 復号化装置 5,15 誤り検査装置 6,16 後続電子回路 7,17 選択回路 C 符号要素 D 検出素子 P1 符号要素の幅 P2 検出素子の間隔 X 測定方向 W 警報信号 CW コード語 AW 絶対位置 IA コード語の実測間隔 SA 検出素子により与えられる目標間隔
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ヤン・ブラーシユ ドイツ連邦共和国、83352 アルテンマ ルクト、シユタイナー・ストラーセ、13 (56)参考文献 特開 昭57−64893(JP,A) 特開 平5−252037(JP,A) 特開 平6−258100(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01D 5/00 - 5/62 G01B 11/00 - 11/30 G01B 21/00

Claims (8)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 目盛板(1)が一連の異なったコード語
    (CW)を形成するため、測定方向(X)へ連続的に配
    置された符号要素(C)付きの符号トラック(3)を有
    し、走査ユニット(2,12)が重なっていない多数の
    完全なコード語(CW)を走査するため、測定方向
    (X)へ連続的に配置された検出素子(D)を有し、コ
    ード語(CW)あるいは復号化されたコード語(AW)
    を誤り検査装置(5,15)に導入し、誤りに関して検
    査し、目盛板(1)に対して測定方向(X)に相対移動
    する走査ユニット(2,12)の絶対位置を測定する位
    置測定装置において、同時に検出した多数のコード語
    (CW)から正しいコード語(CW)を認識し、その時
    の絶対位置を決定するため、前記の正しいコード語(C
    W)を使用し、誤りを含むと解したコード語(CW)を
    他の処理に対して排除することを特徴とする位置測定装
    置。
  2. 【請求項2】 符号トラック(3)に連続的に配置され
    た符号要素(C)は、連続する並びの異なったコード語
    (CW)を形成するチェーン・コードの形になった擬似
    ランダム分布を有することを特徴とする請求項1に記載
    の位置測定装置。
  3. 【請求項3】 選択回路(7,17)を設け、この選択
    回路には全てのコード語(CW)が導入され、誤り検査
    の結果に応じて、多数のコード語(CW)のなかの正し
    いと解されたコード語(CW)が他の処理に対して使用
    され、これに反して誤りを含むと解されたコード語(C
    W)がその時の絶対位置を求める他の処理に対して排除
    されることを特徴とする請求項1または2に記載の位置
    測定装置。
  4. 【請求項4】 重なっていない少なくとも3つの異なっ
    たコード語(CW46, CW66, CW86)を同時に走査
    し、これ等のコード語が所定の相互目標間隔(SA1,S
    A2,SA3 )を有し、誤り検査装置(5)の中でコード
    語(CW46, CW66, CW86)の実測間隔(IA1,IA
    2,IA3 )を求め、目標間隔(SA1,SA2,SA3 )と
    それぞれ比較することを特徴とする請求項1〜3の何れ
    か1項に記載の位置測定装置。
  5. 【請求項5】 全てのコード語(CW46, CW66, CW
    86)の可能な全ての相互実測間隔(IA1,IA2,IA3
    )は目標間隔(SA1,SA2,SA3 )とそれぞれ比較
    されることを特徴とする請求項4に記載の位置測定装
    置。
  6. 【請求項6】 重なっていない少なくとも2つの異なっ
    たコード語(CW100,CW150 )を同時に走査し、誤り
    検査装置(15)の中で各コード語(CW100,CW150
    )を誤りに関して検査することを特徴とする請求項1
    〜3の何れか1項に記載の位置測定装置。
  7. 【請求項7】 コード語(CW)を検出するため、全て
    の検出素子(D)はただ一つのCCDアレーあるいはフ
    ォトダイオードの列の中に形成されていることを特徴と
    する請求項1〜6の何れか1項に記載の位置測定装置。
  8. 【請求項8】 誤りを含むと解されたコード語(CW)
    の数に応じて、警報信号(W)が出力されることを特徴
    とする請求項4または5に記載の位置測定装置。
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