JP3173813B2 - フラックス塗布方法 - Google Patents

フラックス塗布方法

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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】〔発明の目的〕
【0002】
【産業上の利用分野】本発明は、プリント基板へのフラ
ックス塗布方法に関するものである。
【0003】
【従来の技術】従来のスプレー式および発泡式フラック
ス塗布方法は、フラックスを基板の全面に均一に塗布す
るようにしている。例えば、スプレー式は、自動はんだ
付け装置のコンベヤにより搬送中の基板に対し、基板の
先端から後端にわたって噴霧ノズルから一定流量のフラ
ックスを連続的に噴霧することにより、基板にフラック
スを均一に塗布するようにしている。また、発泡式は、
発泡ノズルから一定流量で発泡されたフラックスを基板
に均一に塗布するようにしている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】このような従来の連続
噴霧によるフラックス塗布方法や発泡式フラックス塗布
方法では、フラックス塗布量を応答良く正確に制御する
ことは非常に困難であり、一枚の基板の所定部分に所定
量のフラックスを制御して塗布することは不可能であっ
た。
【0005】そのため、本来多くのフラックス量を必要
としていない部分にも無駄な量のフラックスを塗布し、
結果として、はんだ付け性の低下やフラックス残渣の量
を増やし、信頼性等の点で問題となっている。一方、基
板の前端部や基板搭載部品密度の粗い部分では、基板を
噴流式はんだ槽ではんだ付けする時に、基板のフラック
スが噴流はんだにより掻き落とされやすく、フラックス
塗布量が不足する問題もある。
【0006】本発明は、このような点に鑑みなされたも
ので、基板状態に応じて基板の各部分に最適な量のフラ
ックスを塗布できるフラックス塗布方法を提供すること
を目的とするものである。
【0007】〔発明の構成〕
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明は、フラックスf
を基板Pに向けて噴霧することにより塗布するフラック
ス塗布方法において、フラックスfを間欠的にパルス噴
霧する制御波形のパルス幅を、一枚の基板Pのなかで基
板状態に合わせて変更するフラックス塗布方法である。
【0009】
【作用】本発明は、一枚の基板Pに対するフラックス噴
霧中に、そのフラックスfを間欠的に噴霧する際の噴霧
間隔や噴霧時間等のパルス幅を、予め作成されたプログ
ラムにより変えることにより、一枚の基板Pの各部分に
最適な量のフラックスを塗布する。
【0010】
【実施例】以下、本発明を図面に示される実施例を参照
して詳細に説明する。
【0011】図1(A)に示されるように、本発明に係
るスプレー式フラクサ20は、加圧タンク21から定位置に
設けられた噴霧ノズル22にフラックスFを加圧供給し、
このノズル22から基板Pに向けてフラックスfを噴霧す
ることによりプリント基板Pに塗布するものである。
【0012】図5に示されるように、前記噴霧ノズル22
の噴霧孔31にはニードルバルブ32が上下動自在に設けら
れ、このニードルバルブ32にエアシリンダ33のピストン
34がロッド35により連結されている。このピストン34は
空気孔36からシリンダ内に加圧供給される空気により下
降し、その空気が排気されるとシリンダ内のスプリング
37により上昇される。前記噴霧ノズル22の側面には前記
加圧タンク21に接続されるフラックス孔38が設けられて
おり、このフラックス孔38を経てノズル内に供給された
フラックスは、前記シリンダ33への給気時に噴霧孔31よ
り噴霧され、前記シリンダ33からの排気時に噴霧停止さ
れる。
【0013】図1(A)に示されるように、前記噴霧ノ
ズル22には、空圧源41により加圧された前記タンク21か
ら管路42および前記フラックス孔38を経てタンク内のフ
ラックスFが供給されるとともに、前記ニードルバルブ
開閉用のエアシリンダ33には、空圧源43から管路44中の
電磁弁45により間欠的に制御されたニードルバルブ作動
空気が前記空気孔36より供給される。
【0014】この電磁弁45は、基板搬送経路に対し設け
られたフォトセンサ46で得られた基板検出信号に基づき
作動されるパルスコントローラ47により間欠的にオン・
オフ制御され、パルスコントローラ47から出力されたオ
ン信号により給気位置に切換えられ、前記エアシリンダ
33に給気を行って噴霧ノズル22の噴霧孔31を開き、また
パルスコントローラ47から出力されたオフ信号により排
気位置に切換えられ、エアシリンダ33から排気を行って
噴霧ノズル22の噴霧孔31を閉じる。
【0015】図1(B)(C)に示されるように、前記
噴霧ノズル22から噴霧されたフラックスfは、プリント
基板Pの幅方向(進行方向と直角の方向)に細長く噴霧
される。そのように前記噴霧ノズル22の噴霧孔31を形成
しておく。
【0016】次に、この実施例の作用を説明する。
【0017】図1(A)に示される電磁弁45をパルスコ
ントローラ47からのパルス信号で間欠的に切換作動し
て、搬送中のプリント基板Pに向けて噴霧ノズル22から
霧状のフラックスfを間欠的にパルス噴霧することによ
り、基板Pの裏面にフラックスを塗布する。
【0018】その際、噴霧ノズル22は定位置にあるか
ら、図1(B)に示される長円形状にパルス噴霧された
フラックスfの塗布パターンも定位置にあるが、基板P
が移動しているので、図2に示されるように基板Pの下
面でフラックスfの長円塗布パターンが相対的に移動し
ながら、各フラックス塗布パターンが重合することにな
る。
【0019】図3に示されるように、塗布開始は、前記
フォトセンサ46による基板検出から、噴霧ノズル22まで
の一定距離L1 をパルスカウントした後に行う。また、
1枚の基板Pに係る全噴霧範囲は、前記センサ46により
検出した基板の長さL2 (パルスカウント数)から決定
するとよい。
【0020】フラックス塗布量の調整は、図4に示され
るように、フラックスfを間欠的にパルス噴霧する制御
波形のパルス幅のうち、1サイクルに1回のオン時間
(フラックス噴霧時間)を、一枚の基板Pに対するフラ
ックス噴霧中に基板状態に合わせて変更することで、フ
ラックス塗布量を変化させる。また、前記制御波形のパ
ルス幅のうち、1サイクルの時間(フラックス噴霧間
隔)を変化させることでも塗布量を変更し得る。
【0021】例えば、表面実装部品の実装密度が高い基
板部分では噴流はんだによるフラックス掻き落し量が少
ないので、図4に示されるように、1サイクル300m秒中
のオン時間(フラックス噴霧時間)を10 m秒と比較的短
く設定することにより、基板Pに対するフラックス塗布
量を少なく制御し、また、前記実装密度が低い基板部分
では噴流はんだによるフラックス掻き落し量が多くなる
ので、1サイクル300m秒中のオン時間(フラックス噴霧
時間)を20 m秒と比較的長く設定することにより、基板
Pに対するフラックス塗布量を増加させるように制御す
る。また、一枚の基板Pに対するフラックス噴霧中に、
基板状態に合わせて1サイクルの時間(フラックス噴霧
間隔300m秒)を変更することによっても、フラックス塗
布量を変化させることができる。
【0022】前記オン時間(フラックス噴霧時間)およ
び1サイクルの時間(フラックス噴霧間隔)は、タイマ
を使用して設定する。結局、この二つの時間の比率を可
変とすることにより、フラックス噴霧量を制御し、基板
へのフラックス塗布量をコントロールする。この塗布量
を基板の進行(搬送)と合わせ、多量のフラックスを必
要とする基板部分(基板前端、部品密度の粗い部分等)
では塗布量を増やし、多量のフラックスを必要としない
部分では塗布量を減らすように制御する。
【0023】前記噴霧時間や噴霧間隔等のパルス幅の変
更は、予め作成されたプログラムにより実行する。すな
わち、予め基板状態(部品搭載状況等)に応じて、基板
のどの部分にどの程度のフラックス塗布量が必要である
かをコントローラ47にプログラムしておき、前記センサ
46で検出された基板位置を基準にして、前記プログラム
に基づき前記パルス幅を制御する。このようにして、一
枚の基板Pの各部分に最適な量のフラックスを塗布す
る。
【0024】
【発明の効果】本発明によれば、フラックスを間欠的に
パルス噴霧する制御波形のパルス幅を、一枚の基板のな
かで基板状態に合わせて変更するようにしたから、基板
の各部分に最適な量のフラックスを塗布でき、基板中に
部分的に発生し得るはんだ付け性、フラックス残渣等の
問題を解決できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】(A)は本発明のフラックス塗布方法の一実施
例を示す回路図であり、(B)はそのフラックス噴霧部
分の平面図であり、(C)はそのフラックス噴霧部分の
正面図である。
【図2】同上フラックス塗布方法におけるフラックス塗
布パターンの相対移動を示す説明図である。
【図3】同上フラックス塗布方法にて使用される基板セ
ンサと噴霧ノズルとの位置関係を示す説明図である。
【図4】同上フラックス塗布方法に使用されるパルス波
形図である。
【図5】同上フラックス塗布方法に使用される噴霧ノズ
ルの断面図である。
【符号の説明】
f フラックス P 基板
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) B23K 3/00 H05K 3/34 503

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 フラックスを基板に向けて噴霧すること
    により塗布するフラックス塗布方法において、フラック
    スを間欠的にパルス噴霧する制御波形のパルス幅を、一
    枚の基板のなかで基板状態に合わせて変更することを特
    徴するフラックス塗布方法。
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