JP3169598B2 - Automatic analysis method and automatic analyzer - Google Patents
Automatic analysis method and automatic analyzerInfo
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Description
【0001】[0001]
本発明は、自動分析方法および自動分析装置に係り、
特に自動的に検量線のキャリブレーションを実行するの
に好適な自動分析の方法および装置に関する。The present invention relates to an automatic analysis method and an automatic analyzer,
In particular, the present invention relates to an automatic analysis method and apparatus suitable for automatically performing calibration of a calibration curve.
【0002】[0002]
従来の装置は特開昭63−236966号公報に述べられてい
るように、試料容器をラックに保持して搬送する自動分
析装置において、分析の結果、再分析が必要とみなされ
た試料を持つラックに対してはラック格納部への収納は
行わずに、再検ラインを経て再び試料サンプリング位置
へ搬送して自動的に再分析を行わせる機能を持たせたも
のである。As described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 63-236966, a conventional apparatus has an automatic analyzer that holds and transports a sample container in a rack and has a sample that is determined to be re-analyzed as a result of analysis. The rack is not stored in the rack storage unit, but is transported again to the sample sampling position via the retest line and automatically re-analyzed.
【0003】[0003]
上記従来技術では、複数回分析を行う特定の試料のた
めのラックの搬送制御方法の点について配慮がされてお
らず、そのような特定試料に対して何回か分析を繰返し
たい場合には、従来の方法として特定試料の一回のサン
プリングが終わるたびにその試料を持つラックをラック
供給部にセットしなおしていたが、この場合には試料の
再セットのために時間の浪費、装置への誤操作を起こす
欠点があった。また別な従来例として特定試料を保持す
るラックをあらかじめ測定回数分用意し、これらのラッ
クを他の一般試料ラックと一緒にラック供給部にセット
して一連の分析を行う方法もあるが、この時には特定試
料を保持するラック複数個用意するため、使われる試料
の量が増えてしまっていた。In the above prior art, no consideration is given to the method of controlling the transfer of the rack for a specific sample to be analyzed a plurality of times, and when it is desired to repeat the analysis several times for such a specific sample, As a conventional method, each time one sampling of a specific sample is completed, the rack holding the sample is reset to the rack supply unit.In this case, time is wasted due to the resetting of the sample, and erroneous operation of the device is performed. There was a drawback to cause. As another conventional example, there is a method in which racks for holding a specific sample are prepared in advance for the number of measurements, and these racks are set together with other general sample racks in a rack supply section to perform a series of analysis. In some cases, a plurality of racks holding a specific sample are prepared, so that the amount of the sample used has increased.
【0004】 本発明の目的は、一般試料を保持したラックをラック
搬送路により測定装置へ搬送し試料を分析する場合に、
一般試料の分析操作を実施しながら周期的に繰り返して
キャリブレーション又は精度管理を行い得る自動分析の
方法および装置を提供することにある。An object of the present invention is to transport a rack holding a general sample to a measuring device via a rack transport path and analyze the sample.
An object of the present invention is to provide an automatic analysis method and apparatus capable of performing calibration or accuracy control periodically and repeatedly while performing an analysis operation on a general sample.
【0005】[0005]
本発明の自動分析方法は、検量線の再作成又は分析装
置の精度管理のために、一般試料に対する分析操作を実
行している途中で検量線作成用標準液又はコントロール
検体からなる特定試料の測定を所定間隔で繰り返す自動
分析方法において、特定試料を保持する特定ラックの識
別番号を制御部に登録しておくこと、特定ラックをラッ
ク待機部にて待機させること、特定ラックの識別番号を
ラック識別装置によって読み取り該特定ラックを識別す
ること、特定ラックがラック待機部で待機している間に
一般試料ラックをラック搬送路により測定装置に搬送し
一般試料ラック上の一般試料を該測定装置にサンプリン
グすること、サンプリング後の一般試料ラックはラック
搬送路を介してラック格納部に回収すること、一般試料
の処理数又は経過時間が特定試料の測定繰り返しタイミ
ング条件に該当するときにラック待機部からラック搬送
路に上記特定ラックを取り出し測定装置へ搬送するこ
と、および該測定装置への特定試料のサンプリングが終
了した特定ラックはラック搬送路を介してラック待機部
に収納すること、を特徴とする。The automatic analysis method of the present invention measures a specific sample composed of a standard solution for preparing a calibration curve or a control sample during the execution of an analysis operation on a general sample in order to recreate a calibration curve or control the accuracy of an analyzer. In the automatic analysis method, the identification number of the specific rack holding the specific sample is registered in the control unit, the specific rack is made to stand by in the rack standby unit, and the identification number of the specific rack is identified by the rack. The specific rack is read by the device, the general sample rack is transported to the measuring device by the rack transport path while the specific rack is waiting in the rack standby unit, and the general sample on the general sample rack is sampled by the measuring device. The general sample rack after sampling should be collected in the rack storage unit via the rack transport path, and the number of processed general samples or the elapsed time When the specific sample measurement repetition timing condition is met, the specific rack is taken out from the rack standby unit to the rack transport path and transported to the measuring device, and the specific rack for which the specific sample has been sampled by the measuring device is a rack. It is stored in a rack standby section via a transport path.
【0006】 また、本発明の自動分析装置は、ラック搬送路を介し
て一般試料を保持する一般試料ラックをラック供給部か
ら測定装置のサンプリング位置に搬送し、該測定装置へ
の試料分注後の一般試料ラックをラック格納部に向けて
搬送する自動分析装置において、繰り返し測定が必要と
される検量線作成用標準液又はコントロール検体からな
る特定試料を保持する特定ラックを待機せしめるラック
待機部と、ラック搬送路からの特定ラックをラック待機
部に格納しラック待機部にて待機している特定ラックを
ラック搬送路に取り出すラック出し入れ装置と、一般試
料ラック上の一般試料の分析処理数又は前回の特定試料
測定からの経過時間が測定繰り返しの条件に該当すると
きに、ラック待機部からラック搬送路に特定ラックを取
り出すようにラック出し入れ装置の動作を制御する制御
部と、を備えたことを特徴とする。Further, the automatic analyzer of the present invention transports a general sample rack holding a general sample from a rack supply unit to a sampling position of a measuring device via a rack transport path, and dispenses the sample to the measuring device. In an automatic analyzer that transports the general sample rack toward the rack storage unit, a rack standby unit that waits for a specific rack holding a specific sample composed of a standard solution or a control sample for preparing a calibration curve that requires repeated measurement, and A rack loading / unloading device that stores a specific rack from the rack transport path in the rack standby section and removes the specific rack waiting in the rack standby section to the rack transport path; Take out a specific rack from the rack standby unit to the rack transport path when the elapsed time since the measurement of the specific sample corresponds to the condition for repeated measurement And a control unit for controlling the operation of the rack loading / unloading device.
【0007】[0007]
本発明によれば、制御装置の記憶部にラックの識別番
号を登録し、ラックを搬送ラインと待機スペースの間で
出し入れする機能を持たせることにより、搬送ライン上
で処理されていく一般試料のラックの間に所定の条件に
従い特定試料のラックを送り出してサンプリングを行
い、サンプリングが終つた後に待機スペースに戻すこと
ができる。その後待機スペースに入ったラックに前記と
同様の工程を繰り返すことが可能になる。According to the present invention, by registering the identification number of the rack in the storage unit of the control device and having a function of taking the rack in and out between the transport line and the standby space, a general sample to be processed on the transport line is provided. According to a predetermined condition, the rack of the specific sample is sent out between the racks, sampling is performed, and after the sampling is completed, the rack can be returned to the standby space. Thereafter, the same process as described above can be repeated on the rack that has entered the standby space.
【0008】[0008]
以下、本発明の実施例を図を用いて説明する。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
【0009】 図1は、本発明の一実施例である検体試料の供給をラ
ック方式で行う自動分析装置の全体構成を示している。FIG. 1 shows an overall configuration of an automatic analyzer according to an embodiment of the present invention, which supplies a sample sample in a rack system.
【0010】 自動分析装置1には、試料分析を行う反応ディスク2
が設けられており、その同心円周上に反応容器3が複数
個設置されている。反応ディスク2の周囲には、ピペッ
ティングノズルを持つ試料分注器4,試薬分注器5及び6,
撹拌器7及び8,洗浄機構9,多波長光度計10が配置されて
おり、このように構成された測定装置の周囲に、搬送ラ
イン11a,11bとの間でラックの移動が行われるラック供
給部12,ラック格納部13,ラックを待機させるスペース14
a,14b,14cが設けられている。The automatic analyzer 1 includes a reaction disk 2 for performing sample analysis.
Are provided, and a plurality of reaction vessels 3 are provided on the concentric circumference. Around the reaction disk 2, a sample dispenser 4 having a pipetting nozzle, reagent dispensers 5 and 6,
A stirrer 7 and 8, a washing mechanism 9, and a multi-wavelength photometer 10 are arranged, and a rack supply for moving the rack between the transport lines 11a and 11b around the measuring device configured as described above. Unit 12, rack storage unit 13, space 14 for waiting the rack
a, 14b and 14c are provided.
【0011】 また、搬送ライン11aは、ラック位置91からラック位
置92までベルトコンベアによりラックを搬送し、ラック
検出器20がラックを検出するとラック押出装置21が作動
し、搬送ライン11b上のラック位置93までラックを移動
させる。搬送ライン11bは、ラック位置93からラック位
置94までベルトコンベアにより搬送した後、図2に示し
たラック移動爪54がラックを引っかけて、位置95まで移
動する。ラック検出器24がラックを検出すると、ラック
押出装置25が作動し、一般試料のラックを格納部13に収
め、再分析を行うラックは搬送ライン11a上のラック位
置91まで移動させる。The transport line 11a transports the rack by a belt conveyor from a rack position 91 to a rack position 92, and when the rack detector 20 detects the rack, the rack extruding device 21 operates to move the rack position on the transport line 11b. Move the rack to 93. After being transported by the belt conveyor from the rack position 93 to the rack position 94 on the transport line 11b, the rack moving claws 54 shown in FIG. When the rack detector 24 detects the rack, the rack extruder 25 is operated, the rack for the general sample is stored in the storage unit 13, and the rack for reanalysis is moved to the rack position 91 on the transport line 11a.
【0012】 これら装置の各部動作はインターフェース30を介し
て、コンピュータ151,記憶装置155,キーボード入力装置
152,CRT出力装置153,プリンタ出力装置154により任意に
制御を行えるようになっている。The operation of each unit of these devices is performed by a computer 151, a storage device 155, a keyboard input device via the interface 30.
152, CRT output device 153, and printer output device 154 can be arbitrarily controlled.
【0013】 以上に示した自動分析装置において、試料を保持する
ラックの処理手順を述べる。 (1)分析試料を図4に示した識別番号を持った容器15
に入れ、さらに複数の容器15を図5に示す識別番号を持
つラック16に保持する。この識別番号はそのラックが一
般試料を持つラックか再分析を行う試料を持つラック試
料かを区別するために、かつ、ラックごとの個別番号も
示すためにつけられている。 (2)一般試料を持つラックをラック供給部12に、複数
回の再分析を行う試料を持つラックをラック待機スペー
ス14a〜14cにセットし、それら試料とラックのデータを
キーボード152から記憶装置155に入力する。 (3)一般試料を持ったラックはラック押出装置17によ
り、搬送ライン11a上に送り出される、再分析試料を持
つラックは図2に示したラック振り分け装置52a〜52cの
うち、目的のラックに対応した装置により搬送ライン11
b上に送り出された後、ラック移動爪54によりラック位
置95まで移動し、ラック検出器24がラックを検出して、
押出装置25によりラックは搬送ライン11a上の位置91に
移される。 (4)搬送ライン11aに移されたラックはサンプリング
位置110の方向にベルトコンベア(図に示されていな
い)により搬送されていく。 (5)搬送途中で、図4に示した試料容器15に付けたバ
ーコード100がバーコードリーダ19によって読み取ら
れ、さらに、図5に示したラック16の穴101の列を、ラ
ックセンサ27が開かれた穴が閉じられた穴かを光を透過
することにより光学的に識別してラックの識別番号を読
み取る。A procedure for processing a rack for holding a sample in the automatic analyzer described above will be described. (1) Transfer the analysis sample to a container 15 having the identification number shown in FIG.
, And a plurality of containers 15 are held in a rack 16 having an identification number shown in FIG. This identification number is given to distinguish whether the rack is a rack having a general sample or a rack sample having a sample to be re-analyzed, and also indicates an individual number for each rack. (2) A rack having a general sample is set in the rack supply section 12, and a rack having a sample to be re-analyzed a plurality of times is set in the rack standby spaces 14a to 14c. To enter. (3) The rack holding the general sample is sent out onto the transport line 11a by the rack extruder 17, and the rack holding the reanalysis sample corresponds to the target rack among the rack sorting devices 52a to 52c shown in FIG. Transfer line 11
b, the rack is moved to the rack position 95 by the rack moving claws 54, and the rack detector 24 detects the rack,
The rack is moved to a position 91 on the transport line 11a by the extrusion device 25. (4) The rack moved to the transport line 11a is transported by a belt conveyor (not shown) in the direction of the sampling position 110. (5) During the transport, the barcode 100 attached to the sample container 15 shown in FIG. 4 is read by the barcode reader 19, and the row of holes 101 of the rack 16 shown in FIG. The rack identification number is read by optically identifying whether the opened hole is a closed hole or not by transmitting light.
【0014】 容器15,ラック16の識別番号が読み取られると、その
ラック16の試料容器15にある試料に対する分析項目およ
び分析項目数が記憶装置34から読み出され、制御機構
は、この情報に基づいて装置各部の制御を行う。すなわ
ち搬送ライン11a,11b,ラック格納部13,ラック待機スペ
ース14,ラック供給部12,試料分注器4等を制御する。When the identification numbers of the container 15 and the rack 16 are read, the analysis item and the number of analysis items for the sample in the sample container 15 of the rack 16 are read out from the storage device 34, and the control mechanism is configured based on this information. To control each part of the device. That is, it controls the transport lines 11a and 11b, the rack storage unit 13, the rack standby space 14, the rack supply unit 12, the sample dispenser 4, and the like.
【0015】 また制御機構は搬送ライン11a,11b,ラック供給部12,
ラック格納部13,ラック待機スペース14a〜14cの状態、
およびどの位置にどのラック,試料があるか随時監視し
ている。 (6)ラックがサンプリング位置110に来るとベルトコ
ンベアが停止し、分注器4がピペッティングノズルによ
りラック16の容器15に収められた試料のサンプリングを
行い、その後、同一ラックの異なる容器15の試料をサン
プリングする時は、その試料を収めた容器にピペッティ
ングノズルが入るようにベルトコンベアが動き少しの距
離だけラック16を搬送して分注器4を作動させる。 (7)サンプリングが終了したラックはラック位置92ま
でベルトコンベアにより運ばれ停止し、ラック検出器20
がラックを検出してラック押出装置21が作動してラック
をラック位置93に押出す。そして、搬送ライン11bのベ
ルトコンベアが動きラックをラック位置94まで動かして
停止させる。 (8)ラックがラック位置94に来た時、コンピュータ31
はこのラックが一般試料を収めたものか、再分析を行う
試料を収めているのかを判断し、再分析試料を収めてい
る時はこのラックをラック待機スペースに収納する。一
般試料のラックの時はラックは搬送ライン11bに沿って
図2に示したラック移動爪54によりラック位置95に運ば
れ停止し、ラック検出器24がラックを検出してラック押
出装置25によりラック格納部13に収納する。 (9)制御機構は試料の再分析を行うインタバル条件を
随時監視しており、その分析時期がくると搬送ライン11
b上を流れるラックはラック位置94で止められ、その間
に待機スペース14a〜14c内に収納されている目的のラッ
クを搬送ライン11b上に送り出す。送り出された再分析
試料を収めたラックはラック位置95まで運ばれ停止し、
ラック押出装置25によってラック位置91まで移動する。
そしてラックは搬送ライン11a上をサンプリング位置110
方向に搬送されていき再分析が行われる。ラック位置94
で止められていたラックは再分析試料のラックが搬送ラ
イン11a上を動き始めた後に再び搬送される。The control mechanism includes transport lines 11a and 11b, a rack supply unit 12,
The state of the rack storage unit 13, the rack standby spaces 14a to 14c,
And it monitors the rack and the sample at which position. (6) When the rack arrives at the sampling position 110, the belt conveyor stops, the pipetting device 4 samples the sample stored in the container 15 of the rack 16 by the pipetting nozzle, and then performs the sampling of the different containers 15 on the same rack. When a sample is sampled, the belt conveyor moves so that the pipetting nozzle enters the container containing the sample, transports the rack 16 a short distance, and operates the dispenser 4. (7) The rack for which sampling has been completed is carried to the rack position 92 by the belt conveyor and stopped, and the rack detector 20 is stopped.
Detects the rack, and the rack pushing device 21 operates to push the rack to the rack position 93. Then, the belt conveyor on the transport line 11b moves and moves the rack to the rack position 94 to stop it. (8) When the rack arrives at the rack position 94, the computer 31
Determines whether the rack contains a general sample or a sample to be re-analyzed, and when the re-analysis sample is stored, stores the rack in a rack standby space. In the case of a general sample rack, the rack is transported to the rack position 95 along the transport line 11b by the rack moving claws 54 shown in FIG. It is stored in the storage unit 13. (9) The control mechanism monitors the interval condition for re-analyzing the sample at any time, and when the analysis time comes, the transfer line 11
The rack flowing over b is stopped at the rack position 94, during which the target rack stored in the standby spaces 14a to 14c is sent out onto the transport line 11b. The rack containing the re-analyzed sample sent out is transported to rack position 95 and stopped.
The rack is moved to the rack position 91 by the rack pushing device 25.
The rack moves on the transport line 11a to the sampling position 110.
It is transported in the direction, and reanalysis is performed. Rack position 94
The rack stopped by the above is transported again after the rack of the reanalysis sample starts moving on the transport line 11a.
【0016】 実施例の自動分析装置1の待機スペース近辺における
ラックの移動を図2を用いて詳細に説明する。The movement of the rack in the vicinity of the standby space of the automatic analyzer 1 according to the embodiment will be described in detail with reference to FIG.
【0017】 ラックが搬送ライン11b上のラック位置94に到達する
と、制御装置がこのラックが再分析試料を持つラックか
どうか判断し、持っている場合には以下に示した操作を
行う。When the rack arrives at the rack position 94 on the transport line 11b, the control device determines whether this rack has a reanalysis sample, and if so, performs the following operation.
【0018】 制御装置がラック待機スペース14a〜14cの中からラッ
クが入っていない場所を特定する。ラック移動爪54が位
置94にあるラックの場所まで移動して、ラックの低部に
爪を引っかけて待機スペース14a,14b,14cのうちラック
の入っていないスペースの前までラックを移動させる。
そしてラック移動爪54は爪をはずしラック位置94に戻
る。ラックはその後ラック振り分け装置53a〜53cのうち
ラックの位置する場所にある装置が作動して、特定の待
機スペースに収められる。The control device specifies a place where a rack does not enter from the rack standby spaces 14a to 14c. The rack moving claw 54 moves to the position of the rack at the position 94, and hooks the claw on the lower portion of the rack to move the rack to a position in front of the empty space among the standby spaces 14a, 14b, 14c.
Then, the rack moving claws 54 release the claws and return to the rack position 94. The rack is then placed in a specific standby space by activating one of the rack sorting devices 53a-53c at the location where the rack is located.
【0019】 また、待機スペースに収めた特定のラックに対し、再
分析を行うタイミングがきた時には、搬送ライン11b上
を運ばれてきた他のラックを、位置94のところで停止さ
せる。ラック振り分け装置52a〜52cのうちの再分析を行
うラックが収められた待機スペースの装置を作動させ、
ラックを搬送ライン11b上に送り出す。このラックが出
された位置までラック移動爪54が移動してラックを引っ
かけ位置95まで運んでいく。ラック移動爪54はラック位
置94まで戻り、ラックはラック検出器によって検出され
てラック押出装置によって搬送ライン11aの位置91に移
される。その後、サンプリング位置110まで搬送されて
いき再分析が行われる。When it is time to re-analyze a specific rack contained in the standby space, the other rack carried on the transport line 11b is stopped at a position 94. Of the rack sorting devices 52a to 52c, the device in the standby space in which the rack for reanalysis is stored is operated,
The rack is sent out onto the transfer line 11b. The rack moving claw 54 moves to the position where the rack is extended, and carries the rack to the hooking position 95. The rack moving claw 54 returns to the rack position 94, and the rack is detected by the rack detector and is moved to the position 91 of the transport line 11a by the rack pushing device. Thereafter, the sample is transported to the sampling position 110 and re-analyzed.
【0020】 一方、位置94にて停止していたラックは、再分析試料
を持ったラックが搬送された後に、ラック移動爪54によ
って搬送ライン11b上を運ばれていく。On the other hand, the rack stopped at the position 94 is carried on the carrying line 11b by the rack moving claws 54 after the rack having the reanalyzed sample is carried.
【0021】 図3にラック振り分け装置52a〜52c,53a〜53cの一実
施例を示す。FIG. 3 shows an embodiment of the rack sorting devices 52a to 52c and 53a to 53c.
【0022】 コンピュータ151に制御されるステツプモータ56によ
りベルト58が回転し、これにより支持体60に乗った台車
62が移動して台車62につながれたラック押出し用板52
を、矢印63および矢印64の方向に任意に動かすことがで
きる。The belt 58 is rotated by a step motor 56 controlled by a computer 151, whereby the truck on the support 60 is rotated.
Rack extruding plate 52 in which 62 moves and is connected to trolley 62
Can be arbitrarily moved in the directions of arrows 63 and 64.
【0023】 これにより制御機構の処理に従ってラックを搬送ライ
ン11bと待機スペース14a〜14cの間で出し入れすること
が可能になる。This makes it possible to move the rack in and out between the transport line 11b and the standby spaces 14a to 14c according to the processing of the control mechanism.
【0024】 図4に試料容器15の外観を示す。FIG. 4 shows the appearance of the sample container 15.
【0025】 ひとつひとつの試料容器15にはそれぞれその容器を識
別するバーコードが印字されたバーコードラベル100が
はりつけられている。そして、この試料容器15はラック
16に複数個、例えば5個セットされて搬送ライン上を運
ばれていく。その時、搬送ライン11aに沿って設置され
たバーコードリーダ19がバーコードラベル100に印字さ
れたバーコードを読み取り、そのデータが制御装置に送
られる。これにより複数の試料容器15に対する個々の識
別が可能になる。Each of the sample containers 15 has a bar code label 100 on which a bar code for identifying the container is printed. And this sample container 15 is rack
A plurality of, for example, five pieces are set in 16 and are carried on the transport line. At that time, the barcode reader 19 installed along the transport line 11a reads the barcode printed on the barcode label 100, and the data is sent to the control device. This enables individual identification of the plurality of sample containers 15.
【0026】 図5(A),図5(B)にラック16の外観を示す。ラ
ック16には個々の識別を可能にするために、側面に穴10
1が5個を一列として4列設けられている。この穴101は
ふさぐことができるようになっており、ふさがれていな
い穴101を2進数の0,ふさがれた穴を1に対応させてい
る。この列が4列あるために1つのラック16に4つの2
進数4ビットの数を割り合てることが可能になる、これ
によりラックの個々の識別が可能になる。ラック16はサ
ンプリング位置110に搬送されていく途中で、搬送ライ
ン11aに沿って設置されたラック識別装置27が、穴101が
開いているか閉じているかを光を透過することによって
一列ごとに識別して数値データに換算して、4列の数値
を取り込み制御装置にデータを送る、これにより制御装
置は個々のラックを識別することが可能になる。FIGS. 5A and 5B show the appearance of the rack 16. The rack 16 has holes 10 on the sides to allow individual identification.
Four rows of 1 are provided with five rows as one row. The hole 101 can be closed, and the unblocked hole 101 corresponds to a binary number of 0, and the closed hole corresponds to 1. Since there are four rows, four racks in one rack 16
It is possible to assign a 4-bit hex number, which allows individual identification of the rack. While the rack 16 is being transported to the sampling position 110, the rack identification device 27 installed along the transport line 11a identifies whether the hole 101 is open or closed by transmitting light to determine whether the hole 101 is open or closed. Then, the data is converted into numerical data, the four columns of numerical values are taken, and the data is sent to the control device. This enables the control device to identify each rack.
【0027】 また、ラック16の下部にはラック移動爪54が引っかか
るようにくびれ120があり、このへこんだ部分に移動爪5
4が入ってラック16を押して移動させる。The rack 16 has a constriction 120 at the lower part of the rack 16 so that the rack moving claw 54 can be caught.
4 enters and pushes rack 16 to move.
【0028】 次に実施例の自動分析装置において、入力装置を用い
て制御機構に繰返し分析を行う試料を保持するラックを
登録し、さらに分析を行うタイミングの設定方法につい
て説明する。Next, a description will be given of a method of registering a rack holding a sample to be repeatedly analyzed in a control mechanism using an input device in the automatic analyzer of the embodiment, and further setting a timing of performing the analysis.
【0029】 図6はCRT出力装置153において、特定ラックの再分析
を行うための条件設定画面を示している。まず、繰返し
分析を行う試料を保持しているラックの識別番号をキー
ボード入力装置152から設定欄35に入力する。また、ど
のようなタイミングでラックを待機スペースから搬送ラ
インに送り出し分析を行うかについては、下記に示す設
定方法により装置が一連の動作を行う。 (a) 分析された試料数に従った繰返し分析法。FIG. 6 shows a condition setting screen for re-analyzing a specific rack in the CRT output device 153. First, the identification number of the rack holding the sample to be subjected to the repeated analysis is input from the keyboard input device 152 to the setting column 35. In addition, at what timing the rack is sent from the standby space to the transport line for analysis, the apparatus performs a series of operations according to the setting method described below. (A) Repeat analysis according to the number of samples analyzed.
【0030】 測定装置によって分析される試料数を基準に、特定試
料の繰返し分析を行う。このため設定欄80にキーボード
152から試料数を入力し、この試料数が記憶装置155に登
録される。装置の分析工程においては、ラックがサンプ
リング位置110に送り出されていく。ラック上の試料容
器の識別番号をバーコードリーダ19が読み取り、ラック
の識別番号をラック識別装置27が検出して、それらの信
号を制御装置に送る。制御装置はそれらラック,試料容
器の持つ試料数を記憶装置155から引き出す。制御装置
は一連の試料数を数えて記憶装置155の設定値と比べ
て、設定値に達した時に特定試料の分析が行えるよう
に、その試料を持つラックを待機スペースから搬送ライ
ンに送り出して測定装置へ運ぶ。 (b) 分析項目ごとの分析された試料数に従った繰返
し分析法。A specific sample is repeatedly analyzed based on the number of samples analyzed by the measuring device. For this reason, keyboard
The number of samples is input from 152, and the number of samples is registered in the storage device 155. In the analysis process of the apparatus, the rack is sent out to the sampling position 110. The barcode reader 19 reads the identification number of the sample container on the rack, the rack identification device 27 detects the identification number of the rack, and sends those signals to the control device. The control device retrieves the number of samples held by the rack and the sample container from the storage device 155. The control unit counts the number of samples in a series and compares it with the set value of the storage device 155.When the set value is reached, the control unit sends the rack holding the sample from the standby space to the transport line so that measurement can be performed. Transport to equipment. (B) A repeated analysis method according to the number of analyzed samples for each analysis item.
【0031】 測定装置によって特定の分析項目について分析される
試料数を基準に、特定試料数の繰返し分析を行う。この
ため設定欄81にキーボード152から試料数を入力し、こ
の試料数が記憶装置155に登録される。装置の分析工程
において、サンプリング位置110に送り出されていく、
ラック上の試料容器の識別番号をバーコードリーダ19が
読み取り、ラックの識別番号をラック識別装置27が検出
して、それらの信号を制御装置に送る。サンプリング位
置にラックが来た時、そのラック,容器に応じた分析項
目が記憶装置155から引き出されてそれに応じて試料が
分析される。制御装置は分析項目ごとの分析した試料の
数をカウントして、記憶装置155の設定値とを比べて設
定値に達した時に特定試料の分析が行えるように、その
試料を持つラックを待機スペースから搬送ラインに送り
出す。 (c) 分析経過時間に従った繰返し分析法。Based on the number of samples analyzed for a specific analysis item by the measuring device, a repetitive analysis of the specific number of samples is performed. Therefore, the number of samples is input from the keyboard 152 to the setting column 81, and the number of samples is registered in the storage device 155. In the analysis process of the device, it is sent to the sampling position 110,
The barcode reader 19 reads the identification number of the sample container on the rack, the rack identification device 27 detects the identification number of the rack, and sends those signals to the control device. When the rack comes to the sampling position, the analysis item corresponding to the rack and the container is extracted from the storage device 155, and the sample is analyzed accordingly. The control device counts the number of samples analyzed for each analysis item, compares the number with the set value of the storage device 155, and places the rack holding the sample in a standby space so that the specified sample can be analyzed when the set value is reached. From to the transport line. (C) A repeated analysis method according to the elapsed analysis time.
【0032】 測定装置が分析を行った経過時間を基準に、特定試料
の繰返し分析を行う、このため設定欄82にキーボード15
2から経過時間を入力し、この時間数が記憶装置155に登
録される。装置の分析工程において、測定装置は分析を
始めた時に信号を制御装置に送る。制御装置はその時か
らの経過時間を計って、記憶装置155の設定値と比べて
設定値に達した時に特定試料の分析が行えるように、そ
の試料を持つラックを待機スペースから搬送ラインに送
り出す。The repeated analysis of the specific sample is performed based on the elapsed time when the measurement device has performed the analysis.
The elapsed time is input from 2 and this number of hours is registered in the storage device 155. In the analysis process of the device, the measuring device sends a signal to the control device when starting the analysis. The control device measures the elapsed time from that time, and sends out the rack holding the sample from the standby space to the transport line so that the specific sample can be analyzed when the set value is reached as compared with the set value in the storage device 155.
【0033】 以上の設定に従って、繰返し分析する試料を持つラッ
クはサンプリング位置110に運ばれ分析された後、再び
待機スペースに戻される。According to the above setting, the rack having the sample to be repeatedly analyzed is carried to the sampling position 110 and analyzed, and then returned to the standby space again.
【0034】 実施例の自動分析装置において装置の分析精度を保つ
方法を以下に述べる。A method for maintaining the analysis accuracy of the automatic analyzer in the embodiment will be described below.
【0035】 自動分析装置を用いての種々の検体試料の成分分析に
おいては、まず、成分濃度が既知の検体試料(標準液)
の吸光度を測定し、これをもとに吸光度値と成分濃度と
の対応関係を表す検量線を作成しなければならない。こ
の作業をキャリブレーションと呼ぶ。その後、一般の被
分析検体試料に対して吸光度測定を行い、得られた吸光
度値を、前もって作成した検量線に照らしあわせること
によって、検体試料中の任意の成分濃度を算出する。し
かし、被分析検体試料数が非常に多くて分析時間が長く
なってくると、実際の成分濃度と吸光度との対応関係
が、最初に作成した検量線上からずれてきてしまう。そ
うなった場合でもひきつづき最初に作成した検量線を用
いて成分濃度を算出していくと、正確な成分分析値が得
られなくなり、装置の信頼性が落ちてしまう。しかし、
実施例の自動分析装置をキャリブレーション作業に適用
すれば、このような問題を解決することが可能である。
つまり、標準液に対して定期的に吸光度測定を繰返して
行い、その都度、検量線を新しく作成し直して検量線を
校正し、その後の一般検体の成分濃度は、この新しく作
成し直した検量線をもとに算出を行い、常に正確な成分
分析値が得られるようにする。このことについて、以
下、図7,図8を用いて説明をする。In the component analysis of various sample samples using an automatic analyzer, first, a sample sample (standard solution) having a known component concentration
Must be measured, and a calibration curve representing the correspondence between the absorbance value and the component concentration must be created based on the measured absorbance. This operation is called calibration. Thereafter, absorbance measurement is performed on a general analyte sample sample, and the obtained absorbance value is compared with a previously prepared calibration curve to calculate the concentration of an arbitrary component in the sample sample. However, if the number of analyte samples is very large and the analysis time is prolonged, the correspondence between the actual component concentration and the absorbance deviates from the calibration curve initially created. Even in such a case, if the component concentration is calculated using the calibration curve created first, an accurate component analysis value cannot be obtained, and the reliability of the apparatus decreases. But,
This problem can be solved by applying the automatic analyzer of the embodiment to the calibration work.
In other words, the absorbance measurement is repeated periodically for the standard solution, and each time, a new calibration curve is created and the calibration curve is calibrated, and the component concentration of the general sample is calculated using the newly created calibration curve. Calculation is performed based on the line so that an accurate component analysis value is always obtained. This will be described below with reference to FIGS.
【0036】 図7は、CRT出力装置153におけるサイクリックにキャ
リブレーションを行わせるために必要な分析情報を設定
する画面を示している。その情報の入力は、外部入出力
装置を通して行われる。まず、検量線を校正すべき分析
項目を入力欄37に入力する。ひきつづき、キャリブレー
ション法(キャリブレーションの種類)を入力欄38に、
使用する標準液の数を入力欄39に、標準液の濃度及びそ
れがセットされているラックの識別番号,ラック内の試
料のポジションを入力欄40に、そして、キャリブレーシ
ョンの結果のプリンター出力装置154への印字有無を入
力欄41にそれぞれ入力する。また、前述の図6に示す、
サイクリック分析を行うための情報を設定する画面にお
いて、入力欄35には、サイクリックキャリブレーション
を行うために入力欄40に設定したラック識別番号と同じ
番号を設定し、また、入力欄80〜82には、サイクリック
キャリブレーションの再分析条件を設定する。そして、
以上の設定が終了した後、入力欄40で指定した標準液が
セットされているラックを、ラック退避スペース14a〜1
4cにセットして、分析を開始する。それにより、前述に
示した分析動作工程に従って、指定ラック内にセットさ
れている標準液に対してのみ、設定した再分析条件毎に
試料の吸光度が測定され、その都度、入力欄37で設定し
た分析項目に対する検量線が、新規作成される。そし
て、検量線が新規作成される度に、それ以降の一般検体
の成分濃度値は、その新規の検量線に従って算出される
為、常に正確な分析値を得ることができる。また、入力
欄41で、キャリブレーション結果を印字するように設定
しておけば、標準液に対する吸光度が新しく設定される
度に、その吸光度値をプリンタ154から印字出力させる
ことができる。また、図8には、キャリブレーションに
よって作成した検量線を表示したい時に、その条件を設
定する画面であり、入力欄42に検量線表示をさせたい分
析項目を、入力欄43に表示範囲値を、それぞれ入力する
と、まず、一番最初に作成した検量線とその時刻が表示
される。次に、新しく作成していった検量線を順次表示
させることができる。また入力欄44で、プリンタ154へ
の出力の指定をすることができる。これらの操作によ
り、検量線の時間的変化を視覚的にとらえることも出来
る。以上の方法により実施例の自動分析装置において、
適宜にキャリブレーションを行うことが可能になる。FIG. 7 shows a screen on the CRT output device 153 for setting analysis information necessary for performing calibration cyclically. The input of the information is performed through an external input / output device. First, an analysis item whose calibration curve is to be calibrated is input in the input box 37. Next, enter the calibration method (type of calibration) in the input box 38,
The number of standard solutions to be used is entered in an input column 39, the concentration of the standard solution, the identification number of the rack in which it is set, the position of the sample in the rack is entered in an input column 40, and a printer output device for the calibration results. The presence / absence of printing on 154 is entered in the input fields 41 respectively. Also, as shown in FIG.
In the screen for setting information for performing the cyclic analysis, in the input column 35, the same number as the rack identification number set in the input column 40 for performing the cyclic calibration is set, and the input columns 80 to 80 are set. In 82, the reanalysis conditions for the cyclic calibration are set. And
After the above setting is completed, the rack in which the standard solution specified in the input field 40 is set is moved to the rack evacuation space 14a-1.
Set to 4c and start analysis. Thereby, according to the analysis operation process described above, the absorbance of the sample was measured only for the standard solution set in the designated rack for each set reanalysis condition, and the absorbance was set in the input field 37 each time. A calibration curve for the analysis item is newly created. Each time a calibration curve is newly created, the subsequent component concentration values of the general sample are calculated according to the new calibration curve, so that accurate analysis values can always be obtained. If the calibration result is set to be printed in the input field 41, the absorbance value can be printed out from the printer 154 each time the absorbance for the standard solution is newly set. FIG. 8 shows a screen for setting the conditions when the calibration curve created by the calibration is to be displayed. The analysis items for which the calibration curve is to be displayed in the input column 42 and the display range values in the input column 43 are shown. First, the calibration curve created first and its time are displayed. Next, a newly created calibration curve can be sequentially displayed. In the input field 44, output to the printer 154 can be designated. By these operations, the temporal change of the calibration curve can be visually grasped. By the above method, in the automatic analyzer of the embodiment,
Calibration can be performed appropriately.
【0037】 また、自動分析装置の分析精度を管理するために、成
分構成比がはっきり決まっている安定したコントロール
検体と呼ばれる検体試料が使われる。通常は、このコン
トロール検体を保持するラックを、一般検体用のラック
の間に、複数個分散させて置いておくのであるが、この
コントロール検体に対しても、本発明を適用すれば、検
体試料の節減、及び、自動的に精度管理が図れる。以
下、図9,図10,図11を用いて具体的に説明をする。In order to control the analysis accuracy of the automatic analyzer, a stable control sample having a clearly determined component composition ratio is used. Usually, a plurality of racks for holding the control sample are dispersed and placed between racks for general samples. However, if the present invention is applied to the control sample, And automatic quality control can be achieved. Hereinafter, a specific description will be given with reference to FIGS. 9, 10, and 11.
【0038】 図9は、CRT出力装置153においてサイクリックに精度
管理を行うために必要な情報を設定する画面である。ま
ず、精度管理用として分析を行いたい分析項目を入力欄
45に入力する。ひきつづき、使用するコントロール検体
の種類とそれがセットされているラックの識別番号及び
ラック内のポジションを入力欄46に入力する。また、前
述の図6に示す画面において、入力欄35に、サイクリッ
クな精度管理を行うため入力欄46に設定したラック識別
番号と同じ番号を設定し、また入力欄80〜82にはサイク
リック精度管理のインタバル条件を設定する。そして、
以上の設定が終了した後、入力欄46で指定したコントロ
ール検体がセットされているラックを、ラック退避スペ
ース14a〜14cにセットして、分析を開始する。すると、
やはり前述した分析動作工程に従って、入力欄80〜82で
設定したコントロール検体分析インタバル条件にもとづ
く分析開始タイミングがくると、ラック退避スペース14
a〜14cにセットされていたコントロール検体用ラックが
搬送ライン11b上に送り出され、一連の分析工程を開始
する。その後は、このコントロール検体用ラック内のコ
ントロール検体に対して、入力欄80〜82で設定したイン
タバル条件ごとに分析が行われ、成分濃度が算出され
る。このようにして、自動分析装置の精度管理を、自動
的に行うことができる。図10は、CRT出力装置153におい
てこうして得られた精度管理用の測定データの一覧表を
示した画面であり、入力欄47に測定データを見たいコン
トロール検体の種類を入力することにより、そのコント
ロール検体を用いてサイクリックに測定された分析項目
に対する種々の精度管理データを、表として得ることが
できる。また、入力欄48でプリンタ印字の指定をすれ
ば、この一覧表をプリンタ154から印字出力させること
もできる。また、図11は、CRT出力装置153において、サ
イクリックに測定した精度管理用データの時間的変化を
示した画面であり、対象の分析項目各及びコントロール
検体の種類を、入力欄49及び入力欄50にそれぞれ入力す
ることにより、それに対する測定データの推移を、グラ
フとして得ることができる。このグラフの変動を監視す
ることにより、装置の精度管理を視覚的に行うことがで
きる。また、入力欄51でプリンタ印字の指定をすれば、
このグラフをプリンタ154から印字出力させることもで
きる。このようにして、コントロール検体に対して分析
を行うことにより、測定によって得られた成分濃度値
の、実際の成分濃度値からのずれを、監視することがで
き、装置の精度管理能力が向上する。また、コントロー
ル検体用のラックは1つだけラック退避スペース14a〜1
4cにセットしておけば、あとは、このラック内のコント
ロール検体に対しサイクリックに何回も再分析が行われ
るので、このラック内にコントロール検体を十分に用意
しときさえすれば、従来のように何個もコントロール検
体用ラックを用意する必要がなくなり、検体試料の節減
も図れる。以上のように実施例の自動分析装置において
適宜に精度管理を行うことが可能になる。FIG. 9 is a screen for setting information necessary for performing accuracy management cyclically in the CRT output device 153. First, input the analysis items you want to analyze for quality control.
Enter 45. Subsequently, the type of the control sample to be used, the identification number of the rack in which the control sample is set, and the position in the rack are input to the input field 46. In the screen shown in FIG. 6 described above, the same number as the rack identification number set in the input field 46 for performing the cyclic accuracy management is set in the input field 35, and the cyclic numbers are set in the input fields 80 to 82. Set interval conditions for quality control. And
After the above setting is completed, the rack in which the control sample specified in the input field 46 is set is set in the rack evacuation spaces 14a to 14c, and the analysis is started. Then
Also, when the analysis start timing based on the control sample analysis interval conditions set in the input columns 80 to 82 comes according to the analysis operation process described above, the rack retreat space 14
The control sample rack set in a to 14c is sent out onto the transport line 11b, and a series of analysis steps is started. After that, the control sample in the control sample rack is analyzed for each interval condition set in the input fields 80 to 82, and the component concentration is calculated. In this way, the quality control of the automatic analyzer can be performed automatically. FIG. 10 is a screen showing a list of measurement data for quality control thus obtained in the CRT output device 153. Various quality control data for the analysis items cyclically measured using the sample can be obtained as a table. Further, if the printer print is designated in the input field 48, the list can be printed out from the printer 154. FIG. 11 is a screen showing a temporal change of the quality control data measured cyclically in the CRT output device 153. The analysis items and the type of the control sample are displayed in an input column 49 and an input column. By inputting the data into each of the fields 50, the transition of the measured data corresponding thereto can be obtained as a graph. By monitoring the fluctuation of this graph, the accuracy of the apparatus can be visually controlled. Also, if you specify printer printing in the input field 51,
This graph can be printed out from the printer 154. In this way, by analyzing the control sample, the deviation of the component concentration value obtained by the measurement from the actual component concentration value can be monitored, and the accuracy control ability of the device is improved. . In addition, there is only one rack for control samples
If it is set to 4c, the control sample in this rack will be re-analyzed cyclically many times, so if sufficient control samples are prepared in this rack, the conventional As described above, it is not necessary to prepare a number of control sample racks, and the sample sample can be saved. As described above, it is possible to appropriately perform quality control in the automatic analyzer according to the embodiment.
【0039】 この他にも、成分構成比が時間と共に徐々に変わって
しまうような不安定な試料に対し、本発明による再分析
を行えば、その試料の安定度を把握することも可能であ
る。In addition, if the reanalysis according to the present invention is performed on an unstable sample whose component composition ratio gradually changes with time, it is possible to grasp the stability of the sample. .
【0040】[0040]
【発明の効果】 本発明によれば、一般試料を保持する一般試料ラック
および測定の繰り返しが必要な特定試料を保持する特定
ラックをラック搬送路を介して測定装置に搬送するよう
な分析装置に対し、自動的に周期的なキャリブレーショ
ン又は精度管理を実行することが可能になる。According to the present invention, a general sample rack for holding a general sample and a specific rack for holding a specific sample which needs to be repeatedly measured are transported to a measuring apparatus via a rack transport path. On the other hand, it becomes possible to automatically execute periodic calibration or quality control.
【図1】 本発明の一実施例の自動分析装置の構成の概略図。FIG. 1 is a schematic diagram of a configuration of an automatic analyzer according to one embodiment of the present invention.
【図2】 図1の装置の待機スペース付近における構成図。FIG. 2 is a configuration diagram near a standby space of the apparatus in FIG. 1;
【図3】 ラック振り分け装置の構成図。FIG. 3 is a configuration diagram of a rack sorting device.
【図4】 図1の実施例で使われる試料容器。FIG. 4 is a sample container used in the embodiment of FIG.
【図5】 図5(A)は、図1の実施例で使われるラックの平面
図、図5(B)は図5(A)のラックの側面図。5 (A) is a plan view of a rack used in the embodiment of FIG. 1, and FIG. 5 (B) is a side view of the rack of FIG. 5 (A).
【図6】 特定試料の複数回分析を行うCRT上の条件設定画面の
例。FIG. 6 is an example of a condition setting screen on a CRT for analyzing a specific sample a plurality of times.
【図7】 CRT上で図1の実施例の装置の精度管理を行うCRT上の条
件設定画面の例。FIG. 7 is an example of a condition setting screen on the CRT for performing accuracy management of the apparatus of the embodiment of FIG. 1 on the CRT.
【図8】 図1の実施例の装置の精度管理を行った結果のCRT上の
出力画面の例を示す。8 shows an example of an output screen on a CRT as a result of performing quality control of the apparatus of the embodiment of FIG.
【図9】 CRT上で図1の実施例の装置の精度管理を行うCRT上の条
件設定画面の例。FIG. 9 is an example of a condition setting screen on the CRT for performing accuracy management of the apparatus of the embodiment of FIG. 1 on the CRT.
【図10】 図1の実施例の装置の精度管理を行った結果のCRT上の
出力画面の例を示す。FIG. 10 shows an example of an output screen on a CRT as a result of performing quality control of the apparatus of the embodiment of FIG. 1;
【図11】 図1の実施例の装置の精度管理を行った結果のCRT上の
出力画面の例を示す。11 shows an example of an output screen on a CRT as a result of performing quality control of the apparatus of the embodiment of FIG.
1……自動分析装置、11a,11b……搬送ライン、12……
ラック供給部、13……ラック格納部、14a〜14c……ラッ
ク待機スペース、15……試料容器、16……ラック、52a
〜52c,53a〜53c……ラック振り分け装置。1 ... automatic analyzer, 11a, 11b ... transport line, 12 ...
Rack supply unit, 13 Rack storage unit, 14a to 14c Rack standby space, 15 Sample container, 16 Rack, 52a
~ 52c, 53a ~ 53c ... Rack sorting device.
Claims (3)
途中で検量線作成用標準液又はコントロール検体からな
る特定試料の測定を所定間隔で繰り返す自動分析方法に
おいて、 上記特定試料を保持する特定ラックの識別番号を制御部
に登録しておくこと、 上記特定ラックをラック待機部にて待機させること、上
記特定ラックの識別番号をラック識別装置によって読み
取り上記特定ラックを識別すること、上記特定ラックが
上記待機部で待機している間に一般試料ラックをラック
搬送路により測定装置に搬送し一般試料ラック上の一般
試料を該測定装置にサンプリングすること、サンプリン
グ後の一般試料ラックは上記ラック搬送路を介してラッ
ク格納部に回収すること、一般試料の処理数又は経過時
間が上記特定試料の測定繰り返しタイミング条件に該当
するときに上記ラック待機部から上記ラック搬送路に上
記特定ラックを取り出し上記測定装置へ搬送すること、
および上記測定装置への特定試料のサンプリングが終了
した上記特定ラックは上記ラック搬送路を介して上記ラ
ック待機部に収納すること、を特徴とする自動分析方
法。An automatic analysis method in which the measurement of a specific sample comprising a standard solution for preparing a calibration curve or a control sample is repeated at predetermined intervals during execution of an analysis operation on a general sample, wherein the specific rack holding the specific sample is provided. The identification number of the specific rack is registered in the control unit, the specific rack is made to stand by in a rack standby unit, the identification number of the specific rack is read by a rack identification device, and the specific rack is identified. The general sample rack is transported to the measurement device by the rack transport path while waiting in the standby section, and the general sample on the general sample rack is sampled by the measurement device. The number of samples processed or the elapsed time of the general sample through the measurement Be transported from the rack standby unit when true grayed condition to the measuring device takes out the specific rack to the rack transport path,
And the specific rack after the specific sample has been sampled by the measuring device is stored in the rack standby section via the rack transport path.
一般試料ラックをラック供給部から測定装置のサンプリ
ング位置に搬送し、該測定装置への試料分注後の上記一
般試料ラックをラック格納部に向けて搬送する自動分析
装置において、 繰り返し測定が必要とされる検量線作成用標準液又はコ
ントロール検体からなる特定試料を保持する特定ラック
を待機せしめるラック待機部と、 上記ラック搬送路からの上記特定ラックを上記ラック待
機部に収納し上記ラック待機部にて待機している上記特
定ラックを上記ラック搬送路に取り出すラック出し入れ
装置と、 一般試料ラック上の一般試料の分析処理数又は前回の特
定試料測定からの経過時間が測定繰り返しの条件に該当
するときに、上記ラック待機部から上記ラック搬送路に
上記特定ラックを取り出すように上記ラック出し入れ装
置の動作を制御する制御部とを備え、 更に上記ラック搬送路が、上記ラック出し入れ装置から
取り出された上記特定ラックを再度上記測定装置のサン
プリング位置に搬送する機能を備えたことを特徴とする
自動分析装置。2. A general sample rack for holding a general sample is transported from a rack supply unit to a sampling position of a measuring device via a rack transport path, and the general sample rack after dispensing the sample to the measuring device is stored in a rack. A rack standby unit for holding a specific rack holding a standard sample or a control sample for a calibration curve for which repeated measurement is required, and A rack loading / unloading device that stores the specific rack in the rack standby unit and takes out the specific rack waiting in the rack standby unit to the rack transport path; When the elapsed time from the measurement of the specific sample satisfies the condition of the measurement repetition, the specific rack is transferred from the rack standby section to the rack transport path. A control unit for controlling the operation of the rack loading / unloading device so as to take out the rack, and the rack transport path further has a function of transporting the specific rack taken out of the rack loading / unloading device to the sampling position of the measuring device again. An automatic analyzer characterized by comprising:
一般試料ラックをラック供給部から測定装置のサンプリ
ング位置に搬送し、該測定装置への試料分注後の上記一
般試料ラックをラック格納部に向けて搬送する自動分析
装置において、 繰り返し測定が必要とされる検量線作成用標準液又はコ
ントロール検体からなる特定試料を保持する特定ラック
を待機せしめるラック待機部と、 上記ラック搬送路からの上記特定ラックを上記ラック待
機部に収納し上記ラック待機部にて待機している上記特
定ラックを上記ラック搬送路に取り出すラック出し入れ
装置と、 上記特定ラックの識別番号を読み取るラック識別装置
と、 該ラック識別装置の読み取りデータに基づいて上記ラッ
ク待機部の状態を監視すると共に、一般試料ラックの搬
送に伴う一般試料の処理の途中で上記特定試料の分析繰
り返し条件に相応して上記特定ラックが上記ラック搬送
路で搬送され、上記測定装置で上記特定試料の再分析が
行われるように上記ラック出し入れ装置及び上記搬送路
を制御する制御部と、を備えたことを特徴とする自動分
析装置。3. A general sample rack holding a general sample is transported from a rack supply section to a sampling position of a measuring device via a rack transport path, and the general sample rack after dispensing the sample to the measuring device is stored in a rack. A rack standby unit for holding a specific rack holding a standard sample or a control sample for a calibration curve for which repeated measurement is required, and A rack loading / unloading device that stores the specific rack in the rack standby unit and takes out the specific rack waiting in the rack standby unit to the rack transport path; a rack identification device that reads an identification number of the specific rack; The status of the rack standby unit is monitored based on the data read by the rack identification device, and the status accompanying the transport of the general sample rack is monitored. During the processing of the general sample, the specific rack is transported in the rack transport path in accordance with the analysis repetition conditions of the specific sample, and the rack loading / unloading device is configured so that the specific sample is re-analyzed by the measurement device. An automatic analyzer, comprising: a control unit that controls the transport path.
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