JP3164152B2 - 半導体装置の製造方法 - Google Patents
半導体装置の製造方法Info
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Description
方法に関し、特にロジックデバイスのような高速回路を
有するSi半導体装置の製造方法に関する。
らCuにすることによる配線抵抗の減少と、層間絶縁膜
の誘電率の減少によって、処理速度の高速化を実現しよ
うとしている。しかし、低誘電率(low-k)の層間絶縁
膜は一般に耐熱性が低いため、耐熱温度以下の低温にお
いて、Cuの拡散を阻止するバリア膜を形成することが
重要になっている。
材料としてTaCl5を、還元剤としてH3AlN(CH
3)3を用いて、基板温度100〜200℃で熱CVDに
よってTa系のバリア膜を形成する方法が採用されてい
る(A. Ludviksson et al.,エクステンデッド アブス
トラクツ オブ アドバンスド メタライゼーション
アンド インターコネクトシステムズ フォー ユーエ
ルエスアイ アプリケーションズ イン 1997 ジャパ
ン セッション(Extended Abstracts of Advanced Met
allization and Interconnect Systems for ULSI Appli
cations in 1997 Japan Session),1997.10.21,pp59−6
0.)。
法では、還元剤にH3AlN(CH3)3を用いているた
め、Ta中にAlを多量に含む膜が堆積する。この膜
は、抵抗率が300μΩcm以上と高い。その理由は、H3A
lとN(CH3)3の間の結合エネルギーが低く、しかも
H3Alが十分な蒸気圧をもたないために、気相中に脱
離することができず、膜中に取り込まれたことによると
考えられる。このような高抵抗のバリア膜が、ビア部で
下層Cu配線と上層Cu配線の間に形成されるため、配
線抵抗が十分には低くならず、信号遅延を低減できなか
った。
の拡散バリアとなるTaN膜を形成し、低誘電率層間膜
とCu配線の組み合わせにより、高速、高信頼性の半導
体デバイスを提供することにある。また、本発明の他の
目的は、Cu配線を用いることにより、デバイスの低消
費電力化、高集積化、小型化を実現することにある。
に絶縁膜を堆積する工程と、該絶縁膜に配線溝あるいは
ビアを形成する工程と、ハロゲン化タンタルと(C
H3)HNNH2を用いたCVDによりTaN膜を堆積す
る工程と、該TaN膜上にCuを堆積する工程を有する
ことを特徴とする半導体装置の製造方法に関する。
膜を堆積した後、第1の絶縁膜に配線溝を設けて金属を
埋め込み配線を形成する工程と、その上に第2の絶縁膜
を堆積する工程と、第2の絶縁膜にビアを形成する工程
と、その上にハロゲン化タンタルと(CH3)HNNH2
を用いたCVDによりTaN膜を堆積する工程と、該T
aN膜上にCuを堆積する工程を有することを特徴とす
る半導体装置の製造方法に関する。
膜を堆積した後、第1の絶縁膜に配線溝を設けて金属を
埋め込み第1の配線を形成する工程と、その上に第2の
絶縁膜を堆積する工程と、第2の絶縁膜にビアを形成す
る工程と、その上にハロゲン化タンタルと(CH3)H
NNH2を用いたCVDにより第1のTaN膜を堆積す
る工程と、第1のTaN膜上にCuを堆積する工程と、
該ビア内部にのみTaN膜とCuが残るようにCMP処
理する工程と、その上に第3の絶縁膜を堆積する工程
と、第3の絶縁膜に配線溝を形成する工程と、その上に
ハロゲン化タンタルと(CH3)HNNH2を用いたCV
Dにより第2のTaN膜を堆積する工程と、第2のTa
N膜上にCuを堆積して第2の配線を形成する工程とを
有することを特徴とする半導体装置の製造方法に関す
る。
路における配線工程に適用した場合を示す工程断面図で
ある。
板1に第1の層間絶縁膜2、第2の層間絶縁膜3を堆積
した後、配線溝を通常のリソグラフィとドライエッチン
グで形成し、続いて第1のバリア膜4、Cuを順次堆積
する。その後、CMP(Chemical Mechanical Polishin
g)によってダマシン配線(第1のCu配線5)を形成
する。続いて、第3の層間絶縁膜6を堆積後、ビアを開
口する。
リア膜7を堆積する。このときのバリア膜の形成は、ハ
ロゲン化タンタルと(CH3)HNNH2を用いて熱CV
Dで行う。このハロゲン化タンタルとしては、TaCl
5、TaF5、TaBr5のいずれかであることが好まし
い。また、特に、熱CVDを用い、基板温度200〜500℃
でTaNを堆積させることが好ましい。より好ましい基
板温度範囲は250〜400℃である。
を堆積する。さらに、図1(d)に示すようにCMPで
Cuプラグ9を形成する。
堆積後、第3のバリア膜10、第2のCu配線11を形
成する(図1(e))。
iO2、SiON、SiOF、パリレン(parylene)、サ
イトップ(cytop)、BCB(benzocycrobutene)、HSQ
(Hydrogen Silsesquioxane)などを用いることが可能
である。
第2のCu配線10の間に、バリア膜7、10とCuプ
ラグ9が挟まれた構造の配線ができる。バリア膜7、1
0は低抵抗であるためビアプラグ自身の抵抗を低減でき
る。
に説明する。
板1に第1の層間絶縁膜2、第2の層間絶縁膜3を堆積
した後、配線溝を通常のリソグラフィとドライエッチン
グで形成し、続いて第1のバリア膜4、Cuを順次堆積
した。その後、CMPによってダマシン配線(第1のC
u配線5)を形成した。続いて、第3の層間絶縁膜6を
堆積後、ビアを開口した。
リア膜7を堆積した。このときのバリア膜の形成は、T
aCl5を流量50〜500sccmで、(CH3)HNNH2を流
量50〜500sccmでCVD室に導入し、成膜室圧力1〜1000
mTorr、250〜400℃で、熱CVDによりTaN膜を形成
した。
タ、めっき等の方法でCu膜8を堆積した。さらに、図
1(d)に示すようにCMPでCuプラグ9を形成し
た。
堆積後、第3のバリア膜10、第2のCu配線11を形
成した(図1(e))。
0℃以上に加熱した基板上にTaCl5と(CH3)HN
NH2を導入すると、(CH3)HNNH2のメチル基は
CH4として、ClはHと反応してHClとして、気相
に脱離する。同時にTaNが基板上に堆積し、バリア膜
を形成する。500℃を超える温度でもこの反応は起こる
が、高温になるに従って、特に700℃付近からメチル基
が分解してTaN膜中に炭素が取り込まれ、高抵抗な膜
が形成しやすくなる。また、500℃を超える温度では層
間絶縁膜の耐熱性の問題などが生じるので、500℃以下
でバリア膜を形成することが望ましい。なお、他のハロ
ゲン化タンタル、例えばTaF5、TaBr5に対して
も、(CH3)HNNH2を導入することによって200〜5
00℃でのバリア膜の成膜が可能である。
よれば、Cu配線の信号遅延を低減でき、高速かつ高信
頼性の半導体デバイスを提供することができる。ひいて
は、Cu配線を用いることにより、デバイスの低消費電
力化、高集積化、小型化を実現できる。
として耐熱性の低い低誘電率膜を形成できるとともに、
高純度なTaNからなるバリア膜が形成できるため、配
線の容量および抵抗ともに減少させることが可能である
からである。
明するための工程断面図である。
Claims (9)
- 【請求項1】 半導体基板上に絶縁膜を堆積する工程
と、該絶縁膜に配線溝あるいはビアを形成する工程と、
ハロゲン化タンタルと(CH3)HNNH2を用いたCV
DによりTaN膜を堆積する工程と、該TaN膜上にC
uを堆積する工程を有することを特徴とする半導体装置
の製造方法。 - 【請求項2】 基板温度200〜500℃でTaN膜を堆積す
ることを特徴とする請求項1記載の半導体装置の製造方
法。 - 【請求項3】 前記ハロゲン化タンタルが、TaC
l5、TaF5、TaBr 5のいずれかであることを特徴
とする請求項1又は2記載の半導体装置の製造方法。 - 【請求項4】 前記絶縁膜が、SiO2、SiON、S
iOF、パリレン、サイトップ、BCB、HSQのいず
れかである請求項1、2又は3記載の半導体装置の製造
方法。 - 【請求項5】 半導体基板上に第1の絶縁膜を堆積した
後、第1の絶縁膜に配線溝を設けて金属を埋め込み配線
を形成する工程と、その上に第2の絶縁膜を堆積する工
程と、第2の絶縁膜にビアを形成する工程と、その上に
ハロゲン化タンタルと(CH3)HNNH2を用いたCV
DによりTaN膜を堆積する工程と、該TaN膜上にC
uを堆積する工程を有することを特徴とする半導体装置
の製造方法。 - 【請求項6】 半導体基板上に第1の絶縁膜を堆積した
後、第1の絶縁膜に配線溝を設けて金属を埋め込み第1
の配線を形成する工程と、その上に第2の絶縁膜を堆積
する工程と、第2の絶縁膜にビアを形成する工程と、そ
の上にハロゲン化タンタルと(CH3)HNNH2を用い
たCVDにより第1のTaN膜を堆積する工程と、第1
のTaN膜上にCuを堆積する工程と、該ビア内部にの
みTaN膜とCuが残るようにCMP処理する工程と、
その上に第3の絶縁膜を堆積する工程と、第3の絶縁膜
に配線溝を形成する工程と、その上にハロゲン化タンタ
ルと(CH3)HNNH2を用いたCVDにより第2のT
aN膜を堆積する工程と、第2のTaN膜上にCuを堆
積して第2の配線を形成する工程とを有することを特徴
とする半導体装置の製造方法。 - 【請求項7】 基板温度200〜500℃でTaN膜を堆積す
ることを特徴とする請求項5又は6記載の半導体装置の
製造方法。 - 【請求項8】 前記ハロゲン化タンタルが、TaC
l5、TaF5、TaBr 5のいずれかであることを特徴
とする請求項5、6又は7記載の半導体装置の製造方
法。 - 【請求項9】 前記絶縁膜が、SiO2、SiON、S
iOF、パリレン、サイトップ、BCB、HSQのいず
れかである請求項5〜8のいずれか1項に記載の半導体
装置の製造方法。
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JP26839598A JP3164152B2 (ja) | 1998-09-22 | 1998-09-22 | 半導体装置の製造方法 |
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JP2000100936A JP2000100936A (ja) | 2000-04-07 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102401105B1 (ko) | 2018-02-07 | 2022-05-23 | 제이엠씨 씨오., 엘티디. | 봉상 자석 및 자성 이물 제거 장치 |
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1998
- 1998-09-22 JP JP26839598A patent/JP3164152B2/ja not_active Expired - Fee Related
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