JP3156250B2 - コンタクトプローブ - Google Patents
コンタクトプローブInfo
- Publication number
- JP3156250B2 JP3156250B2 JP22484590A JP22484590A JP3156250B2 JP 3156250 B2 JP3156250 B2 JP 3156250B2 JP 22484590 A JP22484590 A JP 22484590A JP 22484590 A JP22484590 A JP 22484590A JP 3156250 B2 JP3156250 B2 JP 3156250B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit board
- probe
- roller
- arm
- contact
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Landscapes
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、電気回路基板(以下回路基板)等の電気特
性を測定するときに使用するコンタクトプローブに関す
る。
性を測定するときに使用するコンタクトプローブに関す
る。
従来回路基板等の電気特性を測定するときに使用する
コンタクトプローブは、第3図に示すように機械的接触
端子部15がコイルバネ14により押されて12の方向に移動
する構造のものか、第4図の様に機械的接触端子部16が
それ自体のたわみによるバネで12の方向に移動する構造
のものであった。
コンタクトプローブは、第3図に示すように機械的接触
端子部15がコイルバネ14により押されて12の方向に移動
する構造のものか、第4図の様に機械的接触端子部16が
それ自体のたわみによるバネで12の方向に移動する構造
のものであった。
しかし従来のコンタクトプローブは、プローブ先端の
接触点が第3・4図における12方向すなわち回路基板面
に対して法線方向に移動する使用方が一般的であるが、
回路基板法線方向にたいして直角な回路基板面平行方向
13に移動する使用法には不向きであり、そのような場合
は回路基板上に傷を付けるという課題があった。そこで
本発明は、面平行方向にプローブを移動させて回路基板
等の電気特性を測定する場合に回路基板に損傷を与えな
いようなプローブを提供することを目的とする。
接触点が第3・4図における12方向すなわち回路基板面
に対して法線方向に移動する使用方が一般的であるが、
回路基板法線方向にたいして直角な回路基板面平行方向
13に移動する使用法には不向きであり、そのような場合
は回路基板上に傷を付けるという課題があった。そこで
本発明は、面平行方向にプローブを移動させて回路基板
等の電気特性を測定する場合に回路基板に損傷を与えな
いようなプローブを提供することを目的とする。
上記課題を解決するために本発明の電気特性測定装置
は、回路基板の電気特性を測定する電気特性測定装置に
おいて、前記回路基板上の電極パターンに接触させるた
めのローラーと、前記ローラーを支持するアームと、前
記アームを回動可能に支持するプローブ固定軸と、前記
アームに加圧力を有して接触するとともに加圧軸方向に
移動可能な端子部を有するコンタクトプローブとからな
り、前記アームが回動するに伴って、前記端子部が、前
記加圧軸方向に移動することを特徴とする。
は、回路基板の電気特性を測定する電気特性測定装置に
おいて、前記回路基板上の電極パターンに接触させるた
めのローラーと、前記ローラーを支持するアームと、前
記アームを回動可能に支持するプローブ固定軸と、前記
アームに加圧力を有して接触するとともに加圧軸方向に
移動可能な端子部を有するコンタクトプローブとからな
り、前記アームが回動するに伴って、前記端子部が、前
記加圧軸方向に移動することを特徴とする。
以下に本発明の実施例を図面に基付いて説明する。回
路基板11上の電極パターン10に対してローラー1が接触
し、従来技術第3図に示すバネプローブ7によりベアリ
ング6に支持されたアーム4を介して電気的導通に必要
な加圧をし、かつプローブ7を介して電気信号を授受す
る。接触端子であるローラー1はベアリング2で支持さ
れ、ローラー1との電気信号を確実に授受する為にロー
ラー1の先端をテーパーにとがらせ板バネ3と接触させ
る。なおこのバネ3の加圧力はローラー1とベアリング
2とのスラストがたを除去することも目的としている。
ローラー1はハウジング9の両側に1個づつ2個配し同
一水準の検出をすることによる検出信頼性向上、あるい
は一つのハウジングで2ヵ所の検出をする等の使い分け
を可能とするために、左右のプローブ同志の信号の干渉
を避ける目的で、ベアリング6を支持する軸5を電気的
絶縁体としている。ローラーの接触信頼性を向上するた
めに、ローラー1の電極パターン10と接触する先端アー
ル部分は鏡面仕上げが必要である。
路基板11上の電極パターン10に対してローラー1が接触
し、従来技術第3図に示すバネプローブ7によりベアリ
ング6に支持されたアーム4を介して電気的導通に必要
な加圧をし、かつプローブ7を介して電気信号を授受す
る。接触端子であるローラー1はベアリング2で支持さ
れ、ローラー1との電気信号を確実に授受する為にロー
ラー1の先端をテーパーにとがらせ板バネ3と接触させ
る。なおこのバネ3の加圧力はローラー1とベアリング
2とのスラストがたを除去することも目的としている。
ローラー1はハウジング9の両側に1個づつ2個配し同
一水準の検出をすることによる検出信頼性向上、あるい
は一つのハウジングで2ヵ所の検出をする等の使い分け
を可能とするために、左右のプローブ同志の信号の干渉
を避ける目的で、ベアリング6を支持する軸5を電気的
絶縁体としている。ローラーの接触信頼性を向上するた
めに、ローラー1の電極パターン10と接触する先端アー
ル部分は鏡面仕上げが必要である。
また、ベアリング2との勘合や加工プロセス上で打痕
等欠陥の発生を抑えるため、メッキ等の防錆処理が不要
な超硬あるいはステンレスのプレハードン材等を用いる
事は有効である。
等欠陥の発生を抑えるため、メッキ等の防錆処理が不要
な超硬あるいはステンレスのプレハードン材等を用いる
事は有効である。
以上述べたような発明によれば、ローラーが回路基板
上の電極パターンを乗り越える際、アームの回動を介し
て端子部は加圧軸方向に移動するので、端子部にかかる
回路基板と平行な力は減少する。この力が減少すること
により端子部のこじれがなくなるので、回路基板に損傷
を与えることはなくなるという効果を奏することが出来
る。
上の電極パターンを乗り越える際、アームの回動を介し
て端子部は加圧軸方向に移動するので、端子部にかかる
回路基板と平行な力は減少する。この力が減少すること
により端子部のこじれがなくなるので、回路基板に損傷
を与えることはなくなるという効果を奏することが出来
る。
第1図……本発明ローラープローブの平面断面図。 第2図……本発明ローラープローブの正面図。 第3図……従来のコイルバネ使用コンタクトプローブ断
面図。 第4図……従来のピンたわみ方式コンタクトプローブ断
面図。 1……ローラ 2……ベアリング 3……板バネ 4……アーム 5……軸 6……ベアリング 7……コイルバネ式コンタクトプローブ 8……プローブ固定軸 9……プローブハウジング 10……電極パターン 11……回路基板 12……回路基板法線方向 13……回路基板面平行方向 14……バネ 15……プローブ 16……プローブ
面図。 第4図……従来のピンたわみ方式コンタクトプローブ断
面図。 1……ローラ 2……ベアリング 3……板バネ 4……アーム 5……軸 6……ベアリング 7……コイルバネ式コンタクトプローブ 8……プローブ固定軸 9……プローブハウジング 10……電極パターン 11……回路基板 12……回路基板法線方向 13……回路基板面平行方向 14……バネ 15……プローブ 16……プローブ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01R 1/067 G01R 31/28
Claims (2)
- 【請求項1】回路基板の電気特性を測定する電気特性測
定装置において、 前記回路基板上の電極パターンに接触させるためのロー
ラーと、 前記ローラーを支持するアームと、 前記アームを回動可能に支持するプローブ固定軸と、 前記アームに加圧力を有して接触するとともに加圧軸方
向に移動可能な端子部を有するコンタクトプローブとか
らなり、 前記アームが回動するに伴って、前記端子部が、前記加
圧軸方向に移動することを特徴とする電気特性測定装
置。 - 【請求項2】請求項1に記載の電気特性測定装置を用い
て測定基板の電気特性を測定することを特徴とする電気
特性測定方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP22484590A JP3156250B2 (ja) | 1990-08-27 | 1990-08-27 | コンタクトプローブ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP22484590A JP3156250B2 (ja) | 1990-08-27 | 1990-08-27 | コンタクトプローブ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04105069A JPH04105069A (ja) | 1992-04-07 |
JP3156250B2 true JP3156250B2 (ja) | 2001-04-16 |
Family
ID=16820072
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP22484590A Expired - Fee Related JP3156250B2 (ja) | 1990-08-27 | 1990-08-27 | コンタクトプローブ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3156250B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100368075B1 (ko) * | 2000-02-07 | 2003-01-15 | 마이크로 인스펙션 주식회사 | 로울링 와이어 프로브를 이용한 스캔방식의 검사장치 및방법 |
US7443179B2 (en) * | 2006-11-30 | 2008-10-28 | Electro Scientific Industries, Inc. | Zero motion contact actuation |
-
1990
- 1990-08-27 JP JP22484590A patent/JP3156250B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH04105069A (ja) | 1992-04-07 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4159473B2 (ja) | 導電性ブラシとのローラ接触 | |
JP3295097B2 (ja) | 回転する電気接触子 | |
US6159074A (en) | Caliper assembly for a grinding machine | |
JP3156250B2 (ja) | コンタクトプローブ | |
WO2001066305A8 (en) | Apparatus and methods for measuring the pins diameter of a crankshaft at the place of grinding | |
CN101261841B (zh) | 探针组合体、长形条的研磨装置及长形条的研磨方法 | |
US4477774A (en) | Electrical contact device for an electronic card processing apparatus | |
JP4313827B2 (ja) | 球状外部電極を有する半導体装置の検査方法 | |
JPS623602A (ja) | ケ−ブルのこぶ検出装置 | |
ES448851A1 (es) | Perfeccionamientos en equipos para la medicion de errores deconcentricidad relativos a dos superficies de rotacion. | |
JP2000046870A (ja) | 端子接続装置 | |
JPS60207343A (ja) | 回路基板等の検査装置 | |
JPS6361965A (ja) | パタ−ン基板の検査方法および装置 | |
JPH0428067Y2 (ja) | ||
JP3413649B2 (ja) | 極小径ピンの端面測定方法及び測定装置 | |
CN221078789U (zh) | 一种极片的电阻率测量装置 | |
JPS6042322Y2 (ja) | 平角電線の凹み検出器 | |
KR20000011750U (ko) | 컴퍼스형 프로브 | |
JP2931563B2 (ja) | 直流電動機の診断方法及び診断用治具 | |
JPH05272959A (ja) | ロールプロフィルの測定方法 | |
KR890003887Y1 (ko) | 브이 티 알의 핀치로울러 압착장치 | |
JPS62188976A (ja) | 回路基板検査機用コンタクトプロ−ブ | |
JPS5828298Y2 (ja) | 接触型導体検出装置 | |
JPH0622218Y2 (ja) | 半導体用プローブヘッド | |
US2833900A (en) | Electromechanical continuous scan contact probe |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080209 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090209 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090209 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100209 Year of fee payment: 9 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |