JP3148590B2 - フォーカスサーボの自動調整方法 - Google Patents
フォーカスサーボの自動調整方法Info
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- JP3148590B2 JP3148590B2 JP21286895A JP21286895A JP3148590B2 JP 3148590 B2 JP3148590 B2 JP 3148590B2 JP 21286895 A JP21286895 A JP 21286895A JP 21286895 A JP21286895 A JP 21286895A JP 3148590 B2 JP3148590 B2 JP 3148590B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はフォーカスサーボの自動
調整方法に係り、とくにＣＤプレーヤ、ミニディスクシ
ステム、ＬＤプレーヤ、ＤＶＤシステムなどの光ディス
ク装置においてフォーカスサーボ系のバイアス調整を自
動的に行うようにしたフォーカスサーボの自動調整方法
に関する。
調整方法に係り、とくにＣＤプレーヤ、ミニディスクシ
ステム、ＬＤプレーヤ、ＤＶＤシステムなどの光ディス
ク装置においてフォーカスサーボ系のバイアス調整を自
動的に行うようにしたフォーカスサーボの自動調整方法
に関する。
【０００２】
【従来の技術】ＣＤ（コンパクトディスク），ＬＤ（レ
ーザディスク），ＭＤ（ミニディスク），ＰＤ（相変化
光ディスク），ＤＶＤ（ディジタルビデオディスク）な
どの光ディスクを対象に記録または再生を行う光ディス
ク装置では、光ディスクの面振れに関わらず光ピックア
ップから光ディスクに照射したレーザビームを信号面に
合焦させる必要があり、フォーカスサーボ系を用いて合
焦制御を行っている。図６はＣＤプレーヤのフォーカス
サーボ系を示す回路図である。光ディスク１はスピンド
ルモータ２により一定線速度で回転される。光ピックア
ップ３から光ディスク１の信号面に照射されたレーザビ
ームの反射ビームは光ピックアップ３の４分割光検出器
で検出され、Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄの検出信号が出力される。
ＲＦアンプ４はＲＦ信号演算回路４Ａにて（Ａ＋Ｂ＋Ｃ
＋Ｄ）の演算を行いＲＦ信号を作成し、波形整形回路４
Ｂで波形整形して２値化ＲＦ信号に変換し、ディジタル
信号処理回路５へ出力する。ディジタル信号処理回路５
は２値化ＲＦ信号からオーディオデータの復調を行う。
ーザディスク），ＭＤ（ミニディスク），ＰＤ（相変化
光ディスク），ＤＶＤ（ディジタルビデオディスク）な
どの光ディスクを対象に記録または再生を行う光ディス
ク装置では、光ディスクの面振れに関わらず光ピックア
ップから光ディスクに照射したレーザビームを信号面に
合焦させる必要があり、フォーカスサーボ系を用いて合
焦制御を行っている。図６はＣＤプレーヤのフォーカス
サーボ系を示す回路図である。光ディスク１はスピンド
ルモータ２により一定線速度で回転される。光ピックア
ップ３から光ディスク１の信号面に照射されたレーザビ
ームの反射ビームは光ピックアップ３の４分割光検出器
で検出され、Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄの検出信号が出力される。
ＲＦアンプ４はＲＦ信号演算回路４Ａにて（Ａ＋Ｂ＋Ｃ
＋Ｄ）の演算を行いＲＦ信号を作成し、波形整形回路４
Ｂで波形整形して２値化ＲＦ信号に変換し、ディジタル
信号処理回路５へ出力する。ディジタル信号処理回路５
は２値化ＲＦ信号からオーディオデータの復調を行う。
【０００３】また、ＲＦアンプ４ではＦＥ信号演算回路
４Ｃにより、ＦＥ＝（Ａ＋Ｃ）−（Ｂ＋Ｄ）の演算がな
されてフォーカスエラー信号ＦＥも作成される。フォー
カスエラー信号ＦＥは位相補償回路７で位相補償がされ
たあとフォーカスドライバ８に入力され、該フォーカス
ドライバ８が光ピックアップ３に設けられたフォーカス
アクチュエータ３Ａを駆動して対物レンズを信号面に対
し垂直方向に移動し、レーザビームを合焦状態に保つ。
光ピックアップ３、ＦＥ信号演算回路４Ｃ、位相補償回
路７、フォーカスドライバ８、フォーカスアクチュエー
タ３Ａによりフォーカスサーボ系が構成されている。
４Ｃにより、ＦＥ＝（Ａ＋Ｃ）−（Ｂ＋Ｄ）の演算がな
されてフォーカスエラー信号ＦＥも作成される。フォー
カスエラー信号ＦＥは位相補償回路７で位相補償がされ
たあとフォーカスドライバ８に入力され、該フォーカス
ドライバ８が光ピックアップ３に設けられたフォーカス
アクチュエータ３Ａを駆動して対物レンズを信号面に対
し垂直方向に移動し、レーザビームを合焦状態に保つ。
光ピックアップ３、ＦＥ信号演算回路４Ｃ、位相補償回
路７、フォーカスドライバ８、フォーカスアクチュエー
タ３Ａによりフォーカスサーボ系が構成されている。
【０００４】ところで、フォーカスサーボ系では光ピッ
クアップ光学系のオフセットや、光ピックアップや位相
補償回路、フォーカスドライバ等の回路系のオフセット
の存在から、レーザビームが信号面に対し完全な合焦状
態となってもフォーカスエラー信号ＦＥは零とならず、
セット毎に異なった或るオフセット分を持つ。フォーカ
スサーボ系はフォーカスエラー信号ＦＥが零となるよう
に制御を行うから、オフセット分の存在によりレーザビ
ームが信号面に対し完全な合焦状態とならなくなってし
まう。このまま再生するとデータを復調する際のエラー
発生率が高くなってしまう。このため、従来から、フォ
ーカスサーボ系にはオフセット調整用のバイアス電圧発
生回路９と、該バイアス電圧発生回路９で発生させたバ
イアス電圧をサーボ系に印加するための加算器６とが設
けられており、セット毎に適切なバイアス電圧を印加す
ることで光学系や回路系のオフセットを打ち消すように
している。
クアップ光学系のオフセットや、光ピックアップや位相
補償回路、フォーカスドライバ等の回路系のオフセット
の存在から、レーザビームが信号面に対し完全な合焦状
態となってもフォーカスエラー信号ＦＥは零とならず、
セット毎に異なった或るオフセット分を持つ。フォーカ
スサーボ系はフォーカスエラー信号ＦＥが零となるよう
に制御を行うから、オフセット分の存在によりレーザビ
ームが信号面に対し完全な合焦状態とならなくなってし
まう。このまま再生するとデータを復調する際のエラー
発生率が高くなってしまう。このため、従来から、フォ
ーカスサーボ系にはオフセット調整用のバイアス電圧発
生回路９と、該バイアス電圧発生回路９で発生させたバ
イアス電圧をサーボ系に印加するための加算器６とが設
けられており、セット毎に適切なバイアス電圧を印加す
ることで光学系や回路系のオフセットを打ち消すように
している。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】サーボ系に印加するバ
イアス電圧の調整は、従来、オシロスコープでＲＦ信号
のアイパターンを見ながら目がはっきり開くように手動
調整したり、ジッターメータで測定したＲＦ信号のジッ
ター量が最小となるように手動調整したり、オシロスコ
ープでＲＦ信号の振幅レベルを見ながら振幅レベルが最
大となるように手動調整して行っていたが、手間が掛か
ること、個人差による調整のバラツキが大きいことか
ら、調整精度を上げたり自動調整できるようにした幾つ
かの提案がある。この内、実開平２−２６１２２号公報
の第３図の例は、フォーカスサーボ系に正弦波信号、方
形波信号を印加したときのジッター量変動信号を同期検
波し、ＬＰＦを通してフォーカスずれ方向とずれ量を表
す信号を得、フォーカスサーボ系に帰還することで自動
調整するようにしている。しかし、フォーカスサーボ系
に印加する正弦波信号や方形波信号等の変動外乱成分を
印加しながらＲＦ信号のジッター量を正確に検出するこ
とは難しく、最適なバイアス電圧値が得にくいという問
題がある。また、サーボループが２重になるのでサーボ
の安定性が悪化してしまう問題もある。また、特開平２
−１８７９３０号公報は、フォーカスバイアス信号に平
均値を変化させながら周期性の調整用信号を重畳し、Ｒ
Ｆ信号の振幅レベルが一定化したときのバイアス信号値
とジッター量が一定化したときのバイアス信号値の中間
にバイアス信号値を固定するようにしている。しかし、
ＲＦ信号の振幅レベルが一定化したときのバイアス信号
値とジッター量が一定化したときのバイアス信号値の両
方を探索するために多大の時間が掛かり、回路構成も複
雑化する。また、最終的には作業者が手動調整しなけれ
ばならないという問題がある。
イアス電圧の調整は、従来、オシロスコープでＲＦ信号
のアイパターンを見ながら目がはっきり開くように手動
調整したり、ジッターメータで測定したＲＦ信号のジッ
ター量が最小となるように手動調整したり、オシロスコ
ープでＲＦ信号の振幅レベルを見ながら振幅レベルが最
大となるように手動調整して行っていたが、手間が掛か
ること、個人差による調整のバラツキが大きいことか
ら、調整精度を上げたり自動調整できるようにした幾つ
かの提案がある。この内、実開平２−２６１２２号公報
の第３図の例は、フォーカスサーボ系に正弦波信号、方
形波信号を印加したときのジッター量変動信号を同期検
波し、ＬＰＦを通してフォーカスずれ方向とずれ量を表
す信号を得、フォーカスサーボ系に帰還することで自動
調整するようにしている。しかし、フォーカスサーボ系
に印加する正弦波信号や方形波信号等の変動外乱成分を
印加しながらＲＦ信号のジッター量を正確に検出するこ
とは難しく、最適なバイアス電圧値が得にくいという問
題がある。また、サーボループが２重になるのでサーボ
の安定性が悪化してしまう問題もある。また、特開平２
−１８７９３０号公報は、フォーカスバイアス信号に平
均値を変化させながら周期性の調整用信号を重畳し、Ｒ
Ｆ信号の振幅レベルが一定化したときのバイアス信号値
とジッター量が一定化したときのバイアス信号値の中間
にバイアス信号値を固定するようにしている。しかし、
ＲＦ信号の振幅レベルが一定化したときのバイアス信号
値とジッター量が一定化したときのバイアス信号値の両
方を探索するために多大の時間が掛かり、回路構成も複
雑化する。また、最終的には作業者が手動調整しなけれ
ばならないという問題がある。
【０００６】また、特開平６−２３１４７７号公報は、
ジッター量が最小となるバイアス電圧値を計測して最小
ジッター量より所定量大きな閾値を設定し、該閾値での
バイアス電圧値を計測し、平均化して最適バイアス値と
することで自動調整するものである。しかし、ジッター
量が最小となるバイアス電圧値を探索するだけでもかな
りの時間が掛かる上、更に、閾値設定と閾値を満たす２
つのバイアス電圧値の計測にもかなりの時間が掛かり、
最適バイアス値を迅速に求めることができないという問
題がある。また、特開平７−４４８８２号公報は、バア
イス電圧とジッター量の関係を示す特性線図における両
外側領域で、同一ジッター量となる２つのバイアス電圧
を探索し、平均を取ることで最適バイアス値を求めるも
のであるが、同一ジッター量となる２つのバイアス電圧
を探索するのに多大の時間が掛かり、また、最終的に作
業者がバイアス電圧を最適調整しなければならない。
ジッター量が最小となるバイアス電圧値を計測して最小
ジッター量より所定量大きな閾値を設定し、該閾値での
バイアス電圧値を計測し、平均化して最適バイアス値と
することで自動調整するものである。しかし、ジッター
量が最小となるバイアス電圧値を探索するだけでもかな
りの時間が掛かる上、更に、閾値設定と閾値を満たす２
つのバイアス電圧値の計測にもかなりの時間が掛かり、
最適バイアス値を迅速に求めることができないという問
題がある。また、特開平７−４４８８２号公報は、バア
イス電圧とジッター量の関係を示す特性線図における両
外側領域で、同一ジッター量となる２つのバイアス電圧
を探索し、平均を取ることで最適バイアス値を求めるも
のであるが、同一ジッター量となる２つのバイアス電圧
を探索するのに多大の時間が掛かり、また、最終的に作
業者がバイアス電圧を最適調整しなければならない。
【０００７】本発明は上記した従来技術の問題に鑑み、
短い時間で精度良く最適バイアス値を見出すことのでき
るフォーカスサーボの自動調整方法を提供することを、
その目的とする。
短い時間で精度良く最適バイアス値を見出すことのでき
るフォーカスサーボの自動調整方法を提供することを、
その目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明のフォーカスサー
ボの自動調整方法は、光ピックアップの合焦制御を行う
フォーカスサーボ系のバイアス調整用のバイアス電圧を
発生するバイアス電圧発生回路と、光ディスクから再生
したＲＦ信号のジッター量を計測するジッター量検出回
路と、を備えた光ディスク装置において、光ディスクの
再生状態下でバイアス電圧発生回路を制御して３つの異
なるバイアス電圧値に可変したときのジッター量検出回
路での計測値を求め、バイアス電圧の変化に対するジッ
ター量の変化が２次曲線に従うと仮定して、バイアス電
圧値とジッター量の３組の計測データからジッター量が
最小となる最適バイアス電圧値を推定し、しかるのち、
バイアス電圧発生回路を先に推定した最適バイアス電圧
値に調整すること、を特徴としている。
ボの自動調整方法は、光ピックアップの合焦制御を行う
フォーカスサーボ系のバイアス調整用のバイアス電圧を
発生するバイアス電圧発生回路と、光ディスクから再生
したＲＦ信号のジッター量を計測するジッター量検出回
路と、を備えた光ディスク装置において、光ディスクの
再生状態下でバイアス電圧発生回路を制御して３つの異
なるバイアス電圧値に可変したときのジッター量検出回
路での計測値を求め、バイアス電圧の変化に対するジッ
ター量の変化が２次曲線に従うと仮定して、バイアス電
圧値とジッター量の３組の計測データからジッター量が
最小となる最適バイアス電圧値を推定し、しかるのち、
バイアス電圧発生回路を先に推定した最適バイアス電圧
値に調整すること、を特徴としている。
【０００９】また、他のフォーカスサーボの自動調整方
法は、光ディスクの再生状態下でバイアス電圧発生回路
を制御して所定の条件を満たす低，中，高の３つの異な
るバイアス電圧値に可変したときのジッター量検出回路
での計測値を求め、前記所定の条件は低バイアス電圧値
と中バイアス電圧値の間のジッター量変化極性と中バイ
アス電圧値と高バイアス電圧値の間のジッター量変化極
性が逆であることとし、バイアス電圧の変化に対するジ
ッター量の変化が２次曲線に従うと仮定して、バイアス
電圧値とジッター量の３組の計測データからジッター量
が最小となる最適バイアス電圧値を推定し、しかるの
ち、バイアス電圧発生回路を先に推定した最適バイアス
電圧値に調整すること、を特徴としている。
法は、光ディスクの再生状態下でバイアス電圧発生回路
を制御して所定の条件を満たす低，中，高の３つの異な
るバイアス電圧値に可変したときのジッター量検出回路
での計測値を求め、前記所定の条件は低バイアス電圧値
と中バイアス電圧値の間のジッター量変化極性と中バイ
アス電圧値と高バイアス電圧値の間のジッター量変化極
性が逆であることとし、バイアス電圧の変化に対するジ
ッター量の変化が２次曲線に従うと仮定して、バイアス
電圧値とジッター量の３組の計測データからジッター量
が最小となる最適バイアス電圧値を推定し、しかるの
ち、バイアス電圧発生回路を先に推定した最適バイアス
電圧値に調整すること、を特徴としている。
【００１０】
【００１１】
【００１２】
【作用】本発明のフォーカスサーボの自動調整方法によ
れば、光ディスクの再生状態下でバイアス電圧発生回路
を制御して３つの異なるバイアス電圧値に可変したとき
のジッター量検出回路での計測値を求め、バイアス電圧
の変化に対するジッター量の変化が２次曲線に従うと仮
定して、バイアス電圧値とジッター量の３組の計測デー
タからジッター量が最小となる最適バイアス電圧値を推
定し、しかるのち、バイアス電圧発生回路を先に推定し
た最適バイアス電圧値に調整する。これにより、互いに
バイアス電圧値の異なる３つの点のバイアス電圧値とジ
ッター量の関係を計測するだけで良く、ジッター量が最
小値や所定値となっているなど特定の固定点を探索しな
くて良いので最適バイアス電圧値を迅速に見出すことが
できる。
れば、光ディスクの再生状態下でバイアス電圧発生回路
を制御して３つの異なるバイアス電圧値に可変したとき
のジッター量検出回路での計測値を求め、バイアス電圧
の変化に対するジッター量の変化が２次曲線に従うと仮
定して、バイアス電圧値とジッター量の３組の計測デー
タからジッター量が最小となる最適バイアス電圧値を推
定し、しかるのち、バイアス電圧発生回路を先に推定し
た最適バイアス電圧値に調整する。これにより、互いに
バイアス電圧値の異なる３つの点のバイアス電圧値とジ
ッター量の関係を計測するだけで良く、ジッター量が最
小値や所定値となっているなど特定の固定点を探索しな
くて良いので最適バイアス電圧値を迅速に見出すことが
できる。
【００１３】また、本発明の他のフォーカスサーボの自
動調整方法によれば、光ディスクの再生状態下でバイア
ス電圧発生回路を制御して所定の条件を満たす低，中，
高の３つの異なるバイアス電圧値に可変したときのジッ
ター量検出回路での計測値を求め、前記所定の条件は低
バイアス電圧値と中バイアス電圧値の間のジッター量変
化極性と中バイアス電圧値と高バイアス電圧値の間のジ
ッター量変化極性が逆であることとし、バイアス電圧の
変化に対するジッター量の変化が２次曲線に従うと仮定
して、バイアス電圧値とジッター量の３組の計測データ
からジッター量が最小となる最適バイアス電圧値を推定
し、しかるのち、バイアス電圧発生回路を先に推定した
最適バイアス電圧値に調整する。これにより、広範囲の
測定結果を利用して精度の高いジッター量最小ポイント
の推定を行うことができ、調整精度が増す。また、３つ
の測定ポイントの条件が緩く、自由度が高いのでジッタ
ー量が最小値や所定値となっているなど特定の固定点を
探索するより最適バイアス電圧値を迅速に見出すことが
できる。
動調整方法によれば、光ディスクの再生状態下でバイア
ス電圧発生回路を制御して所定の条件を満たす低，中，
高の３つの異なるバイアス電圧値に可変したときのジッ
ター量検出回路での計測値を求め、前記所定の条件は低
バイアス電圧値と中バイアス電圧値の間のジッター量変
化極性と中バイアス電圧値と高バイアス電圧値の間のジ
ッター量変化極性が逆であることとし、バイアス電圧の
変化に対するジッター量の変化が２次曲線に従うと仮定
して、バイアス電圧値とジッター量の３組の計測データ
からジッター量が最小となる最適バイアス電圧値を推定
し、しかるのち、バイアス電圧発生回路を先に推定した
最適バイアス電圧値に調整する。これにより、広範囲の
測定結果を利用して精度の高いジッター量最小ポイント
の推定を行うことができ、調整精度が増す。また、３つ
の測定ポイントの条件が緩く、自由度が高いのでジッタ
ー量が最小値や所定値となっているなど特定の固定点を
探索するより最適バイアス電圧値を迅速に見出すことが
できる。
【００１４】
【００１５】
【００１６】
【実施例】図１は本発明に係るフォーカスサーボの自動
調整方法を具現したＣＤプレーヤのフォーカスサーボ系
を示す回路図である。光ディスク１はスピンドルモータ
２により一定線速度で回転される。光ピックアップ３か
ら光ディスク１の信号面に照射されたレーザビームの反
射ビームが光ピックアップ３の４分割光検出器で検出さ
れ、Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄの検出信号が出力される。ＲＦアン
プ４はＲＦ信号演算回路４Ａにて（Ａ＋Ｂ＋Ｃ＋Ｄ）の
演算を行いＲＦ信号を作成し、波形整形回路４Ｂで波形
整形して２値化ＲＦ信号に変換し、ディジタル信号処理
回路５へ出力する。ディジタル信号処理回路５は２値化
ＲＦ信号からオーディオデータの復調を行う。
調整方法を具現したＣＤプレーヤのフォーカスサーボ系
を示す回路図である。光ディスク１はスピンドルモータ
２により一定線速度で回転される。光ピックアップ３か
ら光ディスク１の信号面に照射されたレーザビームの反
射ビームが光ピックアップ３の４分割光検出器で検出さ
れ、Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄの検出信号が出力される。ＲＦアン
プ４はＲＦ信号演算回路４Ａにて（Ａ＋Ｂ＋Ｃ＋Ｄ）の
演算を行いＲＦ信号を作成し、波形整形回路４Ｂで波形
整形して２値化ＲＦ信号に変換し、ディジタル信号処理
回路５へ出力する。ディジタル信号処理回路５は２値化
ＲＦ信号からオーディオデータの復調を行う。
【００１７】また、ＲＦアンプ４ではＦＥ信号演算回路
４Ｃにより、ＦＥ＝（Ａ＋Ｃ）−（Ｂ＋Ｄ）の演算がな
されてフォーカスエラー信号ＦＥも作成される。フォー
カスエラー信号ＦＥは位相補償回路７で位相補償がされ
たあとフォーカスドライバ８に入力され、該フォーカス
ドライバ８が光ピックアップ３に設けられたフォーカス
アクチュエータ３Ａを駆動して対物レンズを信号面に対
し垂直方向に移動し、レーザビームを合焦状態に保つ。
光ピックアップ３、ＦＥ信号演算回路４Ｃ、位相補償回
路７、フォーカスドライバ８、フォーカスアクチュエー
タ３Ａによりフォーカスサーボ系が構成されている。
４Ｃにより、ＦＥ＝（Ａ＋Ｃ）−（Ｂ＋Ｄ）の演算がな
されてフォーカスエラー信号ＦＥも作成される。フォー
カスエラー信号ＦＥは位相補償回路７で位相補償がされ
たあとフォーカスドライバ８に入力され、該フォーカス
ドライバ８が光ピックアップ３に設けられたフォーカス
アクチュエータ３Ａを駆動して対物レンズを信号面に対
し垂直方向に移動し、レーザビームを合焦状態に保つ。
光ピックアップ３、ＦＥ信号演算回路４Ｃ、位相補償回
路７、フォーカスドライバ８、フォーカスアクチュエー
タ３Ａによりフォーカスサーボ系が構成されている。
【００１８】このフォーカスサーボ系には、光学系と回
路系の持つオフセットを打ち消すためのオフセット調整
回路が設けられている。このオフセット調整回路は、後
述するコントローラの制御で出力電圧値を可変するバイ
アス電圧発生回路９０と、ＦＥ信号演算回路４Ｃと位相
補償回路７の間に設けられてサーボ系にバイアス電圧発
生回路９０で発生したバイアス電圧を印加する加算器６
と、波形整形回路４Ｂの出力側に設けられてＲＦ信号の
ジッター量を検出するジッター量検出回路１０と、バイ
アス電圧発生回路９０を制御して最適な値のバイアス電
圧を出力させるマイコン構成のコントローラ１１とから
構成されている。
路系の持つオフセットを打ち消すためのオフセット調整
回路が設けられている。このオフセット調整回路は、後
述するコントローラの制御で出力電圧値を可変するバイ
アス電圧発生回路９０と、ＦＥ信号演算回路４Ｃと位相
補償回路７の間に設けられてサーボ系にバイアス電圧発
生回路９０で発生したバイアス電圧を印加する加算器６
と、波形整形回路４Ｂの出力側に設けられてＲＦ信号の
ジッター量を検出するジッター量検出回路１０と、バイ
アス電圧発生回路９０を制御して最適な値のバイアス電
圧を出力させるマイコン構成のコントローラ１１とから
構成されている。
【００１９】コントローラ１１は光ディスク１の再生状
態下において、内蔵プログラムに従いフォーカスオフセ
ット調整制御を実行する。具体的な調整方法を図２の線
図を参照して説明する。図２はバイアス電圧（ｘ）とＲ
Ｆジッター量（ｙ）の関係を示す線図であり、２次曲線
で近似可能である。コントローラ１１はバイアス電圧発
生回路９０を制御して３つの異なるバイアス電圧ｘA ，
ｘB ，ｘC を発生させ、各電圧値においてジッター量検
出回路１０で検出されたジッター量ｙA ，ｙB ，ｙc を
入力し、バイアス電圧と対応付けて内蔵ＲＡＭに記憶す
る。次に、３組の測定ポイントＡ，Ｂ，Ｃはいずれも一
般式が次式、 ｙ＝ａｘ2 ＋ｂｘ＋ｄ ・・（１） の２次曲線上に乗っているとして、 ｙA ＝ａｘA 2 ＋ｂｘA ＋ｄ ・・（２） ｙB ＝ａｘB 2 ＋ｂｘB ＋ｄ ・・（３） ｙC ＝ａｘC 2 ＋ｂｘC ＋ｄ ・・（４） の３式から成る連立方程式を解き、ａ，ｂ，ｄを求め
る。
態下において、内蔵プログラムに従いフォーカスオフセ
ット調整制御を実行する。具体的な調整方法を図２の線
図を参照して説明する。図２はバイアス電圧（ｘ）とＲ
Ｆジッター量（ｙ）の関係を示す線図であり、２次曲線
で近似可能である。コントローラ１１はバイアス電圧発
生回路９０を制御して３つの異なるバイアス電圧ｘA ，
ｘB ，ｘC を発生させ、各電圧値においてジッター量検
出回路１０で検出されたジッター量ｙA ，ｙB ，ｙc を
入力し、バイアス電圧と対応付けて内蔵ＲＡＭに記憶す
る。次に、３組の測定ポイントＡ，Ｂ，Ｃはいずれも一
般式が次式、 ｙ＝ａｘ2 ＋ｂｘ＋ｄ ・・（１） の２次曲線上に乗っているとして、 ｙA ＝ａｘA 2 ＋ｂｘA ＋ｄ ・・（２） ｙB ＝ａｘB 2 ＋ｂｘB ＋ｄ ・・（３） ｙC ＝ａｘC 2 ＋ｂｘC ＋ｄ ・・（４） の３式から成る連立方程式を解き、ａ，ｂ，ｄを求め
る。
【００２０】（１）式を変形すると、 ｙ＝ａ（ｘ＋ｅ）2 ＋ｆ 但し、ｅ＝ｂ／２ａ、ｆ＝ｄ−（ｂ2 ／４ａ）となる。
よって、バイアス電圧値が ｘN ＝−ｂ／２ａ ・・（５） のとき、ＲＦジッター量がｙN ＝ｆの最小値となる。コ
ントローラ１１はａ，ｂ，ｄを求めたあと（５）の計算
を行って、ジッター量を最小とできるバイアス電圧値ｘ
N を推定し、バイアス電圧発生回路９０を制御してｘN
を発生させ、バイアス電圧の自動調整を終える。
よって、バイアス電圧値が ｘN ＝−ｂ／２ａ ・・（５） のとき、ＲＦジッター量がｙN ＝ｆの最小値となる。コ
ントローラ１１はａ，ｂ，ｄを求めたあと（５）の計算
を行って、ジッター量を最小とできるバイアス電圧値ｘ
N を推定し、バイアス電圧発生回路９０を制御してｘN
を発生させ、バイアス電圧の自動調整を終える。
【００２１】この自動調整を、電源オン操作後のＴＯＣ
情報の読み取り中または読み取り開始直前に行ったり、
各曲の演奏開始時に行うことで、フォーカスサーボ系の
特性の経時変化にも対応することができる。
情報の読み取り中または読み取り開始直前に行ったり、
各曲の演奏開始時に行うことで、フォーカスサーボ系の
特性の経時変化にも対応することができる。
【００２２】また、コントローラ１１が不揮発性メモリ
を有する場合、メーカ側で組立調整時に上記した手法に
より推定値ｘN を求め、不揮発性メモリに保存してお
き、その後、ユーザが電源オン操作をする度に、コント
ローラ１１が保存データを読み出し、バイアス電圧発生
回路９０の調整を行うようにしても良い。また、ユーザ
がセット購入後、最初に電源オン操作をしたときに上記
した手法により推定値ｘN を求め、不揮発性メモリに保
存しておき、その後、ユーザが電源オン操作をする度
に、コントローラ１１が保存データを読み出し、バイア
ス電圧発生回路９０の調整を行うようにしても良い。
を有する場合、メーカ側で組立調整時に上記した手法に
より推定値ｘN を求め、不揮発性メモリに保存してお
き、その後、ユーザが電源オン操作をする度に、コント
ローラ１１が保存データを読み出し、バイアス電圧発生
回路９０の調整を行うようにしても良い。また、ユーザ
がセット購入後、最初に電源オン操作をしたときに上記
した手法により推定値ｘN を求め、不揮発性メモリに保
存しておき、その後、ユーザが電源オン操作をする度
に、コントローラ１１が保存データを読み出し、バイア
ス電圧発生回路９０の調整を行うようにしても良い。
【００２３】この実施例によれば、コントローラ１１は
互いに電圧値の異なる３つのバイアス電圧値におけるジ
ッター量を計測するだけで良く、ジッター量が最小値や
所定値となっているなど特定の固定点を探索しなくて良
いので最適バイアス値を短時間かつ自動的に見出すこと
ができ、調整のためメーカ作業者やユーザが長く待たさ
れることはない。また、最適バイアス値の探索に続いて
バイアス電圧発生回路９０の調整を行う場合には、フォ
ーカスバイアス調整全体を短時間で済ますこともでき
る。これに対し、特定のジッター量となっている点を測
定ポイントとする場合、ジッター量を監視しながらバイ
アス電圧値を連続的に可変させていき、所望ジッター量
となっているバイアス電圧値を探索しなければならず、
探索に時間が掛かるとともに、プログラムも複雑となっ
て多くのメモリ容量を要する。なお、３つの測定ポイン
トのバイアス電圧値は、任意で良いが、予め、１つまた
は２つまたは３つのバイアス電圧値を固定しておいても
良く、固定値の内、１つは電圧値＝零としても良い。
互いに電圧値の異なる３つのバイアス電圧値におけるジ
ッター量を計測するだけで良く、ジッター量が最小値や
所定値となっているなど特定の固定点を探索しなくて良
いので最適バイアス値を短時間かつ自動的に見出すこと
ができ、調整のためメーカ作業者やユーザが長く待たさ
れることはない。また、最適バイアス値の探索に続いて
バイアス電圧発生回路９０の調整を行う場合には、フォ
ーカスバイアス調整全体を短時間で済ますこともでき
る。これに対し、特定のジッター量となっている点を測
定ポイントとする場合、ジッター量を監視しながらバイ
アス電圧値を連続的に可変させていき、所望ジッター量
となっているバイアス電圧値を探索しなければならず、
探索に時間が掛かるとともに、プログラムも複雑となっ
て多くのメモリ容量を要する。なお、３つの測定ポイン
トのバイアス電圧値は、任意で良いが、予め、１つまた
は２つまたは３つのバイアス電圧値を固定しておいても
良く、固定値の内、１つは電圧値＝零としても良い。
【００２４】また、３つの測定ポイントはバイアス電圧
−ＲＦジッター量の特性線図の広い範囲から選び出した
方がａ，ｂ，ｄの演算精度が向上することから、特性線
図の中心から見て片側に２の測定ポイントを選び、他の
片側に１つの測定ポイントを選ぶようにしても良い。こ
の具体的な手法を図３を参照して説明すると、コントロ
ーラ１１が再生状態下でバイアス電圧発生回路９０を制
御して、まず、３つの異なるバイアス電圧値に可変した
ときのジッター量検出回路１０での計測値を求める。こ
のときの測定ポイントが低バイアス電圧のＬ（ｘL ，ｙ
L ）、中バイアス電圧のＭ（ｘM ，ｙM ）、高バイアス
電圧のＨ（ｘH ，ｙH ）であったとき、低バイアス電圧
値と中バイアス電圧値の間のジッター量変化極性である
（ｙM−ｙL ）の符号と、中バイアス電圧値と高バイア
ス電圧値の間のジッター量変化極性である（ｙH −
ｙM ）の符号が逆か否か判定する。逆極性の関係にある
とき、低バイアス電圧の測定ポイントＬは必ず特性線図
の中心線Ｔの左に存在し、高バイアス電圧の測定ポイン
トＨは必ず特性線図の中心線Ｔの右に存在し、中バイア
ス電圧の測定ポイントＭは中間に存在し、測定ポイント
がＴの両側に広く分布しているので（図３のＡ，Ｂ，Ｃ
参照）、そのまま（２）〜（４）に代入してａ，ｂ，ｄ
を求めれば精度良くｘN を推定することができる。
−ＲＦジッター量の特性線図の広い範囲から選び出した
方がａ，ｂ，ｄの演算精度が向上することから、特性線
図の中心から見て片側に２の測定ポイントを選び、他の
片側に１つの測定ポイントを選ぶようにしても良い。こ
の具体的な手法を図３を参照して説明すると、コントロ
ーラ１１が再生状態下でバイアス電圧発生回路９０を制
御して、まず、３つの異なるバイアス電圧値に可変した
ときのジッター量検出回路１０での計測値を求める。こ
のときの測定ポイントが低バイアス電圧のＬ（ｘL ，ｙ
L ）、中バイアス電圧のＭ（ｘM ，ｙM ）、高バイアス
電圧のＨ（ｘH ，ｙH ）であったとき、低バイアス電圧
値と中バイアス電圧値の間のジッター量変化極性である
（ｙM−ｙL ）の符号と、中バイアス電圧値と高バイア
ス電圧値の間のジッター量変化極性である（ｙH −
ｙM ）の符号が逆か否か判定する。逆極性の関係にある
とき、低バイアス電圧の測定ポイントＬは必ず特性線図
の中心線Ｔの左に存在し、高バイアス電圧の測定ポイン
トＨは必ず特性線図の中心線Ｔの右に存在し、中バイア
ス電圧の測定ポイントＭは中間に存在し、測定ポイント
がＴの両側に広く分布しているので（図３のＡ，Ｂ，Ｃ
参照）、そのまま（２）〜（４）に代入してａ，ｂ，ｄ
を求めれば精度良くｘN を推定することができる。
【００２５】反対に、（ｙM −ｙL ）の符号と、（ｙH
−ｙM ）の符号が同じ場合、Ｌ，Ｍ，ＨがＴの左側また
は右側に偏って存在しているか、または、中心線Ｔを跨
いで両側に広く分布していない可能性が有り、符号がと
もに−の場合はＨ、符号がともに＋の場合はＬを測定ポ
イントとはしない。例えば、図３のＡ，Ｂ，Ｃ´の如く
なり、Ｃ´を測定ポイントから外す場合、Ｃよりバイア
ス電圧を大きくした測定ポイントで（ｙH −ｙM ）の符
号が（ｙM −ｙL ）の符号と反対となるポイント、例え
ば、Ｅを探し、Ａ，Ｂと合わせて３つの測定ポイントと
すれば、各測定ポイントがＴの両側に広く分布するの
で、（２）〜（４）に代入してａ，ｂ，ｄを求めて精度
良くｘN を推定することができる。なお、最初に３つの
異なるバイアス電圧値のポイントのジッター量を測定す
る際、３つとも任意のバイアス電圧値としても良いが、
１つまたは２つは予め、定められたバイアス電圧値とし
ても良く、内、１つは電圧値＝零としても良い。
−ｙM ）の符号が同じ場合、Ｌ，Ｍ，ＨがＴの左側また
は右側に偏って存在しているか、または、中心線Ｔを跨
いで両側に広く分布していない可能性が有り、符号がと
もに−の場合はＨ、符号がともに＋の場合はＬを測定ポ
イントとはしない。例えば、図３のＡ，Ｂ，Ｃ´の如く
なり、Ｃ´を測定ポイントから外す場合、Ｃよりバイア
ス電圧を大きくした測定ポイントで（ｙH −ｙM ）の符
号が（ｙM −ｙL ）の符号と反対となるポイント、例え
ば、Ｅを探し、Ａ，Ｂと合わせて３つの測定ポイントと
すれば、各測定ポイントがＴの両側に広く分布するの
で、（２）〜（４）に代入してａ，ｂ，ｄを求めて精度
良くｘN を推定することができる。なお、最初に３つの
異なるバイアス電圧値のポイントのジッター量を測定す
る際、３つとも任意のバイアス電圧値としても良いが、
１つまたは２つは予め、定められたバイアス電圧値とし
ても良く、内、１つは電圧値＝零としても良い。
【００２６】このように、光ディスクの再生状態下でバ
イアス電圧発生回路９０を制御して所定の条件を満たす
低，中，高の３つの異なるバイアス電圧値に可変したと
きのジッター量検出回路１０での計測値を求め、このと
き前記所定の条件は低バイアス電圧値と中バイアス電圧
値の間のジッター量変化極性と中バイアス電圧値と高バ
イアス電圧値の間のジッター量変化極性が逆となってい
ることとしたことで、各測定ポイントをＴの両範囲にな
るべく広く分布させることができ、精度良くｘN を推定
することができる。そして、３つの測定ポイントの条件
はジッター量変化極性の関係だけで自由度が高いので、
バイアス電圧値を可変しながらジッター量が最小値や所
定値となっている特定の固定点を探索するよりも、最適
バイアス電圧値を かに迅速に見出すことができる。
イアス電圧発生回路９０を制御して所定の条件を満たす
低，中，高の３つの異なるバイアス電圧値に可変したと
きのジッター量検出回路１０での計測値を求め、このと
き前記所定の条件は低バイアス電圧値と中バイアス電圧
値の間のジッター量変化極性と中バイアス電圧値と高バ
イアス電圧値の間のジッター量変化極性が逆となってい
ることとしたことで、各測定ポイントをＴの両範囲にな
るべく広く分布させることができ、精度良くｘN を推定
することができる。そして、３つの測定ポイントの条件
はジッター量変化極性の関係だけで自由度が高いので、
バイアス電圧値を可変しながらジッター量が最小値や所
定値となっている特定の固定点を探索するよりも、最適
バイアス電圧値を かに迅速に見出すことができる。
【００２７】なお、上記した実施例ではコントローラ１
１はＲＦアンプ４の波形整形回路４Ｃの出力側にジッタ
ー量検出回路１０を設けて、ジッター量が最小となるバ
イアス電圧値を直接推定するようにしたが、ジッター量
が最小となるときのバイアス電圧値とＲＦ振幅レベルが
最大となるときのバイアス電圧値が近いことから、ジッ
ター量検出回路１０の代わりにＲＦアンプ４のＲＦ信号
の出力側に包絡線検波回路等で構成された振幅レベル検
出回路１２を設け、ＲＦ振幅レベルが最大となるバイア
ス電圧値を推定することで、ジッター量が最小となるバ
イアス電圧値を間接的に推定するようにしても良い。
１はＲＦアンプ４の波形整形回路４Ｃの出力側にジッタ
ー量検出回路１０を設けて、ジッター量が最小となるバ
イアス電圧値を直接推定するようにしたが、ジッター量
が最小となるときのバイアス電圧値とＲＦ振幅レベルが
最大となるときのバイアス電圧値が近いことから、ジッ
ター量検出回路１０の代わりにＲＦアンプ４のＲＦ信号
の出力側に包絡線検波回路等で構成された振幅レベル検
出回路１２を設け、ＲＦ振幅レベルが最大となるバイア
ス電圧値を推定することで、ジッター量が最小となるバ
イアス電圧値を間接的に推定するようにしても良い。
【００２８】具体的な調整方法を図４の線図を参照して
説明する。図４はバイアス電圧（ｘ）とＲＦ振幅レベル
（ｙ）の関係を示す線図であり、２次曲線で近似可能で
ある（ジッター量の場合と異なり上に凸な曲線となって
いる）。コントローラ１１はバイアス電圧発生回路９０
を制御して３つの異なるバイアス電圧ｘA ，ｘB ，ｘC
を発生させ、各電圧値において振幅レベル検出回路１２
で検出された振幅レベルｙA ，ｙB ，ｙc を入力し、バ
イアス電圧と対応付けて内蔵ＲＡＭに記憶する。次に、
ジッター量を直接推定した場合と同様に、３組の測定ポ
イントＡ，Ｂ，Ｃはいずれも一般式が（１）式の２次曲
線上に乗っているとして、（２）〜（４）の３式から成
る連立方程式を解き、ａ，ｂ，ｄを求める。
説明する。図４はバイアス電圧（ｘ）とＲＦ振幅レベル
（ｙ）の関係を示す線図であり、２次曲線で近似可能で
ある（ジッター量の場合と異なり上に凸な曲線となって
いる）。コントローラ１１はバイアス電圧発生回路９０
を制御して３つの異なるバイアス電圧ｘA ，ｘB ，ｘC
を発生させ、各電圧値において振幅レベル検出回路１２
で検出された振幅レベルｙA ，ｙB ，ｙc を入力し、バ
イアス電圧と対応付けて内蔵ＲＡＭに記憶する。次に、
ジッター量を直接推定した場合と同様に、３組の測定ポ
イントＡ，Ｂ，Ｃはいずれも一般式が（１）式の２次曲
線上に乗っているとして、（２）〜（４）の３式から成
る連立方程式を解き、ａ，ｂ，ｄを求める。
【００２９】バイアス電圧値が、 ｘN ＝−ｂ／２ａ ・・（６） のとき、ＲＦ振幅レベルがｙN ＝ｄ−（ｂ2 ／４ａ）の
最大値となる。コントローラ１１はａ，ｂ，ｄを求めた
あと（６）の計算を行って、ＲＦ振幅レベルを最大とで
き、間接的にジッター量を最小とできるバイアス電圧値
ｘN を推定し、バイアス電圧発生回路９０を制御してｘ
N を発生させ、バイアス電圧の自動調整を終える。
最大値となる。コントローラ１１はａ，ｂ，ｄを求めた
あと（６）の計算を行って、ＲＦ振幅レベルを最大とで
き、間接的にジッター量を最小とできるバイアス電圧値
ｘN を推定し、バイアス電圧発生回路９０を制御してｘ
N を発生させ、バイアス電圧の自動調整を終える。
【００３０】この変形例によっても、コントローラ１１
は互いに電圧値の異なる３つのバイアス電圧値における
ＲＦ振幅レベルを計測するだけで良く、ＲＦ振幅レベル
が最大値や所定値となっているなど特定の固定点を探索
しなくて良いので最適バイアス値を短時間かつ自動的に
見出すことができ、調整のためメーカ作業者やユーザが
長く待たされることはない。また、最適バイアス電圧値
の探索に続いてバイアス電圧発生回路９０の最適調整が
なされるので、フォーカスバイアス調整全体を短時間で
済ますこともできる。これに対し、特定のＲＦ振幅レベ
ル（例えば、最大振幅レベル）となっている点を測定ポ
イントとする場合、ＲＦ振幅を監視しながらバイアス電
圧値を連続的に可変させていき、所望振幅レベルとなっ
ているバイアス電圧値を探索しなければならず、探索に
時間が掛かるとともに、プログラムも複雑となって多く
のメモリ容量を要する。なお、３つの測定ポイントのバ
イアス電圧値は、任意で良いが、予め、１つまたは２つ
または３つのバイアス電圧値を固定しておいても良く、
固定値の内、１つは電圧値＝零としても良い。
は互いに電圧値の異なる３つのバイアス電圧値における
ＲＦ振幅レベルを計測するだけで良く、ＲＦ振幅レベル
が最大値や所定値となっているなど特定の固定点を探索
しなくて良いので最適バイアス値を短時間かつ自動的に
見出すことができ、調整のためメーカ作業者やユーザが
長く待たされることはない。また、最適バイアス電圧値
の探索に続いてバイアス電圧発生回路９０の最適調整が
なされるので、フォーカスバイアス調整全体を短時間で
済ますこともできる。これに対し、特定のＲＦ振幅レベ
ル（例えば、最大振幅レベル）となっている点を測定ポ
イントとする場合、ＲＦ振幅を監視しながらバイアス電
圧値を連続的に可変させていき、所望振幅レベルとなっ
ているバイアス電圧値を探索しなければならず、探索に
時間が掛かるとともに、プログラムも複雑となって多く
のメモリ容量を要する。なお、３つの測定ポイントのバ
イアス電圧値は、任意で良いが、予め、１つまたは２つ
または３つのバイアス電圧値を固定しておいても良く、
固定値の内、１つは電圧値＝零としても良い。
【００３１】また、３つの測定ポイントはバイアス電圧
−ＲＦ振幅レベルの特性線図の広い範囲から選び出した
方が推定精度が向上することから、特性線図の中心から
見て片側に２の測定ポイントを選び、他の片側に１つの
測定ポイントを選ぶようにしても良い。この具体的な手
法を図５を参照して説明すると、コントローラ１１が再
生状態下でバイアス電圧発生回路９０を制御して、ま
ず、３つの異なるバイアス電圧値に可変したときの振幅
レベル検出回路１２での計測値を求める。このときの測
定ポイントが低バイアス電圧のＬ（ｘL ，ｙL ）、中バ
イアス電圧のＭ（ｘM ，ｙM ）、高バイアス電圧のＨ
（ｘH ，ｙH ）であったとき、低バイアス電圧値と中バ
イアス電圧値の間のＲＦ振幅レベル変化極性である（ｙ
M −ｙL ）の符号と、中バイアス電圧値と高バイアス電
圧値の間のＲＦ振幅レベル変化極性である（ｙH −
ｙM ）の符号が逆か否か判定する。逆極性の関係にある
とき、低バイアス電圧の測定ポイントＬは必ず特性線図
の中心線Ｔの左に存在し、高バイアス電圧の測定ポイン
トＨは必ず特性線図の中心線Ｔの右に存在し、中バイア
ス電圧の測定ポイントＭは中間に存在し、測定ポイント
がＴの両側に広く分布しているので（図５のＡ，Ｂ，Ｃ
参照）、そのまま（２）〜（４）に代入してａ，ｂ，ｄ
を求めれば精度良くｘN を推定することができる。
−ＲＦ振幅レベルの特性線図の広い範囲から選び出した
方が推定精度が向上することから、特性線図の中心から
見て片側に２の測定ポイントを選び、他の片側に１つの
測定ポイントを選ぶようにしても良い。この具体的な手
法を図５を参照して説明すると、コントローラ１１が再
生状態下でバイアス電圧発生回路９０を制御して、ま
ず、３つの異なるバイアス電圧値に可変したときの振幅
レベル検出回路１２での計測値を求める。このときの測
定ポイントが低バイアス電圧のＬ（ｘL ，ｙL ）、中バ
イアス電圧のＭ（ｘM ，ｙM ）、高バイアス電圧のＨ
（ｘH ，ｙH ）であったとき、低バイアス電圧値と中バ
イアス電圧値の間のＲＦ振幅レベル変化極性である（ｙ
M −ｙL ）の符号と、中バイアス電圧値と高バイアス電
圧値の間のＲＦ振幅レベル変化極性である（ｙH −
ｙM ）の符号が逆か否か判定する。逆極性の関係にある
とき、低バイアス電圧の測定ポイントＬは必ず特性線図
の中心線Ｔの左に存在し、高バイアス電圧の測定ポイン
トＨは必ず特性線図の中心線Ｔの右に存在し、中バイア
ス電圧の測定ポイントＭは中間に存在し、測定ポイント
がＴの両側に広く分布しているので（図５のＡ，Ｂ，Ｃ
参照）、そのまま（２）〜（４）に代入してａ，ｂ，ｄ
を求めれば精度良くｘN を推定することができる。
【００３２】反対に、（ｙM −ｙL ）の符号と、（ｙH
−ｙM ）の符号が同じ場合、Ｌ，Ｍ，ＨがＴの左側また
は右側に偏って存在しているか、または、中心線Ｔを跨
いで両側に広く分布していない可能性が有り、符号がと
もに＋の場合はＨ、符号がともに−の場合はＬを測定ポ
イントとはしない。例えば、図５のＡ，Ｂ，Ｃ´の如く
なり、Ｃ´を測定ポイントから外す場合、Ｃよりバイア
ス電圧を大きくした測定ポイントで（ｙH −ｙM ）の符
号が（ｙM −ｙL ）の符号と反対となるポイント、例え
ば、Ｅを探し、Ａ，Ｂと合わせて３つの測定ポイントと
すれば、各測定ポイントがＴの両側に広く分布するの
で、（２）〜（４）に代入してａ，ｂ，ｄを求めて精度
良くｘN を推定することができる。なお、最初に３つの
異なるバイアス電圧値のポイントのＲＦ振幅レベルを測
定する際、３つとも任意のバイアス電圧値としても良い
が、１つまたは２つは予め、定められたバイアス電圧値
としても良く、内、１つは電圧値＝零としても良い。
−ｙM ）の符号が同じ場合、Ｌ，Ｍ，ＨがＴの左側また
は右側に偏って存在しているか、または、中心線Ｔを跨
いで両側に広く分布していない可能性が有り、符号がと
もに＋の場合はＨ、符号がともに−の場合はＬを測定ポ
イントとはしない。例えば、図５のＡ，Ｂ，Ｃ´の如く
なり、Ｃ´を測定ポイントから外す場合、Ｃよりバイア
ス電圧を大きくした測定ポイントで（ｙH −ｙM ）の符
号が（ｙM −ｙL ）の符号と反対となるポイント、例え
ば、Ｅを探し、Ａ，Ｂと合わせて３つの測定ポイントと
すれば、各測定ポイントがＴの両側に広く分布するの
で、（２）〜（４）に代入してａ，ｂ，ｄを求めて精度
良くｘN を推定することができる。なお、最初に３つの
異なるバイアス電圧値のポイントのＲＦ振幅レベルを測
定する際、３つとも任意のバイアス電圧値としても良い
が、１つまたは２つは予め、定められたバイアス電圧値
としても良く、内、１つは電圧値＝零としても良い。
【００３３】このように、光ディスクの再生状態下でバ
イアス電圧発生回路９０を制御して所定の条件を満たす
低，中，高の３つの異なるバイアス電圧値に可変したと
きの振幅レベル検出回路１２での計測値を求め、このと
き前記所定の条件は低バイアス電圧値と中バイアス電圧
値の間のＲＦ振幅レベル変化極性と中バイアス電圧値と
高バイアス電圧値の間のＲＦ振幅レベル変化極性が逆と
なっていることとしたことで、各測定ポイントをＴの両
範囲になるべく広く分布させることができ、精度良くｘ
N を推定することができる。そして、３つの測定ポイン
トの条件はＲＦ振幅レベル変化極性の関係だけであり自
由度が高いので、バイアス電圧値を可変しながらＲＦ振
幅が最大値や所定値となっている特定の固定点を探索す
るよりも、最適バイアス電圧値を かに迅速に見出すこ
とができる。
イアス電圧発生回路９０を制御して所定の条件を満たす
低，中，高の３つの異なるバイアス電圧値に可変したと
きの振幅レベル検出回路１２での計測値を求め、このと
き前記所定の条件は低バイアス電圧値と中バイアス電圧
値の間のＲＦ振幅レベル変化極性と中バイアス電圧値と
高バイアス電圧値の間のＲＦ振幅レベル変化極性が逆と
なっていることとしたことで、各測定ポイントをＴの両
範囲になるべく広く分布させることができ、精度良くｘ
N を推定することができる。そして、３つの測定ポイン
トの条件はＲＦ振幅レベル変化極性の関係だけであり自
由度が高いので、バイアス電圧値を可変しながらＲＦ振
幅が最大値や所定値となっている特定の固定点を探索す
るよりも、最適バイアス電圧値を かに迅速に見出すこ
とができる。
【００３４】なお、上記した実施例、変形例ではＣＤプ
レーヤを例に挙げたが、ミニディスクシステム、ＬＤプ
レーヤ、ＤＶＤプレーヤ等、光ディスクの再生または記
録が可能な他の種類の光ディスク装置にも同様に適用す
ることができる。
レーヤを例に挙げたが、ミニディスクシステム、ＬＤプ
レーヤ、ＤＶＤプレーヤ等、光ディスクの再生または記
録が可能な他の種類の光ディスク装置にも同様に適用す
ることができる。
【００３５】
【発明の効果】本発明のフォーカスサーボの自動調整方
法によれば、光ディスクの再生状態下でバイアス電圧発
生回路を制御して３つの異なるバイアス電圧値に可変し
たときのジッター量検出回路での計測値を求め、バイア
ス電圧の変化に対するジッター量の変化が２次曲線に従
うと仮定して、バイアス電圧値とジッター量の３組の計
測データからジッター量が最小となる最適バイアス電圧
値を推定し、しかるのち、バイアス電圧発生回路を先に
推定した最適バイアス電圧値に調整するようにしたの
で、互いにバイアス電圧値の異なる３つの点のバイアス
電圧値とジッター量の関係を計測するだけで良く、ジッ
ター量が最小値や所定値となっているなど特定の固定点
を探索しなくて良いので最適バイアス電圧値を迅速に見
出すことができる。
法によれば、光ディスクの再生状態下でバイアス電圧発
生回路を制御して３つの異なるバイアス電圧値に可変し
たときのジッター量検出回路での計測値を求め、バイア
ス電圧の変化に対するジッター量の変化が２次曲線に従
うと仮定して、バイアス電圧値とジッター量の３組の計
測データからジッター量が最小となる最適バイアス電圧
値を推定し、しかるのち、バイアス電圧発生回路を先に
推定した最適バイアス電圧値に調整するようにしたの
で、互いにバイアス電圧値の異なる３つの点のバイアス
電圧値とジッター量の関係を計測するだけで良く、ジッ
ター量が最小値や所定値となっているなど特定の固定点
を探索しなくて良いので最適バイアス電圧値を迅速に見
出すことができる。
【００３６】また、本発明の他のフォーカスサーボの自
動調整方法によれば、光ディスクの再生状態下でバイア
ス電圧発生回路を制御して所定の条件を満たす低，中，
高の３つの異なるバイアス電圧値に可変したときのジッ
ター量検出回路での計測値を求め、前記所定の条件は低
バイアス電圧値と中バイアス電圧値の間のジッター量変
化極性と中バイアス電圧値と高バイアス電圧値の間のジ
ッター量変化極性が逆であることとし、バイアス電圧の
変化に対するジッター量の変化が２次曲線に従うと仮定
して、バイアス電圧値とジッター量の３組の計測データ
からジッター量が最小となる最適バイアス電圧値を推定
し、しかるのち、バイアス電圧発生回路を先に推定した
最適バイアス電圧値に調整するようにしたので、広範囲
の測定結果を利用して精度の高いジッター量最小ポイン
トの推定を行うことができ、調整精度が増す。また、３
つの測定ポイントの条件が緩く、自由度が高いのでジッ
ター量が最小値や所定値となっているなど特定の固定点
を探索するより最適バイアス電圧値を迅速に見出すこと
ができる。
動調整方法によれば、光ディスクの再生状態下でバイア
ス電圧発生回路を制御して所定の条件を満たす低，中，
高の３つの異なるバイアス電圧値に可変したときのジッ
ター量検出回路での計測値を求め、前記所定の条件は低
バイアス電圧値と中バイアス電圧値の間のジッター量変
化極性と中バイアス電圧値と高バイアス電圧値の間のジ
ッター量変化極性が逆であることとし、バイアス電圧の
変化に対するジッター量の変化が２次曲線に従うと仮定
して、バイアス電圧値とジッター量の３組の計測データ
からジッター量が最小となる最適バイアス電圧値を推定
し、しかるのち、バイアス電圧発生回路を先に推定した
最適バイアス電圧値に調整するようにしたので、広範囲
の測定結果を利用して精度の高いジッター量最小ポイン
トの推定を行うことができ、調整精度が増す。また、３
つの測定ポイントの条件が緩く、自由度が高いのでジッ
ター量が最小値や所定値となっているなど特定の固定点
を探索するより最適バイアス電圧値を迅速に見出すこと
ができる。
【００３７】
【００３８】
【図１】図１は本発明に係るフォーカスサーボの自動調
整方法を具現したＣＤプレーヤのフォーカスサーボ系を
示す回路図である。
整方法を具現したＣＤプレーヤのフォーカスサーボ系を
示す回路図である。
【図２】図２はバイアス電圧とジッター量の関係を示す
線図である。
線図である。
【図３】図３は測定ポイントの選択方法を説明する説明
図である。
図である。
【図４】図４はバイアス電圧とＲＦ振幅レベルの関係を
示す線図である。
示す線図である。
【図５】図５は本発明の変形例に係る測定ポイントの選
択方法を説明する説明図である。
択方法を説明する説明図である。
【図６】従来のＣＤプレーヤのフォーカスサーボ系を示
す回路図である。
す回路図である。
【符号の説明】 １ 光ディスク ３ 光ピックアップ ４ ＲＦアンプ ４Ａ ＲＦ信号演算
回路 ４Ｃ ＦＥ信号演算回路 ６ 加算器 ７ 位相補償回路 ８ フォーカスドラ
イバ １０ ジッター量検出回路 １１ コントローラ １２ 振幅レベル検出回路 ９０ バイアス電圧
発生回路
回路 ４Ｃ ＦＥ信号演算回路 ６ 加算器 ７ 位相補償回路 ８ フォーカスドラ
イバ １０ ジッター量検出回路 １１ コントローラ １２ 振幅レベル検出回路 ９０ バイアス電圧
発生回路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G11B 7/09 - 7/095
Claims (2)
- 【請求項１】 光ピックアップの合焦制御を行うフォー
カスサーボ系のバイアス調整用のバイアス電圧を発生す
るバイアス電圧発生回路と、光ディスクから再生したＲ
Ｆ信号のジッター量を計測するジッター量検出回路と、
を備えた光ディスク装置において、 光ディスクの再生状態下でバイアス電圧発生回路を制御
して３つの異なるバイアス電圧値に可変したときのジッ
ター量検出回路での計測値を求め、 バイアス電圧の変化に対するジッター量の変化が２次曲
線に従うと仮定して、バイアス電圧値とジッター量の３
組の計測データからジッター量が最小となる最適バイア
ス電圧値を推定し、 しかるのち、バイアス電圧発生回路を先に推定した最適
バイアス電圧値に調整すること、 を特徴とするフォーカスサーボの自動調整方法。 - 【請求項２】 光ピックアップの合焦制御を行うフォー
カスサーボ系のバイアス調整用のバイアス電圧を発生す
るバイアス電圧発生回路と、光ディスクから再生したＲ
Ｆ信号のジッター量を検出するジッター量検出回路と、
を備えた光ディスク装置において、 光ディスクの再生状態下でバイアス電圧発生回路を制御
して所定の条件を満たす低，中，高の３つ前記３つの異
なるバイアス電圧値に可変したときのジッター量検出回
路での計測値を求め、このとき前記所定の条件は低バイ
アス電圧値と中バイアス電圧値の間のジッター量変化極
性と中バイアス電圧値と高バイアス電圧値の間のジッタ
ー量変化極性が逆であることとし、 バイアス電圧の変化に対するジッター量の変化が２次曲
線に従うと仮定して、バイアス電圧値とジッター量の３
組の計測データからジッター量が最小となる最適バイア
ス電圧値を推定し、 しかるのち、バイアス電圧発生回路を先に推定した最適
バイアス電圧値に調整すること、 を特徴とするフォーカスサーボの自動調整方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21286895A JP3148590B2 (ja) | 1995-07-27 | 1995-07-27 | フォーカスサーボの自動調整方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21286895A JP3148590B2 (ja) | 1995-07-27 | 1995-07-27 | フォーカスサーボの自動調整方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0944864A JPH0944864A (ja) | 1997-02-14 |
| JP3148590B2 true JP3148590B2 (ja) | 2001-03-19 |
Family
ID=16629617
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21286895A Expired - Fee Related JP3148590B2 (ja) | 1995-07-27 | 1995-07-27 | フォーカスサーボの自動調整方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3148590B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013171277A (ja) * | 2012-02-23 | 2013-09-02 | Fujitsu General Ltd | ケーブルユニットおよびカメラ並びに車両 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3915163B2 (ja) * | 1997-03-18 | 2007-05-16 | ソニー株式会社 | ディジタル信号再生回路 |
| WO1999017283A1 (en) * | 1997-09-26 | 1999-04-08 | Daewoo Electronics Co., Ltd. | Method and apparatus for automatically adjusting a focus bias voltage |
| JP4419666B2 (ja) * | 2004-04-26 | 2010-02-24 | 日本ビクター株式会社 | 光情報記録再生装置 |
| JP2009099238A (ja) * | 2007-01-16 | 2009-05-07 | Sanyo Electric Co Ltd | ディスク装置およびその調整方法 |
-
1995
- 1995-07-27 JP JP21286895A patent/JP3148590B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013171277A (ja) * | 2012-02-23 | 2013-09-02 | Fujitsu General Ltd | ケーブルユニットおよびカメラ並びに車両 |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0944864A (ja) | 1997-02-14 |
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