JP3146297B2 - 伝送特性測定装置 - Google Patents
伝送特性測定装置Info
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- Engineering & Computer Science (AREA)
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- Dc Digital Transmission (AREA)
- Maintenance And Management Of Digital Transmission (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、ディジタル通信網にお
ける伝送回線あるいは伝送装置で生じる信号遅延量を測
定する伝送特性測定装置に関する。
ける伝送回線あるいは伝送装置で生じる信号遅延量を測
定する伝送特性測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】ディジタル信号を伝送するための伝送回
線１は、一般に図１０に示すように、端末としての伝送
装置２、３の間を複数の伝送線４と中継器５を介して接
続されており、一方の伝送装置から送出される信号は、
回線固有の遅延量をともなって他方の伝送装置へ伝達さ
れる。この種の伝送回線の重要な伝送特性として信号遅
延量と信号誤り率があり、従来では、これら２つの特性
をともに測定できる伝送特性測定装置（以下、測定装置
と記す）が用いられている。
線１は、一般に図１０に示すように、端末としての伝送
装置２、３の間を複数の伝送線４と中継器５を介して接
続されており、一方の伝送装置から送出される信号は、
回線固有の遅延量をともなって他方の伝送装置へ伝達さ
れる。この種の伝送回線の重要な伝送特性として信号遅
延量と信号誤り率があり、従来では、これら２つの特性
をともに測定できる伝送特性測定装置（以下、測定装置
と記す）が用いられている。
【０００３】伝送回線に対する遅延測定としては、一方
の伝送装置２に測定装置６を接続し、他方の伝送装置３
を折り返しモードにした状態で、測定装置６から送出し
た信号が伝送装置３で折り返されて戻ってくるまでの時
間を測定することによって、往復の遅延量を求める方法
が一般的である。また、誤り率測定の場合には、〔１〕
と
の伝送装置２に測定装置６を接続し、他方の伝送装置３
を折り返しモードにした状態で、測定装置６から送出し
た信号が伝送装置３で折り返されて戻ってくるまでの時
間を測定することによって、往復の遅延量を求める方法
が一般的である。また、誤り率測定の場合には、〔１〕
と
〔０〕の発生確率がほぼ等しい所定ビット周期の擬似
ランダム信号を伝送回線へ送出し、伝送回線から戻って
きた信号列と送出した信号とをビット単位で比較し、一
定時間あるいは所定周期内における誤りビット数を誤り
率として求める方法がとられる。
ランダム信号を伝送回線へ送出し、伝送回線から戻って
きた信号列と送出した信号とをビット単位で比較し、一
定時間あるいは所定周期内における誤りビット数を誤り
率として求める方法がとられる。
【０００４】ディジタル回線の遅延量を測定するための
信号として、図１１に示すように、クロック信号（ａ）
に同期して、ｔ０時から〔１〕が連続する信号（ｂ）を
測定信号として用いる方法が従来からあった。このよう
な測定信号を用いる場合には、この送信信号に対して受
信信号が
信号として、図１１に示すように、クロック信号（ａ）
に同期して、ｔ０時から〔１〕が連続する信号（ｂ）を
測定信号として用いる方法が従来からあった。このよう
な測定信号を用いる場合には、この送信信号に対して受
信信号が
〔０〕から〔１〕に変化するタイミングｔ１を
検出し、ｔ１−ｔ０をこの回線の往復の遅延量として求
めている。
検出し、ｔ１−ｔ０をこの回線の往復の遅延量として求
めている。
【０００５】しかし、この方法では、実際の回線上では
発生することのない〔１〕が連続する信号によって測定
しているため、回線の実動作上での真の遅延量を測定で
きず、また、この方法では、先頭の〔１〕を受信したタ
イミングで遅延量を求めているので、回線自身で発生す
る誤りビットの影響を直接受けてしまい、誤り率の高い
回線に対する測定が困難であるという問題がある。
発生することのない〔１〕が連続する信号によって測定
しているため、回線の実動作上での真の遅延量を測定で
きず、また、この方法では、先頭の〔１〕を受信したタ
イミングで遅延量を求めているので、回線自身で発生す
る誤りビットの影響を直接受けてしまい、誤り率の高い
回線に対する測定が困難であるという問題がある。
【０００６】これを解決するために、特開平４−１９２
８３０号公報には、図１２に示すように、擬似ランダム
信号内の特定のビットパターンＡ〔０１００１１〕を伝
送回線へ送出したタイミングｔ０と、このビットパター
ンＡが受信されたタイミングｔ１との時間差で回線の遅
延量を求める技術が本願出願人によって提案されてい
る。この技術では、擬似ランダム信号をそのまま利用し
ているので、実際に回線に発生する信号列とほぼ同等な
条件で真の遅延量の測定ができ、しかも所定ビット長の
パターンの一致を検出するので、回線による誤りの影響
が確率的に少なくて済む。
８３０号公報には、図１２に示すように、擬似ランダム
信号内の特定のビットパターンＡ〔０１００１１〕を伝
送回線へ送出したタイミングｔ０と、このビットパター
ンＡが受信されたタイミングｔ１との時間差で回線の遅
延量を求める技術が本願出願人によって提案されてい
る。この技術では、擬似ランダム信号をそのまま利用し
ているので、実際に回線に発生する信号列とほぼ同等な
条件で真の遅延量の測定ができ、しかも所定ビット長の
パターンの一致を検出するので、回線による誤りの影響
が確率的に少なくて済む。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】ところが、この方法で
は、擬似ランダム信号の１周期で１回必ず発生する特定
パターンを用いているので、回線の遅延時間が擬似ラン
ダム信号の周期より長い場合、前周期の特定パターンの
受信タイミングより現周期の送信タイミングの方が前に
なってしまい、正しい遅延時間を測定できず、擬似ラン
ダム信号の周期によって測定できる遅延量が制限されて
しまうという問題があった。
は、擬似ランダム信号の１周期で１回必ず発生する特定
パターンを用いているので、回線の遅延時間が擬似ラン
ダム信号の周期より長い場合、前周期の特定パターンの
受信タイミングより現周期の送信タイミングの方が前に
なってしまい、正しい遅延時間を測定できず、擬似ラン
ダム信号の周期によって測定できる遅延量が制限されて
しまうという問題があった。
【０００８】本発明は、この課題を解決し、擬似ランダ
ム信号の周期に制限されずに、回線の遅延量を測定でき
る伝送特性測定装置を提供することを目的としている。
ム信号の周期に制限されずに、回線の遅延量を測定でき
る伝送特性測定装置を提供することを目的としている。
【０００９】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に本発明の伝送特性測定装置は、所定ビット周期の擬似
ランダム信号列を出力する擬似ランダム信号発生回路
（１）と、折り返し状態に設定された被試験伝送回線へ
前記擬似ランダム信号発生回路から出力された擬似ラン
ダム信号列を連続的に送出し、同期確定信号を受けた後
の任意のタイミングに前記擬似ランダム信号列の一部に
ビット反転による特定誤りパターンのビット誤りを付加
するとともに、該特定誤りパターンのビット誤りが前記
被試験伝送回線へ送出されるタイミングに同期した送信
タイミング信号を出力するビット誤り付加回路（１４）
と、前記擬似ランダム信号発生回路が出力する擬似ラン
ダム信号列と同一の擬似ランダム信号列を参照信号列と
して発生し、該参照信号列を前記被試験伝送回線によっ
て折り返されてくる信号列との同期を確定して同期確定
信号を前記ビット誤り付加回路へ出力し、該同期確定後
に前記参照信号列と前記被試験伝送回線によって折り返
されてくる信号列とをビット単位で比較する誤り検出回
路（２３）と、前記誤り検出回路から出力される誤り信
号を受け、前記同期確定後に前記誤り検出回路から前記
ビット誤り付加回路で付加された特定誤りパターンと一
致するパターンの誤り信号が出力されたとき、受信タイ
ミング信号を出力する特定ビット誤り検出回路（２６）
と、前記ビット誤り付加回路から送信タイミング信号が
出力されてから、前記特定ビット誤り検出回路から受信
タイミング信号が出力されるまでの時間差によって、前
記被試験伝送回線の信号遅延量を検出する遅延量検出回
路（２９）とを備えている。
に本発明の伝送特性測定装置は、所定ビット周期の擬似
ランダム信号列を出力する擬似ランダム信号発生回路
（１）と、折り返し状態に設定された被試験伝送回線へ
前記擬似ランダム信号発生回路から出力された擬似ラン
ダム信号列を連続的に送出し、同期確定信号を受けた後
の任意のタイミングに前記擬似ランダム信号列の一部に
ビット反転による特定誤りパターンのビット誤りを付加
するとともに、該特定誤りパターンのビット誤りが前記
被試験伝送回線へ送出されるタイミングに同期した送信
タイミング信号を出力するビット誤り付加回路（１４）
と、前記擬似ランダム信号発生回路が出力する擬似ラン
ダム信号列と同一の擬似ランダム信号列を参照信号列と
して発生し、該参照信号列を前記被試験伝送回線によっ
て折り返されてくる信号列との同期を確定して同期確定
信号を前記ビット誤り付加回路へ出力し、該同期確定後
に前記参照信号列と前記被試験伝送回線によって折り返
されてくる信号列とをビット単位で比較する誤り検出回
路（２３）と、前記誤り検出回路から出力される誤り信
号を受け、前記同期確定後に前記誤り検出回路から前記
ビット誤り付加回路で付加された特定誤りパターンと一
致するパターンの誤り信号が出力されたとき、受信タイ
ミング信号を出力する特定ビット誤り検出回路（２６）
と、前記ビット誤り付加回路から送信タイミング信号が
出力されてから、前記特定ビット誤り検出回路から受信
タイミング信号が出力されるまでの時間差によって、前
記被試験伝送回線の信号遅延量を検出する遅延量検出回
路（２９）とを備えている。
【００１０】
【作用】このように構成したため、本発明の伝送特性測
定装置では、擬似ランダム信号発生回路から出力された
擬似ランダム信号列がビット誤り付加回路を介して折り
返し状態の被試験伝送回線へ送出され、回線から折り返
されたきた信号列に対して誤り検出回路における参照信
号列の同期が確定した後の任意のタイミングにビット誤
り付加回路によって擬似ランダム信号列の一部にビット
反転による特定誤りパターンのビット誤りが付加され、
この特定誤りパターンのビット誤りが被試験伝送回線へ
送出されるタイミングに同期した送信タイミング信号が
出力される。そして、この同期確定後に誤り検出回路に
よって参照信号列と被試験伝送回線によって折り返され
てくる信号列とがビット単位で比較され、誤り検出回路
からビット誤り付加回路で付加された特定誤りパターン
と一致するパターンの誤り信号が出力されたとき、特定
ビット誤り検出回路から受信タイミング信号が出力さ
れ、ビット誤り付加回路から送信タイミング信号が出力
されてから、特定ビット誤り検出回路から受信タイミン
グ信号が出力されるまでの時間差によって、被試験伝送
回線の信号遅延量が検出される。
定装置では、擬似ランダム信号発生回路から出力された
擬似ランダム信号列がビット誤り付加回路を介して折り
返し状態の被試験伝送回線へ送出され、回線から折り返
されたきた信号列に対して誤り検出回路における参照信
号列の同期が確定した後の任意のタイミングにビット誤
り付加回路によって擬似ランダム信号列の一部にビット
反転による特定誤りパターンのビット誤りが付加され、
この特定誤りパターンのビット誤りが被試験伝送回線へ
送出されるタイミングに同期した送信タイミング信号が
出力される。そして、この同期確定後に誤り検出回路に
よって参照信号列と被試験伝送回線によって折り返され
てくる信号列とがビット単位で比較され、誤り検出回路
からビット誤り付加回路で付加された特定誤りパターン
と一致するパターンの誤り信号が出力されたとき、特定
ビット誤り検出回路から受信タイミング信号が出力さ
れ、ビット誤り付加回路から送信タイミング信号が出力
されてから、特定ビット誤り検出回路から受信タイミン
グ信号が出力されるまでの時間差によって、被試験伝送
回線の信号遅延量が検出される。
【００１１】
【実施例】以下、図面に基づいて本発明の一実施例を説
明する。
明する。
【００１２】図１は一実施例の伝送特性測定装置１０の
構成を示している。この測定装置は、伝送回線の遅延量
とともに誤り率を測定する機能を備え、誤り測定のため
の擬似ランダム信号を用いて遅延量の測定を行なう。
構成を示している。この測定装置は、伝送回線の遅延量
とともに誤り率を測定する機能を備え、誤り測定のため
の擬似ランダム信号を用いて遅延量の測定を行なう。
【００１３】図１において、擬似ランダム信号発生回路
１１は、２N −１ビット（Ｎは２以上の整数）を１周期
とする擬似ランダム信号（ａ）を繰り返し出力するもの
であり、例えば図２にＮ＝４の場合を示すように、４段
シフトレジスタ回路を形成する４（＝Ｎ）個のフリップ
フロップ１２1 〜１２4 とＥＸ−ＯＲ回路１３とから構
成され、終段のフリップフロップ１２4 の出力と初段の
フリップフロップ１２1 の出力との排他的論理和を初段
のフリップフロップ１２1 に入力することで、１５ビッ
トを１周期とする擬似ランダム信号を、終段のフリップ
フロップ１２4からクロック信号に同期させてビット誤
り付加回路１４へ出力している。
１１は、２N −１ビット（Ｎは２以上の整数）を１周期
とする擬似ランダム信号（ａ）を繰り返し出力するもの
であり、例えば図２にＮ＝４の場合を示すように、４段
シフトレジスタ回路を形成する４（＝Ｎ）個のフリップ
フロップ１２1 〜１２4 とＥＸ−ＯＲ回路１３とから構
成され、終段のフリップフロップ１２4 の出力と初段の
フリップフロップ１２1 の出力との排他的論理和を初段
のフリップフロップ１２1 に入力することで、１５ビッ
トを１周期とする擬似ランダム信号を、終段のフリップ
フロップ１２4からクロック信号に同期させてビット誤
り付加回路１４へ出力している。
【００１４】ビット誤り付加回路１４は、この擬似ラン
ダム信号に特定のビット誤りを付加して出力するもの
で、例えば図３に示すように、ＥＸ−ＯＲ回路１５と誤
りパターン発生回路１６から構成され、誤りパターン発
生回路１６から例えば〔１〕が４ビット連続する誤りパ
ターン信号をＥＸ−ＯＲ回路１５に入力して、その４ビ
ット期間だけ論理が反転された擬似ランダム信号を遅延
測定用の測定信号として出力し、誤りパターン信号が
ダム信号に特定のビット誤りを付加して出力するもの
で、例えば図３に示すように、ＥＸ−ＯＲ回路１５と誤
りパターン発生回路１６から構成され、誤りパターン発
生回路１６から例えば〔１〕が４ビット連続する誤りパ
ターン信号をＥＸ−ＯＲ回路１５に入力して、その４ビ
ット期間だけ論理が反転された擬似ランダム信号を遅延
測定用の測定信号として出力し、誤りパターン信号が
〔０〕の間は、擬似ランダム信号発生回路１１からの擬
似ランダム信号をそのまま出力する。
似ランダム信号をそのまま出力する。
【００１５】誤りパターン発生回路１６は、同期確定信
号の入力またはスイッチ１７のオン操作によって１クロ
ック周期長だけ
号の入力またはスイッチ１７のオン操作によって１クロ
ック周期長だけ
〔０〕の信号をタイマ回路１８から４段
シフトレジスタを形成するフリップフロップ１９1 〜１
９4 の初段へ入力し、この
シフトレジスタを形成するフリップフロップ１９1 〜１
９4 の初段へ入力し、この
〔０〕の信号を１クロックず
つシフトさせて、ナンド回路２０から４クロック周期長
の誤りパターン信号を出力している。なお、この誤りパ
ターン信号は、その立ち下がりタイミングをこの測定信
号の送出タイミングとする送信タイミング信号（ｂ）と
して、後述する遅延量検出回路２９へ出力されている。
つシフトさせて、ナンド回路２０から４クロック周期長
の誤りパターン信号を出力している。なお、この誤りパ
ターン信号は、その立ち下がりタイミングをこの測定信
号の送出タイミングとする送信タイミング信号（ｂ）と
して、後述する遅延量検出回路２９へ出力されている。
【００１６】このようにして４ビット連続する誤りビッ
トを含む測定信号（ｃ）は、信号送信回路２１を介して
被試験伝送回線１へ送出される。なお、この信号送出の
際、測定信号を受信するためのクロック信号成分を含ん
で送出している。
トを含む測定信号（ｃ）は、信号送信回路２１を介して
被試験伝送回線１へ送出される。なお、この信号送出の
際、測定信号を受信するためのクロック信号成分を含ん
で送出している。
【００１７】被試験伝送回線１は、前述したようにこの
測定装置からの信号を折り返す状態に予め設定されてい
て、その回線の折り返しによって往復した信号は、信号
受信回路２２でクロック成分（受信クロック信号）が抽
出されて受信され、誤り検出回路２３へ入力される。
測定装置からの信号を折り返す状態に予め設定されてい
て、その回線の折り返しによって往復した信号は、信号
受信回路２２でクロック成分（受信クロック信号）が抽
出されて受信され、誤り検出回路２３へ入力される。
【００１８】誤り検出回路２３は、擬似ランダム信号発
生回路１１と同一の擬似ランダム信号を参照信号として
発生する参照信号発生回路２４と、参照信号発生回路２
４からの参照信号（ｅ）と信号受信回路２２で受信され
たランダム信号（ｄ）との一致、不一致の判定をビット
単位に行なうビット誤り検出回路２５とによって構成さ
れている。
生回路１１と同一の擬似ランダム信号を参照信号として
発生する参照信号発生回路２４と、参照信号発生回路２
４からの参照信号（ｅ）と信号受信回路２２で受信され
たランダム信号（ｄ）との一致、不一致の判定をビット
単位に行なうビット誤り検出回路２５とによって構成さ
れている。
【００１９】参照信号発生回路２４は、一例を図２に示
した擬似ランダム信号発生回路１１と同一に構成された
ランダム信号発生部と、信号受信回路２２で受信された
ランダム信号の先頭Ｎビット（前記例では４ビット）の
信号を初期値としてランダム信号発生部の各フリップフ
ロップに初期設定する初期設定部（ともに図示せず）と
を有しており、初期設定された後にランダム信号発生部
から出力される擬似ランダム信号を参照信号としてビッ
ト誤り検出回路２５へ出力して、受信された信号に対し
て参照信号を同期させている。なお、初期設定されたビ
ットデータに伝送回線による誤りが含まれていると、ビ
ット誤り検出回路２５から誤り信号が出力されるので、
参照信号発生回路２４は、初期設定後に例えばＮビット
連続して誤りが発生しなくなるまで、あるいは誤り率が
所定以下となるまで、初期値の再設定を継続的に行な
い、Ｎビット連続して誤りが発生しないとき、あるいは
誤り率が所定以下になったときに、同期確定信号を出力
する。
した擬似ランダム信号発生回路１１と同一に構成された
ランダム信号発生部と、信号受信回路２２で受信された
ランダム信号の先頭Ｎビット（前記例では４ビット）の
信号を初期値としてランダム信号発生部の各フリップフ
ロップに初期設定する初期設定部（ともに図示せず）と
を有しており、初期設定された後にランダム信号発生部
から出力される擬似ランダム信号を参照信号としてビッ
ト誤り検出回路２５へ出力して、受信された信号に対し
て参照信号を同期させている。なお、初期設定されたビ
ットデータに伝送回線による誤りが含まれていると、ビ
ット誤り検出回路２５から誤り信号が出力されるので、
参照信号発生回路２４は、初期設定後に例えばＮビット
連続して誤りが発生しなくなるまで、あるいは誤り率が
所定以下となるまで、初期値の再設定を継続的に行な
い、Ｎビット連続して誤りが発生しないとき、あるいは
誤り率が所定以下になったときに、同期確定信号を出力
する。
【００２０】ビット誤り検出回路２５からの誤り信号
（ｆ）は、特定ビット誤り検出回路２６へ入力されてい
る。特定ビット誤り検出回路２６は、同期確定後にビッ
ト誤り検出回路２５から出力される誤り信号列を受け、
この誤り信号列がビット誤り付加回路１４で付加した誤
りパターンと一致したとき、受信タイミング信号（ｇ）
を出力する。
（ｆ）は、特定ビット誤り検出回路２６へ入力されてい
る。特定ビット誤り検出回路２６は、同期確定後にビッ
ト誤り検出回路２５から出力される誤り信号列を受け、
この誤り信号列がビット誤り付加回路１４で付加した誤
りパターンと一致したとき、受信タイミング信号（ｇ）
を出力する。
【００２１】図４は、前記したように４ビット連続した
誤りがビット誤り付加回路１４によって付加される場合
に対応した特定ビット誤り検出回路２６の回路構成例を
示しており、４段シフトレジスタを形成する４個のフリ
ップフロップ２７1 〜２７4に、誤りのあることを示す
〔１〕の誤り信号がビット誤り検出回路２５から４ビッ
ト連続して入力されると、各フリップフロップ２７1 〜
２７4 の出力が全て〔１〕となり、その出力を入力とす
るアンド回路２８から、〔１〕の受信タイミング信号が
受信クロックに同期してその１周期分出力されることに
なる。
誤りがビット誤り付加回路１４によって付加される場合
に対応した特定ビット誤り検出回路２６の回路構成例を
示しており、４段シフトレジスタを形成する４個のフリ
ップフロップ２７1 〜２７4に、誤りのあることを示す
〔１〕の誤り信号がビット誤り検出回路２５から４ビッ
ト連続して入力されると、各フリップフロップ２７1 〜
２７4 の出力が全て〔１〕となり、その出力を入力とす
るアンド回路２８から、〔１〕の受信タイミング信号が
受信クロックに同期してその１周期分出力されることに
なる。
【００２２】ビット誤り付加回路１４からの送信タイミ
ング信号と特定ビット誤り検出回路２６からの受信タイ
ミング信号は、遅延量検出回路２９へ入力されている。
ング信号と特定ビット誤り検出回路２６からの受信タイ
ミング信号は、遅延量検出回路２９へ入力されている。
【００２３】遅延量検出回路２９は、例えば図５に示す
構成によって、送信タイミング信号が入力されてから受
信タイミング信号が入力されるまでの時間を測定して被
試験伝送回線の遅延量（遅延時間）を検出する。即ち、
ＲＳ型のフリップフロップ等で構成されるセット・リセ
ット回路３０の出力（ｈ）を送信タイミング信号の立ち
下がり時に〔１〕にセットすることによって、単位時間
信号発生回路３１からの周期１μＳの単位時間パルスを
アンド回路３２を通過させ、その通過信号を計数入力信
号（ｉ）として計数回路３３で計数を開始させる。そし
て、受信タイミング信号の立ち下がり時にセット・リセ
ット回路３０の出力を
構成によって、送信タイミング信号が入力されてから受
信タイミング信号が入力されるまでの時間を測定して被
試験伝送回線の遅延量（遅延時間）を検出する。即ち、
ＲＳ型のフリップフロップ等で構成されるセット・リセ
ット回路３０の出力（ｈ）を送信タイミング信号の立ち
下がり時に〔１〕にセットすることによって、単位時間
信号発生回路３１からの周期１μＳの単位時間パルスを
アンド回路３２を通過させ、その通過信号を計数入力信
号（ｉ）として計数回路３３で計数を開始させる。そし
て、受信タイミング信号の立ち下がり時にセット・リセ
ット回路３０の出力を
〔０〕にリセットして計数を終了
させて、このリセット後の計数回路３３の計数結果を遅
延時間として出力する。遅延量検出回路２９で検出され
た遅延量は、遅延量表示器３４によって数値表示され
る。
させて、このリセット後の計数回路３３の計数結果を遅
延時間として出力する。遅延量検出回路２９で検出され
た遅延量は、遅延量表示器３４によって数値表示され
る。
【００２４】次に前述したようにＮ＝４の擬似ランダム
信号に４ビット長のビット誤りを付加する場合の動作
を、図６のタイミング図に従って説明する。なお、この
説明では、測定装置自身の遅延時間を考えないものとす
る。
信号に４ビット長のビット誤りを付加する場合の動作
を、図６のタイミング図に従って説明する。なお、この
説明では、測定装置自身の遅延時間を考えないものとす
る。
【００２５】擬似ランダム信号発生回路１１からの擬似
ランダム信号（ａ）は、〔Ｂ１、Ｂ２、…、Ｂ１４、Ｂ
１５〕の１５ビットを１周期として繰り返し出力される
（Ｂ１〜Ｂ１５は
ランダム信号（ａ）は、〔Ｂ１、Ｂ２、…、Ｂ１４、Ｂ
１５〕の１５ビットを１周期として繰り返し出力される
（Ｂ１〜Ｂ１５は
〔０〕または〔１〕）。
【００２６】この擬似ランダム信号は、誤り検出回路２
３が同期確定していない間、図６の（ｃ）のように、ビ
ット誤り付加回路１４から信号送信回路２１を介してそ
のまま伝送回線１へ送出され、未知の遅延時間後に、
（ｄ）のように信号受信回路２２によって受信され、誤
り検出回路２３で参照信号（ｅ）とのビット誤りが検出
される。ここで、（ｆ）のように、参照信号Ｂ１２〜Ｂ
１５と受信信号とが４ビット連続して誤りがなく、ｔ０
時に同期が確定したとすると、誤りパターン信号（送信
タイミング信号）が、（ｂ）のようにその直後の送信側
クロックに同期したｔ１時に立ち上がって４ビット連続
して〔１〕となる。したがって、この間伝送回線１に
は、Ｂ６〜Ｂ９を反転させた誤りビットＥ６〜Ｅ９が送
出される。また、送信タイミング信号（ｂ）の立ち下が
り時ｔ２には、遅延量検出回路２９が（ｈ）のようにセ
ット状態となり、単位時間パルスの計数が（ｉ）のよう
に開始される。
３が同期確定していない間、図６の（ｃ）のように、ビ
ット誤り付加回路１４から信号送信回路２１を介してそ
のまま伝送回線１へ送出され、未知の遅延時間後に、
（ｄ）のように信号受信回路２２によって受信され、誤
り検出回路２３で参照信号（ｅ）とのビット誤りが検出
される。ここで、（ｆ）のように、参照信号Ｂ１２〜Ｂ
１５と受信信号とが４ビット連続して誤りがなく、ｔ０
時に同期が確定したとすると、誤りパターン信号（送信
タイミング信号）が、（ｂ）のようにその直後の送信側
クロックに同期したｔ１時に立ち上がって４ビット連続
して〔１〕となる。したがって、この間伝送回線１に
は、Ｂ６〜Ｂ９を反転させた誤りビットＥ６〜Ｅ９が送
出される。また、送信タイミング信号（ｂ）の立ち下が
り時ｔ２には、遅延量検出回路２９が（ｈ）のようにセ
ット状態となり、単位時間パルスの計数が（ｉ）のよう
に開始される。
【００２７】回線自身による誤りがないとし、送信され
た誤りビットＥ６〜Ｅ９が伝送回線の遅延時間分遅れて
受信されると、ビット誤り検出回路２５から〔１〕の誤
り信号（ｆ）がｔ３時から４ビット連続して出力され
る。このため、受信タイミング信号は、（ｇ）のように
４ビット目の誤り信号に同期して立ち上がり、ｔ４時に
立ち下がる。遅延量検出回路２９は、この受信信号を受
けてｔ４時にリセット状態（ｈ）となり、単位時間パル
スの計数が終了する。ｔ２からｔ４までの計数値Ｄは、
伝送回線の往復の遅延量として遅延量表示器３４に数値
表示され、この表示から伝送回線１の遅延量がＤμＳ
（マイクロ秒）であることがわかる。
た誤りビットＥ６〜Ｅ９が伝送回線の遅延時間分遅れて
受信されると、ビット誤り検出回路２５から〔１〕の誤
り信号（ｆ）がｔ３時から４ビット連続して出力され
る。このため、受信タイミング信号は、（ｇ）のように
４ビット目の誤り信号に同期して立ち上がり、ｔ４時に
立ち下がる。遅延量検出回路２９は、この受信信号を受
けてｔ４時にリセット状態（ｈ）となり、単位時間パル
スの計数が終了する。ｔ２からｔ４までの計数値Ｄは、
伝送回線の往復の遅延量として遅延量表示器３４に数値
表示され、この表示から伝送回線１の遅延量がＤμＳ
（マイクロ秒）であることがわかる。
【００２８】なお、この誤りビットは単発的に付加され
るので、伝送回線の遅延量が擬似ランダム信号の１周期
（この場合１５×クロック周期）より長い場合であって
も、正確に遅延量を測定できる。また、回線自身による
誤りがｔ３からｔ４の期間に発生しない限り、その誤り
による測定への影響は無い。
るので、伝送回線の遅延量が擬似ランダム信号の１周期
（この場合１５×クロック周期）より長い場合であって
も、正確に遅延量を測定できる。また、回線自身による
誤りがｔ３からｔ４の期間に発生しない限り、その誤り
による測定への影響は無い。
【００２９】また、ｔ３からｔ４の間に回線自身による
誤りが偶然に発生して、特定のビット誤りのいずれかが
正しいビットに戻ってしまった場合には、この同期確定
後の１回の遅延測定は失敗することになるが、このよう
な場合には、スイッチ１７をオン操作して特定のビット
誤りの再付加を行なえばよい。また、同期確定後に自動
的に特定のビット誤りを付加せずに、スイッチ１７の操
作のみで遅延測定を起動するようにしてもよく、さらに
タイマを用いて同期確定後から所定の時間が経過したと
きに自動的にビット誤りを付加したり、擬似ランダム信
号数周期分の間隔で自動的に誤りを付加するようにして
もよく、そのタイミングは任意でよい。また、特定のビ
ット誤りを前記実施例のように４ビット連続したものと
しないで、５ビット連続にしたり、あるいは正しいビッ
トの前後に複数ビットずつ誤りを付加することもでき
る。
誤りが偶然に発生して、特定のビット誤りのいずれかが
正しいビットに戻ってしまった場合には、この同期確定
後の１回の遅延測定は失敗することになるが、このよう
な場合には、スイッチ１７をオン操作して特定のビット
誤りの再付加を行なえばよい。また、同期確定後に自動
的に特定のビット誤りを付加せずに、スイッチ１７の操
作のみで遅延測定を起動するようにしてもよく、さらに
タイマを用いて同期確定後から所定の時間が経過したと
きに自動的にビット誤りを付加したり、擬似ランダム信
号数周期分の間隔で自動的に誤りを付加するようにして
もよく、そのタイミングは任意でよい。また、特定のビ
ット誤りを前記実施例のように４ビット連続したものと
しないで、５ビット連続にしたり、あるいは正しいビッ
トの前後に複数ビットずつ誤りを付加することもでき
る。
【００３０】また、特定のビット誤りの前後のビット
に、回線による誤りが発生したときには、受信タイミン
グが正規のタイミングに対してずれるが、この場合に
は、付加した誤りビット長より長い誤りが検出されたと
き、この受信信号を無視して再測定を行ったり、あるい
は複数回の遅延測定による平均化処理を行なうことで対
処してもよい。
に、回線による誤りが発生したときには、受信タイミン
グが正規のタイミングに対してずれるが、この場合に
は、付加した誤りビット長より長い誤りが検出されたと
き、この受信信号を無視して再測定を行ったり、あるい
は複数回の遅延測定による平均化処理を行なうことで対
処してもよい。
【００３１】また、この実施例では、Ｎ＝４の擬似ラン
ダム信号に４ビット長のビット誤りを付加する場合につ
いて説明したが、両者を等しくする理由はなく、例えば
Ｎ＝３２の擬似ランダム信号に８ビット長のビット誤り
を付加してもよく、この場合でも、擬似ランダム信号発
生回路１１および誤り検出回路２３の参照信号発生回路
２４をＮ＝３２に対応した構成に変え、ビット誤り付加
回路１４および特定ビット誤り検出回路２６を８ビット
長に対応する構成に変えるだけで全く同様に適用でき
る。
ダム信号に４ビット長のビット誤りを付加する場合につ
いて説明したが、両者を等しくする理由はなく、例えば
Ｎ＝３２の擬似ランダム信号に８ビット長のビット誤り
を付加してもよく、この場合でも、擬似ランダム信号発
生回路１１および誤り検出回路２３の参照信号発生回路
２４をＮ＝３２に対応した構成に変え、ビット誤り付加
回路１４および特定ビット誤り検出回路２６を８ビット
長に対応する構成に変えるだけで全く同様に適用でき
る。
【００３２】また、回線自身の誤り率の状態に応じて、
付加する誤りビットの長さを可変することも可能であ
る。図７は、付加する誤りビットの長さを誤りビット長
設定回路３５によって可変できるようにした測定装置１
０′を示している。
付加する誤りビットの長さを可変することも可能であ
る。図７は、付加する誤りビットの長さを誤りビット長
設定回路３５によって可変できるようにした測定装置１
０′を示している。
【００３３】この場合には、図８、図９のようにビット
誤り付加回路１４′および特定ビット誤り検出回路２
６′内のフリップフロップ１９1 〜１９M 、２７1 〜２
７M の段数を最大Ｍ段までとし、誤りビット長設定回路
３５からビット長Ｐ（Ｐ＜Ｍ）が指定されたとき、Ｐ＋
１段以降のフリップフロップをセット信号発生回路３
６、３７によって常時セット状態に保持するように構成
すれば、回線状態に応じた任意のビット長の誤りの付加
とその検出が可能となる。
誤り付加回路１４′および特定ビット誤り検出回路２
６′内のフリップフロップ１９1 〜１９M 、２７1 〜２
７M の段数を最大Ｍ段までとし、誤りビット長設定回路
３５からビット長Ｐ（Ｐ＜Ｍ）が指定されたとき、Ｐ＋
１段以降のフリップフロップをセット信号発生回路３
６、３７によって常時セット状態に保持するように構成
すれば、回線状態に応じた任意のビット長の誤りの付加
とその検出が可能となる。
【００３４】また、上記実施例では、測定装置自身の遅
延時間を考えないで説明していたが、測定装置自身の遅
延時間Ｄ0 は、信号送信回路２１と信号受信回路２２と
を直結した状態で、前記実施例と同様の遅延測定によっ
て求めることができるので、伝送回線を測定したときの
遅延時間Ｄから測定装置自身の遅延時間Ｄ0 を減じるよ
うにすれば、伝送回線だけの遅延を測定できる。この減
算は、計数回路３３に〔−Ｄ0 〕を予めプリセットして
おいたり、Ｄ0 分だけ計数時間を短縮したり、あるいは
計数結果ＤからＤ0 を演算によって減じる等の方法が適
用できる。
延時間を考えないで説明していたが、測定装置自身の遅
延時間Ｄ0 は、信号送信回路２１と信号受信回路２２と
を直結した状態で、前記実施例と同様の遅延測定によっ
て求めることができるので、伝送回線を測定したときの
遅延時間Ｄから測定装置自身の遅延時間Ｄ0 を減じるよ
うにすれば、伝送回線だけの遅延を測定できる。この減
算は、計数回路３３に〔−Ｄ0 〕を予めプリセットして
おいたり、Ｄ0 分だけ計数時間を短縮したり、あるいは
計数結果ＤからＤ0 を演算によって減じる等の方法が適
用できる。
【００３５】
【発明の効果】以上説明したように本発明の伝送特性測
定装置は、擬似ランダム信号発生回路から出力された擬
似ランダム信号列をビット誤り付加回路を介して折り返
し状態の被試験伝送回線へ送出し、回線から折り返され
たきた信号列に対して誤り検出回路における参照信号列
の同期が確定した後の任意のタイミングにビット誤り付
加回路によって擬似ランダム信号列の一部にビット反転
による特定誤りパターンのビット誤りを付加し、この特
定誤りパターンのビット誤りが被試験伝送回線へ送出さ
れるタイミングに同期した送信タイミング信号を出力
し、同期確定後に参照信号列と被試験伝送回線によって
折り返されてくる信号列とをビット単位で比較し、誤り
検出回路からビット誤り付加回路で付加した特定誤りパ
ターンと一致するパターンの誤り信号が出力されたとき
に受信タイミング信号を出力し、送信タイミング信号が
出力されてから受信タイミング信号が出力されるまでの
時間差によって被試験伝送回線の信号遅延量を検出して
いる。
定装置は、擬似ランダム信号発生回路から出力された擬
似ランダム信号列をビット誤り付加回路を介して折り返
し状態の被試験伝送回線へ送出し、回線から折り返され
たきた信号列に対して誤り検出回路における参照信号列
の同期が確定した後の任意のタイミングにビット誤り付
加回路によって擬似ランダム信号列の一部にビット反転
による特定誤りパターンのビット誤りを付加し、この特
定誤りパターンのビット誤りが被試験伝送回線へ送出さ
れるタイミングに同期した送信タイミング信号を出力
し、同期確定後に参照信号列と被試験伝送回線によって
折り返されてくる信号列とをビット単位で比較し、誤り
検出回路からビット誤り付加回路で付加した特定誤りパ
ターンと一致するパターンの誤り信号が出力されたとき
に受信タイミング信号を出力し、送信タイミング信号が
出力されてから受信タイミング信号が出力されるまでの
時間差によって被試験伝送回線の信号遅延量を検出して
いる。
【００３６】このため、擬似ランダム信号とほぼ同等な
ランダム特性をもつ測定信号を伝送回線へ送出すること
ができ、実際の回線の信号に近い条件で正確な遅延測定
ができる。また、特定のビット誤りを付加するタイミン
グが任意であるため、擬似ランダム信号の周期による制
限をうけない遅延測定を行うことができる。
ランダム特性をもつ測定信号を伝送回線へ送出すること
ができ、実際の回線の信号に近い条件で正確な遅延測定
ができる。また、特定のビット誤りを付加するタイミン
グが任意であるため、擬似ランダム信号の周期による制
限をうけない遅延測定を行うことができる。
【図１】本発明の一実施例の構成を示すブロック図であ
る。
る。
【図２】一実施例の要部の回路構成の一例を示す回路図
である。
である。
【図３】一実施例の要部の回路構成の一例を示す回路図
である。
である。
【図４】一実施例の要部の回路構成の一例を示す回路図
である。
である。
【図５】一実施例の要部の回路構成の一例を示す回路図
である。
である。
【図６】一実施例の動作を説明するための各部のタイミ
ング図である。
ング図である。
【図７】本発明の他の実施例を示すブロック図である。
【図８】図７の要部の回路構成を示す回路図である。
【図９】図７の要部の回路構成を示す回路図である。
【図１０】伝送回線と測定装置との接続図である。
【図１１】従来の遅延測定の方法を示すタイミング図で
ある。
ある。
【図１２】擬似ランダム信号を用いた従来の他の遅延測
定の方法を示すタイミング図である。
定の方法を示すタイミング図である。
１ 伝送回線 １０ 伝送特性測定装置 １１ 擬似ランダム信号発生回路 １４ ビット誤り付加回路 ２３ 誤り検出回路 ２４ 参照信号発生回路 ２５ ビット誤り検出回路 ２６ 特定ビット誤り検出回路 ２９ 遅延量検出回路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) H04L 1/20 H04L 25/02 302 H04L 29/14
Claims (1)
- 【請求項１】所定ビット周期の擬似ランダム信号列を出
力する擬似ランダム信号発生回路（１）と、折り返し状態に設定された被試験伝送回線へ 前記擬似ラ
ンダム信号発生回路から出力された擬似ランダム信号列
を連続的に送出し、同期確定信号を受けた後の任意のタ
イミングに前記擬似ランダム信号列の一部にビット反転
による特定誤りパターンのビット誤りを付加するととも
に、該特定誤りパターンのビット誤りが前記被試験伝送
回線へ送出されるタイミングに同期した送信タイミング
信号を出力するビット誤り付加回路（１４）と、前記擬似ランダム信号発生回路が出力する擬似ランダム
信号列と同一の擬似ランダム信号列を参照信号列として
発生し、該参照信号列を前記被試験伝送回線によって折
り返されてくる信号列との同期を確定して同期確定信号
を前記ビット誤り付加回路へ出力し、該同期確定後に前
記参照信号列と前記被試験伝送回線によって折り返され
てくる信号列とをビット単位で比較する 誤り検出回路
（２３）と、 前記誤り検出回路から出力される誤り信号を受け、前記
同期確定後に前記誤り検出回路から前記ビット誤り付加
回路で付加された特定誤りパターンと一致するパターン
の誤り信号が出力されたとき、受信タイミング信号を出
力する特定ビット誤り検出回路（２６）と、 前記ビット誤り付加回路から送信タイミング信号が出力
されてから、前記特定ビット誤り検出回路から受信タイ
ミング信号が出力されるまでの時間差によって、前記被
試験伝送回線の信号遅延量を検出する遅延量検出回路
（２９）とを具備した伝送特性測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33791292A JP3146297B2 (ja) | 1992-11-25 | 1992-11-25 | 伝送特性測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33791292A JP3146297B2 (ja) | 1992-11-25 | 1992-11-25 | 伝送特性測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06164556A JPH06164556A (ja) | 1994-06-10 |
| JP3146297B2 true JP3146297B2 (ja) | 2001-03-12 |
Family
ID=18313167
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP33791292A Expired - Lifetime JP3146297B2 (ja) | 1992-11-25 | 1992-11-25 | 伝送特性測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3146297B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE19860125A1 (de) * | 1998-12-17 | 2000-06-21 | Deutsche Telekom Ag | Verfahren und Anordnung für Bitfehlerstruktur-Messungen von Datenübertragungskanälen |
| JP3490380B2 (ja) * | 2000-07-17 | 2004-01-26 | 株式会社ジェニスタ | 信号伝送媒体の信号伝送品質の評価装置、評価方法、ならびに、情報記録媒体 |
| JP4695021B2 (ja) * | 2006-06-05 | 2011-06-08 | 富士通株式会社 | インパルス無線装置 |
| JP6890625B2 (ja) * | 2019-03-26 | 2021-06-18 | アンリツ株式会社 | 誤り測定器及びそれを用いた応答時間の測定方法 |
-
1992
- 1992-11-25 JP JP33791292A patent/JP3146297B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH06164556A (ja) | 1994-06-10 |
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