JP3143516B2 - 走査光学装置 - Google Patents
走査光学装置Info
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- JP3143516B2 JP3143516B2 JP04085448A JP8544892A JP3143516B2 JP 3143516 B2 JP3143516 B2 JP 3143516B2 JP 04085448 A JP04085448 A JP 04085448A JP 8544892 A JP8544892 A JP 8544892A JP 3143516 B2 JP3143516 B2 JP 3143516B2
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- laser light
- optical device
- cover
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- light source
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- Laser Beam Printer (AREA)
- Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)
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- Electrophotography Configuration And Component (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、レーザビームプリン
タ、レーザ複写機等で使用されている走査光学装置に関
するものである。
タ、レーザ複写機等で使用されている走査光学装置に関
するものである。
【０００２】〔背景技術〕レーザビームプリンタ、レー
ザ複写機等の画像記録装置で使用されている走査光学装
置においては、感光体を偏向器により偏向走査された光
束で走査し、そして静電潜像を形成する。この静電潜像
は現像装置によってトナー像に顕像化され、このトナー
像が記録紙に転写され、この後前記トナー像の転写後の
記録紙に定着装置によってトナーが加熱定着されること
によってプリントが行われる。
ザ複写機等の画像記録装置で使用されている走査光学装
置においては、感光体を偏向器により偏向走査された光
束で走査し、そして静電潜像を形成する。この静電潜像
は現像装置によってトナー像に顕像化され、このトナー
像が記録紙に転写され、この後前記トナー像の転写後の
記録紙に定着装置によってトナーが加熱定着されること
によってプリントが行われる。
【０００３】本発明の背景技術である画像記録装置に用
いられている走査光学装置について、図５を用いて説明
する。
いられている走査光学装置について、図５を用いて説明
する。
【０００４】図５の中央部は走査光学装置の偏向面（偏
向器の偏向反射面で偏向された光束が、経時的に形成す
る光線束面）に平行な面内での様子を説明する図、図５
の上部は中央部に示す走査光学装置を図中矢印Ａ方向か
ら見た側面図、図５の右部は中央部に示す走査光学装置
を図中矢印Ｂ方向から見た側面図、図５の左部は中央部
に示す走査光学装置を図中矢印Ｃ方向から見た側面図で
ある。この走査光学装置の概略構成図において、１は光
学ハウジングを示しており以下の部品群が実装されユニ
ット化されている。
向器の偏向反射面で偏向された光束が、経時的に形成す
る光線束面）に平行な面内での様子を説明する図、図５
の上部は中央部に示す走査光学装置を図中矢印Ａ方向か
ら見た側面図、図５の右部は中央部に示す走査光学装置
を図中矢印Ｂ方向から見た側面図、図５の左部は中央部
に示す走査光学装置を図中矢印Ｃ方向から見た側面図で
ある。この走査光学装置の概略構成図において、１は光
学ハウジングを示しており以下の部品群が実装されユニ
ット化されている。
【０００５】２は光束を発生する光源である半導体レー
ザーユニット、３は２つの偏向反射面を有するポリゴン
ミラーを回転駆動するポリゴンミラー回転モーター、４
は紙面に垂直な方向に屈折力を有するシリンドリカルレ
ンズ、５は偏向器により走査された光束を不図示の感光
体上に集光する単レンズのｆθレンズ、６はｆθレンズ
を通過した光束を反射する反射ミラーユニット、７は水
平同期信号検知ユニットである。反射ミラーユニット６
によって反射された光束は、フォトダイオード等を含ん
で構成される水平同期信号検知ユニット７の受光素子の
受光面に入射する。これにより、受光素子はその受光面
が偏向器５により偏向走査された光束によって照射され
る時に、光束の走査された位置を検出するための信号を
出力する。
ザーユニット、３は２つの偏向反射面を有するポリゴン
ミラーを回転駆動するポリゴンミラー回転モーター、４
は紙面に垂直な方向に屈折力を有するシリンドリカルレ
ンズ、５は偏向器により走査された光束を不図示の感光
体上に集光する単レンズのｆθレンズ、６はｆθレンズ
を通過した光束を反射する反射ミラーユニット、７は水
平同期信号検知ユニットである。反射ミラーユニット６
によって反射された光束は、フォトダイオード等を含ん
で構成される水平同期信号検知ユニット７の受光素子の
受光面に入射する。これにより、受光素子はその受光面
が偏向器５により偏向走査された光束によって照射され
る時に、光束の走査された位置を検出するための信号を
出力する。
【０００６】８は、半導体レーザーユニット２と、ポリ
ゴンミラー回転モーター３と、水平同期信号検知ユニッ
ト７を制御するＩＣ素子である。９は、抵抗，コンデン
サーなどの電気回路素子群をしめしている。１０は、コ
ネクターであり、画像記録装置本体の制御回路（図示せ
ず）のコネクター１０′と接続されている。１２０は、
光学ハウジング１内の部品群を、覆う蓋であり、光学ハ
ウジング１にネジ固定されている。
ゴンミラー回転モーター３と、水平同期信号検知ユニッ
ト７を制御するＩＣ素子である。９は、抵抗，コンデン
サーなどの電気回路素子群をしめしている。１０は、コ
ネクターであり、画像記録装置本体の制御回路（図示せ
ず）のコネクター１０′と接続されている。１２０は、
光学ハウジング１内の部品群を、覆う蓋であり、光学ハ
ウジング１にネジ固定されている。
【０００７】１３は、半導体レーザーユニット２の光量
を増減させる調整ボリュームであり、その値は、チェッ
ク端子１４とグランド端子１５間の電圧を、計測するこ
とによって調整される。また、ポリゴンミラー回転モー
ター３の走査速度および、水平同期信号検知ユニット７
の動作チェックは、チェック端子１６とグランド端子１
５間の電圧をオシロスコープ等の計測機で水平同期信号
を計測し、チェックされる。
を増減させる調整ボリュームであり、その値は、チェッ
ク端子１４とグランド端子１５間の電圧を、計測するこ
とによって調整される。また、ポリゴンミラー回転モー
ター３の走査速度および、水平同期信号検知ユニット７
の動作チェックは、チェック端子１６とグランド端子１
５間の電圧をオシロスコープ等の計測機で水平同期信号
を計測し、チェックされる。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、こうし
た装置構成では、つぎのような問題点があった。つまり
組立工程時の光源の光量調整、および水平同時信号のチ
ェックでは、光学ハウジングのカバーを、とった状態で
行なわなければならず、これでは光学素子が露出した状
態となり、クリーンルーム内での作業が必要なため、市
場にて、サービスマン等の作業者が、調整するのは不可
能であった。
た装置構成では、つぎのような問題点があった。つまり
組立工程時の光源の光量調整、および水平同時信号のチ
ェックでは、光学ハウジングのカバーを、とった状態で
行なわなければならず、これでは光学素子が露出した状
態となり、クリーンルーム内での作業が必要なため、市
場にて、サービスマン等の作業者が、調整するのは不可
能であった。
【０００９】
【課題を解決するための手段】上記問題点を解決するた
めの本発明は、レーザ光源と、このレーザ光源から出射
されるレーザ光を偏向する偏向手段と、偏向手段で偏向
されたレーザー光を走査面に結像するｆθレンズと、回
路基板に実装されておりレーザ光源及び偏向手段を制御
するための電気部品群と、レーザ光源、偏向手段、ｆθ
レンズ及び回路基板を収納する光学ハウジングと、光学
ハウジングを遮蔽するカバーと、を有する走査光学装置
において、上記カバーは、上記電気部品群の各素子を個
々に囲むように設けられた筒状の貫通孔と、上記レーザ
光源と上記偏向手段及び上記ｆθレンズからなる光学部
と上記電気部品群とを仕切るリブと、を有することを特
徴とする。
めの本発明は、レーザ光源と、このレーザ光源から出射
されるレーザ光を偏向する偏向手段と、偏向手段で偏向
されたレーザー光を走査面に結像するｆθレンズと、回
路基板に実装されておりレーザ光源及び偏向手段を制御
するための電気部品群と、レーザ光源、偏向手段、ｆθ
レンズ及び回路基板を収納する光学ハウジングと、光学
ハウジングを遮蔽するカバーと、を有する走査光学装置
において、上記カバーは、上記電気部品群の各素子を個
々に囲むように設けられた筒状の貫通孔と、上記レーザ
光源と上記偏向手段及び上記ｆθレンズからなる光学部
と上記電気部品群とを仕切るリブと、を有することを特
徴とする。
【００１０】
【実施例】以下に図面に基づき本発明の実施例について
説明する。
説明する。
【００１１】図１は本発明の第１の実施例である走査光
学装置を示すもので、図において、１は光学ハウジング
を示しており以下の部品群が実装されユニット化されて
いる。
学装置を示すもので、図において、１は光学ハウジング
を示しており以下の部品群が実装されユニット化されて
いる。
【００１２】２は光束を発生する光源である半導体レー
ザーユニット、３は２つの偏向反射面を有する偏向器で
あるポリゴンミラーを回転駆動するポリゴンミラー回転
モーター、４は紙面に垂直な方向に屈折力を有するシリ
ンドリカルレンズ、５は偏向器により走査された光束を
不図示の感光体上に集光する単レンズのｆθレンズ、６
はｆθレンズを通過した光束を反射する反射ミラーユニ
ット、７は水平同期信号検知ユニットである。反射ミラ
ーユニット６によって反射された光束は、フォトダイオ
ード等を含んで構成される水平同期信号検知ユニット７
の受光素子の受光面に入射する。これにより、受光素子
はその受光面が偏向器５により偏向走査された光束によ
って照射される時に、光束の走査された位置を検出する
ための信号を出力する。
ザーユニット、３は２つの偏向反射面を有する偏向器で
あるポリゴンミラーを回転駆動するポリゴンミラー回転
モーター、４は紙面に垂直な方向に屈折力を有するシリ
ンドリカルレンズ、５は偏向器により走査された光束を
不図示の感光体上に集光する単レンズのｆθレンズ、６
はｆθレンズを通過した光束を反射する反射ミラーユニ
ット、７は水平同期信号検知ユニットである。反射ミラ
ーユニット６によって反射された光束は、フォトダイオ
ード等を含んで構成される水平同期信号検知ユニット７
の受光素子の受光面に入射する。これにより、受光素子
はその受光面が偏向器５により偏向走査された光束によ
って照射される時に、光束の走査された位置を検出する
ための信号を出力する。
【００１３】８は、半導体レーザーユニット２と、ポリ
ゴンミラー回転モーター３と、水平同期信号検知ユニッ
ト７を制御するＩＣ素子である。９は、抵抗，コンデン
サーなどの電気回路素子群である電気部品をしめしてい
る。１０は、コネクターであり、画像記録装置本体の制
御回路（図示せず）のコネクター１０′と接続されてい
る。
ゴンミラー回転モーター３と、水平同期信号検知ユニッ
ト７を制御するＩＣ素子である。９は、抵抗，コンデン
サーなどの電気回路素子群である電気部品をしめしてい
る。１０は、コネクターであり、画像記録装置本体の制
御回路（図示せず）のコネクター１０′と接続されてい
る。
【００１４】１２は走査光学装置のカバーである。１２
−１はカバーと一体のリブであり、ハウジング１と伴
に、ハウジング内の部品群を密閉する。
−１はカバーと一体のリブであり、ハウジング１と伴
に、ハウジング内の部品群を密閉する。
【００１５】また、１２−２，１２−３，１２−４，１
２−５，１２−６は、カバー１２に開けられた筒状のダ
クト穴である。穴１２−２は、ＩＣ素子８の周囲に設け
られた筒状の穴であり、カバー１２をユニットからはず
さずに、ＩＣ素子８の動作チェックが可能である。ま
た、ＩＣ素子８が外気と接しているのでＩＣ素子８への
冷却効果もあり、高温動作時の信頼性も向上する。
２−５，１２−６は、カバー１２に開けられた筒状のダ
クト穴である。穴１２−２は、ＩＣ素子８の周囲に設け
られた筒状の穴であり、カバー１２をユニットからはず
さずに、ＩＣ素子８の動作チェックが可能である。ま
た、ＩＣ素子８が外気と接しているのでＩＣ素子８への
冷却効果もあり、高温動作時の信頼性も向上する。
【００１６】穴１２−３は、レーザ光量チェック端子１
４とグランド端子１５の周囲に設けられた筒状の穴であ
る。また１２−４はレーザ光量増減用のボリューム１３
の周囲に設けられた穴である。この場合も、カバー１２
をユニットからはずさずにレーザ光量調整およびチェッ
クが可能である。
４とグランド端子１５の周囲に設けられた筒状の穴であ
る。また１２−４はレーザ光量増減用のボリューム１３
の周囲に設けられた穴である。この場合も、カバー１２
をユニットからはずさずにレーザ光量調整およびチェッ
クが可能である。
【００１７】同様に、１２−４は、水平同期信号検知ユ
ニット７からの信号を出力するチェックピン１６の周囲
に設けられた穴であり、同様に、カバー１２をユニット
からはずさずに、信号の確認が可能である。
ニット７からの信号を出力するチェックピン１６の周囲
に設けられた穴であり、同様に、カバー１２をユニット
からはずさずに、信号の確認が可能である。
【００１８】本実施例では、チェック端子および調整手
段を、レーザ光量調整と、水平同期信号チェックについ
て述べているが、特にこの２つに限定されるものではな
い。
段を、レーザ光量調整と、水平同期信号チェックについ
て述べているが、特にこの２つに限定されるものではな
い。
【００１９】穴１２−６は、画像記録装置本体の制御回
路（図示せず）と接続するコネクター１０の周囲に設け
られた穴である。この場合も、コネクターの端子に当た
ることでカバー１２を外さずに動作チェックが可能であ
る。また、走査光学装置ユニットをコネクタ１０を介し
て画像記録装置本体に組み込むときも、穴１２−６の内
側に押し当て部材１０１をコネクタ１０の端部に矢印Ａ
方向から突き出すことによって、回路基板１１にストレ
スを加えずに組み込むことが可能である。
路（図示せず）と接続するコネクター１０の周囲に設け
られた穴である。この場合も、コネクターの端子に当た
ることでカバー１２を外さずに動作チェックが可能であ
る。また、走査光学装置ユニットをコネクタ１０を介し
て画像記録装置本体に組み込むときも、穴１２−６の内
側に押し当て部材１０１をコネクタ１０の端部に矢印Ａ
方向から突き出すことによって、回路基板１１にストレ
スを加えずに組み込むことが可能である。
【００２０】また、カバー１２とハウジング１との位置
決めは、ハウジング１に設けられた、位置決めピン１−
１，１−２によって行なわれる。
決めは、ハウジング１に設けられた、位置決めピン１−
１，１−２によって行なわれる。
【００２１】また図２に示すようにＩＣ素子８，チェッ
ク端子１４，１５，１６，調整ボリュームＢ，コネクタ
１０の電気部品群は、同一の電気回路基板１１に実装さ
れており、電気回路基板１１は、ハウジング１の位置決
めピン１−３によって位置決めされる。
ク端子１４，１５，１６，調整ボリュームＢ，コネクタ
１０の電気部品群は、同一の電気回路基板１１に実装さ
れており、電気回路基板１１は、ハウジング１の位置決
めピン１−３によって位置決めされる。
【００２２】図３にダクト穴１２−４の断面形状図を示
す。１０２は、光量調整ボリューム１３を回動調整する
ドライバー工具である。ここでは、ダクト穴１２−４を
テーパ状にすることでドライバー工具の挿入ガイドを兼
ねることができ、更に組立性が向上する。
す。１０２は、光量調整ボリューム１３を回動調整する
ドライバー工具である。ここでは、ダクト穴１２−４を
テーパ状にすることでドライバー工具の挿入ガイドを兼
ねることができ、更に組立性が向上する。
【００２３】次に本発明の第２の実施例について説明す
る。装置構成については第１の実施例と同様であり異な
る部分について図４をもとに説明する。
る。装置構成については第１の実施例と同様であり異な
る部分について図４をもとに説明する。
【００２４】１０３は導電性のピンであり、カバーの穴
１２−５内のリブ１２−５Ａに付勢されており、通常
は、電圧チェック用のランド部と非接触の状態にある。
１２−５内のリブ１２−５Ａに付勢されており、通常
は、電圧チェック用のランド部と非接触の状態にある。
【００２５】１０４は、テスター等の接触プローブであ
り、ピン１０３を押し込むことによってリブ１２−５Ａ
が弾性変形し、ランド１６と導通することによって測定
可能となる。
り、ピン１０３を押し込むことによってリブ１２−５Ａ
が弾性変形し、ランド１６と導通することによって測定
可能となる。
【００２６】
【発明の効果】本発明は、以上の構成及び作用からなる
もので、仮にカバーに設けられた筒状の貫通孔と素子と
の隙間からごみが侵入してもカバーに設けられたリブで
光学部への侵入を防止できるので、筒状の貫通孔を設け
たことと相まって電気部品群の一般環境下での調整およ
びチェックが可能となり、組立性・サービス性を向上で
きる。また、電気部品群の各素子は外気に触れるのでそ
の冷却効果により信頼性も向上する。
もので、仮にカバーに設けられた筒状の貫通孔と素子と
の隙間からごみが侵入してもカバーに設けられたリブで
光学部への侵入を防止できるので、筒状の貫通孔を設け
たことと相まって電気部品群の一般環境下での調整およ
びチェックが可能となり、組立性・サービス性を向上で
きる。また、電気部品群の各素子は外気に触れるのでそ
の冷却効果により信頼性も向上する。
【図１】本発明の第１の実施例である走査光学装置を示
す図である。
す図である。
【図２】第１の実施例の装置のカバーを開いた図であ
る。
る。
【図３】第１の実施例の筒状穴付近を示す図である。
【図４】本発明の第２の実施例の筒状穴付近を示す図で
ある。
ある。
【図５】本発明の背景技術となった走査光学装置を示す
図である。
図である。
１ 光学ハウジング ２ 半導体レーザユニット ３ ポリゴン回転モータ ４ ｆθレンズ １２ カバー
フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G03G 15/00 550 G03G 21/16 - 21/18 G02B 26/10 - 26/10 109 G03G 15/04 - 15/04 120 B41J 2/44 - 2/455
Claims (1)
- 【請求項１】 レーザ光源と、このレーザ光源から出射
されるレーザ光を偏向する偏向手段と、偏向手段で偏向
されたレーザー光を走査面に結像するｆθレンズと、回
路基板に実装されておりレーザ光源及び偏向手段を制御
するための電気部品群と、レーザ光源、偏向手段、ｆθ
レンズ及び回路基板を収納する光学ハウジングと、光学
ハウジングを遮蔽するカバーと、を有する走査光学装置
において、 上記カバーは、上記電気部品群の各素子を個々に囲むよ
うに設けられた筒状の貫通孔と、上記レーザ光源と上記
偏向手段及び上記ｆθレンズからなる光学部と上記電気
部品群とを仕切るリブと、を有することを特徴とする走
査光学装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP04085448A JP3143516B2 (ja) | 1992-04-07 | 1992-04-07 | 走査光学装置 |
| US08/500,766 US5900961A (en) | 1992-03-13 | 1995-08-07 | Scanning optical device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP04085448A JP3143516B2 (ja) | 1992-04-07 | 1992-04-07 | 走査光学装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05289423A JPH05289423A (ja) | 1993-11-05 |
| JP3143516B2 true JP3143516B2 (ja) | 2001-03-07 |
Family
ID=13859166
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP04085448A Expired - Fee Related JP3143516B2 (ja) | 1992-03-13 | 1992-04-07 | 走査光学装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3143516B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP7027163B2 (ja) * | 2017-12-27 | 2022-03-01 | キヤノン株式会社 | ベルト搬送装置及び画像形成装置 |
-
1992
- 1992-04-07 JP JP04085448A patent/JP3143516B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH05289423A (ja) | 1993-11-05 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20001212 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |