JP3137998B2 - フィルターチップアタッチメント機におけるチップペーパ片の接着位置ずれと形状不良の検出方法およびその装置 - Google Patents

フィルターチップアタッチメント機におけるチップペーパ片の接着位置ずれと形状不良の検出方法およびその装置

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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、たばこの製造工程でフ
ィルタープラグと両切りたばことをチップペーパ片で巻
上げるためのフィルターチップアタッチメント機におい
て、チップペーパ片の接着位置ずれと切断不良を検出す
る方法とその装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、フィルター付たばこは、一定寸法
に切断された2本の両切りたばこの間にフィルタープラ
グを切り口を付け合わせた状態で挟み、矩形に切断して
糊付けされたチップペーパ片でフィルタープラグを包む
ように巻上げ(ローリング)、接着・乾燥したあとフィ
ルタープラグの中央を切断して形成される。このとき、
フィルタープラグと両切りたばことをチップペーパ片で
巻上げる工程は、いわゆるフィルターチップアタッチメ
ント機で行われている。
【0003】図21は、たばこ製造装置のフィルターチ
ップアタッチメント機を示す図であり、チップペーパ片
を供給する部分、フィルタープラグと両切りたばこをそ
れぞれ供給する部分、および巻上げを行う部分を示して
いる。チップペーパPは繰り出しローラ20によってチ
ップペーパボビン10から糊付部30に繰り出され、こ
のチップペーパPは、糊付部30で片面に糊が転写され
る。糊が転写されたチップペーパPは、一定速度で回転
するサクションローラ40とコークナイフ50によって
一定寸法に切断され、切断されたチップペーパ片は糊付
けされた面を上にしてサクションローラ40のドラム面
に吸着されてトランスファドラム60に供給される。
【0004】一方、図示しない紙巻機により一定寸法に
切断された両切りたばこはキャッチャードラム100で
90度方向転換され、グレーディングドラム90により
両切りたばこ2本を1列に配列し、ホッパードラム80
に供給される。ホッパードラム80はプラグトランスポ
ートドラム110より供給される切断・整列されたフィ
ルタープラグと、グレーディングドラム90より供給さ
れた両切りたばこを1列に配列し、トランスファドラム
60に供給する。トランスファドラム60に供給された
フィルタープラグと2本の両切りたばこは、図示しない
フローティングディスクによって隙間が無いように整列
される。
【0005】図19はサクションローラ40とトランス
ファドラム60の近接部分を示す図であり、トランスフ
ァドラム60のドラム面には、フィルタープラグFおよ
び両切りたばこTと同じ径の円弧面を外側に向けたサポ
ート60aがチップペーパ片pの搬送ピッチに対応した
一定間隔で配設されている。フローティングディスクに
よって整列されたフィルタープラグFと両切りたばこT
は、トランスファドラム60のサポート60aに吸着さ
れた状態でサクションローラ40側に順次送られ、サク
ションローラ40から供給されたチップペーパ片pは、
トランスファドラム60とサクションローラ40との近
接部分で先端部の略2〜3mm(タッチ幅)がフィルター
プラグFと両切りたばこTとに平行に接着され、図20
のように初期接着される。
【0006】このチップペーパ片pが初期接着されたフ
ィルタープラグFと両切りたばこTは、トランスファド
ラム60の回転に伴ってペーパガイド70(図21)に
チップペーパ片を沿わせてヒータドラムに移送され、ヒ
ータドラムと図示しないローリングハンドとによって巻
上げ(ローリング)接着され、ダブル巻になる。なお、
このダブル巻はヒータドラムにおいてチップペーパ片の
糊付け部分が乾燥され、次段のチェッキングドラムに移
送される。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】上記のようなチップペ
ーパ初期接着の工程では、チップペーパ片が一定寸法に
切断され、かつサクションローラのドラム面上で一定位
置を保持して移送され、フィルタープラグと両切りたば
この一定位置に接着されなければ、次工程でフィルター
プラグと両切りたばこを巻上げる際にローリング不良と
なり、不良品の発生を招くことになる。また、上記同様
に巻上げる際に、切断不良、移送不良によって、舞い上
がったチップペーパ片が初期接着工程へ混入したり、付
着することによってもローリング不良となり、不良品の
発生を招くことになる。
【0008】なお、チップペーパ初期接着不良は、以下
の原因で発生することが多い。すなわち、コークナイフ
の劣化、サクションローラでチップペーパ片を吸引・吸
着するためのサクション孔の目詰まり、元圧の低下等に
よるサクションローラの吸着力の低下、チップペーパの
搬送方向に対する左右の偏りなどチップペーパボビンか
らの繰り出し時における走行不良、あるいは複数のチッ
プペーパ巻物を用いてチップペーパボビンを自動交換す
るときの接続時のスリップ、接着用糊の成分変化、前工
程におけるフィルタープラグと両切りたばこの整列不良
等によって、初期接着不良が発生する。
【0009】本発明は、たばこ製造装置のフィルターチ
ップアタッチメント機においてフィルタープラグと両切
りたばことに接着されたチップペーパ片の接着位置ずれ
と切断不良を自動的に検出することを課題とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
めになした本発明のフィルターチップアタッチメント機
におけるチップペーパ片の接着位置ずれと形状不良の検
出方法は、チップペーパ片の端部を初期接着した両切り
たばことフィルタープラグとをトランスファドラムで搬
送して該チップペーパ片で両切りたばことフィルタープ
ラグとを巻き上げるフィルターチップアタッチメント機
におけるチップペーパ片の接着位置ずれと形状不良の検
出方法であって、前記トランスファドラムにおける両切
りたばこの搬送間隔とパルス周期の等しい第1検査信号
および第2検査信号を予め設定した位相差を有するタイ
ミングで発生しながら、前記トランスファドラムのドラ
ム面に対向させた光電検出器により該トランスファドラ
ムで搬送される両切りたばこおよびチップペーパ片から
の反射光を受光してこの光電検出器の光電変換信号の立
上がりと立下がりとを監視し、上記第1検査信号を発生
したときの上記光電変換信号の立上がりと上記第2検査
信号を発生したときの上記光電変換信号の立下がりの少
なくとも一方が検出されないときに異常検知と判定する
ようにしたことを特徴とする。
【0011】また、本発明のフィルターチップアタッチ
メント機におけるチップペーパ片の接着位置ずれと形状
不良の検出装置は、チップペーパ片の端部を初期接着し
た両切りたばことフィルタープラグとをトランスファド
ラムで搬送して該チップペーパ片で両切りたばことフィ
ルタープラグとを巻き上げるフィルターチップアタッチ
メント機におけるチップペーパ片の接着位置ずれと形状
不良の検出装置であって、前記トランスファドラムのド
ラム面に対向して配設されるとともに前記両切りたばこ
およびチップペーパ片からの反射光を受光して光電変換
信号を出力する光電検出器と、上記トランスファドラム
における両切りたばこの搬送間隔とパルス周期の等しい
第1検出信号および第2検査信号を予め設定した位相差
を有するタイミングで発生する検査信号発生手段と、上
記検査信号発生手段で発生される第1検査信号と第2検
査信号および上記光電変換信号がそれぞれ入力され、上
記第1検査信号が発生されたときの上記光電変換信号の
立上がりの有無と上記第2検査信号が発生されたときの
上記光電変換信号の立下がりの有無とをそれぞれ記憶す
る記憶手段と、上記記憶手段に上記立上がり有りと立下
がり有りの少なくとも一方の記憶がないときに異常検知
信号を出力する判定手段と、を備えることを特徴とす
る。
【0012】
【作用】本発明が適用されるフィルターチップアタッチ
メント機において、チップペーパ片は、先端部を両切り
たばことフィルタープラグとに初期接着され、トランス
ファドラムにより両切りたばこおよびフィルタープラグ
が保持されて搬送されることによりチップペーパ片も同
時に搬送され、チップペーパ片の初期接着部と後端部と
が一定の速度で移動する。したがって、本発明のチップ
ペーパ片の接着位置ずれと形状不良の検出方法または装
置において、光電検出器は両切りたばこまたはチップペ
ーパ片からの反射光により光電変換信号が“H”レベル
になり、この光電変換信号は、両切りたばこまたはチッ
プペーパ片の先端部により立上がり、チップペーパ片の
後端部により立下がる。また、第1検査信号と第2検査
信号はトランスファドラムにおける両切りたばこの搬送
間隔とパルス周期が等しく、予め設定した位相差を有す
るタイミングで発生される。
【0013】したがって、この第1検査信号が発生され
たときの光電変換信号の立ち上がりと第2検査信号が発
生されたときの光電変換信号の立ち下がりのうち少なく
とも一方が検出されない場合には、トランスファドラム
で所定の位置に保持される両切りたばこおよびフィルタ
ープラグに対して、チップペーパ片の先端部と後端部の
うち少なくとも一方がずれていることになり、チップペ
ーパ片の接着位置ずれや切断不良による形状不良を検出
することができる。
【0014】
【実施例】図1は本発明を適用したたばこ製造装置のフ
ィルターチップアタッチメントを示す図であり、前記図
21と同様の部分には同符号を付記してある。図1にお
いて、1A ,1B は、トランスファドラム60のドラム
面に集光レンズ11A ,11B を対向させてこの集光レ
ンズ11A ,11B がドラム面の搬送方向(図の矢印A
の方向)に対して垂直な方向にそれぞれ並設された2つ
の光電検出器、2は穴加工を施したペーパガイド70に
集光レンズ11A ,11B を挿入・位置決めして集光レ
ンズ11A ,11B の焦点距離を合わせる集光レンズ取
付部材、3は光電検出器1A ,1B の出力信号に基づい
て後述の異常検出信号を発生する信号処理部、4は近接
センサー等により当該フィルターチップアタッチメント
機の主軸の回転に同期して一定の同期信号を発生させる
同期信号発生部、5は異常信号と同期信号によってタイ
ミングをとり、異常発生による不良品を排除する排除部
である。
【0015】なお、トランスファドラム60でフィルタ
ープラグと両切りたばこが巻上げられると、図1のの
ようなダブル巻にされ、このダブル巻はヒータドラム6
でチップペーパ片の糊付部分が乾燥されてチェッキング
ドラム7に移送される。そして、不良のダブル巻はチェ
ッキングドラム7の下方位置で排除部5により排除され
るが、正常なダブル巻はファイナルカッティングドラム
8とファイナルカッティングナイフ9によってフィルタ
ー部分で切断され次工程に移送される。
【0016】図2に示したように、それぞれの光電検出
器1A ,1B は、集光レンズ11、アンプユニット(発
光部)12および光ファイバーケーブル13から構成さ
れている。アンプユニット12は高輝度LEDで超高速
パルスを点灯させ、この発光された光は光ファイバーケ
ーブル13を介して集光レンズ11に伝達され、集光レ
ンズ11は光ファイバーケーブル13で伝達されてくる
光を集光してトランスファドラム60のドラム面のサポ
ート60a上に微小なスポットを形成する。また、集光
レンズ11はこのスポット部分からの反射光を集光し、
この集光された検出光は光ファイバーケーブル13を介
してアンプユニット12に伝達される。
【0017】そして、アンプユニット12は集光レンズ
11による受光強度に応じたレベルの受光信号を前記信
号処理部3に出力する。なお、光電検出器1A ,1B
しては、チップペーパ片が初期接着されたフィルタープ
ラグと両切りたばこがトランスファドラム60上を高速
で移動することやトランスファドラム60周辺のスペー
ス的な制約を考慮すると、小型で応答性の良いものが適
しており、例えば、(株)キーエンス社製のファイバー
式光電スイッチ(応答時間 250μs) 等を使用すること
ができる。
【0018】図3(A) はペーパガイド70と集光レンズ
取付部材2の組立上面図、図3(B)はその組立側面図で
ある。集光レンズ取付部材2において、水平板21aを
有する取付基板21は、フィルターチップアタッチメン
ト機のフレーム100に対して上下位置調整が可能なよ
うにネジ21bによって固定されている。水平板21a
には、図示しない電磁バルブの開閉によって駆動される
エアシリンダ22がL金具23を介して取付けられ、こ
のエアシリンダ22の駆動軸22aはペーパガイド70
側に向けられ、その先端には水平バー24が取付けられ
ている。光電検出器1A ,1B の各光ファイバーケーブ
ル13A ,13B はL金具23の小孔23aに通され、
各光ファイバーケーブル13A ,13B の先端に取付け
られた各集光レンズ11A ,11B は、それぞれ水平バ
ー23の端部に取付けられている。
【0019】ペーパガイド70は、フィルターチップア
タッチメント機のフレーム100に固定されたセットバ
ー70aにセットされ、このペーパガイド70の集光レ
ンズ11A ,11B の位置には、この集光レンズ1
A ,11B 側からトランスファドラム60側に貫通す
る一対の検出穴70bA ,70bB が形成されている。
【0020】そして、たばこ製造装置の高速運転信号が
入ると、図示しない電磁バルブが作動してエアシリンダ
22の駆動軸22aが前進し、集光レンズ11A ,11
B がペーパガイド70側に移動し、集光レンズ11A
11B がペーパガイド70の検出穴70bA ,70bB
にそれぞれ挿入され、位置決めされる。なお、たばこ製
造装置の停止信号が入ると電磁バルブが作動してエアシ
リンダ22が後退し、集光レンズ11A ,11B が検出
穴70bA ,70bB から外され、ペーパガイド70が
セットバー70aから取り外せるようになる。また、図
には示してないが、たばこ製造装置の停止信号が入り上
記のように集光レンズ11A ,11B が検出穴70
A ,70bB から外されたとき、集光レンズ11A
11B のレンズ面がエアブローによって清掃されるよう
になっている。
【0021】図4(A) はフィルタープラグFと両切りた
ばこTにチップペーパ片pが正常に初期接着された状態
を示す正面図、図4(B) はその側面図、図5(A) はチッ
プペーパ片pが初期接着されたフィルタープラグFと両
切りたばこTのトランスファドラム60のドラム面上の
サポート60aにおける吸着位置を示す正面図、図5
(B) はその側面図である。
【0022】図4(A) に示したように、正常に切断され
たチップペーパpは搬送方向(図の矢印方向)が所定の
長さの長方形にされ、フィルタープラグFと両切りたば
こTの先端部分が平行に一定位置に初期接着されるよう
タイミング調整されている。なお、タイミング調整基準
は2mm〜3mmである。
【0023】図5に示したように、トランスファドラム
60のドラム面上には均一な間隔でサポート60aが搬
送方向(図の矢印方向)に対して直角に配されており、
チップペーパ片pが初期接着されたフィルタープラグF
と両切りたばこTはサポート60aの溝に吸着されてい
る。
【0024】サポート60aに対して、所定の位置にな
る長方形の領域(図5(A) の二点鎖線)が各辺が搬送方
向に対して直角または平行になるように設定されてお
り、この領域の境界AT ,AL ,AE ,AR は、図4
(A) のように正常な切断状態のチップペーパ片pの周縁
T ,pL ,pE ,pR と同形状になっている。また、
チップペーパ片pが正しい位置に初期接着されたとき
は、チップペーパ片pの先端部(搬送方向先端部)
T 、後端部(搬送方向後端部)pE 、両側縁pL ,p
R が境界AT ,AL ,AE ,AR とそれぞれ一致するよ
うに、タイミング調整されている。
【0025】光電検出器1A ,1B の各集光レンズ11
A ,11B は、トランスファドラム60の回転方向(搬
送方向)と直角な方向で並設されており、図5(A) に示
したように、集光レンズ11A ,11B によるスポット
A ,SB がトランスファドラム60の搬送方向と直角
な線上で左右の境界AL ,AR からそれぞれ等距離僅か
に内側にずれた位置に形成される。チップペーパ片pが
初期接着されたフィルタープラグF,両切りたばこTが
スポットSA ,SB の位置を順次通過すると、光電検出
器1A ,1B が出力信号(アンプユニット12の出力信
号)は図6に示したようになる。光電検出器1A ,1B
の出力信号は、まず両切りたばこTの巻紙部分からの反
射光を検知して信号を出力し、次にチップペーパ片pか
らの反射光を検知して信号を出力する。したがって、光
電検出器1A ,1B からの信号は両切りたばこTとチッ
プペーパ片pによる複合した信号となる。
【0026】図7〜図14はチップペーパ片pの接着位
置ずれまたは切断不良による位置ずれの代表的な例を示
す図であり、各図において図(B) は図(A) の位置ずれが
発生した場合の光電検出器1A ,1B の出力信号を示
し、破線は正常な状態を示している。また、図(A) の矢
印はチップペーパ片pの搬送方向を示している。
【0027】図7(A) は、チップペーパ片pが搬送方向
に進んだ位置で接着された位置ずれの場合で、そのとき
の出力信号は図7(B) のように、立ち上がりと立ち下が
りが正常な状態より先行するようになる。
【0028】図8(A) は、チップペーパ片pが搬送方向
の遅れた位置で接着された位置ずれの場合で、そのとき
の出力信号は図8(B) のように、立ち下がりが正常な状
態より遅延するようになる。
【0029】図9(A) は、チップペーパ片pが搬送方向
に対して左寄りに接着された位置ずれの場合で、出力信
号は図9(B) のように、光電検出器1B の出力はある
が、光電検出器1A の出力は短い先端だけとなり、後端
部の出力は得られなくなる。
【0030】図10(A) は、チップペーパ片pが搬送方
向に対して右寄りに接着された位置ずれの場合で、出力
信号は図10(B) のように、光電検出器1A の出力はあ
るが、光電検出器1B の出力は短い先端だけとなり、後
端部の出力は得られなくなる。
【0031】図11(A) は、チップペーパ片pが長く切
断された切断不良の場合で、出力信号は図11(B) のよ
うに、立ち上がりが正常な状態より先行するようにな
る。
【0032】図12(A) は、チップペーパ片pに前工程
のチップペーパ片pが付着した場合で、出力信号は図1
2(B) のように、光電検出器1A の立ち下がりのみが正
常な状態より遅延するようになる。
【0033】図13(A) は、チップペーパ片pが搬送方
向に対して左に傾いて接着された位置ずれの場合で、出
力信号は図13(B) のように、光電検出器1A の出力信
号については、立ち下がりが正常な状態より先行し、光
電検出器1B の出力信号については、立ち下がりが正常
な状態より遅延するようになる。
【0034】図14(A) は、チップペーパ片pが両切り
たばことフィルタープラグに接着されていない場合を示
し、出力信号は図14(B) のように、両光電検出器
A ,1 B の出力は短い先端だけとなり、後端部の出力
は得られなくなる。
【0035】このように何れの場合も、両光電検出器1
A ,1Bの出力信号(以後、チップ検出信号という。)
の立ち上がりと立ち下がりのうち少なくともどれか一つ
が正常な場合の信号と異なるようになり、この立ち上が
り(両切りたばこTまたは先端部pT の検出時)と立ち
下がり(後端部pE の検出時)の異常を検出することに
よりチップペーパ片の接着位置ずれと切断不良による位
置ずれを検出することができる。この実施例では、信号
処理部3でチップ検出信号が検査され、異常検出信号が
発生される。
【0036】図15は信号処理部3のブロック図であ
る。なお、光電検出器1A のチップ検出信号と光電検出
器1B のチップ検出信号についてそれぞれ処理を行う回
路は同様の構成になっているので、同図では、両チップ
検出信号で対応する処理回路には同じ数字に添
字“A ”,“B ”を付記し、以下の説明で共通する部分
については添字“A ”,“B ”を省略する。図15にお
いて、31は同期信号aのパルス信号が入力されるとこ
の入力から一定時間T1 遅延して前ゲート設定信号bを
出力する前ゲート位置設定回路、32は同期信号aのパ
ルス信号が入力されるとこの入力から一定時間T2 遅延
して後ゲート設定信号cを出力する後ゲート位置設定回
路、33は前ゲート設定信号bと後ゲート設定信号cの
各入力時に、それぞれパルス幅(ゲート幅)T3 に設定
した前ゲート信号b′と後ゲート信号c′を出力するゲ
ート幅設定回路である。
【0037】同期信号aと前ゲート信号b′および後ゲ
ート信号c′は、図16のようなタイミングになってい
る。同期信号aは予め設定された一定の間隔で出力さ
れ、この同期信号aは、チップペーパ片が正常な状態の
ときはチップ検出信号dが“L”レベルの位置で信号処
理部3に入力される。前ゲート信号b′は前ゲート位置
設定回路31によって設定された時間T1 だけ同期信号
aから遅延し、チップペーパ片が正常な状態のときのチ
ップ検出信号dの立ち上がりを中心にしてゲート幅設定
回路33で設定されたパルス幅T3 の信号となる。ま
た、後ゲート信号c′は後ゲート位置設定回路32によ
って設定された時間T2 だけ同期信号aから遅延し、チ
ップペーパ片が正常な状態のときのチップ検出信号dの
立ち下がりを中心にしてゲート幅設定回路33で設定さ
れたパルス幅T3 の信号となる。
【0038】なお、前ゲート位置設定回路31、後ゲー
ト位置設定回路32およびゲート幅設定回路33はそれ
ぞれ、時間T1 ,T2 ,T3 を計時するタイマーを備え
ており、この時間T1 ,T2 ,T3 の設定値を変えるこ
とにより、前ゲート信号b′と後ゲート信号c′の遅延
時間(ゲート位置)とパルス幅(ゲート幅)をそれぞれ
調整することができる。
【0039】図15において、34は前ゲート信号b′
が立っている間にチップペーパ片の先端部pT がスポッ
トSの位置を通過したかどうかを記憶するための前位置
判定回路、35は後ゲート信号c′立っている間にチッ
プペーパ片の後端部pE がスポットSの位置を通過した
かどうかを記憶するための後位置判定回路であり、前位
置判定回路34は、前ゲート信号b′の間にチップ検出
信号dの立ち上がりを検出すると出力信号eを“H”レ
ベルにし、後位置判定回路35は、後ゲート信号c′の
間にチップ検出信号dの立ち下がりを検出すると出力信
号fを“H”レベルにする。また、この前位置判定回路
34と後位置判定回路35の各出力信号e,fは、同期
信号aの立ち下がりによりリセットされて“L”レベル
になる。なお、この前位置判定回路34と後位置判定回
路35はフリップフロップ等で構成することができる。
【0040】36は光電検出器1A のチップ検出信号d
A の処理を行う前位置判定回路34 A と後位置判定回路
35A の各出力eA ,fA 、光電検出器1B のチップ検
出信号dB の処理を行う前位置判定回路34B と後位置
判定回路35B の各出力eB ,fB および同期信号aに
基づいて異常検出信号を生成する異常判定回路である。
【0041】異常判定回路36は図17に示したように
論理回路から構成され、出力信号e A ,fA のAND出
力gを反転し、この反転出力hと同期信号aのAND出
力iを内部で生成する。また、出力信号eB ,fB のA
ND出力jを反転し、この反転出力kと同期信号aのA
ND出力mを内部で生成する。そして、AND出力i,
mのOR出力nを生成する。
【0042】図18は光電検出器1A のチップ検出信号
Aについての信号処理一例を示すタイムチャートであ
り、この例では前記図11(A) のようにチップペーパ片
の先端が長く切断された場合を示している。チップペー
パ片の先端が長く切断されているので、Xの時点(前ゲ
ート信号b′によるゲート幅の間)でチップ検出信号d
A の立ち上がりがなく、この時点Xで前位置判定回路3
A の出力信号eA が“H”レベルにされない。したが
って、Yの時点で後位置判定回路35A の出力信号fA
が“H”レベルになっていてもAND出力gが“L”レ
ベルで反転出力hが“H”レベルとなり、AND出力i
が“H”レベルになり、このAND出力iの“H”レベ
ルは、チップペーパ片の先端が所定のタイミングで検出
されなかったことを示している。また、同様にして、チ
ップペーパ片の後端部が所定のタイミングで検出されな
かった場合も、AND出力iが“H”レベルにされる。
【0043】光電検出器1B のチップ検出信号dB の処
理についても同様になり、光電検出器1B 側のチップペ
ーパ片の先端部と後端部の検出タイミングのずれはAN
D出力m(図17)が“H”レベルになることにより検
出される。したがって、チップペーパ片の光電検出器1
A 側と光電検出器1B 側の先端部および後端部について
少なくとも一箇所で検出タイミングがずれると、異常判
定回路36のからのOR出力nが“H”レベルになり、
前記図7〜図14について説明した場合はもとより、そ
の他のチップペーパ片の位置ずれや切断不良を検出する
ことができる。
【0044】なお、上記OR出力nの“H”レベルは、
異常信号として排除部5に入力され、排除部5は、OR
出力nの“H”レベル(異常信号)とOR出力nの
“L”レベル(正常信号)とを、同期信号に同期させて
順次記憶し、異常発生時と排出動作との時間差を調整す
る。すなわち、異常発生が生じたときのチップペーパ片
によって巻上げられたダブル巻が、チェッキングドラム
7の下端位置にくるまで、その異常発生を示す異常信号
が記憶されており、この異常発生による不良品のダブル
巻を正確に排除する。なお、上記のように異常信号を同
期信号に同期させて記憶・遅延するためには、同期信号
でシフト動作を行う多段シフト回路等を使用し、その出
力信号で排除動作を行うようにすればよい。なお、この
実施例では32段(32本分)のシフト動作を行うよう
にしている。
【0045】
【発明の効果】以上説明したように本発明のチップペー
パ片の接着位置ずれと形状不良の検出方法または装置に
よれば、チップペーパ片の端部を初期接着した両切りた
ばことフィルタープラグとをトランスファドラムで搬送
して該チップペーパ片で両切りたばことフィルタープラ
グとを巻き上げるフィルターチップアタッチメント機に
ついて、トランスファドラムにおける両切りたばこの搬
送間隔とパルス周期の等しい第1検査信号および第2検
査信号を予め設定した位相差を有するタイミングで発生
しながら、トランスファドラムのドラム面に対向させた
光電検出器により搬送される両切りたばこおよびチップ
ペーパ片からの反射光を受光してこの光電検出器の光電
変換信号の立上がりと立下がりとを監視し、第1検査信
号を発生したときの光電変換信号の立上がりと第2検査
信号を発生したときの光電変換信号の立下がりの少なく
とも一方が検出されないときに異常検知と判定するよう
にしたので、チップペーパ片の先端部と後端部のうち少
なくとも何れか一方がトランスファドラムのドラム面の
所定の位置からずれていることを検出することができ、
たばこ製造装置のフィルターチップアタッチメント機に
おいてフィルタープラグと両切りたばことに接着された
チップペーパ片の接着位置ずれと切断不良を自動的に検
出することできる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明を適用したたばこ製造装置のフィルター
チップアタッチメントを示す図である。
【図2】実施例における光電検出器を示す図である。
【図3】実施例におけるペーパガイドと集光レンズ取付
部材の組立上面図および組立側面図である。
【図4】実施例における正常な切断状態のチップペーパ
ー片とフィルタープラグおよび両切りたばこの接着状態
を示す図である。
【図5】実施例のトランスファドラムにおけるフィルタ
ープラグと両切りたばこの吸着状態を示す図である。
【図6】実施例における光電検出器の出力を示す図であ
る。
【図7】実施例における搬送方向への接着位置ずれの一
例と光電検出器の出力を示す図である。
【図8】実施例における搬送方向後方への接着位置ずれ
の一例と光電検出器の出力を示す図である。
【図9】実施例における左側への接着位置ずれの一例と
光電検出器の出力を示す図である。
【図10】実施例における右側への接着位置ずれの一例
と光電検出器の出力を示す図である。
【図11】実施例における長く切断されたチップペーパ
片の一例と光電検出器の出力を示す図である。
【図12】実施例における前工程のチップペーパ片が付
着した一例と光電検出器の出力を示す図である。
【図13】実施例における斜めの接着位置ずれの一例と
光電検出器の出力を示す図である。
【図14】実施例におけるチップペーパ片が接着されて
いない場合と光電検出器の出力を示す図である。
【図15】実施例における信号処理部のブロック図であ
る。
【図16】実施例における同期信号と前ゲート信号およ
び後ゲート信号のタイミングを示す図である。
【図17】実施例における異常判定回路の論理回路を示
す図である。
【図18】実施例における信号処理の一例を示すタイム
チャートである。
【図19】本発明に係わるフィルターチップアタッチメ
ント機のトランスファドラムとサクションローラの部分
を示す図である。
【図20】本発明に係わるフィルターチップアタッチメ
ント機におけるチップペーパ片の初期接着状態を示す図
である。
【図21】本発明に係わるフィルターチップアタッチメ
ント機の一部を示す図である。
【符号の説明】
A ,1B 光電検出器 2 集光レンズ取付部材 3 信号処理部 4 同期信号発生部 5 排除部 60 トランスファドラム 60a サポート 70 ペーパガイド p チップペーパ片 SA ,SB スポット。

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 チップペーパ片の端部を初期接着した両
    切りたばことフィルタープラグとをトランスファドラム
    で搬送して該チップペーパ片で両切りたばことフィルタ
    ープラグとを巻き上げるフィルターチップアタッチメン
    ト機におけるチップペーパ片の接着位置ずれと形状不良
    の検出方法であって、前記トランスファドラムにおける
    両切りたばこの搬送間隔とパルス周期の等しい第1検査
    信号および第2検査信号を予め設定した位相差を有する
    タイミングで発生しながら、前記トランスファドラムの
    ドラム面に対向させた光電検出器により該トランスファ
    ドラムで搬送される両切りたばこおよびチップペーパ片
    からの反射光を受光してこの光電検出器の光電変換信号
    の立上がりと立下がりとを監視し、上記第1検査信号を
    発生したときの上記光電変換信号の立上がりと上記第2
    検査信号を発生したときの上記光電変換信号の立下がり
    の少なくとも一方が検出されないときに異常検知と判定
    するようにしたことを特徴とするフィルターチップアタ
    ッチメント機におけるチップペーパ片の接着位置ずれと
    形状不良の検出方法。
  2. 【請求項2】 チップペーパ片の端部を初期接着した両
    切りたばことフィルタープラグとをトランスファドラム
    で搬送して該チップペーパ片で両切りたばことフィルタ
    ープラグとを巻き上げるフィルターチップアタッチメン
    ト機におけるチップペーパ片の接着位置ずれと形状不良
    の検出装置であって、前記トランスファドラムのドラム
    面に対向して配設されるとともに前記両切りたばこおよ
    びチップペーパ片からの反射光を受光して光電変換信号
    を出力する光電検出器と、上記トランスファドラムにお
    ける両切りたばこの搬送間隔とパルス周期の等しい第1
    検出信号および第2検査信号を予め設定した位相差を有
    するタイミングで発生する検査信号発生手段と、上記検
    査信号発生手段で発生される第1検査信号と第2検査信
    号および上記光電変換信号がそれぞれ入力され、上記第
    1検査信号が発生されたときの上記光電変換信号の立上
    がりの有無と上記第2検査信号が発生されたときの上記
    光電変換信号の立下がりの有無とをそれぞれ記憶する記
    憶手段と、上記記憶手段に上記立上がり有りと立下がり
    有りの少なくとも一方の記憶がないときに異常検知信号
    を出力する判定手段と、を備えることを特徴とするフィ
    ルターチップアタッチメント機におけるチップペーパ片
    の接着位置ずれと形状不良の検出装置。
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