JPH04316475A - フィルターチップアタッチメント機におけるダブル巻の異常発生検出方法およびその装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、たばこの製造工程でフ
ィルタープラグと両切りたばことをチップペーパ片で巻
上げてダブル巻を形成するフィルターチップアタッチメ
ント機において、ダブル巻における両切りたばことフィ
ルタープラグの並び不良やチップペーパ片の巻形状不良
あるいはヒータドラムへのチップペーパ片の付着など、
ダブル巻の異常発生を検出する方法とその装置に関する
。

【０００２】

【従来の技術】従来、フィルター付たばこは、一定寸法
に切断された２本の両切りたばこの間にフィルタープラ
グを切り口を付け合わせた状態で挟み、矩形に切断して
糊付けされたチップペーパ片でフィルタープラグを包む
ように巻上げ（ローリング）、接着・乾燥したあとフィ
ルタープラグの中央を切断して形成される。このとき、
フィルタープラグと両切りたばことをチップペーパ片で
巻上げる工程は、いわゆるフィルターチップアタッチメ
ント機で行われている。

【０００３】図１１は、たばこ製造装置のフィルターチ
ップアタッチメント機を示す図であり、チップペーパ片
を供給する部分、フィルタープラグと両切りたばこをそ
れぞれ供給する部分、および巻上げを行う部分を示して
いる。チップペーパＰは繰り出しローラ２０によってチ
ップペーパボビン１０から糊付部３０に繰り出され、こ
のチップペーパＰは、糊付部３０で片面に糊が転写され
る。糊が転写されたチップペーパＰは、一定速度で回転
するサクションローラ４０とコークナイフ５０によって
一定寸法に切断され、切断されたチップペーパ片は糊付
けされた面を上にしてサクションローラ４０のドラム面
に吸着されてトランスファドラム６０に供給される。

【０００４】一方、図示しない紙巻機により一定寸法に
切断された両切りたばこはキャッチャードラム１００で
９０度方向転換され、グレーディングドラム９０により
両切りたばこ２本を１列に配列し、ホッパードラム８０
に供給される。ホッパードラム８０はプラグトランスポ
ートドラム１１０より供給される切断・整列されたフィ
ルタープラグと、グレーディングドラム９０より供給さ
れた両切りたばこを１列に配列し、トランスファドラム
６０に供給する。トランスファドラム６０に供給された
フィルタープラグと２本の両切りたばこは、図示しない
フローティングディスクによって隙間が無いように整列
される。

【０００５】整列されたフィルタープラグと両切りたば
こはトランスファドラム６０に吸着された状態でサクシ
ョンローラ４０側に順次送られ、サクションローラ４０
から供給されたチップペーパ片は、トランスファドラム
６０とサクションローラ４０との近接部分で先端部の略
２〜３ｍｍ（タッチ幅）がフィルタープラグと両切りた
ばことに平行に接着され、図１２のように初期接着され
る。

【０００６】このチップペーパ片が初期接着されたフィ
ルタープラグと両切りたばこは、トランスファドラム６
０の回転に伴ってヒータドラム７０に移送され、ヒータ
ドラム７０と図示しないローリングハンドとによって巻
上げ（ローリング）接着され、図１３に示したようなダ
ブル巻Ｗになる。巻上げられたダブル巻Ｗは、図１４に
示したように、ヒータドラム７０の回転に伴ってドラム
面７０ａに接触した状態で一定間隔をおいて転がされ、
次段のチェッキングドラムに移送される。なお、この間
にチップペーパ片の糊付け部分が乾燥される。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】上記のような工程を経
てダブル巻が形成されるが、このようにダブル巻を巻上
げる前の工程で、両切りたばこ、フィルタープラグおよ
びチップペーパ片がそれぞれ正常な状態で形成されると
ともに、これら両切りたばこ、フィルタープラグおよび
チップペーパ片が適正なタイミングで供給されなければ
、ダブル巻における両切りたばことフィルタープラグと
の位置ずれや、巻上げられたチップペーパ部分の形状不
良など、不良品の発生を招くとこになる。また、チップ
ペーパ片が変形して切断されたり、供給タイミングが適
正でないと、ヒータドラム７０にチップペーパ片が付着
するなどの異常が発生する。

【０００８】なお、ダブル巻の位置ずれや形状不良およ
びヒータドラムへのチップペーパ片の付着等は、以下の
原因で発生することが多い。例えば、紙巻機のキッカー
の磨耗やキャッチャードラムの真空圧変動による両切り
たばこの並び不良、フィルタープラグ移送時における走
行不良、コークナイフの劣化、サクションローラにおけ
るサクション孔の目詰まりや元圧の低下等による吸着力
の低下、チップペーパの搬送方向に対する左右の偏りな
どチップペーパボビンからの繰り出し時における走行不
良、複数のチップペーパ巻物を用いてチップペーパボビ
ンを自動交換するときの接続時のスリップ、あるいは、
接着用糊の成分変化による程におけるフィルタープラグ
と両切りたばこの整列不良などが原因となる。

【０００９】本発明は、たばこ製造装置のフィルターチ
ップアタッチメント機において、巻上げられた両切りた
ばことフィルタープラグの並び不良やチップペーパ片の
形状不良あるいはヒータドラムへのチップペーパ片の付
着等によるダブル巻の異常発生を自動的に検出すること
を課題とする。

【００１０】

【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
めになした本発明のフィルターチップアタッチメント機
におけるダブル巻の異常発生検出方法は、長手方向に整
列した２本の両切りたばこの間にフィルタープラグを挟
んで該フィルタープラグの部分をチップペーパ片で巻き
上げてダブル巻を形成するとともに、この巻き上げたダ
ブル巻をヒータドラムにより該ダブル巻の長手方向と直
交する方向に一定間隔で搬送するようにしたフィルター
チップアタッチメント機におけるダブル巻の異常発生検
出方法であって、上記ダブル巻の搬送間隔とパルス周期
の等しい検査信号を発生しながら、上記ヒータドラムで
搬送されるダブル巻の両端とチップペーパ片の両端とに
それぞれ対応する予め設定された各位置に配設した光電
検出器により、該ヒータドラムで搬送されるダブル巻か
らの反射光を受光してこの光電検出器の受光信号を監視
し、上記検査信号を基準にした上記受光信号のタイミン
グのずれに基づいて異常発生を判定するようにしたこと
を特徴とする。

【００１１】また、本発明のフィルターチップアタッチ
メント機におけるダブル巻の異常発生検出装置は、上記
フィルターチップアタッチメント機のヒータドラムで搬
送されるダブル巻の両端とチップペーパ片の両端とにそ
れぞれ対応する予め設定された各位置で該ヒータドラム
のドラム面に対向して配設されるとともに、搬送される
ダブル巻からの反射光を受光して受光信号を出力する光
電検出器と、上記ダブル巻の搬送間隔とパルス周期の等
しい検査信号を発生する検査信号発生手段と、上記検査
信号発生手段で発生される検査信号と上記光電検出器か
らの受光信号とがそれぞれ入力されるとともに該検査信
号を基準にした該受光信号のタイミングのずれに基づい
て異常検出信号を出力する判定手段と、を備えることを
特徴とする。

【００１２】

【作用】本発明が適用されるフィルターチップアタッチ
メント機において、巻き上げられたダブル巻はヒータド
ラムによりダブル巻の長手方向と直交する方向に一定間
隔で搬送される。また、本発明のダブル巻の異常発生検
出方法または装置において、光電検出器はダブル巻やヒ
ータドラムのドラム面に付着したチップペーパ片からの
反射光により受光信号を出力する。さらに、検査信号は
、ヒータドラムにおけるダブル巻の搬送間隔とパルス周
期が等しく一定のタイミングで発生される。したがって
、ダブル巻の搬送間隔や搬送位置のずれ、両切りたばこ
とフィルタープラグの並び不良による形状不良、あるい
はチップペーパ片等の付着があると、光電検出器の受光
信号は検査信号からずれた信号となり、このずれにより
ダブル巻の異常発生を検出することができる。

【００１３】

【実施例】図１は本発明を適用したたばこ製造装置のフ
ィルターチップアタッチメント機を示す図であり、前記
図１１と同様の部分には同符号を付記してある。図１に
おいて、１Ａ　，１Ｂ　，１Ｃ　，１Ｄ　は、ヘッドユ
ニット１１Ａ　，１１Ｂ　，１１Ｃ　，１１Ｄ　をヒー
タドラム７０のドラム面７０ａに対向してダブル巻の搬
送方向（図の矢印Ａの方向）に対して垂直な方向に並設
された４つの光電検出器、２は光電検出器１Ａ　，１Ｂ
　，１Ｃ　，１Ｄ　の出力信号に基づいて後述の異常検
出信号を発生する信号処理部、３は近接センサー等によ
り当該フィルターチップアタッチメント機の主軸の回転
に同期して一定の同期信号を発生させる同期信号発生部
、４は異常検出信号と同期信号によってタイミングをと
り、異常発生による不良品を排除する排除部である。

【００１４】なお、ヒータドラム７０で糊付部分が乾燥
されたダブル巻は、チェッキングドラム５に移送され、
不良のダブル巻はチェッキングドラム５の下方位置で排
除部４により排除されるが、正常なダブル巻はファイナ
ルカッティングドラム６とファイナルカッティングナイ
フ７によってフィルター部分で切断され次工程に移送さ
れる。

【００１５】それぞれの光電検出器１Ａ　，１Ｂ　，１
Ｃ，１Ｄ　は、図２に示したように、ヘッドユニット（
投受光部）１１、ケーブル１２およびアンプユニット１
３から構成されている反射型光電検出器である。ヘッド
ユニット１１は高輝度ＬＥＤで超高速パルスを点灯させ
るとともにドラム面７０ａに微小なスポット（この実施
例ではスポット径０．５ｍｍ）を形成し、このスポット
部分からの反射光を受光して電気信号に変換し、この電
気信号はケーブル１２を介してアンプユニット１３に伝
達される。アンプユニット１３は受光強度に応じたレベ
ルの受光信号を前記信号処理部２に出力する。

【００１６】この光電検出器１Ａ　，１Ｂ　，１Ｃ　，
１Ｄ　の各ヘッドユニット１１Ａ　，１１Ｂ　，１１Ｃ
　，１１Ｄ　はヒータドラム７０のローレット仕上げさ
れたドラム面７０ａの搬送方向と直角な方向に並設され
ており、図３に示したようにヘッドユニット１１Ａ　，
１１Ｂ　，１１Ｃ　，１１Ｄ　によるスポットＳＡ　，
ＳＢ　，ＳＣ　，ＳＤ　がドラム面７０ａの搬送方向（
図の矢印方向）と直角な直線上でダブル巻の定位置先端
から僅かに内側にずれた位置に２箇所と、フィルタープ
ラグと両切りたばこの接合部から僅かに内側にずれた位
置２箇所に形成される。

【００１７】そして、ドラム面７０ａによって搬送され
るダブル巻Ｗやドラム面７０ａに付着したチップペーパ
片ｐ等によってこれらのスポットＳＡ　，ＳＢ　，ＳＣ
　，ＳＤ　が反射されると、この反射光がヘッドユニッ
ト１１Ａ　，１１Ｂ　，１１Ｃ　，１１Ｄ　でそれぞれ
受光されて各スポットＳＡ　，ＳＢ　，ＳＣ　，ＳＤ　
に対応する光電検出器１Ａ　，１Ｂ　，１Ｃ　，１Ｄ　
の電圧信号が信号処理部２に入力される。また、図１に
示したように、同期信号発生部３からの同期信号は信号
処理部２と排除部４に入力される。

【００１８】図４はダブル巻の位置ずれ、チップペーパ
片の巻不良およびチップペーパ片の付着の一例を示す図
であり、光電変換器１Ａ　，１Ｂ　，１Ｃ　，１Ｄ　か
らの電気信号が、例えば次のように変化することにより
、信号処理部２において異常判定が行われる。

【００１９】図示のようにダブル巻Ｗ１　は正常な位置
から左側にずれているもので、このようなダブル巻Ｗ１
　がドラム面７０ａで搬送されると、スポットＳＤ　は
ダブル巻Ｗ１　の右端でも反射されず、光電検出器１Ｄ
　の出力が“Ｌ”レベルになることから異常と判定され
る。

【００２０】また、ダブル巻Ｗ２　のように、チップペ
ーパ部分Ｐが二重巻や袋巻などによって変形していると
、スポットＳＢ　，ＳＣ　が反射されるタイミングが正
常な場合からずれることになり、光電検出器１Ｂ　，１
Ｃ　の出力信号のタイミングのずれにより、異常と判定
される。

【００２１】さらに、ドラム面７０ａにチップペーパ片
ｐが付着していると、スポットＳＢ　，ＳＣ　がこのチ
ップペーパ片ｐによって反射されるので、光電検出器１
Ｂ　，１Ｃ　の出力が“Ｈ”レベルになり、異常と判定
される。 なお、ダブル巻Ｗ３　はチップペーパ片が正常に巻かれ
、かつ、ドラム面７０ａの正常な位置で搬送されるもの
を示している。

【００２２】信号処理部２は、図５に示す第１信号処理
部、図６に示す第２信号処理部および図７に示す第３信
号処理部から構成されている。図５の第１信号処理部に
おいて、光電検出器１Ａ　，１Ｂ　，１Ｃ　，１Ｄ　か
らの各電気信号ａ，ｂ，ｃ，ｄはＮＡＮＤ回路２１Ａに
入力され、同期信号発生部３からの同期信号ｅはゲート
発生回路２１Ｂに入力される。また、ＮＡＮＤ回路２１
Ａの出力とゲート発生回路２１Ｂの出力はＡＮＤ回路２
１Ｃに入力され、このＡＮＤ回路２１Ｃを介して得られ
る異常検出信号が排除部４に出力される。

【００２３】図８は上記第１信号処理部における信号処
理の一例を示すタイムチャートであり、ゲート発生回路
２１Ｂは、同期信号ｅのパルス信号が入力されるとこの
入力から一定時間Ｔ１　遅延してパルス幅（ゲート幅）
Ｔ３に設定したゲート信号ｇ１　を出力する。なお、こ
のゲート信号ｇ１　の遅延時間Ｔ１　とパルス幅Ｔ２　
は、正常な状態でダブル巻が搬送されているときに、ダ
ブル巻がスポットＳＡ　，ＳＢ　，ＳＣ　，ＳＤ　の位
置を通過する間にゲート信号ｇ１　が“Ｈ”レベルにな
るように、予め設定されている。

【００２４】ここで、電気信号ａ，ｂ，ｃ，ｄのうち１
つでも“Ｌ”レベルになるとＮＡＮＤ回路２１Ａの出力
ｈは“Ｈ”レベルになる。したがって、このＮＡＮＤ回
路２１Ａの出力ｈとゲート信号ゲートｇ１　が入力され
るＡＮＤ回路２１Ｃの出力ｉは“Ｈ”レベルになり異常
検出信号として出力される。なお、図８では、図４に示
したダブル巻Ｗ１　の場合のように光電検出器１Ｄ　の
出力が“Ｌ”レベルになった場合を示している。

【００２５】図６の第２信号処理部において、光電検出
器１Ｂ　からの電気信号ｂはＡＮＤ回路２２Ａに入力さ
れ、光電検出器１Ｃ　からの電気信号ｃはＡＮＤ回路２
２Ｂに入力される。また、同期信号ｅはゲート発生回路
２２Ｃ，２２Ｄにそれぞれ入力され、このゲート発生回
路２２Ｃの出力はＡＮＤ回路２２Ａに入力され、ゲート
発生回２２Ｄの出力はＡＮＤ回路２２Ｂに入力される。 そして、ＡＮＤ回路２２Ａ，２２Ｂの各出力はＯＲ回路
２２Ｅに入力され、このＯＲ回路２２Ｅを介して得られ
る異常検出信号が排除部４に出力される。

【００２６】図９は上記第２信号処理部における信号処
理の一例を示すタイムチャートであり、ゲート発生回路
２２Ｃ，２２Ｄは、それぞれ同期信号ｅのパルス信号が
入力されるとこの入力から一定時間Ｔ３　遅延してパル
ス幅（ゲート幅）Ｔ２　に設定したゲート信号ｇ２　を
出力する。なお、このゲート信号ｇ２　の遅延時間Ｔ３
　とパルス幅Ｔ２は、正常な状態でダブル巻が搬送され
ているときに、ダブル巻の後端部がスポットＳＡ　，Ｓ
Ｂ　，ＳＣ　，ＳＤ　の位置を通過した直後に“Ｈ”レ
ベルになるように、予め設定されている。

【００２７】したがって、チップペーパ部分の巻不良な
どにより、スポットＳＢ　やスポットＳＣ　の反射時間
が長くなった場合など、正常なダブル巻の場合よりも受
光信号が長くなった場合に、ＡＮＤ回路２２Ａの出力ｊ
とＡＮＤ回路２２Ｂの出力ｋとの両方または一方の出力
が“Ｈ”レベルになり、ＯＲ回路２２Ｅを介して異常検
出信号ｍとして出力される。なお、図９では、光電検出
器１Ｃ　の出力が長くなった場合を示している。

【００２８】図７の第３信号処理部において、光電検出
器１Ｂ　，１Ｃ　からの各電気信号ｂ，ｃはＯＲ回路２
３Ａに入力され、同期信号ｅはゲート発生回路２３Ｂに
入力される。また、ＯＲ回路２３Ａの出力とゲート発生
回路２３Ｂの出力はＡＮＤ回路２３Ｃに入力され、この
ＡＮＤ回路２３Ｃの出力は異常検出信号としてワンショ
ット回路２３Ｄに入力される。このワンショット回路２
３ＤはＡＮＤ回路２３Ｃからの異常検出信号が入力され
ると表示回路２３Ｅを駆動して図示しない表示ランプ（
パトライト）を点灯させる。なお、この表示ランプの点
灯より異常発生を知ることができるが、この異常検出信
号と機械の運転信号とを組み合わせることにより、異常
発生時に機械を自動停止させることも可能になる。

【００２９】図１０は上記第３信号処理部における信号
処理の一例を示すタイムチャートであり、ゲート発生回
路２３Ｂは、同期信号ｅの入力から一定時間Ｔ４　遅延
してパルス幅（ゲート幅）Ｔ５　に設定したゲート信号
ｇ３　を出力する。なお、このゲート信号ｇ３　の遅延
時間Ｔ４　とパルス幅Ｔ５　は、正常な状態でダブル巻
が搬送されているときに、ダブル巻がスポットＳＡ　，
ＳＢ　，ＳＣ　，ＳＤ　の位置にないときにゲート信号
ｇ３　が“Ｈ”レベルになるように、予め設定されてい
る。

【００３０】したがって、図４のチップペーパ片ｐのよ
うにドラム面７０ａに異物が付着した場合、ダブル巻の
間でスポットＳＢ　やスポットＳＣの反射が起こり、Ｏ
Ｒ回路２３Ａの出力ｎが“Ｈ”レベルになり、この出力
ｎとゲート信号ｇ３　とによりＡＮＤ回路２３Ｃの出力
ｑが“Ｈ”レベルになり、ワンショット回路２３Ｄによ
り表示ランプが点灯される。なお、図１０では、光電検
出器１Ｃ　で異物が検出された場合を示している。

【００３１】排除部４は、信号処理部２からの異常検出
信号（“Ｈ”レベル）と正常信号（“Ｌ”レベル）とを
同期信号に同期させて順次記憶し、異常発生時と排出動
作との時間差を調整する。すなわち、異常発生に係わる
ダブル巻がチェッキングドラム７の下端位置にくるまで
、その異常発生を示す異常検出信号が記憶されており、
この異常発生による不良品のダブル巻を正確に排除する
。なお、上記のように異常検出信号を同期信号に同期さ
せて記憶・遅延するためには、同期信号でシフト動作を
行う多段シフト回路等を使用し、その出力信号で排除動
作を行うようにすればよい。なお、この実施例では２２
段（２２本分）のシフト動作を行うようにしている。

【００３２】

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、長
手方向に整列した２本の両切りたばこの間にフィルター
プラグを挟んで該フィルタープラグの部分をチップペー
パ片で巻き上げてダブル巻を形成するとともに、この巻
き上げたダブル巻をヒータドラムにより該ダブル巻の長
手方向と直交する方向に一定間隔で搬送するようにした
フィルターチップアタッチメント機について、ダブル巻
の搬送間隔とパルス周期の等しい検査信号を発生しなが
ら、ヒータドラムで搬送されるダブル巻の両端とチップ
ペーパ片の両端とにそれぞれ対応する予め設定された各
位置に配設した光電検出器により、このヒータドラムで
搬送されるダブル巻からの反射光を受光してこの光電検
出器の受光信号を監視し、上記検査信号を基準にした上
記受光信号のタイミングのずれに基づいて異常を判定す
るようにしたので、ダブル巻の搬送間隔や搬送位置のず
れ、両切りたばことフィルタープラグの並び不良やダブ
ル巻におけるチップペーパ片の巻不良、あるいはヒータ
ドラムのドラム面におけるチップペーパ片の付着等によ
るダブル巻の異常発生を自動的に検出することができる
。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明を適用したたばこ製造装置のフィルター
チップアタッチメントを示す図である。

【図２】実施例における光電検出器を示す図である。

【図３】実施例における光電検出器によるスポットの位
置を示す図である。

【図４】実施例に係わるダブル巻の不良とドラム面への
チップペーパ片の付着の一例を示す図である。

【図５】実施例における第１信号処理部のブロック図で
ある。

【図６】実施例における第２信号処理部のブロック図で
ある。

【図７】実施例における第３信号処理部のブロック図で
ある。

【図８】実施例の第１信号処理部における信号処理の一
例を示すタイムチャートである。

【図９】実施例の第２信号処理部における信号処理の一
例を示すタイムチャートである。

【図１０】実施例の第３信号処理部における信号処理の
一例を示すタイムチャートである。

【図１１】本発明に係わるフィルターチップアタッチメ
ント機の一部を示す図である。

【図１２】本発明に係わるフィルターチップアタッチメ
ント機におけるチップペーパ片の初期接着状態を示す図
である。

【図１３】本発明に係わるダブル巻を示す図である。

【図１４】本発明に係わるフィルターチップアタッチメ
ント機におけるヒータドラムの搬送状態を示す図である
。

【符号の説明】

１Ａ　，１Ｂ　，１Ｃ　，１Ｄ　　　光電検出器２　　
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　信号処理部
３　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　同期
信号発生部４　　　　　　　　　　　　　　　　　　　
　　　排除部７０　　　　　　　　　　　　　　　　　
　　　ヒータドラム７０ａ　　　　　　　　　　　　　
　　　　　ドラム面Ｗ　　　　　　　　　　　　　　　
　　　　　　　ダブル巻ＳＡ　，ＳＢ　，ＳＣ　，ＳＤ
　　　スポット。

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】　　長手方向に整列した２本の両切りたば
   この間にフィルタープラグを挟んで該フィルタープラグ
   の部分をチップペーパ片で巻き上げてダブル巻を形成す
   るとともに、この巻き上げたダブル巻をヒータドラムに
   より該ダブル巻の長手方向と直交する方向に一定間隔で
   搬送するようにしたフィルターチップアタッチメント機
   におけるダブル巻の異常発生検出方法であって、上記ダ
   ブル巻の搬送間隔とパルス周期の等しい検査信号を発生
   しながら、上記ヒータドラムで搬送されるダブル巻の両
   端とチップペーパ片の両端とにそれぞれ対応する予め設
   定された各位置に配設した光電検出器により、該ヒータ
   ドラムで搬送されるダブル巻からの反射光を受光してこ
   の光電検出器の受光信号を監視し、上記検査信号を基準
   にした上記受光信号のタイミングのずれに基づいて異常
   発生を判定するようにしたことを特徴とするフィルター
   チップアタッチメント機におけるダブル巻の異常発生検
   出方法。
2. 【請求項２】　　長手方向に整列した２本の両切りたば
   この間にフィルタープラグを挟んで該フィルタープラグ
   の部分をチップペーパ片で巻き上げてダブル巻を形成す
   るとともに、この巻き上げたダブル巻をヒータドラムに
   より該ダブル巻の長手方向と直交する方向に一定間隔で
   搬送するようにしたフィルターチップアタッチメント機
   におけるダブル巻の異常発生検出装置であって、上記ヒ
   ータドラムで搬送されるダブル巻の両端とチップペーパ
   片の両端とにそれぞれ対応する予め設定された各位置で
   該ヒータドラムのドラム面に対向して配設されるととも
   に、搬送されるダブル巻からの反射光を受光して受光信
   号を出力する光電検出器と、上記ダブル巻の搬送間隔と
   パルス周期の等しい検査信号を発生する検査信号発生手
   段と、上記検査信号発生手段で発生される検査信号と上
   記光電検出器からの受光信号とがそれぞれ入力されると
   ともに該検査信号を基準にした該受光信号のタイミング
   のずれに基づいて異常検出信号を出力する判定手段と、
   を備えることを特徴とするフィルターチップアタッチメ
   ント機におけるダブル巻の異常発生検出装置。