JPH04316474A - フィルターチップアタッチメント機におけるチップペーパ片の接着位置ずれと形状不良の検出方法およびその装置 - Google Patents

フィルターチップアタッチメント機におけるチップペーパ片の接着位置ずれと形状不良の検出方法およびその装置

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JPH04316474A
JPH04316474A JP3079786A JP7978691A JPH04316474A JP H04316474 A JPH04316474 A JP H04316474A JP 3079786 A JP3079786 A JP 3079786A JP 7978691 A JP7978691 A JP 7978691A JP H04316474 A JPH04316474 A JP H04316474A
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chip
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Toshiaki Nishisaka
西坂 俊昭
Koichi Takamori
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、たばこの製造工程でフ
ィルタープラグと両切りたばことをチップペーパ片で巻
上げるためのフィルターチップアタッチメント機におい
て、チップペーパ片の接着位置ずれと切断不良を検出す
る方法とその装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、フィルター付たばこは、一定寸法
に切断された2本の両切りたばこの間にフィルタープラ
グを切り口を付け合わせた状態で挟み、矩形に切断して
糊付けされたチップペーパ片でフィルタープラグを包む
ように巻上げ(ローリング)、接着・乾燥したあとフィ
ルタープラグの中央を切断して形成される。このとき、
フィルタープラグと両切りたばことをチップペーパ片で
巻上げる工程は、いわゆるフィルターチップアタッチメ
ント機で行われている。
【0003】図21は、たばこ製造装置のフィルターチ
ップアタッチメント機を示す図であり、チップペーパ片
を供給する部分、フィルタープラグと両切りたばこをそ
れぞれ供給する部分、および巻上げを行う部分を示して
いる。チップペーパPは繰り出しローラ20によってチ
ップペーパボビン10から糊付部30に繰り出され、こ
のチップペーパPは、糊付部30で片面に糊が転写され
る。糊が転写されたチップペーパPは、一定速度で回転
するサクションローラ40とコークナイフ50によって
一定寸法に切断され、切断されたチップペーパ片は糊付
けされた面を上にしてサクションローラ40のドラム面
に吸着されてトランスファドラム60に供給される。
【0004】一方、図示しない紙巻機により一定寸法に
切断された両切りたばこはキャッチャードラム100で
90度方向転換され、グレーディングドラム90により
両切りたばこ2本を1列に配列し、ホッパードラム80
に供給される。ホッパードラム80はプラグトランスポ
ートドラム110より供給される切断・整列されたフィ
ルタープラグと、グレーディングドラム90より供給さ
れた両切りたばこを1列に配列し、トランスファドラム
60に供給する。トランスファドラム60に供給された
フィルタープラグと2本の両切りたばこは、図示しない
フローティングディスクによって隙間が無いように整列
される。
【0005】図19はサクションローラ40とトランス
ファドラム60の近接部分を示す図であり、トランスフ
ァドラム60のドラム面には、フィルタープラグFおよ
び両切りたばこTと同じ径の円弧面を外側に向けたサポ
ート60aがチップペーパ片pの搬送ピッチに対応した
一定間隔で配設されている。フローティングディスクに
よって整列されたフィルタープラグFと両切りたばこT
は、トランスファドラム60のサポート60aに吸着さ
れた状態でサクションローラ40側に順次送られ、サク
ションローラ40から供給されたチップペーパ片pは、
トランスファドラム60とサクションローラ40との近
接部分で先端部の略2〜3mm(タッチ幅)がフィルタ
ープラグFと両切りたばこTとに平行に接着され、図2
0のように初期接着される。
【0006】このチップペーパ片pが初期接着されたフ
ィルタープラグFと両切りたばこTは、トランスファド
ラム60の回転に伴ってペーパガイド70(図21)に
チップペーパ片を沿わせてヒータドラムに移送され、ヒ
ータドラムと図示しないローリングハンドとによって巻
上げ(ローリング)接着され、ダブル巻になる。なお、
このダブル巻はヒータドラムにおいてチップペーパ片の
糊付け部分が乾燥され、次段のチェッキングドラムに移
送される。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】上記のようなチップペ
ーパ初期接着の工程では、チップペーパ片が一定寸法に
切断され、かつサクションローラのドラム面上で一定位
置を保持して移送され、フィルタープラグと両切りたば
この一定位置に接着されなければ、次工程でフィルター
プラグと両切りたばこを巻上げる際にローリング不良と
なり、不良品の発生を招くことになる。また、上記同様
に巻上げる際に、切断不良、移送不良によって、舞い上
がったチップペーパ片が初期接着工程へ混入したり、付
着することによってもローリング不良となり、不良品の
発生を招くことになる。
【0008】なお、チップペーパ初期接着不良は、以下
の原因で発生することが多い。すなわち、コークナイフ
の劣化、サクションローラでチップペーパ片を吸引・吸
着するためのサクション孔の目詰まり、元圧の低下等に
よるサクションローラの吸着力の低下、チップペーパの
搬送方向に対する左右の偏りなどチップペーパボビンか
らの繰り出し時における走行不良、あるいは複数のチッ
プペーパ巻物を用いてチップペーパボビンを自動交換す
るときの接続時のスリップ、接着用糊の成分変化、前工
程におけるフィルタープラグと両切りたばこの整列不良
等によって、初期接着不良が発生する。
【0009】本発明は、たばこ製造装置のフィルターチ
ップアタッチメント機においてフィルタープラグと両切
りたばことに接着されたチップペーパ片の接着位置ずれ
と切断不良を自動的に検出することを課題とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
めになした本発明のフィルターチップアタッチメント機
におけるチップペーパ片の接着位置ずれと形状不良の検
出方法は、チップペーパ片の端部を初期接着した両切り
たばことフィルタープラグとをトランスファドラムで搬
送して該チップペーパ片で両切りたばことフィルタープ
ラグとを巻き上げるフィルターチップアタッチメント機
におけるチップペーパ片の接着位置ずれと形状不良の検
出方法であって、前記トランスファドラムにおける両切
りたばこの搬送間隔とパルス周期の等しい第1検査信号
および第2検査信号を予め設定した位相差を有するタイ
ミングで発生しながら、前記トランスファドラムのドラ
ム面に対向させた光電検出器により該トランスファドラ
ムで搬送される両切りたばこおよびチップペーパ片から
の反射光を受光してこの光電検出器の光電変換信号の立
上がりと立下がりとを監視し、上記第1検査信号を発生
したときの上記光電変換信号の立上がりと上記第2検査
信号を発生したときの上記光電変換信号の立下がりの少
なくとも一方が検出されないときに異常検知と判定する
ようにしたことを特徴とする。
【0011】また、本発明のフィルターチップアタッチ
メント機におけるチップペーパ片の接着位置ずれと形状
不良の検出装置は、チップペーパ片の端部を初期接着し
た両切りたばことフィルタープラグとをトランスファド
ラムで搬送して該チップペーパ片で両切りたばことフィ
ルタープラグとを巻き上げるフィルターチップアタッチ
メント機におけるチップペーパ片の接着位置ずれと形状
不良の検出装置であって、前記トランスファドラムのド
ラム面に対向して配設されるとともに前記両切りたばこ
およびチップペーパ片からの反射光を受光して光電変換
信号を出力する光電検出器と、上記トランスファドラム
における両切りたばこの搬送間隔とパルス周期の等しい
第1検出信号および第2検査信号を予め設定した位相差
を有するタイミングで発生する検査信号発生手段と、上
記検査信号発生手段で発生される第1検査信号と第2検
査信号および上記光電変換信号がそれぞれ入力され、上
記第1検査信号が発生されたときの上記光電変換信号の
立上がりの有無と上記第2検査信号が発生されたときの
上記光電変換信号の立下がりの有無とをそれぞれ記憶す
る記憶手段と、上記記憶手段に上記立上がり有りと立下
がり有りの少なくとも一方の記憶がないときに異常検知
信号を出力する判定手段と、を備えることを特徴とする
【0012】
【作用】本発明が適用されるフィルターチップアタッチ
メント機において、チップペーパ片は、先端部を両切り
たばことフィルタープラグとに初期接着され、トランス
ファドラムにより両切りたばこおよびフィルタープラグ
が保持されて搬送されることによりチップペーパ片も同
時に搬送され、チップペーパ片の初期接着部と後端部と
が一定の速度で移動する。したがって、本発明のチップ
ペーパ片の接着位置ずれと形状不良の検出方法または装
置において、光電検出器は両切りたばこまたはチップペ
ーパ片からの反射光により光電変換信号が“H”レベル
になり、この光電変換信号は、両切りたばこまたはチッ
プペーパ片の先端部により立上がり、チップペーパ片の
後端部により立下がる。また、第1検査信号と第2検査
信号はトランスファドラムにおける両切りたばこの搬送
間隔とパルス周期が等しく、予め設定した位相差を有す
るタイミングで発生される。
【0013】したがって、この第1検査信号が発生され
たときの光電変換信号の立ち上がりと第2検査信号が発
生されたときの光電変換信号の立ち下がりのうち少なく
とも一方が検出されない場合には、トランスファドラム
で所定の位置に保持される両切りたばこおよびフィルタ
ープラグに対して、チップペーパ片の先端部と後端部の
うち少なくとも一方がずれていることになり、チップペ
ーパ片の接着位置ずれや切断不良による形状不良を検出
することができる。
【0014】
【実施例】図1は本発明を適用したたばこ製造装置のフ
ィルターチップアタッチメントを示す図であり、前記図
21と同様の部分には同符号を付記してある。図1にお
いて、1A ,1B は、トランスファドラム60のド
ラム面に集光レンズ11A ,11B を対向させてこ
の集光レンズ11A ,11B がドラム面の搬送方向
(図の矢印Aの方向)に対して垂直な方向にそれぞれ並
設された2つの光電検出器、2は穴加工を施したペーパ
ガイド70に集光レンズ11A ,11B を挿入・位
置決めして集光レンズ11A ,11B の焦点距離を
合わせる集光レンズ取付部材、3は光電検出器1A ,
1B の出力信号に基づいて後述の異常検出信号を発生
する信号処理部、4は近接センサー等により当該フィル
ターチップアタッチメント機の主軸の回転に同期して一
定の同期信号を発生させる同期信号発生部、5は異常信
号と同期信号によってタイミングをとり、異常発生によ
る不良品を排除する排除部である。
【0015】なお、トランスファドラム60でフィルタ
ープラグと両切りたばこが巻上げられると、図1の■の
ようなダブル巻にされ、このダブル巻はヒータドラム6
でチップペーパ片の糊付部分が乾燥されてチェッキング
ドラム7に移送される。そして、不良のダブル巻はチェ
ッキングドラム7の下方位置で排除部5により排除され
るが、正常なダブル巻はファイナルカッティングドラム
8とファイナルカッティングナイフ9によってフィルタ
ー部分で切断され次工程に移送される。
【0016】図2に示したように、それぞれの光電検出
器1A ,1B は、集光レンズ11、アンプユニット
(発光部)12および光ファイバーケーブル13から構
成されている。アンプユニット12は高輝度LEDで超
高速パルスを点灯させ、この発光された光は光ファイバ
ーケーブル13を介して集光レンズ11に伝達され、集
光レンズ11は光ファイバーケーブル13で伝達されて
くる光を集光してトランスファドラム60のドラム面の
サポート60a上に微小なスポットを形成する。また、
集光レンズ11はこのスポット部分からの反射光を集光
し、この集光された検出光は光ファイバーケーブル13
を介してアンプユニット12に伝達される。
【0017】そして、アンプユニット12は集光レンズ
11による受光強度に応じたレベルの受光信号を前記信
号処理部3に出力する。なお、光電検出器1A ,1B
 としては、チップペーパ片が初期接着されたフィルタ
ープラグと両切りたばこがトランスファドラム60上を
高速で移動することやトランスファドラム60周辺のス
ペース的な制約を考慮すると、小型で応答性の良いもの
が適しており、例えば、(株)キーエンス社製のファイ
バー式光電スイッチ(応答時間 250μs) 等を使
用することができる。
【0018】図3(A) はペーパガイド70と集光レ
ンズ取付部材2の組立上面図、図3(B)はその組立側
面図である。集光レンズ取付部材2において、水平板2
1aを有する取付基板21は、フィルターチップアタッ
チメント機のフレーム100に対して上下位置調整が可
能なようにネジ21bによって固定されている。水平板
21aには、図示しない電磁バルブの開閉によって駆動
されるエアシリンダ22がL金具23を介して取付けら
れ、このエアシリンダ22の駆動軸22aはペーパガイ
ド70側に向けられ、その先端には水平バー24が取付
けられている。光電検出器1A ,1B の各光ファイ
バーケーブル13A ,13B はL金具23の小孔2
3aに通され、各光ファイバーケーブル13A ,13
B の先端に取付けられた各集光レンズ11A ,11
B は、それぞれ水平バー23の端部に取付けられてい
る。
【0019】ペーパガイド70は、フィルターチップア
タッチメント機のフレーム100に固定されたセットバ
ー70aにセットされ、このペーパガイド70の集光レ
ンズ11A ,11B の位置には、この集光レンズ1
1A ,11B 側からトランスファドラム60側に貫
通する一対の検出穴70bA ,70bB が形成され
ている。
【0020】そして、たばこ製造装置の高速運転信号が
入ると、図示しない電磁バルブが作動してエアシリンダ
22の駆動軸22aが前進し、集光レンズ11A ,1
1B がペーパガイド70側に移動し、集光レンズ11
A ,11B がペーパガイド70の検出穴70bA 
,70bB にそれぞれ挿入され、位置決めされる。な
お、たばこ製造装置の停止信号が入ると電磁バルブが作
動してエアシリンダ22が後退し、集光レンズ11A 
,11B が検出穴70bA ,70bB から外され
、ペーパガイド70がセットバー70aから取り外せる
ようになる。また、図には示してないが、たばこ製造装
置の停止信号が入り上記のように集光レンズ11A ,
11B が検出穴70bA ,70bB から外された
とき、集光レンズ11A ,11B のレンズ面がエア
ブローによって清掃されるようになっている。
【0021】図4(A) はフィルタープラグFと両切
りたばこTにチップペーパ片pが正常に初期接着された
状態を示す正面図、図4(B) はその側面図、図5(
A) はチップペーパ片pが初期接着されたフィルター
プラグFと両切りたばこTのトランスファドラム60の
ドラム面上のサポート60aにおける吸着位置を示す正
面図、図5(B) はその側面図である。
【0022】図4(A) に示したように、正常に切断
されたチップペーパpは搬送方向(図の矢印方向)が所
定の長さの長方形にされ、フィルタープラグFと両切り
たばこTの先端部分が平行に一定位置に初期接着される
ようタイミング調整されている。なお、タイミング調整
基準は2mm〜3mmである。
【0023】図5に示したように、トランスファドラム
60のドラム面上には均一な間隔でサポート60aが搬
送方向(図の矢印方向)に対して直角に配されており、
チップペーパ片pが初期接着されたフィルタープラグF
と両切りたばこTはサポート60aの溝に吸着されてい
る。
【0024】サポート60aに対して、所定の位置にな
る長方形の領域(図5(A) の二点鎖線)が各辺が搬
送方向に対して直角または平行になるように設定されて
おり、この領域の境界AT ,AL ,AE ,AR 
は、図4(A) のように正常な切断状態のチップペー
パ片pの周縁pT ,pL ,pE ,pR と同形状
になっている。また、チップペーパ片pが正しい位置に
初期接着されたときは、チップペーパ片pの先端部(搬
送方向先端部)pT 、後端部(搬送方向後端部)pE
 、両側縁pL ,pR が境界AT ,AL ,AE
 ,AR とそれぞれ一致するように、タイミング調整
されている。
【0025】光電検出器1A ,1B の各集光レンズ
11A ,11B は、トランスファドラム60の回転
方向(搬送方向)と直角な方向で並設されており、図5
(A) に示したように、集光レンズ11A ,11B
 によるスポットSA ,SB がトランスファドラム
60の搬送方向と直角な線上で左右の境界AL ,AR
 からそれぞれ等距離僅かに内側にずれた位置に形成さ
れる。チップペーパ片pが初期接着されたフィルタープ
ラグF,両切りたばこTがスポットSA ,SB の位
置を順次通過すると、光電検出器1A ,1B が出力
信号(アンプユニット12の出力信号)は図6に示した
ようになる。光電検出器1A ,1B の出力信号は、
まず両切りたばこTの巻紙部分からの反射光を検知して
信号を出力し、次にチップペーパ片pからの反射光を検
知して信号を出力する。したがって、光電検出器1A 
,1B からの信号は両切りたばこTとチップペーパ片
pによる複合した信号となる。
【0026】図7〜図14はチップペーパ片pの接着位
置ずれまたは切断不良による位置ずれの代表的な例を示
す図であり、各図において図(B) は図(A) の位
置ずれが発生した場合の光電検出器1A ,1B の出
力信号を示し、破線は正常な状態を示している。また、
図(A) の矢印はチップペーパ片pの搬送方向を示し
ている。
【0027】図7(A) は、チップペーパ片pが搬送
方向に進んだ位置で接着された位置ずれの場合で、その
ときの出力信号は図7(B) のように、立ち上がりと
立ち下がりが正常な状態より先行するようになる。
【0028】図8(A) は、チップペーパ片pが搬送
方向の遅れた位置で接着された位置ずれの場合で、その
ときの出力信号は図8(B) のように、立ち下がりが
正常な状態より遅延するようになる。
【0029】図9(A) は、チップペーパ片pが搬送
方向に対して左寄りに接着された位置ずれの場合で、出
力信号は図9(B) のように、光電検出器1B の出
力はあるが、光電検出器1A の出力は短い先端だけと
なり、後端部の出力は得られなくなる。
【0030】図10(A) は、チップペーパ片pが搬
送方向に対して右寄りに接着された位置ずれの場合で、
出力信号は図10(B) のように、光電検出器1A 
の出力はあるが、光電検出器1B の出力は短い先端だ
けとなり、後端部の出力は得られなくなる。
【0031】図11(A) は、チップペーパ片pが長
く切断された切断不良の場合で、出力信号は図11(B
) のように、立ち上がりが正常な状態より先行するよ
うになる。
【0032】図12(A) は、チップペーパ片pに前
工程のチップペーパ片pが付着した場合で、出力信号は
図12(B) のように、光電検出器1A の立ち下が
りのみが正常な状態より遅延するようになる。
【0033】図13(A) は、チップペーパ片pが搬
送方向に対して左に傾いて接着された位置ずれの場合で
、出力信号は図13(B) のように、光電検出器1A
 の出力信号については、立ち下がりが正常な状態より
先行し、光電検出器1B の出力信号については、立ち
下がりが正常な状態より遅延するようになる。
【0034】図14(A) は、チップペーパ片pが両
切りたばことフィルタープラグに接着されていない場合
を示し、出力信号は図14(B) のように、両光電検
出器1A ,1B の出力は短い先端だけとなり、後端
部の出力は得られなくなる。
【0035】このように何れの場合も、両光電検出器1
A ,1Bの出力信号(以後、チップ検出信号という。 )の立ち上がりと立ち下がりのうち少なくともどれか一
つが正常な場合の信号と異なるようになり、この立ち上
がり(両切りたばこTまたは先端部pT の検出時)と
立ち下がり(後端部pE の検出時)の異常を検出する
ことによりチップペーパ片の接着位置ずれと切断不良に
よる位置ずれを検出することができる。この実施例では
、信号処理部3でチップ検出信号が検査され、異常検出
信号が発生される。
【0036】図15は信号処理部3のブロック図である
。なお、光電検出器1A のチップ検出信号と光電検出
器1B のチップ検出信号についてそれぞれ処理を行う
回路は同様の構成になっているので、同図では、両チッ
プ検出信号で対応する処理回路には同じ数字に添字“A
 ”,“B ”を付記し、以下の説明で共通する部分に
ついては添字“A ”,“B ”を省略する。図15に
おいて、31は同期信号aのパルス信号が入力されると
この入力から一定時間T1 遅延して前ゲート設定信号
bを出力する前ゲート位置設定回路、32は同期信号a
のパルス信号が入力されるとこの入力から一定時間T2
 遅延して後ゲート設定信号cを出力する後ゲート位置
設定回路、33は前ゲート設定信号bと後ゲート設定信
号cの各入力時に、それぞれパルス幅(ゲート幅)T3
 に設定した前ゲート信号b′と後ゲート信号c′を出
力するゲート幅設定回路である。
【0037】同期信号aと前ゲート信号b′および後ゲ
ート信号c′は、図16のようなタイミングになってい
る。同期信号aは予め設定された一定の間隔で出力され
、この同期信号aは、チップペーパ片が正常な状態のと
きはチップ検出信号dが“L”レベルの位置で信号処理
部3に入力される。前ゲート信号b′は前ゲート位置設
定回路31によって設定された時間T1 だけ同期信号
aから遅延し、チップペーパ片が正常な状態のときのチ
ップ検出信号dの立ち上がりを中心にしてゲート幅設定
回路33で設定されたパルス幅T3 の信号となる。ま
た、後ゲート信号c′は後ゲート位置設定回路32によ
って設定された時間T2 だけ同期信号aから遅延し、
チップペーパ片が正常な状態のときのチップ検出信号d
の立ち下がりを中心にしてゲート幅設定回路33で設定
されたパルス幅T3 の信号となる。
【0038】なお、前ゲート位置設定回路31、後ゲー
ト位置設定回路32およびゲート幅設定回路33はそれ
ぞれ、時間T1 ,T2 ,T3 を計時するタイマー
を備えており、この時間T1 ,T2 ,T3 の設定
値を変えることにより、前ゲート信号b′と後ゲート信
号c′の遅延時間(ゲート位置)とパルス幅(ゲート幅
)をそれぞれ調整することができる。
【0039】図15において、34は前ゲート信号b′
が立っている間にチップペーパ片の先端部pT がスポ
ットSの位置を通過したかどうかを記憶するための前位
置判定回路、35は後ゲート信号c′立っている間にチ
ップペーパ片の後端部pE がスポットSの位置を通過
したかどうかを記憶するための後位置判定回路であり、
前位置判定回路34は、前ゲート信号b′の間にチップ
検出信号dの立ち上がりを検出すると出力信号eを“H
”レベルにし、後位置判定回路35は、後ゲート信号c
′の間にチップ検出信号dの立ち下がりを検出すると出
力信号fを“H”レベルにする。また、この前位置判定
回路34と後位置判定回路35の各出力信号e,fは、
同期信号aの立ち下がりによりリセットされて“L”レ
ベルになる。なお、この前位置判定回路34と後位置判
定回路35はフリップフロップ等で構成することができ
る。
【0040】36は光電検出器1A のチップ検出信号
dA の処理を行う前位置判定回路34A と後位置判
定回路35A の各出力eA ,fA 、光電検出器1
B のチップ検出信号dB の処理を行う前位置判定回
路34B と後位置判定回路35B の各出力eB ,
fB および同期信号aに基づいて異常検出信号を生成
する異常判定回路である。
【0041】異常判定回路36は図17に示したように
論理回路から構成され、出力信号eA ,fA のAN
D出力gを反転し、この反転出力hと同期信号aのAN
D出力iを内部で生成する。また、出力信号eB ,f
B のAND出力jを反転し、この反転出力kと同期信
号aのAND出力mを内部で生成する。そして、AND
出力i,mのOR出力nを生成する。
【0042】図18は光電検出器1A のチップ検出信
号dAについての信号処理一例を示すタイムチャートで
あり、この例では前記図11(A) のようにチップペ
ーパ片の先端が長く切断された場合を示している。チッ
プペーパ片の先端が長く切断されているので、Xの時点
(前ゲート信号b′によるゲート幅の間)でチップ検出
信号dA の立ち上がりがなく、この時点Xで前位置判
定回路34A の出力信号eA が“H”レベルにされ
ない。したがって、Yの時点で後位置判定回路35A 
の出力信号fA が“H”レベルになっていてもAND
出力gが“L”レベルで反転出力hが“H”レベルとな
り、AND出力iが“H”レベルになり、このAND出
力iの“H”レベルは、チップペーパ片の先端が所定の
タイミングで検出されなかったことを示している。また
、同様にして、チップペーパ片の後端部が所定のタイミ
ングで検出されなかった場合も、AND出力iが“H”
レベルにされる。
【0043】光電検出器1B のチップ検出信号dB 
の処理についても同様になり、光電検出器1B 側のチ
ップペーパ片の先端部と後端部の検出タイミングのずれ
はAND出力m(図17)が“H”レベルになることに
より検出される。したがって、チップペーパ片の光電検
出器1A 側と光電検出器1B 側の先端部および後端
部について少なくとも一箇所で検出タイミングがずれる
と、異常判定回路36のからのOR出力nが“H”レベ
ルになり、前記図7〜図14について説明した場合はも
とより、その他のチップペーパ片の位置ずれや切断不良
を検出することができる。
【0044】なお、上記OR出力nの“H”レベルは、
異常信号として排除部5に入力され、排除部5は、OR
出力nの“H”レベル(異常信号)とOR出力nの“L
”レベル(正常信号)とを、同期信号に同期させて順次
記憶し、異常発生時と排出動作との時間差を調整する。 すなわち、異常発生が生じたときのチップペーパ片によ
って巻上げられたダブル巻が、チェッキングドラム7の
下端位置にくるまで、その異常発生を示す異常信号が記
憶されており、この異常発生による不良品のダブル巻を
正確に排除する。なお、上記のように異常信号を同期信
号に同期させて記憶・遅延するためには、同期信号でシ
フト動作を行う多段シフト回路等を使用し、その出力信
号で排除動作を行うようにすればよい。なお、この実施
例では32段(32本分)のシフト動作を行うようにし
ている。
【0045】
【発明の効果】以上説明したように本発明のチップペー
パ片の接着位置ずれと形状不良の検出方法または装置に
よれば、チップペーパ片の端部を初期接着した両切りた
ばことフィルタープラグとをトランスファドラムで搬送
して該チップペーパ片で両切りたばことフィルタープラ
グとを巻き上げるフィルターチップアタッチメント機に
ついて、トランスファドラムにおける両切りたばこの搬
送間隔とパルス周期の等しい第1検査信号および第2検
査信号を予め設定した位相差を有するタイミングで発生
しながら、トランスファドラムのドラム面に対向させた
光電検出器により搬送される両切りたばこおよびチップ
ペーパ片からの反射光を受光してこの光電検出器の光電
変換信号の立上がりと立下がりとを監視し、第1検査信
号を発生したときの光電変換信号の立上がりと第2検査
信号を発生したときの光電変換信号の立下がりの少なく
とも一方が検出されないときに異常検知と判定するよう
にしたので、チップペーパ片の先端部と後端部のうち少
なくとも何れか一方がトランスファドラムのドラム面の
所定の位置からずれていることを検出することができ、
たばこ製造装置のフィルターチップアタッチメント機に
おいてフィルタープラグと両切りたばことに接着された
チップペーパ片の接着位置ずれと切断不良を自動的に検
出することできる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明を適用したたばこ製造装置のフィルター
チップアタッチメントを示す図である。
【図2】実施例における光電検出器を示す図である。
【図3】実施例におけるペーパガイドと集光レンズ取付
部材の組立上面図および組立側面図である。
【図4】実施例における正常な切断状態のチップペーパ
ー片とフィルタープラグおよび両切りたばこの接着状態
を示す図である。
【図5】実施例のトランスファドラムにおけるフィルタ
ープラグと両切りたばこの吸着状態を示す図である。
【図6】実施例における光電検出器の出力を示す図であ
る。
【図7】実施例における搬送方向への接着位置ずれの一
例と光電検出器の出力を示す図である。
【図8】実施例における搬送方向後方への接着位置ずれ
の一例と光電検出器の出力を示す図である。
【図9】実施例における左側への接着位置ずれの一例と
光電検出器の出力を示す図である。
【図10】実施例における右側への接着位置ずれの一例
と光電検出器の出力を示す図である。
【図11】実施例における長く切断されたチップペーパ
片の一例と光電検出器の出力を示す図である。
【図12】実施例における前工程のチップペーパ片が付
着した一例と光電検出器の出力を示す図である。
【図13】実施例における斜めの接着位置ずれの一例と
光電検出器の出力を示す図である。
【図14】実施例におけるチップペーパ片が接着されて
いない場合と光電検出器の出力を示す図である。
【図15】実施例における信号処理部のブロック図であ
る。
【図16】実施例における同期信号と前ゲート信号およ
び後ゲート信号のタイミングを示す図である。
【図17】実施例における異常判定回路の論理回路を示
す図である。
【図18】実施例における信号処理の一例を示すタイム
チャートである。
【図19】本発明に係わるフィルターチップアタッチメ
ント機のトランスファドラムとサクションローラの部分
を示す図である。
【図20】本発明に係わるフィルターチップアタッチメ
ント機におけるチップペーパ片の初期接着状態を示す図
である。
【図21】本発明に係わるフィルターチップアタッチメ
ント機の一部を示す図である。
【符号の説明】
1A ,1B   光電検出器 2          集光レンズ取付部材3    
      信号処理部 4          同期信号発生部5      
    排除部 60        トランスファドラム60a   
   サポート 70        ペーパガイド p          チップペーパ片SA ,SB 
  スポット。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  チップペーパ片の端部を初期接着した
    両切りたばことフィルタープラグとをトランスファドラ
    ムで搬送して該チップペーパ片で両切りたばことフィル
    タープラグとを巻き上げるフィルターチップアタッチメ
    ント機におけるチップペーパ片の接着位置ずれと形状不
    良の検出方法であって、前記トランスファドラムにおけ
    る両切りたばこの搬送間隔とパルス周期の等しい第1検
    査信号および第2検査信号を予め設定した位相差を有す
    るタイミングで発生しながら、前記トランスファドラム
    のドラム面に対向させた光電検出器により該トランスフ
    ァドラムで搬送される両切りたばこおよびチップペーパ
    片からの反射光を受光してこの光電検出器の光電変換信
    号の立上がりと立下がりとを監視し、上記第1検査信号
    を発生したときの上記光電変換信号の立上がりと上記第
    2検査信号を発生したときの上記光電変換信号の立下が
    りの少なくとも一方が検出されないときに異常検知と判
    定するようにしたことを特徴とするフィルターチップア
    タッチメント機におけるチップペーパ片の接着位置ずれ
    と形状不良の検出方法。
  2. 【請求項2】  チップペーパ片の端部を初期接着した
    両切りたばことフィルタープラグとをトランスファドラ
    ムで搬送して該チップペーパ片で両切りたばことフィル
    タープラグとを巻き上げるフィルターチップアタッチメ
    ント機におけるチップペーパ片の接着位置ずれと形状不
    良の検出装置であって、前記トランスファドラムのドラ
    ム面に対向して配設されるとともに前記両切りたばこお
    よびチップペーパ片からの反射光を受光して光電変換信
    号を出力する光電検出器と、上記トランスファドラムに
    おける両切りたばこの搬送間隔とパルス周期の等しい第
    1検出信号および第2検査信号を予め設定した位相差を
    有するタイミングで発生する検査信号発生手段と、上記
    検査信号発生手段で発生される第1検査信号と第2検査
    信号および上記光電変換信号がそれぞれ入力され、上記
    第1検査信号が発生されたときの上記光電変換信号の立
    上がりの有無と上記第2検査信号が発生されたときの上
    記光電変換信号の立下がりの有無とをそれぞれ記憶する
    記憶手段と、上記記憶手段に上記立上がり有りと立下が
    り有りの少なくとも一方の記憶がないときに異常検知信
    号を出力する判定手段と、を備えることを特徴とするフ
    ィルターチップアタッチメント機におけるチップペーパ
    片の接着位置ずれと形状不良の検出装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5873445A (en) * 1995-01-11 1999-02-23 Valeo Method of manufacturing a damping flywheel, notably for motor vehicles
CN111820452A (zh) * 2020-07-15 2020-10-27 广东中烟工业有限责任公司 一种用于卷烟机的烟支水松纸偏移检测与剔除装置

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