JP3131913B2 - スペクトラムアナライザ - Google Patents
スペクトラムアナライザInfo
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- JP3131913B2 JP3131913B2 JP04117394A JP11739492A JP3131913B2 JP 3131913 B2 JP3131913 B2 JP 3131913B2 JP 04117394 A JP04117394 A JP 04117394A JP 11739492 A JP11739492 A JP 11739492A JP 3131913 B2 JP3131913 B2 JP 3131913B2
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Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明はスペクトラムアナライ
ザに関し、特に入力信号の2乗平均値を測定できるよう
にしたものである。
ザに関し、特に入力信号の2乗平均値を測定できるよう
にしたものである。
【0002】
【従来の技術】従来のスペクトラムアナライザを図1を
参照して説明する。入力端子11に入力されたRF信号
は可変減衰器12で適当なレベルに調整されてミキサ1
3に入力され、掃引発振器14からの出力局部信号と周
波数混合される。ランプ信号発生器15からのこぎり歯
状のランプ電圧が掃引発振器14に供給されて発振周波
数を掃引すると共に表示器制御回路23を通じて表示器
24に供給される。ミキサ13の出力はBPF(帯域通
過ろ波器)16に入力され、両入力のビート周波数信号
(中間周波数信号)が選択されて、ステップアンプ17
に入力され、適当なレベルに増幅されて検波回路18に
入力され、エンベロープ検波される。検波回路18の出
力はA/D変換器19に入力され、一定のサンプリング
周期でディジタル値に変換される。A/D変換器19の
出力は画像メモリ21に入力され、一画面分(1フレー
ム分)の表示データが書き込まれる。表示制御回路23
は画像メモリ21から読み出された表示データをランプ
信号に同期して表示器24に表示する。制御回路22に
はCPU(中央演算処理装置)が設けられており、可変
減衰器12の減衰量制御、ランプ信号発生器15の電圧
掃引制御、ステップアンプ17の利得制御、画像メモリ
21の書き込み読み出し制御、表示器制御回路23の表
示モード制御、等を行うと共に、A/D変換器19にサ
ンプリングクロックを与える。
参照して説明する。入力端子11に入力されたRF信号
は可変減衰器12で適当なレベルに調整されてミキサ1
3に入力され、掃引発振器14からの出力局部信号と周
波数混合される。ランプ信号発生器15からのこぎり歯
状のランプ電圧が掃引発振器14に供給されて発振周波
数を掃引すると共に表示器制御回路23を通じて表示器
24に供給される。ミキサ13の出力はBPF(帯域通
過ろ波器)16に入力され、両入力のビート周波数信号
(中間周波数信号)が選択されて、ステップアンプ17
に入力され、適当なレベルに増幅されて検波回路18に
入力され、エンベロープ検波される。検波回路18の出
力はA/D変換器19に入力され、一定のサンプリング
周期でディジタル値に変換される。A/D変換器19の
出力は画像メモリ21に入力され、一画面分(1フレー
ム分)の表示データが書き込まれる。表示制御回路23
は画像メモリ21から読み出された表示データをランプ
信号に同期して表示器24に表示する。制御回路22に
はCPU(中央演算処理装置)が設けられており、可変
減衰器12の減衰量制御、ランプ信号発生器15の電圧
掃引制御、ステップアンプ17の利得制御、画像メモリ
21の書き込み読み出し制御、表示器制御回路23の表
示モード制御、等を行うと共に、A/D変換器19にサ
ンプリングクロックを与える。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
スペクトラムアナライザには、入力信号の2乗平均値を
測定する機能は無かった。そこでこの発明では、スペク
トラムアナライザに2乗平均値測定機能を付加し、その
コスト・パーフォーマンスを向上させようとするもので
ある。
スペクトラムアナライザには、入力信号の2乗平均値を
測定する機能は無かった。そこでこの発明では、スペク
トラムアナライザに2乗平均値測定機能を付加し、その
コスト・パーフォーマンスを向上させようとするもので
ある。
【0004】
(1)入力信号をミキサに入力し、掃引発振器の出力と
混合し、そのミキサ出力の中間周波数信号を検波回路で
検波し、その検波出力をA/D変換器に入力し、そのA
/D変換器の出力を画像メモリに書き込み、その画像メ
モリのデータを読み出して表示器に表示させるスペクト
ラムアナライザにおいて、請求項1の発明では、平均値
測定モードのとき、A/D変換器からの振幅サンプル値
を一定数ずつ加算平均手段で加算平均し、その加算平均
結果が与えられる毎にそれまで得られている加算平均値
と共に2乗平均手段により2乗平均を演算し、得られた
2乗平均値を順次画像メモリに与え、表示器に表示す
る。
混合し、そのミキサ出力の中間周波数信号を検波回路で
検波し、その検波出力をA/D変換器に入力し、そのA
/D変換器の出力を画像メモリに書き込み、その画像メ
モリのデータを読み出して表示器に表示させるスペクト
ラムアナライザにおいて、請求項1の発明では、平均値
測定モードのとき、A/D変換器からの振幅サンプル値
を一定数ずつ加算平均手段で加算平均し、その加算平均
結果が与えられる毎にそれまで得られている加算平均値
と共に2乗平均手段により2乗平均を演算し、得られた
2乗平均値を順次画像メモリに与え、表示器に表示す
る。
【0005】(2)請求項2の発明では、請求項1の発
明において前記2乗平均手段を、加算平均値を順次2乗
する2乗演算手段と、その2乗値を順次累積加算する累
積加算手段と、その累積加算値が与えられる毎に、それ
までに得られている累積加算値と共に2乗平均を演算す
る2乗平均演算手段とにより構成する。 (3)請求項3の発明では、請求項1の発明において、
A/D変換器の出力振幅サンプル値に対し検波回路の非
直線性を補正する補正値データを格納する補正値データ
メモリと、A/D変換器の出力振幅サンプル値と、それ
に対応する補正データメモリから読み出された補正デー
タとを加算して補正された前記振幅サンプル値として出
力する補正加算手段が設けられる。
明において前記2乗平均手段を、加算平均値を順次2乗
する2乗演算手段と、その2乗値を順次累積加算する累
積加算手段と、その累積加算値が与えられる毎に、それ
までに得られている累積加算値と共に2乗平均を演算す
る2乗平均演算手段とにより構成する。 (3)請求項3の発明では、請求項1の発明において、
A/D変換器の出力振幅サンプル値に対し検波回路の非
直線性を補正する補正値データを格納する補正値データ
メモリと、A/D変換器の出力振幅サンプル値と、それ
に対応する補正データメモリから読み出された補正デー
タとを加算して補正された前記振幅サンプル値として出
力する補正加算手段が設けられる。
【0006】
【実施例】図2はこの発明による2乗平均値測定が可能
とされたスペクトラムアナライザのブロック図を示し、
図1と対応する部分に同じ符号を付けてある。この実施
例は図1の従来の構成に、更に加算平均部26と2乗平
均部27とが設けられ、A/D変換器19と画像メモリ
21との間に設けられた切り替え回路25によりA/D
変換器19の出力を加算平均部26と2乗平均部27を
通して画像メモリ21に与えることができるように構成
されている。切り替え回路25が通過路を選択した状態
では、図1のスペクトラムアナライザと同様にランプ信
号発生器15からのランプ信号により掃引発振器14の
発振周波数が繰り返し掃引され、その周波数掃引された
局部信号と入力信号がミキサ13で周波数混合される。
従って、掃引周波数の下限と上限をそれぞれFL1、FL2
とし、バンドパスフィルタ16の通過中心周波数をFB
とすると、その出力には入力信号中の周波数帯域(FB
+FL1)〜(FB +FL2)の各成分が順次中間周波FB
に変換され、そのスペクトラム包絡が前述のようにA/
D変換器19により一定サンプリング周期でディジタル
値に変換され、メモリ21に書き込まれる。局部信号の
1回の周波数掃引によって得られたスペクトラムデータ
がメモリ21から読み出され、横軸を周波数として表示
器24に表示されると共に次の周波数掃引が開始され、
同様の動作が繰り返される。
とされたスペクトラムアナライザのブロック図を示し、
図1と対応する部分に同じ符号を付けてある。この実施
例は図1の従来の構成に、更に加算平均部26と2乗平
均部27とが設けられ、A/D変換器19と画像メモリ
21との間に設けられた切り替え回路25によりA/D
変換器19の出力を加算平均部26と2乗平均部27を
通して画像メモリ21に与えることができるように構成
されている。切り替え回路25が通過路を選択した状態
では、図1のスペクトラムアナライザと同様にランプ信
号発生器15からのランプ信号により掃引発振器14の
発振周波数が繰り返し掃引され、その周波数掃引された
局部信号と入力信号がミキサ13で周波数混合される。
従って、掃引周波数の下限と上限をそれぞれFL1、FL2
とし、バンドパスフィルタ16の通過中心周波数をFB
とすると、その出力には入力信号中の周波数帯域(FB
+FL1)〜(FB +FL2)の各成分が順次中間周波FB
に変換され、そのスペクトラム包絡が前述のようにA/
D変換器19により一定サンプリング周期でディジタル
値に変換され、メモリ21に書き込まれる。局部信号の
1回の周波数掃引によって得られたスペクトラムデータ
がメモリ21から読み出され、横軸を周波数として表示
器24に表示されると共に次の周波数掃引が開始され、
同様の動作が繰り返される。
【0007】この発明に従って付加された2乗平均値測
定機能を使って入力信号波形の2乗平均値を測定する場
合は、切り替え回路25を加算平均部26、2乗平均部
27を通る経路に接続すると共に、ランプ信号発生器1
5から所望の一定電圧を出力することにより発振器14
から所望の固定周波数の局部信号を発生する。従って入
力信号のある周波数成分がバンドパスフィルタ16の出
力に得られ、検波回路18の出力に時間領域の信号波形
(振幅包絡)が得られる。得られた波形はA/D変換器
19により一定サンプリング周期で順次ディジタル値に
変換され、切り替え回路25を通して加算平均部26に
順次供給される。加算平均部26は図3に示すように与
えられた振幅値を1フレーム分、例えば600サンプル
点まで順次累積加算し、その最終累積加算結果をサンプ
ル数600で割算して加算平均値(振幅平均値)Ai を
出力すると共に、その内容がクリアされてから再び累積
加算を開始する。600サンプル点毎の加算平均値Ai
は順次2乗平均部27に与えられ、予め決められた回
数、例えばi=100まで入力加算平均値Ai が与えら
れる毎にそれまで得られている加算平均値と共に2乗平
均Ri を計算し、その2乗平均値Ri をメモリ21に順
次格納する。
定機能を使って入力信号波形の2乗平均値を測定する場
合は、切り替え回路25を加算平均部26、2乗平均部
27を通る経路に接続すると共に、ランプ信号発生器1
5から所望の一定電圧を出力することにより発振器14
から所望の固定周波数の局部信号を発生する。従って入
力信号のある周波数成分がバンドパスフィルタ16の出
力に得られ、検波回路18の出力に時間領域の信号波形
(振幅包絡)が得られる。得られた波形はA/D変換器
19により一定サンプリング周期で順次ディジタル値に
変換され、切り替え回路25を通して加算平均部26に
順次供給される。加算平均部26は図3に示すように与
えられた振幅値を1フレーム分、例えば600サンプル
点まで順次累積加算し、その最終累積加算結果をサンプ
ル数600で割算して加算平均値(振幅平均値)Ai を
出力すると共に、その内容がクリアされてから再び累積
加算を開始する。600サンプル点毎の加算平均値Ai
は順次2乗平均部27に与えられ、予め決められた回
数、例えばi=100まで入力加算平均値Ai が与えら
れる毎にそれまで得られている加算平均値と共に2乗平
均Ri を計算し、その2乗平均値Ri をメモリ21に順
次格納する。
【0008】2乗平均部27は図4に構成例を示すよう
に2乗器27Aと累積加算器27Bと、2乗根器27C
とからなる。加算平均部26から600サンプル点の加
算平均値Ai が与えられる毎に2乗器27Aはその2乗
値A2i を計算し、累積加算器27Bに与える。累積加
算器27Bは2乗値A2i が入力される毎にそれを累積
加算し、その累積加算結果を出力する。累積加算開始か
ら第i番目までの2乗値A2i の累積加算結果をSi で
表すと(図3参照)、iが1から予め決めた値、例えば
100に達するまで累積加算を行い、各入力2乗値Aに
対する累積加算結果Si が得られる毎にその値を出力
し、iが100に達するまで繰り返す。2乗根器27C
は累積加算値Si が与えられる毎にRi =(Si /i)
1/2 で表されるその時点までの2乗平均値Ri を計算し
て出力する。各2乗平均値Ri は順次メモリ21のiに
対応するアドレスに格納される。表示制御回路23は常
に得られている全ての2乗平均値Ri を番号iと対応す
る横軸位置に表示するようメモリ21から各値Ri を読
み出し、アナログ値として表示器24に与える。
に2乗器27Aと累積加算器27Bと、2乗根器27C
とからなる。加算平均部26から600サンプル点の加
算平均値Ai が与えられる毎に2乗器27Aはその2乗
値A2i を計算し、累積加算器27Bに与える。累積加
算器27Bは2乗値A2i が入力される毎にそれを累積
加算し、その累積加算結果を出力する。累積加算開始か
ら第i番目までの2乗値A2i の累積加算結果をSi で
表すと(図3参照)、iが1から予め決めた値、例えば
100に達するまで累積加算を行い、各入力2乗値Aに
対する累積加算結果Si が得られる毎にその値を出力
し、iが100に達するまで繰り返す。2乗根器27C
は累積加算値Si が与えられる毎にRi =(Si /i)
1/2 で表されるその時点までの2乗平均値Ri を計算し
て出力する。各2乗平均値Ri は順次メモリ21のiに
対応するアドレスに格納される。表示制御回路23は常
に得られている全ての2乗平均値Ri を番号iと対応す
る横軸位置に表示するようメモリ21から各値Ri を読
み出し、アナログ値として表示器24に与える。
【0009】この様にこの実施例によればiが1から1
00になるまでの途中の時点までの入力信号波形の2乗
平均値Ri も表示器24上に表示することができるし、
iが100に到達すればその時点で直ちに最終的な2乗
平均値R100 が得られる。例えば、A/D変換器19に
おけるサンプリング周期を1/60 msec 、1フレームのサ
ンプル数を600、iの最大値を100とすれば、10
msec毎に2乗平均値R i が得られ、測定開始後1秒で最
終的な2乗平均値R100 が得られる。従って、A/D変
換器19から全600×100個の振幅サンプルデータ
を例えばメモリ21とは別の図示してないデータメモリ
に格納し、その後そのデータメモリからデータを読み出
して各フレーム毎の加算平均と、それらの2乗平均を図
示してない演算手段により計算して画像メモリ21に格
納する場合のような大容量のデータメモリを必要とせ
ず、かつ最終的な2乗平均値R100 が得られるまでの時
間も短い。しかも表示器24には途中経過における2乗
平均値Ri も表示すれば入力信号の変動状態を観測する
ことができる。勿論、表示器24には最終的な2乗平均
値R100 のみを表示してもよい。
00になるまでの途中の時点までの入力信号波形の2乗
平均値Ri も表示器24上に表示することができるし、
iが100に到達すればその時点で直ちに最終的な2乗
平均値R100 が得られる。例えば、A/D変換器19に
おけるサンプリング周期を1/60 msec 、1フレームのサ
ンプル数を600、iの最大値を100とすれば、10
msec毎に2乗平均値R i が得られ、測定開始後1秒で最
終的な2乗平均値R100 が得られる。従って、A/D変
換器19から全600×100個の振幅サンプルデータ
を例えばメモリ21とは別の図示してないデータメモリ
に格納し、その後そのデータメモリからデータを読み出
して各フレーム毎の加算平均と、それらの2乗平均を図
示してない演算手段により計算して画像メモリ21に格
納する場合のような大容量のデータメモリを必要とせ
ず、かつ最終的な2乗平均値R100 が得られるまでの時
間も短い。しかも表示器24には途中経過における2乗
平均値Ri も表示すれば入力信号の変動状態を観測する
ことができる。勿論、表示器24には最終的な2乗平均
値R100 のみを表示してもよい。
【0010】図5は図2の実施例に更に非線形補正手段
28、29を付加して測定精度を高めたものである。即
ち、検波回路18は、ダイオードの非線形動作領域(例
えばシリコンダイオードでは0〜0.7V 程度)を補償する
ような周知の負帰還回路により構成しても、V/I特性
座標の原点を通るような直線に補正することはできな
い。そこでこの実施例では予め各振幅値に対応する補正
データを補正データメモリ28に予め格納しておき、A
/D変換器19から出力された振幅サンプル値をアドレ
スとしてメモリ28から対応する補正値を読み出し、加
算器29によりA/D変換器19の出力に加算する。加
算結果は図2の実施例と同様に切り替え回路25を通し
て画像メモリ21、又は累積加算器26に供給され、前
述と同様の処理を受ける。
28、29を付加して測定精度を高めたものである。即
ち、検波回路18は、ダイオードの非線形動作領域(例
えばシリコンダイオードでは0〜0.7V 程度)を補償する
ような周知の負帰還回路により構成しても、V/I特性
座標の原点を通るような直線に補正することはできな
い。そこでこの実施例では予め各振幅値に対応する補正
データを補正データメモリ28に予め格納しておき、A
/D変換器19から出力された振幅サンプル値をアドレ
スとしてメモリ28から対応する補正値を読み出し、加
算器29によりA/D変換器19の出力に加算する。加
算結果は図2の実施例と同様に切り替え回路25を通し
て画像メモリ21、又は累積加算器26に供給され、前
述と同様の処理を受ける。
【0011】
【発明の効果】以上述べたように、この発明では、従来
のスペクトラムアナライザに加算平均部26と2乗平均
部27を追加し、局部信号のゼロスパンモードにおいて
A/D変換器から得られる振幅サンプル値を一定数ずつ
加算平均し、その加算平均値が得られる毎にそれまでの
加算平均値と共に2乗平均を行い、順次画像メモリ21
に格納するように構成したため、大容量のメモリを必要
とせず、2乗平均値を測定することができる。しかも2
乗平均値測定期間の開始時点から終了時点までの途中に
おける2乗平均値も表示することができ、また測定期間
の終了時点で直ちに波形の最終的な2乗平均値を得るこ
とができる。
のスペクトラムアナライザに加算平均部26と2乗平均
部27を追加し、局部信号のゼロスパンモードにおいて
A/D変換器から得られる振幅サンプル値を一定数ずつ
加算平均し、その加算平均値が得られる毎にそれまでの
加算平均値と共に2乗平均を行い、順次画像メモリ21
に格納するように構成したため、大容量のメモリを必要
とせず、2乗平均値を測定することができる。しかも2
乗平均値測定期間の開始時点から終了時点までの途中に
おける2乗平均値も表示することができ、また測定期間
の終了時点で直ちに波形の最終的な2乗平均値を得るこ
とができる。
【図1】従来のスペクトラムアナライザを示すブロック
図。
図。
【図2】この発明の実施例を示すブロック図。
【図3】この発明における振幅サンプルの加算平均及び
2乗平均処理を示す図。
2乗平均処理を示す図。
【図4】図2における2乗平均部27の構成を示すブロ
ック図。
ック図。
【図5】この発明の他の実施例を示すブロック図。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01R 23/173
Claims (3)
- 【請求項1】 入力信号をミキサに入力し、掃引発振器
の出力と混合し、そのミキサ出力の中間周波数信号を検
波回路で検波し、その検波出力をA/D変換器に入力
し、そのA/D変換器の出力を画像メモリに書き込み、
その画像メモリのデータを読み出して表示器に表示させ
るスペクトラムアナライザにおいて、 平均値測定モード時に前記掃引発振器の掃引を固定し所
望の周波数局部信号を出力させ、前記A/D変換器から
出力される振幅サンプル値を予め決めた一定サンプル数
まで順次累積加算し、前記一定サンプル数の振幅サンプ
ル値の加算平均値を出力することを繰り返す加算平均手
段と、 前記加算平均手段からの加算平均値が与えられる毎にそ
の加算平均値と、それまでに得られている加算平均値の
それぞれの2乗平均値を計算して出力し、前記画像メモ
リに順次格納する2乗平均手段、 とを含むことを特徴とするスペクトラムアナライザ。 - 【請求項2】 請求項1において、前記2乗平均手段は
前記加算平均手段から与えられる前記加算平均値を2乗
する2乗演算手段と、前記2乗演算手段からの2乗値を
累積加算し、その累積加算値を出力する累積加算手段
と、前記累積加算手段からの累積加算値をその累積加算
回数で割算し、その割算結果の平方根を上記2乗平均値
として出力する2乗平均演算手段とを含む。 - 【請求項3】 請求項1のスペクトラムアナライザにお
いて、前記検波回路の非直線性を補正する補正値データ
を各振幅サンプル値に対応させて格納した補正データメ
モリと、前記A/D変換器の出力側に挿入され、前記A
/D変換器の出力振幅サンプル値に、それに対応して前
記補正データメモリから読み出した補正値データを加算
し、その加算結果を補正された前記振幅サンプル値とし
て出力する補正加算手段とを含む。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP04117394A JP3131913B2 (ja) | 1992-05-11 | 1992-05-11 | スペクトラムアナライザ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP04117394A JP3131913B2 (ja) | 1992-05-11 | 1992-05-11 | スペクトラムアナライザ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05312858A JPH05312858A (ja) | 1993-11-26 |
JP3131913B2 true JP3131913B2 (ja) | 2001-02-05 |
Family
ID=14710568
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP04117394A Expired - Fee Related JP3131913B2 (ja) | 1992-05-11 | 1992-05-11 | スペクトラムアナライザ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3131913B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP2103948A4 (en) | 2007-01-05 | 2013-09-25 | Nec Corp | SIGNAL QUALITY MEASURING DEVICE, SPECTRUM MEASUREMENT AND PROGRAM |
-
1992
- 1992-05-11 JP JP04117394A patent/JP3131913B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH05312858A (ja) | 1993-11-26 |
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