JPH01319335A - 伝送特性測定装置 - Google Patents
伝送特性測定装置Info
- Publication number
- JPH01319335A JPH01319335A JP15310188A JP15310188A JPH01319335A JP H01319335 A JPH01319335 A JP H01319335A JP 15310188 A JP15310188 A JP 15310188A JP 15310188 A JP15310188 A JP 15310188A JP H01319335 A JPH01319335 A JP H01319335A
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- JP
- Japan
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- memory
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- sweep signal
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- Pending
Links
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 title claims description 6
- 230000015654 memory Effects 0.000 claims abstract description 31
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 7
- 238000010408 sweeping Methods 0.000 abstract description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Cable Transmission Systems, Equalization Of Radio And Reduction Of Echo (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
「産業上の利用分野」
この発明は掃引信号により可変周波数発振器を制御し、
その可変周波数発振器の出力を被測定物へ供給し、被測
定物の出力を掃引信号と対応して表示器に表示して被測
定物の伝送特性を測定する伝送特性測定装置に関する。
その可変周波数発振器の出力を被測定物へ供給し、被測
定物の出力を掃引信号と対応して表示器に表示して被測
定物の伝送特性を測定する伝送特性測定装置に関する。
「従来の技術」
例えばバンドパスフィルタの伝送特性測定において、広
帯域特性とその帯域内の狭帯域特性とを同時に表示する
ことが行われている。このような測定を行うには従来に
おいては第３図に示すように広帯域掃引による測定結果
（トレース１）を表示し、次に部分Ａの拡大のため掃引
設定を変更しトレース２の結果を表示させていた。
帯域特性とその帯域内の狭帯域特性とを同時に表示する
ことが行われている。このような測定を行うには従来に
おいては第３図に示すように広帯域掃引による測定結果
（トレース１）を表示し、次に部分Ａの拡大のため掃引
設定を変更しトレース２の結果を表示させていた。
このように従来においては２回の測定により通常表示と
拡大表示とを行っており、測定時間が２倍かかる欠点が
あった。
拡大表示とを行っており、測定時間が２倍かかる欠点が
あった。
「課題を解決するための手段」
この発明によれは掃引信号発生器は通常分解能で掃引信
号を発生すると共に、これよりも高い高分解能で掃引信
号を発生することができるようにされる。被測定物の出
力はＡＤ変換器でデジタル信号に変換され、またＡＤ変
換器の出力が上記通常分解能で第１メモリに書き込まれ
、またＡＤ変換器の出力が上記高分解能で第２メモリに
書き込まれる。これら第１．第２メモリの読み出し出力
は多現象表示器へ供給される。
号を発生すると共に、これよりも高い高分解能で掃引信
号を発生することができるようにされる。被測定物の出
力はＡＤ変換器でデジタル信号に変換され、またＡＤ変
換器の出力が上記通常分解能で第１メモリに書き込まれ
、またＡＤ変換器の出力が上記高分解能で第２メモリに
書き込まれる。これら第１．第２メモリの読み出し出力
は多現象表示器へ供給される。
「作 用」
つまり通常分解能で掃引信号を発生している途中で、即
ち部分拡大したい部分では高分解能で掃引信号を発生さ
せる０通常分解能で掃引信号を発生している間はＡＤ変
換器の出力を第１メモリに言き込み、高分解能で掃引信
号を発生させた場合はＡＤ変換器の出力を第２メモリに
書き込むと共に、通常分解能で第１メモリへも書き込む
。
ち部分拡大したい部分では高分解能で掃引信号を発生さ
せる０通常分解能で掃引信号を発生している間はＡＤ変
換器の出力を第１メモリに言き込み、高分解能で掃引信
号を発生させた場合はＡＤ変換器の出力を第２メモリに
書き込むと共に、通常分解能で第１メモリへも書き込む
。
「実施例Ｊ
第１図はこの発明の実施例を示す。掃引信号発生器１１
は通常分解能で掃引信号を発生することができると共に
、通常分解能よりも高分解能で掃引信号を発生すること
ができるものであり、これは例えばＤＡ変換器であり、
その変化幅が可変とされたものが用いられる。
は通常分解能で掃引信号を発生することができると共に
、通常分解能よりも高分解能で掃引信号を発生すること
ができるものであり、これは例えばＤＡ変換器であり、
その変化幅が可変とされたものが用いられる。
掃引信号発生器１１からの掃引信号は可変周波数発振器
１２へ供給され、その発振周波数が掃引される。可変周
波数発振器１２の出力は被測定物１３へ供給される。被
測定物１３の出力はＡＤ変換器１４でデジタル信号に変
換されて第１メモリ１５、第２メモリ１６へ供給される
。
１２へ供給され、その発振周波数が掃引される。可変周
波数発振器１２の出力は被測定物１３へ供給される。被
測定物１３の出力はＡＤ変換器１４でデジタル信号に変
換されて第１メモリ１５、第２メモリ１６へ供給される
。
ＡＤ変換器１４は、被測定物からの高周波信号を信号処
理に適する低周波信号に変換する検波器を備えたもので
あり、検波器の前段に例えば混合器等による周波数変換
器を備えるものであっても良い。
理に適する低周波信号に変換する検波器を備えたもので
あり、検波器の前段に例えば混合器等による周波数変換
器を備えるものであっても良い。
掃引信号発生器１１は制御器１７で制御され、通常は通
常分解能で掃引信号が出されるが、拡大表示したい部分
を掃引する時は高分解能で掃引信号が発生される。掃引
信号発生器１１が通常分解能で掃引している場合はＡＤ
変換器１４の出力は第１メモリ１５へ通常分解能の速度
で書き込まれる。掃引信号発生器１１が高分解能で掃引
されると、ＡＤ変換器１４の出力は第２メモリ１６に高
分解能の速度で書き込まれると共に、通常分解能の速度
で第１メモリ１５に書き込まれる。つまり第２メモリ１
６に書き込まれるデータの全部ではなく飛び飛びのデー
タが第１メモリ１５に書き込まれる。
常分解能で掃引信号が出されるが、拡大表示したい部分
を掃引する時は高分解能で掃引信号が発生される。掃引
信号発生器１１が通常分解能で掃引している場合はＡＤ
変換器１４の出力は第１メモリ１５へ通常分解能の速度
で書き込まれる。掃引信号発生器１１が高分解能で掃引
されると、ＡＤ変換器１４の出力は第２メモリ１６に高
分解能の速度で書き込まれると共に、通常分解能の速度
で第１メモリ１５に書き込まれる。つまり第２メモリ１
６に書き込まれるデータの全部ではなく飛び飛びのデー
タが第１メモリ１５に書き込まれる。
第１メモリ１５、第２メモリ１６に対する制御は制御器
１７により行われる。第１メモリ１５、第２メモリ１６
は同時に読み出されて多現象表示器１８へ供給される。
１７により行われる。第１メモリ１５、第２メモリ１６
は同時に読み出されて多現象表示器１８へ供給される。
このようにすれば多現象表示器１８には例えば第２図に
示すように第１メモリ１５の読み出し出力による表示（
トレース１）と、第２メモリ１６の読み出しが出力によ
る表示（トレース２）とが同時に表示され、トレース２
はトレース１の一部分を拡大表示したものとなる。
示すように第１メモリ１５の読み出し出力による表示（
トレース１）と、第２メモリ１６の読み出しが出力によ
る表示（トレース２）とが同時に表示され、トレース２
はトレース１の一部分を拡大表示したものとなる。
「発明の効果」
以上述べたようにこの発明によれば通常分解能での掃引
の途中に高分解能で掃引することにより、１回の測定で
通常表示と拡大表示とを行うことができ、それだけ測定
時間が短かくて済む。なお全体を高分解能掃引して、デ
ータを取込み、そのデータを飛び飛びに読み出して通常
表示すると共に、一部を連続的に読み出して拡大表示す
ることが考えられるが、この場合は大容量のメモリを必
要とする欠点がある。これに対してこの発明ではメモリ
の容量もそれ程、大きくする必要がない。
の途中に高分解能で掃引することにより、１回の測定で
通常表示と拡大表示とを行うことができ、それだけ測定
時間が短かくて済む。なお全体を高分解能掃引して、デ
ータを取込み、そのデータを飛び飛びに読み出して通常
表示すると共に、一部を連続的に読み出して拡大表示す
ることが考えられるが、この場合は大容量のメモリを必
要とする欠点がある。これに対してこの発明ではメモリ
の容量もそれ程、大きくする必要がない。
第１図はこの発明による伝送特性測定装置の一例を示す
ブロック図、第２図はその表示例を示す図、第３図は従
来の装置における表示例を示す図である。 特許出願人−株式会社了ドパンテスト
ブロック図、第２図はその表示例を示す図、第３図は従
来の装置における表示例を示す図である。 特許出願人−株式会社了ドパンテスト
Claims (1)
- （１）掃引信号を通常分解能とそれよりも高い高分解能
とで発生することができる掃引信号発生器と、 その掃引信号発生器よりの掃引信号により周波数が掃引
され、出力を被測定物へ供給する可変周波数発振器と、 上記被測定物の出力をデジタル信号に変換するＡＤ変換
器と、 そのＡＤ変換器の出力が上記通常分解能で書き込まれる
第１メモリと、 上記ＡＤ変換器の出力が上記高分解能で書き込まれる第
２メモリと、 上記第１メモリ、第２メモリの読み出しが出力供給され
る多現象表示器と、 上記掃引信号発生器の分解能の制御、上記第１、第２メ
モリの書き込みの制御を行う制御器とを具備する伝送特
性測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15310188A JPH01319335A (ja) | 1988-06-20 | 1988-06-20 | 伝送特性測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15310188A JPH01319335A (ja) | 1988-06-20 | 1988-06-20 | 伝送特性測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01319335A true JPH01319335A (ja) | 1989-12-25 |
Family
ID=15554995
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15310188A Pending JPH01319335A (ja) | 1988-06-20 | 1988-06-20 | 伝送特性測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01319335A (ja) |
-
1988
- 1988-06-20 JP JP15310188A patent/JPH01319335A/ja active Pending
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