JPH0480344B2 - - Google Patents

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JPH0480344B2
JPH0480344B2 JP58031155A JP3115583A JPH0480344B2 JP H0480344 B2 JPH0480344 B2 JP H0480344B2 JP 58031155 A JP58031155 A JP 58031155A JP 3115583 A JP3115583 A JP 3115583A JP H0480344 B2 JPH0480344 B2 JP H0480344B2
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JP
Japan
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input
signal
frequency
attenuator
intermediate frequency
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Mitsuyoshi Takano
Mamoru Ando
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Anritsu Corp
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R23/00Arrangements for measuring frequencies; Arrangements for analysing frequency spectra
    • G01R23/16Spectrum analysis; Fourier analysis

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  • Mathematical Physics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、スペクトラムアナライザ、特に入力
アツテネータの減衰量と中間周波増幅器の増幅度
との最適組合せが存在し、被測定入力信号の入力
レベルに応じてその最適組合せで入力アツテネー
タの減衰量及び中間周波増幅器の増幅度とが定ま
つてしまう周波数掃引方式のスペクトラムアナラ
イザにおいて、入力アツテネータ自動設定キーを
押すことにより初期設定された周波数帯の全域を
掃引し、被測定入力信号の中から最大レベルを検
出し、周波数変換回路でひずみが発生しないよう
な最適入力レベルにミキサ入力レベルを制御し、
それに対応して中間周波増幅器の増幅度が自動的
に設定されるスペクトラムアナライザに関するも
のである。
従来のスペクトラムアナライザでは、低レベル
の被測定入力信号成分をCRT管面で測定してい
るとき、基準レベルに連動した形態で入力アツテ
ネータの値(減衰量)を自動的に切換えるように
しているため、測定しようとしている低レベルの
被測定入力信号成分が、実際はCRT管面に表示
されていない他の大きな信号に起因するひずみ、
例えば高調波ひずみの如きスペクトラムアナライ
ザ自身による内部スプリアスである可能性があ
る。(ここで、基準レベルとは表示装置の基準目
盛位置に相当する信号レベルを言う。)CRT管面
に表示された信号(スペクトラム)が真正の外部
信号、すなわち被測定入力信号成分であるか、内
部スプリアスであるかを判定するのには、例えば
入力アツテネータの値を切換えることによりその
レベル測定値が変わらなれば真正の被測定入力信
号のものであるというように、いちいち確認の操
作を行わねばならず、また正しい測定結果を得る
には長年の経験を必要とする欠点があつた。
この欠点を解決する手段として、入路回路にセ
ンサとして電力検出器を設け、この出力によつて
入力アツテネータの値を自動的に制御する方法が
提案されている。しかしながらこの方法は低周波
帯においてはうまく動作するが、高周波帯、例え
ば2GHzにまでなると入力回路の増幅器やセンサ
を容易に実現するのは困難である。
本発明は、上記の欠点を解決することを目的と
しており、入力回路にセンサを設けないで内部ス
プリアスが発生しないような入力アツテネータの
値に設定するとともに、該入力アツテネータの減
衰量と中間周波増幅器の増幅度とを最適値に設定
し、真正の被測定入力信号成分をCRT管面に表
示するスペクトラムアナライザを提供することを
目的としている。以下図面を参照しながら説明す
る。
第1図は本発明に係るスペクトラムアナライザ
の構成図、第2図は本発明に係るスペクトラムア
ナライザの具体的一実施例構成、第3図は入力ア
ツテネータの自動設定をしたときのCRT管面の
波形図例を示している。
第1図において、第1記録手段7には入力アツ
テネータ1の自動設定の動作を行う前の中心周波
数、周波数スパン及び基準レベルが記憶される。
第2の記録手段8には所定の中心周波数、所定
の周波数スパン、所定の入力アツテネータの減衰
量及び所定の中間周波増幅度が予め記憶されてい
る。
まず最初に、指令手段18の命令により、それ
らの値が掃引信号発生回路6、入力アツテネータ
設定回路2、中間周波増幅度設定回路10に設定
された上で、1回の掃引が行われる。
入力アツテネータ1に入力した被測定入力信号
は、入力アツテネータ設定回路2で設定された減
衰量に応じて減衰させられ、周波数変換回路3で
周波数変換されるが、この周波数変換は掃引信号
発生回路6から出力するランプ電圧に基づいて局
部発振器5から発生する掃引信号によつてなされ
る。ミキサ4から出力された中間周波信号は、中
間周波増幅度設定回路10で設定された増幅度に
応じて中間周波増幅器9で増幅され、検波器11
に入力する。検波器11で検波された検波出力は
アナログ−デイジタル変換器12でデイジタル化
され、メモリ14にそのデイジタル化された検波
波形が記憶される。メモリ14に記憶された前記
検波波形が順次続出され、表示装置15に表示さ
れる。その際制御回路13内の検出手段16は表
示装置15に表示される検波波形の最大レベルと
その周波数とを検出する。検出手段16で検出し
た最大レベルに基づいて周波数変換回路3でひず
みが発生しないような最適入力レベルに入力アツ
テネータ1の減衰量を調整手段17で調整すると
共に、この入力アツテネータ1の減衰量と予め第
1の記憶手段7に記憶された基準レベルとに対応
した中間周波増幅器9の増幅度を調整手段17で
調整する。これらの調整された入力アツテネータ
1の減衰量は入力アツテネータ設定回路2に設定
され、調整された中間周波増幅器9の増幅度は中
間周波増幅度設定回路10に設定される。
また指令手段18の命令のより入力アツテネー
タ設定回路2に設定された値を入力アツテネータ
1に設定し、中間周波増幅度設定回路10に設定
された値を中間周波増幅器9に設定する。このよ
うにして調整手段17で調整された入力アツテネ
ータ1の減衰量及び中間周波増幅器9の増幅度の
もとに作動手段19により、前記第1の記憶手段
7に記憶された中心周波数及び周波数スパン値を
前記掃引信号発生回路6に設定し、掃引を作動さ
せると、表示装置15にはスペクトラムアナライ
ザ自身に基づく内部スプリアスが発生しない真正
の被測定入力信号のスペクトラムが表示される。
以下具体的一実施例について第2図以降の図面
を参照しながら説明する。
第2図において、1ないし6,9ないし12,
14,15は第1図のものに対応している。
入力アツテネータ1に入力した被測定入力信号
は、入力アツテネータ設定回路2で設定された減
衰量に応じて減衰させられ、周波数変換回路3内
のミキサ4に入力する。ミキサ4に入力された被
測定入力信号は局部発振器5からの掃引信号によ
つて中間周波の信号に周波変換される。局部発振
器5は、例えば周波数シンセサイザで構成されて
おり、その掃引信号の中心周波数は後に説明する
制御回路13からの制御信号で定められ、掃引信
号発生回路6からの制御信号で掃引周波数スパン
が定められる掃引信号を発生させている。周波数
変換回路3で得られた中間周波の信号は中間周波
増幅部107内のフイルタ108を介して中間周
波増幅器9に入力する。当該中間周波増幅器9に
入力した中間周波の信号は中間周波増幅度設定回
路10によつて設定された増幅度に応じて増幅さ
れた後、検波器11で検波される。そして検波さ
れたアナログ信号はアナログ−デイジタル変換器
12でデイジタル化される。このアナログ−デイ
ジタル変換器は、クロツク信号(図示ぜす)によ
り検波出力をデイジタル信号に順次変換する装置
であり、このデイジタル信号は周波数に対応した
検波出力として、メモリ14に記憶される。デイ
ジタル化された被測定入力信号のデータは制御回
路13が指定するメモリ14のアドレスに格納さ
れる。メモリ14に格納された被測定入力信号の
データは制御回路13の指示により続出され、当
該制御回路13で要請されているデータ処理を行
つた後、CRT表示装置15に転送され、CRT管
面にそのスペクトラムが表示される。
ところで、符号116は入力アツテネータ自動
設定キーであり初期設定された周波数帯の全域を
掃引し、被測定入力信号の中から最大レベルを検
出し、ミキサ4の非直線性に基づくひずみ、例え
ば高調波ひずみ、相互変調ひずみ等による内部ス
プリアスの発明を抑制するため、ミキサ4へ最適
入力レベルとなるように入力アテツネータ1の出
力レベルを下げるように制御するとともに、中間
周波増幅器9の増幅度を上げ、前記入力アツテネ
ータ1のミキサ4への入力レベルの低下分を補償
し、真正の被測定入力信号成分をCRT管面に表
示させるキーである。
前記制御回路13は、入力アツテネータ自動設
定キー116を押したとき、ミキサ4によるひず
みやスプリアスの発生を抑制すべく初期設定され
た周波数帯の全域を掃引してメモリ14に格納し
た被測定入力信号のデータを続出し、そこから検
出された被測定入力信号の最大レベルに基づいて
ミキサ4に入力する入力アツテネータ1の減衰量
を算出する入力アツテネータ減衰量算出手段と、
入力アテツネータ1に設定された減衰量に応じて
中間周波増幅器9の増幅度を算出する中間周波増
幅器増幅度算出手段とを備えており、その他にメ
モリ14に格納した被測定入力信号のデータを続
出しその中から最大レベルを検出する最大レベル
検出手段、局部発振器5から掃引信号を発振させ
るための制御信号を直接に(この制御信号は最大
レベルの周波数を掃引信号の中心周波数となるよ
うに局部発振器5を設定する)、また掃引信号発
生回路6を介して前記局部発振器5へ送出する掃
引信号制御手段、演算手段及びメモリ制御手段等
を備えている。これらはマイクロプロセツサ、そ
の制御部、ROM及びRAM等によつて実現され
る。
入力アツテネータ自動設定キー116を押した
とき、例えばゼロビートを除くようにして10MHz
〜2GHzに初期設定されていると、制御回路13
の掃引周波数制御手段から10MHz〜2GHzの全域
を周波数掃引させる制御信号が掃引信号発生回路
6を介して、また当該制御回路13から直接制御
信号が局部発振器5へ送られる。同時に制御回路
13からはCRT管面上に基準レベルが最大レベ
ル、例えば+25dBmとなるような入力アツテネ
ータ1の減衰量と中間周波増幅器9の増幅度との
組合せの初期設定のデータが入力アツテネータ設
定回路2及び中間周波増幅度設定回路10へそれ
ぞれ送られている。該入力アツテネータ設定回路
2及び中間周波増幅度設定回路10は制御回路1
3から送られてきたデータに基づき入力アツテネ
ータ1の減衰量及び中間周波増幅器9の増幅度を
それぞれの量となるべき値に設定する。
基準レベルを最大レベル、例えば+25dBmに
して入力アツテネータ1に入力した被測定入力信
号に対し周波数掃引を行うと、メモリ14には
10MHz〜2GHzの帯域を周波数掃引した被測定入
力信号のデータが格納される。制御回路13はメ
モリ14に格納されている上記被測定入力信号の
データを順次続出し、その中から最大レベルを最
大レベル検出手段によつて検出する。
その後、基準レベルおよび中心周波数、周波数
スパンなどの設定値は、入力アツテネータ自動設
定キー116を押す前の設定値にもどるが、入力
アツテネータ1の減衰量及び中間周波増幅器9の
増幅度は次のように設定される。すなわち、前記
最大レベル検出手段によつて検出された最大レベ
ルを基に、ミキサ4の非直線性に起因して生ずる
内部スプリアスが発生しないミキサ最適入力レベ
ルにまで減衰させる入力アツテネータの減衰量を
入力アツテネータ減衰量算出手段によつて算出す
る。この値のデータが入力アツテネータ設定回路
2へ送られ、入力アツテネータ1をそのような出
力レベル、すなわちミキサ4への最適入力レベル
となるような値に入力アツテネータ1を設定す
る。一方入力アツテネータ1に設定された減衰量
と基準レベルの値に応じて中間周波増幅器9の増
幅度が該減衰量を基に中間周波増幅器増幅度算出
手段によつて算出される。この値のデータが中間
周波増幅度設定回路10へ送られ、中間周波増幅
器9の増幅度をそのような値となるように設定す
る。このように入力アツテネータ1の減衰量と中
間周波増幅器9の増幅度とを制御回路13が制御
することにより、CRT管面に表示されるスペク
トラムは、スペクトラムアナライザ自身による内
部スプリアスが含まれておらず、真正の被測定入
力信号成分のものだけが表示される。
第3図は入力アツテネータの自動設定をする
前のCRT管面の波形図、同図は入力アツテネ
ータの自動設定動作中で初期設定された周波数帯
の全域を掃引したときのCRT管面の波形図、同
図の入力アツテネータの自動設定をしたあとの
CRT管面の波形図を示している。
同図に示されているように、最初たとえば、
中心周波数200MHz、周波数スパン1MHzに設定さ
れ、信号成分24と信号成分25とが表示されて
いる。
初期設定された周波数帯が、ゼロビートが現わ
れない例えば10MHz〜2GHzに初期設定されてい
るものとする。入力アツテネータ自動設定キー1
16を押すと前記説明の如く基準レベルを先例の
様に+25dBmにして第3図に示されているよ
うに10MHz〜2GHzを掃引し、メモリ14に格納
したデータをCRT表示装置15のCRT管面21
に表示させると、スペクトラムの波形22が描か
れる。この波形22のピーク点を前記説明の最大
レベル検出手段によつて検出し、その点にマーカ
23を移動させる。ここでは第3図の表示には
現われていない大きな信号成分26が存在するこ
とがわかる。マーカ23が存在する点のレベルに
基づきミキサ4のひずみやスプリアスが生じない
最適入力レベルとするように入力アツテネータ1
に設定すべき減衰量を制御回路13で演算し、そ
の値が入力アツテネータ設定回路2を介して入力
アツテネータ1に設定される。入力アツテネータ
1に設定された減衰量に応じた増幅度が制御回路
13で演算され、その値が中間周波増幅度設定回
路10を介して中間周波増幅器9に設定される。
そして入力アツテネータ1の減衰量及び中間周波
増幅器9の増幅度以外の設定条件は、当該入力ア
ツテネータ自動設定キー116を押す前の設定値
に戻され、第3図に示すようにCRT管面21
には真正の被測定入力信号についての信号成分2
5のスペクトラムだけが表示される。従がつて最
初に表示されていた信号成分24は、ミキサ4に
よる内部歪みによるものと判定することができ
る。
以上説明した如く、本発明によれば、入力アツ
テネータ自動設定キーを押すことにより、真正の
被測定入力信号成分のスペクトラムアナライザの
内部で生ずるスプリアスとが容易に識別すること
ができ、またその識別に熟練度を必要としなくな
る。そしてスペクトラムアナライザの内部でスプ
リアスが生じないように設定することができるの
で測定誤差が少なくなり、測定が正確となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係るスペクトラムアナライザ
の構成図、第2図は本発明に係るスペクトラムア
ナライザの具体的一実施例構成、第3図は入力ア
ツテネータの自動設定をしたときのCRT管面の
波形図例を示している。 図中、1は入力アツテネータ、2は入力アツテ
ネータ設定回路、3は周波数変換回路、4はミキ
サ、5は局部発振器、6は掃引信号発生回路、7
は第1の記憶手段、8は第2の記憶手段、9は中
間周波増幅器、10は中間周波増幅度設定回路、
11は検波器、12はアナログ−デイジタル変換
器、13は制御回路、14はメモリ、15は表示
装置、16は検出手段、17は調整手段、18は
指令手段、19は作動手段、107は中間周波増
幅部、108はフイルタ、116は入力アツテネ
ータ自動設定キーを表わしている。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 被測定入力信号を減衰させる入力アツテネー
    タ1と、該入力アツテネータの出力信号を周波数
    変換する局部発振器5およびミキサ4を備えた周
    波数変換回路3と、前記局部発振器の発振周波数
    を掃引させる掃引信号発生回路6と、該周波数変
    換回路の出力信号を増幅する中間周波増幅器9
    と、増幅された中間周波信号を検波する検波器1
    1と、該検波器で検波された信号をデイジタル信
    号に変換するアナログ−デイジタル変換器12
    と、該アナログ−デイジタル変換器の出力を記憶
    するメモリ14と、該メモリの出力を表示する表
    示装置15と、制御回路13とを備えたスペクト
    ラムアナライザであつて:該制御回路が (a) 中心周波数、周波数スパン及び基準レベルを
    記憶する第1の記憶手段7と、 (b) 所定の中心周波数、所定の周波数スパン、入
    力アツテネータの所定の減衰量及び中間周波増
    幅器の所定の増幅度とを記憶する第2の記憶手
    段8と、 (c) 該第2の記憶手段に記憶された所定値に基づ
    いて、入力アツテネータの減衰量及び中間周波
    増幅器の増幅度を設定し、かつ前記掃引信号発
    生回路を作動せしめる指令手段18と、 (d) 該作動により前記メモリに記憶された出力信
    号のうち最大レベルの信号を検出する検出手段
    16と、 (e) 該検出された最大レベルに対応した前記入力
    アツテネータの減衰量を調整し、かつ前記基準
    レベルと前記調整された減衰量に対応した中間
    周波増幅器の増幅度を調整する調整手段17
    と、 (f) 該調整された減衰量及び増幅度のもとに、第
    1の記憶手段に記憶された中心周波数及び周波
    数スパン値により、前記掃引信号発生回路を作
    動せしめる作動手段19と、 を備え、真正な被測定入力信号を表示するように
    したスペクトラムアナライザ。
JP58031155A 1983-02-27 1983-02-27 スペクトラムアナライザ Granted JPS59157575A (ja)

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