JP3131555B2 - メモリアレイとメモリアレイ内の制御線へ電圧を供給する方法及びしきい回路 - Google Patents

メモリアレイとメモリアレイ内の制御線へ電圧を供給する方法及びしきい回路

Info

Publication number
JP3131555B2
JP3131555B2 JP21890295A JP21890295A JP3131555B2 JP 3131555 B2 JP3131555 B2 JP 3131555B2 JP 21890295 A JP21890295 A JP 21890295A JP 21890295 A JP21890295 A JP 21890295A JP 3131555 B2 JP3131555 B2 JP 3131555B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
voltage
memory array
ground line
array
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP21890295A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH08195096A (ja
Inventor
ホイットフィールド コリン
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
STMicroelectronics Ltd Great Britain
Original Assignee
SGS Thomson Microelectronics Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by SGS Thomson Microelectronics Ltd filed Critical SGS Thomson Microelectronics Ltd
Publication of JPH08195096A publication Critical patent/JPH08195096A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3131555B2 publication Critical patent/JP3131555B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C16/00Erasable programmable read-only memories
    • G11C16/02Erasable programmable read-only memories electrically programmable
    • G11C16/06Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
    • G11C16/10Programming or data input circuits
    • G11C16/14Circuits for erasing electrically, e.g. erase voltage switching circuits
    • G11C16/16Circuits for erasing electrically, e.g. erase voltage switching circuits for erasing blocks, e.g. arrays, words, groups

Landscapes

  • Read Only Memory (AREA)
  • Semiconductor Memories (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、容量性負荷の制御
された引き上げ及び引き下げのための、それには限られ
ないが特にフラッシュメモリアレイでのアレイ接地の引
き上げ及び引き下げのための、方法及び装置に関するも
のである。本発明は消去可能型読取専用メモリ(EPROM)
又は他のメモリ、特に各セル用の浮動ゲートトランジス
タを用いるメモリに適用され得る。
【0002】
【従来の技術】図11に示され且つ後に詳述されるフラッ
シュメモリアレイ50はここでは典型的に複数の単一電
界効果トランジスタ(FET) メモリセル(FMoo-FMnm) を具
えている。図10を参照して、選択された1個のセル2
は、ビット線6へ接続されたドレインDとアレイ接地線
10へ接続さたソースSとが、それぞれ約5ボルトと接地
電位VGND を供給されながら、ワード線8へ接続された
制御ゲートCGへのプログラム電位Vppの印加により「プ
ログラム」される。このような関係においては、「プロ
グラミング」はセルの浮動ゲートFGへの電荷の蓄積を意
味しており、それによってセルは論理「0」と呼ばれる
状態を呈する。アレイ又はアレイ内の群内の全部のセル
の内容は、論理「1」と呼ばれる状態を達成するために
同時に消去され得る。これは全部のセルのアレイ接地へ
消去電位Vppを印加し、一方例えばドレイン端子Dが浮
動することを許容しながら全部のセルの他の端子へそれ
ぞれ消去電位を供給し、且つ制御ゲートへ接地電位を印
加することによりなされる。最後にセルの状態がセルの
端子へ読取電位を印加し且つセルが論理「1」又は論理
「0」を記憶しているかどうかを決定するための感知増
幅器を用いることにより読み取られ得る。
【0003】印加され得る電位の例が図12に示され、且
つ典型的なセルの動作はこの後に詳述される。
【0004】フラッシュメモリアレイにおいては複数の
セルのソース電極が共通に接続される。その共通接続は
ここでは上述のアレイ接地10と呼ばれる。セルの制御ゲ
ートは複数の行すなわちワード線8のそれぞれ一つへ結
合され、ドレイン電極は複数の列すなわちビット線6の
それぞれ一つへ結合される。動作中にアレイ接地はプロ
グラミンクのための接地電位と消去動作のための約12ボ
ルトの電位との間で切り換えられる。アレイ接地は相当
なキャパシタンスを有し得るので、低インピーダンス源
の使用、又は低インピーダンスシンクの使用は、回路内
で望ましくない結果へ導く比較的高い充電又は放電電流
を生じ得る。
【0005】アレイ接地は、読取又はプログラミングの
ために、アレイ接地を引き下げるために比較的大きいn
チャネル活性装置を介して接地電位へ、また消去のため
に、アレイ接地を引き上げるためにpチャネル活性装置
又は切換抵抗を介して、消去電位へ接続され得る。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】そのような回路は必然
的に折衷案でなくてはならない。アレイ接地がそれぞれ
充電又は放電されている間に、引き上げ及び引き下げ装
置は上述の理由に対して極端な電流を回避するために充
分なインピーダンスを持つことを必要とする。しかしな
がら一旦アレイ接地が安定状態に達してしまうと、引き
上げ又は引き下げ装置は読取目的又はプログラミング目
的のために必要な電圧を維持するために可能な限り低イ
ンピーダンスを有しなくてはならない。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明の第1の態様によ
ると、複数の電荷蓄積トランジスタと、そこへ共通制御
電圧を供給するために前記複数のトランジスタへ接続さ
れる制御線、及び上側電圧レベルと下側電圧レベルとの
間で制御線上の前記制御電圧を変えるための引き上げ‐
引き下げ電圧制御回路を具えているメモリアレイを設け
られており、前記電圧制御回路は上側電圧レベルへ前記
制御線を接続するための第1スイッチ回路と下側電圧レ
ベルへ前記制御線を接続するための第2スイッチ回路と
を有し、前記スイッチ回路のうちの一つはそれぞれの電
圧レベルの電圧へ制御線を引き込むためにスイッチ動作
の間にスイッチ回路のインピーダンスを高から低へ順次
に変えるためのスイッチ制御と一緒に複数の並列スイッ
チ装置を有している。
【0008】本発明の第2の態様によると、前記制御線
へ接続され且つ共通制御電圧をそこから供給される複数
の電荷蓄積トランジスタを有するメモリアレイ内の制御
線へ電圧を供給する方法を設けられ、第1スイッチ回路
を介して上側電圧レベルへ前記制御線を接続し、それに
より前記制御線上の電圧が前記上側電圧レベルに向かっ
て引き上げられる工程と、第2スイッチ回路を介して下
側電圧レベルへ前記制御線を接続し、それにより前記制
御線上の電圧が前記下側電圧レベルに向かって引き下げ
られる工程とを具え、ここで前記接続工程のうちの一つ
がスイッチ動作の間にそれぞれのスイッチ回路のインピ
ーダンスを順次に変えるための複数の並列スイッチ装置
を制御する工程を具えている。
【0009】本発明の第3の態様によると、前記制御線
へ接続され且つそこから共通制御電圧を供給される複数
の電荷蓄積トランジスタを有するメモリアレイ内の制御
線へ電圧を供給する方法を設けられ、第1スイッチ回路
を介して上側電圧レベルへ前記制御線を接続し、それに
より前記制御線上の電圧が前記上側電圧レベルに向かっ
て引き上げられる工程と、第2スイッチ回路を介して下
側電圧レベルへ前記制御線を接続し、それにより前記制
御線上の電圧が前記下側電圧レベルに向かって引き下げ
られる工程とを具え、ここで前記接続工程の各々がスイ
ッチ動作の間にそれぞれのスイッチ回路のインピーダン
スを順次に変えるための複数の並列スイッチ装置を制御
する工程を具えている。
【0010】本発明の第4の態様によると、制御線へ接
続された複数のセルと制御線の制御された引き上げと制
御された引き下げとのための回路とを有するメモリアレ
イを設けられて、制御線へ第1引き上げ電流を供給する
ための第1電流供給回路と制御線へ第2引き上げ電流を
供給するための第2電流電流供給回路とを具え、引き下
げ回路は制御線へ第3引き下げ電流を供給するための第
3電流供給回路と、制御線へ第4引き下げ電流を供給す
るための第4電流供給回路、及び引き上げ/引き下げ電
流路のインピーダンスを変えるために、引き上げ/引き
下げ動作の間に前記第1と第2、及び前記第3と第4電
流の間を選択するための制御回路を有する。
【0011】本発明の第5の態様によると、入力端子と
入力が所定のしきい値に達した場合に状態を変える出力
端子とを有するしきい回路を設けられ、前記回路は第1
高電圧又は第2低電圧を受け取るように適合された供給
結合点と、それのゲートが入力端子へ結合された2個の
しきい回路電界効果トランジスタの値の直列接続と、供
給結合点へ結合されている直列接続の一端及び規準結合
点へ結合されている他端、及び出力端子を形成するしき
い回路電界効果トランジスタへの共通の結合点を具えて
おり、且つ更に供給結合点と出力端子との間の電流路
と、供給結合点が第2電圧を受け取った場合に活性化さ
れるスイッチング装置及びゲートが入力端子へ結合され
ている直列しきい回路電界効果トランジスタを具えてい
る。
【0012】
【発明の実施の態様】添付の図面を参照して、例によっ
てのみ本発明を説明しよう。図面では類似の参照符号は
類似の部分を示している。
【0013】さて図1を参照して、フラッシュメモリの
アレイ接地 100のための引き上げ及び引き下げ回路はア
レイ接地を接地電位線 102へ接続する大きいnチャネル
電界効果トランジスタ装置 101と、アレイ接地と、例え
ば、約12ボルトの正電源Vppを受け取る正電源線 104と
の間へ接続されたpチャネル電界効果トランジスタ装置
103とを有している。
【0014】読取動作とプログラム動作との双方の間
に、nチャネル電界効果トランジスタ101のゲートが約
3ボルトと5ボルトとの間の正電源Vccへの接続により
高電位に維持される。その結果、引き下げ電界効果トラ
ンジスタ 101は導通し、アレイ接地 100は接地電位に維
持される。消去動作の間は、引き下げ電界効果トランジ
スタ 101のゲートは接地電位へ接続されて、かくして引
き下げ装置をカットオフし、且つ引き上げ電界効果トラ
ンジスタ 103のゲートは低電位、例えば接地電位を受け
とるので、引き上げ装置は強力に導通する。それでアレ
イ接地 100は引き上げ装置 103を介して線 104で正電源
Vppへ接続される。
【0015】例えば引き上げ及び引き下げ電界効果トラ
ンジスタのゲートへ印加される制御電圧は、導通してい
る装置に対して他の装置がターンオンされる前に非導通
になることを許容するように時間移動されるので、この
記載は単純化された。
【0016】次に図2を参照して、アレイ接地 100はn
チャネル電界効果トランジスタ装置101を介して接地電
位線 102へ、及びpチャネル電界効果トランジスタ 201
と抵抗 202との直列接続を介して正電源線 104へ接続さ
れている。この代わりの装置においては、nチャネル装
置 101のゲートは、それぞれ接地電位からアレイ接地10
0を絶縁するため、又はアレイ接地 100を大地へ引き下
げるために、接地電位Vssへか又は正電源Vccへ接続さ
れる。pチャネル装置 201のゲートは電界効果トランジ
スタ 201をスイッチオンするため大地へ接続され、かく
してアレイ接地100を結合点 104上の正電位へ引き上げ
るか、又は電界効果トランジスタ 201をスイッチオフす
るために正結合点 104へ接続される。
【0017】先に述べたように、上述の装置は静止状態
における源泉(又はシンク)の高電流に対する要求と低
過渡電流を与えることとの間の折衷案を表現している。
【0018】次に図3を参照して、フラッシュメモリの
アレイ接地のような容量性線 300が引き上げ回路 310と
引き下げ回路 320とへ接続されている。制御回路が引き
上げ及び引き下げ回路を制御する。制御回路は負荷電圧
応答回路又はその代わりに時間応答回路であってもよ
い。
【0019】引き上げ回路はpチャネル電界効果トラン
ジスタである第1活性装置 330とこれもpチャネル電界
効果トランジスタである第2活性装置 340とを有してい
る。二つの電界効果トランジスタ 330と 340とは、負荷
300と正供給結合点 350との間へ、並列にそれらのドレ
イン〜ソース通路により接続されている。
【0020】引き下げ回路はnチャネル電界効果トラン
ジスタである第3活性装置 360、及びこれもnチャネル
電界効果トランジスタである第4活性装置 370を有す
る。第3活性装置 360のドレイン〜ソース通路は、これ
もnチャネル電界効果トランジスタである第5活性装置
380のドレイン〜ソース通路と直列に接続されている。
第3及び第5電界効果トランジスタ 360及び 380のドレ
イン〜ソース通路の直列接続は、負荷 300と接地電位に
おける規準結合点 390との間へ接続されている。第4電
界効果トランジスタ 370のドレイン〜ソース通路も負荷
と規準ゲート結合点 390との間へ接続されている。
【0021】これらの電界効果トランジスタの幅‐長さ
比は次の通りである。 330 60/2 340 140/2 360 15/2 370 1154/1.6 380 15/2
【0022】動作においては、第3電界効果トランジス
タ 360のゲートが通常は高電位へバイアスされるので、
第3電界効果トランジスタ 360は低抵抗を演じる。
【0023】第1の瞬時においては、負荷結合点 300は
第1の比較的高いインピーダンス通路を与える第3電界
効果トランジスタ 360と第5電界効果トランジスタ 380
との直列接続を介し、且つ第2の比較的低いインピーダ
ンス通路を与えるもっと非常に大きい第4電界効果トラ
ンジスタ 370を介して規準電位 390へ接続されると仮定
しよう。この第1の瞬時の後のある時に、第4及び第5
電界効果トランジスタが、それらのゲート電位を大地電
位とすることによりターンオフされる。これが負荷 300
への引き下げ電流の印加を終了させる。
【0024】第3及び第4電界効果トランジスタが完全
に非導通になることを許容するのに適した時間の後に、
パルスが第1電界効果トランジスタ 330のゲートへ印加
されて、それが比較的高いインピーダンス通路を与える
ことによりその装置の導通を開始する。従って電流が負
荷へ第1電界効果トランジスタ 330を通って正供給結合
点 350から流れる。負荷のキャパシタンスが充電される
ので、負荷電圧が上がり始める。
【0025】制御回路が高電圧に第2電界効果トランジ
スタ 340のゲートを維持し、それにより第2電界効果ト
ランジスタは非導通を維持する。
【0026】制御回路が負荷電圧に応答でき且つ負荷の
電圧が予め決められたレベル、例えば約4ボルトに上が
った場合に、負荷電圧応答回路が第2電界効果トランジ
スタ340をターンオンする。代わりに制御回路が時間応
答できてもよく、それにより第2電界効果トランジスタ
340が予め決められた期間の後にターンオンされる。第
2電界効果トランジスタ 340は第1電界効果トランジス
タ 330の面積の二倍以上を有するので、供給結合点 350
から負荷へ与えられるインピーダンスは大幅に低下し、
ついで双方の電界効果トランジスタが導通する。結局容
量性負荷 300は第1電界効果トランジスタ 330と第2電
界効果トランジスタ 340との並列電流輸送容量により決
められるソーシング能力により、約12ボルトの供給電位
へほぼ到達する。
【0027】負荷結合点 300が接地電位へ返ることが望
ましいもっと後の時に、第1電界効果トランジスタ 330
と第2電界効果トランジスタ 340とがそれらのそれぞれ
のゲートへの高電圧の印加によりターンオフされる。一
旦引き上げ電流の供給が終了してしまうと、言い換えれ
ば第1電界効果トランジスタ 330と第2電界効果トラン
ジスタ 340とが完全に非導通になった場合に、第5電界
効果トランジスタ 380のゲートが「オン」電位を供給さ
れるので、負荷結合点が第3電界効果トランジスタ 360
と第5電界効果トランジスタ 380とのドレイン〜ソース
通路の直列接続を通って放電する。負荷電圧応答制御回
路は負荷結合点 300上の電圧を監視し且つ負荷結合点電
圧が予め決められたレベル、例えば1ボルトへ低下する
まで第4電界効果トランジスタ 370をオフ状態に維持す
る。代わりに、制御回路は時間依存であってもよく、そ
の場合には予め決められた時間が経過してしまうまで第
4電界効果トランジスタ 370をオフに維持する。双方の
場合に制御回路が第4電界効果トランジスタ 370のゲー
トへ「オン」電位を最終的に印加するようにトランジス
タを順次に切り換える。第4電界効果トランジスタは第
3電界効果トランジスタ 360と第5電界効果トランジス
タ 380との直列接続の通路の面積よりも大幅に大きい面
積を有しており、且つ従って一旦第4電界効果トランジ
スタがオンすると、負荷結合点 300は低インピーダンス
を通って接地電位へもたらされて、その後低インピーダ
ンスを通って接地電位に維持される。
【0028】次に図4〜8を参照して、本発明の第2実
施例を説明しよう。
【0029】図4は引き上げ回路 141と引き下げ回路 1
42とへ接続されたアレイ接地 300を有するフラッシュメ
モリの一部を示している。引き上げ回路 141は、第1供
給電圧Vppを受け取る動作における、正供給結合点 143
とアレイ接地との間に接続されたpチャネル電界効果ト
ランジスタである第1電流供給回路 401と、3個の並列
電界効果トランジスタ 403〜405 から成る第2電流供給
回路 402とを有している。第2電流供給回路も供給結合
点 143とアレイ接地との間に接続されている。
【0030】引き下げ回路 142はアレイ接地 300と接地
電位結合点 407との間へ接続された2個のnチャネル電
界効果トランジスタ 406, 409 の直列回路から成る第3
電流供給回路を有している。第4電流供給回路は、接地
電位結合点 407へアレイ接地300を接続するnチャネル
電界効果トランジスタ 408である。
【0031】直列に接続されたそれらのドレイン〜ソー
ス通路を有する2個のnチャネル電界効果トランジスタ
410及び 411から成る装置もアレイ接地 300と接地電位
結合点 407との間へ接続されている。電界効果トランジ
スタ 411のゲートは抑止入力端子 430へ結合されてい
る。電界効果トランジスタ 410と409 とのゲートはバイ
アス端子 441へ接続されており、それが動作中にそれら
を導通にするために充分な直流電圧を受け取る。電界効
果トランジスタ 409と 410とはアレイ接地上に存在する
電圧が単一の装置のチャネルの両端に現れないように電
圧降下装置として動作する。電界効果トランジスタ 406
と 409の、及び電界効果トランジスタ 410と 411の直列
配置がそれらのトランジスタの間の電圧の効果的な共有
となる。それらの共有無しでは、単一装置の破壊が起こ
り得る。
【0032】第1電界効果トランジスタ 401のゲート
は、第1トリガ回路 420へ接続さている。図5を参照し
てもっと完全に詳述されるはずの第1トリガ回路は、抑
止入力端子 430からと、トリガ入力端子 431からと、バ
イアス端子 441から、及び供給レベル論理端子 432から
入力を受け取る。電界効果トランジスタ 403〜405 のゲ
ートはそれぞれの電界効果トランジスタ 403, 404, 405
へ各々接続された3個の類似の駆動装置4211, 4212, 42
13である、第2トリガ回路 421へ接続され且つそれによ
り制御される。図6を参照してもっと完全に詳述される
はずの第2トリガ回路の駆動装置は、トリガ入力端子 4
31からと、バイアス端子 441からと、それぞれの引き上
げ可能化入力端子 451〜453 からと、ここに後で詳述さ
れる引き上げ装置選択回路から入力を受け取る。
【0033】nチャネル電界効果トランジスタ 406が、
第3トリガ回路を形成する直列接続された位相反転器 4
22と 423とを介して制御端子 440へ接続されている。第
1入力端子 440へは消去スイッチクロック制御回路から
得られる第2の遅延された消去パルス(E) が印加され、
その回路は図7に関してここに後でもっと完全に詳述さ
れるはずである。バイアス端子 441も、第1トリガ回路
420と第2トリガ回路421とへ接続されている。第4電
流供給回路の電界効果トランジスタ 408のゲートが第4
トリガ回路を形成する論理装置を介して、第3制御端子
442と第4制御端子 443とへ接続されている。論理装置
はトランジスタ 408のゲートへ接続された位相反転器 4
24から構成され、位相反転器の入力端子は、2個の入力
端子が共通に第1NOR ゲート 426の出力端子へ接続され
ている第1NANDゲート 425の出力端子へ接続されてい
る。第1NOR ゲート 426への一方の入力端子は第3制御
端子442へ接続され、第1NOR ゲート 426への他方の入
力端子は別の位相反転器 427を介して第4制御端子 443
へ接続されている。
【0034】第4制御端子 443へは、遅延されない消去
パルス(-ERASE)が供給され、第3制御端子へは、図8に
関してここにもっと完全に記載され且つここではしきい
回路とも呼ばれるアレイ接地フィードバック制御回路の
出力が供給される。
【0035】フラッシュメモリの一部、例えば図8に関
して記載されるフィードバック制御回路、及びここでは
特に記載されない他の要素が、名目5ボルトにおいてか
又は名目3ボルトにおいてかのいずれかであり得るか、
又は特定の条件下では事実上存在しない第2正供給電圧
Vccを受け取る。第2正供給電圧Vccが低電圧である場
合には、「高」レベルの供給レベル論理信号が供給レベ
ル論理端子 432へ印加される。供給が存在しない場合
は、「高」レベルの抑止信号が抑止入力端子 430へ印加
される。
【0036】次に図5を参照して、第1トリガ回路 420
は、正供給結合点 503と第1及び第2出力結合点 504及
び 505との間へ接続されたチャネルを有するpチャネル
電界効果トランジスタ 501及び 502の交差結合された対
から成っている。動作中に、第2出力結合点は第1引き
上げ回路の電界効果トランジスタ 401のゲートを供給す
る。第1pチャネル電界効果トランジスタ 501のチャネ
ルと直列に第3nチャネル電界効果トランジスタ 506と
第4nチャネル電界効果トランジスタ 507との直列接続
がある。トランジスタ 506と 507とに共通な結合点が、
第5電界効果トランジスタ 508を介して接地電位結合点
407へ接続され、第4電界効果トランジスタ 507のチャ
ネルの他端も接地電位結合点 407へ接続されている。第
2出力結合点 505は第6nチャネル電界効果トランジス
タ 509と第7nチャネル電界効果トランジスタ 510との
直列接続を介して接地電位結合点 407へ接続されてい
る。第6及び第7電界効果トランジスタに共通な結合点
が第8nチャネル電界効果トランジスタ 511を介して大
地へ接続されている。第3及び第6電界効果トランジス
タ 506及び 509のゲートは一緒に共通にされて且つバイ
アス入力端子 512へ接続さている。
【0037】消去初期化高電圧スイッチとも呼ばれる第
1トリガ回路 420は、更に第2及び第3制御入力端子 5
20及び 521と、上述の抑止信号のための第4入力端子 5
22及び上述の供給レベル論理信号のための第5入力端子
523を有する。
【0038】第2及び第3制御入力端子 520及び 521
が、出力が第1位相反転器 531により反転されるNOR ゲ
ート 530への2個の入力端子を形成している。第4電界
効果トランジスタ 507のゲートへ印加され、且つ第2NO
R ゲート 532へも供給される信号を第1位相反転器 531
の出力端子が形成する。NOR ゲート 532の第2入力は第
4入力端子 522から得られ、その入力端子は第5電界効
果トランジスタ 508のゲートに対する制御も与える。NO
R ゲート 532の出力が第7電界効果トランジスタ510の
ゲートのための入力信号を形成し、且つ更に出力が第8
nチャネル電界効果トランジスタ 511に対する制御信号
を与える第3NOR ゲート 534の一つの入力端子へ第2位
相反転器 533を介して供給される。第3NOR ゲート 534
の第2入力は、第3位相反転器 535を介して第5入力端
子 523から得られる。ここに記載された回路内のどこで
もの論理ゲートと位相反転器とに共通に、NOR ゲート 5
30,532 及び 534、及び位相反転器 531,533 及び 535
が先に述べた正電源Vccから供給されて、それは利用で
は名目3ボルト又は名目5ボルトであり得る。論理回路
の出力応答は5ボルトを供給された場合に対して3ボル
トを供給された場合は異なるであろうことは、この技術
に熟達した人々により理解されるであろう。特に、図5
に関してここに記載された回路では、NOR ゲート 532の
出力範囲は3ボルト供給に対して約3ボルトと約0ボル
トとの間であり、5ボルト供給に対して約5ボルトと約
0ボルトとの間となるであろう。
【0039】動作においては図4のバイアス端子 441へ
接続されるバイアス入力端子はオンされるべき第3及び
第6電界効果トランジスタ 506, 509 をバイアスするた
めに充分な電圧を受け取る。第3制御入力端子 521は大
地へ接続され且つ第2制御入力端子 520は第1の遅延さ
れた消去パルス(-E)を受け取るために図4のトリガ入力
端子 431へ接続されている。一部がここに記載されてい
るフラッシュメモリは2個の正電源を受け取る。先に説
明したように、第4入力端子へ印加される抑止信号は電
源Vccが事実上存在しない場合には高い。第5入力端子
へ印加される供給レベル論理信号は高であり、そこでメ
モリが名目的に3ボルトのVccで動作する。
【0040】上述の論理装置は関連するトランジスタに
対して次の制御条件を与える。
【0041】第4トランジスタ 507は、第1の遅延され
た消去パルス(-E)が高い場合にオンとなる。
【0042】第5トランジスタ 508は、抑止信号が高で
ある、すなわちVccが欠ける場合に「オン」となる。
【0043】第7トランジスタ 510は、第1の遅延され
た消去パルス(-E)及び抑止の双方が低である、すなわち
Vccが欠けない場合にのみ「オン」となる。
【0044】第8nチャネル電界効果トランジスタ 511
は、供給レベル論理信号が高く、且つ第1の遅延された
消去パルスと抑止とが双方とも低い場合に、すなわちV
ccが低く、Vccが欠けて検出されず、且つ第1の遅延さ
れた消去パルスが存在する場合にのみターンオンされる
であろう。
【0045】交差結合された第1及び第2pチャネル電
界効果トランジスタ 501及び 502が第3及び第6トラン
ジスタ 506及び 509により形成された二重ゲート装置と
協力して双安定装置を形成している。この双安定装置は
次のように動作する。
【0046】バイアス入力端子 512へ印加されたバイア
スにより、第3及び第6電界効果トランジスタ 506及び
509がターンオンされる。正供給電圧が双安定接続され
た第1及び第2pチャネル電界効果トランジスタ 501及
び 502へ印加され且つ、電界効果トランジスタ 507, 50
8, 510又は 511のうちの一つが導通した場合に第1電界
効果トランジスタ 501又は第2電界効果トランジスタ 5
02のいずれかが導通するはずである。例えば高い第1の
遅延された消去パルスが第2制御端子 520へ印加された
場合に、上述のように第4トランジスタ 507がターンオ
ンされるはずである。それ故に第1出力結合点 504にお
ける電圧は直列接続された「オン」電界効果トランジス
タ 506及び 507により引き下げられる。出力結合点 504
が第2電界効果トランジスタ 502のゲートへ接続される
ので、第2電界効果トランジスタ502がターンオンさ
れ、それが第2出力結合点 505を結合点 503における正
供給結合点電位とほぼ同じ電位に上げさせる。第2出力
結合点 505の上昇が第1電流供給回路の電界効果トラン
ジスタ 401をターンオフする。第2出力結合点 505は第
1電界効果トランジスタ 501のゲートへ接続され、結果
として第1電界効果トランジスタ 501がターンオフする
であろう。双安定はかくして第2出力端子 505を高に且
つ第1出力端子 504を低に設定される。
【0047】低い第1の遅延された消去パルス(-E)及び
低い抑止信号が印加された場合に、トランジスタ 510が
ターンオンし、第2出力結合点 505を引き下げ且つ第1
電流供給回路を活性にする。
【0048】上に記載したように、Vcc電源が高い5ボ
ルトの名目レベルである場合には、NOR ゲート 532の出
力端子は論理高状態で約5ボルトとなるであろう。これ
が第7トランジスタ 510を比較的確実にターンオンする
ので、トランジスタにより通過される最大電流は比較的
大きい。しかしながら、Vcc電源が低い3ボルトの名目
レベルにある場合には、NOR ゲート 532の出力端子は論
理低状態で約3ボルトだけとなるであろう。第7トラン
ジスタ 510のゲートへ印加されるこの電圧は比較的弱く
トランジスタをターンオンするだけであるので、トラン
ジスタにより通過される最大電流は比較的少ない。しか
しながら、論理低状態と論理高状態との間の遷移は供給
電圧に従って変わるはずであるから、例えば 1.5ボルト
のしきい値は高い供給電圧によりもっと迅速に読まれる
はずで、入力の変化と同じ速度を呈する。
【0049】3ボルト条件のもとで第1pチャネル電界
効果トランジスタ 501のゲートと第2pチャネル電界効
果トランジスタ 502とからの付加的な電流シンキング能
力を与えるように、第8nチャネル電界効果トランジス
タ511 はVccレベルが低の場合のみに活性にされる。こ
の第8nチャネル電界効果トランジスタ 511は、3ボル
ト供給条件のもとで、第2制御入力端子 520への遅延さ
れた消去パルス(-E)の印加と、電流供給可能化トランジ
スタの第2出力結合点 505への出現との間の全体遅延
は、5ボルト条件のもとでの第7nチャネル電界効果ト
ランジスタ 510により与えられるのと同じであるように
寸法決めされる。かくして、関連する論理回路(534, 5
35)と一緒に、第8nチャネル電界効果トランジスタ 5
11が二つのVccモードにおける第1トリガ回路の動作を
均等化するための補償回路を構成する。
【0050】次に図6を参照して第2トリガ回路の駆動
装置を説明しよう。
【0051】駆動装置 600は先に記載した第1トリガ回
路といくらか類似しており、且つ第3及び第6電界効果
トランジスタ 506及び 509のうちのそれぞれ一つへ各々
接続された第1及び第2の交差結合された双安定電界効
果トランジスタ 501及び 502を有している。第3及び第
6電界効果トランジスタ 506及び 509の共通ゲートがバ
イアス入力端子 512へ結合されている。
【0052】第3電界効果トランジスタ 506のチャネル
の他端は、第1NOR ゲート 530と第1位相反転器 531と
の類似の組み合わせにより制御される、並列な第4及び
第5電界効果トランジスタ 507及び 508を有する電流通
路を介して接地電位へ結合されている。
【0053】第6電界効果トランジスタ 509のチャネル
の他端は、電界効果トランジスタの並列組み合わせを介
して接地電位結合点 407へ接続されている代わりに、第
7電界効果トランジスタ 601と第8電界効果トランジス
タ 602との直列接続を介して接地電位結合点 407へ代わ
りに接続されている。第8電界効果トランジスタ 602の
ゲートは、図5を参照して記載されたように、第2NOR
ゲート 532へ接続されている。しかしながら第7電界効
果トランジスタ 601のゲートはアレイ接地結合点 300へ
印加される電位を受け取る入力端子 603へ接続されてい
る。
【0054】動作中には、図5を参照して記載されたよ
うに、第2制御入力端子 520は遅延された消去パルス(-
E)へ接続されるが、第3制御入力端子 521は、大地へ接
続されているよりもむしろ代わりにそれぞれの引き上げ
可能化入力端子 451〜453 から(図4)制御電圧を受け
取る。制御電圧が駆動装置を且つ従って特定の引き上げ
トランジスタ 403, 404, 405を選択又は非選択する。し
かしながら上述の実施例においては、動作できる特定の
駆動装置及び引き上げトランジスタは、初期試験の間に
選択されて、且つその後は変えられなくてもよい。
【0055】第1NOR ゲート 530は、遅延された消去パ
ルス(-E)と第3入力端子 521へ印加される制御パルスと
のいずれか又は双方が高い場合に低となる。かくして位
相反転器 531による反転の後に、第2及び第3制御入力
端子 520及び 521へ印加される入力のいずれか一方又は
双方が高である場合に第4電界効果トランジスタ 507が
ターンオンされる。
【0056】図5を参照して記載されたように、第5電
界効果トランジスタ 508は先に論じた抑制信号を受け取
る第4入力端子 522へ接続され、それ故に抑制信号が低
にある場合に、すなわち供給電圧Vccが欠けていない場
合に第5電界効果トランジスタ 508がオフとなる。
【0057】第2の分枝又は言い換えれば第2、第6、
第7及び第8電界効果トランジスタ502, 509, 601及び
602から成る第2トリガ回路の駆動回路の電流通路に頼
り、第5入力端子 603へ印加されるアレイ接地電位が予
め決められたレベル、例えば約4ボルトよりも大きい場
合に、第7電界効果トランジスタ 601がターンオンされ
る。抑止信号が低であり、且つ同時に第3制御入力端子
521へ印加される引き上げ可能化入力と第2制御入力端
子 520へ印加される遅延された消去パルス(-E)との双方
が低である場合にのみ、直列の第8電界効果トランジス
タ 602がターンオンされる。低であるべき出力端子 505
に対して(出力端子 505は関連する引き上げトランジス
タ 403〜405 をターンオンするために低になる必要があ
る)引き上げ可能化入力と遅延された消去入力とが低で
なくてはならず、アレイ接地電位は上述の予め決められ
たレベルの上でなくてはならず且つ抑止信号は低であ
る。
【0058】図7を参照して次に消去スイッチクロック
制御回路を説明しよう。
【0059】アレイスイッチクロック制御回路は2個の
普通は並列な交差結合された通路から成っている。第1
通路は回路入力端子 702へ接続された第1入力端子、及
び後で詳述されるはずの第2入力端子を有する第1NAND
ゲート 701を有している。第1NANDゲート 701の出力端
子は7個の位相反転器回路 703〜709 の直列接続された
連鎖へ接続されている。第2通路は回路入力端子 702か
ら入力を受け取り且つ第2NANDゲート 711の1個の入力
端子へ接続された出力端子を有する第8位相反転器 710
を有している。第2NANDゲート 711の第2入力端子は後
で詳述されるはずである。第2NANDゲート 711の出力端
子は6個の位相反転器 712〜717 の直列連鎖へ接続され
ている。
【0060】第1通路においては第4及び第5位相反転
器 706及び 707と共通の結合点が第2NANDゲート 711の
第2入力端子へ交差接続されており、第2通路において
は位相反転器 715と 716とに共通の結合点が第1NANDゲ
ート 701の第2入力端子へ交差接続されている。遅延さ
れた出力信号がそれぞれの端子 718と 719とで、位相反
転器 709と 717の出力端子から引き出される。
【0061】次に消去スイッチクロック制御回路の動作
を説明しよう。
【0062】入力端子 702は低にあると仮定しよう。そ
の時第1NANDゲート 701の第1入力端子も低になり、且
つ第8位相反転器 710によって、第2NANDゲート 711の
第1入力端子は高になる。双方のゲート入力端子が高に
ある場合にのみ第1NANDゲート 701の出力端子は低に成
り得て、且つ先に述べたように第1入力端子が低である
ので、第1NANDゲート 701の出力端子は高である。位相
反転器 703の出力端子は低となり、位相反転器 704の出
力端子は高となり、位相反転器 705の出力端子は低とな
り、位相反転器 706の出力端子は高となる。この最後に
述べた高が第2NANDゲート 711の第2入力端子へ交差接
続されており、従って、第2NANDゲート711は低電位で
の出力を有する。位相反転器 712の出力端子は従って高
となり、位相反転器 713の出力端子は低となり、位相反
転器 714の出力端子は高となり、且つ位相反転器 715の
出力端子は低となる。この最後に述べた低電位が第1NA
NDゲート 701の第2入力端子へ印加される。同じ分析に
より、端子 718での第1連鎖の出力は低となり、且つ端
子 719での第2連鎖の出力は同様に低となる。
【0063】他方の定常状態条件に対してすなわち、回
路入力端子 702における入力が高である場合は、上述の
定常状態条件と反対の条件に属し、言い換えれば出力は
双方とも高となる。しかしながら入力が低から高に変わ
る過渡状態においては、且つ全部の位相反転器が同じ信
号遅延を誘発すると仮定して、第2NANDゲート 711の出
力は2周期の遅延の後に高へ状態を変え、且つその変化
は更に4周期の後に位相反転器 715の出力端子に到達す
る。2個の別の周期の後に位相反転器 717の出力端子は
状態を変える。しかしながら第1通路においては位相反
転器 715の出力端子が変化した状態を有するまで、すな
わち7周期後まで、第1NANDゲート 701の出力端子は状
態を変えない。位相反転器 709の出力端子は更に7周期
後に状態を変える。従ってこの回路の結果は端子 719に
おける第1の遅延された消去パルス(-E)を与えるための
端子 702における入力消去パルスに応答することになっ
ており、それが端子 718における第2の遅延された消去
パルス(E) の状態の対応する変化の規定された周期前に
状態を低から高に変え、且つそのことが第2の遅延され
た消去パルス(E) の対応する変遷の規定された周期後に
状態を高から低に変える。
【0064】次にアレイ接地フィードバック制御回路す
なわちしきい回路を、図8を参照して説明しよう。
【0065】アレイフィードバック制御回路は、動作中
にアレイ接地結合点 300へ接続される第1入力端子 801
を有している。この回路は先に論じた供給レベル論理信
号を受け取る第2入力端子 802を有している。この回路
は普通は2個の並列な分枝から成っており、各分枝は供
給結合点 803と中間結合点 804との間に接続された2個
のpチャネル電界効果トランジスタの直列接続を有して
いる。第1分枝は接地電位へ接続されたゲートを有する
第1電界効果トランジスタ 805と、ゲートが第1入力端
子 801へ接続されている第2直列電界効果トランジスタ
806との有している。第2分枝はゲートが第1位相反転
器 808を介して第2入力端子 802へ接続されている第3
電界効果トランジスタ 807を有し、第2分枝はゲートが
第1入力端子 801へ接続されている第4電界効果トラン
ジスタ 809も有している。第1及び第3電界効果トラン
ジスタ 805及び 807のチャネルの一端は供給結合点 803
へ接続されており、電界効果トランジスタ 806及び 809
のチャネルの遠方端部は中間結合点 804へ接続されてい
る。この中間結合点は、第5電界効果トランジスタ810
を介して接地電位へ接続されており、その電界効果トラ
ンジスタは第1入力端子 801へ接続されたゲートを有す
るnチャネル装置である。中間結合点 804は第2位相反
転器 812を通って出力端子 811へ接続されている。
【0066】動作中は第2及び第5電界効果トランジス
タと第4及び第5電界効果トランジスタがそれぞれ位相
反転器を形成するので中間結合点 804の論理状態は安定
状態において第1入力端子 801の論理状態と逆である。
従って、安定状態においては出力端子 811は第1入力端
子 801の状態を追従する。しかしながらこの位相反転器
装置は約1ボルトのしきい値を有しそれにより出力端子
811は入力端子 801へ印加されるアレイ接地結合点 300
が約1ボルトである場合に状態を変化する。
【0067】先に記載したようにフラッシュメモリアレ
イは、3又は5ボルトの供給結合点803へ印加された第
2正供給電圧Vccにより動作することができる。メモリ
が名目的に3ボルトのVccで動作している場合に、第2
入力端子 802へ印加される供給レベル論理信号は高であ
る。この状態においては、前記したように、第3電界効
果トランジスタ 807が導通しそれにより充分な電流が中
間結合点 804を適切に充電することを保証する。2個の
通路、すなわち第5電界効果トランジスタ 810と一緒
に、上述の第1分枝単独を有する第1通路と、一緒に上
述の第1及び第2分枝、及び第5電界効果トランジスタ
810を有する第2通路とが、供給結合点における電圧が
供給の二つの値の間を切り換えてさえも、一定の切換し
きい値が維持されることを許容する。
【0068】次に図9を参照して引き上げ装置選択器回
路を説明しよう。
【0069】選択器回路 900はメモリ回路 901と検出器
回路 902とから成っている。メモリ回路 901は3個のい
わゆる「UPROM 」セルから成っており、それらのセルの
各々が一緒に交差結合された2個の浮動ゲートトランジ
スタセルのラッチである。各UPROM セルの出力は、2個
の浮動ゲートセルのうちのどちらの浮動ゲートセルがプ
ログラムされたかに依存して論理1か又は論理0であ
り、デフォルト出力は論理0である。メモリ回路の出力
は3個の線 903, 904 及び905 上に与えられ、これらの
線が検出器回路 902への入力端子を形成している。検出
器回路 902は図4の駆動装置4211, 4212及び4213へ入力
を与える出力線 451, 452 及び453 を有している。メモ
リ回路 901は、初期試験、及び引き上げトランジスタ 4
03, 404 及び405 のうちのどの引き上げトランジスタ
が、又は引き上げトランジスタ 403,404 及び405 のど
の組み合わせが活性化されねばならないかを選択するた
めにメモリアレイの設定の間に動作されるプログラミン
グ入力 906も受け取る。この実施例では、引き上げトラ
ンジスタの選択は、その装置の寿命の間に1回だけ実行
される。検出器回路 902は、全部が論理0にあるデフォ
ルト入力に応じて、所望の非零数の引き上げトランジス
タ 403, 404 及び405 を活性化する出力を与える論理回
路から成っている。この説明した実施例では、トランジ
スタ 403〜405 の長さに対する幅の比は全部異なり、且
つトランジスタ 401の長さに対する幅の比と異なってい
る。例えばトランジスタ 401, 403, 404及び405 の幅/
長さ比は、それぞれ60/2, 20/2, 40/2及び 80/2 であっ
てもよい。トランジスタ 401, 403,404及び405 の異な
る組み合わせを活性化することにより、消去動作中のア
レイ接地線 300上の電圧が制御され得る。このアレイ接
地電圧は関連するフラッシュメモリの寿命に影響を有す
ると信じられている。検出器回路 902の設計は種々の引
き上げトランジスタ 401〜405 の幅に対する長さの値に
依存し、且つ入力 903〜905 と出力 451〜453 との間の
望ましい関係に基づくだろう。
【0070】次に再び図4を参照して、ソース電圧切換
回路の動作を説明しよう。
【0071】第4電流供給回路電界効果トランジスタ 4
08により引き下げされている安定状態では、アレイ接地
結合点 300はほぼ接地電位にあると仮定しよう。第4電
界効果トランジスタは大きい電流を吸収することができ
る大面積装置である。アレイ接地 300と関連するメモリ
セルの内容を消去することが望まれる場合には、図7を
参照してここに記載されたアレイスイッチクロック制御
回路の入力端子 702へ印加され、且つ現在説明されてい
る源泉スイッチの第4入力端子 443へ接続される消去線
が、高レベルから低レベルへ状態を変える。従って位相
反転器 427の出力が高となり、論理回路により、それが
位相反転器 424の出力端子に第4電界効果トランジスタ
408のゲートを放電させ、それにより電界効果トランジ
スタがターンオフを始める。
【0072】先に図7に関して詳述したアレイスイッチ
クロック制御回路は、第1の遅延された消去クロックパ
ルス(-E)において及び第2の遅延された消去クロックパ
ルス(E) において低下遷移を作りだす。低下遷移は第2
の遅延された消去クロックパルス(E) において最初に起
こり、そのパルスは第3電流供給回路の電界効果トラン
ジスタ 406のゲートへ、直列位相反転器 422, 423 を介
して印加されるので、この電界効果トランジスタはター
ンオフする。予め決められた遅延の後に、第1の遅延さ
れた消去クロックパルス(-E)が作り出される。低下遷移
の間の時間は、第1の遅延された消去クロックパルス(-
E)における遷移が第1トリガ回路 420への入力端子に現
れる前にターンオフされるのに電界効果トランジスタ 4
06に対して充分であるように選択される。
【0073】トリガ入力端子 431における低下遷移の出
現が、第1トリガ回路 420に第1電流供給回路の電界効
果トランジスタ 401をスイッチオンさせる。
【0074】その時電流はアレイ接地結合点 300へ第1
電流供給回路電界効果トランジスタ401を介して供給結
合点 143から供給される。先に論じたように、アレイ接
地結合点は潜在的に多数のフラッシュメモリセルに対し
て共通であり、且つ従って相当なキャパシタンスを有す
る。電流は第1電界効果トランジスタ 401を通ってその
結合点へ流れるので、結合点電圧が上がる。電圧の上昇
の速度は比較的小さい第1電界効果トランジスタ 401の
インピーダンスにより決定される。
【0075】アレイ接地結合点 300上の電圧は第2トリ
ガ回路 421の駆動装置4211, 4212,4213のアレイ接地入
力端子へ接続されている。駆動装置の各々は第2電流供
給回路 402の電界効果トランジスタ 403〜405 のうちの
それぞれ1個のゲートへ接続されたそれぞれ第2出力端
子を有している。駆動装置4211, 4212, 4213の各々がそ
れのそれぞれ第2入力端子において(第1の遅延された
消去パルス信号から)低電圧を受け取り、正常条件のも
とでは第4入力端子 522において低レベル抑止信号も受
け取る。しかしながら駆動装置4211, 4212, 4213の幾つ
かのみが対応する引き上げ可能化入力端子 451〜453 に
おける低電位の印加により活性化されるために選択され
る。従って、選択された駆動装置においてそれぞれの第
2NOR ゲート 532が高レベルにおける出力を有し、それ
ぞれの第8電界効果トランジスタ602を導通させる。ア
レイ接地結合点電圧が増大するので、各選択された駆動
装置の第7電界効果トランジスタ 601が導通となり、選
択された駆動装置の対応する第2出力端子が状態を変え
る。従って引き上げ可能化入力により選択された電界効
果トランジスタ 403〜405 が導通へバイアスされる。
【0076】消去期間の終わりにおいてアレイ接地結合
点 300上の電圧は、ほぼ供給結合点143における電圧、
言い換えれば約12ボルトであり、源泉スイッチの第4制
御端子 443へ及びアレイスイッチクロック制御回路の入
力端子 702へ印加される消去パルスはもう一度高にな
る。これに応答して第1の遅延された消去パルス(-E)も
最初の遅延の後に高となり、第2の遅延された消去パル
ス(E) が第2の大きい遅延の後に高となる。高となる第
1の遅延された消去クロックパルスの結果は、第1及び
第2トリガ回路 420及び 421内のそれぞれの第5トラン
ジスタをターンオンすることであり、それにより各回路
の第2出力結合点 505を高状態へ戻す。従って4個の並
列nチャネル電界効果トランジスタ 401〜405 がターン
オフする。消去パルスは第4nチャネル電界効果トラン
ジスタ 408へ先に論じた論理回路を介して印加されるけ
れども、この電界効果トランジスタの動作は源泉スイッ
チの第3制御端子 442上の高電位の存在により抑止さ
れ、この電位は出力端子 811におけるアレイ接地フィー
ドバック制御回路から引き出される。
【0077】上述のように源泉スイッチの第1入力端子
440へ印加される第2の遅延さた消去パルス(E) は、第
1の遅延された消去パルス(-E)よりも幾らか遅れて、且
つ2個の位相反転器 422及び 423の直列接続により起こ
された別の遅延の後に生じ、この第2の遅延された消去
パルスがnチャネル電界効果トランジスタ 406を活性化
する。電界効果トランジスタ 409はすでに源泉スイッチ
の第2入力端子(バイアス端子) 441におけるバイアス
により導通状態に維持されており、このバイアスは第1
トリガ回路 420の第1入力端子(バイアス入力端子) 5
12、及び第2トリガ回路 421の駆動装置4211, 4212, 42
13へも印加される。nチャネル電界効果トランジスタ 4
06が接地電位に向けてアレイ接地結合点 300を引き下げ
る。アレイ接地結合点電位はアレイ接地フィードバック
制御回路により監視され、且つ一旦アレイ接地電位が大
地上の約1ボルトへ低下すると、源泉スイッチの第3制
御端子 442へ印加される、アレイ接地フィードバック制
御回路の出力端子 811におけるアレイ接地制御信号は低
となり、それがその後第4電流供給回路nチャネル電界
効果トランジスタ 408が導通にされることを可能にす
る。先に論じたように一旦電界効果トランジスタ 408が
活性化されると、この装置がアレイ接地へ大きい引き下
げを加えて、アレイ接地が接地端子 407への相当な電流
を吸収することを許容する。
【0078】第2供給電圧Vccが欠けている場合には、
高抑止信号が第1及び第2トリガ回路の抑止信号端子へ
と同時にnチャネル電界効果トランジスタ 411へ印加さ
れ、且つその結果アレイ接地結合点 300は引き下げられ
た位置、言い換えればほぼ接地電位に維持される。
【0079】上述された装置は電圧応答様式で動作する
けれども、関連する電界効果トランジスタが予め決めら
れた時間遅延の後にターンオン及びターンオフされ得る
ことが代わりに期待される。この場合にはその動作は次
のごとくである。
【0080】消去動作の開始において、第4nチャネル
電界効果トランジスタ 408はnチャネル電界効果トラン
ジスタ装置 406と一緒にターンオフされる。第1の予め
決められた期間の後に第1電界効果トランジスタ 401が
ターンオンされる。第2の予め決められた期間の後に、
アレイ接地結合点 300が完全に正供給結合点 143へ引き
上げられるまで、第2電流供給回路 402の他の電界効果
トランジスタがターンオンされる。消去動作の終了にお
いて、電界効果トランジスタ 401〜405 へ印加れる「オ
ン」パルスが終結され、且つそれらの電界効果トランジ
スタがそれ故に非導通となる。第3の予め決められた期
間の後に、第3電流供給回路電界効果トランジスタ 406
が導通にされ且つ更に別の予め決められた期間の後に第
4電界効果トランジスタ 408がターンオンされる。
【0081】本発明は浮動ゲートによる単一トランジス
タセルを有するフラッシュメモリにおいて特に有利であ
る。そのようなフラッシュメモリセルの一つの種類の動
作を添付の図面のうちの図10〜12を参照して以下に説明
しよう。
【0082】図10は、制御ゲートCG、浮動ゲートFG、ソ
ースS、及びドレインDを有する単一浮動ゲートトラン
ジスタ4を具えたフラッシュメモリセル2を図解してい
る。この浮動ゲートトランジスタ4のソースSは、アレ
イ接地線10上のアレイ接地信号へ接続されている。ソー
ス電圧切換回路14を通ってこのアレイ接地線10が接地電
圧VGND 又は高電圧Vppであり得る。電圧Vppはプログ
ラミング電位(典型的には12V)を表現し且つ電圧V
GND は装置接地を表現している。電圧Vppは抵抗(図示
せず)を介してアレイ接地へ正常に接続されている。ソ
ース電圧切換回路14は線34を介して電圧Vppへ及び線36
を介して電圧VGND へ接続されている。浮動ゲートトラ
ンジスタ4の制御ゲートCGはワード線(WL)8によりゲー
ト電圧スイッチ12へ接続されている。ゲート電圧スイッ
チ12は更にそれぞれ線26, 24及び22上の電圧V′cc,V
pp及びVGND へ接続さている。メモリが上述の5ボルト
で第2正供給電圧を供給される場合には、V′ccは5V
である。第2正供給電圧が3ボルトである場合には、約
5ボルトのV′ccに押し上げられる。ソース電圧切換回
路14とゲート電圧スイッチ12とが各々線28上の制御信号
ERASE を受け取り且つ付加的にゲート電圧スイッチ12が
線30上の制御信号PROGRAM を受け取る。浮動ゲートトラ
ンジスタ4のドレインDはビット線(BL)6によりビット
線スイッチ31へ接続されている。ビット線スイッチはさ
らに線27上のプログラム可能負荷回路32の入力端子と線
25上の感知増幅器回路29の入力端子とへ接続されてい
る。線23上の感知増幅器回路29の出力端子がデータ線(D
L)を形成している。ビット線スイッチ31が線21上の制御
信号SELECTを受け取る。プログラム可能負荷回路32が線
38上の負荷制御信号を受け取る。
【0083】フラッシュメモリは3個の動作のモード、
すなわちプログラムモード、消去モード及び読取モード
を有する。これらのモードの各々を図10を参照して以下
に説明しよう。プログラムモードはメモリセル又はメモ
リセルの群へ「0」を書き込むことを伴い、消去モード
はセルが全部効果的に「1」を記憶するようにセル内に
記憶された「0」を有するあらゆるセルから「0」を除
去することを伴い、且つ読取モードはセルがプログラム
されているかまたは消去されているかどうか、すなわち
「0」か又は「1」のいずれを含んでいるかを確立する
ために、セルを読み取ることを伴う。
【0084】プログラムモードの間は、ゲート電圧スイ
ッチ12がワード線8を介して浮動ゲートトランジスタ4
の制御ゲートCGへ線24上の電圧Vppを接続するように形
造られるように、線30上の制御信号PROGRAM が設定され
る。線28上の制御信号ERASEが設定されていないので、
ソース電圧切換回路14はアレイ接地線10を介して浮動ゲ
ートトランジスタ4のソースへ線36上の電圧VGND を接
続するように形造られる。線21上の制御信号SELECTは、
線6のビット線が線27によりプログラム可能負荷回路32
へ接続されるように設定される。線38上の負荷制御信号
は、約5Vの電圧がビット線6を介して、浮動ゲートト
ランジスタ4のドレインD上にあるように、プログラム
可能負荷回路32が制御されるように設定される。浮動ゲ
ートトランジスタ4へ印加されるこれらの信号の結果と
して、電子がチャネル領域内を流れ、且つ浮動ゲートへ
動くので、浮動ゲートFGは負に充電されるようになる。
負の電荷が浮動ゲートトランジスタのしきい電圧を偏移
させ、浮動ゲートトランジスタを少ししか導通させな
い。浮動ゲートに蓄積される負電荷の量は、制御信号PR
OGRAM が設定される持続期間に依存する。この方法で、
「0」がセル内に書き込まれる。普通は、幾つかのプロ
グラムパルスが必要であり、各パルスは検証サイクルに
より引き継がれる。
【0085】消去モードの間は、ゲート電圧スイッチ12
がワード線8を介して浮動ゲートトランジスタ4の制御
ゲートCGへ線22上の電圧VGND を接続するように形造ら
れるように、且つソース電圧切換回路14がアレイ接地線
10を介して、浮動ゲートトランジスタ4のソースSへ線
34上の電圧VPPを接続するように形造られるように、線
28上の制御信号ERASE が設定される。ビット線6が切り
離されてそれが浮動するように、線21上の制御信号SELE
CTが再び設定される。基板内のソース領域が浮動ゲート
の下にあるように浮動ゲートトランジスタが製作されて
いるので、浮動ゲートFG上のあらゆる負電荷が低減され
る。浮動ゲートから除去される負電荷の量は線28上のER
ASE 信号が設定される持続期間に依存する。負電荷の低
減は浮動ゲートトランジスタのしきい電圧を偏移し、浮
動ゲートトランジスタを一層導通させる。この方法でセ
ルの状態が「1」へ復元される。普通は、幾つかの消去
パルスが必要であり、各消去パルスは検証サイクルによ
り引き継がれる。
【0086】読取モードの間は、線28上の制御信号ERAS
E と線30上の制御信号PROGRAM とのいずれもが設定され
ない。その結果として、線26上のV′cc信号がワード線
8を介して浮動ゲートトランジスタ4の制御ゲートへゲ
ート電圧スイッチ12により接続され、且つ線36上の電圧
GND がアレイ接地線10を介して浮動ゲートトランジス
タ4のソースへ接続される。ビット線6は、感知増幅器
回路内で(図示されない)ビット線負荷による読取動作
に先立って、約1ボルトに前充電される。読取動作中
は、(中に記憶されている「1」により)消去されたセ
ルに対して、ビット線が感知のために接続された場合に
電流がセルにより流されるだろう。(中に記憶されてい
る「0」により)プログラムされたセルに対して、電流
はセルにより流されない。セルにより流される電流は、
セルの論理状態を検出するために規準電流と比較され
る。
【0087】メモリアレイ内のフラッシュセルの動作を
図11を参照して説明しよう。図10と共通な信号線又は回
路は同じ参照番号の使用により図10内で確認され得る。
電圧供給は明瞭にするために図11には図示されていない
が、どの電圧が回路の種々の部分に必要であるかは図10
を参照して理解できるだろう。
【0088】図11は行と列とに配設された複数のフラッ
シュメモリセルFMoo〜FMnmを具えているフラッシュメモ
リアレイ50を図解しており、メモリセルの各々は図10に
示されたセル2と同じであり得る。行内の各メモリセル
におけるトランジスタのゲートは、行アドレス64を受け
取る行ラインデコード回路56により、アドレスできるそ
れぞれのワード線 WLo〜WLn へ一般に接続されている。
ゲート電圧スイッチ12はそれぞれ線30と28上の制御信号
PROGRAM とERASE に応答し、且つ新しいデコード回路56
を通ってアドレスされるワード線へ切り換えられるよう
に線29上の適切なゲート電圧Vccx を供給する。
【0089】列内の各トランジスタのドレインは、列ラ
インデコード回路58へビット線 BLo〜BLm により一般に
接続されている。列ラインデコード回路は、列アドレス
39に応答できるように発生されたSELECT信号により、複
数mのビット線スイッチ31と考えられ得る。線25上の列
ラインデコード回路58の出力は読取出力であり、且つ感
知増幅器回路29へ接続されている。感知増幅器回路29は
感知増幅器とビット線負荷回路とを含んでいる。列ライ
ンデコード回路はプログラム可能負荷回路32から線27上
の書込入力を受け取る。プログラム可能負荷回路は線38
上の負荷制御信号により制御される。プログラム動作の
間は、ビット線 BLo〜BLm が選択的にプログラム可能負
荷回路32へ接続される。読取動作の間は、選択された
(1個又は複数個の)ビット線が感知増幅器回路29内の
感知増幅器へ接続され、全部のその他のビット線は大地
へ接続される。感知増幅器回路29は線72上の規準信号RE
F も受け取り、且つ線23にデータ線(DL)上の出力信号を
発生する。
【0090】特定のセルがプログラムされるように選ば
れた場合、プログラミング負荷が選択された列へのみ印
加されるので選択されたセルと同じ行内の他のセルは不
注意にプログラムされないことは認識されるであろう。
それに加えて、一般に、読取及びプログラム動作の間
は、従来技術において周知のように、セルの動作を改善
するために選択されなかったアレイ内のセルへ一定の信
号を印加することが望ましい。アレイの一部のみがいつ
でも消去されるように消去するためにアレイが部門に分
割され得ることが、この技術に熟達した人々により認識
されるとはいえ、消去動作の間にメモリアレイ内のあら
ゆるセルが消去される。図12は、プログラム動作、消去
動作及び読取動作の各々に対して、選択されたセル及び
選択されないセルへ印加されることが必要な電圧を示し
ている。
【図面の簡単な説明】
【図1】第1引き上げ及び引き下げ回路の回路図を示し
ている。
【図2】第2引き上げ及び引き下げ回路の回路図を示し
ている。
【図3】本発明による引き上げ及び引き下げ回路の第1
実施例のブロック線図を示している。
【図4】本発明による引き上げ及び引き下げ回路の第2
実施例の部分的回路図を示している。
【図5】図4の回路に使用するための第1トリガ回路の
回路図を示している。
【図6】図4の回路に使用するための第2トリガ回路の
回路図を示している。
【図7】図4の回路に使用するための消去スイッチクロ
ック制御回路の回路図を示している。
【図8】図4の回路に使用するためのしきい回路の回路
図を示している。
【図9】図4の回路により使用するための引き上げ装置
選択回路のブロック線図を示している。
【図10】浮動ゲートが電荷を記憶する型の模範的なメ
モリセルの回路図を示している。
【図11】フラッシュメモリとして具体化された、トラ
ンジスタの模範的なアレイを示している。
【図12】図11のフラッシュメモリアレイの電位を示す
説明図である。
【符号の説明】
2 フラッシュメモリセル 4 浮動ゲートトランジスタ 6 ビット線 8 ワード線 10 アレイ接地線 12 ゲート電圧スイッチ 14 電源電圧切換回路 21〜28 線 29 感知増幅器回路 30 線 31 ビット線スイッチ 32 プログラム可能負荷回路 34〜39 線 50 フラッシュメモリアレイ 56 行ラインデコード回路 58 列ラインデコード回路 64 行アドレス 72 線 100 アレイ接地 101 nチャネル電界効果トランジスタ装置 102 接地電位線 103 pチャネル電界効果トランジスタ装置 104 正電源線 141 引き上げ回路 142 引き下げ回路 143 正供給結合点 201 pチャネル電界効果トランジスタ 202 抵抗 300 アレイ接地結合点 310 引き上げ回路 320 引き下げ回路 330 第1活性装置 340 第2活性装置 350 正供給結合点 360 第3活性装置 370 第4活性装置 380 第5活性装置 390 規準結合点 401 第1電流供給回路 402 第2電流供給回路 403 〜405 電界効果トランジスタ 406 nチャネル電界効果トランジスタ 407 接地電位結合点 408 〜411 nチャネル電界効果トランジスタ 420 第1トリガ回路 421 第2トリガ回路 4211〜4213 駆動装置 422 〜424 位相反転器 425 第1NANDゲート 426 第1NOR ゲート 427 別の位相反転器 430 抑止入力端子 431 トリガ入力端子 432 供給レベル論理端子 440 第1入力端子 441 バイアス端子 442 第3制御端子 443 第4制御端子 451 〜453 引き上げ可能化端子 501, 502 pチャネル電界効果トランジスタ 503 正供給結合点 504 第1出力結合点 505 第2出力結合点 506 第3nチャネル電界効果トランジスタ 507 第4nチャネル電界効果トランジスタ 508 第5電界効果トランジスタ 509 第6nチャネル電界効果トランジスタ 510 第7nチャネル電界効果トランジスタ 511 第8nチャネル電界効果トランジスタ 512 バイアス入力端子 520 第2制御入力端子 521 第3制御入力端子 522 第4入力端子 523 第5入力端子 530 第1NOR ゲート 531 第1位相反転器 532 第2NOR ゲート 533 第2位相反転器 534 第3NOR ゲート 535 第3位相反転器 600 駆動装置 601 第7電界効果トランジスタ 602 第8電界効果トランジスタ 603 入力端子 701 第1AND ゲート 702 回路入力端子 703 〜709 位相反転回路 710 第8位相反転器 711 第2NANDゲート 712 〜717 位相反転器 718, 719 端子 801 第1入力端子 802 第2入力端子 803 供給結合点 804 中間結合点 805 第1電界効果トランジスタ 806 第2直列電界効果トランジスタ 807 第3電界効果トランジスタ 808 第1位相反転器 809 第4電界効果トランジスタ 810 第5電界効果トランジスタ 811 出力端子 812 第2位相反転器 900 選択器回路 901 メモリ回路 902 検出器回路 903 〜905 線 906 プログラミング入力
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 コリン ホイットフィールド イギリス国 ブリストル ビーエス2 94オー ストワーバローズ クリーヴ ストリート 13

Claims (23)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数の浮動ゲートトランジスタ(FMoo〜
    FMnm)と、それに共通制御電圧を供給するために前記複
    数のトランジスタのソースへ接続されたアレイ接地線(1
    0: 300)、及び上側電圧レベル(Vpp)と下側電圧レベ
    ル(Vss)との間でアレイ接地線上の前記制御電圧を変
    化させるための引き上げ‐引き下げ電圧制御回路(141,
    142)とを具えたメモリアレイであって、前記電圧制御回
    路は上側電圧レベルへ前記アレイ接地線を接続するため
    の第1スイッチ回路(141)と下側電圧レベルへ前記アレ
    イ接地線を接続するための第2スイッチ回路(142)とを
    有し、前記スイッチ回路の一方がそれぞれの電圧レベル
    の電圧へアレイ接地線を引き込むために、切換動作の間
    にスイッチ回路のインピーダンスを高から低へ順次に変
    えるためのスイッチ制御器(420, 421: 4211 〜4213; 44
    0, 443) と一緒に複数の並列スイッチ装置(401, 402: 4
    03〜405; 406, 408)を有し、更に供給電位が無い場合に
    抑止信号(430)を与えるために供給電位に応答する回
    路、及び低電圧レベルにアレイ接地線を維持するため
    に、前記第1スイッチ回路をオフするために前記抑止信
    号に応答する抑止回路(508) とを具えているメモリアレ
    イ。(図4)
  2. 【請求項2】 請求項1記載のメモリアレイにおいて、
    前記スイッチ回路(141,142)の各々が、それぞれの電圧
    レベルの電圧へアレイ接地線(300)を引き込むために切
    換動作の間にスイッチ回路のインピーダンスを高から低
    へ順次に変えるためのスイッチ制御器(420, 421: 4211
    〜4213; 440, 443) と一緒に複数の並列スイッチ装置(4
    01, 402: 403〜405; 406, 408)を有するメモリアレイ。
    (図4)
  3. 【請求項3】 請求項1又は請求項2記載のメモリアレ
    イにおいて、前記スイッチ制御器又は各スイッチ制御器
    (420, 421: 4211〜4213; 440, 443) が変化する数の前
    記スイッチ装置(401, 402: 403〜405; 406, 408)を順次
    にスイッチオンするように配設されているメモリアレ
    イ。(図4)
  4. 【請求項4】 メモリアレイ内のアレイ接地線(300)へ
    接続され且つそこから共通制御電圧を供給される複数の
    浮動ゲートトランジスタ(FMoo〜FMnm)を有するメモリ
    アレイ内のアレイ接地線へ電圧を供給する方法であっ
    て、 第1スイッチ回路(141)を介して上側電圧レベル(Vp
    p)へ前記アレイ接地線を接続して、それにより前記ア
    レイ接地線上の電圧が前記上側電圧レベルに向かって引
    き上げられるステップと、 第2スイッチ回路(142)を介して下側電圧レベル(Vs
    s)へ前記アレイ接地線を接続して、それにより前記ア
    レイ接地線上の電圧が前記下側電圧レベルに向かって引
    き下げられるステップで、ここで前記接続ステップのう
    ちの一方が切換動作の間にそれぞれのスイッチ回路のイ
    ンピーダンスを高から低へ順次に変えるための複数の並
    列スイッチ装置(401, 402: 403〜405)を制御するステ
    ップを具えるステップと、 供給電位を検出するステップと、 前記の検出に応答して前記第1スイッチ回路をオフする
    (430)ステップと、 を具えているメモリアレイ内のアレイ接地線へ電圧を供
    給する方法。(図4)
  5. 【請求項5】 メモリアレイ内のアレイ接地線(300)へ
    接続され且つそこから共通制御電圧を供給される複数の
    浮動ゲートトランジスタ(FMoo〜FMnm)を有するメモリ
    アレイ内のアレイ接地線へ電圧を供給する方法であっ
    て、 第1スイッチ回路(141)を介して上側電圧レベル(Vp
    p)へ前記アレイ接地線を接続して、それにより前記ア
    レイ接地線上の電圧が前記上側電圧レベルに向かって引
    き上げられるステップと、 第2スイッチ回路(142)を介して下側電圧レベル(Vs
    s)へ前記アレイ接地線を接続して、それにより前記ア
    レイ接地線上の電圧が前記下側電圧レベルに向かって引
    き下げられるステップで、ここで前記接続ステップの各
    々が切換動作の間にそれぞれのスイッチ回路のインピー
    ダンスを高から低へ順次に変えるための複数の並列スイ
    ッチ装置(401, 402: 403〜405; 406, 408)を制御する
    ステップを具えるステップと、 供給電位を検出するステップと、 前記の検出に応答して前記第1スイッチ回路をオフする
    (430)ステップと、 を具えているメモリアレイ内のアレイ接地線へ電圧を供
    給する方法。(図4)
  6. 【請求項6】 アレイ接地線(300)へ接続された複数の
    セル(FMoo〜FMnm) と、アレイ接地線の制御された引き
    上げのための回路 (141)、及び制御された引き下げのた
    めの回路(142)とを有するメモリアレイであって、アレ
    イ接地線へ第1引き上げ電流を供給するための第1電流
    供給回路(401)と、アレイ接地線へ第2引き上げ電流を
    供給するための、第1電流供給回路より低インピーダン
    スである第2電流供給回路(402: 403〜405)とを有する
    引き上げ回路(141)と、アレイ接地線へ第3引き下げ電
    流を供給するための第3電流供給回路(409, 406)と、
    アレイ接地線へ第4引き下げ電流を供給するための、第
    3電流供給回路より低インピーダンスである第4電流供
    給回路(408)とを有する引き下げ回路(142)、及び引き
    上げ/引き下げ電流通路のインピーダンスを高から低へ
    変えるために、引き上げ/引き下げ動作の間に前記第1
    と第2、及び前記第3と第4電流の間を選択するための
    制御回路(420, 421: 4211〜4213; 440, 442)を具え、
    メモリアレイは更に供給電位が無い場合に抑止信号(44
    2)を与えるために供給電位に応答する回路(801〜811)
    と、低電圧レベルにアレイ接地線を維持するために、供
    給電位が最低レベル以下である場合に、前記引き上げ回
    路(141)をオフするための抑止信号(430: 522)に応答す
    る抑止回路(508)とを具えているメモリアレイ。(図
    4)
  7. 【請求項7】 請求項6記載のメモリアレイにおいて、
    制御回路が前記アレイ接地線(300)上の電圧に依存して
    前記第1と第2、及び前記第3と第4電流の間を選択す
    るように動作できる電圧応答回路(801〜811)を具えてい
    るメモリアレイ。(図4)
  8. 【請求項8】 請求項7記載のメモリアレイが、更に引
    き上げ制御信号(431)に応答して第1電流供給回路(40
    1) の動作をトリガするための第1トリガ回路(420)
    と、第3電流供給回路(409, 406)の動作をトリガする
    ために引き下げ制御信号(440)に応答する第3トリガ回
    路(423, 422)とを具え、且つ電圧応答回路(801〜811)が
    前記アレイ接地線(300)の第1電圧レベルに応答して第
    2電流供給回路(402: 403〜405)の動作をトリガするた
    めの第2トリガ回路(421: 4211〜4213)と、前記アレイ
    接地線の第2電圧レベルに応答して第4電流供給回路(4
    08) の動作をトリガするための第4トリガ回路(424〜42
    7)とを具えているメモリアレイ。(図4)
  9. 【請求項9】 請求項8記載のメモリアレイが第1の高
    名目レベル又は第2の低名目レベルにおける供給電位に
    より動作できる回路(420, 421)を有し、且つここで前
    記最低レベルが前記第2レベルよりも低いメモリアレ
    イ。(図5)
  10. 【請求項10】 請求項9記載のメモリアレイにおい
    て、抑止回路(508)が第1トリガ回路(420)をオフする
    メモリアレイ。(図5)
  11. 【請求項11】 請求項10記載のメモリアレイが更に前
    記最低レベル以下である供給電位に応答して規準レベル
    (Vss)へアレイ接地線(300)を引き下げるためのクラ
    ンプ回路(411)を具えているメモリアレイ。(図4)
  12. 【請求項12】 請求項9〜10のいずれか1項に記載の
    メモリアレイにおいて、前記電圧応答回路が更に第3制
    御信号(811: 442)を作りだすために、前記アレイ接地
    線(300)上の電圧に応答するしきい回路(801〜811)を具
    え、且つ前記第4トリガ回路が引き下げ制御信号(443)
    と第3制御信号(442)とに応答する論理回路(424〜427)
    を有し、それによりアレイ接地線電圧が予め決められた
    しきい値以下であり且つ引き下げ制御信号が存在する場
    合に第4電流供給回路(408)がトリガされるメモリアレ
    イ。(図4)
  13. 【請求項13】 請求項12記載のメモリアレイにおい
    て、しきい回路が、前記アレイ接地線(300)上の電圧の
    ための入力端子(801)と、各々ゲートを有する2個の直
    列電界効果トランジスタ(806, 810)を有する位相反転
    器であって、前記ゲートは共通に接続され且つ前記入力
    端子へ結合されており、ここで前記2個の電界効果トラ
    ンジスタは前記供給電位(803: Vcc )から供給され且つ
    前記予め決められたしきい値において切り換えるように
    動作できる位相反転器と、第3制御信号(442)のための
    出力結合点(811)とを具え、更に供給電位(803)から前
    記出力結合点までの電流通路(807, 809)を具え、該電
    流通路は供給電位が前記第2レベルにあることを指示で
    きる論理信号(802)により活性化されるスイッチ(807)
    と前記入力端子へ結合されたゲートを有する第3電界効
    果トランジスタ(809)とを具えているメモリアレイ。
    (図8)
  14. 【請求項14】 請求項9〜13のうちのいずれか1項記
    載のメモリアレイにおいて、前記第1トリガ回路(420)
    が双安定装置を形成する電界効果トランジスタの交差結
    合された第1対(501, 502)と、前記第1対の第1電界
    効果トランジスタ(502)のチャネルと直列な第1電流通
    路(510)、及び前記第1対の第2電界効果トランジスタ
    (501)のチャネルと直列な第2電流通路(507, 508)を
    具え、前記第1電流通路が前記第1電流供給回路(401)
    へ結合された結合点(505)を有し、前記第1電流通路が
    引き上げ制御信号 (431)に応答して活性化され、それに
    より第1電流供給回路がトリガされ、且つ前記第2電流
    通路が前記引き上げ制御信号の欠如に応答して活性化さ
    れ、それにより第1電流供給回路がオフされるメモリア
    レイ。(図5)
  15. 【請求項15】 請求項14記載のメモリアレイにおい
    て、供給電位が前記第2レベルにある場合に第1電流通
    路(510)と並列な別の通路(511)が活性化されるメモリ
    アレイ。(図5)
  16. 【請求項16】 請求項14又は請求項15記載のメモリア
    レイにおいて、前記第2電流通路(507, 508)が前記抑止
    信号(430: 522)により活性化されるメモリアレイ。
    (図5)
  17. 【請求項17】 請求項9〜15のうちのいずれか1項記
    載のメモリアレイにおいて、前記第2トリガ回路(421)
    が双安定装置を形成する電界効果トランジスタ(501, 5
    02) の交差結合された第2対と、前記第2対の第1電界
    効果トランジスタ(502)のチャネルと直列な第3電流通
    路(601, 602)、及び前記第2対の第2電界効果トラン
    ジスタ(501)のチャネルと直列な第4電流通路(507, 50
    8)を具え、前記第3電流通路は前記第2電流供給回路
    (402)へ接続された結合点(505)を有し、前記第3電流
    通路は前記アレイ接地線(300)の前記第1電圧レベルに
    応答して活性化され、それにより第2電流供給回路がト
    リガされ、且つ第4電流通路が前記引き上げ制御信号(4
    31) の欠如に応答して活性化され、それにより第2電流
    供給回路がオフされるメモリアレイ。(図6)
  18. 【請求項18】 請求項17記載のメモリアレイにおい
    て、第4電流通路が前記抑止信号(430: 522) により活
    性化されるメモリアレイ。(図6)
  19. 【請求項19】 請求項6〜18のうちのいずれか1項記
    載のメモリアレイにおいて、第1電流供給回路が第1の
    幅‐長さ比を有するpチャネル電界効果トランジスタ
    (401)を有し、且つ第2電流供給回路(402)が第2の幅
    ‐長さ比を有する第2のpチャネル電界効果トランジス
    タを具え、それにより前記インピーダンスが変えられ得
    るメモリアレイ。(図3)
  20. 【請求項20】 請求項6〜19のうちのいずれか1項記
    載のメモリアレイにおいて、第2電流供給回路(402)が
    並列に接続されたドレイン〜ソース通路を有する複数の
    pチャネル電界効果トランジスタ(403〜405)を具え、第
    3電流供給回路が第3の幅‐長さ比を有するnチャネル
    電界効果トランジスタ(409, 406)を有し、且つ第4電流
    供給回路が第4の幅‐長さ比を有するnチャネル電界効
    果トランジスタ(408)を具えているメモリアレイ。(図
    3)
  21. 【請求項21】 請求項20記載のメモリアレイが、前記
    複数のpチャネル電界効果トランジスタ(403〜405)のう
    ちの所望の1個以上を活性化するための回路(421: 4211
    〜4213)を有し、それにより前記第2電流供給回路(40
    2)のインピーダンスが選択され得るメモリアレイ。(図
    4)
  22. 【請求項22】 請求項21記載のメモリアレイにおい
    て、前記の活性化回路(421: 4211〜4213)が前記のpチ
    ャネル電界効果トランジスタ(403〜405)のうちのどの電
    界効果トランジスタが活性化されるかを決定するために
    複数の入力信号を受け取り、且つ更に前記入力信号を与
    えるための制御回路を具え、それにより前記信号が前記
    第2引き上げ電流を制御するために変えられ得るメモリ
    アレイ。(図4)
  23. 【請求項23】 請求項6〜22のうちのいずれか1項記
    載のメモリアレイがフラッシュメモリアレイを具えてお
    り、且つそこでアレイ接地線(300)が前記フラッシュメ
    モリアレイのアレイ接地を具えているメモリアレイ。
    (図4)
JP21890295A 1994-08-26 1995-08-28 メモリアレイとメモリアレイ内の制御線へ電圧を供給する方法及びしきい回路 Expired - Fee Related JP3131555B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
GB9417265A GB9417265D0 (en) 1994-08-26 1994-08-26 Controlling capacitive load
GB9417265:7 1994-08-26

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH08195096A JPH08195096A (ja) 1996-07-30
JP3131555B2 true JP3131555B2 (ja) 2001-02-05

Family

ID=10760448

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP21890295A Expired - Fee Related JP3131555B2 (ja) 1994-08-26 1995-08-28 メモリアレイとメモリアレイ内の制御線へ電圧を供給する方法及びしきい回路

Country Status (5)

Country Link
US (1) US5726936A (ja)
EP (1) EP0698888B1 (ja)
JP (1) JP3131555B2 (ja)
DE (1) DE69517264T2 (ja)
GB (1) GB9417265D0 (ja)

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5590076A (en) * 1995-06-21 1996-12-31 Advanced Micro Devices, Inc. Channel hot-carrier page write
US5941987A (en) * 1996-12-24 1999-08-24 Intel Corporation Reference cell for integrated circuit security
US6041221A (en) * 1997-05-21 2000-03-21 Motorola, Inc. Circuit and method for verifying data of a wireless communications device
US6486715B2 (en) 2001-04-02 2002-11-26 Sandisk Corporation System and method for achieving fast switching of analog voltages on large capacitive load
US7002401B2 (en) * 2003-01-30 2006-02-21 Sandisk Corporation Voltage buffer for capacitive loads
US6952041B2 (en) * 2003-07-25 2005-10-04 Robert Bosch Gmbh Anchors for microelectromechanical systems having an SOI substrate, and method of fabricating same
JP2005142289A (ja) * 2003-11-05 2005-06-02 Toshiba Corp 半導体記憶装置
DE102016110049A1 (de) * 2016-05-31 2017-11-30 Infineon Technologies Ag Ermitteln eines Zustands einer Speicherzelle
KR102544503B1 (ko) 2021-08-06 2023-06-16 고려대학교 산학협력단 아날로그 캐패시터 메모리 회로의 오차 보상 회로

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2633252B2 (ja) * 1987-06-11 1997-07-23 沖電気工業株式会社 半導体記憶装置
JPH02126498A (ja) * 1988-07-08 1990-05-15 Hitachi Ltd 不揮発性半導体記憶装置
US5229963A (en) * 1988-09-21 1993-07-20 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor nonvolatile memory device for controlling the potentials on bit lines
JPH0743952B2 (ja) * 1988-11-30 1995-05-15 日本電気株式会社 電源電圧低下検出回路
US5095461A (en) * 1988-12-28 1992-03-10 Kabushiki Kaisha Toshiba Erase circuitry for a non-volatile semiconductor memory device
JPH02233018A (ja) * 1989-03-06 1990-09-14 Nec Corp 出力バッファ
JPH02250425A (ja) * 1989-03-23 1990-10-08 Toshiba Corp 出力バッファ回路
JPH0810728B2 (ja) * 1990-02-01 1996-01-31 株式会社東芝 半導体記憶装置
DE69128635T2 (de) * 1990-09-25 1998-05-20 Toshiba Kawasaki Kk Nicht-flüchtiger halbleiterspeicher
JPH06236694A (ja) * 1991-05-07 1994-08-23 Intel Corp 高電圧レベル変換回路
KR950000496B1 (ko) * 1992-01-30 1995-01-24 삼성전자 주식회사 반도체 메모리 장치의 데이타 출력회로
JPH05276003A (ja) * 1992-03-27 1993-10-22 Nec Corp 出力回路装置

Also Published As

Publication number Publication date
EP0698888B1 (en) 2000-05-31
GB9417265D0 (en) 1994-10-19
DE69517264T2 (de) 2000-10-12
EP0698888A1 (en) 1996-02-28
DE69517264D1 (de) 2000-07-06
JPH08195096A (ja) 1996-07-30
US5726936A (en) 1998-03-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7978499B2 (en) Semiconductor storage device
EP0713222B1 (en) An integrated circuit memory device
JP3532725B2 (ja) 半導体集積回路
US5862074A (en) Integrated circuit memory devices having reconfigurable nonvolatile multi-bit memory cells therein and methods of operating same
EP0664544B1 (en) Stress reduction for non-volatile memory cell
EP0713164B1 (en) A reference circuit
JP3743453B2 (ja) 不揮発性半導体記憶装置
US7518925B2 (en) Nonvolatile semiconductor memory
JP5946483B2 (ja) カレントセンシング
WO1992005560A1 (en) Nonvolatile semiconductor memory
US9355739B2 (en) Bitline circuits for embedded charge trap multi-time-programmable-read-only-memory
JP2001135074A (ja) 強誘電体キャパシタの分極状態変化に応じて可変する基準電圧を発生する基準回路を有する強誘電体ランダムアクセスメモリ装置。
US4881199A (en) Read circuit for reading the state of memory cells
JP3131555B2 (ja) メモリアレイとメモリアレイ内の制御線へ電圧を供給する方法及びしきい回路
US5642313A (en) Voltage booster circuit for a memory device
JP3497770B2 (ja) 半導体記憶装置
EP0700048B1 (en) Dual sourced voltage supply circuit
JP4680195B2 (ja) 半導体装置及びソース電圧制御方法
US5696461A (en) Power-on reset circuit
US6418074B1 (en) Semiconductor memory device having driver circuit which supplies temporary accelerated charge
KR100281799B1 (ko) 다른 워드 라인 전압들을 발생하는 회로를 구비한 반도체 메모리 장치
TWI588830B (zh) 電流檢測電路及半導體記憶裝置
EP0721188B1 (en) Residual charge elimination for a memory device
JPH02203497A (ja) センスアンプ
JPH1131390A (ja) 不揮発性メモリのスクリーニング法

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees