JP3131246B2 - バンプを有するベアチップの実装方法 - Google Patents
バンプを有するベアチップの実装方法Info
- Publication number
- JP3131246B2 JP3131246B2 JP18486291A JP18486291A JP3131246B2 JP 3131246 B2 JP3131246 B2 JP 3131246B2 JP 18486291 A JP18486291 A JP 18486291A JP 18486291 A JP18486291 A JP 18486291A JP 3131246 B2 JP3131246 B2 JP 3131246B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- adhesive
- bare chip
- mounting
- bump
- pad
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/28—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process
- H01L2224/29—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process of an individual layer connector
- H01L2224/29001—Core members of the layer connector
- H01L2224/2902—Disposition
- H01L2224/29034—Disposition the layer connector covering only portions of the surface to be connected
- H01L2224/29036—Disposition the layer connector covering only portions of the surface to be connected covering only the central area of the surface to be connected
Landscapes
- Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
- Wire Bonding (AREA)
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はバンプを有するベアチッ
プを接着剤によって実装する方法に関する。
プを接着剤によって実装する方法に関する。
【0002】バンプを有するベアチップは、下面の各バ
ンプを基板上のパッドと電気的に接続された状態で、基
板上に実装される。
ンプを基板上のパッドと電気的に接続された状態で、基
板上に実装される。
【0003】近年、ベアチップ自体の大容量化等に伴っ
て、バンプのピッチが狭くなってきており、上記実装に
は許容誤差がミクロンオーダである精度が要求されてい
る。
て、バンプのピッチが狭くなってきており、上記実装に
は許容誤差がミクロンオーダである精度が要求されてい
る。
【0004】
【従来の技術】図5及び図6は従来の実装方法を示す。
【0005】まず、接着剤塗布工程1を行う。
【0006】ここでは、図6(A)に示すように、例え
ば転写ピンを使用して、基板10上のベアチップ実装予
定部11に、エポキシ系の接着剤12を塗布する。
ば転写ピンを使用して、基板10上のベアチップ実装予
定部11に、エポキシ系の接着剤12を塗布する。
【0007】13はパッドであり、ベアチップ実装予定
部11の周囲に配設してある。
部11の周囲に配設してある。
【0008】接着剤12を塗布した後、直ちにベアチッ
プ実装工程2を行う。
プ実装工程2を行う。
【0009】この工程2は、光学的にパッド13の位置
を認識し、図6(B)に示すように、ベアチップ14を
吸着しているボンディングツール15を矢印Z方向に下
降させ、同図(C)に示すように、ベアチップ14の下
面14aの周囲部分のバンプ16が対応するパッド13
に押し当たるまで降ろすことにより行われる。
を認識し、図6(B)に示すように、ベアチップ14を
吸着しているボンディングツール15を矢印Z方向に下
降させ、同図(C)に示すように、ベアチップ14の下
面14aの周囲部分のバンプ16が対応するパッド13
に押し当たるまで降ろすことにより行われる。
【0010】これにより、ベアチップ14は、図6
(D)に示すように、下面14a及びバルブ16の周囲
を接着されて、且つ各バンプ16をパッド13と電気的
に接続されて実装される。
(D)に示すように、下面14a及びバルブ16の周囲
を接着されて、且つ各バンプ16をパッド13と電気的
に接続されて実装される。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】ベアチップ実装工程2
において、図6(B)に示すように、ベアチップ14の
下面14aが接着剤12を押し潰してこれを矢印Aで示
すように側方に押し拡げる。
において、図6(B)に示すように、ベアチップ14の
下面14aが接着剤12を押し潰してこれを矢印Aで示
すように側方に押し拡げる。
【0012】接着剤12が側方へ押し拡げられる過程に
おいて、ベアチップ14には、接着剤12によって引き
づられるように矢印Bで示す側方の力が作用する。
おいて、ベアチップ14には、接着剤12によって引き
づられるように矢印Bで示す側方の力が作用する。
【0013】ところで、接着剤12は、実装状態でバン
プ16の部位まで回り込むだけの十分な量が盛り上がっ
た状態で塗布してあり、接着剤12の頂部12aの高さ
H1 は比較的高い。
プ16の部位まで回り込むだけの十分な量が盛り上がっ
た状態で塗布してあり、接着剤12の頂部12aの高さ
H1 は比較的高い。
【0014】このため、実装のための下降時には、ベア
チップ14は、高さH1 から実装高さH2 に到る比較的
長い下降距離L1 (比較的長い時間)に亘って、接着剤
12によって矢印Bで示す側方の力を作用されることに
なる。
チップ14は、高さH1 から実装高さH2 に到る比較的
長い下降距離L1 (比較的長い時間)に亘って、接着剤
12によって矢印Bで示す側方の力を作用されることに
なる。
【0015】また、特に接着剤12が実装予定部11の
中心より極端にずれているような場合にあっては、ベア
チップ14は側方向上特定の方向の力を作用される。
中心より極端にずれているような場合にあっては、ベア
チップ14は側方向上特定の方向の力を作用される。
【0016】このため、実装の途中で、ベアチップ14
の上面14bがボンディングツール15に対して滑り、
図6(C)に示すように、ベアチップ14がボンディン
グツール15に対して矢印B方向にずれてしまうことが
ある。
の上面14bがボンディングツール15に対して滑り、
図6(C)に示すように、ベアチップ14がボンディン
グツール15に対して矢印B方向にずれてしまうことが
ある。
【0017】このようなずれが生ずると、図6(D)中
符合16-1で示すように、バンプがパッド13-1よりず
れてしまい、電気的接続が不完全となって実装不良とな
ってしまう。
符合16-1で示すように、バンプがパッド13-1よりず
れてしまい、電気的接続が不完全となって実装不良とな
ってしまう。
【0018】近年、バンプ16及びパッド13のピッチ
が狭くなっており、上記のずれ量δが僅か数μm であっ
ても、実装不良となってしまうこともある。
が狭くなっており、上記のずれ量δが僅か数μm であっ
ても、実装不良となってしまうこともある。
【0019】本発明は、実装の高精度化を実現したバン
プを有するベアチップの実装方法を提供することを目的
とする。
プを有するベアチップの実装方法を提供することを目的
とする。
【0020】
【課題を解決するための手段】請求項1の発明は、接着
剤を塗布する工程と、該塗布された接着剤をベアチップ
で押し広げてベアチップを基板に接着する工程からなる
ベアチップの実装方法において、 前記接着剤を塗布する
工程は前記接着剤を拡げて平らにならす工程を有する構
成としたものである。
剤を塗布する工程と、該塗布された接着剤をベアチップ
で押し広げてベアチップを基板に接着する工程からなる
ベアチップの実装方法において、 前記接着剤を塗布する
工程は前記接着剤を拡げて平らにならす工程を有する構
成としたものである。
【0021】請求項2の発明は、請求項1の接着剤を拡
げて平らにならす工程は、塗布された接着剤を覆う形状
のノズルによって該塗布された接着剤を覆った状態で、
ガスを吹き付けて行う構成としたものである。
げて平らにならす工程は、塗布された接着剤を覆う形状
のノズルによって該塗布された接着剤を覆った状態で、
ガスを吹き付けて行う構成としたものである。
【0022】
【作用】請求項1の接着剤ならし工程によって平らにな
らされた接着剤は、ベアチップの実装時にベアチップに
ずれ力の発生を抑制するように作用する。
らされた接着剤は、ベアチップの実装時にベアチップに
ずれ力の発生を抑制するように作用する。
【0023】請求項2のノズルは、接着剤の周囲への不
要な飛散を制限するように作用する。
要な飛散を制限するように作用する。
【0024】
【実施例】図1及び図2は本発明のバンプを有するベア
チップの実装方法の一実施例を示す。
チップの実装方法の一実施例を示す。
【0025】各図中、図5及び図6と同一部分には同一
符合を付し、その説明は省略する。
符合を付し、その説明は省略する。
【0026】図1中、20は接着剤ならし工程であり、
接着剤塗布工程1の次に設けてある。
接着剤塗布工程1の次に設けてある。
【0027】ここでは、図2(A)に示すように盛り上
がって塗布された接着剤12を、ベアチップ実装予定領
域11全体に亘ってパッド13の近傍まで拡げてなら
す。
がって塗布された接着剤12を、ベアチップ実装予定領
域11全体に亘ってパッド13の近傍まで拡げてなら
す。
【0028】これにより、接着剤12は符合12Aで示
す如くになる。
す如くになる。
【0029】接着剤12Aは、厚さt1 が約80μm 程
度となり、上面12Aaは実装高さH2 より若干高い位
置にあり、ベアチップ実装領域11の略全体に亘る比較
的広い面積S1 を有し、且つ平坦である。
度となり、上面12Aaは実装高さH2 より若干高い位
置にあり、ベアチップ実装領域11の略全体に亘る比較
的広い面積S1 を有し、且つ平坦である。
【0030】この後、ベアチップ実装工程2を行う。
【0031】ベアチップ実装工程2は、従来と同様に、
図2(C),(D)に示すように、ベアチップ14が吸
着されたボンディングツール15を矢印Z方向に下降す
ることにより行われる。
図2(C),(D)に示すように、ベアチップ14が吸
着されたボンディングツール15を矢印Z方向に下降す
ることにより行われる。
【0032】ベアチップ14は、実装高さH2 の極く近
い高さH3 まで下降された時点で、接着剤12Aに接触
し、その後、実装高さH2 まで下降する過程で接着剤1
2Aを押し拡げる。
い高さH3 まで下降された時点で、接着剤12Aに接触
し、その後、実装高さH2 まで下降する過程で接着剤1
2Aを押し拡げる。
【0033】従って、接着剤12Aを押し拡げる動作を
伴うボンディングツール15の下降距離L2 は、従来に
比べて格段に短い。
伴うボンディングツール15の下降距離L2 は、従来に
比べて格段に短い。
【0034】しかも、ベアチップ14の下面14aは、
最初から広い面積が接着剤12Aに接触し、ベアチップ
14には傾斜する方向の力は作用しない。
最初から広い面積が接着剤12Aに接触し、ベアチップ
14には傾斜する方向の力は作用しない。
【0035】このため、ベアチップ14をボンディング
ツール15に対してずらすような力は殆ど生ぜず、ベア
チップ14はボンディングツール15に対して全くずれ
ない。
ツール15に対してずらすような力は殆ど生ぜず、ベア
チップ14はボンディングツール15に対して全くずれ
ない。
【0036】この結果、ベアチップ14は、図2(D)
に示すように、実装予定位置に精度良く位置決めされ、
バンプ16は対応するパッド13に正常に当接する。
に示すように、実装予定位置に精度良く位置決めされ、
バンプ16は対応するパッド13に正常に当接する。
【0037】接着剤12Aは、ボンディングツール15
により加熱されて、符合12Bで示すように、バンプ1
6の部分まで回り込んだ状態となる。
により加熱されて、符合12Bで示すように、バンプ1
6の部分まで回り込んだ状態となる。
【0038】この後、接着剤12Bは熱硬化され、符合
12Cで示す如くになり、ベアチップ14は、図2
(E)に示すように、各バンプ16を対応するパッド1
3と確実に電気的に接続されて、基板10上に実装され
る。
12Cで示す如くになり、ベアチップ14は、図2
(E)に示すように、各バンプ16を対応するパッド1
3と確実に電気的に接続されて、基板10上に実装され
る。
【0039】次に、上記の接着剤ならし工程について説
明する。
明する。
【0040】図3に示すように、治具30を矢印31方
向に往復移動させることによって、接着剤12はならさ
れる。
向に往復移動させることによって、接着剤12はならさ
れる。
【0041】また、図4に示すように、ベアチップ実装
領域11に対応する大きさを有する特殊形状のノズル3
2によって接着剤12を覆った状態で、例えば空気33
を吹き付けることによっても、接着剤12はならされ
る。
領域11に対応する大きさを有する特殊形状のノズル3
2によって接着剤12を覆った状態で、例えば空気33
を吹き付けることによっても、接着剤12はならされ
る。
【0042】後者の方法によれば、接着剤12が周囲に
飛散することが防止され、パッド13上に接着剤12が
付着することがない。
飛散することが防止され、パッド13上に接着剤12が
付着することがない。
【0043】パッド13上に接着剤12が付着すると、
実装に際してのパッド13の光学的認識に誤りを生ずる
虞れがある。
実装に際してのパッド13の光学的認識に誤りを生ずる
虞れがある。
【0044】しかし、上記の方法によれば、パッド13
に接着剤12は付着しないため、実装に際してのパッド
13の光学的認識は誤りなく行われ、この点からも、ベ
アチップ実装精度は何ら損なわれない。
に接着剤12は付着しないため、実装に際してのパッド
13の光学的認識は誤りなく行われ、この点からも、ベ
アチップ実装精度は何ら損なわれない。
【0045】また、上記のベアチップ14のバンプ16
はAu製のものである。
はAu製のものである。
【0046】
【発明の効果】以上説明した様に、請求項1の発明によ
れば、ベアチップを押し付けて実装するときに、ベアチ
ップにずれ力が殆ど作用しないため、ベアチップを実装
予定位置よりのずれを無くして高精度に実装することが
出来る。
れば、ベアチップを押し付けて実装するときに、ベアチ
ップにずれ力が殆ど作用しないため、ベアチップを実装
予定位置よりのずれを無くして高精度に実装することが
出来る。
【0047】請求項2の発明によれば、接着剤がパッド
に付着しないため、実装に際して行うパッドの光学的認
識精度が損なわれることが無く、この点からもベアチッ
プを位置精度良く実装することが出来る。
に付着しないため、実装に際して行うパッドの光学的認
識精度が損なわれることが無く、この点からもベアチッ
プを位置精度良く実装することが出来る。
【図1】本発明のバンプを有するベアチップの実装方法
の一実施例の工程図である。
の一実施例の工程図である。
【図2】図1の各工程の状態を示す図である。
【図3】接着剤ならし工程を行う1例を示す図である。
【図4】接着剤ならし工程を行う別の例を示す図であ
る。
る。
【図5】従来のバンプを有するベアチップの実装方法の
1例を示す工程図である。
1例を示す工程図である。
【図6】図5の各工程の状態を示す図である。
1 接着剤塗布工程 2 ベアチップ実装工程 10 基板 11 ベアチップ実装予定領域 12 接着剤 12A ならされた接着剤 12Aa 平坦で比較的広い面積S1 を有する上面 12B 押し拡がった接着剤 12C 熱硬化された接着剤 13 パッド 14 ベアチップ 14a 下面 15 ボンディングツール 16 バンプ 20 接着剤ならし工程 30 治具 32 ノズル 33 空気
Claims (2)
- 【請求項1】 接着剤を塗布する工程と、該塗布された
接着剤をベアチップで押し広げてベアチップを基板に接
着する工程からなるベアチップの実装方法において、 前記接着剤を塗布する工程は前記接着剤を拡げて平らに
ならす工程を有することを特徴とするベ アチップの実装
方法。 - 【請求項2】 請求項1の接着剤を拡げて平らにならす
工程は、塗布された接着剤を覆う形状のノズルによって
該塗布された接着剤を覆った状態で、ガスを吹き付けて
行う構成としたことを特徴とするベアチップの実装方
法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18486291A JP3131246B2 (ja) | 1991-07-24 | 1991-07-24 | バンプを有するベアチップの実装方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18486291A JP3131246B2 (ja) | 1991-07-24 | 1991-07-24 | バンプを有するベアチップの実装方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0529392A JPH0529392A (ja) | 1993-02-05 |
JP3131246B2 true JP3131246B2 (ja) | 2001-01-31 |
Family
ID=16160611
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP18486291A Expired - Fee Related JP3131246B2 (ja) | 1991-07-24 | 1991-07-24 | バンプを有するベアチップの実装方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3131246B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1448034A1 (en) * | 1996-12-27 | 2004-08-18 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Method and device for mounting electronic component on circuit board |
-
1991
- 1991-07-24 JP JP18486291A patent/JP3131246B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0529392A (ja) | 1993-02-05 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5813115A (en) | Method of mounting a semiconductor chip on a wiring substrate | |
US5930599A (en) | Semiconductor device and method of manufacturing the same | |
US20020059722A1 (en) | Method of mounting a semiconductor device to a substrate and a mounted structure | |
US20070281395A1 (en) | Method and system for fabricating a semiconductor device | |
JP3421548B2 (ja) | 半導体ベアチップ、半導体ベアチップの製造方法、及び半導体ベアチップの実装構造 | |
JP3262728B2 (ja) | 半導体装置及びその製造方法 | |
US5858149A (en) | Process for bonding semiconductor chip | |
JPH0997816A (ja) | 半導体装置の実装方法および実装構造 | |
US6612024B1 (en) | Method of mounting a device to a mounting substrate | |
JP3131246B2 (ja) | バンプを有するベアチップの実装方法 | |
JP2793766B2 (ja) | 導電ペースト転写方法 | |
JP3149631B2 (ja) | 半導体装置及びその実装装置及びその実装方法 | |
JP3384762B2 (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JP3022910B2 (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JP2590691B2 (ja) | 半導体装置のリードフレーム並びにその製造装置及び方法 | |
JP3335562B2 (ja) | 半導体チップ接続バンプ形成方法 | |
JP3445687B2 (ja) | 半導体チップの実装方法 | |
JP2812304B2 (ja) | フリップチップ型半導体装置のリペア方法 | |
JP3212881B2 (ja) | 半導体装置の製造装置および製造方法 | |
JP3235456B2 (ja) | チップの実装方法 | |
JP3001483B2 (ja) | リードフレーム、半導体装置及びその製造方法 | |
JP2949872B2 (ja) | 電子部品接合装置 | |
JP3017136B2 (ja) | 半導体チップ接続バンプ形成方法及び形成用治具 | |
JPS6086853A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JP2519903B2 (ja) | 半導体装置の製造方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20001107 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081117 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081117 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091117 Year of fee payment: 9 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |