JP3130559B2 - アクティブ式測距装置 - Google Patents

アクティブ式測距装置

Info

Publication number
JP3130559B2
JP3130559B2 JP12218991A JP12218991A JP3130559B2 JP 3130559 B2 JP3130559 B2 JP 3130559B2 JP 12218991 A JP12218991 A JP 12218991A JP 12218991 A JP12218991 A JP 12218991A JP 3130559 B2 JP3130559 B2 JP 3130559B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
transistor
steady
signal
current
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP12218991A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH04324310A (ja
Inventor
晃 井上
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Optic Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Olympus Optic Co Ltd filed Critical Olympus Optic Co Ltd
Priority to JP12218991A priority Critical patent/JP3130559B2/ja
Publication of JPH04324310A publication Critical patent/JPH04324310A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3130559B2 publication Critical patent/JP3130559B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Measurement Of Optical Distance (AREA)
  • Automatic Focus Adjustment (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、測距対象物に向けて投
光し、測距対象物からの反射光の受光位置を検出するこ
とにより三角測距法に基づいて測距対象物までの距離を
求めるアクティブ式測距装置に関し、特に、上記反射光
を受光する受光素子の出力信号から定常光に基づく成分
を取り除き、測距対象物からの反射光成分のみを得、こ
の信号に基づいて距離を求めるアクティブ式測距装置に
関する。
【0002】
【従来技術】従来より、三角測距法を用いて測距対象物
までの距離を求めるアクティブ式測距装置が、カメラ等
に用いられている。このアクティブ式測距装置の光学的
配置は、図8に示すように、光軸が互いに平行で基線長
離れている投光レンズ1および受光レンズ2と、赤外線
を投光するIRED(赤外発光ダイオード)3と、被写
体4からの反射光を上記受光レンズ2を介して受光する
PSD(半導体位置検出素子)5とからなっている。こ
のPSD5は上記反射光の受光位置に応じて信号電極1
chから出力する電流I1 と信号電極2chから出力する電
流I2 の比が変化し、また、上記PSD5上に上記反射
光が結像する位置は、被写体4までの距離Lに依存す
る。ここで、上記電流I1、I2 を基に、I2 /(I1
+I2 )を演算すると、図9に示すように、この演算値
は被写体距離Lに反比例、すなわち、1/Lに比例の関
係がある。したがって、上記電流I1 、I2 を基に上記
比演算を行うことにより、被写体4までの距離を測定す
ることができる。なお、この演算式は上述のI2 /(I
1 +I2 )に限らず、I1 /I2 や(I1 −I2 )/
(I1 +I2 )を用いても良い。
【0003】ところで、上記PSD5に入射する光は、
上記IRED3によって投光された光束の被写体4から
の反射光に限らず、太陽光や室内の照明光といった、い
わゆる定常光も含まれている。したがって、上記信号電
極1ch、信号電極2chから出力される電流には、上記被
写体からの反射光によって発生した電流(信号光電流)
に、定常光によって発生した電流(定常光電流、以下、
記号ではI0 とする)が重畳している。上記比演算が1
/Lに比例することは、あくまでも上記電流が信号光電
流であることを前提にしている。そこで、従来より、上
記信号電極から発生する電流から、定常光電流を減算
し、信号光電流のみを抜き出して、測距演算を行ってい
る。
【0004】図10は、従来の信号光電流を抜き出し、
被写体距離を演算するための回路図である。同図におい
て、3はIRED(赤外線発光ダイオード)、5はPS
D(半導体位置検出素子)、6はIRED制御用のトラ
ンジスタ、7はPSD5のバイアスレベルを決定するプ
リアンプ、8はPSD5の信号電流を増幅するトランジ
スタ、9は信号電流を圧縮するダイオード、10はプリア
ンプ7のバイアス点を決定するための定電流源である。
また、11は圧縮ダイオード9とバランスをとるためのダ
イオード、12は定常光電流記憶のための差動アンプ、13
は定常光電流を流すトランジスタ、14は定常光電流記憶
のためのコンデンサである。さらに、15はPSD5の1
chと2chの信号電流演算を行う演算増幅器、16はコンデ
ンサ初期化のための差動アンプ、17は帰還用バッファ、
18はコンパレータ、19は積分用コンデンサ.20は定電流
源、SW1〜SW4はスイッチである。なお、PSD5
の信号電極2chから出力される電流I02+I2 を処理す
る回路も、信号電極1chから出力される電流I01+I1
と同様であるので、同じ素子には同じ符号に´を付して
説明を省略する。
【0005】被写体4に向けてIRED3が投光する以
前は、即ち、PSD5から定常光電流しか流れていない
状態では、スイッチSW1がオンとなっており、差動ア
ンプ12が動作状態であるので、図中Cで示される帰還回
路が働いている。このため定常光電流が増えると、トラ
ンジスタ13のベース電位が上昇し、、一方定常光電流が
減少するとトランジスタ13のベース電位が低下し、結
局、トランジスタ13には定常光の変動に応じて定常光電
流I01が流れることになる。
【0006】次に被写体に向けてIRED3を投光させ
る場合について説明する。IRED3は2ms程度の間
隔で100μsの間、発光を行う。この発光に同期し
、スイッチSW1がオフするため差動アンプ12はオ
フし、帰還ループCが遮断される。この結果、IRED
3の発光直前のベース電位がコンデンサ14に記憶さ
れ、トランジスタ13にはIRED3の発光直前の定常
光電流が流れ続ける。IRED3の発光により増加した
信号光電流I1はトランジスタ13に流入することがで
きず、トランジスタ8のベースに流れ込む。この信号光
電流I1はトランジスタ8によってβ倍に増幅され、一
方、信号光電流I2はトランジスタ8’によってβ倍に
増幅され、それぞれ演算増幅器15に入力され、この演
算増幅器15によって、I2/(I1+I2)が演算さ
れる。この演算値はコンデンサ19にIRED3が投光
されるたびに積分され、積分値は投光されるたびに低下
していく。予定された投光回数に達すると、スイッチS
W4およびSW3をオンし、上記積分用コンデンサ19
を定電流源20から出力される定電流で充電する。これ
によって、コンデンサ19の電位は上昇し、レファレン
ス電圧Vrefに達すると、コンパレータ18は反転す
る。この反転するまでの時間t1を測定することによっ
て、被写体までの距離を求めることができる。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】このアクティブ式測距
装置の遠距離性能は、IREDの投光エネルギに依存し
ている。したがって、遠距離においても精度良く測距す
るには、高い投光エネルギを必要とする。高い投光エネ
ルギを得るには、高輝度のIREDを使用するか、IR
EDの発光時間を長くすれば良い。IREDの発光輝度
はIREDの製造の際のプロセスやチップサイズ等によ
って決定されるため、既存のものでは限界がある。一
方、前述したような定常光成分を記憶して信号光成分を
検出する測距装置において、発光時間を長くすること
、100μsが限界である。
【0008】この限界が発生する理由を図11を用いて
説明する。定常光が太陽光のような直流光源の場合は問
題ないが、商用電源を使用して照明する室内の交流光源
の場合は定常光電流が100Hzもしくは120Hzの
周期で波をうっている(同図(a)参照)。このような
状況下で、図10に示すような従来の回路で、IRED
3を100μs以上発光させると、図11(b)に示さ
れるように、コンデンサ18で定常光を記憶した時点と
発光終了時点での実際の定常光との間に差が発生する
(この値をΔI01、ΔI02とする)。すると、本
来、I2/(I1+I2)を演算すべきところが、IR
ED3の発光終了時点では、(I2+ΔI02)/
[(I1+ΔI01)+(I2+ΔI02)]となり、
誤差を含むことになる。この誤差を無視できる発光時間
が大体100μsである。
【0009】このため、従来は、遠距離でも測距性能を
高くするためには、発光時間間隔は変えず投光回数を増
やすことによって得ていた。しかしながら、投光回数を
増やすと、必然的にトータルの測距時間が増加し、シャ
ッタチャンスを失うという不具合があった。
【0010】この発明は上記課題に鑑みてなされたもの
で、周囲の定常光が交流光源の場合に、投光素子の1回
当たりの投光時間を増加させても、高い測距精度の得ら
れるアクティブ式測距装置を提供することを目的とす
る。
【0011】
【課題を解決するための手段】この発明のアクティブ式
測距装置は、被写体距離を求めるために、被写体に向け
て投光する投光手段と、この投光手段の投光時に、上記
被写体距離に依存した光信号を受光する第1の受光手段
と、上記投光手段の投光時に、上記被写体を照明する環
境光を受光する第2の受光手段と、上記第2の受光手段
の出力を用いて上記第1の受光手段の出力を補正して被
写体距離信号を出力する演算手段と、を具備する。
【0012】
【作用】本発明によるアクティブ式測距装置は、投光手
段が被写体距離を求めるために被写体に向けて投光し、
この投光手段の投光時に、第1の受光手段が上記被写体
距離に依存した光信号を受光し、同じく、上記投光手段
の投光時に、第2の受光手段が上記被写体を照明する環
境光を受光する。そして、演算手段が上記第2の受光手
段の出力を用いて上記第1の受光手段の出力を補正して
被写体距離信号を出力する。
【0013】
【実施例】以下、図面を用いてこの発明の実施例を説明
する。
【0014】まず、図1を用いて、本発明の第1実施例
を説明する。投光素子31によって発生した光束を被写体
4に向けて投光する投光レンズ1と、上記被写体4から
の上記光束の反射光を第1受光素子32に入射させるため
の受光レンズ2は、その光軸が互いに平行であり、基線
長離れて設けられている。この第1受光素子32は、PS
D(半導体位置検出素子)、SPD(シリコンフォトダ
イオード)等によって構成され、上記光束の入射位置に
応じて、2つの電極から異なる比の電流を出力する。こ
の第1受光素子32からの出力は上記投光素子31に基づく
反射光を受光しない状態では定常光によって発生する定
常光電流のみであり、定常光除去回路34に接続される。
【0015】上記定常光除去回路34は上記定常光によっ
て発生する定常光電流を記憶する記憶回路38を内部に有
している。第2受光素子36は、上記投光素子31の投光中
も定常光のみを受光し、この定常光に応じた定常光電流
を出力し、この出力は補正回路35に接続され、この補正
回路35の出力は上記定常光除去回路34の記憶回路38に接
続される。上記定常光除去回路34は、第1受光素子32の
出力と上記補正回路35からの補正信号を用いて、上記投
光素子31の投光中に、信号光電流を抽出し、演算回路33
に出力する。演算回路33は上記定常光除去回路34の出力
に基づいて被写体4までの距離Lを演算し、測距値を出
力する。CPU等の制御手段37は上記演算回路33、定常
光除去回路34、補正回路35にタイミング信号等の制御信
号を出力する。
【0016】上述のように構成された本発明の第1実施
例の作用を説明する。まず、測距動作開始前において、
制御手段37は定常光除去回路34、補正回路35を作動状態
とし、投光素子31、演算回路33を不作動状態とする。こ
のため、投光素子31は非投光状態であり、第1受光素子
32は定常光のみを受光しており、定常光によって発生し
た定常光電流を出力し、この定常光電流は定常光除去回
路34の記憶回路38に記憶される。なお、この記憶回路38
は、緩やかに変動する定常光成分に対しては、その変化
に追随してその記憶値を変更できる。
【0017】次に、測距動作を開始すると、制御手段37
は定常光除去回路34の記憶回路38に第1受光素子の出力
に基づく定常光電流の記憶の変更を禁止すると共に、投
光素子31に対して投光命令を出力する。その結果、第1
受光素子32は定常光に加えて被写体4の反射光を受光
し、定常光電流に加えて上記反射光によって発生する信
号光電流を出力する。定常光除去回路34の記憶回路38は
記憶値の変更を禁止されているので、発光前の定常光を
記憶したままであり、第1受光素子32の出力電流から記
憶された定常光電流を除去することにより信号光電流を
得ることができ、この信号光電流は演算回路33に入力さ
れる。
【0018】ここで、第2受光素子36は、投光素子31の
投光中も定常光を測光しており、交流光源が用いられて
いる場合には、第2受光素子36から出力される定常光電
流は変動する。この定常光電流は補正回路35によって補
正信号とされ、定常光除去回路34の記憶回路38に出力さ
れる。定常光除去回路34はこの補正信号を用いて、投光
素子31の投光中に変化する定常光電流の補正を行う。し
たがって、演算回路33は常に反射光によって発生した信
号光電流のみを用いて被写体4までの距離Lを演算する
ことができる。
【0019】次に、図2及び図3を用いて、本発明の第
2実施例を説明する。この第2実施例は、上記第1実施
例をさらに具体的に示した実施例である。
【0020】図示しない受光用レンズを介して被写体か
らの反射スポット光Sを受光する第1のPSD5は、図
3に示すように2つの信号電極1ch、2chを有してお
り、その反射スポット光Sの受光位置に応じて信号電極
1ch、信号電極2chから電流を出力する。この信号電極
1chと信号電極2chからの出力電流を処理する処理回路
は、前述の図10と基本的には同じである。
【0021】信号電極1chは、定常光電流を流すトラン
ジスタ13のコレクタ、プリアンプ7の入力端、PSD5
の信号電流を増幅するトランジスタ8のベースにそれぞ
れ接続されている。上記トランジスタ13のエミッタは接
地され、このトランジスタ13のベースは定常光記憶用の
コンデンサ45の一端に接続されると共に、差動アンプ12
の出力端に接続されている。この差動アンプ12はスイッ
チSW1に接続され、このスイッチSW1は、図示しな
い制御手段によって開閉の制御がなされる。この差動ア
ンプ12の非反転入力端はダイオード11を介して電源に接
続され、反転入力端は上記トランジスタ8のコレクタに
接続されている。このトランジスタ8のエミッタはプリ
アンプ7の出力端に接続されると共に、上記コレクタは
ダイオード9と定電流源10の並列回路を介して電源に接
続されている。
【0022】上記PSD5の電極2chから出力される電
流を処理する回路は、信号電極2chから出力される定常
光電流を記憶するために、差動アンプ12´に接続される
コンデンサが符号46となっている点が異なっている他
は、信号電極1chを処理する前述の回路と同様の構成と
なっているので、同一の素子には同一の符号に´を付し
て説明を省略する。
【0023】上記トランジスタ8のコレクタは演算増幅
器15の反転入力端に接続され、トランジスタ8´のコレ
クタは演算増幅器15の非反転入力端に接続される。この
演算増幅器15はスイッチSW2を介して接地されてお
り、このスイッチSW2は図示しない制御手段によっ
て、IRED3の投光時に閉成制御される。この演算増
幅器15の出力端はスイッチSW4と定電流源20の直列回
路を介して電源に接続されると共に、積分用コンデンサ
19を介しても電源に接続される。上記スイッチSW4
は、上記コンデンサ19を定電流源20によって充電させる
ためのスイッチであり、図示しない制御手段によって、
投光の終了時に閉成制御される。
【0024】上記演算増幅器15の出力端は更に積分コン
デンサ初期化のための差動アンプ16の入力端に接続さ
れ、この差動アンプ16の出力端はコンパレータ18の入力
端に接続されると共に帰還用バッファ17を介して差動ア
ンプ16にフィードバックされている。なお、上記コンパ
レータ18の出力端は図示しない制御装置に接続されてい
る。
【0025】上記第1のPSD5と共通の電源VDDに接
続された第2のPSD40は、図3に示すように、被写体
4からの反射スポット光が受光されないが定常光を受光
できる位置に、PSD5の長辺方向と平行に配置されて
いる。このPSD40の信号電極3chは、トランジスタ47
のコレクタ、プリアンプ41の入力端、トランジスタ42の
ベースにそれぞれ接続されている。このトランジスタ47
のエミッタは接地され、ベースは上記コンデンサ45およ
び46のそれぞれの他端に接続されると共に、差動アンプ
43の出力端にも接続される、この差動アンプ43の非反転
入力端はダイオード48を介して電源に接続され、一方、
反転入力端は上記トランジスタ42のコレクタに接続され
る。このトランジスタ42のコレクタはダイオード49と定
電流源50の並列回路を介して電源に接続されている。な
お、上記PSD40は半導体位置検出素子に限らず、シリ
コンフォトダイオード(SPD)で構成しても良い。
【0026】このように、信号電極3chから出力される
出力電流の処理回路も基本的には図10の処理回路と同
じであるが、差動アンプ43は常時動作させるためスイッ
チSW1、SW1´にあたるスイッチを有していない。
【0027】以上のように構成された第2実施例の作用
について説明する。まず、測距動作を開始する前は、ト
ランジスタ6はオフし、IRED3は投光動作を行って
いないので、第1のPSD5には定常光のみが入射す
る。この時、スイッチSW1、SW1´は図示しない制
御手段によって閉成されているので、差動アンプ12、12
´は動作状態であり、フィードバックループが形成され
ている。上記定常光によって信号電極1ch、2chに定常
光電流I01、I02が生ずるが、フィードバックループが
形成されているため、これらの電流は全てそれぞれトラ
ンジスタ13、13´に流れる。
【0028】また、第2のPSD40にも定常光が入射し
ているので、この定常光に応じて定常光電流I03が発生
する。差動アンプ43は常時動作状態であるのでフィード
バックループが形成されており、このため定常光電流I
03は全てトランジスタ47に流れる。
【0029】ここで、上記トランジスタ13、13´、47の
それぞれのベースには、定常光電流を流すためのベース
電位が発生している。しかし、PSD5とPSD40の面
積が異なるので発生電流値が異なり、トランジスタ13と
トランジスタ47のベース電位も異なる。これらのトラン
ジスタ13、47のベース電位差をΔVとすると、ΔV=V
T ln ( I01/I03) となる。なお、ここで2つのト
ランジスタのエミッタ面積は等しいとし、またVT は熱
電圧であり、VT =kT/qより表わされる。このベー
ス電位差でもって、コンデンサ45が充電される。同様
に、コンデンサ46にもトランジスタ13´、47のベース電
位差が充電される。
【0030】IRED3の非投光状態から、制御手段に
よってトランジスタ6に投光命令が印加されると、IR
ED3が発光状態となる。制御手段は、同時にスイッチ
SW1、SW1´を開放し、差動アンプ12、12´を不動
作状態としてフィードバックループを遮断し、トランジ
スタ13、13´に流れる電流を、IRED3の発光前の定
常光電流I01のみとする。このためIRED3の被写体
からの反射光によってPSD5に発生した信号電流I1
は、トランジスタ8のベースに流れ込み、増幅されたコ
レクタ電流が流れる。信号電極2chから出力された信号
電流I2 も同様にトランジスタ8´によって増幅され
る。
【0031】IRED3の投光中に、交流光源によって
定常光のレベルが変動すると、この変動に応じてPSD
40の定常光電流I03も変動する。また差動アンプ43は投
光中も動作状態であるのでフィードバックループが形成
されており、定常光電流I03が変動しても、全電流がト
ランジスタ47に流れる。その結果、定常光電流I03の変
動に応じてトランジスタ47のベース電位は変動し、この
電位はコンデンサ45、46に伝えられ、トランジスタ13、
13´のベース電位も定常光のレベルに合わせて変動す
る。したがって、投光中に定常光が変化すると、定常光
電流I01、I02はトランジスタ13、13´に全電流が流
れ、トランジスタ8、8´のベースには、信号電流のみ
が流れることになる。
【0032】信号電流によって生ずるトランジスタ8の
コレクタ電流はダイオード9を流れ、対数圧縮電圧分だ
け電源電圧より低下し、この電圧が演算増幅器15の反転
入力端に印加され、同様にトランジスタ8´のコレクタ
電流によって発生した電圧は演算増幅器15の非反転入力
端に印加される。IRED3の投光時に、制御手段はス
イッチSW2を閉成し演算増幅器15を動作状態としてい
るので、演算増幅器15はI2 /(I1 +I2 )を演算し
て出力する。
【0033】上記IRED3は投光を繰り返し行い、繰
り返し投光されるたびに、コンデンサ19には演算増幅器
15によって発生した値に応じて積分される。所定回数の
投光が終了すると、演算増幅器15を不動作状態でスイッ
チSW4、スイッチSW3を閉成し、コンデンサ19を定
電流源20によって充電させる。所定電位Vref に達する
とコンパレータ18は反転するので、充電を開始してから
反転するまでの時間を計測することにより、被写体距離
に応じた測距値を得ることができる。
【0034】次に、本発明の第3実施例を図4を用いて
説明する。前述の第2実施例において、定常光電流の記
憶にコンデンサ45、46を用い、常時コンデンサ45、46を
定常光電流除去回路に接続していたが、この実施例は、
定常光電流の記憶に差動アンプ60、61を用い、投光時の
み差動アンプ60、61の出力を定常光電流除去回路に接続
するようにしたものである。
【0035】PSD5の定常光電流I01を流すトランジ
スタ13のベースと差動アンプ12の接続点は、IRED3
の非投光時には端子1ch側に、投光時には端子3chに切
り換えられるスイッチSW6を介して差動アンプ60の非
反転入力端に接続され、この差動アンプ60の反転入力端
と出力端の間には抵抗65(抵抗値R0 )とコンデンサ62
の並列回路が介挿されている。また、この反転入力端
は、抵抗66(抵抗値R0)とIRED3の非投光時には
閉成されているスイッチSW5の直列回路を介して差動
アンプ43とトランジスタ47の接続点に接続されている。
上記差動アンプ60の出力端は非投光時には開放されてい
るスイッチSW7を介して差動アンプ12の出力端とトラ
ンジスタ13の接続点に接続されている。なお、差動アン
プ12は常時動作状態としているので、第2実施例のよう
にスイッチSW2を設けてない。
【0036】定常光電流I02を流すトランジスタ13´と
差動アンプ12´の接続点は、非投光時には端子2ch側
に、投光時には端子3chに切り換えられるスイッチSW
8を介して差動アンプ61の非反転入力端に接続され、こ
の差動アンプ60の反転入力端と出力端の間には抵抗67
(抵抗値R0 )とコンデンサ63の並列回路が介挿されて
いる。また、この反転入力端は、抵抗68(抵抗値R0 )
と非投光時には閉成されているスイッチSW8の直列回
路を介して差動アンプ43とトランジスタ47の接続点に接
続されている。上記差動アンプ61の出力端は非投光時に
は開放されているスイッチSW10を介して差動アンプ12
´の出力端とトランジスタ13´の接続点に接続されてい
る。なお、差動アンプ12´は常時動作状態としているの
で、第2実施例のようにスイッチSW2´を設けてな
い。
【0037】上記第3実施例の他の構成は、上記第2実
施例と同じであるので、第2実施例と同一の素子には同
一の符号を付して説明を省略する。
【0038】このように構成された本発明の第3実施例
の作用を説明する。まず、IRED3の非投光状態で
は、差動アンプ12が動作状態にあるのでフィードバック
ループが形成され、定常光電流I01がトランジスタ13に
流れ、定常光電流I02も同様にトランジスタ13´に流れ
る。このとき、図示されない制御手段によって、スイッ
チSW5は閉成、スイッチSW6は1ch側、スイッチS
W7は開放、スイッチSW8は閉成、スイッチSW9は
2ch側、スイッチSW10は開放に設定されている。この
ため、トランジスタ13のベース電位とトランジスタ47の
ベース電位の差ΔV1 がコンデンサ62に充電される。同
様にトランジスタ13´のベース電位とトランジスタ47の
ベース電位の差ΔV2 がコンデンサ63に充電される。
【0039】次に、IRED3が投光状態になると、制
御手段によって、スイッチSW5は開放、スイッチSW
6は3ch側、スイッチSW7は閉成、スイッチSW8は
開放、スイッチSW9は3ch側、スイッチSW10は閉成
に設定される。このため、トランジスタ13のベースに
は、トランジスタ47のベース電位にコンデンサ62の充電
電圧ΔV1 を加えた電位が印加される。投光中、定常光
が変動するとトランジスタ47のベース電位も追従して変
動するので、トランジスタ13には変動する定常光に追従
して定常光電流I01が流れ、トランジスタ8には反射光
による信号電流I1 のみが流れることになる。同様に、
トランジスタ8´にも信号電流I2のみが流れる。この
信号電流I1 、I2 を用いて被写体距離を求める演算に
ついては第2実施例と同じであるので説明を省略する。
【0040】次に、前述の第1実施例乃至第3実施例に
おける第1受光素子、第2受光素子もしくはPSD5、
PSD40に代えて使用できる受光素子について、図5お
よび図6を用いて説明する。
【0041】図5において、PSD71は上記PSD5の
短辺方向に配置されており、定常光のみを受光する。図
6において、半導体位置検出素子PSDに代えて、シリ
コンフォトダイオードSPDを使用したものであって、
SPD73とSPD74はそれぞれ三角形の形状をなし、三
角形の斜辺が対向する位置に配置され、SPD73に信号
電極1chが、SPD74に信号電極2chが設けられてい
る。投光素子による反射光が入射しない位置にSPD75
が配置され、信号電極3chが設けられている。
【0042】次に、本発明の第4実施例を図7を用いて
説明する。前述した実施例は定常光検出用の受光素子
(PSD40)を設けていたが、この第4実施例は測光用
の受光素子を兼用したものである。
【0043】測光用の受光素子は、シャッタや絞り等の
露出制御もしくは露出表示を行うために、被写体の輝度
を検出するものであって、測光用の受光素子であるSP
D(シリコンフォトダイオード)81は、図7(a)に示
すように、測距用のPSD5を受光する受光レンズ2と
は異なる測光用レンズ82を介して被写体光を入射する位
置に配置される。
【0044】この測光用SPD81を用いて定常光を検出
する回路は、図2の一部を図7(b)のように変更すれ
ば良い。SPD81のカソードは電源VDDに接続され、ア
ノードはトランジスタ47のコレクタに接続されている。
このトランジスタ47のベースはトランジスタ83のベース
に接続されているので、トランジスタ47とトランジスタ
83とはカレントミラー構成となり、トラジスタ47とトラ
ジスタ83には等しい電流が流れる。トラジスタ83のエミ
ッタは接地され、コレクタは差動アンプ84に入力端に接
続されると共に対数圧縮用ダイオード85を介して差動ア
ンプ84の出力端に接続されている。その他の構成は図2
と同様であるので説明を省略する。
【0045】この第4実施例は前述のように構成されて
いるので、露出制御もしくは露出表示用の測光出力は差
動アンプ84の対数圧縮出力を用いることができ、投光中
の定常光電流は図2の実施例と同様にトラジスタ47を流
れ、同じ作用となる。
【0046】このように第4実施例は、測光用の受光素
子を定常光電流の検出に兼用しているので、新たに受光
素子を設ける必要がないという効果を奏する。
【0047】
【発明の効果】本発明は、アクティブ式測距装置におい
て、測距対象に向けて投光する投光手段の投光中も、定
常光によって発生する信号を出力する受光手段を設け、
この受光手段の出力を用いて、測距用の受光手段の出力
から反射光によって発生する信号を抽出しているので、
上記投光手段による投光時間を長くしても、測距誤差を
なくすことができ、短い時間で精度の高い測距を行うこ
とができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施例を示すブロック図。
【図2】本発明の第2実施例を示す電気回路図。
【図3】上記図2で使用される受光素子の平面図。
【図4】本発明の第3実施例を示す電気回路図。
【図5】上記図1、図2、図4の実施例で用いることの
できる受光素子の平面図。
【図6】上記図1、図2、図4の実施例で用いることの
できる受光素子の平面図。
【図7】本発明の第4実施例を示す光学的配置および電
気回路を示す図。
【図8】従来のアクティブ式測距装置の光学的配置図。
【図9】従来のアクティブ式測距装置の被写体距離と演
算出力の関係を示す線図。
【図10】従来のアクティブ式測距装置の電気回路図。
【図11】定常光が交流光源である場合の信号光との関
係を説明する波形図。

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被写体距離を求めるために、被写体に向
    けて投光する投光手段と、 この投光手段の投光時に、 上記被写体距離に依存した光
    信号を受光する第1の受光手段と、上記投光手段の投光時に、 上記被写体を照明する環境光
    を受光する第2の受光手段と、 上記第2の受光手段の出力を用いて上記第1の受光手段
    の出力を補正して被写体距離信号を出力する演算手段
    と、 を具備することを特徴とするアクティブ式測距装置。
JP12218991A 1991-04-24 1991-04-24 アクティブ式測距装置 Expired - Fee Related JP3130559B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP12218991A JP3130559B2 (ja) 1991-04-24 1991-04-24 アクティブ式測距装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP12218991A JP3130559B2 (ja) 1991-04-24 1991-04-24 アクティブ式測距装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH04324310A JPH04324310A (ja) 1992-11-13
JP3130559B2 true JP3130559B2 (ja) 2001-01-31

Family

ID=14829778

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP12218991A Expired - Fee Related JP3130559B2 (ja) 1991-04-24 1991-04-24 アクティブ式測距装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3130559B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012230353A (ja) * 2011-04-15 2012-11-22 Takaaki Kihara 学習用補助具

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012230353A (ja) * 2011-04-15 2012-11-22 Takaaki Kihara 学習用補助具

Also Published As

Publication number Publication date
JPH04324310A (ja) 1992-11-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH0224325B2 (ja)
JPH05164552A (ja) 測距装置
JP3130559B2 (ja) アクティブ式測距装置
JP2704958B2 (ja) 測距装置
US6259514B1 (en) Rangefinder apparatus
JPH0894920A (ja) 測距装置
JP3058709B2 (ja) 測距及び測光装置
US6188843B1 (en) Rangefinder apparatus adjusting method
US6192199B1 (en) Rangefinder apparatus
JP2004245780A (ja) 測距装置
US6188842B1 (en) Rangefinder apparatus
US6188844B1 (en) Rangerfinder apparatus
JP3694018B2 (ja) 測距装置
JP3121076B2 (ja) 測距装置
JPH0715544B2 (ja) カメラの測光装置
JPH0326408Y2 (ja)
JP3432852B2 (ja) 測距装置
JPH0140291B2 (ja)
US6195510B1 (en) Rangefinder apparatus
JP3231352B2 (ja) 測距装置
JP3672987B2 (ja) 測距装置
JPH01240812A (ja) 距離測定装置
JP3115925B2 (ja) 測距装置
JP2960271B2 (ja) 測距装置
JPH0648896Y2 (ja) 半導体レーザの駆動回路

Legal Events

Date Code Title Description
A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20000404

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20001101

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071117

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081117

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091117

Year of fee payment: 9

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees