JP3123794B2 - 油中金属粒子の検出装置及び導電性粒子検出方法 - Google Patents

油中金属粒子の検出装置及び導電性粒子検出方法

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    • G01N33/26Oils; Viscous liquids; Paints; Inks
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  • Geophysics And Detection Of Objects (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、潤滑油中の金属摩耗粉
等を検出するに好適な金属粒子検出技術に係わり、殊
に、簡単な構成で、インラインで、しかも粒径毎にその
粒子数量までも高精度に推定又は検出し得る、全く新た
油中金属粒子の検出装置及び導電性粒子検出方法に関
する。
【0002】
【従来の技術】従来、この種の代表的金属粒子検出技術
には、ラボ用(分析室用)又はインライン用として、分
光式、照射光減衰式、電気抵抗式、磁気抵抗式等があ
る。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ところで上記従来技術
の特徴は、大略列挙すれば、次のとおりである。 (1)分光式は、ほとんどの種類の粒子量を該種類毎に
検出することができるが、その検出装置が大掛かりとな
るためにインラインでの使用に不向きであり、また粒径
毎の粒子数量までも推定又は検出することができない。 (2)照射光減衰式は、ほとんどの種類の粒子量を検出
でき、しかもインラインでの使用も好適であるが、粒径
毎の粒子数量までも推定又は検出することができない。 (3)電気抵抗式は、インラインでの使用に好適である
が、検出誤差が大きく、また粒径毎の粒子数量までも推
定又は検出することができない。 (4)磁気抵抗式は、インラインでの使用に好適である
が、強磁性体粉Fe、Niの粒子以外は検出できず、ま
粒径毎の粒子数量までも推定又は検出することができ
ない。
【0004】上述のとおり、上記従来技術に共通する欠
点は、流体中の金属粒子を粒径毎の粒子数量までも推定
又は検出することができない点である。もっとも上記従
来技術を、複雑化し、かつ、専門化すれば、この共通点
を克服できないわけではなかろう。
【0005】本発明は、上記従来技術の欠点に着目し、
流体中の導電性金属粒子を、簡単な構成で、インライン
で、しかも粒径毎にその粒子数量までも高精度に推定又
は検出し得る、全く新たな油中金属粒子の検出装置及び
導電性粒子検出方法を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明に係る油中金属粒子の検出装置は、第1に、
金属フィルム1と絶縁フィルム2とを交互に積層し、該
積層断面が櫛形電極となるように、2本のリード線3
a、3bの各々に対し、各金属フィルム1をひとつおき
に並列接続し、該積層端面を金属粒子存在流体4内に浸
漬させてなる構成とした。また、第2に、金属フィルム
1と絶縁フィルム2とを交互に積層し、該積層断面が櫛
形となる櫛形電極を油等の非極性溶媒中に配置し、電極
間に高電圧を印加した時に生じる電圧パルスを測定する
ことにより、金属粒子などの導電性粒子を測定する構成
としてもよい
【0007】他方、導電性粒子検出方法は、油等の非極
性溶媒中に電極を浸してその電極間に電圧を印加し、溶
媒中の導電性粒子が該電極間に存在するときに発生する
パル ス状電圧を測定することにより前記導電性粒子の粒
径を計測する方法において、所定時間内に発生するパル
ス状電圧を所定レベル範囲毎に計数し、パルス状電圧発
生の原因となった導電性粒子径の自乗が該電圧値に比例
すること及び所定レベル範囲内の電圧パルス発生頻度が
該所定レベル範囲内の電圧パルス発生の原因となった所
定範囲内の粒径を有する導電性粒子の濃度に比例するこ
とを利用して導電性粒子の粒径分布を得ることを特徴と
する導電性粒子検出方法である。
【0008】
【作用】溶媒中に導電性粒子が存在するとき上記油中金
属粒子の検出装置及び上記導電性粒子検出方法のいずれ
によっても、導電性粒子の粒径分布を得ることができ
る。そしこれら油中金属粒子の検出装置及び導電性粒
子検出方法は、詳細を次の〔実施例〕の欄で述べる実施
例及びその実験成績によって特定したものである。尚、
上記特定された油中金属粒子の検出装置及び導電性粒子
検出方法と、上記作用との因果関係は説明が長くなるに
ので次の〔実施例〕の欄で詳述する。
【0009】
【実施例】以下本発明の好ましい実施例を、図1〜図6
を参照し、説明する。図1は、本発明に係る金属粒子検
部10の構成図である。同図において、1は厚さ10
μmの金属フィルム、2は厚さ10μmの絶縁フィルム
であり、これら1、2が交互に積層されている。そし
て、該積層断面は櫛形電極となるように、2本のリード
線3a、3bの各々に対し、各金属フィルム1をひとつ
おきに並列接続してある。そして、図示しないが、該積
層端面が金属粒子存在流体内に浸漬するように構成して
ある。
【0010】図2は、上記金属粒子検出部10のインラ
イン用としての第1具体例であって、同図(a)に示す
ように、ねじ込みプラグ形金属粒子検出センサ6として
構成した。同図において、金属粒子検出センサは、絶
縁体5に包埋されてその櫛形状なる積層断面1、2だけ
を露出し、かつ、リード線3a、3bが外部に取り出さ
れている。この一部拡大断面図を同図(b)に、当該ね
じ込みプラグ形金属粒子検出センサ6のインラインへの
使用例を同図(c)に示す。同図(c)において、ねじ
込みプラグ形金属粒子検出センサ6は、流体4が流れる
チュブ7の外壁螺合され、その金属粒子検出10
の櫛形積層面は流体上流側に面するようになっている。
【0011】図3は、上記金属粒子検出部10のインラ
イン用としての第2具体例であって、同図(a)、
(b)に示すように、ボルト取付け形金属粒子検出セン
サ8である。同図において、金属粒子検出10は、絶
縁体5に包埋されてその櫛形状なる積層断面1、2だけ
を露出し、リード線3a、3bが外部に取り出されてい
る。この一部拡大断面図を同図(c)に示す。
【0012】尚、上記金属粒子検出部10の金属フィル
ム1と絶縁フィルム2との厚さは各々10μmとした
が、実際粒径Rによって自在に変更するのがよい。即
ち、検出可能粒径(詳細を後述する「みなし粒径r」
である)を制約するのは、基本的には、絶縁フィルム2
の厚さであり、金属フィルム1の厚さではないからであ
る。例えば、絶縁フィルム2の厚さを10μmとしたま
ま、金属フィルム1の厚さを10〜30μmまで各種変
更して実験してみたが、この範中での成績(即ち、検出
粒径rと検出粒子数f(V)との検出分布と、実際分布
との関係)における有違差はほとんど認められなかっ
た。
【0013】次に油中金属粒子検出方法の実施例を、
図4のフローチャートを参照し説明する上記金属粒子
検出10により、パルス電圧Vを検出し(ステップ
(01))、次に各検出パルス電圧Vについて、同一電
圧V毎にそのパルス数f(v)を積算し(ステップ(0
2))、次に同一電圧V毎に、式(k×V1/2
r)と、式(k×f(v)×V1/2=Pn)とを
演算し(ステップ(03)、但しkとkとは所定定
数)、最後に各結果r毎(みなし粒径r毎)の結果Pn
(詳細を後述する「みなし粒子数Pn」である)と、被
検出流体4内の金属粒子の各実際粒径R毎の実際粒子数
Nとは相似又は同一であるとみなしている(ステップ
(04))。
【0014】次に油中金属粒子検出装置の実施例を、
図5及び図6を参照説明する。図5金属粒子検出
10と、処理器20と、出力器30との接続ブロックで
ある詳しくは、処理器20検出パルスを波高値別に
集計し、これをマイコン21で処理して出力器30でグ
ラフィック表示をさせるため、検出パルスのピーク値を
保持するピークホールド回路22検出時間特定のため
のトリガー回路23とをA/Dコンバータ24を介して
前記マイコン21(PC9801)に取り込んでいる。
尚、金属粒子検出10の櫛形電極には50Vの電圧を
印加している。ところで本実施例での前記A/Dコンバ
ータ24は最大変換電圧が10Vであるため、前記金属
粒子検出10で発生するパルス電圧を1/5とするよ
うにしている。尚、抵抗は単なる電流制限用である。
【0015】以上のように構成とすると、該金属粒子検
10からパルス波が観察される。そこで処理器20
は、図6のフローチャートに示す処理を実施する。即
ち、少なくとも金属粒子検出10に合わせて予め設定
した定数kと、少なくとも金属粒子検出10と検出
時間とに合わせて予め設定した定数kとを記憶し(ス
テップ(11))、次に金属粒子検出10からパルス
電圧Vを入力し(ステップ(12))、次に各検出パル
ス電圧Vについて、同一電圧V毎にそのパルス数f
(v)を積算し(ステップ(13))、次に同一電圧V
毎に、上記式(k×V1/2=r)と、上記
(k×f(v)×V1/2=Pn)とを演算し(ステ
ップ(14))、最後に各結果r毎の結果Pnと、被検
出流体4内の金属粒子の各実際粒径R毎の実際粒子数N
とは相似又は同一であるとみなす旨を出力器30により
出力させる(ステップ(15))。このようにすると、
図7(c)に示す結果られる。。
【0016】尚、上記出力器30と漠然とした表現
あるが、これは例えば単なるデータ出力器だけを指す場
合(例えば、単なる数字の羅列出力)、また例えばこれ
に画像処理器を伴った画像表示器をセットしたもの(図
7(c)の画像出力はこの例による)等、適宜選択する
ことができる。
【0017】また本実施例なる油中金属粒子検出装置
自体をインラインで使用する際は、出力器30は何もグ
ラフィック表示器である必要はないから、また処理器2
0は例えば所定のみなし粒径rにおける検出粒子数Pn
に対してならば閾値rを、又は検出粒子数nのみに
対してならば閾値Pn0を予め処理器20内に記憶させ
ておき、入力された検出パルスを逐次演算して、r=r
かつPn=Pn0となったとき又はPn=Pn0とな
ったとき、新たな出力器なる警報器30で警報を発する
だけでよい。即ち、インライン式の油中金属粒子検出
装置では、何も上記実施例のPC9801のような大袈
裟なマイコンを使用する必要はない。
【0018】上記実施例の作用効果を次の〔0019〕
〜〔0035〕に述べる。尚、前記「特許請求の範囲」
に記載の発明は、上記実施例と、その下記実験結果
基づなされたものである以下、図7の実験成績グラ
フを参照し、帰納的に説明する。
【0019】実験は次の手順で実施した。先ず導電性
属粉を顕微鏡で眺めながら、手作業で同一粒径R毎に粒
子数Nを選り分けた。この層別結果を図7(a)に示
す。同図の横軸は実際粒径R〔単位:μm〕、縦軸は各
粒径R毎の実際粒子数N〔単位:個〕である。
【0020】次に上記金属粉を潤滑油中に投入し、超音
波で懸濁しつつ、またさらにこの懸濁をより効果的に持
続させるため、かつエンジン等の実機稼働に合わせるた
め、該潤滑油容器をホットプレート上に乗せて80°C
に一定加熱し次の検出を行った。
【0021】金属粉入り潤滑油内金属粒子検出10
を浸漬し金属粒子検出10によってパルス電圧Vを
検出する。図7(b)は50分間における検出結果のグ
ラフであり、横軸は検出パルス電圧V〔単位:V〕、縦
軸は同一電圧V毎の検出パルス数f(v)〔単位:個〕
である。
【0022】ところで上記図7(a)、(b)は外観
上、相関関係を認め難いが、前記「特許請求の範囲」に
記載の発明は、これら図7(a)、(b)の相関関係を
明らかにした上で、利用し、実用に耐え得るものであ
る。
【0023】即ち発明者等は「電流が導体断面積の二乗
に比例して流れる」ことに着目し、所定の関係式を構築
すれば、図7(b)の検出パルス電圧Vを同図(a)の
実際粒径Rに変換でき、かつ同図(b)の検出パルス数
f(v)を同図(a)の実際粒子数Nに変換できるので
はないかと考え、その末に導き出した式が、k×V
1/2=r(上記式)と、k×f(v)×V1/2
=Pn(上記式)とである。これら関係式、は、
下記するように、上記の相関関係を明らかにしている。
【0024】即ち図7(c)は関係式、に従って
得られたグラフであり、図7(b)の検出パルス電圧V
を式によって補正した値が同図(c)の横軸のみなし
粒径r、他方図7(b)の検出パルス数f(v)を式
によって補正した値が同図(c)の縦軸のみなし粒子数
Pnである。即ち、図7(c)と同図(a)とのグラフ
の形状は、誰が見ても、相似又は同一であると(即ち、
ほぼ有違差のない相関関係を有すると)判定することが
できる。
【0025】尚、上記「相似又は同一」説明する
「相似」とは本発明の目的で掲げた「粒径毎にその粒子
数量までも高精度に推定し得る」こと、他方「同一」と
は本発明の目的で掲げた「粒径毎にその粒子数量までも
高精度に検出し得る」ことを意味する。もっとも、「同
一」といっても、全く同一ということは、一切有り得な
いのであるから、ここで言う「同一」とは、少なくと
も、粒径の単位と粒子数とを特定できる程度に該粒子の
分布を検出できる程度を言い(勿論、粒径と粒子数とに
は多少の誤差が含まれるが、これは止むを得ないことで
ある)、他方「相似」とは、粒径の単位までは特定でき
ないが、粒径毎の粒子数の分布が判明できる程度を指す
ものとする(勿論、これも、粒径と粒子数とには多少の
誤差が含まれるが、これも止むを得ないことである)。
【0026】これを具体的に示す。図7(c)は、定数
を2.55、定数kを2.33として得たグラフ
である。このように定数k、kを設定すると、同図
(c)は同図(a)と同一となる。即ち、図7(b)の
検出パルス電圧Vを式によって補正した図7(c)の
みなし粒径rは、その単位〔V〕を単に〔μm〕とする
だけで、図7(a)の横軸の実際粒径Rに、単位まで一
致している。他方図7(b)の検出パルス数f(v)を
式によって補正した図7(c)のみなし粒子数Pn
は、図7(a)の縦軸の実際粒子数Nと一致している。
即ち、図7(c)と図7(a)とは同一であると考えて
よい。繰り返すが、かかる場合が、上記「同一」であ
り、「粒径毎にその粒子数量までも高精度に検出し得
る」と言う本発明の目的の達成となる。
【0027】他方、仮にkとkとを上記以外の他の
値(例えばk=0.255、k=0.233、その
他の数)とした場合、図7(c)は図7(a)に単に相
似するだけであって、粒径r毎の粒子数Pnの分布状況
は判明するが、実際粒径Rも実際粒子数Nも分からな
い。即ち、かかる場合が上記「相似」であり、「粒径
にその粒子数量までも高精度に推定し得る」と言う本発
明の目的の達成となる。
【0028】従って「相似」又は「同一」(別言すれ
ば、「推定」又は「検出」)であるかは、定数k、k
の設定値如何に係わる。そこでこの定数k、k
設定について、これも図7を利用し、以下説明する。
尚、これに先立ち、関係式、の成り立ちについて予
め説明しておく。
【0029】式は、上「電流が導体断面積の二乗に
比例して流れる」により、V1/2が不可欠と考えられ
た。これに対し、式は次のとおりである。V
1/2は、図7(a)、(b)のグラフの外観類似から
判断し、「式は式(即ち、はV1/2)の関数であ
る」と考え、これも当然に式に折り込むこととした。
またf(V)は検出パルス数自体であるから、これも当
然に式に折り込むこととした。尚、思考錯誤では、そ
の他幾多の近似式で試行したが、結果として、上記
式、式に落ち着いたのが本音である。
【0030】次に定数k、kの決定を、上述のk
=2.55及びk=2.33の決定過程を元に説明す
る。即ち、上記実験において、金属粒子の実際分布は、
図7(a)に示すとおり、手作業により、予め実際粒径
R毎の実際粒子数Nが判明していた。そこで、この各
R、Nと、図7(b)の検出値V、f(V)とを対応比
較し、上記定数k、kを決定したものである。
【0031】これを分かり易く説明する。図7(a)の
座標(R、N)におけるA点(1.1、300)とB
点(1.4、280)とは、図7(b)の座標(V、
f(V))において、A点はA点(0.18、27
0)に、B点はB点(0.31、245)に対応す
る。そこで式をr=Rとして、A点とA点とから
の1.1=k,×0.181/2によるk≒2.59
と、B点とB点とからの1.4=k×0.31
1/2によるk≒2.51とを平均し、k≒2.5
5を得た。他方式をPr=Nとして、A点とA
とからの300=k×270×0.181/2による
≒2.62と、B点とB点とからの280=k
×245×0.311/2によるk≒2.05とを
平均し、k≒2.33を得た。尚、上記A点とA
点及びB点とB点の対応抽出の仕方自体について
は、概ね、図7(a)と同図(b)とのグラフの形状を
参酌すると、容易に求めることができる。
【0032】上記説明から分かるとおり、上記実施例
の関係式、自体は変更し難いが、その定数k、k
は極めて自由度の高い値である。即ち、上述のよう
に、予め試料を元に厳格に決定しておけば、「同一」検
出することができるようになる。尚、これら定数k
は、金属粒子検出の仕様(主に絶縁フィルム2の
厚さ)によって必然的に決定されてしまう値であり、同
一仕様の金属粒子検出に対しては、例えば仕様表に記
載しておけば、その後の使用(即ち、本発明又は本実施
の使用)では、その値を使用するだけである。これに
対し、「推定」の場合は、極端には、k=k=1と
してもよい。即ち「推定」にしろ、「同一」にしろ、そ
の定数k、kの設定は検出要求精度如何によって適
宜決定することができる値である。
【0033】付記すれば、定数kは、少なくとも上述
したとおり、金属粒子検出を考慮して設定する必要が
あり、他方定数kは、少なくとも、上記同様に金属粒
子検出のほか、検出時間をも考慮して設定する必要が
ある。この検出時間とは、上記実験では50分間であっ
たが、仮に1分間とすれば、単純計算によれば、k
2.33×50=116.5とすべきだからである。も
っともこの場合、定数kにも前記検出時間と言う要素
を加味してもよいが、かかる加減の有無は、上記定数k
、kの設定条件における「少なくとも」に含まれる
ものである。
【0034】即ち「少なくとも」との用語は、「相似
(=推定)」であれ、「同一(検出)」であれ、それな
りの値を設定できるのであるから、上記金属粒子検出
及び/又は検出時間のほか、自在に他の因子をも加味で
きる趣旨を含んだものである。
【0035】上記は主として、上記各実施例についての
説明であるが、金属粒子検出部自体について、述べてお
く必要がある。本発明者等は先に特願平2−83150
(特許第2561551号)で本金属粒子検出部に類
似する金属粒子検出センサを提案している。ところが、
この金属粒子検出センサにおける櫛形電極は、蒸着法等
によって成形された薄膜パターン電極であり、本発明の
目的、作用及び効果を得られないのが実情である。即ち
上記実施例での金属粒子検出部は、上記先に提案の金属
粒子検出センサと同じく櫛形の電極ではあっても、金属
フィルム1と絶縁フィルム2との積層断面が櫛形であ
り、飽くまでフィルム間はコンデンサの機能を有してい
ると考えられる。従って、上記実施例(即ち本願発明)
は金属粒子検出部自体には特徴があり、この金属粒子検
出部を使用して初めて、油中金属粒子の検出装置及び導
電性粒子検出方法における上記目的、作用及び効果を達
成できる。
【0036】
【発明の効果】以上説明したように、本発明に係わる
中金属粒子の検出装置及び導電性粒子検出方法によれ
ば、流体中の導電性金属粒子を、簡単な構成で、インラ
インで、しかも粒径毎にその粒子数量までも高精度に推
定又は検出することができる
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る金属粒子検出の一実施例を示す
図である。
【図2】本発明の金属粒子検出の使用例を示す図であ
り、(a)は全体外観図、(b)は部分拡大断面図、
(c)は装着例を示す図である。
【図3】本発明の金属粒子検出の他の使用例を示す図
であり、(a)は全体断面図、(b)は正面図、(c)
は部分拡大断面図である。
【図4】本発明の導電性粒子検出方法の一実施例を示す
フローチャートである。
【図5】本発明の油中金属粒子の検出装置の一実施例の
全体ブロック図である。
【図6】本発明の油中金属粒子の検出装置の一実施例を
示すフローチャートである。
【図7】本発明の目的、作用及び効果を説明する実験成
績図であって、(a)は実際粒径毎の実際粒子数の分布
グラフ、(b)は金属粒子検出によって得られる検出
パルス電圧毎の検出パルス数の分布グラフ、(c)は
発明の実施例によって得られるみなし粒径毎のみなし粒
子数の分布グラフである。
【符号の説明】
1:金属フィルム、2:絶縁フィルム、3a:リード線
3b:リード線、4:金属粒子存在流体、10:金属粒
子検出、20:処理器、30:表示器、V:パルス電
圧、f(v):パルス数、k:定数、k:定数、
r:みなし粒径、R:実際粒径、Pn:みなし粒子数、
N:実際粒子数。
フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭59−42441(JP,A) 特開 平3−282246(JP,A) 実開 昭60−68464(JP,U) 特公 昭49−9799(JP,B1) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01N 15/02

Claims (3)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 金属フィルム1と絶縁フィルム2とを交
    互に積層し、該積層断面が櫛形電極となるように、2本
    のリード線3a、3bの各々に対し、各金属フィルム1
    をひとつおきに並列接続し、該積層端面を金属粒子存在
    流体4内に浸漬させてなる構成を特徴とする油中金属粒
    子の検出装置
  2. 【請求項2】 金属フィルム1と絶縁フィルム2とを交
    互に積層し、該積層断面が櫛形となる櫛形電極を油等の
    非極性溶媒中に配置し、電極間に高電圧を印加した時に
    生じる電圧パルスを測定することにより、金属粒子など
    の導電性粒子を測定する油中金属粒子の検出装置。
  3. 【請求項3】 油等の非極性溶媒中に電極を浸してその
    電極間に電圧を印加し、溶媒中の導電性粒子が該電極間
    に存在するときに発生するパルス状電圧を測定すること
    により前記導電性粒子の粒径を計測する方法において、
    所定時間内に発生するパルス状電圧を所定レベル範囲毎
    に計数し、パルス状電圧発生の原因となった導電性粒子
    径の自乗が該電圧値に比例すること及び所定レベル範囲
    内の電圧パルス発生頻度が該所定レベル範囲内の電圧パ
    ルス発生の原因となった所定範囲内の粒径を有する導電
    性粒子の濃度に比例することを利用して導電性粒子の粒
    径分布を得ることを特徴とする導電性粒子検出方法。
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Families Citing this family (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2272976B (en) * 1992-11-30 1996-06-05 Stewart Hughes Ltd A sensor
US6204656B1 (en) 1997-05-29 2001-03-20 Reid Asset Management Company Miniature sensor for lubricant analysis
US6043639A (en) * 1997-12-01 2000-03-28 Celestica International Inc. Method and apparatus for real-time detection of airborne conductive contaminants
US5977782A (en) * 1998-01-23 1999-11-02 Cts Corporation Fluid abrasion and/or corrosion sensors and method of sensing abrasion and/or corrosion
US6222376B1 (en) * 1999-01-16 2001-04-24 Honeywell International Inc. Capacitive moisture detector and method of making the same
US7247030B2 (en) * 2004-04-05 2007-07-24 Tyco Electronics Corporation Bonded three dimensional laminate structure
US7862875B2 (en) * 2004-10-04 2011-01-04 Trico Corporation Flinger disc
US7541004B2 (en) * 2004-11-12 2009-06-02 Predict, Inc. MEMS-based sensor for lubricant analysis
EP1912056A1 (en) 2006-10-13 2008-04-16 Hydac Filtertechnik GmbH Method and apparatus for evaluating contamination measurements
US8096164B2 (en) 2008-01-17 2012-01-17 Trico Corporation Apparatus and methods for management of fluid condition
US8220671B2 (en) 2008-03-12 2012-07-17 Trico Corporation Lubricant dispenser with nozzle
USD687923S1 (en) 2008-06-03 2013-08-13 Trico Corporation Lubricant dispensing nozzle
US8212575B2 (en) * 2008-12-29 2012-07-03 Lexmark International, Inc. Device for analyzing size and location of conductive item
US8147684B2 (en) * 2009-03-27 2012-04-03 Trico Corporation Apparatus and methods for lubricant filtration and drum pump filtration system
US8147683B2 (en) * 2010-01-22 2012-04-03 Trico Corporation Portable lubricant filtration system and method
USD687921S1 (en) 2012-04-25 2013-08-13 Trico Corporation Lubricant dispenser
USD687922S1 (en) 2012-04-25 2013-08-13 Trico Corporation Lubricant dispenser
USD696956S1 (en) 2012-04-25 2014-01-07 Trico Corporation Lubricant dispenser
AU2013370933B2 (en) * 2012-12-24 2017-09-07 Vdl Gold Pty Ltd Process for mining alluvial deposits
DE102013014670A1 (de) * 2013-09-03 2015-03-05 Hydac Filter Systems Gmbh Verfahren zum Betrieb eines Partikelsensors nebst Auswertung seiner Ergebnisse
CN104568516B (zh) * 2015-01-09 2017-06-06 西安交通大学 一种基于fpga的发动机尾气金属磨粒收集系统及方法
US10705039B2 (en) * 2017-03-27 2020-07-07 Nabtesco Corporation Sensor for detecting magnetic powders in a lubricant
KR102142932B1 (ko) * 2019-04-25 2020-08-10 주식회사 솔지 윤활유 내의 철성마모입자 농도 진단센서
CN110470822A (zh) * 2019-08-21 2019-11-19 岭澳核电有限公司 一种核电站机械设备磨损监测系统及方法

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3422417A (en) * 1968-02-02 1969-01-14 Charles B Lowe Metal bearing failure detector
US4070660A (en) * 1976-02-20 1978-01-24 Tauber Thomas E Wear particle detector
JPS5443086A (en) * 1977-09-12 1979-04-05 Mitsubishi Heavy Ind Ltd Flaw detector
US4127808A (en) * 1977-10-07 1978-11-28 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force Engine chip detector
JPS5942441A (ja) * 1982-09-01 1984-03-09 Caterpillar Mitsubishi Ltd 油濁監視センサ
JPS6068464U (ja) * 1983-10-18 1985-05-15 株式会社小松製作所 異物センサ装置
JPS60227159A (ja) * 1984-04-25 1985-11-12 Fujitsu Ltd 電子部品用洗浄液の更新期評価方法
JP2561551B2 (ja) * 1990-03-29 1996-12-11 株式会社小松製作所 金属粒子検出センサ
JP3094170B2 (ja) * 1991-03-27 2000-10-03 株式会社小松製作所 金属粒子検出センサの電極構造

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