JP3094170B2 - 金属粒子検出センサの電極構造 - Google Patents
金属粒子検出センサの電極構造Info
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
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Description
【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、潤滑油等の流体中に混
入した金属粒子を検出するセンサの電極構造に関するも
のである。
入した金属粒子を検出するセンサの電極構造に関するも
のである。
【0002】
【従来の技術】潤滑油中に浮遊金属粉の有無を検出する
手段としては、油槽壁、例えば底壁に配置した磁石にて
上気金属粉を吸着し、このときの磁束の変化を検出する
ことにより金属粉の混入量を知るようにしたものがあ
る。
手段としては、油槽壁、例えば底壁に配置した磁石にて
上気金属粉を吸着し、このときの磁束の変化を検出する
ことにより金属粉の混入量を知るようにしたものがあ
る。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上記従来の浮遊金属粉
の検知手段では、油槽に対して殆ど点状にしか設置する
ことができず、1個の検知手段での検知能力は限られた
ものとなり、広い範囲にわたって検知しようとすると必
然的に多くの検知手段を設けなければならず、この設置
箇所が多くなることにより検知制御が複雑になるという
問題があった。また上記従来のものにあっては、金属粉
が微小で、かつ数十〜数千PPMと比較的希薄な場合に
は適用できなかった。
の検知手段では、油槽に対して殆ど点状にしか設置する
ことができず、1個の検知手段での検知能力は限られた
ものとなり、広い範囲にわたって検知しようとすると必
然的に多くの検知手段を設けなければならず、この設置
箇所が多くなることにより検知制御が複雑になるという
問題があった。また上記従来のものにあっては、金属粉
が微小で、かつ数十〜数千PPMと比較的希薄な場合に
は適用できなかった。
【0004】本発明は上記のことにかんがみなされたも
ので、油槽の広い範囲にわたって浮遊金属粉を検知する
ことができると共に、この浮遊金属粉が微小で、かつ比
較的希薄な場合でも高効率で検出できるようにした金属
粒子検出センサの電極構造を提供することを目的とする
ものである。
ので、油槽の広い範囲にわたって浮遊金属粉を検知する
ことができると共に、この浮遊金属粉が微小で、かつ比
較的希薄な場合でも高効率で検出できるようにした金属
粒子検出センサの電極構造を提供することを目的とする
ものである。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明に係る金属粒子検出センサの電極構造は、絶
縁基板上に、対向間隔を1〜50μmにすると共に、そ
れぞれの幅を3t〜8tにした一対の電極を薄膜金属に
てくし形状に入り込み対向させて形成し、両電極の一方
の電極に電源を接続し、他方の電極を接地し、両電極間
にパルス電圧及びその頻度を検出する検出器を接続した
構成となっている。また電極を構成する薄膜金属は、こ
れが酸化物となっても絶縁体や半導体とならないTa,
W,Pt,Cr,Au等の金属を用いる。
に、本発明に係る金属粒子検出センサの電極構造は、絶
縁基板上に、対向間隔を1〜50μmにすると共に、そ
れぞれの幅を3t〜8tにした一対の電極を薄膜金属に
てくし形状に入り込み対向させて形成し、両電極の一方
の電極に電源を接続し、他方の電極を接地し、両電極間
にパルス電圧及びその頻度を検出する検出器を接続した
構成となっている。また電極を構成する薄膜金属は、こ
れが酸化物となっても絶縁体や半導体とならないTa,
W,Pt,Cr,Au等の金属を用いる。
【0006】
【作 用】電極間に30〜50Vの電圧を印加した状
態で両電極間に金属粉が存在すると、この電極の両端に
パルス電圧が発生し、これが検知器で検出される。
態で両電極間に金属粉が存在すると、この電極の両端に
パルス電圧が発生し、これが検知器で検出される。
【0007】
【実 施 例】本発明の実施例を図面に基づいて説明す
る。図中1は入力電極、2はアース電極であり、この量
電極1,2はくし形になって入り組み対向している。そ
してこの両電極1,2の対向間隔は1〜50μmとなっ
ている。上記入力電極1には電流制限抵抗3と電源4が
直列状に接続されている。5は上記両電極1,2間で発
生するパルス電圧を検出すると共に、その頻度を検出す
る検出器である。上記両電極1,2は、アルミナ基板ま
たはサファイア基板等の絶縁性が良好な基板6上に薄膜
状に形成してある。この電極1,2は上記基板6上に電
極用金属をスパッタ、または蒸着により数千μm程度の
薄膜層に形成し、これをレーザトレミング、リフトオ
フ、エッチング、スクリーンマスク法等の方法によりく
し形に形成して製造する。両電極1,2間には30〜5
0Vの電圧を印加し、また電流制限抵抗3は5〜20K
Ωのものを用いる。なお、この電流制限抵抗3は電極
1,2の電極抵抗が高い場合は必ずしも用いる必要はな
い。上記電極用金属としては、Ta,W,Pt,Cr,
Au等、酸化物となっても絶縁体や半導体にならない金
属が用いられる。またその電気抵抗は少なくとも10K
Ω以下である。
る。図中1は入力電極、2はアース電極であり、この量
電極1,2はくし形になって入り組み対向している。そ
してこの両電極1,2の対向間隔は1〜50μmとなっ
ている。上記入力電極1には電流制限抵抗3と電源4が
直列状に接続されている。5は上記両電極1,2間で発
生するパルス電圧を検出すると共に、その頻度を検出す
る検出器である。上記両電極1,2は、アルミナ基板ま
たはサファイア基板等の絶縁性が良好な基板6上に薄膜
状に形成してある。この電極1,2は上記基板6上に電
極用金属をスパッタ、または蒸着により数千μm程度の
薄膜層に形成し、これをレーザトレミング、リフトオ
フ、エッチング、スクリーンマスク法等の方法によりく
し形に形成して製造する。両電極1,2間には30〜5
0Vの電圧を印加し、また電流制限抵抗3は5〜20K
Ωのものを用いる。なお、この電流制限抵抗3は電極
1,2の電極抵抗が高い場合は必ずしも用いる必要はな
い。上記電極用金属としては、Ta,W,Pt,Cr,
Au等、酸化物となっても絶縁体や半導体にならない金
属が用いられる。またその電気抵抗は少なくとも10K
Ω以下である。
【0008】上記両電極1,2のそれぞれの幅は、これ
を流れる電気量に影響を与える。すなわち、あまり細い
と抵抗が大きくなって小電流しか流れず、潤滑油中の金
属粒子に分極現象が発生しにくく、従って検知精度が低
くなる。このため、電極1,2の幅は両電極1,2の対
向間隔tの3〜8倍が適当である。
を流れる電気量に影響を与える。すなわち、あまり細い
と抵抗が大きくなって小電流しか流れず、潤滑油中の金
属粒子に分極現象が発生しにくく、従って検知精度が低
くなる。このため、電極1,2の幅は両電極1,2の対
向間隔tの3〜8倍が適当である。
【0009】上記構成による金属粒子検出センサを潤滑
油中に浸漬して両電極1,2間に30〜50Vの電圧を
印加する。これにより入力側の電極1に電場が生じ潤滑
油中に金属摩耗粉が存在すると、この金属摩耗粉が電場
を有する電極1に接触することにより、分極現象が発生
し、これにより潤滑油中の金属摩耗粉が両電極間に吸引
されてこれの1個1個の粒子が入力側の電極1から他方
の電極2側へ向けて数珠つなぎ状に連結していき、これ
の先端がブリッジ状になって他方の電極2に接触するこ
とにより、両電極1,2は短絡してこのブリッジ状に連
結された金属摩耗粉に通電される。そしてこの金属摩耗
粉は個々に細かいことにより、この通電により連結が破
壊され、このときに電極1,2の両端にパルス電圧が発
生し、これが検知器5で検出される。このようにこのパ
ルス電圧は、両電極1,2間に細かい金属摩耗粉が数珠
つなぎ状になってブリッジすると共に、このブリッジが
破壊したときに発生し、そのパルス電圧の高さは粒子径
の2乗に比例し、パルスの頻度は粒子密度に比例する。
従って、検出器5にて上記パルス電圧及びその頻度を検
出することにより、潤滑油中の金属摩耗粉の粒子径及び
粒子密度を知ることができる。なお上記実施例におい
て、基板6の裏面にサーミスタ等の検温素子7を貼着す
ることができ、これにより、金属粒子検出と共に温度検
知も行なうことができ、検知作業の複合化を達成するこ
とができる。また上記電極1,2は非常に細くすること
により、これの比熱が低くなるから、この電極1,2は
潤滑油の温度変化に対して温度バランスするまでの時間
が短い。
油中に浸漬して両電極1,2間に30〜50Vの電圧を
印加する。これにより入力側の電極1に電場が生じ潤滑
油中に金属摩耗粉が存在すると、この金属摩耗粉が電場
を有する電極1に接触することにより、分極現象が発生
し、これにより潤滑油中の金属摩耗粉が両電極間に吸引
されてこれの1個1個の粒子が入力側の電極1から他方
の電極2側へ向けて数珠つなぎ状に連結していき、これ
の先端がブリッジ状になって他方の電極2に接触するこ
とにより、両電極1,2は短絡してこのブリッジ状に連
結された金属摩耗粉に通電される。そしてこの金属摩耗
粉は個々に細かいことにより、この通電により連結が破
壊され、このときに電極1,2の両端にパルス電圧が発
生し、これが検知器5で検出される。このようにこのパ
ルス電圧は、両電極1,2間に細かい金属摩耗粉が数珠
つなぎ状になってブリッジすると共に、このブリッジが
破壊したときに発生し、そのパルス電圧の高さは粒子径
の2乗に比例し、パルスの頻度は粒子密度に比例する。
従って、検出器5にて上記パルス電圧及びその頻度を検
出することにより、潤滑油中の金属摩耗粉の粒子径及び
粒子密度を知ることができる。なお上記実施例におい
て、基板6の裏面にサーミスタ等の検温素子7を貼着す
ることができ、これにより、金属粒子検出と共に温度検
知も行なうことができ、検知作業の複合化を達成するこ
とができる。また上記電極1,2は非常に細くすること
により、これの比熱が低くなるから、この電極1,2は
潤滑油の温度変化に対して温度バランスするまでの時間
が短い。
【0010】図3は両電極1,2の間に金属粒子7が数
珠つなぎ状につながる様子を模式的に示したもので、潤
滑油に浮遊している金属粒子7に一方の電極1により分
極現象が生じて順次この電極1側に数珠つなぎ状に連結
していく。そしてこの数珠つなぎ状の金属粒子の先端と
他方の電極2との間の隙間に他の金属粒子8が飛び込ん
でブリッジが連なると共に、これが破壊したときに両電
極1,2間にパルス電圧が発生する。
珠つなぎ状につながる様子を模式的に示したもので、潤
滑油に浮遊している金属粒子7に一方の電極1により分
極現象が生じて順次この電極1側に数珠つなぎ状に連結
していく。そしてこの数珠つなぎ状の金属粒子の先端と
他方の電極2との間の隙間に他の金属粒子8が飛び込ん
でブリッジが連なると共に、これが破壊したときに両電
極1,2間にパルス電圧が発生する。
【0011】図4は潤滑油に含有している金属粒子の粒
径及びパルス頻度の関係を示す。このときの検出条件
は、電極間隔tが10μm、印加電圧が40Vであっ
た。また上記パルス頻度は10分間に発生する数をとっ
た。また粒径はパルス発生電圧に置き替えられる。この
ことから、この図に示されるグラフを利用し、挿出作業
時において、そのときのパルス電圧により粒径がわか
り、パルス頻度により密度がわかる。
径及びパルス頻度の関係を示す。このときの検出条件
は、電極間隔tが10μm、印加電圧が40Vであっ
た。また上記パルス頻度は10分間に発生する数をとっ
た。また粒径はパルス発生電圧に置き替えられる。この
ことから、この図に示されるグラフを利用し、挿出作業
時において、そのときのパルス電圧により粒径がわか
り、パルス頻度により密度がわかる。
【0012】
【発明の効果】本発明によれば、平面状に広い面積のも
のが作れることにより、油槽の広い範囲にわたって浮遊
金属粉を検知することができると共に、この浮遊金属粉
が微小で、かつ比較的希薄の場合でも高効率で検出でき
る。また本発明によれば、その構成上1度に多量に作成
することができると共に、温度検知等の複合化を容易に
行なうことができる。さらに検出センサを曲面状に形成
することができることにより、使用対応箇所を広くする
ことができる。そしてさらに、比熱が低く、温度バラン
スまでの時間が短いことにより、潤滑油の温度変化に良
く追随し、潤滑油の温度変化にもかかわらず安定した検
出結果を得ることができる。
のが作れることにより、油槽の広い範囲にわたって浮遊
金属粉を検知することができると共に、この浮遊金属粉
が微小で、かつ比較的希薄の場合でも高効率で検出でき
る。また本発明によれば、その構成上1度に多量に作成
することができると共に、温度検知等の複合化を容易に
行なうことができる。さらに検出センサを曲面状に形成
することができることにより、使用対応箇所を広くする
ことができる。そしてさらに、比熱が低く、温度バラン
スまでの時間が短いことにより、潤滑油の温度変化に良
く追随し、潤滑油の温度変化にもかかわらず安定した検
出結果を得ることができる。
【図1】本発明の実施例を示す平面図である。
【図2】本発明の実施例を示す側面図である。
【図3】電極間に金属粒子が数珠つなぎにつながる様子
を示す模式図である。
を示す模式図である。
【図4】潤滑油中の金属粒子の粒径とパルス発生頻度を
示すグラフである。
示すグラフである。
1,2 電極、3 電流制限抵抗、4 電源、5 検知
器、6 基板。
器、6 基板。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 山崎 国博 神奈川県平塚市万田1200 株式会社小松 製作所 研究所内 (56)参考文献 特開 昭59−42441(JP,A) 特開 平3−282246(JP,A) 実開 昭60−68464(JP,U) 特公 昭49−9799(JP,B1) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01N 15/02
Claims (2)
- 【請求項1】 絶縁基板6上に、対向間隔tを1〜50
μmにすると共に、それぞれの幅を3t〜8tにした一
対の電極1,2を薄膜金属にてくし形状に入り込み対向
させて形成し、 両電極1,2の一方の電極1に電源4を接続し、他方の
電極2を接地し、 両電極1,2間にパルス電圧及びその頻度を検出する検
出器5を接続した ことを特徴とする金属粒子検出センサ
の電極構造。 - 【請求項2】 電極1,2を構成する薄膜金属は、これ
が酸化物となっても絶縁体や半導体とならないTa,
W,Pt,Cr,Au等の金属を用いることを特徴とす
る請求項1記載の金属粒子検出センサの電極構造。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8583291A JP3094170B2 (ja) | 1991-03-27 | 1991-03-27 | 金属粒子検出センサの電極構造 |
AU14448/92A AU1444892A (en) | 1991-03-27 | 1992-03-24 | Electrode structure of sensor for sensing metallic particles |
US08/119,067 US5457396A (en) | 1991-03-27 | 1992-03-24 | Electrode structure of metallic particle detecting sensor |
PCT/JP1992/000356 WO1992017772A1 (en) | 1991-03-27 | 1992-03-24 | Electrode structure of sensor for sensing metallic particles |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8583291A JP3094170B2 (ja) | 1991-03-27 | 1991-03-27 | 金属粒子検出センサの電極構造 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04297864A JPH04297864A (ja) | 1992-10-21 |
JP3094170B2 true JP3094170B2 (ja) | 2000-10-03 |
Family
ID=13869828
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP8583291A Expired - Fee Related JP3094170B2 (ja) | 1991-03-27 | 1991-03-27 | 金属粒子検出センサの電極構造 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5457396A (ja) |
JP (1) | JP3094170B2 (ja) |
AU (1) | AU1444892A (ja) |
WO (1) | WO1992017772A1 (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2008502892A (ja) * | 2004-06-16 | 2008-01-31 | ローベルト ボツシユ ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツング | センサ上の煤堆積の制御のための方法 |
JP2009085959A (ja) * | 2007-10-01 | 2009-04-23 | Robert Bosch Gmbh | ガス中の粒子を検出するためのセンサ素子、および該センサ素子の製造方法 |
CN105891275A (zh) * | 2016-05-12 | 2016-08-24 | 绍兴文理学院 | 一种采用温控、旋流离心和相邻电容的磨损微粒监测装置 |
CN105891279A (zh) * | 2016-05-12 | 2016-08-24 | 绍兴文理学院 | 采用滤波、电磁离心分离和相邻电容的磨损微粒监测装置 |
Families Citing this family (51)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US5696331A (en) * | 1992-06-26 | 1997-12-09 | Kabushiki Kaisha Komatsu Seisakusho | Apparatus for detecting metal powder amount in hydraulic circuit |
US6204656B1 (en) * | 1997-05-29 | 2001-03-20 | Reid Asset Management Company | Miniature sensor for lubricant analysis |
US6043639A (en) * | 1997-12-01 | 2000-03-28 | Celestica International Inc. | Method and apparatus for real-time detection of airborne conductive contaminants |
US5977782A (en) * | 1998-01-23 | 1999-11-02 | Cts Corporation | Fluid abrasion and/or corrosion sensors and method of sensing abrasion and/or corrosion |
US5945832A (en) * | 1998-02-17 | 1999-08-31 | Motorola, Inc. | Structure and method of measuring electrical characteristics of a molecule |
DE19860547C1 (de) | 1998-12-23 | 2000-10-12 | Genetrix B V I O | Affinitätssensor für den Nachweis spezifischer molekularer Bindungsereignisse und dessen Verwendung |
US6255954B1 (en) * | 1999-01-29 | 2001-07-03 | Reid Asset Management Company | Detection of wear-particles and other impurities in industrial or other fluids |
US6525334B1 (en) * | 1999-11-19 | 2003-02-25 | Fleetguard, Inc. | System and method for detecting erosion caused by particles in a fluid |
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