JPS5840136B2 - ユマクテイコウソクテイホウホウ - Google Patents

ユマクテイコウソクテイホウホウ

Info

Publication number
JPS5840136B2
JPS5840136B2 JP12488575A JP12488575A JPS5840136B2 JP S5840136 B2 JPS5840136 B2 JP S5840136B2 JP 12488575 A JP12488575 A JP 12488575A JP 12488575 A JP12488575 A JP 12488575A JP S5840136 B2 JPS5840136 B2 JP S5840136B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
oil film
oil
resistance
constant current
circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP12488575A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS5249868A (en
Inventor
勝年 松岡
了 相原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NSK Ltd
Original Assignee
NSK Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NSK Ltd filed Critical NSK Ltd
Priority to JP12488575A priority Critical patent/JPS5840136B2/ja
Publication of JPS5249868A publication Critical patent/JPS5249868A/ja
Publication of JPS5840136B2 publication Critical patent/JPS5840136B2/ja
Expired legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
  • Testing Of Devices, Machine Parts, Or Other Structures Thereof (AREA)
  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は油膜の抵抗測定方法に関し、特に転がり軸受等
の転動物体の潤滑油として使用される油の油膜の形成状
態を知るために油膜の電気抵抗を定電流回路を用いて測
定する油膜抵抗測定方法に関する。
軸受等転動物体の適切な使用状態を知るためにそれらの
潤滑油の油膜形成状態特に油膜の厚さを正確に測定する
ことは重要である。
また油膜の厚さは使用される油の粘度、および転動物体
に加わる荷重および回転速度等に関係して適切な値が選
択されるべきである。
従来から軸受等の潤滑油の油膜の形成状態を知るために
、ころがり接触部に電圧をかけ油膜の電気抵抗により生
ずる電圧波形の変化を観察する方法が行われている。
しかし実際に第1図に示すような回路で電圧波形の観察
を行ってみると、第4−1図及び第4−2図に示すよう
に転動体と軌道輪が金属接触を起こし抵抗が零となる状
態、すなわち伝導体と軌道輪が金属接触をおこす状態が
少ない場合がある。
すなわち油膜が薄くなると抵抗値はある値まで下るが油
膜破断を起こし抵抗が零になる前に油膜の回復がなされ
ることがある。
このように油膜による抵抗が零とならないときは、回路
に挿入する抵抗R1,R2(第1図)を変えることによ
り同一の潤滑条件で油膜の状態は同じであるにもかかわ
らず、R2が小さい場合を第4−1図、R2が大きい場
合を第4−2図に示すが、このようにかなり異る波形を
得ることになる。
このため挿入する抵抗の大小により一方では完全な油膜
と判断される例が他方では完全な油膜と判断されないこ
とにもなりかねない。
つまり従来のようにほぼ固定された抵抗を挿入した場合
油膜の形成状態を過大評価したり過少に評価したりする
可能性がある。
従って油膜の形成状態を正確に把握することは困難であ
った。
さらにまた従来の油膜測定回路によれば、電圧変化に伴
って測定回路内を流れる電流も変化してしまうので正確
な油膜抵抗の測定は困難であった。
従って本発明の目的は上記の問題を解決し、正確な油膜
の厚さを測定する方法ならびに装置を提供することであ
る。
本発明の特徴によれば、油膜の厚さを電気抵抗として評
価する場合に定電流電源回路を用い常に微少な一定電流
を測定回路に流すことにより電圧変化から直接抵抗値の
測定が可能にされる。
本発明の他の特徴によれば、定電流電源回路を用いて測
定した抵抗値と油膜厚さとの関係をグラフで示した場合
に得られる遷移点に基いて油膜の状態を知り得る油膜抵
抗測定方法並びに装置を提供することにある。
本発明の目的および特徴は以下に図を用いて説明する詳
細な説明からより明瞭になるであろう。
本発明の詳細な説明する前に簡単に従来技術につき説明
する。
第1図は従来の油膜測定回路の代表的な実施例である。
第1図においてAは油膜測定対象部即ちころがり接触を
している試料である。
この試料Aが抵抗R1とR2との分圧点と電源Eとの間
で抵抗R2と並列に接続されており、その試料間の電圧
変化が増巾器Bにより増巾されオシロスコープC等で観
測される。
この様な回路では先に述べた様に抵抗R1,R2がわず
か変っても電圧、電流が大巾に変って観測波形がかなり
異ってくる。
従って正確な油膜状態の測定は不可能である。
第2図は本発明に係る油膜測定回路装置の一実施例を示
すものである。
油膜測定対象部即ち内輪■、外輪O1転動体Bを有しこ
ろがり接触をしている試料Mが定電流回路の一構成要素
であるトランジスタTの工□ツタと電源Eとの間に接続
されている。
前記の定電流回路はトランジスタTと、そのバイアス回
路即ち抵抗R,、R2およびツェナーダイオードDとか
らなる回路により構成され、バイアス回路はトランジス
タTの工□ツタ電流iが常に一定の電流となる様安定な
バイアス電流を供給する。
可変抵抗RvはトランジスタTのコレクタに接続されて
おり定電流を可変とするよう調整可能である。
電圧計■および陰極線管C,R。Tはともに試料Mに並
列にスイッチS1.S2を介して夫々接続されておりス
イッチS1.S2の選択により油膜の電気抵抗を電圧値
として、あるいは電圧波形としても測定可能にしである
試料の油膜の電気抵抗Rは電圧■/雷電流であるところ
から電1iが一定であれば測定される電圧■をそのまま
抵抗と考えられることは明らかである。
電流計Aは試料Mと直列に接続されており、定電流を表
示するためのものである。
さて実際に前記の如き定電流電源回路装置を用いて、試
料Mとして内輪Oおよび転動体Bを有する軸受を選び、
そこで使用される潤滑油の油膜パラメータに対する油膜
抵抗を測定した一例として、両対数グラフ上の横軸に油
膜パラメータ、縦軸に油膜の電気抵抗をとりプロットし
たものが第3図である。
尚実施例回路の第2図において、電源電圧、抵抗Rv電
流はノイズや放電の生じない様設定されている。
また油としては、油A1油B等について夫々測定してい
る。
第3図のグラフについてさらに詳細に説明する。
グラフの横軸の油膜パラメータ人は従来から転がり軸受
の油膜を評価する量として用いられており例えばT、E
、Ta1lfan:ASLE Trans、、 10.
4(1968)418にも開示されており以下の様に定
義される ここでhrlは内輪または外輪の表面あらさhr2は転
動体の表面あらさを表わし、himま最小油膜の厚さで
あり、計算式としては種々発表されているが例えばH,
S、Cheng:Trans、ASME、F。
92、(1970)、155に発表されているたとえば
以下のチェング(Cheng )の式により与えられる
ただし、h細:最小油膜厚さ、Rx、Ry:運動方向、
それに直角方向の断面における等価半径、1/RX=1
/R1X+1/R2x、1/Ry=1/R1y+1/R
2y、pH:最大Horsz圧力、E米=(−)E’、
E’:等価弾性係数27E′=((1−σf)/E1)
+((1−ν;)/E2)、u:平均速度、η0=大気
圧下の粘度、α:粘度の圧力係数、σ:ポアソン比、k
l、に2.に3:形状等Cはって定まる定数 以上から解るように、グラフ上の油膜パラメータとは最
小油膜の厚さhmと試料の表面あらさの比で表わされ、
最小油膜厚さh irtは試料の荷重、回転速度等の関
数である。
このような測定条件のもとに実測されて油膜の電気抵抗
値が先に定義された油膜パラメータ人に対してプロット
されたものが第3図のグラフである。
第3図には油の種類および接触圧力APmaX(kg/
m*2)をパラメータにいくつかの実測データが示され
ているが、ここで注目すべきことはいずれの場合にもあ
る点で電気抵抗の勾配が遷移している。
この点を遷移点と名ずける。この遷移点についてみると
、油の種類および接触圧力等にかかわらず、遷移点はは
\゛一定した所に現われていることが解る。
以上のことから電気抵抗の勾配の比較的ゆるやかな所す
なわち遷移点以上の所では油膜が厚く、比較的急勾配の
所すなわち遷移点以下の所では油膜が薄く金属接触を起
す境界潤滑状態と考えることができる。
従って予め基準線を求めておけば使用時の油膜を測定す
ることにより、つまり遷移点以上か以下なのかを見るこ
とによって油膜の状態(厚いか薄いか)を知ることがで
きる。
さらに未知の油について遷移点を調べることによりその
油の性質(例えば粘度の圧力係数等)を知ることができ
る。
先に述べたように、第3図のグラフの横軸つまり油膜の
パラメー久Nは試料の荷重、回転速度、油の粘度の圧力
係数等の関数であり諸々のパラメータを含むものである
から、たとえ使用されている油の性質が未知のものであ
っても油以外のパラメータ条件が固定されておればその
油の性質を調べることができる。
本発明に従えば、さらに他の油膜の測定方法として現在
使用されている光学的方法などに比べて大きな接触圧力
下で正確な油膜の抵抗測定が可能となるなどの効果を有
する。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の典型的な油膜抵抗測定回路図、第2図は
本発明に係る測定法に用いる定電流回路を用いた油膜抵
抗測定回路の一実施例を示す回路図、第3図は定電流回
路を用いた油膜抵抗測定回路によって測定した油膜の電
気抵抗と油膜パラメータとの関係を示すグラフ、第4−
1図及び第42図は従来の方法により同一油膜パラメー
タを有する油膜をそれぞれ抵抗値R2の大きさを変えて
接触割合を測定したグラフで、第4−1図はR2が小さ
い場合で第4−2図はR2が大きい場合のグラフである
。 〔主要部分の符号の説明〕、定電流回路・・・・・・T
。 Rv、R1,R2,D0

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 転動物体の潤滑油として使用される油の油膜の形成
    状態を知るために油膜を介し定電流回路より定電流を印
    加して油膜の電気抵抗を測定し前記測定回路によって測
    定された電気抵抗値と油膜厚さとの関係から前記電気抵
    抗の油膜厚さと転動体の表面粗さの比として定義される
    油膜パラメータに対する勾配の遷移する遷移点を求め、
    前記遷移点にもとすいて油膜の厚さ及び油の粘度の圧力
    係数等を調べることを特徴とする油膜の抵抗測定方法。
JP12488575A 1975-10-18 1975-10-18 ユマクテイコウソクテイホウホウ Expired JPS5840136B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP12488575A JPS5840136B2 (ja) 1975-10-18 1975-10-18 ユマクテイコウソクテイホウホウ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP12488575A JPS5840136B2 (ja) 1975-10-18 1975-10-18 ユマクテイコウソクテイホウホウ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5249868A JPS5249868A (en) 1977-04-21
JPS5840136B2 true JPS5840136B2 (ja) 1983-09-03

Family

ID=14896491

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP12488575A Expired JPS5840136B2 (ja) 1975-10-18 1975-10-18 ユマクテイコウソクテイホウホウ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS5840136B2 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0350908Y2 (ja) * 1987-03-31 1991-10-30
JPH0376147B2 (ja) * 1987-03-31 1991-12-04 Morita Mfg
JPH0566140B2 (ja) * 1985-06-01 1993-09-21 Tabuchi Kazuhisa

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6729633B2 (ja) * 2018-06-04 2020-07-22 日本精工株式会社 転動装置の診断方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0566140B2 (ja) * 1985-06-01 1993-09-21 Tabuchi Kazuhisa
JPH0350908Y2 (ja) * 1987-03-31 1991-10-30
JPH0376147B2 (ja) * 1987-03-31 1991-12-04 Morita Mfg

Also Published As

Publication number Publication date
JPS5249868A (en) 1977-04-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3294614B2 (ja) 2ワイヤ電話ラインにおける定常電圧予測方法
JP2004191373A (ja) 電子バッテリテスタ
JP2003028900A (ja) 非接触電圧測定方法およびその装置
JPS60222695A (ja) 潤滑状態及び転動・滑動状態を決定するための装置
JPS5840136B2 (ja) ユマクテイコウソクテイホウホウ
US6469516B2 (en) Method for inspecting capacitors
US3041868A (en) Apparatus for testing lubricants
US3060721A (en) Apparatus for testing lubricants
JPH0528781B2 (ja)
Zhang et al. A new measurement method of oil film thickness in the EHL condition: the RC oscillation technique
US4213087A (en) Method and device for testing electrical conductor elements
CN110823569A (zh) 轴承故障检测方法
US7671607B2 (en) System and method for measuring air bearing gap distance
Franklin Analysis of solid tantalum capacitor leakage current
Nagler et al. An Improved Model of Electrical Contact Resistance of Pad-Probe Interaction during Wafer Test
CN220171089U (zh) 一种表面电阻测试仪电极调整结构
CN117169594A (zh) 一种裸导线电阻的测量方法
JPH0323553Y2 (ja)
CN113552419B (zh) 一种间接检测mlcc介质陶瓷晶格缺陷的方法
JP2011185884A (ja) Dcバイアス−容量特性の計測方法および計測装置
JP2861423B2 (ja) 半導体装置の検査方法
JP3421524B2 (ja) 静電容量の測定方法
Chubb et al. Comparative studies on methods of charge decay measurement
CN117553898A (zh) 基于矢量声传感器的变压器内部振动噪声直接测量方法
Bolszio et al. Contact resistance measurements for observation of fluid film effects in journal bearings