JP3120289B2 - 処理装置 - Google Patents

処理装置

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JP3120289B2
JP3120289B2 JP13530291A JP13530291A JP3120289B2 JP 3120289 B2 JP3120289 B2 JP 3120289B2 JP 13530291 A JP13530291 A JP 13530291A JP 13530291 A JP13530291 A JP 13530291A JP 3120289 B2 JP3120289 B2 JP 3120289B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は洗浄装置に関するもの
で、更に詳細には、処理液によって半導体ウエハ等の被
処理体を洗浄する洗浄処理室と、この洗浄処理室と隣接
する位置に配置される被処理体搬送室と、この被処理体
搬送室内に配設されて洗浄処理室に対して被処理体を搬
入・搬出する搬送手段とを具備する洗浄装置に関するも
のである。
【0002】
【従来の技術】一般に、半導体製造工程において、半導
体ウエハの表面に付着した薬液や不純物等を除去するた
めに洗浄装置が使用されている。この洗浄装置は、半導
体ウエハに対して、例えばアンモニア処理、水洗処理、
フッ酸処理等の各処理を順次施して半導体ウエハの表面
を清浄化するものである。
【0003】そこで、従来の洗浄装置は、アンモニア処
理槽、水洗処理槽、フッ酸処理槽等の各処理槽を配置す
る複数の洗浄処理室を配列し、被処理体である半導体ウ
エハを搬送手段にて載置保持して各処理室内外に搬入・
搬出していた。この場合、搬送手段として、複数のアー
ム体を互いに回転自在に連結した多関節搬送アームが使
用されている。この搬送アームは処理室と隣接する室内
に配設され、そして、室に設けられた半導体ウエハの搬
入・搬出用の開口部より半導体ウエハを搬入・搬出して
いた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
この種の洗浄装置においては搬送アームが雰囲気の異な
る洗浄処理室に対して半導体ウエハを搬入・搬出するた
め、搬送アームに前処理で扱った薬液が付着し、この薬
液が搬送アームの駆動部側に侵入することがあり、その
結果搬送アームの駆動部側が腐食するという問題があっ
た。また、搬送アームに薬液やその他の不純物が付着す
ると、搬送アームを配設する室内の雰囲気が乱れて、半
導体ウエハが汚染されると共に、半導体ウエハの製品歩
留りが低下するという問題もあった。
【0005】この発明は上記事情に鑑みなされたもの
で、搬送アームの駆動部の腐食を防止すると共に、搬送
アームを配設する室内を清浄化された同一の雰囲気に維
持するようにした洗浄装置を提供することを目的とする
ものである。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、この発明の第1の洗浄装置は、処理液によって被処
理体を洗浄する洗浄処理室と、この洗浄処理室と隣接す
る位置に配置される被処理体搬送室と、この被処理体搬
送室内に配設されて上記洗浄処理室に対して上記被処理
体を搬入・搬出する搬送手段とを具備する洗浄装置を前
提とし、上記搬送手段を、互いに回転自在に連結される
複数のアーム体を具備する多関節搬送アームにて形成
し、上記アーム体を、隣接するアーム体を連結する中空
状の連結軸と、この連結軸の中空部と連通する空間を残
して連結軸を包囲するカバーとで構成し、上記連結軸の
中空部に加圧付与手段を接続して、上記アーム体のカバ
ー内空間部を加圧状態に維持するものである。
【0007】また、この発明の第2の洗浄装置は、上記
第1の発明の洗浄装置において、被処理体搬送室の上部
に空気供給口を設けると共に、この空気供給口に濾過部
材を介して空気供給手段を接続し、上記被処理体搬送室
の底部に排気・排液口を設けると共に、この排気・排液
口に吸引手段を接続し、上記被処理体搬送室中に、上部
から下部に向って流れる清浄空気流と直交する方向に整
流手段を配設してなるものである。
【0008】この発明において、上記アーム体の連結部
はシール機構を介して連結することが好ましく、また、
アーム体のカバーは耐蝕性部材に形成する方が好まし
い。この場合、耐蝕性部材として例えば塩化ビニル製部
材を使用することができる。
【0009】上記加圧付与手段はアーム体のカバー内空
間部を加圧状態に維持するもので、例えば空気あるいは
窒素(N2 )ガスをカバー内空間部に充填することによ
って行うことができる。
【0010】上記被処理体搬送室は搬送アームを配設す
るスペースを有しかつ側壁に被処理体の搬入・搬出のた
めの開口を有するものであれば、任意の構造でよく、例
えば壁部と底部とを一体に形成した耐蝕性部材にて形成
される筒状の容器にて形成することができる。この場
合、耐蝕性部材として、例えば塩化ビニル製部材を使用
することができる。
【0011】また、上記整流手段は被処理体搬送室の上
部から下部に向って流れる清浄空気流と直交する方向に
配設されるものであれば任意のものでよいが、好ましく
は耐蝕性部材にて形成される多孔板にて形成する方がよ
い。この場合、耐蝕性部材として、例えば塩化ビニル製
部材を使用することができる。
【0012】
【作用】上記のように構成されるこの発明の洗浄装置に
よれば、隣接するアーム体を連結する中空状の連結軸
と、この連結軸の中空部と連通する空間を残して連結軸
を包囲するカバーとでアーム体を構成し、連結軸の中空
部に加圧付与手段を接続してアーム体のカバー内空間部
を加圧状態に維持することにより、搬送アームに付着す
る薬液の搬送アーム駆動部内への侵入を防止すると共
に、搬送アームの腐食を防止することができる。
【0013】また、被処理体搬送室の上部から下部に向
って清浄化されたクリーンエアをダウンフローさせると
共に、整流手段により整流させて底部の排気・排液口か
ら排出することにより、搬送アームに付着した薬液やそ
の他の不純物によって被処理体搬送室内の雰囲気が乱さ
れることなく、清浄化された雰囲気を維持することがで
きる。
【0014】
【実施例】以下にこの発明の実施例を図面に基いて詳細
に説明する。
【0015】図1はこの発明の洗浄装置の一部の概略断
面図、図2は図1の要部拡大断面図が示されている。
【0016】この発明の洗浄装置は、図示しない洗浄処
理槽中に収容される処理液に浸漬して被処理体である半
導体ウエハ1を洗浄する洗浄処理室2と、この洗浄処理
室2と隣接する位置に配置される被処理体搬送室3と、
この被処理体搬送室3内に配設されて洗浄処理室2に対
して半導体ウエハ1を搬入・搬出する搬送手段である搬
送アーム4とを具備してなる。
【0017】搬送アーム4は、互いに回転自在に連結さ
れる複数のアーム体5(具体的には5a〜5d)にて形
成される多関節構造となっており、最上段のアーム体5
dには半導体ウエハ1を載置保持する二又状のフォーク
6が突設されている。また、各アーム体5は、隣接する
アーム体5を連結する中空状の連結軸7と、この連結軸
7の中空部7aと連通する空間8aを残して連結軸7を
包囲する塩化ビニル製のカバー8とで構成されている。
また、最下段のアーム体5aの連結軸7には中空部7a
に連通する通気孔7bが穿設されており、この通気孔7
bに供給管9を介して加圧付与手段であるN2 ガスタン
ク10が接続されている。したがって、N2 ガスタンク
10からN2 ガスが供給管9を通って連結軸7の中空部
7a内に流れ、中空部から隣接するアーム体5の空間8
a内に充填されて空間8a内が加圧状態に維持され、搬
送アーム4に付着する薬液等が搬送アーム4の駆動部内
に侵入するのを防止することができるようになってい
る。
【0018】この場合、隣接するアーム体5a〜5dの
連結部にはシール機構が施されている。ここで、最下段
のアーム体5aとその上段のアーム体5bのシール機構
を代表例として説明する。すなわち、図2に示すよう
に、最下段のアーム体5aのカバー8に装着されてその
上段のアーム体5bのカバー8内に突入する筒状固定軸
11aの外周面にフッ素樹脂製のスリーブ11bを嵌着
し、そして、このスリーブ11bと対向する最下段のア
ーム体5aのカバー8との間にOリング11cを介在
し、また、上段のアーム体5bのカバー8とスリーブ1
1bとの間に合成ゴム製のシール部材11dを介在させ
ることによって、被処理体搬送室3の空間8aと搬送ア
ーム4の駆動部とをシールすることができる。また、最
下段のアーム体5aのカバー8には容器3の底部3dと
接触する面にOリング11eを配設するOリング溝11
fが設けられている。また、アーム体5bのカバー8の
接合部にもOリング11gが介在されて気密性が維持さ
れている。なお、筒状固定軸11aの内方側にはベアリ
ング12を介して連結軸7を遊嵌する駆動軸13が回転
自在に支承されている。
【0019】一方、被処理体搬送室3は、隣接する洗浄
処理室2と対向する側壁3aに半導体ウエハ1及び搬送
アーム4の搬入・搬出のための開口部3bを設けた角筒
状の塩化ビニル製容器にて形成されており、この容器3
の天井面に設けられた開口3cには塩化ビニル製多孔板
にて形成される上部整流部材14及び濾過手段であるH
EPA(又はULPA)フィルタ15を介して給気通路
が接続され、この給気通路中に空気供給手段である給気
ファン16が配設されて、容器3内に清浄化されたクリ
ーンエアAが供給されるようになっている。なお、開口
部3bにはシャッター17が開閉自在に配設されると共
に、開口部3bの上部にエアー吹出口(図示せず)が設
けられて、エアーカーテンが形成されるようになってい
る。
【0020】また、容器3の底部3dは外周側が内周側
より低い段状となっており、外周側の周溝3eの2箇所
には排気・排液口3fが設けられている。これら排気・
排液口3fには排出管18を介して図示しない吸引手段
が接続されると共に、排出管18の途中に気液分離部1
9が配設されている。更に、容器3の底部3dの上方付
近には整流手段である塩化ビニル製の多孔板20が横設
されており、この多孔板20によって容器3内に流れる
クリーンエアのダウンフローの層流状態が維持され、ま
た、容器3の底部3dに溜った排気及び排液等が上方へ
舞い上がるのを阻止している。
【0021】なお、容器3の上部には搬送アーム4のフ
ォーク6に付着した薬液や不純物等を洗浄及び乾燥する
洗浄・乾燥ノズル40が配設されている。この洗浄・乾
燥ノズル40は図示しないロータリーアクチュエータに
よって洗浄・乾燥位置と側方待機位置とに切換可能とな
っており、また、図示しない供給手段から洗浄用純水及
び乾燥用N2 ガスが供給されるようになっている。
【0022】上記のように構成することによって、容器
3の上部から容器3内に供給されるクリーンエアAが多
孔板20によって層流状態となって排気・排液口3fか
ら排出されるので、容器3内は清浄化された雰囲気が維
持される。すなわち、搬送アーム4に付着した薬液や不
純物等の容器3内への飛散あるいは搬送アーム4のカバ
ー8内を加圧状態にするために充填されたN2 ガスの漏
洩によって容器3内の雰囲気が乱されるのを防止するこ
とができる。したがって、半導体ウエハ1をクリーンな
状態で搬送できる。
【0023】次に、洗浄装置の全体構造について、図3
を参照して説明する。
【0024】図3は、3つの洗浄処理ユニット21,2
2,23にて洗浄装置を構成した場合で、搬入側の洗浄
処理ユニット21にはローダ24が接続され、搬出側の
洗浄処理ユニット23にはアンローダ25が接続されて
おり、更に洗浄処理ユニット21,22間及び洗浄処理
ユニット22,23間に、3ユニットのいずれかに含ま
れている処理室の一部を構成する水中ローダ26が配設
されている。
【0025】搬入側の洗浄処理ユニット21は、中心位
置に搬送アーム4を配設する容器3が位置し、その周囲
で容器3の左隣及びローダ24の正面にそれぞれアンモ
ニア処理室27及び水洗処理室28が配設されている。
【0026】中央の洗浄処理ユニット22は、中心位置
に搬送アーム4を配設する容器3が位置し、その周囲の
左右両側に水中ローダ26を配設し、その間の前後位置
にフッ酸処理室29、水洗オーバーフロー処理室30を
配設してなる。
【0027】また、搬出側の洗浄処理ユニット23は、
中心位置に搬送アーム4を配設した容器3が位置し、こ
の容器3の周囲でアンローダ25の正面側には水洗ファ
イナルリンス処理室31を配設し、容器3の右隣に乾燥
処理室32を配設してなる。
【0028】上記のように構成される洗浄処理装置にお
いて、ローダ24に25枚ずつ半導体ウエハ1が載置さ
れたキャリア33が2つ搬送されてくると、オリフラ合
せ機構34が動作して、キャリア33内の半導体ウエハ
1を整列させる。次いで、突き上げ棒(図示せず)が上
方に作動して、キャリア33をそのままに、半導体ウエ
ハ1のみを上方に取り出した後、突き上げ棒が互いに寄
合って50枚の半導体ウエハ1を等間隔で位置させる。
【0029】次に、搬送アーム4が作動して水平回転
し、かつローダ24方向に伸びて先端のフォーク6を突
き上げ棒の下側に位置させる。そして、突き上げ棒が下
降し、フォーク6上に半導体ウエハ1が載置位置決めさ
れる。
【0030】次いで、フォーク6上に半導体ウエハ1が
載置された状態で、搬送アーム4が水平回転し、かつ伸
縮してアンモニア処理室27の開口部3bから半導体ウ
エハ1をアンモニア処理室27の処理槽27aの専用ボ
ート27b上に挿入位置させる。そして、搬送アーム4
がアンモニア処理室27から外に出ると、開口部3bの
シャッター17が閉じると共に、開口部上部のエアー吹
出口からエアーが吹き出されてエアーカーテンが形成さ
れて、アンモニア処理室27内の雰囲気が外部に漏出す
るのを確実に防止するようになっている。そして、この
状態でアンモニア処理室27内の半導体ウエハ1は洗浄
処理される。
【0031】一方、アンモニア処理室27から搬送アー
ム4のフォーク6が容器3内に戻ってくると、ロータリ
ーアクチュエータ13が作動して洗浄・乾燥ノズル40
がフォーク6の上方位置に移動して、洗浄及び乾燥が行
われる。この際、搬送アーム4のカバー内空間8aには
N2 ガスが充填されているので、薬液等が搬送アーム4
の駆動部側に侵入することがなく、搬送アーム4が腐食
する心配もない。また、容器3内は上部から供給される
クリーンエアが多孔板14,20によって層流状態で下
部の排気・排液口3fから排出されるダウンフローを形
成するので、容器3内の雰囲気は常に清浄化された状態
に維持されている。
【0032】アンモニア処理室27内での洗浄が終了し
た後、上述の動作と逆の動作でボート27b上の半導体
ウエハ1を搬送アーム4のフォーク6上に載置位置決め
して、半導体ウエハ1をアンモニア処理室27外に取り
出し、次の水洗処理室28内へ半導体ウエハ1を搬入す
る。そして、水洗処理室28から戻ってきた搬送アーム
4のフォーク6は上述と同様に洗浄・乾燥ノズル40に
よって洗浄及び乾燥されて、次の半導体ウエハ1の新た
な50枚の半導体ウエハ1の搬送が可能となる。したが
って、搬送アーム4は半導体ウエハ1の搬送後の待機中
に洗浄・乾燥されると共に、駆動部側への薬液等の侵入
が防止されるため、半導体ウエハ1の洗浄処理を連続的
に効率良く行うことができる。また、搬送アーム4がク
リーンエアのダウンフローによって清浄化された雰囲気
の容器3内に配設されているため、搬送アーム4に付着
した薬液や洗浄に使用される排液、更にはカバー内空間
8aに充填されるN2 ガスの万一の漏洩によって雰囲気
が乱されることなく、安全に排出することができる。
【0033】なお、搬入側の洗浄処理ユニット21によ
る洗浄が終了した半導体ウエハ1は搬入側の洗浄処理ユ
ニット21と中央の洗浄処理ユニット22との間の水中
ローダ26によって中央の洗浄処理ユニット22に搬送
され、中央の洗浄処理ユニット22の容器3内に配設さ
れた搬送アーム4によって上述と同様に搬送される。そ
して、半導体ウエハ1は、順次フッ酸処理室29内での
洗浄処理、オーバーフロー処理室30内での水洗オーバ
ーフロー処理が行われる。この中間の洗浄処理ユニット
による洗浄処理においても、容器3内に待機中の回転搬
送アームのフォーク6は洗浄・乾燥ノズル40によって
上述と同様に洗浄、乾燥されると共に、清浄化雰囲気中
におかれる。
【0034】また、中央の洗浄処理ユニット22での洗
浄処理が行われた半導体ウエハ1は、中央の洗浄処理ユ
ニット22と搬出側の洗浄処理ユニット23との間の水
中ローダ26にて搬出側の洗浄処理ユニット23に搬送
される。そして、搬出側の洗浄処理ユニット23の搬送
アーム4によって上述と同様に搬送されて、ファイナル
リンスが行われた後、乾燥処理が行われる。この搬出側
の洗浄処理ユニット23による洗浄においても、上述と
同様に搬送アーム4のフォーク6は洗浄・乾燥ノズル4
0によって洗浄乾燥され、常に清浄化されたた状態で半
導体ウエハ1の搬送に供される。
【0035】搬出側の洗浄処理ユニット23にて洗浄処
理された半導体ウエハ1はアンローダ25に搬送され、
このアンローダ25にて半導体ウエハ1の25枚ずつの
分割、オリフラ合せが行われ、そして、2つのキャリア
に載置されて搬出される。
【0036】なお、上記実施例ではこの発明の洗浄装置
が半導体ウエハ1の洗浄装置について説明したが、必ず
しも半導体ウエハ1の洗浄装置に限定するものではな
く、その他の例えばLCDガラス基板等の洗浄装置に適
用できることは勿論である。
【0037】
【発明の効果】以上に説明したように、この発明の洗浄
装置によれば上記のように構成されているので、以下の
ような効果が得られる。
【0038】1)請求項1記載の洗浄装置によれば、隣
接するアーム体を連結する中空状の連結軸と、この連結
軸の中空部と連通する空間を残して連結軸を包囲するカ
バーとでアーム体を構成し、連結軸の中空部に加圧付与
手段を接続してアーム体のカバー内空間部を加圧状態に
維持するので、搬送アームに付着する薬液の搬送アーム
駆動部内への侵入を防止して搬送アームの腐食を防止す
ると共に、洗浄効率の向上を図ることができる。また、
装置の寿命の増大及び信頼性の向上が図れる。
【0039】2)請求項2記載の洗浄装置によれば、被
処理体搬送室の上部から下部に向って清浄化された空気
をダウンフローさせると共に、整流手段により整流させ
て底部の排気・排液口から排出することができるので、
搬送アームに付着した薬液やその他の不純物によって被
処理体搬送室内の雰囲気が乱されることなく、清浄化さ
れた雰囲気を維持することができ、上記1)に加えて被
処理体の歩留りの低下を防止することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の洗浄装置の一部を示す概略断面図で
ある。
【図2】図1の要部拡大断面図である。
【図3】洗浄装置の全体構造を示す断面図である。
【符号の説明】
1 半導体ウエハ(被処理体) 2 洗浄処理室 3 容器(被処理体搬送室) 3c 空気供給口 3f 排気・排液口 4 搬送アーム(搬送手段) 5(5a〜5d) アーム体 7 連結軸 7a 中空部 8 カバー 8a 空間 9 供給管 10 N2 ガスタンク(加圧付与手段) 15 HEPA(又はULPA)フィルタ 16 給気ファン(空気供給手段) 18 排出管 20 多孔板(整流手段)
フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 21/304 648 B08B 3/04 H01L 21/68

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 処理液によって被処理体を洗浄する洗浄
    処理室と、この洗浄処理室と隣接する位置に配置される
    被処理体搬送室と、この被処理体搬送室内に配設されて
    上記洗浄処理室に対して上記被処理体を搬入・搬出する
    搬送手段とを具備する洗浄装置において、上記搬送手段
    を、互いに回転自在に連結される複数のアーム体を具備
    する多関節搬送アームにて形成し、上記アーム体を、隣
    接するアーム体を連結する中空状の連結軸と、この連結
    軸の中空部と連通する空間を残して連結軸を包囲するカ
    バーとで構成し、上記連結軸の中空部に加圧付与手段を
    接続して、上記アーム体のカバー内空間部を加圧状態に
    維持することを特徴とする洗浄装置。
  2. 【請求項2】 請求項1記載の洗浄装置において、被処
    理体搬送室の上部に空気供給口を設けると共に、この空
    気供給口に濾過部材を介して空気供給手段を接続し、上
    記被処理体搬送室の底部に排気・排液口を設けると共
    に、この排気・排液口に吸引手段を接続し、上記被処理
    体搬送室中に、上部から下部に向って流れる清浄空気流
    と直交する方向に整流手段を配設してなることを特徴と
    する洗浄装置。
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