JP3110263B2 - 認識対象物の中心位置検出方法 - Google Patents

認識対象物の中心位置検出方法

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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、所定の認識対象物から
の反射光を利用して上記認識対象物の中心位置を検出す
る方法に関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、硬貨識別装置等において認識対
象物の反射光により中心位置を検出することが行われて
いる。例えば、パターンマッチングを利用した硬貨識別
装置においては、認識対象物としての硬貨の中心位置を
求めるために、硬貨の上下左右のエッジに向かって検査
光を照射し、その反射光の輝度投影(光電変換値)を作
成して中心位置の検出を行うようにしている。
【0003】この輝度投影を用いた中心位置検出方法で
は、例えば図3に示されているように、まず認識対象物
1からの反射光に基づいて水平方向の輝度投影PH 及び
垂直方向の輝度投影PV をそれぞれ得、これらの各輝度
投影PH ,PV について、各走査線による走査・検出を
行う。そして各走査線が、輝度投影の基準値(スレッシ
ュ)を越えたときの両者の交点、すなわち各走査線と各
輝度投影PH 及びPVの分布線とが交わる一対の交点を
それぞれエッジAX ,BX 及びCY ,DY として検出
し、その各エッジ検出点AX ,BX 及びCY ,DY
ら、認識対象物1の中心位置O(CX ,CY )を、例え
ば以下の式より求めている。 CX =(AX +BX )/2 CY =(CY +DY )/2
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながらこのよう
な従来の中心位置検出方法では、認識対象物のエッジの
近傍に異物が存在したり背景の異常発生等の光学的要因
から、正確な中心位置検出ができなくなるという問題が
ある。すなわち上述したような光学的要因により異常な
反射光が生じると、それに伴って輝度投影が影響を受
け、例えば図3における垂直方向の輝度投影PV の場合
には、光学的要因Dによって、上下のエッジ領域で輝度
投影にアンバランスを生じている。そしてこのようなヒ
ストグラムのアンバランスを生じると、両端エッジの位
置が本来の位置からずれて検出されてしまい、それに従
って、求めるべき中心位置が本来の位置Oから位置O’
にずれるという問題がある。
【0005】そこで本発明は、中心位置検出を精度良く
行うことができるようにした認識対象物の中心位置検出
方法を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
本発明は、認識対象物に検査光を照射し、その反射光か
ら得た輝度投影を走査することによって上記認識対象物
の中心位置を検出するようにした認識対象物の中心位置
検出方法において、上記輝度投影を、相互に角度をなす
複数の座標系について、複数求め、それらの各座標系毎
に認識対象物の中心位置を検出し、当該各座標系毎に検
出した認識対象物の各中心位置を重平均することによっ
て、認識対象物の最終中心位置を得るようにした構成を
有している。
【0007】
【作用】上記発明にかかる認識対象物の中心位置検出方
法によれば、複数の座標系に基づく複数の検出結果の重
平均により、各座標系の検出結果どうしが相互に補完し
合うようにして最終中心位置が求められるようになって
いる。
【0008】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて詳細
に説明する。パターンマッチングによる硬貨識別装置を
用いた実施例について説明すると、まず本実施例の第1
ステップでは、従来の項(図3参照)で述べたと同様な
輝度投影を用いた中心位置検出方法を実行する。すなわ
ちこの第1ステップにおける基準座標系は、通常と同様
に水平方向及び鉛直方向に設定されており、この水平−
鉛直の第1の座標系に基づいて、円形認識対象物として
の硬貨1における第1の中心位置(CX ,CY )を以下
の式より求める。 CX =(AX +BX )/2 CY =(CY +DY )/2
【0009】つぎに第2ステップでは、図1に示されて
いるように、上記第1の座標系から±45°傾斜した第
2の座標系を設定し、当該傾斜した第2座標系における
X,Yの2方向における輝度投影PQ ,PR をそれぞれ
得る。そしてこれらの各輝度投影PQ ,PR について、
各走査線による走査・検出を行い、各走査線が、輝度投
影の基準値(スレッシュ)を越えたときの両者の交点、
すなわち各走査線と各輝度投影PQ ,PR の分布線とが
交わる一対の交点をそれぞれ、エッジEX ,FX 、E
Y ,FY 及びGX ,HX 、GY ,HY として検出し、そ
れの各エッジ検出点から、硬貨1における第2の中心位
置(C’X ,C’Y )及び第3の中心位置(C”X
C”Y )を以下の式より求める。 C’X =(EX +FX )/2 C’Y =(EY +FY )/2 C”X =(GX +HX )/2 C”Y =(GY +HY )/2
【0011】そしてこのようにして求められた3つの各
中心位置(CX ,CY )、(C’X,C’Y )、(C”X
,C”Y )から、最終の検出中心位置O(a,b)を
重平均によって求める。すなわち、 a=(CX +C’X +C”X )/3 b=(CY +C’Y +C”Y )/3 である。
【0012】このように本実施例では、最終の検出中心
位置O(a,b)が、2つの座標系に基づく3つの検出
結果の重平均により求められており、各座標系の検出結
果どうしが相互に補完し合うようにして最終中心位置の
算出を行うようにしているため、検出精度が向上される
ようになっている。
【0013】また図2に示されている実施例では、輝度
投影PQ による加算範囲WQ を、例えばW’Q のように
狭めることとしている。このようにすれば、輝度投影に
アンバランスを生じさせる光学的要因Dによる雑音要因
をカットすることができ、従って最終の中心算出精度を
一層向上させることができる。
【0014】以上本発明者によってなされた発明を実施
例に基づき具体的に説明したが、本発明は上記実施例に
限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で
種々変形可能であるというのはいうまでもない。例えば
上記実施例においては、座標系を2体用いているが、3
体以上の座標系であっても同様に適用することができ
る。また本発明は、硬貨識別装置に限定されることはな
く、さらに円形以外の円形認識対象物にも同様に適用す
ることができる。
【0015】
【発明の効果】以上述べたように本発明にかかる認識対
象物の中心位置検出方法は、最終の検出中心位置を、複
数の異なる座標系に基づく複数の検出結果の重平均によ
り求めており、各座標系の検出結果どうしを相互に補完
し合うようにして最終中心位置を求めるように構成した
ものであるから、認識対象物の光学的要因にかかわらず
に認識対象物の中心位置検出を精度良く行うことがで
き、装置の信頼性を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例における輝度投影を用いた認
識対象物の中心位置検出方法を説明するための模式図で
ある。
【図2】本発明の他の実施例における輝度投影を用いた
認識対象物の中心位置検出方法を説明するための模式図
である。
【図3】従来における輝度投影を用いた認識対象物の中
心位置検出方法を説明するための模式図である。
【符号の説明】
1 硬貨 PH ,PV ,PQ ,PR 輝度投影
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平5−143731(JP,A) 特開 平4−195477(JP,A) 特開 平3−290786(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G07D 5/00 - 5/10

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 認識対象物に検査光を照射し、その反射
    光から得た輝度投影を走査することによって上記認識対
    象物の中心位置を検出するようにした認識対象物の中心
    位置検出方法において、 上記輝度投影を、相互に角度をなす複数の座標系につい
    て、複数求め、 それらの各座標系毎に認識対象物の中心位置を検出し、
    当該各座標系毎に検出した認識対象物の各中心位置を重
    平均することによって、認識対象物の最終中心位置を得
    るようにしたことを特徴とする認識対象物の中心位置検
    出方法。
  2. 【請求項2】 請求項1記載の認識対象物の中心位置検
    出方法において、 複数の座標系どうしが、±45°傾斜していることを特
    徴とする認識対象物の中心位置検出方法。
JP06261148A 1994-09-30 1994-09-30 認識対象物の中心位置検出方法 Expired - Fee Related JP3110263B2 (ja)

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