JPH07175954A - 識別対象物のエッジ検出方法 - Google Patents
識別対象物のエッジ検出方法Info
- Publication number
- JPH07175954A JPH07175954A JP5344902A JP34490293A JPH07175954A JP H07175954 A JPH07175954 A JP H07175954A JP 5344902 A JP5344902 A JP 5344902A JP 34490293 A JP34490293 A JP 34490293A JP H07175954 A JPH07175954 A JP H07175954A
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- JP
- Japan
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- edge
- luminance
- projection histogram
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 付着物等にかかわらず、識別対象物１１のエ
ッジ検出を精度良く行うことを可能とする。 【構成】 識別対象物１１の輝度そのものを利用するこ
となく、本来のエッジ部分での輝度変化が対称性を有す
ることを利用して、輝度投影ヒストグラムＨＨ，ＶＨと
走査線ＳＨ，ＳＶとが交わる一対の交点Ｈ1 ，Ｈ2 及び
Ｖ1 ，Ｖ2 における両側の勾配θH1とθH2、及びθV1と
θV2とを比較し、両者が互いに略一致する点を、識別対
象物のエッジとして検出するもの。
ッジ検出を精度良く行うことを可能とする。 【構成】 識別対象物１１の輝度そのものを利用するこ
となく、本来のエッジ部分での輝度変化が対称性を有す
ることを利用して、輝度投影ヒストグラムＨＨ，ＶＨと
走査線ＳＨ，ＳＶとが交わる一対の交点Ｈ1 ，Ｈ2 及び
Ｖ1 ，Ｖ2 における両側の勾配θH1とθH2、及びθV1と
θV2とを比較し、両者が互いに略一致する点を、識別対
象物のエッジとして検出するもの。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、識別対象物からの反射
光を利用して上記識別対象物のエッジを検出する方法に
関する。
光を利用して上記識別対象物のエッジを検出する方法に
関する。
【０００２】
【従来の技術】一般に、硬貨識別装置等において識別対
象物の反射光によりエッジを検出することが行われてい
る。例えば、パターンマッチングを利用した硬貨識別装
置においては、識別対象物としての硬貨の中心位置を求
めるために、硬貨の上下左右のエッジに向かって検査光
を照射し、その反射光の輝度投影ヒストグラム（光電変
換値）に基づいてエッジ検出を行うようにしたものがあ
る。
象物の反射光によりエッジを検出することが行われてい
る。例えば、パターンマッチングを利用した硬貨識別装
置においては、識別対象物としての硬貨の中心位置を求
めるために、硬貨の上下左右のエッジに向かって検査光
を照射し、その反射光の輝度投影ヒストグラム（光電変
換値）に基づいてエッジ検出を行うようにしたものがあ
る。
【０００３】この輝度投影ヒストグラムを用いたエッジ
検出方法では、例えば図２に示されているように、まず
識別対象物１からの反射光に基づいて水平方向の輝度投
影ヒストグラムＨＨ及び垂直方向の輝度投影ヒストグラ
ムＶＨをそれぞれ得、これらの各輝度投影ヒストグラム
ＨＨ，ＨＶについて、各走査線ＳＨ，ＳＶにより走査を
行う。そして各走査線ＳＨ，ＳＶが、輝度投影ヒストグ
ラムの基準値（スレッシュ）を越えたときの両者の交
点、すなわち各走査線ＳＨ，ＳＶと各輝度投影ヒストグ
ラムＨＨ，ＨＶの分布線とが交わる一対の交点Ｈ1 ，Ｈ
2 及びＶ1 ，Ｖ2をそれぞれエッジとして検出し、その
エッジ検出点Ｈ1 ，Ｈ2 及びＶ1 ，Ｖ2 から識別対象物
１の中心位置を求めている。
検出方法では、例えば図２に示されているように、まず
識別対象物１からの反射光に基づいて水平方向の輝度投
影ヒストグラムＨＨ及び垂直方向の輝度投影ヒストグラ
ムＶＨをそれぞれ得、これらの各輝度投影ヒストグラム
ＨＨ，ＨＶについて、各走査線ＳＨ，ＳＶにより走査を
行う。そして各走査線ＳＨ，ＳＶが、輝度投影ヒストグ
ラムの基準値（スレッシュ）を越えたときの両者の交
点、すなわち各走査線ＳＨ，ＳＶと各輝度投影ヒストグ
ラムＨＨ，ＨＶの分布線とが交わる一対の交点Ｈ1 ，Ｈ
2 及びＶ1 ，Ｖ2をそれぞれエッジとして検出し、その
エッジ検出点Ｈ1 ，Ｈ2 及びＶ1 ，Ｖ2 から識別対象物
１の中心位置を求めている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながらこのよう
な従来のエッジ検出方法では、識別対象物の輝度そのも
のを利用しているため、識別対象物のエッジの近傍に異
物が存在したり背景の異常発生等の原因から、正確なエ
ッジ検出ができなくなるという問題がある。すなわち、
上述したような原因により異常な反射光が生じると、そ
れに伴って輝度投影ヒストグラムに影響を受け、例えば
図２における垂直方向の輝度投影ヒストグラムＶＨの場
合には、分布線が上側の領域で変形をしている。そして
このようなヒストグラムの変形を生じると、上述したＶ
2 の位置が本来の位置Ｖ0 からずれて検出されてしま
い、求めるべき中心位置が本来の位置Ｏから位置Ｏ’に
ずれるという問題がある。
な従来のエッジ検出方法では、識別対象物の輝度そのも
のを利用しているため、識別対象物のエッジの近傍に異
物が存在したり背景の異常発生等の原因から、正確なエ
ッジ検出ができなくなるという問題がある。すなわち、
上述したような原因により異常な反射光が生じると、そ
れに伴って輝度投影ヒストグラムに影響を受け、例えば
図２における垂直方向の輝度投影ヒストグラムＶＨの場
合には、分布線が上側の領域で変形をしている。そして
このようなヒストグラムの変形を生じると、上述したＶ
2 の位置が本来の位置Ｖ0 からずれて検出されてしま
い、求めるべき中心位置が本来の位置Ｏから位置Ｏ’に
ずれるという問題がある。
【０００５】そこで本発明は、エッジ検出を精度良く行
うことができるようにした識別対象物のエッジ検出方法
を提供することを目的とする。
うことができるようにした識別対象物のエッジ検出方法
を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
本発明は、識別対象物に検査光を照射し、その反射光か
ら得た輝度投影ヒストグラムを走査し、当該輝度投影ヒ
ストグラムと走査線とが交わる一対の交点を、上記識別
対象物のエッジとして検出するようにした識別対象物の
エッジ検出方法において、上記輝度投影ヒストグラムの
値が基準値を越える領域で、輝度投影ヒストグラムと走
査線とが交わる一対の交点における勾配をそれぞれ求
め、求めた両側の勾配どうしが互いに略一致する点を、
前記識別対象物のエッジとして検出するようにした構成
を有している。
本発明は、識別対象物に検査光を照射し、その反射光か
ら得た輝度投影ヒストグラムを走査し、当該輝度投影ヒ
ストグラムと走査線とが交わる一対の交点を、上記識別
対象物のエッジとして検出するようにした識別対象物の
エッジ検出方法において、上記輝度投影ヒストグラムの
値が基準値を越える領域で、輝度投影ヒストグラムと走
査線とが交わる一対の交点における勾配をそれぞれ求
め、求めた両側の勾配どうしが互いに略一致する点を、
前記識別対象物のエッジとして検出するようにした構成
を有している。
【０００７】
【作用】上記発明にかかる識別対象物のエッジ検出方法
によれば、識別対象物の輝度そのものを利用することは
なく、本来のエッジ部分での輝度変化が対称性を有する
ことを利用してエッジ検出が行われる。そのため異物等
による反射異常がある場合であっても、輝度変化に基づ
いてエッジ検出が精度良く行われるようになっている。
によれば、識別対象物の輝度そのものを利用することは
なく、本来のエッジ部分での輝度変化が対称性を有する
ことを利用してエッジ検出が行われる。そのため異物等
による反射異常がある場合であっても、輝度変化に基づ
いてエッジ検出が精度良く行われるようになっている。
【０００８】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて詳細
に説明する。パターンマッチングによる硬貨識別装置を
用いた実施例について説明すると、まず図１に示されて
いるように、識別対象物としての硬貨１１の外周に向か
って検査光を照射し、その反射光に基づいて、水平方向
の輝度投影ヒストグラム（光電変換値）ＨＨ及び垂直方
向の輝度投影ヒストグラム（光電変換値）ＶＨをそれぞ
れ得る。
に説明する。パターンマッチングによる硬貨識別装置を
用いた実施例について説明すると、まず図１に示されて
いるように、識別対象物としての硬貨１１の外周に向か
って検査光を照射し、その反射光に基づいて、水平方向
の輝度投影ヒストグラム（光電変換値）ＨＨ及び垂直方
向の輝度投影ヒストグラム（光電変換値）ＶＨをそれぞ
れ得る。
【０００９】ついでそれらの各輝度投影ヒストグラムＨ
Ｈ，ＶＨに対する走査（スキャン）を、走査線ＳＨ，Ｓ
Ｖにより行うが、このときの各輝度投影ヒストグラムＨ
Ｈ，ＶＨに対するスレッシュレベルは、検出すべきエッ
ジ位置よりも外側の領域に対応して決定されており、従
って従来よりもやや低いレベルで設定されている。また
走査範囲は、硬貨１１の停止位置が概略定まっているた
め、エッジ検出が確実に行われるウインドウの範囲が、
エッジ近傍をカバーするようにそれぞれ設定されてい
る。なおこの走査範囲は、全域に設定することも当然可
能である。
Ｈ，ＶＨに対する走査（スキャン）を、走査線ＳＨ，Ｓ
Ｖにより行うが、このときの各輝度投影ヒストグラムＨ
Ｈ，ＶＨに対するスレッシュレベルは、検出すべきエッ
ジ位置よりも外側の領域に対応して決定されており、従
って従来よりもやや低いレベルで設定されている。また
走査範囲は、硬貨１１の停止位置が概略定まっているた
め、エッジ検出が確実に行われるウインドウの範囲が、
エッジ近傍をカバーするようにそれぞれ設定されてい
る。なおこの走査範囲は、全域に設定することも当然可
能である。
【００１０】そして各走査線ＳＨ，ＳＶが、輝度投影ヒ
ストグラムの基準値（スレッシュ）を越えたときの両者
の交点、すなわち各走査線ＳＨ，ＳＶと各輝度投影ヒス
トグラムＨＨ，ＨＶの分布線とが交わる一対の交点Ｈ
1 ，Ｈ2 及びＶ1 ，Ｖ2 をそれぞれ求め、これらを一旦
記憶し格納する。
ストグラムの基準値（スレッシュ）を越えたときの両者
の交点、すなわち各走査線ＳＨ，ＳＶと各輝度投影ヒス
トグラムＨＨ，ＨＶの分布線とが交わる一対の交点Ｈ
1 ，Ｈ2 及びＶ1 ，Ｖ2 をそれぞれ求め、これらを一旦
記憶し格納する。
【００１１】さらに上記各点Ｈ1 ，Ｈ2 及びＶ1 ，Ｖ2
における勾配θH1，θH2及びθV1，θV2をそれぞれ求
め、各々対応するθH1とθH2、及びθV1とθV2とを比較
する。このときの勾配検出は、ノイズ等を考慮し、走査
の各点のうちの連続する５〜６ポイントまたはそれより
多いポイントの平均に基づいて求める。そしてこの求め
た両側の勾配の値どうしが、異物１２等の影響により違
っていれば（例えばθV1≠θV2）、さらに走査を進めて
同様の操作を繰り返し、上述のようにして既に記憶格納
している勾配θV1の値と比較して略一致する勾配θv0を
有する点Ｖ0 を見い出し、その点をエッジ検出点とす
る。
における勾配θH1，θH2及びθV1，θV2をそれぞれ求
め、各々対応するθH1とθH2、及びθV1とθV2とを比較
する。このときの勾配検出は、ノイズ等を考慮し、走査
の各点のうちの連続する５〜６ポイントまたはそれより
多いポイントの平均に基づいて求める。そしてこの求め
た両側の勾配の値どうしが、異物１２等の影響により違
っていれば（例えばθV1≠θV2）、さらに走査を進めて
同様の操作を繰り返し、上述のようにして既に記憶格納
している勾配θV1の値と比較して略一致する勾配θv0を
有する点Ｖ0 を見い出し、その点をエッジ検出点とす
る。
【００１２】この場合、両側の勾配の値が完全に一致す
る必要はなく、両者の差が一定の範囲内、すなわち、 ｜θ1 −θ2 ｜＜一定値 であればエッジとして検出し、そのエッジ検出点から中
心位置Ｏを求める。
る必要はなく、両者の差が一定の範囲内、すなわち、 ｜θ1 −θ2 ｜＜一定値 であればエッジとして検出し、そのエッジ検出点から中
心位置Ｏを求める。
【００１３】このような実施例では、識別対象物の輝度
そのものを利用することはなく、本来のエッジ部分での
輝度変化が対称性を有することを利用してエッジ検出が
行われる。そのため異物等による反射異常がある場合で
あっても、輝度変化に基づいてエッジ検出が精度良く行
われるようになっている。
そのものを利用することはなく、本来のエッジ部分での
輝度変化が対称性を有することを利用してエッジ検出が
行われる。そのため異物等による反射異常がある場合で
あっても、輝度変化に基づいてエッジ検出が精度良く行
われるようになっている。
【００１４】以上本発明者によってなされた発明を実施
例に基づき具体的に説明したが、本発明は上記実施例に
限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で
種々変形可能であるというのはいうまでもない。例えば
本発明は、硬貨識別装置に限定されることはなく、また
円形以外の識別対象物にも同様に適用することができ
る。
例に基づき具体的に説明したが、本発明は上記実施例に
限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で
種々変形可能であるというのはいうまでもない。例えば
本発明は、硬貨識別装置に限定されることはなく、また
円形以外の識別対象物にも同様に適用することができ
る。
【００１５】
【発明の効果】以上述べたように本発明にかかる識別対
象物のエッジ検出方法は、識別対象物の輝度そのものを
利用することなく、本来のエッジ部分での輝度変化が対
称性を有することを利用して、輝度投影ヒストグラムと
走査線とが交わる一対の交点における両側の勾配どうし
が互いに略一致する点を、識別対象物のエッジとして検
出するものであるから、異物が付着等にかかわらず、識
別対象物のエッジ検出を精度良く行うことができ、信頼
性を向上させることができる。
象物のエッジ検出方法は、識別対象物の輝度そのものを
利用することなく、本来のエッジ部分での輝度変化が対
称性を有することを利用して、輝度投影ヒストグラムと
走査線とが交わる一対の交点における両側の勾配どうし
が互いに略一致する点を、識別対象物のエッジとして検
出するものであるから、異物が付着等にかかわらず、識
別対象物のエッジ検出を精度良く行うことができ、信頼
性を向上させることができる。
【図１】本発明の一実施例における輝度投影ヒストグラ
ムを用いた識別対象物のエッジ検出方法を説明するため
の模式図である。
ムを用いた識別対象物のエッジ検出方法を説明するため
の模式図である。
【図２】従来における輝度投影ヒストグラムを用いた識
別対象物のエッジ検出方法を説明するための模式図であ
る。
別対象物のエッジ検出方法を説明するための模式図であ
る。
１１ 硬貨 ＨＨ，ＶＨ 輝度投影ヒストグラム
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｇ０６Ｔ 9/20 7459−5Ｌ Ｇ０６Ｆ 15/70 ３３５ Ｚ
Claims (1)
- 【請求項１】 識別対象物に検査光を照射し、その反射
光から得た輝度投影ヒストグラムを走査し、当該輝度投
影ヒストグラムと走査線とが交わる一対の交点を、上記
識別対象物のエッジとして検出するようにした識別対象
物のエッジ検出方法において、 上記輝度投影ヒストグラムの値が基準値を越える領域
で、輝度投影ヒストグラムと走査線とが交わる一対の交
点における勾配をそれぞれ求め、 求めた両側の勾配どうしが互いに略一致する点を、前記
識別対象物のエッジとして検出するようにしたことを特
徴とする識別対象物のエッジ検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5344902A JPH07175954A (ja) | 1993-12-20 | 1993-12-20 | 識別対象物のエッジ検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5344902A JPH07175954A (ja) | 1993-12-20 | 1993-12-20 | 識別対象物のエッジ検出方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07175954A true JPH07175954A (ja) | 1995-07-14 |
Family
ID=18372880
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5344902A Withdrawn JPH07175954A (ja) | 1993-12-20 | 1993-12-20 | 識別対象物のエッジ検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07175954A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPWO2014061123A1 (ja) * | 2012-10-17 | 2016-09-05 | 富士通株式会社 | 画像処理装置、画像処理プログラムおよび画像処理方法 |
-
1993
- 1993-12-20 JP JP5344902A patent/JPH07175954A/ja not_active Withdrawn
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPWO2014061123A1 (ja) * | 2012-10-17 | 2016-09-05 | 富士通株式会社 | 画像処理装置、画像処理プログラムおよび画像処理方法 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20010306 |