JP3106404B2 - 開閉器又は押ボタン開閉器の接触を検査する回路装置及び方法 - Google Patents
開閉器又は押ボタン開閉器の接触を検査する回路装置及び方法Info
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- JP3106404B2 JP3106404B2 JP10155106A JP15510698A JP3106404B2 JP 3106404 B2 JP3106404 B2 JP 3106404B2 JP 10155106 A JP10155106 A JP 10155106A JP 15510698 A JP15510698 A JP 15510698A JP 3106404 B2 JP3106404 B2 JP 3106404B2
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- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/327—Testing of circuit interrupters, switches or circuit-breakers
- G01R31/3271—Testing of circuit interrupters, switches or circuit-breakers of high voltage or medium voltage devices
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、請求項１，２，又は４
による開閉器又は押ボタン開閉器の接触を検査する回路
装置に関する。同様に本発明は、請求項７又は１０の上
位概念による開閉器又は押ボタン開閉器の接触を検査す
る方法にも関する。
による開閉器又は押ボタン開閉器の接触を検査する回路
装置に関する。同様に本発明は、請求項７又は１０の上
位概念による開閉器又は押ボタン開閉器の接触を検査す
る方法にも関する。
【０００２】遮断器の代りに、制御器を介して開閉位置
を読込まれる開閉器を使用することは公知である。これ
らの開閉器は、入出力ポートとしても構成できる制御器
の入力端に接続される。この入出力ポートを開閉器に接
続することによって、この入出力ポートが入力端として
のみ使用される。更に例えばアナログ開閉器を、Ａ／Ｄ
変換器として構成されている制御器の切換え開閉器又は
切換え押ボタン開閉器に接続することも公知である。所
定の機器仕様のすべての開閉器が組込まれているか否か
を検査し、かつすべての開閉器が規則正しく接触しかつ
規則正しく動作しているか否かを検査しようとすれば、
これらの開閉器が手で検査される。その際すべての開閉
器の検査を確実にするため、検査者は相互作用する検査
プログラムにより指導される。
を読込まれる開閉器を使用することは公知である。これ
らの開閉器は、入出力ポートとしても構成できる制御器
の入力端に接続される。この入出力ポートを開閉器に接
続することによって、この入出力ポートが入力端として
のみ使用される。更に例えばアナログ開閉器を、Ａ／Ｄ
変換器として構成されている制御器の切換え開閉器又は
切換え押ボタン開閉器に接続することも公知である。所
定の機器仕様のすべての開閉器が組込まれているか否か
を検査し、かつすべての開閉器が規則正しく接触しかつ
規則正しく動作しているか否かを検査しようとすれば、
これらの開閉器が手で検査される。その際すべての開閉
器の検査を確実にするため、検査者は相互作用する検査
プログラムにより指導される。
【０００３】例えば自動車工業又は電子工業のような生
産業では、完成された製品において、すべての開閉器が
所定の製品仕様に従つて製品に組込まれているか又はい
ないかを検査する必要性がしばしば起こる。
産業では、完成された製品において、すべての開閉器が
所定の製品仕様に従つて製品に組込まれているか又はい
ないかを検査する必要性がしばしば起こる。
【０００４】更に不動作状態で開く開閉器又はセンサに
抵抗を並列接続することによつて、この開閉器又はセン
サを検査する回路装置が公知である（ドイツ連邦共和国
特許出願公開第３７２４９２６号明細書）。並列及び直
列に接続される別の抵抗に対する抵抗比に基いて異なる
値で現われる電圧レベルにより、開閉器又はセンサの種
々の接触誤差又は機能障害を検出することができる。こ
の抵抗を通る持続電流を防止するため、この抵抗に対し
て直列に制御可能な開閉器が接続され、検査を行う時に
のみこの開閉器が閉じられる。
抵抗を並列接続することによつて、この開閉器又はセン
サを検査する回路装置が公知である（ドイツ連邦共和国
特許出願公開第３７２４９２６号明細書）。並列及び直
列に接続される別の抵抗に対する抵抗比に基いて異なる
値で現われる電圧レベルにより、開閉器又はセンサの種
々の接触誤差又は機能障害を検出することができる。こ
の抵抗を通る持続電流を防止するため、この抵抗に対し
て直列に制御可能な開閉器が接続され、検査を行う時に
のみこの開閉器が閉じられる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】本発明の課題は、開閉
器又は押ボタン開閉器の規則正しい接触の検査を簡単化
することである。
器又は押ボタン開閉器の規則正しい接触の検査を簡単化
することである。
【０００６】この課題は、請求項１により、直流電圧を
供給される回路にある開閉器又は押ボタン開閉器が、制
御器又はマイクロプロセツサの少なくとも１つの入力端
に少なくとも一時的にかつ少なくとも１つの出力端に少
なくとも一時的に接続されており、開閉器又は押ボタン
開閉器が切換え開閉器又は切換え押ボタン開閉器として
構成され、その一方の開閉区間が特定の電位に直接接続
され、その他方の開閉区間がコンデンサ装置を介して特
定の電位に接続されている、開閉器又は押ボタン開閉器
の規則正しい接触を検査する回路装置によつて解決され
る。
供給される回路にある開閉器又は押ボタン開閉器が、制
御器又はマイクロプロセツサの少なくとも１つの入力端
に少なくとも一時的にかつ少なくとも１つの出力端に少
なくとも一時的に接続されており、開閉器又は押ボタン
開閉器が切換え開閉器又は切換え押ボタン開閉器として
構成され、その一方の開閉区間が特定の電位に直接接続
され、その他方の開閉区間がコンデンサ装置を介して特
定の電位に接続されている、開閉器又は押ボタン開閉器
の規則正しい接触を検査する回路装置によつて解決され
る。
【０００７】この請求項１は、従来技術に対して、開閉
器又は押ボタン開閉器が切換え開閉器又は切換え押ボタ
ン開閉器として構成されているという相違を持つてい
る。回路装置のこの構成によつて、開閉器又は押ボタン
開閉器の操作毎にコンデンサが放電するという事態が防
止される。即ち開閉器又は押ボタン開閉器の遮断後コン
デンサが再び充電され、それに応じた大きいエネルギー
消費が伴うことになる。更にそれにより、開閉器又は押
ボタン開閉器の操作の際、信号レベルの変化が制御器に
より検出可能になるまで、まずコンデンサが放電せねば
ならないという事態が防止される。これは時間遅れを伴
うことになる。
器又は押ボタン開閉器が切換え開閉器又は切換え押ボタ
ン開閉器として構成されているという相違を持つてい
る。回路装置のこの構成によつて、開閉器又は押ボタン
開閉器の操作毎にコンデンサが放電するという事態が防
止される。即ち開閉器又は押ボタン開閉器の遮断後コン
デンサが再び充電され、それに応じた大きいエネルギー
消費が伴うことになる。更にそれにより、開閉器又は押
ボタン開閉器の操作の際、信号レベルの変化が制御器に
より検出可能になるまで、まずコンデンサが放電せねば
ならないという事態が防止される。これは時間遅れを伴
うことになる。
【０００８】この回路装置により、開閉器又は押ボタン
開閉器の操作を必要とすることなく、接触の検査、又は
開閉器又は押ボタン開閉器がそもそも組込まれているか
又はいないかの検査を行うことができる。それにより接
触の検査を自動的に行うことが可能になる。
開閉器の操作を必要とすることなく、接触の検査、又は
開閉器又は押ボタン開閉器がそもそも組込まれているか
又はいないかの検査を行うことができる。それにより接
触の検査を自動的に行うことが可能になる。
【０００９】コンデンサ装置はただ１つのコンデンサか
ら成ることができる。このコンデンサは、開閉器又は押
ボタン開閉器が操作されない時、直流が流れるのを防止
する。こうして持続電流及びそれにより生じる自動車の
電池の放電を防止するため、それ以外の手段（例えば制
御可能な開閉器による遮断）をとる必要がない。
ら成ることができる。このコンデンサは、開閉器又は押
ボタン開閉器が操作されない時、直流が流れるのを防止
する。こうして持続電流及びそれにより生じる自動車の
電池の放電を防止するため、それ以外の手段（例えば制
御可能な開閉器による遮断）をとる必要がない。
【００１０】開閉器又は押ボタン開閉器は例えば入出力
ポートに接続することができる。その場合本発明によれ
ば、このポートは入力端として使用されるだけでなく、
検査のために信号レベルを変化するため、入力端と出力
端とが交代される。開閉器又は押ボタン開閉器を異なる
ポートに接続し、これらのうち少なくとも１つのポート
を入力端とし、少なくとも１つの別のポートを出力端と
することも可能である。その場合レベル変化後信号レベ
ルの時間応答を評価することができる。正しい接触の場
合、ＲＣ素子のため信号レベルの上昇が遅れる。
ポートに接続することができる。その場合本発明によれ
ば、このポートは入力端として使用されるだけでなく、
検査のために信号レベルを変化するため、入力端と出力
端とが交代される。開閉器又は押ボタン開閉器を異なる
ポートに接続し、これらのうち少なくとも１つのポート
を入力端とし、少なくとも１つの別のポートを出力端と
することも可能である。その場合レベル変化後信号レベ
ルの時間応答を評価することができる。正しい接触の場
合、ＲＣ素子のため信号レベルの上昇が遅れる。
【００１１】更にこの課題は、請求項２により、直流電
圧を供給される回路にある開閉器又は押ボタン開閉器
が、制御器又はマイクロプロセツサの少なくとも１つの
入力端に少なくとも一時的にかつ少なくとも１つの出力
端に少なくとも一時的に接続されており、開閉器又は押
ボタン開閉器の開閉区間にコイル装置が設けられてい
る、開閉器又は押ボタン開閉器の規則正しい接触を検査
する回路装置によつて解決される。
圧を供給される回路にある開閉器又は押ボタン開閉器
が、制御器又はマイクロプロセツサの少なくとも１つの
入力端に少なくとも一時的にかつ少なくとも１つの出力
端に少なくとも一時的に接続されており、開閉器又は押
ボタン開閉器の開閉区間にコイル装置が設けられてい
る、開閉器又は押ボタン開閉器の規則正しい接触を検査
する回路装置によつて解決される。
【００１２】このような回路装置により、開閉器又は押
ボタン開閉器の操作されている状態でこの開閉器又は押
ボタン開閉器を検査することができる。この場合も制御
器又はマイクロプロセツサの出力端を介して信号レベル
が変化されて、この信号レベルが開閉器又は押ボタン開
閉器の操作される際の信号レベルに一致した後、信号レ
ベルの時間応答が評価される。
ボタン開閉器の操作されている状態でこの開閉器又は押
ボタン開閉器を検査することができる。この場合も制御
器又はマイクロプロセツサの出力端を介して信号レベル
が変化されて、この信号レベルが開閉器又は押ボタン開
閉器の操作される際の信号レベルに一致した後、信号レ
ベルの時間応答が評価される。
【００１３】請求項３による有利な展開では、開閉器又
は押ボタン開閉器の開閉区間に対して並列にコンデンサ
装置が設けられている。それにより開閉器又は押ボタン
開閉器が操作されるか否かに関係なく、検査が有利に可
能である。
は押ボタン開閉器の開閉区間に対して並列にコンデンサ
装置が設けられている。それにより開閉器又は押ボタン
開閉器が操作されるか否かに関係なく、検査が有利に可
能である。
【００１４】更にこの課題は、請求項４により、直流電
圧を供給される回路にある開閉器又は押ボタン開閉器
が、制御器又はマイクロプロセツサの少なくとも１つの
入力端に少なくとも一時的にかつ少なくとも１つの出力
端に少なくとも一時的に接続されており、開閉器又は押
ボタン開閉器が切換え開閉器又は切換え押ボタン開閉器
として構成され、その一方の開閉区間がコイル装置を介
して特定の電位に接続され、その他方の開閉区間がコン
デンサ装置を介して特定の電位に接続されている、開閉
器又は押ボタン開閉器の規則正しい接触を検査する回路
装置によつて解決される。
圧を供給される回路にある開閉器又は押ボタン開閉器
が、制御器又はマイクロプロセツサの少なくとも１つの
入力端に少なくとも一時的にかつ少なくとも１つの出力
端に少なくとも一時的に接続されており、開閉器又は押
ボタン開閉器が切換え開閉器又は切換え押ボタン開閉器
として構成され、その一方の開閉区間がコイル装置を介
して特定の電位に接続され、その他方の開閉区間がコン
デンサ装置を介して特定の電位に接続されている、開閉
器又は押ボタン開閉器の規則正しい接触を検査する回路
装置によつて解決される。
【００１５】請求項３による回路装置との相違は、開閉
器又は押ボタン開閉器が切換え開閉器又は切換え押ボタ
ン開閉器として構成されていることである。それによ
り、開閉器又は押ボタン開閉器の操作される際減衰する
振動が生じるのを防止することができる。こうして常に
特定の遅延時間後特定の信号レベルが現われる。
器又は押ボタン開閉器が切換え開閉器又は切換え押ボタ
ン開閉器として構成されていることである。それによ
り、開閉器又は押ボタン開閉器の操作される際減衰する
振動が生じるのを防止することができる。こうして常に
特定の遅延時間後特定の信号レベルが現われる。
【００１６】請求項５により、制御器又はマイクロプロ
セツサの入力端及び出力端が入出力ポートを介して実現
されていることによつて、前記の回路装置の１つを発展
させることができる。その際開閉器又は押ボタン開閉器
は、有利に制御器又はマイクロプロセツサのただ１つの
端子に接続されねばならない。
セツサの入力端及び出力端が入出力ポートを介して実現
されていることによつて、前記の回路装置の１つを発展
させることができる。その際開閉器又は押ボタン開閉器
は、有利に制御器又はマイクロプロセツサのただ１つの
端子に接続されねばならない。
【００１７】請求項６により、制御器又はマイクロプロ
セツサの入力端及び出力端が相違しており、適当に時間
をずらされて動作可能であることによつて、前記回路の
１つを発展させることができる。それにより、例えばＡ
／Ｄ変換器に接続されているアナログ開閉器を検査する
ことも可能である。
セツサの入力端及び出力端が相違しており、適当に時間
をずらされて動作可能であることによつて、前記回路の
１つを発展させることができる。それにより、例えばＡ
／Ｄ変換器に接続されているアナログ開閉器を検査する
ことも可能である。
【００１８】更にこの課題は、請求項７により、開閉器
又は押ボタン開閉器をまず少なくとも出力端に接続し、
それから出力端を介して、開閉器又は押ボタン開閉器の
規則正しい接触及び操作の際入力端における信号レベル
に一致する信号レベルを出力し、信号レベルの変化後開
閉器又は押ボタン開閉器を少なくとも入力端に接続し、
それから信号レベルを評価する、前記回路装置の１つを
使用して、開閉器又は押ボタン開閉器の規則正しい接触
を検査する方法によつて解決される。それにより開閉器
又は押ボタン開閉器の検査が可能になる。入力端から出
力すべき信号レベルは、開閉器又は押ボタン開閉器が入
力端をアースに接続するか他の電位に接続するかに関係
している。
又は押ボタン開閉器をまず少なくとも出力端に接続し、
それから出力端を介して、開閉器又は押ボタン開閉器の
規則正しい接触及び操作の際入力端における信号レベル
に一致する信号レベルを出力し、信号レベルの変化後開
閉器又は押ボタン開閉器を少なくとも入力端に接続し、
それから信号レベルを評価する、前記回路装置の１つを
使用して、開閉器又は押ボタン開閉器の規則正しい接触
を検査する方法によつて解決される。それにより開閉器
又は押ボタン開閉器の検査が可能になる。入力端から出
力すべき信号レベルは、開閉器又は押ボタン開閉器が入
力端をアースに接続するか他の電位に接続するかに関係
している。
【００１９】請求項８による方法の展開では、信号レベ
ルの時間応答により規則正しい接触が検査される。それ
により規則正しい接触の検査が簡単に評価可能である。
ルの時間応答により規則正しい接触が検査される。それ
により規則正しい接触の検査が簡単に評価可能である。
【００２０】請求項９による方法の展開では、少なくと
も１つの特有な時点に信号レベルを特定の閾値と比較す
る。それにより多額の費用なしに時間応答が評価可能で
ある。
も１つの特有な時点に信号レベルを特定の閾値と比較す
る。それにより多額の費用なしに時間応答が評価可能で
ある。
【００２１】更にこの課題は、請求項１０による方法に
よつて解決され、この方法では開閉器又は押ボタン開閉
器の規則正しい接触を検査するため前記の回路装置の１
つを使用し、作動中に開閉器又は押ボタン開閉器の操作
に帰せられる信号レベルが検出されると、出力端を介し
て、開閉器又は押ボタン開閉器の規則正しい接触及び開
閉操作の際入力端における信号レベルに一致する信号レ
ベルを出力し、続いて出力端を不動作にし、信号レベル
の時間応答から、開閉器又は押ボタンの開閉器の操作が
行われているか否かを推論する。それにより開閉器又は
押ボタン開閉器の操作を、導線の接地のような故障状況
から有利に区別することができる。それにより安全性に
関して信号評価を著しく改善することができる。
よつて解決され、この方法では開閉器又は押ボタン開閉
器の規則正しい接触を検査するため前記の回路装置の１
つを使用し、作動中に開閉器又は押ボタン開閉器の操作
に帰せられる信号レベルが検出されると、出力端を介し
て、開閉器又は押ボタン開閉器の規則正しい接触及び開
閉操作の際入力端における信号レベルに一致する信号レ
ベルを出力し、続いて出力端を不動作にし、信号レベル
の時間応答から、開閉器又は押ボタンの開閉器の操作が
行われているか否かを推論する。それにより開閉器又は
押ボタン開閉器の操作を、導線の接地のような故障状況
から有利に区別することができる。それにより安全性に
関して信号評価を著しく改善することができる。
【００２２】前記回路装置の１つ及び前記の方法によ
り、検査の際費用を著しく減少することができる。開閉
器又は押ボタン開閉器における検査は、任意の頻度で常
に手動操作の必要なしに、ソフトウエア検査ルーチンの
呼出しにより行うことができる。これは、製造における
検査のほかに、顧客サービスにおいても適用可能であ
る。検査計算機は、検査ルーチンの開始及び故障メモリ
ー／状況ビツトの読出しにのみ使用される。
り、検査の際費用を著しく減少することができる。開閉
器又は押ボタン開閉器における検査は、任意の頻度で常
に手動操作の必要なしに、ソフトウエア検査ルーチンの
呼出しにより行うことができる。これは、製造における
検査のほかに、顧客サービスにおいても適用可能であ
る。検査計算機は、検査ルーチンの開始及び故障メモリ
ー／状況ビツトの読出しにのみ使用される。
【００２３】
【実施例】本発明の実施例が図面に示されており、以下
に説明される。
に説明される。
【００２４】図１は、開閉器１０３を読込むために必要
な回路（抵抗Ｒ）１０２を持つ制御器入出力ポート１０
１の原理的構成図を示している。この開閉器１０３は切
換え開閉器として構成され、その一方の開閉区間は入出
力ポート１０１をアースに接続し、その他方の開閉区間
を介して入出力ポートが、図１に実施例ではただ１つの
コンデンサから成るコンデンサ装置１０４を介してアー
スに接続される。従来技術による開閉器に比べて開閉器
１０３が必要とするただ１つの変更は、開閉器１０３の
不動作位置（操作されない位置）で挿入されるコンデン
サ１０４である。制御器の高いクロツク速度により、速
い充電過程を入出力ポートで読込むことが可能なので、
ここでは非常に小さいコンデンサ１０４が使用され（Ｃ
に比例する充電時間）、開閉器１０３に収容する際場所
に関して問題とならない。入力段のための所定の不動作
位置レベル（ここでは５Ｖ）を利用可能にするため、プ
ツシユプル出力段及びオープンドレン出力段では存在せ
ねばならない抵抗Ｒは、コレクタ抵抗を持つ出力段では
なくてもよい。もちろん開閉器１０３を押ボタン開閉器
として構成することができる。切換え開閉器又は切換え
押ボタン開閉器としての構成により、開閉器又は押ボタ
ン開閉器操作の際コンデンサは放電しない。それにより
エネルギー消費が有利に限定され、他方では開閉速度が
高められる。なぜならば、開閉過程を直ちに検出でき、
コンデンサを放電するために必要な時間後に始めて検出
しなくてよいからである。開閉器又は押ボタン開閉器の
操作されない位置では、コンデンサは保持電流をとらな
い。とりわけこれは、自動車分野における使用の際、電
池を不必要に負荷しないようにするために非常に重要で
ある。
な回路（抵抗Ｒ）１０２を持つ制御器入出力ポート１０
１の原理的構成図を示している。この開閉器１０３は切
換え開閉器として構成され、その一方の開閉区間は入出
力ポート１０１をアースに接続し、その他方の開閉区間
を介して入出力ポートが、図１に実施例ではただ１つの
コンデンサから成るコンデンサ装置１０４を介してアー
スに接続される。従来技術による開閉器に比べて開閉器
１０３が必要とするただ１つの変更は、開閉器１０３の
不動作位置（操作されない位置）で挿入されるコンデン
サ１０４である。制御器の高いクロツク速度により、速
い充電過程を入出力ポートで読込むことが可能なので、
ここでは非常に小さいコンデンサ１０４が使用され（Ｃ
に比例する充電時間）、開閉器１０３に収容する際場所
に関して問題とならない。入力段のための所定の不動作
位置レベル（ここでは５Ｖ）を利用可能にするため、プ
ツシユプル出力段及びオープンドレン出力段では存在せ
ねばならない抵抗Ｒは、コレクタ抵抗を持つ出力段では
なくてもよい。もちろん開閉器１０３を押ボタン開閉器
として構成することができる。切換え開閉器又は切換え
押ボタン開閉器としての構成により、開閉器又は押ボタ
ン開閉器操作の際コンデンサは放電しない。それにより
エネルギー消費が有利に限定され、他方では開閉速度が
高められる。なぜならば、開閉過程を直ちに検出でき、
コンデンサを放電するために必要な時間後に始めて検出
しなくてよいからである。開閉器又は押ボタン開閉器の
操作されない位置では、コンデンサは保持電流をとらな
い。とりわけこれは、自動車分野における使用の際、電
池を不必要に負荷しないようにするために非常に重要で
ある。
【００２５】制御器はコンデンサの電位変化を行い、そ
の時この電位変化がコンデンサの充電反転過程の開始時
間に入出力ポートに印加されるか否かを検査せねばなら
ない。コンデンサ１０４又は開閉器１０３がないと、電
位は直ちに初期状態へ戻る。図２は、入出力ポートにお
ける検査の際における信号レベルの時間的経過を示し、
図１による開閉器１０５は操作されない位置にある。従
来の開閉器又は組込まれていない開閉器は、破線で示す
時間的経過を示す。
の時この電位変化がコンデンサの充電反転過程の開始時
間に入出力ポートに印加されるか否かを検査せねばなら
ない。コンデンサ１０４又は開閉器１０３がないと、電
位は直ちに初期状態へ戻る。図２は、入出力ポートにお
ける検査の際における信号レベルの時間的経過を示し、
図１による開閉器１０５は操作されない位置にある。従
来の開閉器又は組込まれていない開閉器は、破線で示す
時間的経過を示す。
【００２６】図２に記号をつけた点は次の意味を持つて
いる。 １） 第１の入出力ポートが読込まれる時点 ２） ″出力端″への入出力ポートの切換え及び″零″
の出力 ３） ″入力端″への入出力ポートの切換え ４） 入出力ポートが読込まれる第２の時点
いる。 １） 第１の入出力ポートが読込まれる時点 ２） ″出力端″への入出力ポートの切換え及び″零″
の出力 ３） ″入力端″への入出力ポートの切換え ４） 入出力ポートが読込まれる第２の時点
【００２７】開閉器１０３の接続後電流が抵抗Ｒを経て
コンデンサ１０４へ流れ、これをＵｃ＝５Ｖに充電す
る。それからコンデンサ１０４が阻止状態になり、不動
作状態にあり、即ち持続電流は流れない。開閉器１０３
の操作の際にも、コンデンサ１０４を放電することが不
可能なので、このコンデンサ１０４は充電されたままで
ある。入出力ポート１０１における万一のレベル変化動
作は、この開閉器１０３の切換え動作の際起こらない。
コンデンサ１０４へ流れ、これをＵｃ＝５Ｖに充電す
る。それからコンデンサ１０４が阻止状態になり、不動
作状態にあり、即ち持続電流は流れない。開閉器１０３
の操作の際にも、コンデンサ１０４を放電することが不
可能なので、このコンデンサ１０４は充電されたままで
ある。入出力ポート１０１における万一のレベル変化動
作は、この開閉器１０３の切換え動作の際起こらない。
【００２８】検査中に、場合によつては導線欠陥（アー
スへの接続）が存在するか又は開閉器又は押ボタン開閉
器が操作されるか否かを検出するため、図２に従つて、
検査すべき開閉器１０３の入出力ポート１０１がまず第
１に読込まれる（時点１）。検査前に検査可能な開閉器
１０３が不動作位置にあるべきなので、時点１に″低″
を持つ入出力ポートが読込まれる場合、アースへの接続
が存在する。
スへの接続）が存在するか又は開閉器又は押ボタン開閉
器が操作されるか否かを検出するため、図２に従つて、
検査すべき開閉器１０３の入出力ポート１０１がまず第
１に読込まれる（時点１）。検査前に検査可能な開閉器
１０３が不動作位置にあるべきなので、時点１に″低″
を持つ入出力ポートが読込まれる場合、アースへの接続
が存在する。
【００２９】時点２における切換え過程（″入力端″か
ら″出力端″への切換え及び″低″の出力）は、入出力
ポートを介してコンデンサの放電を行う。コンデンサが
完全に放電（放電時間ｔｕ≒５＊Ｒ′＊Ｃ，ここでＲ′
は接点及び導線の抵抗）するような大きさに時間ｔｕを
選ぶべきである。
ら″出力端″への切換え及び″低″の出力）は、入出力
ポートを介してコンデンサの放電を行う。コンデンサが
完全に放電（放電時間ｔｕ≒５＊Ｒ′＊Ｃ，ここでＲ′
は接点及び導線の抵抗）するような大きさに時間ｔｕを
選ぶべきである。
【００３０】時間ｔｕ後入出力ポートが再び入力端に接
続される（時点３）。コンデンサは、再び電圧Ｕｃ＝５
Ｖに達し、従つて不動作状態になるまで、抵抗Ｒを介し
て充電される（充電時間≒５＊Ｒ＊Ｃ）。
続される（時点３）。コンデンサは、再び電圧Ｕｃ＝５
Ｖに達し、従つて不動作状態になるまで、抵抗Ｒを介し
て充電される（充電時間≒５＊Ｒ＊Ｃ）。
【００３１】入出力ポート１０１の読込みが入出力ポー
ト１０１の切換え過程に起こらないようにするため、入
出力ポート１０１が読込まれるまでに、遅れ時間ｔｖが
待たれる。
ト１０１の切換え過程に起こらないようにするため、入
出力ポート１０１が読込まれるまでに、遅れ時間ｔｖが
待たれる。
【００３２】それからレベルが閾値Ｕｇと比較される。
レベルがこの閾値以下にあると、開閉器１０１が組込ま
れておりかつ正しく接触しているものと推論することが
できる。レベルがこの閾値以上にあると、破線で示す時
間経過が存在し、従つて開閉器１０１が組込まれていな
いか、又は開閉器１０１が正しく接触していないものと
推論することができる。
レベルがこの閾値以下にあると、開閉器１０１が組込ま
れておりかつ正しく接触しているものと推論することが
できる。レベルがこの閾値以上にあると、破線で示す時
間経過が存在し、従つて開閉器１０１が組込まれていな
いか、又は開閉器１０１が正しく接触していないものと
推論することができる。
【００３３】入出力ポートを読込むために、時間ｔｍを
利用可能である。この時間後読込まれるすべては、もは
や正しいものと解釈することができない。時間ｔｍ後入
出力ポートの読込みは、検査可能な開閉器が組込まれて
いる場合も、″高″を生じることになり、従つて開閉器
が組込まれているかいないかの評価のために、誤つた情
報を与えることになる。これに反し時間ｔｍ中に、検査
可能な開閉器が組込まれている場合入出力ポートに″
低″が読込まれ、開閉器のない場合″高″が読込まれ
る。従つて時間ｔｍ中にのみ一義性が保証される。
利用可能である。この時間後読込まれるすべては、もは
や正しいものと解釈することができない。時間ｔｍ後入
出力ポートの読込みは、検査可能な開閉器が組込まれて
いる場合も、″高″を生じることになり、従つて開閉器
が組込まれているかいないかの評価のために、誤つた情
報を与えることになる。これに反し時間ｔｍ中に、検査
可能な開閉器が組込まれている場合入出力ポートに″
低″が読込まれ、開閉器のない場合″高″が読込まれ
る。従つて時間ｔｍ中にのみ一義性が保証される。
【００３４】次の第１表には、開閉器１０３の入出力ポ
ートが読込まれる２つの時点の可能な場合が、それから
得られる認識と共にあげられている。 時点１ 時点２ 認識 ″低″ ″低″ （開閉器が操作される）又はアースに接続 ″低″ ″高″ 起こらない ″高″ ″低″ 開閉器が組込まれている ″高″ ″高″ 開閉器が組込まれていないか又はＶｃｃに接続
ートが読込まれる２つの時点の可能な場合が、それから
得られる認識と共にあげられている。 時点１ 時点２ 認識 ″低″ ″低″ （開閉器が操作される）又はアースに接続 ″低″ ″高″ 起こらない ″高″ ″低″ 開閉器が組込まれている ″高″ ″高″ 開閉器が組込まれていないか又はＶｃｃに接続
【００３５】図１に示す開閉器１０３のようにアースに
接続されずに１２Ｖに接続されている開閉器又は押ボタ
ン開閉器は、同じ方法に従つて検査することができる。
入出力ポートの論理が反転しているだけなので、アース
へコンデンサの放電の代りに、コンデンサが５Ｖに充電
される。
接続されずに１２Ｖに接続されている開閉器又は押ボタ
ン開閉器は、同じ方法に従つて検査することができる。
入出力ポートの論理が反転しているだけなので、アース
へコンデンサの放電の代りに、コンデンサが５Ｖに充電
される。
【００３６】複数の信号導線を持つ複雑な開閉器では、
制御器から読込まれる各導線は、すべての導線が正しく
存在するか否かを検査できるために、コンデンサを備え
ていなければならない。
制御器から読込まれる各導線は、すべての導線が正しく
存在するか否かを検査できるために、コンデンサを備え
ていなければならない。
【００３７】図３に示すアナログ符号化された窓昇降開
閉器は、原理的にすべての開閉器又は押ボタン開閉器を
このように検査可能な１つの開閉器又は押ボタン開閉器
にできることを示している。アナログ符号化された開閉
器は、Ａ／Ｄ変換器を持つポートを介して読込まれねば
ならず、これらは少なくとも入力ポートとして設計され
ているが、ここではコンデンサ１０４の反転充電を可能
にするため、付加的にもう１つの入出力ポートが使用さ
れねばならない。検査の実際の経過は上述したのと全く
同様である。
閉器は、原理的にすべての開閉器又は押ボタン開閉器を
このように検査可能な１つの開閉器又は押ボタン開閉器
にできることを示している。アナログ符号化された開閉
器は、Ａ／Ｄ変換器を持つポートを介して読込まれねば
ならず、これらは少なくとも入力ポートとして設計され
ているが、ここではコンデンサ１０４の反転充電を可能
にするため、付加的にもう１つの入出力ポートが使用さ
れねばならない。検査の実際の経過は上述したのと全く
同様である。
【００３８】図４は開閉器の別の実施例を示している。
この原理的構成図は、開閉器５０３の読込みに必要な回
路５０２（抵抗Ｒ）を持つ制御器入出力ポート５０１を
示している。この開閉器５０３は開閉器又は押ボタン開
閉器の不動作位置（操作されない位置）で一方の開閉区
間にあるコンデンサ５０４のほかに、他方の開閉区間へ
挿入されているコイル５０５を備えているので、操作さ
れる位置でこのコイル５０５が有効になる。入力段用の
所定の不動作位置レベル（ここでは５Ｖ）を利用可能に
するため、プツシユプル出力段及びオープンドレン出力
段では存在せねばならない抵抗Ｒは、コレクタ抵抗を持
つ出力段では省くことができる。本発明によれば、この
開閉器５０３は、操作される位置でも制御器又はマイク
ロプロセツサにより検査することができる。アースに接
続される開閉器５０３が閉じられているか、又はアース
への接続が行われ、それにより制御器入力端がアースに
接続されているかは、区別することができる。
この原理的構成図は、開閉器５０３の読込みに必要な回
路５０２（抵抗Ｒ）を持つ制御器入出力ポート５０１を
示している。この開閉器５０３は開閉器又は押ボタン開
閉器の不動作位置（操作されない位置）で一方の開閉区
間にあるコンデンサ５０４のほかに、他方の開閉区間へ
挿入されているコイル５０５を備えているので、操作さ
れる位置でこのコイル５０５が有効になる。入力段用の
所定の不動作位置レベル（ここでは５Ｖ）を利用可能に
するため、プツシユプル出力段及びオープンドレン出力
段では存在せねばならない抵抗Ｒは、コレクタ抵抗を持
つ出力段では省くことができる。本発明によれば、この
開閉器５０３は、操作される位置でも制御器又はマイク
ロプロセツサにより検査することができる。アースに接
続される開閉器５０３が閉じられているか、又はアース
への接続が行われ、それにより制御器入力端がアースに
接続されているかは、区別することができる。
【００３９】これまでの実施例による開閉器では、開閉
器が検査前に不動作位置にあり、アースへの接続のみが
問題になるため、制御器入力端がアースに接続されてい
る場合、これだけを区別することができる。従つてコイ
ルにより、開閉器がオンであるか、又は押ボタン開閉器
が操作される時にも、検査を行うことができる。これ
は、例えば自動車工業又は電子工業におけるように、特
に複雑な装置において効果を現わす。なぜならば、検査
を開始できる前に、開閉器が不動作位置へ切換えられて
はならないからである。むしろ検査はいかなる開閉位置
でも行うことができる。特に安全に関係する機能におい
て、開閉器が実際にも操作されており、偶然にはアース
への接続が行われていないか否かを検査できるようにす
るため、連続する作動中にもこの検査を有利に行うこと
ができる。
器が検査前に不動作位置にあり、アースへの接続のみが
問題になるため、制御器入力端がアースに接続されてい
る場合、これだけを区別することができる。従つてコイ
ルにより、開閉器がオンであるか、又は押ボタン開閉器
が操作される時にも、検査を行うことができる。これ
は、例えば自動車工業又は電子工業におけるように、特
に複雑な装置において効果を現わす。なぜならば、検査
を開始できる前に、開閉器が不動作位置へ切換えられて
はならないからである。むしろ検査はいかなる開閉位置
でも行うことができる。特に安全に関係する機能におい
て、開閉器が実際にも操作されており、偶然にはアース
への接続が行われていないか否かを検査できるようにす
るため、連続する作動中にもこの検査を有利に行うこと
ができる。
【００４０】図５は、操作位置における開閉器５０３の
検査の経過の際入出力ポート５０１における信号経過を
示している。従来の開閉器が操作されるか又はアースへ
接続される際、破線の経過が生じることになる。検査の
際入出力ポートにおける電位変化により、開閉器５０３
において、開閉器が操作位置にあり、従つて規則正しく
動作するか、又はアースに接続されているか否かを、区
別することができる。
検査の経過の際入出力ポート５０１における信号経過を
示している。従来の開閉器が操作されるか又はアースへ
接続される際、破線の経過が生じることになる。検査の
際入出力ポートにおける電位変化により、開閉器５０３
において、開閉器が操作位置にあり、従つて規則正しく
動作するか、又はアースに接続されているか否かを、区
別することができる。
【００４１】図５に記号をつけた点は次の意味を持つて
いる。 １） 入出力ポートが読込まれる第１の時点 ２） ″出力端″への入出力ポートの切換え及び″零″
の出力 ３） ″入力端″への入出力ポートの切換え ４） 入出力ポートが読込まれる第２の時点
いる。 １） 入出力ポートが読込まれる第１の時点 ２） ″出力端″への入出力ポートの切換え及び″零″
の出力 ３） ″入力端″への入出力ポートの切換え ４） 入出力ポートが読込まれる第２の時点
【００４２】開閉器５０３の操作される位置で、電流が
コイル５０５を通つて流れ、コイル５０５の小さい導線
抵抗のためずつと大きい抵抗Ｒに比較してほぼ零である
電圧降下を生じるので、制御器はこの場合過渡状態にあ
るコイル５０５によつても″低″を読込む。
コイル５０５を通つて流れ、コイル５０５の小さい導線
抵抗のためずつと大きい抵抗Ｒに比較してほぼ零である
電圧降下を生じるので、制御器はこの場合過渡状態にあ
るコイル５０５によつても″低″を読込む。
【００４３】図５による検査の経過中に、まず検査すべ
き開閉器５０３の入出力ポートが読込まれて（時点
１）、この開閉器５０３が操作位置にあるか否かを検出
する。Ｖｃｃ／アースへの接続及び遮断の事例は、入出
力ポートの第２の読込み（時点４）に関連して排除する
ことができる。
き開閉器５０３の入出力ポートが読込まれて（時点
１）、この開閉器５０３が操作位置にあるか否かを検出
する。Ｖｃｃ／アースへの接続及び遮断の事例は、入出
力ポートの第２の読込み（時点４）に関連して排除する
ことができる。
【００４４】時点２における切換え過程（″入力端″か
ら″出力端″への切換え及び″低″の出力）は、電流が
もはや開閉器５０３のコイル５０５を経て流れず、制御
器の入出力ポート５０１を経て流れるようにする。コイ
ル５０５の磁界が消滅する（ｔｕ＝５＊Ｌ／Ｒ′、ここ
でＲ′は接触抵抗及び導線抵抗）大きさに、時間ｔｕが
選ばれるようにする。
ら″出力端″への切換え及び″低″の出力）は、電流が
もはや開閉器５０３のコイル５０５を経て流れず、制御
器の入出力ポート５０１を経て流れるようにする。コイ
ル５０５の磁界が消滅する（ｔｕ＝５＊Ｌ／Ｒ′、ここ
でＲ′は接触抵抗及び導線抵抗）大きさに、時間ｔｕが
選ばれるようにする。
【００４５】、時間ｔｕ後に入出力ポート５０１は再び
入力端へ切換えられる（時点３）。電流は再びコイル５
０５を経て流れようとする。コイル５０５は最初の瞬間
に非常に高い抵抗を持つているので、殆ど全電圧がコイ
ル５０５にかかる（分圧器は抵抗Ｒと開閉器５０３のコ
イルＬの抵抗とから成つている）ので、制御器入力端は
約５Ｖの電圧をとる。続いてコイル５０５の抵抗はます
ます小さくなるので、制御器入力端における電圧は指数
関数に従つて時間約５＊Ｌ／Ｒ内に減少し、約０Ｖで不
動作状態に達する。
入力端へ切換えられる（時点３）。電流は再びコイル５
０５を経て流れようとする。コイル５０５は最初の瞬間
に非常に高い抵抗を持つているので、殆ど全電圧がコイ
ル５０５にかかる（分圧器は抵抗Ｒと開閉器５０３のコ
イルＬの抵抗とから成つている）ので、制御器入力端は
約５Ｖの電圧をとる。続いてコイル５０５の抵抗はます
ます小さくなるので、制御器入力端における電圧は指数
関数に従つて時間約５＊Ｌ／Ｒ内に減少し、約０Ｖで不
動作状態に達する。
【００４６】時間ｔｍは入出力ポートを読込むために利
用可能である。この時間ｔｍ後に読込まれるすべては、
もはや正しく解釈することができない。なぜならば、時
間ｔｍ後には、″高″検出と″低″検出との間の限界電
圧Ｕｇを再び下回るため、入出力ポートの読込みは開閉
器の静的状態のみを与えるからである。これに反し時間
ｔｍ中には、開閉器５０３が組込まれている場合、入出
力ポート５０１に″高″が読込まれ、アースに接続され
ている場合、″低″が読込まれる。従つて時間ｔｍ中に
のみ一義性が保証される。
用可能である。この時間ｔｍ後に読込まれるすべては、
もはや正しく解釈することができない。なぜならば、時
間ｔｍ後には、″高″検出と″低″検出との間の限界電
圧Ｕｇを再び下回るため、入出力ポートの読込みは開閉
器の静的状態のみを与えるからである。これに反し時間
ｔｍ中には、開閉器５０３が組込まれている場合、入出
力ポート５０１に″高″が読込まれ、アースに接続され
ている場合、″低″が読込まれる。従つて時間ｔｍ中に
のみ一義性が保証される。
【００４７】次の第２表には、入出力ポート５０１が読
込まれる２つの時点の可能な場合が、それからえら得る
認識と共に示されている。 時点１ 時点４ 認識 ″低″ ″低″ アースへの接続 ″低″ ″高″ 開閉器が操作されている ″高″ ″低″ 開閉器が組込まれている ″高″ ″高″ 開閉器が組込まれていないか又はＶｃｃへの接続
込まれる２つの時点の可能な場合が、それからえら得る
認識と共に示されている。 時点１ 時点４ 認識 ″低″ ″低″ アースへの接続 ″低″ ″高″ 開閉器が操作されている ″高″ ″低″ 開閉器が組込まれている ″高″ ″高″ 開閉器が組込まれていないか又はＶｃｃへの接続
【００４８】第１表とは異なり、この第２表における最
初の２行は一義的に求められる。開閉器の電流路が故障
し、検査すべき装置はいずれにせよ修理されねばならな
いので、第４行はこの場合区別される必要がない。
初の２行は一義的に求められる。開閉器の電流路が故障
し、検査すべき装置はいずれにせよ修理されねばならな
いので、第４行はこの場合区別される必要がない。
【００４９】なお図２による検査（検査：信号レベルが
閾値より小さい）を行うか、又は図５による検査（検
査：信号レベルが閾値より大きい）を行うかは、区別さ
れねばならない。これは、信号レベルを時点１に評価す
ることによつて、行うことができる。この時点に信号レ
ベルがアースにあると、評価は図５に従つて行われ、他
の場合図２に従つて行われる。同様に、閾値を上回つた
か又は下回つたかを検査するため、もつと遅い時点にも
信号レベルを調べることができる。それによつても検査
は可能である。
閾値より小さい）を行うか、又は図５による検査（検
査：信号レベルが閾値より大きい）を行うかは、区別さ
れねばならない。これは、信号レベルを時点１に評価す
ることによつて、行うことができる。この時点に信号レ
ベルがアースにあると、評価は図５に従つて行われ、他
の場合図２に従つて行われる。同様に、閾値を上回つた
か又は下回つたかを検査するため、もつと遅い時点にも
信号レベルを調べることができる。それによつても検査
は可能である。
【００５０】ここで明らかなことは、開閉器が閉じた状
態にあると、図５による検査が可能なことである。従つ
て開閉区間にのみコイルが挿入されている開閉器の構
造、従つてこのような開閉器がコンデンサを持つていな
いことも考えられる。このような開閉器はオンの状態で
のみ検査することができる。
態にあると、図５による検査が可能なことである。従つ
て開閉区間にのみコイルが挿入されている開閉器の構
造、従つてこのような開閉器がコンデンサを持つていな
いことも考えられる。このような開閉器はオンの状態で
のみ検査することができる。
【００５１】開閉器の開閉をアース接続から区別できる
ようにするため、連続作動中にも開閉器の検査が可能で
ある。即ちアース接続の場合、図５における信号レベル
の破線で示す経過になる。従つて図５に示しかつ評価に
ついて説明した特有の時間応答が検出されると、開閉器
がオンであると推論することができる。
ようにするため、連続作動中にも開閉器の検査が可能で
ある。即ちアース接続の場合、図５における信号レベル
の破線で示す経過になる。従つて図５に示しかつ評価に
ついて説明した特有の時間応答が検出されると、開閉器
がオンであると推論することができる。
【００５２】複数の信号導線を持つ複雑な開閉器では、
開閉器が図６に従つて構成されると、１つのコイルのみ
が使用される。この開閉器において、各信号導線がコン
デンサ７０４を備えており、すべての導線が規則正しく
存在しているか否かを、開閉器の操作の際検査すること
ができる。コイル７０５が存在し、開閉器を接続されて
いる状態においてのみ検査する場合、これらのコンデン
サをなくすこともできる。図示したような開閉器によ
り、オンの状態でもオフの状態でも検査が可能である。
開閉器が図６に従つて構成されると、１つのコイルのみ
が使用される。この開閉器において、各信号導線がコン
デンサ７０４を備えており、すべての導線が規則正しく
存在しているか否かを、開閉器の操作の際検査すること
ができる。コイル７０５が存在し、開閉器を接続されて
いる状態においてのみ検査する場合、これらのコンデン
サをなくすこともできる。図示したような開閉器によ
り、オンの状態でもオフの状態でも検査が可能である。
【図１】切換え開閉器を持つ第１実施例を示す。
【図２】検査の際における信号レベルの時間的経過を示
す。
す。
【図３】アナログ符号化された開閉器の実施例を示す。
【図４】開閉器の別の実施例を示す。
【図５】検査の際における信号レベルの時間的経過を示
す。
す。
【図６】開閉器の更に別の実施例を示す。
１０１，５０１ 出力端 ４０３，５０３ 開閉器又は押ボタン開閉器 １０４，５０４ コンデンサ装置 ５０５ コイル装置
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平５−174282（ＪＰ，Ａ) 特開 平６−317622（ＪＰ，Ａ) 特開 平３−222215（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) H01H 9/54 H01H 1/00 G01R 31/02 G01R 31/04
Claims (10)
- 【請求項１】 直流電圧を供給される回路にある開閉器
又は押ボタン開閉器（１０３）が、制御器又はマイクロ
プロセツサの少なくとも１つの入力端に少なくとも一時
的にかつ少なくとも１つの出力端に少なくとも一時的に
接続されており、開閉器又は押ボタン開閉器（１０３）
が切換え開閉器又は切換え押ボタン開閉器として構成さ
れ、その一方の開閉区間が特定の電位に直接接続され、
その他方の開閉区間がコンデンサ装置（１０４）を介し
て特定の電位に接続されていることを特徴とする、開閉
器又は押ボタン開閉器の規則正しい接触を検査する回路
装置。 - 【請求項２】 直流電圧を供給される回路にある開閉器
又は押ボタン開閉器（５０３）が、制御器又はマイクロ
プロセツサの少なくとも１つの入力端に少なくとも一時
的にかつ少なくとも１つの出力端（５０１）に少なくと
も一時的に接続されており、開閉器又は押ボタン開閉器
（５０３）の開閉区間にコイル装置（５０５）が設けら
れていることを特徴とする、開閉器又は押ボタン開閉器
の規則正しい接触を検査する回路装置。 - 【請求項３】 開閉器又は押ボタン開閉器（５０３）の
開閉区間に対して並列にコンデンサ装置（５０４）が設
けられていることを特徴とする、請求項２に記載の回路
装置。 - 【請求項４】 直流電圧を供給される回路にある開閉器
又は押ボタン開閉器（５０３）が、制御器又はマイクロ
プロセツサの少なくとも１つの入力端に少なくとも一時
的にかつ少なくとも１つの出力端に少なくとも一時的に
接続されており、開閉器又は押ボタン開閉器（５０３）
が切換え開閉器又は切換え押ボタン開閉器（５０３）と
して構成され、その一方の開閉区間がコイル装置（５０
５）を介して特定の電位に接続され、その他方の開閉区
間がコンデンサ装置（５０４）を介して特定の電位に接
続されていることを特徴とする、開閉器又は押ボタン開
閉器の規則正しい接触を検査する回路装置。 - 【請求項５】 開閉器又は押ボタン開閉器の入力端及び
出力端（１０１）が入出力ポートを介して実現されてい
ることを特徴とする、請求項１ないし４の１つに記載の
回路装置。 - 【請求項６】 開閉器又は押ボタン開閉器の入力端及び
出力端が異なり、かつ適当に時間をずらされて動作可能
であることを特徴とする、請求項１ないし４の１つに記
載の回路装置。 - 【請求項７】 開閉器又は押ボタン開閉器をまず出力端
に接続し、それから出力端を介して、開閉器又は押ボタ
ン開閉器の規則正しい接触及び操作の際入力端における
信号レベルに一致する信号レベルを出力し、信号レベル
の変化後開閉器又は押ボタン開閉器を少なくとも入力端
に接続し、それから信号レベルを評価することを特徴と
する、請求項１ないし６の１つに記載の回路装置で開閉
器又は押ボタン開閉器の規則正しい接触を検査する方
法。 - 【請求項８】 信号レベルの時間応答に基いて規則正し
い接触を検査することを特徴とする、請求項７に記載の
方法。 - 【請求項９】 少なくとも１つの特有の時点に信号レベ
ルを特定の閾値（Ｕｇ）と比較することによつて、時間
応答を評価することを特徴とする、請求項８に記載の方
法。 - 【請求項１０】 作動中に開閉器又は押ボタン開閉器の
操作に帰せられる信号レベルが検出されると、出力端を
介して、開閉器又は押ボタン開閉器の規則正しい接触及
び開閉操作の際入力端における信号レベルに一致する信
号レベルを出力し、続いて出力端を不動作にし、信号レ
ベルの時間応答から、規則正しい接触が行われているか
否かを推論することを特徴とする、請求項１ないし６の
１つに記載の回路装置で開閉器又は押ボタン開閉器の規
則正しい接触を検査する方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19718041A DE19718041A1 (de) | 1997-04-29 | 1997-04-29 | Schaltungsanordnung und Verfahren zur Überprüfung der Kontaktierung eines Schalters oder Tasters |
| DE19718041.8 | 1997-04-29 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH113626A JPH113626A (ja) | 1999-01-06 |
| JP3106404B2 true JP3106404B2 (ja) | 2000-11-06 |
Family
ID=7828076
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10155106A Expired - Fee Related JP3106404B2 (ja) | 1997-04-29 | 1998-04-28 | 開閉器又は押ボタン開閉器の接触を検査する回路装置及び方法 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6188225B1 (ja) |
| EP (1) | EP0875766B1 (ja) |
| JP (1) | JP3106404B2 (ja) |
| DE (2) | DE19718041A1 (ja) |
Families Citing this family (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE19922818A1 (de) * | 1999-05-19 | 2000-11-23 | Nokia Mobile Phones Ltd | Verfahren zur Überprüfung einer Auswerteschaltung |
| US6486674B2 (en) * | 2000-01-27 | 2002-11-26 | Siemens Aktiengesellschaft | Method for detecting faults on safety oriented sensors |
| JP3520468B2 (ja) | 2000-06-21 | 2004-04-19 | 日本航空電子工業株式会社 | コネクタ |
| KR100430757B1 (ko) * | 2002-01-29 | 2004-05-10 | 주식회사 엠에이티 | 기계식 계량기에 설치된 리드스위치의 비접촉 방지 회로및 이를 구비한 검침기 |
| US7111218B2 (en) * | 2004-08-09 | 2006-09-19 | Maytag Corporation | Apparatus with self-test circuit |
| US7400493B2 (en) * | 2004-11-01 | 2008-07-15 | Server Technology, Inc. | Circuit breaking link status detection and reporting circuit |
| DE102006038345B4 (de) * | 2006-08-16 | 2011-06-09 | Küster Automotive Door Systems GmbH | Verfahren und Vorrichtung zum Erfassen von elektrischen oder elektronischen Schaltvorgängen an wenigstens einem in einem Stromkreis angeordneten Kontakt |
| US20100185417A1 (en) * | 2009-01-21 | 2010-07-22 | Jimmy Bou | Remote Monitoring of SCADA Ready Field Test Switches |
| CN104253602A (zh) * | 2013-06-27 | 2014-12-31 | 富泰华工业（深圳）有限公司 | 电容式触摸感应按键及电子装置 |
| AT518665B1 (de) * | 2016-05-06 | 2017-12-15 | Keba Ag | Steuerungssystem für elektrisch gesteuerte Anlagen |
| US10627447B2 (en) | 2017-10-03 | 2020-04-21 | Te Connectiviy Corporation | Switch failure detection system |
Family Cites Families (17)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2159285B (en) * | 1984-05-11 | 1987-10-14 | Cambridge Instr Ltd | Circuit monitor |
| JPS63238572A (ja) | 1987-03-27 | 1988-10-04 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | プリント基板パタ−ンシヨ−ト検査装置 |
| DE3724926A1 (de) * | 1987-07-28 | 1989-02-09 | Bayerische Motoren Werke Ag | Schaltungsanordnung zur ueberpruefung der zuleitungen eines schalters oder sensors |
| GB8722194D0 (en) * | 1987-09-21 | 1987-10-28 | Salplex Ltd | Information handling & control systems |
| IT1234219B (it) * | 1988-10-18 | 1992-05-06 | Fiat Auto Spa | Sistema per la verifica automatica preferibilmente su banco del funzionamento di sistemi elettronici di controllo destinati ad essere montati a bordo di veicoli |
| US4977478A (en) * | 1989-04-07 | 1990-12-11 | Alcatel Na, Inc., | Contact status detector |
| DE4012109C2 (de) * | 1990-04-14 | 1999-06-10 | Bosch Gmbh Robert | Vorrichtung zur Funktionsüberwachung eines elektrischen/elektronischen Schaltmittels, seines angeschlossenen Verbrauchers, einer Ansteuerung und seiner Verbindungsleitung |
| JP3105007B2 (ja) * | 1990-07-06 | 2000-10-30 | ジヤトコ・トランステクノロジー株式会社 | 電磁弁の故障検出装置 |
| US5270658A (en) * | 1991-08-19 | 1993-12-14 | Epstein Barry M | Means and method for testing and monitoring a circuit breaker panel assembly |
| FR2681115A1 (fr) * | 1991-09-10 | 1993-03-12 | Heidelberger Druckmasch Ag | Circuit de controle d'un embrayage a commande electromagnetique. |
| JP2792294B2 (ja) * | 1991-12-24 | 1998-09-03 | 松下電工株式会社 | 監視装置 |
| CA2093064C (en) * | 1992-06-10 | 1998-08-11 | Dennis W. Waggamon | Contact status monitor |
| DE4240447C1 (de) * | 1992-12-02 | 1993-09-30 | Daimler Benz Ag | Elektronische Kennung und Erkennung einer fahrzeugspezifischen Kombination optionaler elektronischer Steuergeräte |
| DE9310446U1 (de) * | 1993-03-08 | 1994-07-14 | Landis & Gyr Business Support Ag, Zug | Schaltungsanordnung zum Prüfen von Schalter- bzw. Relaiskontakten |
| US5506573A (en) * | 1993-05-13 | 1996-04-09 | Server Technology, Inc. | Remote sensor and method for detecting the on/off status of an automatically controlled appliance |
| EP1046923B1 (en) * | 1993-11-08 | 2004-04-07 | Honda Giken Kogyo Kabushiki Kaisha | Apparatus for inspecting electric component for inverter circuit |
| FR2719169B1 (fr) * | 1994-04-21 | 1996-05-24 | Merlin Gerin | Déclencheur électronique comportant un dispositif de mémorisation. |
-
1997
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