SU1056089A1 - Устройство дл контрол интегральных микросхем - Google Patents

Устройство дл контрол интегральных микросхем Download PDF

Info

Publication number
SU1056089A1
SU1056089A1 SU823465200A SU3465200A SU1056089A1 SU 1056089 A1 SU1056089 A1 SU 1056089A1 SU 823465200 A SU823465200 A SU 823465200A SU 3465200 A SU3465200 A SU 3465200A SU 1056089 A1 SU1056089 A1 SU 1056089A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
input
inputs
outputs
output
unit
Prior art date
Application number
SU823465200A
Other languages
English (en)
Inventor
Рубен Смбатович Алумян
Гагик Гарегинович Папян
Норайр Ваагович Марухян
Сергей Альбертович Мирзоян
Original Assignee
Предприятие П/Я Р-6509
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я Р-6509 filed Critical Предприятие П/Я Р-6509
Priority to SU823465200A priority Critical patent/SU1056089A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1056089A1 publication Critical patent/SU1056089A1/ru

Links

Landscapes

  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

1. УСТРОЙСТЮ ДЛЯ КОНТРОЛЯ ИНТЕГРАЛЬНЫХ МИКРОСХЕМ, содержащее блок контрол , соединенный входами и выходами соответственно с клеммами дл  подключени  входов и выходов контролируемой интегральной схемы, клемма дл  подключени  одного из выводов которой соединена с входе зон-да , коммутатор, соединенный выходами с входами блока пам ти, первые выходы которого соединены с первыми входами блока сравнени , вторые выходы через эталонную микросхему С вторыми входами блока сравнени , соединенного выходами с входами индикатора неисправности, отличающеес  тем, что, с целью повышени  достоверности контрол , в него введены кнопка и блок контрол  контактировани , соединенный первым входом через размыкающие контакты кнопки с общей шиной устройства , вторым входом - с выходом зонда и через зам как цкК контакты кнопки с входом коммутатора. 01 о: о сх со

Description

2. Устройство по п. 1, отличающеес  тем, что блок контрол  контактировани  содержит триггер , соединенный выходом с входом индикатора, первым входом - с первымвходом блока, вторым входом - с выходом элемента И-НЕ, соединенного первым входом с вторым входом блока.
вторым входом через элемент НЕ - с первым выводом первого резистора, соединенного вторым выводом с общей шиной устройства, первым выводом с эмиттером транзистора, соединенного коллектором с шиной питани  устройства, базой через второй резистор - с первым входом элемента И-НЕ.
Изобретение относитс  к контроль но-измерительной технике и может быть использовано в системах контр л  и диагностики неисправностей эле ментов радиоэлектроннбй аппаратуры, в частности дл  поиска неисправных микросхем. Известен логический пробник, содержащий информационные контактные зонды, первый и второй зонды питани , эталонный логический узел, эле менты сравнени , элемент ИЛИ, триггер , индикатор/ кнопку, контакты ко торой соединены с первым зондом питани  и единичным входом триггера, токочувствительные элементы, многовходовой элемент ИДи, вспомогательный триггер и вспомогательный индикатор l , .. Однако известный логический проб ник Невозможно примен ть в труднодоступных местах и в уэлах, покрытых защитным слоем лака. Наиболее близким техническим решением к изобретению  вл етс  устро ство дл  контрол  интегральных микросхем , содержащее блок контрол , соединенный входами и выходами соот ветственно с клеммами дл  подключени  входов и выходов контролируемой интегральной схемы, клемма дл  подключени  одного из выводов которой соединена с входом зонда, коммутатор , соединенный выходами с входами блока пам ти, первые выходы которог соединены с первыми входами блока сравнени , вторые выходы через эталонную микросхему - с вторыми входа Nffl блока сравнени , соединенного вы ходами с входами индикатора неисправности 2 . Недостатком известного устройств  вл етс  низка  достоверность контрол , В процессе испытани  из-за ненадежности контактировани  зонд может не иметь контакта с выводом провер емой микросхемы, что может привести к ложным результатам испы .таний, Тз результате чего снизитс  достоверность контрол . Целые изЬбретени   вл етс  повышение достоверности контрол . Поставленна  цель достигаетс  тем, что в устройство дл  контрол  интегральных микросхем, содержащее блок контрол , соединенный входами и выходами соответственно с клеммами дл  подключени  входов и выходов контролируемой интегральной схемы, клемма дл  подключени  одного из выводов которой соединена с входом зонда, коммутатор, соединенный выходами с входами блока пам ти, первые выходы которого соединены с первыми входами блока сравнени , вторые выходы через эталонную микросхему - с вторыми входами блока сравнени , соединенного выходами с входами индикатора неисправности, введены кнопка и блок контрол  контактировани , соединенньй первым входом через размыкающие контакты кнопки с общей шиной устройства, вторым входом - с выходом зонда и через замыкающие контакты кнопки - с входом коммутатора,. Кроме того, блок.контрол  контактировани  содержит триггер, соединенный выходом с входом индикатора, первым входом - с первым входом блока , вторым входом - с выходом элемента И-НЕ, соединенного первым входом с вторым входом блока, вторым входом через элемент НЕ - с первым выводом первого резистора, соединенного вторым выводом с общей шиной устройства, первым выводом - с эмиттером транзистора, соединенного кол- лектором с шиной питани  устройства I базой через второй резистор - с пер--, вым входом элемента И-НЕ, . . На фиг,1 приведена структурна  схема устройства; на фиг,2 - функциональна  схема блока контрол . Устройство дл  контрол  интегральных микросхем содержит блок 1 контрол , соединенный входами и выходами соответственно с клеммами дл  подключени  входов и выходов контролируемой интегральной схемы 2, клемма дл  подключени  одного из выводов которой соединена с входсм зонда 3, коммутатор 4, соединенный выходами с входами блока 5 пам ти, neg; вые выходы которого соединены с первыми входами блока б сравнени ,вторые выходы через эталонную микросхему 7 - о вторыми входами блока 6 сравнени , соединенного выходами с , входами индикатора 8 неисправности, кнопку 9 и блок 10 контрол  контактировани , соединенный первым входом 11 через размыкающие контакты кнопки 9 с общей циной устройства, вторым входом 12 - с выходом зонда 3 и через замыкак цие контакты кнопки 9 - с входом коммутатора 4, Устройство также содержит цифровой узел 13, в состав которого вхоцит , контролируема  микросхема, Блок iO контрол  контактировани  содер1рит триггер 14, соединенный выходом р входом индикатора 15, первым входом - с первым входом блока, вторым цходом - с выходом элемента 16 И-НЕ соединенного первым входом с вторым входом блока, вторым входом через элемент 17 НЕ - с первым выводом первого резистора 18, соединенного вторым выводом с общей шиной устройетва , первым выводом - с эмиттером, транзистора 19, соединенного коллек ором с шиной питани  устройства, ба §ой через второй резистор 20 - с первым входом элемента 16 И-НЕ. Устройство работает следующим абразом. - Блок контрол  1 задает входные |Иэздействи  в виде двоичных кодов . jia входы цифрового узла 13 с контро|1ируемой микросхемой 2 . и производит |Юканальное сравнение ответных реакций узла 13 с заранее известными таборами двоичных кодов. Сигналы, поступающие на входы контролируемой микросхемы 2 и сни|1аемые с ее выходов, при нажатии кнопки 9 через одноконтактный зонд 3 и коммутатор 4 записываютс  после цовательно в блок 5 пам ти. Запись информации в блок 5 пгии т происходит в процессе многократного прохождени  тестовой программы дл  контрол  цифрового узла 13. За каждый полный цикл прохождени Й1рограммы в блок 5 пам ти записывае с  информаци  с одного вывода контр лируемой микросхемы 2. После записи всех двоичных последовательностей с входов и выходов контролируемой микросхемы 2 происходит считывание информации из блока 5 пам ти, приче информаци , соответствующа  входам микросхемы 2, подаетс  на входы эта лонной микросхемы 7. Ответные сигйа лы с эталонной микросхемы 7 поступают на соответствук цие входы блока сравнени . По результатам сравнени  выходных сигналов эталонной микросхемы 7 и сигналов, записанных в блок b пам ти с выходов контролируемой микросхемы 2, делаетс  вывод о правильности функционировани  контролируемой микросхемы 2. Результаты поканашьного сравнени  вывод тс  на индикатор 8 исправности. Если в процессе проверки, начина  с момента нажати  кнопки 9 до полного прохождени  программы, одноконтактный зонд 3 отключитс  от вывода контролируемой микросхемы 2, то индикатор 15 блока 10 загоритс , сигнализиру  о том, что проверку цифрового узла 13 нужно произвести повторно . Дл  этого необходимо отжать чнопку 9, приложить зонд 3 к выводу Л1икросхе1 ы 2 и вновь нажать кнопку 9. Блок 10 контрол  контактировани  работает следующим образом. Если зонд 3 не присоединен квыводу микросхемы 2 и кнопка 9 не нажата , то независимо от логического уровн  на входе 12 блока 10, на его входе 11 находитс  низкий уровень, который удерживает триггер 14 в состо нии с единичным уррвнем на выходе , а индикатор 15 - в погашенном состо нии. При контроле микросхемы 2 зонд 3 присоедин етс  к ее выводу и кнопка 9 нажимаетс . При этом возможны три случа : на выводе микросхемы 2 имеетс  низкий уровень; на выводе микросхемы 2 имеетс  высокий уровень; зонд 3 не контактирует с выводом микросхемы 2. Зонд 3 подключен к входу элемента 16 И-НЕ, поэтому если на выходе микросхемы имеетс  низкий уровень, то на выходе элемента 16 И-НЕ уставов- , лен высокий уровень, который поступает на вход триггера 14 и не мен ет его состо ни . Если на выходе контролируемой микросхемы 2 имеетс  высокий уровень , то транзистор 19 открываетс  и высокий уровень его эмиттера поступает на вход элемента 17 НЕ. Низкий уровень с выхода этого элемента поступает на второй вход элемента 16И-НЕ. Высокий уровень с выхода элемента 16 И-НЕ поступает на вход триггера 14, не мен   его состо ни , Индикатор 15 остаетс  в погашенном состо нии. . Если зонд 3 не контактирует с 6ыводом микросхемы, то ,транзистор 19 закрыт, так как потенциал на его базе недостаточен дл  открывани , и низкий уровень с эмиттера транзис тора19 поступает на вход элемента 17НЕ. На оба входа элемента 16 И-НЕ поступают высокие уровни, так как этот элемент воспринимает отключенное состо ние зойда 3, как высокий уровень. На выходе элемента 16 ИгНЕ по вл етс  низкий уровень. Триггер 14 устанавливаетс  в состо ние с нулем на выходе, а индикатор 15 загоритс .
Логический узел 1 можно считать достоверно проверенным, если за времй проверки индикатор 15 не загораер с .
Таким образом, предлагаемое устройство за счет введени  блока 10 и
кнопки 9 обеспечивает возможность диагностики интегральных микросхем при помощи зонда 3 с одновременным контролем контактировани  зонда 3 с выводом контролируемой микросхемы 2, что повышает достоверность контроп .

Claims (2)

1. УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ИНТЕГРАЛЬНЫХ МИКРОСХЕМ, содержащее блок контроля, соединенный входами . и выходами соответственно с кленами для подключения входов и выходов контролируемой интегральной схемы, клемма для подключения одного из вы- водов которой соединена с входом зонда, коммутатор, соединенный выходами с входами блока памяти, первые выходы которого соединены с первыми входами блока сравнения, вторые выходы через эталонную микросхему с вторыми входами блока сравнения, соединенного выходами с входами индикатора неисправности, отличающееся тем, что, с целью повышения достоверности контроля, в него введены кнопка и блок контроля контактирования, соединенный первым входом через размыкающие контакты кнопки с общей шиной устройства, вторым входом - с выходом зонда и через заьвдкающий контакты кнопки с входом коммутатора.
Фиг.1
«.SU,., 1056089 >
2. Устройство по π. 1, отличающееся тем, что блок контроля контактирования содержит триггер, соединенный выходом с входом индикатора, первым входом - с первым входом блока, вторым входом - с выходом элемента И-НЕ, соединенного первым входом с вторым входом блока, вторым входом через элемент НЕ с первым выводом первого резистора, соединенного вторым выводом с общей шиной устройства, первым выводом с эмиттером транзистора, соединенного коллектором с шиной питания устройства, базой через второй резистор - с первым входом элемента И-НЕ.
SU823465200A 1982-07-05 1982-07-05 Устройство дл контрол интегральных микросхем SU1056089A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU823465200A SU1056089A1 (ru) 1982-07-05 1982-07-05 Устройство дл контрол интегральных микросхем

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU823465200A SU1056089A1 (ru) 1982-07-05 1982-07-05 Устройство дл контрол интегральных микросхем

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1056089A1 true SU1056089A1 (ru) 1983-11-23

Family

ID=21020682

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU823465200A SU1056089A1 (ru) 1982-07-05 1982-07-05 Устройство дл контрол интегральных микросхем

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1056089A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
1. Авторское свидетельство СССР 819759, кл. G 01 R 31/28, 1981. 2. Авторское свидетельство СССР 708269, кл. G 01 R 31/28, 1980 (прототип); *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5754963A (en) Method and apparatus for diagnosing and isolating faulty sensors in a redundant sensor system
US3870953A (en) In circuit electronic component tester
US5068604A (en) Method of and device for testing multiple power supply connections of an integrated circuit on a printed circuit board
US3673397A (en) Circuit tester
US4183460A (en) In-situ test and diagnostic circuitry and method for CML chips
US4689551A (en) Testing wiring harnesses
US4130794A (en) Methods and means for identifying and testing circuit connections
SU1056089A1 (ru) Устройство дл контрол интегральных микросхем
KR100311955B1 (ko) 전자회로의기능테스트장치및방법
US3535633A (en) Systems for detecting discontinuity in selected wiring circuits and erroneous cross connections between selected and other wiring circuits
Ager et al. The application of marginal voltage measurements to detect and locate defects in digital microcircuits
US6765403B2 (en) Test circuit and test method for protecting an IC against damage from activation of too many current drawing circuits at one time
US3439268A (en) Circuit employing magnetic cores for testing the presence and absence of electrical connections
KR100718457B1 (ko) 반도체 테스트 장치와 이를 이용한 반도체 소자 검사방법
SU1071979A1 (ru) Устройство дл диагностики цифровых узлов
SU945832A1 (ru) Устройство дл автоматического контрол электрических цепей
SU1552137A1 (ru) Устройство дл контрол КМОП-логических схем
SU508788A1 (ru) Устройство дл автоматического кон-трол больших интегральных схем намоп структурах
SU1018064A1 (ru) Выходной узел тестера дл контрол логических схем
SU968772A2 (ru) Устройство дл контрол электрического монтажа
SU1108370A1 (ru) Устройство дл автоматического контрол последовательных электрических цепей
JPH0517667Y2 (ru)
SU978085A1 (ru) Устройство дл контрол контактировани интегральных схем
SU1010576A1 (ru) Устройство дл автоматической проверки монтажа печатных плат
RU2020498C1 (ru) Устройство контроля контактирования интегральных схем