JP3102579B2 - 高炉装入原料の粒度別分級装置 - Google Patents
高炉装入原料の粒度別分級装置Info
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- JP3102579B2 JP3102579B2 JP03129838A JP12983891A JP3102579B2 JP 3102579 B2 JP3102579 B2 JP 3102579B2 JP 03129838 A JP03129838 A JP 03129838A JP 12983891 A JP12983891 A JP 12983891A JP 3102579 B2 JP3102579 B2 JP 3102579B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は高炉装入原料をベルトコ
ンベヤのヘッド部で粉度別に分級するようにした高炉装
入物の粒度別分級装置に関するものである。
ンベヤのヘッド部で粉度別に分級するようにした高炉装
入物の粒度別分級装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】一般に高炉の炉頂装入装置による高炉内
への原料装入は、バッチ装入されているため炉頂装入装
置へ装入ベルトコンベヤによって搬送される原料もバッ
チ毎に分けて供給されている。従来、炉内原料分布制御
で炉壁側のガス流れを制御し、中心流を確保するため原
料装入分布制御方法としては、炉壁側の鉱石層厚を厚
く、コークス層厚を薄くする方法がとられていたが、炉
内風圧上昇、羽口破損、炉況悪化といったトラブルが発
生するため、鉱石、コークスの層厚を変えないで炉壁ガ
ス流を抑えるものとして、鉱石およびコークスを細粒と
小粒とに分級して装入する方法が採用されている。した
がって、高炉内へ粒度別分級装入する場合、原料は細粒
と粗粒に分けて個別にベルトコンベヤで炉頂装入装置に
搬送され炉頂ホッパに装入される。
への原料装入は、バッチ装入されているため炉頂装入装
置へ装入ベルトコンベヤによって搬送される原料もバッ
チ毎に分けて供給されている。従来、炉内原料分布制御
で炉壁側のガス流れを制御し、中心流を確保するため原
料装入分布制御方法としては、炉壁側の鉱石層厚を厚
く、コークス層厚を薄くする方法がとられていたが、炉
内風圧上昇、羽口破損、炉況悪化といったトラブルが発
生するため、鉱石、コークスの層厚を変えないで炉壁ガ
ス流を抑えるものとして、鉱石およびコークスを細粒と
小粒とに分級して装入する方法が採用されている。した
がって、高炉内へ粒度別分級装入する場合、原料は細粒
と粗粒に分けて個別にベルトコンベヤで炉頂装入装置に
搬送され炉頂ホッパに装入される。
【０００３】この粒度別装入は貯鉱槽の上に振動篩設備
を設置し、この振動篩設備により予め高炉装入物を細粒
と粗粒に分級して貯蔵しておき、時間差を置いて高炉装
入用ベルトコンベヤに切出し、個別に制御していた。し
かるに既存の貯鉱槽に振動篩を設置するとなると、架構
等の耐振設計上から、貯鉱槽本体を含めた大改造が必要
となり、設備費が高くなるという問題があった。
を設置し、この振動篩設備により予め高炉装入物を細粒
と粗粒に分級して貯蔵しておき、時間差を置いて高炉装
入用ベルトコンベヤに切出し、個別に制御していた。し
かるに既存の貯鉱槽に振動篩を設置するとなると、架構
等の耐振設計上から、貯鉱槽本体を含めた大改造が必要
となり、設備費が高くなるという問題があった。
【０００４】このような問題を解決すべく特開昭64-756
11号公報には、高炉装入用ベルトコンベヤのライン途中
に落差を設け、その上流側より下流側に落下する装入物
の細粒と粗粒との飛距離差を利用した粒度分級器を装入
物の落下位置に設け、ベルトコンベヤにより搬送された
装入物を前記粒度分級器によりベルトコンベヤの幅方向
に分級し、その分級された装入物を高炉炉頂において粒
度別に装入するものが提案されている。
11号公報には、高炉装入用ベルトコンベヤのライン途中
に落差を設け、その上流側より下流側に落下する装入物
の細粒と粗粒との飛距離差を利用した粒度分級器を装入
物の落下位置に設け、ベルトコンベヤにより搬送された
装入物を前記粒度分級器によりベルトコンベヤの幅方向
に分級し、その分級された装入物を高炉炉頂において粒
度別に装入するものが提案されている。
【０００５】しかしながら、前記のベルトコンベヤの途
中に粒度分級器を設けるものは、ベルト上で細粒と粗粒
の山を分割して積載する必要があるためベルトの幅を大
きくとる必要があり、設備改造が大きくなる。またベル
ト幅を大きくしても細粒の山と粗粒の山の境では混合さ
れて混合部が形成されるのは避けられず分級効果が低下
するという問題がある。
中に粒度分級器を設けるものは、ベルト上で細粒と粗粒
の山を分割して積載する必要があるためベルトの幅を大
きくとる必要があり、設備改造が大きくなる。またベル
ト幅を大きくしても細粒の山と粗粒の山の境では混合さ
れて混合部が形成されるのは避けられず分級効果が低下
するという問題がある。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】本発明は前記従来技術
の問題点を解消し、貯鉱槽上において低設備費で高炉装
入原料を分級することができる高炉装入原料の粒度別分
級装置を提供することを目的とするものである。
の問題点を解消し、貯鉱槽上において低設備費で高炉装
入原料を分級することができる高炉装入原料の粒度別分
級装置を提供することを目的とするものである。
【０００７】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
の本発明は、原料搬送用ベルトコンベヤに設けられたヘ
ッドプーリに対向する前方位置に設けたレールと、前記
レール上を走行するカット台車と、このカット台車上に
設けられ、前記ベルトコンベヤ上の下層側細粒原料と上
層側粗粒原料とをヘッドプーリからの落下途中で分級す
るヘッドプーリの軸方向に平行でかつ上端の尖った直線
形の分級チップと、前記台車に支持フレームを介して接
続された分級チップ位置調整用の移動シリンダと、前記
分級チップの位置を検出する位置検出器とからなること
を特徴とする高炉装入原料の粒度別分級装置である。
の本発明は、原料搬送用ベルトコンベヤに設けられたヘ
ッドプーリに対向する前方位置に設けたレールと、前記
レール上を走行するカット台車と、このカット台車上に
設けられ、前記ベルトコンベヤ上の下層側細粒原料と上
層側粗粒原料とをヘッドプーリからの落下途中で分級す
るヘッドプーリの軸方向に平行でかつ上端の尖った直線
形の分級チップと、前記台車に支持フレームを介して接
続された分級チップ位置調整用の移動シリンダと、前記
分級チップの位置を検出する位置検出器とからなること
を特徴とする高炉装入原料の粒度別分級装置である。
【０００８】また本発明では、分級チップをベルトコン
ベヤ上の細粒原料と粗粒原料の粒度分布状況およびヘッ
ドプーリから落下するときの原料粒度差による飛距離に
対応させてヘッドプーリの軸方向の両側をプーリ側にず
らせて直線形とし、中央部を反プーリ側にずらせて直線
形、屈折形または円弧形とするのが好適である。
ベヤ上の細粒原料と粗粒原料の粒度分布状況およびヘッ
ドプーリから落下するときの原料粒度差による飛距離に
対応させてヘッドプーリの軸方向の両側をプーリ側にず
らせて直線形とし、中央部を反プーリ側にずらせて直線
形、屈折形または円弧形とするのが好適である。
【０００９】さらに本発明では、分級チップの下部をス
トンボックス構造とするのが好ましい。
トンボックス構造とするのが好ましい。
【００１０】
【作用】通常、図３の（ａ）に示すようにコンベヤベル
ト１上の原料はパーコレーションしており、下層に細粒
原料11が、上層に粗粒原料12が存在している。そして図
３の（ｂ）に示すように、パーコレーションしたベルト
１上の細粒原料11と粗粒原料12はヘッドプーリ２から落
下するときも細粒原料11がプーリ側に、粗粒原料12が反
プーリ側に位置して落下する。
ト１上の原料はパーコレーションしており、下層に細粒
原料11が、上層に粗粒原料12が存在している。そして図
３の（ｂ）に示すように、パーコレーションしたベルト
１上の細粒原料11と粗粒原料12はヘッドプーリ２から落
下するときも細粒原料11がプーリ側に、粗粒原料12が反
プーリ側に位置して落下する。
【００１１】このようにして落下するときに慣性飛行に
より質量の大きい粗粒原料12は、細粒原料11よりもより
反プーリ側へ放物線を描いて投射されるので細粒原料11
と粗粒原料との飛距離に差が生じる。このため落下時に
おいても細粒原料11と粗粒原料12との分離が助長される
ことになる。本発明では、このようにしてヘッドプーリ
２から落下する細粒原料11と粗粒原料12を、ヘッドプー
リの軸方向に平行でかつ上端の尖った直線形の分級チッ
プにより分級するものであり、その分級割合は、分級チ
ップの位置を位置検出器で検出しながら移動シリンダに
より分級チップを移動させることによって行う。なお、
図３の（ａ）に示すようにベルト１上の細粒原料11と粗
粒原料12とはその境界が水平ではなく両側に比べて中央
部が高くなった粒度構成になっていることが分かる。こ
のような粒度構成の原料がヘッドプーリ２から落下する
際にも、その影響が残っているので、これに合わせるた
めには、分級チップとして、ヘッドプーリの軸方向の両
側をプーリ側にずらせ、中央部を反プーリ側にずらせた
直線形、屈折形や円弧形のものを用いれば、原料の落下
時における分級能が向上することになる。
より質量の大きい粗粒原料12は、細粒原料11よりもより
反プーリ側へ放物線を描いて投射されるので細粒原料11
と粗粒原料との飛距離に差が生じる。このため落下時に
おいても細粒原料11と粗粒原料12との分離が助長される
ことになる。本発明では、このようにしてヘッドプーリ
２から落下する細粒原料11と粗粒原料12を、ヘッドプー
リの軸方向に平行でかつ上端の尖った直線形の分級チッ
プにより分級するものであり、その分級割合は、分級チ
ップの位置を位置検出器で検出しながら移動シリンダに
より分級チップを移動させることによって行う。なお、
図３の（ａ）に示すようにベルト１上の細粒原料11と粗
粒原料12とはその境界が水平ではなく両側に比べて中央
部が高くなった粒度構成になっていることが分かる。こ
のような粒度構成の原料がヘッドプーリ２から落下する
際にも、その影響が残っているので、これに合わせるた
めには、分級チップとして、ヘッドプーリの軸方向の両
側をプーリ側にずらせ、中央部を反プーリ側にずらせた
直線形、屈折形や円弧形のものを用いれば、原料の落下
時における分級能が向上することになる。
【００１２】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基いて説明す
る。図１および図２は本発明の実施例に係る高炉装入原
料の粒度別分級装置を示し、１はヘッドプーリ２とテー
ルプーリ（図示せず）に掛けわたされた高炉装入原料を
搬送するコンベヤベルトであり、ヘッドプーリ２の前方
にはヘッドシュート３を設けてある。コンベヤベルト１
を掛けわたしたヘッドプーリ２の両サイド下方に対向す
る前方位置にレール13が２本平行に敷設してあり、この
レール13上には車輪７を取り付けた前後のシャフト15を
介して支持されたカット台車４が走行するようになって
いる。
る。図１および図２は本発明の実施例に係る高炉装入原
料の粒度別分級装置を示し、１はヘッドプーリ２とテー
ルプーリ（図示せず）に掛けわたされた高炉装入原料を
搬送するコンベヤベルトであり、ヘッドプーリ２の前方
にはヘッドシュート３を設けてある。コンベヤベルト１
を掛けわたしたヘッドプーリ２の両サイド下方に対向す
る前方位置にレール13が２本平行に敷設してあり、この
レール13上には車輪７を取り付けた前後のシャフト15を
介して支持されたカット台車４が走行するようになって
いる。
【００１３】カット台車４の中央部には、ヘッドプーリ
２の軸方向に平行でかつ、上端の尖った直線形の分級チ
ップ５が上向きに取り付けてある。そして分級チップ５
の前後に少し低いレベルに平行に側面でＬ字形のストン
ボックス用フレーム14が配設してあり、カット台車４の
床との組み合わせにより分級チップ５の上端を頂部とす
るストンボックスが形成されるようになっている。
２の軸方向に平行でかつ、上端の尖った直線形の分級チ
ップ５が上向きに取り付けてある。そして分級チップ５
の前後に少し低いレベルに平行に側面でＬ字形のストン
ボックス用フレーム14が配設してあり、カット台車４の
床との組み合わせにより分級チップ５の上端を頂部とす
るストンボックスが形成されるようになっている。
【００１４】また車輪７を取りつけたシャフト15の外側
に接続されヘッドシュート３を囲うようにして平面でコ
字形の支持フレーム６が設けてあり、支持フレーム６の
中央部には一端部を軸受16に支持された移動用シリンダ
８がピン17を介して連結してある。９は移動用シリンダ
８を駆動するシリンダ駆動モータであり、10は分級チッ
プの位置を検出するチップ位置検出器である。
に接続されヘッドシュート３を囲うようにして平面でコ
字形の支持フレーム６が設けてあり、支持フレーム６の
中央部には一端部を軸受16に支持された移動用シリンダ
８がピン17を介して連結してある。９は移動用シリンダ
８を駆動するシリンダ駆動モータであり、10は分級チッ
プの位置を検出するチップ位置検出器である。
【００１５】前述のようにコンベヤベルト１上で搬送さ
れてくる原料はパーコレーションにより下層に細粒原料
11、上層に粗粒原料12が偏析して存在している。そこで
本発明ではヘッドプーリ２から落下して来る細粒原料11
と粗粒原料12との境界にストンボックス型に構成した分
級チップ５を位置させて分級するものである。分級チッ
プ５の前後に配設されたストンボックス用フレーム内に
分級チップ５の上端を頂点として堆積原料が存在してい
るので、ヘッドプーリ２から落下して来る細粒原料11と
粗粒原料12とは分級チップ５によって分級され、堆積原
料のプーリ側斜面に沿って細粒原料11が辷り、反プーリ
側斜面に沿って粗粒原料12が辷り落ちる。
れてくる原料はパーコレーションにより下層に細粒原料
11、上層に粗粒原料12が偏析して存在している。そこで
本発明ではヘッドプーリ２から落下して来る細粒原料11
と粗粒原料12との境界にストンボックス型に構成した分
級チップ５を位置させて分級するものである。分級チッ
プ５の前後に配設されたストンボックス用フレーム内に
分級チップ５の上端を頂点として堆積原料が存在してい
るので、ヘッドプーリ２から落下して来る細粒原料11と
粗粒原料12とは分級チップ５によって分級され、堆積原
料のプーリ側斜面に沿って細粒原料11が辷り、反プーリ
側斜面に沿って粗粒原料12が辷り落ちる。
【００１６】このようにして細粒原料11は下方に配設さ
れた走行可能なシャトルコンベヤ18上に積載されて細粒
用貯鉱槽20に、また粗粒原料12は下方に配設された走行
可能なシャトルコンベヤ19上に積載されて粗粒用貯槽21
にそれぞれ投入されて貯蔵される。この時、細粒原料11
と粗粒原料12は細粒用シャトルコンベヤ18および粗粒用
シャトルコンベヤ19にそれぞれ配設された細粒用ベルト
ウエア22および粗粒用ベルトウエア23によってそれぞれ
搬送量が計量される。
れた走行可能なシャトルコンベヤ18上に積載されて細粒
用貯鉱槽20に、また粗粒原料12は下方に配設された走行
可能なシャトルコンベヤ19上に積載されて粗粒用貯槽21
にそれぞれ投入されて貯蔵される。この時、細粒原料11
と粗粒原料12は細粒用シャトルコンベヤ18および粗粒用
シャトルコンベヤ19にそれぞれ配設された細粒用ベルト
ウエア22および粗粒用ベルトウエア23によってそれぞれ
搬送量が計量される。
【００１７】分級チップ５による細粒原料11と粗粒原料
12に分級する比率は、分級位置検出器10によって分級チ
ップ５の位置を検出しながらシリンダ駆動用モータ９を
駆動して移動用シリンダ８を作動して、粗粒原料11を粗
粒原料12より多くする場合にはカット台車４を前進側へ
移動させ、その逆にする場合にはカット台車４を後進側
へ移動させて分級チップ５の位置を調整する。
12に分級する比率は、分級位置検出器10によって分級チ
ップ５の位置を検出しながらシリンダ駆動用モータ９を
駆動して移動用シリンダ８を作動して、粗粒原料11を粗
粒原料12より多くする場合にはカット台車４を前進側へ
移動させ、その逆にする場合にはカット台車４を後進側
へ移動させて分級チップ５の位置を調整する。
【００１８】このようにして分級チップ５の位置を調整
すれば、高炉の要求仕様に応じて粗粒／細粒の重量比率
を容易に変更することができる。また同様にして分級す
る前の原料の搬送量変動すなわちコンベヤベルト１上の
原料層厚変動に応じて分級チップ５の位置を調整すれば
粗粒／細粒の重量比率が常に一定になるように分級する
こともできる。
すれば、高炉の要求仕様に応じて粗粒／細粒の重量比率
を容易に変更することができる。また同様にして分級す
る前の原料の搬送量変動すなわちコンベヤベルト１上の
原料層厚変動に応じて分級チップ５の位置を調整すれば
粗粒／細粒の重量比率が常に一定になるように分級する
こともできる。
【００１９】図７は、図１および図２に示す粒度別分級
装置によって分級した場合の細粒と粗粒の粒径範囲を分
級前の粒径範囲と比較してその重量割合との関係を示し
たものである。同図から本発明によればコンベヤベルト
上の細粒原料と粗粒原料を容易に分級することができる
ことがわかる。ところで図３の（ａ）に断面図を示すよ
うにトラフ状となっているコンベヤベルト上には下層に
細粒原料11、上層に粗粒原料12が存在するのは前述の通
りであるが、厳密には細粒原料11の上を粗粒原料12で被
うような盛り上った粒度構成分布になって搬送されてい
る。図３の（ｂ）に示すようにヘッドプーリ２のところ
でベルト１は一旦平らになった後、図３の（ｃ）に平面
図で示すようにヘッドプーリ２から落下する慣性の小さ
い細粒原料11と慣性の大きい粗粒原料12が放物線を描い
て落下する際に、直線形分級チップ５により分級され、
また、ベルト１上の前記のような粒度分布であることも
影響してプーリ側の細粒原料11に粗粒原料12が特に両サ
イド側で混入すると共に、反プーリ側の粗粒原料12に細
粒原料11が特に中央部で混入し易いという弱点がある。
装置によって分級した場合の細粒と粗粒の粒径範囲を分
級前の粒径範囲と比較してその重量割合との関係を示し
たものである。同図から本発明によればコンベヤベルト
上の細粒原料と粗粒原料を容易に分級することができる
ことがわかる。ところで図３の（ａ）に断面図を示すよ
うにトラフ状となっているコンベヤベルト上には下層に
細粒原料11、上層に粗粒原料12が存在するのは前述の通
りであるが、厳密には細粒原料11の上を粗粒原料12で被
うような盛り上った粒度構成分布になって搬送されてい
る。図３の（ｂ）に示すようにヘッドプーリ２のところ
でベルト１は一旦平らになった後、図３の（ｃ）に平面
図で示すようにヘッドプーリ２から落下する慣性の小さ
い細粒原料11と慣性の大きい粗粒原料12が放物線を描い
て落下する際に、直線形分級チップ５により分級され、
また、ベルト１上の前記のような粒度分布であることも
影響してプーリ側の細粒原料11に粗粒原料12が特に両サ
イド側で混入すると共に、反プーリ側の粗粒原料12に細
粒原料11が特に中央部で混入し易いという弱点がある。
【００２０】このような弱点を改善するためには、ベル
ト１上の粗粒／細粒の粒度分布と共に、ヘッドプーリか
ら落下するときに細粒と粗粒との慣性の大小差による前
方への飛距離を考慮して分級チップの形状を定めるのが
好ましい。図４および図５は、このような点を考慮して
改善した他の実施例を示している。図４および図５に示
すように分級チップを３分割し、チップ台車４上の両側
に分級チップ５ａを同一レベルにセットする。そして中
央部に分級チップ５ｂを反プーリ側にずらせた構造とす
るものである。なお、その他の構成は前記実施例と同一
であるので説明を省略する。
ト１上の粗粒／細粒の粒度分布と共に、ヘッドプーリか
ら落下するときに細粒と粗粒との慣性の大小差による前
方への飛距離を考慮して分級チップの形状を定めるのが
好ましい。図４および図５は、このような点を考慮して
改善した他の実施例を示している。図４および図５に示
すように分級チップを３分割し、チップ台車４上の両側
に分級チップ５ａを同一レベルにセットする。そして中
央部に分級チップ５ｂを反プーリ側にずらせた構造とす
るものである。なお、その他の構成は前記実施例と同一
であるので説明を省略する。
【００２１】図４および図５に示す構造とすることによ
ってヘッドプーリ２から放物線を描いて落下する時点で
中央部に多い細粒原料11が中央部の分級チップ５ｂによ
りプーリ側に確実に分級され、両側部に多い粗粒原料12
が分級チップ５ａを乗り越えて反プーリ側に多く分級さ
れることになり、分級能が向上することになる。
ってヘッドプーリ２から放物線を描いて落下する時点で
中央部に多い細粒原料11が中央部の分級チップ５ｂによ
りプーリ側に確実に分級され、両側部に多い粗粒原料12
が分級チップ５ａを乗り越えて反プーリ側に多く分級さ
れることになり、分級能が向上することになる。
【００２２】なお、細粒原料11および粗粒原料12の粒度
分布や落下時の飛距離に応じ図６の（ａ）に示すように
両側の分級チップ５ａと中央部の分級チップ５ｂを分割
して大きくずらせたり、近づけたり任意に調整するのは
勿論である。また図６の（ｂ）に示すように分級チップ
は両側の分級チップ５ａと中央部の分級チップ５ｂを折
れ曲り部５ｃで接続した形状にしてもよく、また図６の
（ｃ）に示すように中央部を円弧形状にすることもでき
る。要は、ベルトコンベヤ上の細粒原料と粗粒原料の粒
度分布状況およびヘッドプーリから落下するときの原料
粒度差による飛距離に対応させて、ヘッドプーリの軸方
向の両側をプーリ側にずらせ、中央部を反プーリ側にず
らせた左右対称な形状とすることがポイントになる。
分布や落下時の飛距離に応じ図６の（ａ）に示すように
両側の分級チップ５ａと中央部の分級チップ５ｂを分割
して大きくずらせたり、近づけたり任意に調整するのは
勿論である。また図６の（ｂ）に示すように分級チップ
は両側の分級チップ５ａと中央部の分級チップ５ｂを折
れ曲り部５ｃで接続した形状にしてもよく、また図６の
（ｃ）に示すように中央部を円弧形状にすることもでき
る。要は、ベルトコンベヤ上の細粒原料と粗粒原料の粒
度分布状況およびヘッドプーリから落下するときの原料
粒度差による飛距離に対応させて、ヘッドプーリの軸方
向の両側をプーリ側にずらせ、中央部を反プーリ側にず
らせた左右対称な形状とすることがポイントになる。
【００２３】図８は高炉に装入する焼結鉱の粒度分布を
図４および図５に示す本発明の粒度別分級装置により分
級した場合と、従来例による場合とを比較して示したグ
ラフである。同図から本発明によれば細粒度側と粗粒度
側に７mmの差をもって分級できたのに対し、従来例では
3.5mm の差をもって分級できるに過ぎないことがわか
る。
図４および図５に示す本発明の粒度別分級装置により分
級した場合と、従来例による場合とを比較して示したグ
ラフである。同図から本発明によれば細粒度側と粗粒度
側に７mmの差をもって分級できたのに対し、従来例では
3.5mm の差をもって分級できるに過ぎないことがわか
る。
【００２４】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、コ
ンベヤのヘッドプーリから落下する細粒原料と粗粒原料
とを分級チップの位置を調節することによって確実に分
級することができる。また分級チップの形状を原料状況
等によって容易に変更できるばかりでなく、分級チップ
が摩耗したときなどのメンテナンス時には台車をヘッド
シュート外に引出すことによって容易に取替ることがで
きる。
ンベヤのヘッドプーリから落下する細粒原料と粗粒原料
とを分級チップの位置を調節することによって確実に分
級することができる。また分級チップの形状を原料状況
等によって容易に変更できるばかりでなく、分級チップ
が摩耗したときなどのメンテナンス時には台車をヘッド
シュート外に引出すことによって容易に取替ることがで
きる。
【図１】本発明の実施例に係る装置を一部のみ断面で示
す側面図である。
す側面図である。
【図２】図１のＡ−Ａ矢視を示す平面図である。
【図３】図１および図２に示す実施例の作用を示す説明
図であり、（ａ）は断面図、（ｂ）は正面図、（ｃ）は
平面図である。
図であり、（ａ）は断面図、（ｂ）は正面図、（ｃ）は
平面図である。
【図４】本発明の他の実施例に係る装置を一部のみ断面
で示す側面図である。
で示す側面図である。
【図５】図４のＡ−Ａ矢視を示す平面図である。
【図６】本発明に係る分級チップの３種類の変形例を示
す平面図である。
す平面図である。
【図７】本発明の装置により分級した場合の細粒と粗粒
の粒径範囲を分級前の粒径範囲と比較してその重量割合
との関係を示す線図である。
の粒径範囲を分級前の粒径範囲と比較してその重量割合
との関係を示す線図である。
【図８】本発明と従来との分級効果を比較して示す線図
である。
である。
【図９】ヘッドプーリから細粒原料と粗粒原料が落下す
る状況を示す説明図である。
る状況を示す説明図である。
１ コンベヤベルト ２ ヘッドプーリ ３ ヘッドシュート ４ カット台車 ５ 分級チップ ６ 支持フレーム ７ 車輪 ８ 移動用シリンダ ９ シリンダ駆動モータ 10 チップ位置検出器 11 細粒原料 12 粗粒原料 13 レール 14 ストンボックス用フレーム 15 シャフト 16 軸受 17 ピン 18 細粒用シャトルコンベヤ 19 粗粒用シャトルコンベヤ 20 細粒用貯鉱槽 21 粗粒用貯鉱槽 22 細粒用ベルトウエア 23 粗粒用ベルトウエア
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) C21B 5/00,7/20 B07B 13/08
Claims (3)
- 【請求項１】 原料搬送用ベルトコンベヤに設けられた
ヘッドプーリに対向する前方位置に設けたレールと、前
記レール上を走行するカット台車と、このカット台車上
に設けられ、前記ベルトコンベヤ上の下層側細粒原料と
上層側粗粒原料とをヘッドプーリからの落下途中で分級
するヘッドプーリの軸方向に平行でかつ上端の尖った直
線形の分級チップと、前記台車に支持フレームを介して
接続された分級チップ位置調整用の移動シリンダと、前
記分級チップの位置を検出する位置検出器とからなるこ
とを特徴とする高炉装入原料の粒度別分級装置。 - 【請求項２】 分級チップをベルトコンベヤ上の細粒原
料と粗粒原料の粒度分布状況およびヘッドプーリから落
下するときの原料粒度差による飛距離に対応させてヘッ
ドプーリの軸方向の両側をプーリ側にずらせて直線形と
し、中央部を反プーリ側にずらせて直線形、屈折形また
は円弧形とした請求項１記載の高炉装入原料の粒度別分
級装置。 - 【請求項３】 分級チップの下部をストンボックス構造
とした請求項１または請求項２記載の高炉装入原料の粒
度別分級装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP03129838A JP3102579B2 (ja) | 1991-05-31 | 1991-05-31 | 高炉装入原料の粒度別分級装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP03129838A JP3102579B2 (ja) | 1991-05-31 | 1991-05-31 | 高炉装入原料の粒度別分級装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04354809A JPH04354809A (ja) | 1992-12-09 |
| JP3102579B2 true JP3102579B2 (ja) | 2000-10-23 |
Family
ID=15019488
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP03129838A Expired - Fee Related JP3102579B2 (ja) | 1991-05-31 | 1991-05-31 | 高炉装入原料の粒度別分級装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3102579B2 (ja) |
Cited By (27)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7768496B2 (en) | 2004-12-02 | 2010-08-03 | Sharp Laboratories Of America, Inc. | Methods and systems for image tonescale adjustment to compensate for a reduced source light power level |
| US7782405B2 (en) | 2004-12-02 | 2010-08-24 | Sharp Laboratories Of America, Inc. | Systems and methods for selecting a display source light illumination level |
| US7800577B2 (en) | 2004-12-02 | 2010-09-21 | Sharp Laboratories Of America, Inc. | Methods and systems for enhancing display characteristics |
| US7826681B2 (en) | 2007-02-28 | 2010-11-02 | Sharp Laboratories Of America, Inc. | Methods and systems for surround-specific display modeling |
| US7839406B2 (en) | 2006-03-08 | 2010-11-23 | Sharp Laboratories Of America, Inc. | Methods and systems for enhancing display characteristics with ambient illumination input |
| US7924261B2 (en) | 2004-12-02 | 2011-04-12 | Sharp Laboratories Of America, Inc. | Methods and systems for determining a display light source adjustment |
| US7982707B2 (en) | 2004-12-02 | 2011-07-19 | Sharp Laboratories Of America, Inc. | Methods and systems for generating and applying image tone scale adjustments |
| US8004511B2 (en) | 2004-12-02 | 2011-08-23 | Sharp Laboratories Of America, Inc. | Systems and methods for distortion-related source light management |
| US8111265B2 (en) | 2004-12-02 | 2012-02-07 | Sharp Laboratories Of America, Inc. | Systems and methods for brightness preservation using a smoothed gain image |
| US8120570B2 (en) | 2004-12-02 | 2012-02-21 | Sharp Laboratories Of America, Inc. | Systems and methods for tone curve generation, selection and application |
| US8155434B2 (en) | 2007-10-30 | 2012-04-10 | Sharp Laboratories Of America, Inc. | Methods and systems for image enhancement |
| US8165724B2 (en) | 2009-06-17 | 2012-04-24 | Sharp Laboratories Of America, Inc. | Methods and systems for power-controlling display devices |
| US8169431B2 (en) | 2007-12-26 | 2012-05-01 | Sharp Laboratories Of America, Inc. | Methods and systems for image tonescale design |
| US8179363B2 (en) | 2007-12-26 | 2012-05-15 | Sharp Laboratories Of America, Inc. | Methods and systems for display source light management with histogram manipulation |
| US8203579B2 (en) | 2007-12-26 | 2012-06-19 | Sharp Laboratories Of America, Inc. | Methods and systems for backlight modulation with image characteristic mapping |
| US8207932B2 (en) | 2007-12-26 | 2012-06-26 | Sharp Laboratories Of America, Inc. | Methods and systems for display source light illumination level selection |
| US8223113B2 (en) | 2007-12-26 | 2012-07-17 | Sharp Laboratories Of America, Inc. | Methods and systems for display source light management with variable delay |
| US8345038B2 (en) | 2007-10-30 | 2013-01-01 | Sharp Laboratories Of America, Inc. | Methods and systems for backlight modulation and brightness preservation |
| US8378956B2 (en) | 2007-11-30 | 2013-02-19 | Sharp Laboratories Of America, Inc. | Methods and systems for weighted-error-vector-based source light selection |
| US8416179B2 (en) | 2008-07-10 | 2013-04-09 | Sharp Laboratories Of America, Inc. | Methods and systems for color preservation with a color-modulated backlight |
| US8531379B2 (en) | 2008-04-28 | 2013-09-10 | Sharp Laboratories Of America, Inc. | Methods and systems for image compensation for ambient conditions |
| US8913089B2 (en) | 2005-06-15 | 2014-12-16 | Sharp Laboratories Of America, Inc. | Methods and systems for enhancing display characteristics with frequency-specific gain |
| US8922594B2 (en) | 2005-06-15 | 2014-12-30 | Sharp Laboratories Of America, Inc. | Methods and systems for enhancing display characteristics with high frequency contrast enhancement |
| US8947465B2 (en) | 2004-12-02 | 2015-02-03 | Sharp Laboratories Of America, Inc. | Methods and systems for display-mode-dependent brightness preservation |
| US9083969B2 (en) | 2005-08-12 | 2015-07-14 | Sharp Laboratories Of America, Inc. | Methods and systems for independent view adjustment in multiple-view displays |
| US9177509B2 (en) | 2007-11-30 | 2015-11-03 | Sharp Laboratories Of America, Inc. | Methods and systems for backlight modulation with scene-cut detection |
| US9330630B2 (en) | 2008-08-30 | 2016-05-03 | Sharp Laboratories Of America, Inc. | Methods and systems for display source light management with rate change control |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002326057A (ja) * | 2001-05-02 | 2002-11-12 | Kotobuki Giken Kogyo Kk | 粒度調整装置及び粒度調整方法 |
| JP4562754B2 (ja) * | 2007-06-29 | 2010-10-13 | 濱田重工株式会社 | 分級装置 |
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1991
- 1991-05-31 JP JP03129838A patent/JP3102579B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| US8922594B2 (en) | 2005-06-15 | 2014-12-30 | Sharp Laboratories Of America, Inc. | Methods and systems for enhancing display characteristics with high frequency contrast enhancement |
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| US8223113B2 (en) | 2007-12-26 | 2012-07-17 | Sharp Laboratories Of America, Inc. | Methods and systems for display source light management with variable delay |
| US8207932B2 (en) | 2007-12-26 | 2012-06-26 | Sharp Laboratories Of America, Inc. | Methods and systems for display source light illumination level selection |
| US8203579B2 (en) | 2007-12-26 | 2012-06-19 | Sharp Laboratories Of America, Inc. | Methods and systems for backlight modulation with image characteristic mapping |
| US8179363B2 (en) | 2007-12-26 | 2012-05-15 | Sharp Laboratories Of America, Inc. | Methods and systems for display source light management with histogram manipulation |
| US8169431B2 (en) | 2007-12-26 | 2012-05-01 | Sharp Laboratories Of America, Inc. | Methods and systems for image tonescale design |
| US8531379B2 (en) | 2008-04-28 | 2013-09-10 | Sharp Laboratories Of America, Inc. | Methods and systems for image compensation for ambient conditions |
| US8416179B2 (en) | 2008-07-10 | 2013-04-09 | Sharp Laboratories Of America, Inc. | Methods and systems for color preservation with a color-modulated backlight |
| US9330630B2 (en) | 2008-08-30 | 2016-05-03 | Sharp Laboratories Of America, Inc. | Methods and systems for display source light management with rate change control |
| US8165724B2 (en) | 2009-06-17 | 2012-04-24 | Sharp Laboratories Of America, Inc. | Methods and systems for power-controlling display devices |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04354809A (ja) | 1992-12-09 |
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