JP3102130B2 - アクティブデバイスの製造方法 - Google Patents
アクティブデバイスの製造方法Info
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Landscapes
- Liquid Crystal (AREA)
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、マトリクス状アクティ
ブデバイス型ディスプレイ素子の画素駆動用アクティブ
デバイスに係り、特に液晶ディスプレイ(液晶パネル)
等に利用されるアクティブデバイスの電極層および強誘
電体層を、金属有機物から厚膜プロセスを用いて形成す
る所謂MOD(Metallo-Organic Deposition) 法を用い
たアクティブデバイスの製造方法に関する。
ブデバイス型ディスプレイ素子の画素駆動用アクティブ
デバイスに係り、特に液晶ディスプレイ(液晶パネル)
等に利用されるアクティブデバイスの電極層および強誘
電体層を、金属有機物から厚膜プロセスを用いて形成す
る所謂MOD(Metallo-Organic Deposition) 法を用い
たアクティブデバイスの製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】現在、アクティブマトリクス型液晶ディ
スプレイに用いられる代表的な2端子素子として金属電
極層間に絶縁体を間挿したMIM(Metal-Insulator-Me
tal )型素子が知られている。この種の2端子素子をフ
ォトリソエッチング処理方法で製造する場合、3端子素
子の代表であるTFT(Thin Film Transistor)型素子
の製造に比べて、その製造精度は粗くて良く、しかも当
該フォトリソエッチング処理における露光工程で用いる
露光マスクの精度も大幅に低減できるため製造工程が簡
略化でき、上記液晶デバイス等の大型化に有利で、かつ
製品の欠陥が少ない。
スプレイに用いられる代表的な2端子素子として金属電
極層間に絶縁体を間挿したMIM(Metal-Insulator-Me
tal )型素子が知られている。この種の2端子素子をフ
ォトリソエッチング処理方法で製造する場合、3端子素
子の代表であるTFT(Thin Film Transistor)型素子
の製造に比べて、その製造精度は粗くて良く、しかも当
該フォトリソエッチング処理における露光工程で用いる
露光マスクの精度も大幅に低減できるため製造工程が簡
略化でき、上記液晶デバイス等の大型化に有利で、かつ
製品の欠陥が少ない。
【0003】上記のMIM素子を構成する絶縁体からな
るアクティブ層に強誘電体膜を使用してメモリ機能を向
上させたものが、ゴードン アンド ブリーチ サイエ
ンスパブリッシャーズ発行,モレキュラークリスタルス
ズ アンド リキッドクリスタルズ(Gordon and Breac
h Science Publishers Ltd."Molecular Crystals and L
iquid Crystals" )1971 Vol.15,pp.95-104 に開示され
ている。
るアクティブ層に強誘電体膜を使用してメモリ機能を向
上させたものが、ゴードン アンド ブリーチ サイエ
ンスパブリッシャーズ発行,モレキュラークリスタルス
ズ アンド リキッドクリスタルズ(Gordon and Breac
h Science Publishers Ltd."Molecular Crystals and L
iquid Crystals" )1971 Vol.15,pp.95-104 に開示され
ている。
【0004】また、強誘電体膜をアクティブ層に使用す
ることにより、強誘電体の自発分極による電界保持効果
を利用して、リーク電流による画質劣化といった問題を
解決した従来技術として、例えば特開平1−4721号
公報等を挙げることができる。
ることにより、強誘電体の自発分極による電界保持効果
を利用して、リーク電流による画質劣化といった問題を
解決した従来技術として、例えば特開平1−4721号
公報等を挙げることができる。
【0005】
【発明が解決しょうとする課題】上記従来のアクティブ
デバイスの製造においては、その電極膜形成プロセス、
あるいは強誘電体膜形成プロセスに真空成膜技術を用い
ている。このプロセスでは、必要とするスパッタ装置、
あるいは真空蒸着装置といった成膜装置の設備費用とそ
のランニングコストが高く、成膜される薄膜のコストが
高くなるという問題があり、また真空装置の大きさに制
約があるため大面積の表示デバイス等を製造することが
困難であるという問題があった。
デバイスの製造においては、その電極膜形成プロセス、
あるいは強誘電体膜形成プロセスに真空成膜技術を用い
ている。このプロセスでは、必要とするスパッタ装置、
あるいは真空蒸着装置といった成膜装置の設備費用とそ
のランニングコストが高く、成膜される薄膜のコストが
高くなるという問題があり、また真空装置の大きさに制
約があるため大面積の表示デバイス等を製造することが
困難であるという問題があった。
【0006】本発明の目的は、上記従来の問題点を解決
し、安価で生産性が高くかつ鮮明な大面積をもつアクテ
ィブデバイス適用素子を得ることのできるアクティブデ
バイスの製造方法を提供することにある。
し、安価で生産性が高くかつ鮮明な大面積をもつアクテ
ィブデバイス適用素子を得ることのできるアクティブデ
バイスの製造方法を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明のアクティブデバイスは、その電極層形成及
び、強誘電体層形成共にMODプロセスを用いることを
特徴とするものである。MODプロセスを用いることに
よって製造設備が安価な厚膜プロセスで薄膜電極層、お
よび薄膜強誘電体層の長所を備えた電極層、および強誘
電体層を製造できる。
に、本発明のアクティブデバイスは、その電極層形成及
び、強誘電体層形成共にMODプロセスを用いることを
特徴とするものである。MODプロセスを用いることに
よって製造設備が安価な厚膜プロセスで薄膜電極層、お
よび薄膜強誘電体層の長所を備えた電極層、および強誘
電体層を製造できる。
【0008】すなわち、本発明は、図1に示したよう
に、絶縁基板上に形成された第1の電極と、前記第1の
電極を覆って積層された強誘電体層と、前記第1の電極
に前記強誘電体層を介して対向するごとく形成された第
2の電極とを備えたアクティブデバイスの製造方法にお
いて、前記絶縁基板上にMOD法により金属電極膜を形
成するための有機配位子錯体を含有する金属有機物溶液
ペーストを印刷し、これを焼成して金属電極膜を形成す
る第1工程10と、前記金属電極膜を所定のパターンを
持つ露光マスクを介して露光し,現像するフォトリソエ
ッチング処理することにより前記第1の電極を形成する
第2工程20と、前記第1の電極を形成した前記絶縁基
板を覆ってMOD法により強誘電体層を形成するための
有機配位子錯体を含有する金属有機物溶液ペーストを印
刷し、これを焼成して強誘電体層を形成する第3工程3
0と、前記強誘電体層の上にMOD法によりITO(イ
ンジュウム・錫の酸化物)電極を形成するための有機配
位子錯体を含有する金属有機物溶液ペーストを印刷し、
これを焼成して金属電極膜を形成する第4工程40と、
前記強誘電体層を所定のパターンを持つ露光マスクを介
して露光し,現像するフォトリソエッチング処理するこ
とにより前記第2の電極を形成する第4工程50と、を
含むことを特徴とする。
に、絶縁基板上に形成された第1の電極と、前記第1の
電極を覆って積層された強誘電体層と、前記第1の電極
に前記強誘電体層を介して対向するごとく形成された第
2の電極とを備えたアクティブデバイスの製造方法にお
いて、前記絶縁基板上にMOD法により金属電極膜を形
成するための有機配位子錯体を含有する金属有機物溶液
ペーストを印刷し、これを焼成して金属電極膜を形成す
る第1工程10と、前記金属電極膜を所定のパターンを
持つ露光マスクを介して露光し,現像するフォトリソエ
ッチング処理することにより前記第1の電極を形成する
第2工程20と、前記第1の電極を形成した前記絶縁基
板を覆ってMOD法により強誘電体層を形成するための
有機配位子錯体を含有する金属有機物溶液ペーストを印
刷し、これを焼成して強誘電体層を形成する第3工程3
0と、前記強誘電体層の上にMOD法によりITO(イ
ンジュウム・錫の酸化物)電極を形成するための有機配
位子錯体を含有する金属有機物溶液ペーストを印刷し、
これを焼成して金属電極膜を形成する第4工程40と、
前記強誘電体層を所定のパターンを持つ露光マスクを介
して露光し,現像するフォトリソエッチング処理するこ
とにより前記第2の電極を形成する第4工程50と、を
含むことを特徴とする。
【0009】
【作用】MODプロセスに使用される金属有機物は、有
機配位子錯体を含有するものであれば特に限定されない
が、具体的な有機配位子としては、オクチル酸,安息香
酸,ナフテン酸,ラウリル酸,ステプリン酸,アビエチ
ン酸,カブリル酸,ミリスチン酸,パルミチン酸,リノ
ール酸,オレイン酸などのカルボン酸,ビスアセチルア
セトナトなどのβ−ジケトン,カルバミン酸などを使用
することができる。
機配位子錯体を含有するものであれば特に限定されない
が、具体的な有機配位子としては、オクチル酸,安息香
酸,ナフテン酸,ラウリル酸,ステプリン酸,アビエチ
ン酸,カブリル酸,ミリスチン酸,パルミチン酸,リノ
ール酸,オレイン酸などのカルボン酸,ビスアセチルア
セトナトなどのβ−ジケトン,カルバミン酸などを使用
することができる。
【0010】上記の金属有機物は溶媒に溶解させて、耐
熱性絶縁基板に塗布して成膜されるが、その溶媒として
は石油系溶剤,ミネラルスピリット,ターペン油,ベン
ゼン,アルコール系溶剤,カルビトール系,トルエン,
セロソルブ系などの有機溶媒を金属有機物に応じて選択
できる。また、金属有機物が溶媒に溶けにくい場合は必
要に応じて、トリオクチルフォスフィンオキシド(TO
PO),リン酸トリブチル(TBD)あるいはアミン類
などの付加錯体を生成する配位子を適量添加する。
熱性絶縁基板に塗布して成膜されるが、その溶媒として
は石油系溶剤,ミネラルスピリット,ターペン油,ベン
ゼン,アルコール系溶剤,カルビトール系,トルエン,
セロソルブ系などの有機溶媒を金属有機物に応じて選択
できる。また、金属有機物が溶媒に溶けにくい場合は必
要に応じて、トリオクチルフォスフィンオキシド(TO
PO),リン酸トリブチル(TBD)あるいはアミン類
などの付加錯体を生成する配位子を適量添加する。
【0011】上記有機配位子錯体を含有する金属有機物
溶液(金属有機物を溶媒に溶解させたもの)は、そのま
ま塗布しても構わないが、その塗布法に応じて増粘剤ま
たは希釈剤を添加して粘度調整をすることが好ましい。
増粘剤としては、例えば、ロジン,アビエチン酸,セル
ロース,アクリル樹脂などを使用することができ、希釈
剤としては、α−ターピネオール,ブチルカルビトール
アセテートなどを使用することができる。上記電極膜ま
たは強誘電体層を形成する際に使用する有機配位子錯体
を含有する金属有機物溶液(金属有機物を溶媒に溶解さ
せたもの)および、これに増粘剤または希釈剤を添加し
て粘度調整したものを、「有機配位子錯体を含有する金
属有機物溶液ペースト」ということにする。
溶液(金属有機物を溶媒に溶解させたもの)は、そのま
ま塗布しても構わないが、その塗布法に応じて増粘剤ま
たは希釈剤を添加して粘度調整をすることが好ましい。
増粘剤としては、例えば、ロジン,アビエチン酸,セル
ロース,アクリル樹脂などを使用することができ、希釈
剤としては、α−ターピネオール,ブチルカルビトール
アセテートなどを使用することができる。上記電極膜ま
たは強誘電体層を形成する際に使用する有機配位子錯体
を含有する金属有機物溶液(金属有機物を溶媒に溶解さ
せたもの)および、これに増粘剤または希釈剤を添加し
て粘度調整したものを、「有機配位子錯体を含有する金
属有機物溶液ペースト」ということにする。
【0012】溶液の粘度はスピンコート法の場合は10
00cps以下、スクリーン印刷法の場合は3000−
50000cpsの範囲で選択することが好ましい。ま
た、溶液の粘度を塗布法に応じた範囲内で変化させるこ
とで、1回の塗膜焼成で得られる膜厚を自由に選択でき
ることは言うまでもない。本発明で用いる絶縁基板には
特に制限はなく、たとえばホウケイ酸ガラス基板,石英
ガラス基板,アルミナ基板などがその目的に応じて使用
される。
00cps以下、スクリーン印刷法の場合は3000−
50000cpsの範囲で選択することが好ましい。ま
た、溶液の粘度を塗布法に応じた範囲内で変化させるこ
とで、1回の塗膜焼成で得られる膜厚を自由に選択でき
ることは言うまでもない。本発明で用いる絶縁基板には
特に制限はなく、たとえばホウケイ酸ガラス基板,石英
ガラス基板,アルミナ基板などがその目的に応じて使用
される。
【0013】粘度調整されたペーストは、スクリーン印
刷法やスピンコート法などにより、絶縁基板上に塗布さ
れ、目的とする金属の有機物溶液で形成された塗膜を前
記金属有機物が分解,消失する温度(通常450〜60
0°C)で焼成することが望ましい。なお、焼成のため
の加熱方法は、耐熱性基板を所定の温度に加熱できる方
法であればよく、その方法は特に限定されない。具体的
にはベルト式焼成炉などを使用することができる。
刷法やスピンコート法などにより、絶縁基板上に塗布さ
れ、目的とする金属の有機物溶液で形成された塗膜を前
記金属有機物が分解,消失する温度(通常450〜60
0°C)で焼成することが望ましい。なお、焼成のため
の加熱方法は、耐熱性基板を所定の温度に加熱できる方
法であればよく、その方法は特に限定されない。具体的
にはベルト式焼成炉などを使用することができる。
【0014】
【実施例】以下、本発明の実施例につき、図面を参照し
て詳細に説明する。図2は本発明により製造したアクテ
ィブデバイスの構造を示す説明図であって、(a)はア
クティブデバイスの上面図、(b)は(a)のA−A線
で切断した断面図である。
て詳細に説明する。図2は本発明により製造したアクテ
ィブデバイスの構造を示す説明図であって、(a)はア
クティブデバイスの上面図、(b)は(a)のA−A線
で切断した断面図である。
【0015】同図において、1は絶縁基板であるガラス
基板、2は第1の電極である下部電極、3は強誘電体、
4は第2の電極である上部電極である。次に、上記構造
のアクティブデバイスの製造方法について説明すると、
先ず、ガラス基板1上にMOD法により電極膜を形成す
るための有機配位子錯体を含有する金属有機物溶液ペー
ストとしてのMOD金ペーストをスクリーン印刷で成層
し、これを450〜600°で焼成してMODの金薄膜
を形成する。
基板、2は第1の電極である下部電極、3は強誘電体、
4は第2の電極である上部電極である。次に、上記構造
のアクティブデバイスの製造方法について説明すると、
先ず、ガラス基板1上にMOD法により電極膜を形成す
るための有機配位子錯体を含有する金属有機物溶液ペー
ストとしてのMOD金ペーストをスクリーン印刷で成層
し、これを450〜600°で焼成してMODの金薄膜
を形成する。
【0016】この金薄膜を所定の開口パターンを有する
露光マスクを介して露光し、未露光部分の上記金薄膜を
所定のエッチング溶液でエッチング除去する,所謂フォ
トリソエッチング処理により下部電極2を形成する。上
記下部電極2を含むガラス基板を覆ってMODの強誘電
体ペースト(MOD法により強誘電体層を形成するため
の有機配位子錯体を含有する金属有機物溶液ペースト)
をスクリーン印刷で成層し、これを450〜600°で
焼成することにより下部電極2を含むガラス基板の全面
に強誘電体層3を形成する。
露光マスクを介して露光し、未露光部分の上記金薄膜を
所定のエッチング溶液でエッチング除去する,所謂フォ
トリソエッチング処理により下部電極2を形成する。上
記下部電極2を含むガラス基板を覆ってMODの強誘電
体ペースト(MOD法により強誘電体層を形成するため
の有機配位子錯体を含有する金属有機物溶液ペースト)
をスクリーン印刷で成層し、これを450〜600°で
焼成することにより下部電極2を含むガラス基板の全面
に強誘電体層3を形成する。
【0017】上記の強誘電体層3は、オクチル酸Baと
オクチル酸Tiを原子量比がBa:Ti=1:1になる
よう混合し、Ba、Ti有機金属化合物の混合物重量に
対し40w%のリノール酸を添加し、スクリーン印刷に
適した粘度に調整したMODペーストを使用し、これを
焼成してBaTiO3 多結晶薄膜を得る。そして、強誘
電体層3に上層に、さらにMODのインジュウム・錫の
酸化物(ITO)ペースト(MOD法によりITO電極
膜を形成するための有機配位子錯体を含有する金属有機
物溶液ペースト)をスクリーン印刷で成層し、これを4
50〜600°で焼成した後、前記下部電極の形成と同
様のフォトリンエッチング処理で所定パターンの上部電
極4を形成する。
オクチル酸Tiを原子量比がBa:Ti=1:1になる
よう混合し、Ba、Ti有機金属化合物の混合物重量に
対し40w%のリノール酸を添加し、スクリーン印刷に
適した粘度に調整したMODペーストを使用し、これを
焼成してBaTiO3 多結晶薄膜を得る。そして、強誘
電体層3に上層に、さらにMODのインジュウム・錫の
酸化物(ITO)ペースト(MOD法によりITO電極
膜を形成するための有機配位子錯体を含有する金属有機
物溶液ペースト)をスクリーン印刷で成層し、これを4
50〜600°で焼成した後、前記下部電極の形成と同
様のフォトリンエッチング処理で所定パターンの上部電
極4を形成する。
【0018】同図に示したアクティブデバイスは、例え
ば液晶表示パネルの1画素に相当する部分である。図3
は本発明のアクティブデバイス素子を用いた液晶パネル
の断面図であって、図2と同一符号は同一部分に対応
し、5は透明絶縁基板である上部ガラス基板、6はIT
O上部透明電極、Bは前記図2に示したアクティブデバ
イスである下側板、Cは上側板、Dは液晶層である。
ば液晶表示パネルの1画素に相当する部分である。図3
は本発明のアクティブデバイス素子を用いた液晶パネル
の断面図であって、図2と同一符号は同一部分に対応
し、5は透明絶縁基板である上部ガラス基板、6はIT
O上部透明電極、Bは前記図2に示したアクティブデバ
イスである下側板、Cは上側板、Dは液晶層である。
【0019】同図において、上側板Cは上部ガラス基板
5にITO透明電極6を有しており、このITO透明電
極6も前記下側板の電極2,4と同様のMOD金ペース
トのスクリーン印刷と焼成、およびフォトリソエッチン
グ処理で形成される。上記のようにして制作された下側
板Bと上側板Cとの間に液晶を挟み当該上下板C,Bの
間に液晶層Dを保持して液晶パネルを構成する。
5にITO透明電極6を有しており、このITO透明電
極6も前記下側板の電極2,4と同様のMOD金ペース
トのスクリーン印刷と焼成、およびフォトリソエッチン
グ処理で形成される。上記のようにして制作された下側
板Bと上側板Cとの間に液晶を挟み当該上下板C,Bの
間に液晶層Dを保持して液晶パネルを構成する。
【0020】なお、強誘電体層の形成方法としては、前
記MOD法のスクリーン印刷法以外にもMOD法のスピ
ンコート法、ディップコート法、ロールコート法等の従
来公知の種々の厚膜法を利用することができる。上記し
た実施例では、液晶パネルの高密度化に適応させるため
に下部電極2,上部電極4をフォトリンエッチング処理
にてパターニングしたが、電極密度が4line/mm 程度で
あれば、フォトリンエッチング処理を用いないスクリー
ン印刷のみで直接パターニングすることも出来る。
記MOD法のスクリーン印刷法以外にもMOD法のスピ
ンコート法、ディップコート法、ロールコート法等の従
来公知の種々の厚膜法を利用することができる。上記し
た実施例では、液晶パネルの高密度化に適応させるため
に下部電極2,上部電極4をフォトリンエッチング処理
にてパターニングしたが、電極密度が4line/mm 程度で
あれば、フォトリンエッチング処理を用いないスクリー
ン印刷のみで直接パターニングすることも出来る。
【0021】従来の薄膜プロセスを用いたMIM技術で
も、従前と比較して露光マスクの枚数を大幅に減らすこ
とができたが、MOD法を用いることによって、フォト
マスクを1枚も使用せずにアクティブデバイス素子を作
製することが可能となった。このことはフォトリンエッ
チング処理のための露光マスク作製コストの削減のみな
らず、フォトリンエッチング工程にかかるコスト全ての
削減となり、製造コストを節減する大きなメリットとな
ることことは言うまでもない。
も、従前と比較して露光マスクの枚数を大幅に減らすこ
とができたが、MOD法を用いることによって、フォト
マスクを1枚も使用せずにアクティブデバイス素子を作
製することが可能となった。このことはフォトリンエッ
チング処理のための露光マスク作製コストの削減のみな
らず、フォトリンエッチング工程にかかるコスト全ての
削減となり、製造コストを節減する大きなメリットとな
ることことは言うまでもない。
【0022】また、BaTiO3 以外のMOD法により
形成できる強誘電体膜、例えばPbTiO3 ,PZT等
も本発明によるアクティブデバイス素子に利用できる。
MOD法によるこれらの強誘電体膜は、膜厚の調整や不
純物元素の添加,結晶度の調整が薄膜プロセスによる強
誘電体膜に比べて容易に行うことができる。そのため、
強誘電体膜の残留分極Pr、抗電界Ecの値をかなり自
由に選ぶことができるので駆動電圧等,液晶パネル計測
値の種々の制約に対しての対応度が非常に広くなる。
形成できる強誘電体膜、例えばPbTiO3 ,PZT等
も本発明によるアクティブデバイス素子に利用できる。
MOD法によるこれらの強誘電体膜は、膜厚の調整や不
純物元素の添加,結晶度の調整が薄膜プロセスによる強
誘電体膜に比べて容易に行うことができる。そのため、
強誘電体膜の残留分極Pr、抗電界Ecの値をかなり自
由に選ぶことができるので駆動電圧等,液晶パネル計測
値の種々の制約に対しての対応度が非常に広くなる。
【0023】図4は本発明によるアクティブデバイスの
作用を説明する強誘電体のヒステリシスループ図であっ
て、図中残留分極Prは第1の電極と第2の電極により
与えられる印加電界を切った時に残る電界密度であり、
この保持された電界が接続した液晶にかかる。強誘電体
に対して外部から、抗電界Ecより十分大きな電界を印
加することにより、自発分極は反転は反転し、印加電界
を切ると今度は−Prの電化密度が保持され液晶にかか
る。また、抗電界Ecを印加して印加電界を切ると、残
留分極0の状態が保持され、液晶にかかる電界も0とな
る。
作用を説明する強誘電体のヒステリシスループ図であっ
て、図中残留分極Prは第1の電極と第2の電極により
与えられる印加電界を切った時に残る電界密度であり、
この保持された電界が接続した液晶にかかる。強誘電体
に対して外部から、抗電界Ecより十分大きな電界を印
加することにより、自発分極は反転は反転し、印加電界
を切ると今度は−Prの電化密度が保持され液晶にかか
る。また、抗電界Ecを印加して印加電界を切ると、残
留分極0の状態が保持され、液晶にかかる電界も0とな
る。
【0024】以上の3状態で液晶に+,−,0の3状態
の電界を選択的にかけることができる。しかも、この3
状態は液晶の駆動速度に対して、非常に長くその保持状
態を保つため、液晶の高速駆動にも有利である。このよ
うに、液晶にかける電界が強誘電体の残留分極を利用し
ているため、液晶のリーク電流とは無関係に液晶にかか
る電界を保持することが出来る。
の電界を選択的にかけることができる。しかも、この3
状態は液晶の駆動速度に対して、非常に長くその保持状
態を保つため、液晶の高速駆動にも有利である。このよ
うに、液晶にかける電界が強誘電体の残留分極を利用し
ているため、液晶のリーク電流とは無関係に液晶にかか
る電界を保持することが出来る。
【0025】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
高精度大面積の液晶パネル等に適用して好適なアクティ
ブデバイスを安価で生産性の高いMODプロセスで得る
ことができる。これによるコスト減は、単に薄膜プロセ
スを厚膜プロセスに置き変えただけには留まらず、得ら
れた強誘電体膜は液晶パネル等の設計値の種々の制約に
対しての対応度が非常に広いものとなり、前記従来技術
における問題点を解消して優れた機能をアクティブデバ
イスを提供することができる。
高精度大面積の液晶パネル等に適用して好適なアクティ
ブデバイスを安価で生産性の高いMODプロセスで得る
ことができる。これによるコスト減は、単に薄膜プロセ
スを厚膜プロセスに置き変えただけには留まらず、得ら
れた強誘電体膜は液晶パネル等の設計値の種々の制約に
対しての対応度が非常に広いものとなり、前記従来技術
における問題点を解消して優れた機能をアクティブデバ
イスを提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明のアクティブデバイスの製造方法を説
明する概略工程図である。
明する概略工程図である。
【図2】 本発明により製造したアクティブデバイスの
構造を示す説明図であって、(a)はアクティブデバイ
スの上面図、(b)は(a)のA−A線で切断した断面
図である。
構造を示す説明図であって、(a)はアクティブデバイ
スの上面図、(b)は(a)のA−A線で切断した断面
図である。
【図3】 本発明のアクティブデバイス素子を用いた液
晶パネルの断面図である。
晶パネルの断面図である。
【図4】 本発明によるアクティブデバイスの作用を説
明する強誘電体のヒステリシスループ図である。
明する強誘電体のヒステリシスループ図である。
1・・・・絶縁基板であるガラス基板、2・・・・第1
の電極である下部電極、3・・・・強誘電体、4・・・
・第2の電極である上部電極、5・・・・上部ガラス基
板、6・・・・ITO上部透明電極、B・・・・アクテ
ィブデバイスである下側板、C・・・・上側板、D・・
・・液晶層、10・・・・絶縁基板上にMODの金属有
機物ペーストを印刷し、これを焼成して金属電極膜を形
成する第1工程、20・・・・金属電極膜を所定のパタ
ーンを持つ露光マスクを介して露光し,現像するフォト
リソエッチング処理することにより前記第1の電極を形
成する第2工程、30・・・・第1の電極を形成した前
記絶縁基板を覆ってMODの強誘電体ペーストを印刷
し、これを焼成して強誘電体層を形成する第3工程、4
0・・・・強誘電体層の上にMODのITOペーストを
印刷し、これを焼成して金属電極膜を形成する第4工
程、50・・・・強誘電体層を所定のパターンを持つ露
光マスクを介して露光し,現像するフォトリソエッチン
グ処理することにより前記第2の電極を形成する第4工
程。
の電極である下部電極、3・・・・強誘電体、4・・・
・第2の電極である上部電極、5・・・・上部ガラス基
板、6・・・・ITO上部透明電極、B・・・・アクテ
ィブデバイスである下側板、C・・・・上側板、D・・
・・液晶層、10・・・・絶縁基板上にMODの金属有
機物ペーストを印刷し、これを焼成して金属電極膜を形
成する第1工程、20・・・・金属電極膜を所定のパタ
ーンを持つ露光マスクを介して露光し,現像するフォト
リソエッチング処理することにより前記第1の電極を形
成する第2工程、30・・・・第1の電極を形成した前
記絶縁基板を覆ってMODの強誘電体ペーストを印刷
し、これを焼成して強誘電体層を形成する第3工程、4
0・・・・強誘電体層の上にMODのITOペーストを
印刷し、これを焼成して金属電極膜を形成する第4工
程、50・・・・強誘電体層を所定のパターンを持つ露
光マスクを介して露光し,現像するフォトリソエッチン
グ処理することにより前記第2の電極を形成する第4工
程。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G02F 1/1362 H01L 49/02
Claims (1)
- 【請求項1】 絶縁基板上に形成された第1の電極と、
前記第1の電極を覆って積層された強誘電体層と、前記
第1の電極に前記強誘電体層を介して対向するごとく形
成された第2の電極とを備えたアクティブデバイスの製
造方法において、 前記絶縁基板上にMOD法により金属電極膜を形成する
ための有機配位子錯体を含有する金属有機物溶液ペース
トを印刷し、これを焼成して金属電極膜を形成する第1
工程と、 前記金属電極膜を所定のパターンを持つ露光マスクを介
して露光し,現像するフォトリソエッチング処理するこ
とにより前記第1の電極を形成する第2工程と、 前記第1の電極を形成した前記絶縁基板を覆ってMOD
法により強誘電体層を形成するための有機配位子錯体を
含有する金属有機物溶液ペーストを印刷し、これを焼成
して強誘電体層を形成する第3工程と、 前記強誘電体層の上にMOD法によりITO電極を形成
するための有機配位子錯体を含有する金属有機物溶液ペ
ーストを印刷し、これを焼成して金属電極膜を形成する
第4工程と、 前記強誘電体層を所定のパターンを持つ露光マスクを介
して露光し,現像するフォトリソエッチング処理するこ
とにより前記第2の電極を形成する第5工程と、を含む
ことを特徴とするアクティブデバイスの製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10081092A JP3102130B2 (ja) | 1992-04-21 | 1992-04-21 | アクティブデバイスの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10081092A JP3102130B2 (ja) | 1992-04-21 | 1992-04-21 | アクティブデバイスの製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05297416A JPH05297416A (ja) | 1993-11-12 |
JP3102130B2 true JP3102130B2 (ja) | 2000-10-23 |
Family
ID=14283725
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10081092A Expired - Fee Related JP3102130B2 (ja) | 1992-04-21 | 1992-04-21 | アクティブデバイスの製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3102130B2 (ja) |
-
1992
- 1992-04-21 JP JP10081092A patent/JP3102130B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH05297416A (ja) | 1993-11-12 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |