JP3101820B2 - 測定値発生器の欠陥検出回路 - Google Patents

測定値発生器の欠陥検出回路

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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、試験のために試験信号を測定値発生器回路
に送り込む誘導又は容量測定値発生器用の測定値発生器
の欠陥検出回路に関する． 〔従来の技術〕 この種の測定値発生器欠陥検出回路は、測定値発生器
が安全性の点で重要な装置に使用される場合には常に必
要である．これは特に、固着（ロック）防止された車両
用制動装置に測定値発生器を使用する際にもあてはま
る．このような制動装置には通常、車輪速度の検出のた
めに誘導測定値発生器が使用される．このような測定値
発生器は高い汚損及び振動負担にさらされているから、
これらの測定値発生器は比較的故障しやすい．このよう
な測定値発生器の故障は、固着防止された制動装置の欠
陥のある調整を回避するために、絶対に検知され得なけ
ればならない． ドイツ連邦共和国特許出願公開第3126102号明細書か
ら、固着防止調整装置用の欠陥検出回路は公知である．
この欠陥検出回路は車両の停止中に固着防止調整回路を
検査する．このために安全回路は既存の４つの車輪速度
測定値発生器をすべて遮断する．次いでそれぞれの調整
回路対に同じ試験信号が供給される．これらの同じ試験
信号は両方の調整回路対のそれぞれを通過する．欠陥検
出回路は、出力端側で各調整回路対に生ずる信号を互い
に比較する．この欠陥検出回路は、機能を果たす能力の
ある調整回路において、発生する信号が同じであるとい
う前提から出発している．それに反してこれらの信号列
の不一致が検知できたらすぐに警報又は切換信号が発生
される．車輪速度測定値発生器自体の試験は行なわれな
い。
ドイツ連邦共和国特許出願公開第3234637号明細書か
ら、制動滑り調整装置用の欠陥検出回路が公知であり、
この欠陥検出回路では、車輪の停止中に無安定マルチバ
イブレータによつて測定値発生器も監視される．その
際、健全な測定値発生器が接続されている場合は周波数
の低い固有周波数振動が生じ、しかしこの固有周波数振
動は短絡又は断線による測定値発生器の欠陥の際に止ま
る．それによつて、作動能力のある他の測定値発生器回
路との信号列の偏差が生じ、この偏差は欠陥と認められ
る．この回路は比較的費用をかけて構成されている． 〔発明が解決しようとする課題〕 本発明の基礎になつている課題は、冒頭に挙げた種類
の欠陥検出回路を改良して、どの測定値発生器回路も同
様な回路に関係なく個々に、しかも最も簡単な構成のも
とに監視することができるようにすることである． 〔課題を解決するための手段〕 この課題を解決するため本発明によれば、誘導又は容
量測定値発生器の欠陥検出回路が時間差測定装置を持
ち、この時間差測定装置が、試験信号発生器から測定値
発生器を介して時間差測定装置へ達する試験信号の受信
時点と、試験信号発生器から測定値発生器を介すること
なく時間差測定装置へ達する試験信号の受信時点とを互
いに比較し、これらの両方の受信時点の時間のずれが所
定の許容範囲にある場合に初めて測定値発生回路が正常
であると評価し、この時間のずれが所定の許容範囲を越
えている場合に欠陥信号を発生する。」 〔発明の効果〕 本発明によれば、誘導又は容量測定値発生器自体のイ
ンピーダンスが欠陥検出のために利用されるので、時間
差測定装置に測定値発生器を接続することが必要なだけ
である。本発明による測定値発生器の欠陥検出回路は、
測定値発生器回路の断線欠陥及びすべての短絡欠陥を検
知する。
しかも本発明による測定値発生器の欠陥検出回路は、
有利に簡単に構成される。即ち測定値発生器は通常イン
ダクタンス又はコンデンサとして構成されているので、
試験パルスの走行時間遅れを生ぜしめるために必要な時
限素子を既に形成している。従って測定値発生器の欠陥
検出回路を実現するために、時間差測定装置が付加的に
必要であるにすぎない。
〔実施例〕
図面に示されている実施例について本発明を詳細に説
明する． 第１図は、誘導測定値発生器と、試験信号発生器と、
付加的な時限素子と、時間差測定装置と、遮断兼表示装
置とを持つ欠陥検出回路の概略的回路構成を示してい
る． 誘導測定値発生器はインダクタンス１として示されて
いる．この測定値発生器は第１の接続導線２を介してコ
ンデンサ４と接続されている．この場合、測定値発生器
１はコンデンサ４と相まつて同時に時限素子である．測
定値発生器１は第１の接続導線２を介して、遅延時間T1
を持つ第１の時限素子５とも接続されている．この第１
の時限素子５は出力端側で時間差測定装置７の入力端と
接続されている．時間差測定装置７の出力端から信号導
線８が増幅回路９へ導かれており、この増幅回路の出力
端は遮断装置10及び通報装置11を付勢する． 測定値発生器１は更に第２の接続導線３に接続されて
おり、この接続導線は測定値発生器１を、導線13を介し
て試験信号発生器12と接続している．この試験信号発生
器の端子は、遅延時間T2を持つ第２の時限素子６へも導
かれており、この時限素子は出力端側で時間差測定装置
７と接続されている． 試験信号発生器12は電子回路として構成されており、
この回路は所定の時間間隔を置いて試験信号を発生す
る．これらの試験信号は、測定値発生器１が発生する有
効パルスに影響を及ぼさないように、選ばれる．なぜな
らば欠陥検出回路は固着防止装置の作動中にも測定値発
生器回路を監視するからである．これらの試験パルスは
第２の接続導線３に送り込まれかつ測定値発生器１のイ
ンダクタンス及び後に接続されたコンデンサ４を通過す
る．その際、コンデンサ４に時間のずれた電圧パルスが
発生する．これらの電圧パルスは同時に第１の時限素子
５にも発生する．この種の時限素子５はセンサパルスを
濾波するために使われかつRC素子から成り、このRC素子
は出力端において更に電圧パルスの時間のずれを生ぜし
める．この電圧パルスは時間差測定装置７の入力端23へ
達する． 第２の接続導線３に送り込まれる測定パルスは、同時
に第２の時限素子６にも印加される．両方の時限素子5,
6は同じに構成されているから、第２の時限素子におけ
る時間遅れは第１の時限素子５の場合と同じである．試
験パルスは第２の時限素子６により同様に時間をずらさ
れるが、しかしこれらの試験パルスは健全な測定値発生
器１では一層早く時間差測定装置７へ達する．この時間
差測定装置は両方の受信時点を互いに比較しかつこれら
の受信時点の時間のずれを検知する．この時間のずれは
所定の値を下回つてはならないが、しかし他の値を越え
てもいけない．時間のずれが所定の許容範囲にある場合
に初めて測定値発生器回路は正常であると評価される． それに反して接続導線のうちの１つが断線されている
場合は、時間のずれは許容範囲を越える．このような場
合に時間差測定装置７は欠陥信号を発生し、この欠陥信
号は出力端側で増幅回路９を介して遮断装置10及び通報
装置11を付勢する．遮断装置10により、固着防止された
制動装置の回路を遮断することができる．通報装置11に
より、同時にこのような車両の運転者に欠陥を通報する
ことができる． 更に、測定値発生器１又は接続導線2,3に短絡がある
こともあり得る．このような場合に、試験信号は測定値
発生器１のインダクタンス及び付属のコンデンサ４によ
り影響を及ぼされないので、試験信号は必要な時間間隔
を置いて時間差測定装置７により検出されることはな
い．しかし受信された試験信号の間に必要な時間間隔が
ない場合は、時間差測定装置７は欠陥信号を生ぜしめ、
この欠陥信号は、上述したように、遮断及び通報を行な
う． 本発明による監視回路によれば、測定値発生器の作動
中に簡単なやり方で監視を行なうことができる．このた
めに、大体において付加的な部品はほとんど必要でな
い．必要なコンデンサ４は大抵フイルタコンデンサとし
て存在しており、このフイルタコンデンサは測定値発生
器信号の外乱パルスを抑制する．更に、通常は時限素子
５も信号フイルタとして存在する．従つてこの欠陥検出
回路を実現するために、時間差測定回路及び試験信号発
生器回路だけしか必要でない．しかしこれらの回路は集
積回路によりコスト的に有利に実現可能である． マイクロプロセツサ方式の、固着防止された制動装置
の調整回路を考察すると、マイクロプロセツサの存在す
る場合にはこれらの回路装置をソフトウエア的にも実現
することができる． 第２図に欠陥検出回路の接続図が示されており、この
接続図は、固着防止された制動装置にある誘導測定値発
生器用の試験開閉回路を示している．この試験開閉回路
は大体において測定値発生回路及び試験信号の供給回路
から成る． この試験回路は誘導測定値発生器１を含んでいる．こ
の測定値発生器１はコンデンサ４と接続されており、こ
のコンデンサは高域フイルタとして使われる．同時にRC
素子５が接続されており、このRC素子は信号フイルタで
もあり、又時限素子でもある．このRC素子はシユミツト
トリガ15と接続されており、このシユミツトトリガは出
力端側で時間差測定装置７を付勢する． 測定値発生器１の第２の端子は結合コンデンサ16及び
同時に抵抗17と接続されている．この結合コンデンサ16
を介して供給回路が測定値発生器回路と接続されてい
る．この供給回路はパルス発生器としてのエミツタ接地
のトランジスタ増幅器18から成り、このトランジスタ増
幅器は入力端側で制御パルス端子19と接続されている．
この制御パルス端子19から導線20を介して、時限素子と
しての第２のRC素子６を持つ測定値発生器回路の他方の
分枝が分岐し、このRC素子はシユミツトトリガ21を介し
て時間差測定装置７へ至る． 上述した第２図による欠陥検出回路は大体において、
第１図の接続図に基づいて説明された回路のように動作
する．第２図による欠陥検出回路は、試験パルス用の信
号増幅を挿入したことで異なるだけである．この場合、
信号増幅回路は試験信号端子19を介して付勢される．増
幅された試験信号は結合コンデンサ16を介して測定値発
生器回路に供給される.RC素子5,6に生ずる試験電圧パル
スは両方のシユミツトトリガ15,21へ供給される．これ
らのシユミツトトリガは電圧ピークから増幅された方形
パルスを形成し、これらの方形パルスは時間差測定装置
７におけるデイジタル評価を可能にする． 測定値発生器用のこの種の欠陥検出回路は誘導測定値
発生器に限られずに、原則的には容量測定値発生器にも
使用可能である．このために、時限素子が適当に設計さ
れていることが必要であるにすぎない．なお、このよう
な欠陥検出回路は制動調整回路における使用に限られる
のではなくて、測定値発生器が誘導又は容量素子から成
るすべての測定値発生器回路にも使用可能である．この
ような測定値発生器回路においては、付加的な時限素子
が存在することは必ずしも必要でない．いかなる場合に
おいても、測定値発生器のインピーダンス及び付加的な
容量又は誘導部品から形成される時限素子で十分であ
る．
【図面の簡単な説明】
第１図は本発明による、時間差測定回路を持つ測定値発
生器欠陥検出回路の接続図、第２図は第１図の接続図の
詳細な構成図である． １……測定値発生器、５……時限素子、７……時間差測
定装置
フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭61−4976（ＪＰ，Ａ) 特開 昭62−28677（ＪＰ，Ａ) 特開 昭61−169044（ＪＰ，Ａ) 特開 昭61−286768（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01D 21/00 - 21/02 G01P 3/42 G01R 31/02,31/28

Claims (6)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】誘導又は容量測定値発生器（１）の欠陥検
    出回路が時間差測定装置（７）を持ち、この時間差測定
    装置（７）が、試験信号発生器（12）から測定値発生器
    （１）を介して時間差測定装置（７）へ達する試験信号
    の受信時点と、試験信号発生器（12）から測定値発生器
    （１）を介することなく時間差測定装置（７）へ達する
    試験信号の受信時点とを互いに比較し、これらの両方の
    受信時点の時間のずれが所定の許容範囲にある場合に初
    めて測定値発生回路が正常であると評価し、この時間の
    ずれが所定の許容範囲を越えている場合に欠陥信号を発
    生することを特徴とする、測定値発生器の欠陥検出装
    置。
  2. 【請求項２】測定値発生器（１）が車輪の速度検知のた
    めの誘導棒状センサであり、この棒状センサがコンデン
    サ（４）に接続されて、このコンデンサ（４）と共に時
    限素子を形成していることを特徴とする、請求項１に記
    載の測定値発生器の欠陥検出回路。
  3. 【請求項３】少なくとも第１の時限素子（５）が測定値
    発生器（１）と時間差測定装置（７）との間に接続さ
    れ、少なくとも第２の時限素子（６）が試験信号発生器
    （12）と時間差測定装置（７）との間に接続されている
    ことを特徴とする、請求項１又は２に記載の測定値発生
    器の欠陥検出回路。
  4. 【請求項４】時間差測定装置（７）が、第１の試験信号
    入力端（22）で受信される試験信号により作動せしめら
    れて、この試験信号の受信時点と第２の試験信号入力端
    （23）で受信される試験信号の受信時点との時間のずれ
    を検出し、この時間のずれが所定の許容範囲を越えてい
    る場合に欠陥信号を発生することを特徴とする、請求項
    １ないし３のうち１つに記載の測定値発生器の欠陥検出
    回路。
  5. 【請求項５】欠陥検出回路が集積回路として構成されて
    いることを特徴とする、請求項１ないし４のうち１つに
    記載の測定値発生器の欠陥検出装置。
  6. 【請求項６】欠陥検出回路の機能が、固着防止される制
    動装置の調整回路のマイクロプロセツサにより付加的に
    実行されることを特徴とする、請求項１ないし５のうち
    １つに記載の測定値発生器の欠陥検出装置。
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