JP2001516450A

JP2001516450A - 好ましくはケーブル継手のテスト対象物の放電を検出する装置

Info

Publication number: JP2001516450A
Application number: JP53950998A
Authority: JP
Inventors: エリクソン，トマス; ヨハンソン，ケネス
Original assignee: エービービーリサーチリミテッド
Priority date: 1997-03-10
Filing date: 1998-03-09
Publication date: 2001-09-25
Also published as: NZ337213A; EA199900815A1; AU6427998A; SE9700836L; EP1007987A1; WO1998040756A1; US6297645B1; BR9808139A; SE508160C2; CN1101551C; PL335505A1; AU719826B2; CA2283123A1; EA001639B1; SE9700836D0; CN1250524A

Abstract

(57)【要約】好ましくは、ケーブル継手である２つの電気接続導体（１ａ、１ｂ、１ｃ、１ｄ）を有するテスト対象物（１）の放電を検出する装置であって、第１のセンサ（２ａ）と第２のセンサ（２ｂ）と評価装置（ＥＶＵ）を少なくとも含む。これらのセンサは、それぞれ接続導体を通る電流パルスとその方向に従って、第１のセンサに第１の検出信号（ｖ１）を、第２のセンサに第２の検出信号（ｖ２）を発生および供給する。評価装置は、受信した検出信号に従って、テスト対象物の放電を表示する表示信号（ＩＮＤ）を発生する。本装置は、第１のセンサに結合した第１の同調部（Ｔ１）と第２のセンサに結合した第２の同調部（Ｔ２）を含み、各同調部は、それぞれの検出信号に従って、第１のフィルタ信号（ＳＦ１）と第２のフィルタ信号（ＳＦ２）を形成し、予め選択された周期（ＴＰ）で周期的に発振すると共に、乗算部（ＭＵ）は、フィルタ信号が供給され、積信号（ＳＰ）を形成し、評価装置は、積信号に従って表示信号を形成する。

Description

【発明の詳細な説明】好ましくはケーブル継手のテスト対象物の放電を検出する装置技術分野本発明は、好ましくはケーブル継手のテスト対象物の放電を検出する請求項１の前文の装置に関する。背景の技術例えば、トランス、発電機、ケーブルなどのような電気設備構成装置または高圧電気装置のための絶縁システムにおける局所的な放電、いわゆる部分放電は、その設備構成装置の品質、状態、期待有効寿命を推定するための重要なパラメータを構成する。したがって、高圧電気設備の構成装置の受入れ検査は、通常、例えばＩＥＣ刊行物「部分放電測定」により、良く定義された条件下での部分放電の発生に関する検査を含む。これに加えて、一定時間後に構成装置の状態を検査して、例えば、予防メンテナンス上の決定の一層信頼できる基礎を確立する目的で、種々の方法と装置が設置場所でのテストのために開発されてきた。部分放電を測定するときの１つの問題は、テスト対象物の部分放電から生ずる測定信号を周囲の設備構成装置または試験装置の部分放電から生ずる外乱と区別し、または他の出所からの前記部分放電のスペクトルに類似した周波数と振幅のスペクトルを有する外乱と区別することである。そうした外乱は、接続リード線または導体を通じてテスト対象物に伝えられ、周辺にガルバーニ的態様で接続されるが、しかし、関連周波数範囲内で周辺からの電磁放射を通じて測定装置により捕捉できる。設備構成装置内の部分放電は、この構成装置を周辺に接続している導線を通じて電流パルスを発生させ、この電流パルスは、導線の１つに結合された測定インピーダンスを通るときに発生する電圧を測定することにより、または直接または間接の電流測定により検出できる。電圧測定時、測定装置は、測定が実行される条件下で部分放電がない結合コンデンサを含み、テスト対象物と結合コンデンサと測定インピーダンスは、それ自体公知の方法でガルバーニ的態様で相互接続され、また周辺の設備構成装置およびテスト装置にそれぞれ接続される。電流測定を通じて部分放電を検出するとき、センサは、電流パルスに関連する磁界に敏感であることが要求される。このようなセンサから得られる測定信号は、テスト対象物およびこれに接続された高電圧回路からガルバーニ的態様で絶縁され、この場合は、とりわけ接地回路におけるループ効果のような問題が除去される。電流測定センサは、結合コンデンサと測定インピーダンスの必要を除き、非常に小さな寸法で設計できるので、さまざまな寸法と形状の設置構成装置において簡単に配置できる。未公開の国際特許出願ＰＣＴ／ＳＥ９６／０１１２６は、少なくとも２つの電気接続リード線を有するテスト対象物の放電を検出する装置を記述しており、評価装置と２つのセンサを含み、それぞれ、接続リード線の１つを通じて電流パルスの方向性を検出をする。例えば、ロゴスキーコイルの場合、このセンサは、電流パルスにより形成された磁界と、この磁界の極性を検出し、このパルスとその方向にしたがって評価装置ごとに１つの検出信号を発生する。センサ装置が全ての接続リード線を通じてテスト対象物から出る方向に、または全ての接続リード線を通じてテスト対象物に入る方向に、本質的に同時に流れる電流パルスを検出するとき、このセンサ装置は、受信されるセンサ信号にしたがって、テスト対象物の放電を示す表示信号を発生する。評価装置は、相互に絶縁された複数の接続リード線に結合する複数のセンサから生じる信号の和により和信号を形成し、また、相互に絶縁された複数の接続リード線に結合する複数のセンサから生じる信号の差により差信号を形成する手段を有する。評価装置に含まれる比較部は、和信号と差信号の、例えば、これらの信号比から比較信号を生成し、この比較信号から表示信号を形成する。本装置は、各センサに結合しその近傍に配置され、センサの自然周波数に同調するフィルタ部を含み、フィルタ部は、コンデンサと並列に接続された抵抗を有するチューニング回路と、テスト対象物の直列共振周波数に同調するバンドパスフィルタを有する。テスト対象物の接続リード線の異なった側に配置された２つのセンサ間の物理的な距離のために、テスト対象物の接続リード線を外乱が通過するときに、これらのセンサは、それぞれのセンサ信号を異なった時間に発生する。つまり、これらのセンサ間の物理的距離は、外乱から生じるセンサ信号間の時間に対応する。この時間距離は、一定の状況下、特にテスト対象物の形状のため、大きな相互の物理的距離でセンサの位置が許されるときテスト対象物において、センサ信号の加算と合計を含む上記特許明細書に記述された方法により、外乱の検出における信頼性を内部放電と逆に減少させる。一実施例において、センサがテスト対象物に装着され、圧縮力を加えられたとき、その正常値から逸脱するインダクタンスを示すことが判明した。この事実およびセンサの製造上の許容誤差は、同調回路がセンサの同調誤りの原因となる。これは、評価装置で更に処理されるべき信号の信号／雑音比を悪化させ、さらに、この目的のために提供された調整部によりセンサの同調の調整を必要とする。発明の要約本発明の目的は、導入部で述べたような装置を提供することであり、所定の設備構成装置の部分放電と、接続された設備構成装置またはテスト設備の外乱および部分放電との単純で安全で信頼できる識別を可能にする装置を提供することであり、特に、センサ間の物理的な距離が大きい場合に、所定の設備構成装置における可能な部分放電の安全で信頼できる位置を実行できるようにすることである。本発明による装置の特徴は、添付の請求の範囲から明らかになる。本発明の有利な改良は、以下に続く説明と請求の範囲から明らかになる。図面の簡単な説明添付図面を参照しながら、実施例の説明により、本発明を一層詳細に説明する。図１Ａないし図１Ｂは、電気ケーブル継手のテスト対象物を示す縦断面略図である。図２Ａないし図２Ｃは、概略のブロック図の形式で、本発明の種々の実施例を示す。図３Ａは、概略のブロック図の形式で、本発明による同調部の実施例を示す。図３Ｂないし３Ｃは、概略のブロック図の形式で、本発明による遅延部の種々の実施例を示す。図４Ａないし４Ｂは、本発明による同調部の実施例のための概略回路図の部分を示す。図５Ａないし図５Ｈおよび図５Ｊは、図２Ａによる本発明の実施例において、外乱の場合とテスト対象物の部分放電の場合とのそれぞれの信号の形状の基本的な外観を示す。図６Ａないし図６Ｆは、図２Ｂによる本発明の実施例において、外乱の場合とテスト対象物の部分放電の場合とのそれぞれの信号の形状の基本的な外観を示す。図７Ａないし図７Ｂは、図２Ｃによる本発明の実施例において、外乱の場合とテスト対象物の部分放電の場合とのそれぞれの信号の形状の基本的な外観を示す。好ましい実施例の説明図１Ａは、電気ケーブル継手のテスト対象物を概略の縦断面図で示す。このケーブル継手は、２つの端部１ａと１ｂを含み、その各々は、電気ケーブルの部分を構成する。これらケーブル端部は、周知の方法により、互いに結合され、この継手は、スリーブ１１と接地シールド１２を含み、スリーブとケーブルの両端部を取り囲んでいる。ケーブルの両端は、テスト対象物への電気接続導線を構成する。第１のセンサ２ａと第２のセンサ２ｂは、それぞれスリーブの各一方側のシールドの内側に配置される。この図は、シールドがスリーブから分離している場合を図示し、この場合、スリーブとシールドの間でケーブルの縦方向から見て、センサをケーブルの両端に配置するのが有利である。第１のセンサと第２のセンサは、第１の相互距離Ｌ１で配置される。これらのセンサは、それ自体周知のもので、電流パルスにより発生される磁界を検出することにより、接続リード線を通る電流パルスの方向性の検出を可能にする。この実施例において、センサは、ロゴスキーコイル形であり、その断面が略図で示され、各々接続リード線の１つを取り囲んでいる。本明細書では、ロゴスキーコイルとは、その周りの導体内の電流により生成される磁界内の磁力線と少なくとも実質的に同一方向にコイルの軸が向いているように配置されたコイルを意味する。これらのセンサは、それぞれ上述の電流パルスおよびその方向にしたがって１つのセンサ信号を発生し、第１のセンサは、第１のセンサ信号を発生し、第２のセンサは、第２のセンサ信号を発生する。図２Ａは、本発明を概略ブロック図の形式で示す。この図は、接続リード線１ａ、１ｂ付きのテスト対象物１、センサ２ａ、センサ２ｂおよび以下に詳述する評価装置ＥＶＵを示す。この評価装置は、第１のセンサに結合する第１の同調部Ｔ１、第１の同調部と同種類で第２のセンサに結合する第２の同調部Ｔ２、乗算部ＭＵ、信号処理部ＣＯＵを含む。点でマークされたコイルの端部からマークされてないコイルの端部に電流パルスがコイル中を流れるときに、図中に点でマークしたコイルのタップにおいて同一の極性の電圧が発生するように、これらのセンサが配列されている。理解しやすくするために、図２Ａは、これらのコイルをそれぞれの接続リード線に沿って長いコイルとして示している。第１の同調部は、二線式センサケーブル３ａを経由して第１のセンサ信号ｖ１が供給され、この信号にしたがって第１のフィルタ信号ＳＦ１を形成する。第２の同調部は、二線式センサケーブル３ｂを経由して第２のセンサ信号ｖ２が供給され、この信号にしたがって第２のフィルタ信号ＳＦ２を形成する。乗算部は、これらのフィルタ信号が供給されて、積信号ＳＰを形成し、積信号ＳＰは、信号処理部に供給される。信号処理部は、積信号にしたがって表示信号ＩＮＤを形成する。テスト対象物は、電気設備内で電気回路（図示なし）に接続され、動作時は、通常５０Ｈｚまたは６０Ｈｚの電力周波数が付勢される。テスト対象物の絶縁装置または設備構成装置の放電、すなわち部分放電は、電流パルスを発生させ、この電流パルスは、電流分岐により設備の回路とテスト対象物の接続リード線に分配される。もし、そのような放電がテスト対象物の外側の設備構成装置で発生すれば、テスト対象物の接続リード線を通じて関連している電流パルスは、放電の極性に従って接続導線１ａを通じてテスト対象物に入り、接続リード線１ｂを通じて対象物から出てゆくか、またはこの逆となる。一般に、電流パルスの検出に関連する周波数範囲内でインピーダンスを示すテスト対象物は、接続リード線を通じてテスト対象物を通る電流の振幅および／または移相電流を減衰させる。２つのセンサ間の距離Ｌ１は、このように第１および第２のセンサ信号になり、相互に第１の時間間隔△Ｔ１’で現れる。他方、このような放電がテスト対象物に起これば、この放電は、これに関連した電流パルスを発生し、この電流パルスは、テスト対象物から離れる方向またはテスト対象物へ向かう方向で２つの接続リード線を流れる。この電流の方向が、テスト対象物から遠ざかるか又はテスト対象物へ向かうかは、放電の極性により決定される。このようにしてテスト対象物のどこで放電が発生するかによって、同一の放電から発生する電流パルスは、相互時間間隔を有する種々なセンサ信号を発生させる。しかしながら、この時間間隔は、上記した第１の時間間隔△Ｔ１ ’を超えることはない。図３Ａは、第１の同調部Ｔ１の本発明による実施例の概略ブロック図であり、センサケーブル３ａに接続されたインピーダンス整合部ＩＭＰＤ１、共振回路ＲＥＳＤ１、増幅部ＡＭＰ１、バンドパスフィルタ部ＢＤＰ１を含む。第１のセンサ信号は、共振回路に供給され、その出力ＳＲＥＳ１は、増幅部ＡＭＰに供給される。出力信号は、バンドパスフィルタ部に供給され、供給信号に従ってバンドパスフィルタ部は、第１のフィルタ信号ＳＦ１を形成する。第２の同調部Ｔ２は、第１の同調部と同一種類のものであり、センサケーブル３ｂに接続されたインピーダンス整合部ＩＭＰＤ２、出力信号ＳＲＥＳ２を形成する共振回路ＲＥＳＤ２、増幅部ＡＭＰ２、第２のフィルタ信号ＳＦ２を形成するバンドパスフィルタ部ＢＰＤ２を含む。インピーダンス整合部は、センサケーブルの特性インピーダンスに等しいインピーダンスを示し、センサケーブルの無反射終端を可能にする。共振回路とバンドパスフィルタ部ＢＰＤは、この角周波数ωに並列共振するように同調され、または第１の時間間隔△Ｔ１’に関係する角周波数ωは、その時間間隔ＴＰが前記時間間隔△Ｔ１’よりも遥かに長くなるように選択され、それらの通過域内に、この角周波数ωを含む。第１の時間間隔△Ｔ１’は、典型的には数百マイクロ秒であり、角周波数ωは、所定の周波数の外乱の発生、センサのインダクタンス、好ましくは１０ｋＨｚから１０ＭＨｚのセンサ信号の予想周波数等の要素により決定される。好ましい実施例において、共振周波数は、誘導性インピーダンス素子と容量性インピーダンス素子の並列接続を含む。更に、共振回路は、その減衰時間ＴＤが第１の時間間隔△Ｔ１’よりもはるかに長くなるように設定され、典型的には、少なくとも２から３周期のＴＰに対応する。図５Ａ、図５Ｂ、図５Ｅ、図５Ｆ、図５Ｇ、図５Ｈ、図５Ｊは、垂直軸において、それぞれの軸について順次、概略的に上記のセンサ信号ｖ１とｖ２、共振回路ＲＥＳＤ１およびＲＥＳＤ２からのそれぞれ出力信号ＳＲＥＳ１とＳＲＥＳ２、フィルタ信号ＳＦ１とＳＦ２、積信号ＳＰを、水平軸上に示された時間の関数として、信号波形の基本的外観について概略的に示す。これらの図は、センサ間のテスト対象物に部分放電が発生した場合を示す。図５Ａと図５Ｂは、センサ信号が反対の極性の場合を示し、図５Ｅと図５Ｆにそれぞれ示されるように、それぞれ各共振回路から出力信号を生成する。バンドパスフィルタの後に、第１のフィルタ信号ＳＦ１と第２のフィルタ信号ＳＦ２は、それぞれ、図５Ｇと図５Ｈに示されるような変化を有する。積信号は、図５Ｊに示されるように、図示された極性、すなわち、負極性の脈動変化の外観を有する。図６Ａと図６Ｂは、垂直軸上に、それぞれの軸上について順次、センサ信号ｖ１とｖ２の信号波形の基本的な外観を、水平軸上の時間の関数として図式的に示す。この図は、例えば、テスト対象物に接続された設備構成装置の部分放電から生ずる電流パルスなどの外乱が通過する場合に関連する。図６Ａと図６Ｂは、センサ信号が同一極性を有する場合を示し、これらの図に示された極性に対して、図５Ｅに示された出力信号ＳＲＥＳ１信号は、この図に示されるものと逆の極性を有する。これに対応する場合は、第１のフィルタ信号ＳＦ１に適用され、したがって、この場合は、積信号ＳＰは、正の極性で脈動する変化を示す。表示部は、周知の方法で有利に設計され、積信号のピーク値を検出し、このピーク値にしたがって表示信号を検出するピーク値検出器を含む。代わりに、共振回路の共振周波数に適合した時定数を有するローパスフィルタ部として表示部を設計することもでき、このローパスフィルタ部からの出力信号にしたがって、表示信号を形成することができる。この表示信号は、当分野で周知の方法による更なる評価例えば、比較信号との比較のための装置（図示なし）に供給される。図２Ｂは、外乱の抑制に関して特に有利であることが証明された本発明の改良を示す。評価装置が第１のセンサに結合する第１の遅延部Ｄ１および第２のセンサに結合する第２の遅延部を含む点において、図２Ａに関連して説明した実施例と異なる。第１の遅延部は、第１のセンサ信号および詳細を後述する第２の遅延センサ信号ｖ２ｄが供給される。第２の遅延部は、第２のセンサ信号および詳細を後述する第１の遅延センサ信号ｖ１ｄが供給される。第１の遅延部は、出力信号として、第１の測定信号ＳＭＥ１および第１の遅延センサ信号を形成し、また第２の遅延部は、出力信号として、第２の測定信号ＳＭＥ２および第２の遅延センサ信号を形成する。第１の同調部は、第１の測定信号が供給され、第１のフィルタ信号を形成し、第２の同調部は、第２の測定信号が供給され、第２のフィルタ信号を形成する。図３Ｂは、第１の遅延部と第２の遅延部の実施例を示す。第１の遅延部は、遅延部４ａおよび差形成部５ａを含み、両方とも第１のセンサ信号ｖ１が供給される。遅延部は、出力信号として第１の遅延センサ信号ｖ１ｄを形成し、これは第１のセンサ信号に対応するが、選択的な第１の時間遅れ△Ｔ１だけ遅れ、好ましくは上記の第１の時間間隔△Ｔ１’に等しい。第２の遅延部は、遅延部４ｂと遅延形成部５ｂを含み、両方とも第２のセンサ信号ｖ２が供給される。遅延部４ｂは、出力信号として第２の遅延センサ信号ｖ２ｄを形成し、これは第２のセンサ信号に対応するが、選択的な第１の時間遅れだけ遅延される。差形成部５ａは、第２の遅延センサ信号ｖ２ｄも供給され、第１のセンサ信号と第２の遅延センサ信号の差にしたがって、第１の測定信号を出力信号として形成する。差形成部５ｂは、第１の遅延センサ信号ｖ１ｄが供給され、第１のセンサ信号と第１の遅延センサ信号の差にしたがって、第２の測定信号を出力として形成する。この実施例における同調部Ｔ１および同調部Ｔ２は、図３Ａを参照して説明したようなものが有利である。図５Ａ、図５Ｂおよび図５Ｊは、垂直軸上で、それぞれ、センサ信号ｖ１、ｖ２、遅延センサ信号ＳＲＥＳ１、ＳＲＥＳ２の信号波形の基本的外観を模式的に示し、水平軸に沿って時間の関数として、共振回路ＲＥＳＤ１、ＲＥＳＤ２からの出力信号ＳＲＥＳ１、ＳＲＥＳ２、フィルタ信号ＳＦ１、ＳＦ２、積信号ＳＰを示す。これらの図は、センサ間のテスト対象物の部分放電が起きる場合に関する。更に、第１の時間遅れ△Ｔ１が第１の時間間隔△Ｔ１’に等しく選ばれることを仮定する。図５Ａから図５Ｄから明らかなように、この場合、第１の測定信号ＳＭＥ１は、第１のセンサ信号ｖ１を含み、また第１の時間遅れ△Ｔ１だけ遅延して逆の極性を有する第２のセンサ信号ｖ２を含む。これに対応する推定が第２の測定信号ＳＭＥ２に適合する。第１の時間遅れが共振回路の共振周波数の周期よりも遥かに短いので、共振回路ＲＥＳＤ１とＲＥＳＤ２の出力信号ＳＲＥＳ１とＳＲＥＳ２、フィルタ信号ＳＦ１とＳＦ２、積信号ＳＰは、実際には図５Ｅから図５Ｈおよび図５Ｊに示されたような外観を有する。図６Ｃから図６Ｆは、垂直軸上で、それぞれの軸の上部から下部へ、上記のセンサ信号ｖ１とｖ２の信号波形の基本的な外観を模式的に示し、水平軸に沿って、共振回路ＲＥＳＤ１とＲＥＳＤ２からの出力信号ＳＲＥＳ１とＳＲＥＳ２を示す。これらの図は、例えば、テスト対象物に接続された設備構成装置の部分放電が接続リード線１ａから接続リード線１ｂへの方向にテスト対象物を通過することを示し、図６Ｃおよび図６Ｄに示すように、第１のセンサ信号ｖ１に対して第１の時間間隔△Ｔ１’だけ遅延して第２のセンサ信号ｖ２が起こるように通過することを示す。この場合、第１の測定信号ＳＭＥ１は、第１のセンサ信号ｖ１を含み、また第１の時間間隔の２倍遅延した逆極性の第２のセンサ信号ｖ２を含む。第２の測定信号ＳＭＥ２は、第２のセンサ信号ｖ２を含み、また第１の時間間隔だけ遅延した逆極性の第１のセンサ信号ｖ１を含み、これら２つの信号は、このように本質的に相互に相殺する。共振回路ＲＥＳＤ１からの出力信号ＳＲＥＳ１は、このように図６Ｅに図示するような変化を有し、一方、共振回路ＲＥＳＤ２からの出力信号ＳＲＥＳ２は、図６Ｆに図示するように、本質的にゼロのままである。このように積信号ＳＰは、この場合、ゼロのままである。外乱の抑制に関して有利な本発明の他の実施例を図２ｃに示す。この実施例において、本装置は、第１および第２のセンサと同種の第３のセンサ２ｃおよび第４のセンサ２ｄを含み、第３のセンサ２ｃは、第１のセンサと同一の接続リード線に配置され、第３のセンサ信号ｖ３を発生し、また第４のセンサ２ｄは、第２のセンサと同一の接続リード線に配置され、第４のセンサ信号ｖ４を発生する。第１のセンサと第２のセンサは、第１の相互間隔Ｌ１で配置され、第１のセンサと第３のセンサは、第２の相互間隔Ｌ２で配置され、第２のセンサと第４のセンサは、第３の相互間隔で配置される。上記したことからの類推により、これらの第２の間隔と第３の間隔は、接続リード線を経由してテスト対象物を通過する電流パルスにしたがって発生されるセンサ信号に対して、第２の時間間隔△Ｔ２’ と第３の時間間隔△Ｔ３’にそれぞれ対応する。図１Ｂは、図１Ａを参照して説明したものと同種のケーブル継手におけるセンサを物理的に示す。テスト対象物がケーブル継手なので、間隔Ｌ１は、典型的には１メートルまたは２メートルであり、間隔Ｌ２と間隔Ｌ３は１メートル程度である。通常、第２の時間間隔△Ｔ２’は、第３の時間間隔△Ｔ３’に実質的に等しい。４つのセンサ信号は、全て、評価装置ＥＶＵ（２Ｃ図）に供給され、第３のセンサ信号は、２線式センサケーブル３ｃを経由して、第４のセンサは、２線式センサケーブル３ｄを経由して供給される。この評価装置は、上記の同調部Ｔ１、Ｔ２に加えて、乗算部ＭＵと信号処理部ＣＯＵ、第１のセンサと第３のセンサに結合する第３の遅延部、第２のセンサと第４のセンサに結合する第４の遅延部を含む。第３の遅延部は、第１のセンサ信号と第３のセンサ信号が供給され、第３の測定信号ＳＭＥ３を形成する。第４の遅延部は、第２のセンサ信号と第４のセンサ信号が供給され、第４の測定信号ＳＭＥ４を形成する。第１の同調部は、第３の測定信号が供給され、第１のフィルタ信号を形成し、第２の同調部は、第４の測定信号が供給され、第２のフィルタ信号を形成する。図３Ｃは、第３の遅延部と第４の遅延部を示す。第３の遅延部は、遅延部分を含み、この遅延部は、第３のセンサ信号が供給され、出力信号として第３の遅延センサ信号ｖ３ｄを形成し、これは、第３のセンサ信号に対応するが、好ましくは第２の時間間隔△Ｔ２’に等しく選ばれる上記の選択的な第２の時間遅れ△Ｔ２だけ遅延される。第３の遅延部は、更に、差形成部５ｃを含み、これは、第１のセンサ信号ｖ１と第３の遅延センサ信号が供給され、第１のセンサ信号と第３の遅延センサ信号の差として第３の測定信号を形成する。第４の遅延部は、遅延部分４ｄを含み、これは、第４のセンサ信号が供給され、出力信号として第４の遅延センサ信号ｖ４ｄを形成し、この第４の遅延センサ信号ｖ４ｄは、第４のセンサ信号に対応するが、好ましくは上記の第３の時間間隔 △Ｔ３’に等しく選ばれる選択的な第３の時間遅れ△Ｔ３だけ遅延される。第４の遅延部は、更に、差形成部５ｄを含み、これは、第２のセンサ信号と第４の遅延センサ信号が供給され、また第２のセンサ信号と第４の遅延センサ信号の差として第４の測定信号を形成する。この実施例における同調部Ｔ１とＴ２は、図３Ａを参照して上記した種類のものであるが、相違点として、この場合、共振回路とバンドパスフィルタ部は、第２の時間間隔△Ｔ２’と第３の時間間隔△Ｔ３’に関連する角周波数ω２とω３で並列共振して同調し、これらをそのパスバンドにおいて含み、好ましくは、ω ２＝２π／４△Ｔ２’およびω３＝２π／４△Ｔ３’に選択される。典型的には、本発明の実施例では、角周波数ω２とω３は、１０から１００ＭＨｚの範囲の周波数に対応する。図７Ａと図７Ｂは、垂直軸上において、順次、上から下へそれぞれの軸上に上記センサ信号ｖ１、ｖ２、ｖ３、ｖ４、遅延センサ信号ｖ３ｄ、ｖ４ｄ、測定信号ＳＭＥ３、ＳＭＥ４、フィルタ信号ＳＦ１、ＳＦ２、積信号ＳＰを水平軸に沿った時間の関数として示す。図７Ａは、例えば、テスト対象物に接続された設備構成装置内の部分放電などの外乱が通過する場合を示す。図７Ｂは、センサ間のテスト対象物に部分放電が起きる場合を示す。更に、第２の時間遅れ△Ｔ２が第２の時間間隔△Ｔ２’に等しく選ばれ、また第３の時間遅れ△Ｔ２が第３の時間間隔△Ｔ３’に等しく選ばれることを仮定する。図７Ａに図示する例においては、外乱が第３のセンサを最初に通ると仮定し、第３の測定信号ＳＭＥ３は、第３の遅延部の差信号により消滅する。外部から入る外乱が第４のセンサを最初に通るとき、第４の測定信号ＳＭＥ４は、第４の遅延部の差形成により消滅する。したがって、第１のフイルタ信号も第２のフィルタ信号も、また積信号も、ゼロまたは少なくともゼロに近いままである。図７Ｂに図示する例においては、測定信号の各々は、対向する極性を有し、センサ信号に類似の形の２つのパルスを含む。測定信号の基本周波数は、各共振回路の共振周波数に対応する周波数範囲と、上記共振周波数の第１のおよび第２のフィルタ信号を立ち上がらせるバンドパスフィルタの通過域にある。積信号は、このように脈動する変化を与えられ、その外観、つまり、その移相位置と平均値は、テスト対象物のどこで内部放電が起きるかによって異なる。周知のいずれかの方法により形成された積信号の平均値は、このように放電の位置についての情報を提供する。この積信号は、上記の方法により、信号処理部に供給される。図４Ａは、上記図２Ｂ、図３Ａ、図３Ｂによる本発明の実施例の回路図の部分を模式的に示す。第１のセンサｖ１は、抵抗７ａ、７ｂを経由して２線式シールドセンサケーブルにより増幅部ＡＭＰ１の入力端に接続され、ＡＭＰ１の出力信号は、バンドパスフィルタ部ＢＰＤ１に供給される。第２のセンサｖ２は、類似の方法で抵抗７ｅ、７ｆを経由して２線式シールドセンサケーブル３ｂにより増幅部ＡＭＰ２の入力端に接続される。センサケーブルは、特性インピーダンスＺを有し、それぞれのセンサケーブルの２線間にインピーダンスＺを有するインピーダンス素子６ａ、６ｂをそれぞれ配置することにより、センサケーブルの反射のない接続を達成する。この方法により、少なくとも理想的な条件下において、センサに接続された回路は、それぞれのセンサから見て、純粋に抵抗のインピーダンスを示す。各増幅部の入力端子に並列共振回路が接続され、これは、インダクタンスコイル８ａ、コンデンサ９ａ、インダクタンスコイル８ｂ、コンデンサ９ｂを含み、図３Ｂを参照して説明した共振回路ＲＥＳＤに対応し、また上記の共振条件を満たすように選択される。遅延ケーブル４ａは、センサケーブル３ａに接続され、この遅延ケーブルは、センサケーブルと同種のものであり、図３Ｃを参照して指摘した遅延時間△Ｔ１を与えるのに適した長さを有する。この実施例において、図３Ｃを参照して説明した差形成部５内の差形成は、遅延ケーブル４ａを抵抗７ｃ、７ｄを経由して増幅部ＡＭＰ２の入力端子に接続することにより達成される。同様の方法で遅延ケーブル４ｂをセンサケーブル３ｂに接続し、この遅延ケーブルを抵抗７ｇ、７ｈを経由して増幅部ＡＭＰ１の入力端子に接続する。これらの抵抗７ａから７ｈは、インピーダンス素子６ａ、６ｂのインピーダンス値より遥かに大きな抵抗値を有するように選ばれ、また抵抗７ｃと７ｇは、センサの製造許容誤差を調整することができるように好適に設計される。図４Ｂは、インピーダンス整合部ＩＭＰＤ、バンドパスフィルタ部ＢＰＤＩおよび増幅器部ＡＭＰＩの本発明による実施例の回路図の部分を模式的に図示するが、これらの部材は、図３Ａの同調回路を含む。センサ２ａは、センサケーブル３ａを通じて直列共振回路に接続され、これは、ケーブルの２線の間に接続され、抵抗１３ａ、コンデンサ１３ｂ、インダクタンスコイル１３ｃを含む。同様に、抵抗１４ａ、コンデンサ１４ｂ、追加の抵抗１４ｃの直列接続は、ケーブルの２線間で接続される。コンデンサ１４ｂの２つの端子は、それぞれ、導体１５ａ、１５ｂを通じて、磁気コアを有するインダクタンスコイル１６のタップ１６ｂ、１６ｄに接続される。インダクタンスコイル１６は、端子１６ａと１６ｅおよびセンタータップ１６ｃを有し、センタータップ１６ｃは、導線１５ｃを通じて同調部に共通な信号ゼロに接続される。端子１６ａとタップ１６ｂの間にｎ２巻きのコイルの巻線が配置され、タップ１６ｂと１６ｃの間にｎ１巻きが配置され、タップ１６ｃと１６ｄの間にｎ１巻きが配置され、タップ１６ｄと端子１６ｅの間にｎ２巻きのコイルの巻き線が配置される。端子１６ａと１６ｅは、互いに接続され、それぞれ導線１７ａと１７ｂにより抵抗１８ａと１８ｂを経由して、増幅部ＡＭＰ１の入力端子に接続される。抵抗１３ａは、センサケーブルの特性インピーダンスに等しいインピーダンスＺを有するが、一方、インピーダンス素子１４ａと１４ｂは、各々Ｚ／２に等しいインピーダンスを有する。インダクタンスコイル１６は、タップ１６ｂと１６ｄの間でインダクタンスＬ２を示し、コンデンサ１４ｂと共に並列共振回路を形成し、これは、上述した条件によりバンドパスフィルタ部に通過帯域を与えるように同調される。インピーダンス素子１３ａ、コンデンサ１３ｂ、インダクタンスコイル１３ｃにより形成される直列共振回路は、上記の並列共振回路と協力して、検出に関連する周波数範囲にわたり一定のインピーダンスを供給するように調整される。図４Ｂを参照して説明する実施例において、テスト対象物に関係ある周波数範囲のための通過帯域は、テスト中にセンサのインダクタンスとセンサケーブルの長さの許容誤差と変化に関係なくなる。それに加えて、インダクタンスコイル１６は、速度比ｎ２／ｎ１、典型的には５倍程度でセンサ信号のノイズ除去前置増幅を行う。過電圧に対して同調部に含まれる構成装置を保護するため、放電管１９ａ、１９ｂがセンサケーブルのそれぞれのワイヤと接地面の間に接続され、またダイオード２０ａ、２０ｂ、２１ａ、２１ｂが、それぞれ逆並列接続の２つのダイオードを含み、信号ゼロとそれぞれの導線１５ａ、１５ｂと増幅部の入力端子の間を接続している。本発明は、示された実施例に限定されるものでなく、発明の概念の範囲内で多数の修正が実現可能である。この装置は、ブロック図の形式で諸図に示したような論理回路と時間遅れ回路を含み、全部または一部をアナログまたはデジタルの電気回路またはプログラム機能として、例えば、この目的のためにマイクロプロセッサで設計できる。本願においては、それぞれの回路への入力信号または出力信号は、電気／論理信号または計算値で構成され得ることが理解される。図３Ｂおよび図３Ｃを参照して説明した遅延部もまた、適当な長さに調節して、センサケーブルと同一または類似のものとして都合良く設計できる。図４Ｂを参照して説明して遅延部は、磁気コア無しで設計できる。図２Ｃによる実施例を参照して説明した同調周波数ω２とω３および２倍間隔と３倍間隔の間の関係は、検出装置の最大感度を達成するために選択される。原則として、３倍、５倍、７倍など、指摘された比率よりも高い同調周波数も満足すべき感度を供給できる。例えば、ホール素子、磁気抵抗素子または超伝導素子、いわゆるＳＱＵＩＤなど、電流パルスにより発生される磁界の直接感度検出を供給するもので、周知の他の諸原理にも、これらのセンサは基づくことができる。

【手続補正書】【提出日】平成１１年１１月２２日（１９９９．１１．２２）【補正内容】 1. 明細書を以下の通りに訂正する。 (1) 同書第８ページ、第２１行の「第１の遅延センサ信号」を『第２の遅延センサ信号』に訂正する。 (2) 同書第１２ページ、第７行の「第１のセンサｖ１」を『第１のセンサ２ａ』に訂正する。 (3) 同書第１２ページ、第９行の「第２のセンサｖ２」を『第２のセンサ２ｂ』に訂正する。 2. 請求の範囲を別紙の通りに補正する。請求の範囲 1. 好ましくはケーブル継手である２つの電気接続導体（１ａ、１ｂ、１ｃ、１ｄ）を有するテスト対象物（１）の放電を検出する装置であって、評価装置（ＥＶＵ）および少なくとも第１のセンサと第２のセンサ（２ａ、２ｂ、２ｃ、２ｄ）を含み、各センサは、電流パルスにより発生される磁界を検出することにより、接続導体の対応する１つを通じて方向性を検出し、前記電流パルスとその方向に従って検出信号を発生し評価装置に供給し、前記第１のセンサは、第１の検出信号（ｖ１）を発生および供給し、前記第２のセンサは、第２の検出信号（ｖ２）を発生および供給し、前記第１の検出信号と第２の検出信号は、第１の相互間隔（Ｌ１）で配置され、前記テスト対象物を通過する電流パルスから生成する検出信号の第１の時間間隔（△Ｔ１’）に対応し、前記評価装置は、受信検出信号に従って表示信号（ＩＮＤ）を発生し、この表示信号は、２つの接続導体を通じてテスト対象物から離れる方向、または２つの接続導体を通じてテスト対象物の方向に流れる電流パルスを前記センサが検出するとき、テスト対象物の放電を表示する前記装置であって、前記評価装置は、前記第１のセンサに結合する第１の同調部（Ｔ１）と第２のセンサに結合する第２の同調部を含み、各同調部は、それぞれの検出信号に従つて第１のフィルタ信号（ＳＦ１）と第２のフィルタ信号（ＳＦ２）をそれぞれ発生し、各フィルタ信号は、前記第１の時間間隔よりも長い所定の周期時間（ＴＰ）で周期的に振動し、前記フィルタ信号が供給される乗算部（ＭＵ）は、積信号（ＳＰ）を形成し、前記評価装置は、前記積信号に従って前記表示信号を形成して成ることを特徴とする前記装置。 2. 前記同調部は、それぞれ前記周期時間に対応する角周波数において共振するように同調された共振回路（ＲＥＳＤ１、ＲＥＳＤ２）を含み、前記共振回路は、予め選択された周期時間（ＴＤ）のすくなくとも２つの周期に対応する遅延時間（ＴＤ）を有し、前記共振回路は、それぞれの検出信号に従って形成される信号が供給され、前記同調部は、それぞれ前記共振回路からの出力信号に従って前記フィルタ信号を形成することを特徴とする請求項１記載の装置。 3. 前記同調回路は、それぞれ前記周期時間に対応する角周波数を含む通過帯域および前記遅延時間に対応する帯域幅を有するバンドパスフィルタ部（ＢＰＤ１、ＢＰＤ２）を含み、前記バンドパスフィルタ部は、それぞれの検出信号に従って形成された信号が供給され、前記同調回路は、それぞれのバンドパスフィルタ部からの出力信号に従って前記フィルタ信号を形成することを特徴とする請求項１−３のいずれかに記載の装置。 4. 前記センサにそれぞれ結合する伝送線（３ａ、３ｂ、３ｃ、３ｄ）を経由して前記評価装置に前記信号が伝送される請求項１−３のいずれかに記載の装置であって、さらにそれぞれの伝送線に接続された手段（ＩＭＰＤ、６ａ、６ｂ）を含み、少なくとも前記伝送線の特性インピーダンス（ｚ）にほぼ等しいインピーダンスで各伝送線を終端させることを特徴とする前記装置。 5. 前記評価装置は、第１のセンサに結合する第１の遅延部（Ｄ１）と第２のセンサに結合する第２の遅延部（Ｄ２）を含み、前記第１の遅延部は、第１の検出信号と選択的な第１の時間遅れ（△Ｔ１）だけ遅延された第２の検出信号との差に従って第１の測定信号（ＳＭＥ１）を形成し、前記第２の遅延部は、第２の検出信号と選択的な前記第１の時間遅れだけ遅延された第１の検出信号との差に従って第２の測定信号（ＳＭＥ２）を形成し、前記第１の同調部は、第１の測定信号が供給され、第１のフィルタ信号を形成し、前記第２の同調部は、第２の測定信号が供給され、第２のフィルタ信号を形成することを特徴とする請求項１− ４のいずれかに記載の装置。 6. 前記第１の同調部と前記第２の同調部は、前記第１のフィルタ信号と前記第２のフィルタ信号をそれぞれ形成し、１０ｋＨｚから１０ＭＨｚの範囲内に位置する周波数に対応する周期で発振することを特徴とする請求項１−５のいずれかに記載の装置。 7. 前記接続導体を通じて電流パルスの方向性を検出する第３のセンサと第４のセンサ（２ｃ、２ｄ）を含み、前記第３のセンサは、前記第１のセンサと同一の接続導体の前記第３のセンサは、前記評価装置に第３の信号（ｖ３）を発生および供給し、前記第２のセンサと同一の接続導体の前記第４のセンサは、前記評価装置に第４の信号（ｖ４）を発生および供給し、前記第１のセンサと前記第３のセンサは、テスト対象物を通る電流パルスから生じる検出信号の第２の時間間隔（△Ｔ２’）に対応する第２の相互間隔（Ｌ２）で配置され、前記第２のセンサと前記第４のセンサは、テスト対象物を通る電流パルスから生じる検出信号の第３の時間間隔（△Ｔ３’）に対応する第３の相互間隔（Ｌ３）で配置される前記装置であって、前記評価装置は、前記第３のセンサに結合する第３の遅延部（Ｄ３）と前記第４のセンサに結合する第４の遅延部（Ｄ４）を含み、前記第３の遅延部は、前記第１の検出信号と選択的な第２の時間遅れ（△Ｔ２）だけ遅延された前記第３のセンサ信号との差に従って第３の測定信号（ＳＭＥ３）を形成し、前記第４の遅延部は、前記第２の検出信号と選択的な第３の時間遅れ（△Ｔ３）だけ遅延された前記第４の検出信号との差に従って第４の測定信号（ＳＭＥ４）を形成し、第１の同調部は、第３の測定信号が供給され、第１のフィルタ信号を形成し、第２の同調部は、第４の測定信号が供給され、第２のフィルタ信号を形成することを特徴とする請求項１−４のいずれかに記載の前記装置。 8. 前記第２の時間間隔は、少なくともほぼ前記第３の時間間隔に等しく、前記第１の同調部と前記第２の同調部は、前記第１のフィルタ信号と前記第２のフィルタ信号をそれぞれ形成し、前記第２の時間間隔よりも４倍長い周期時間で発振することを特徴とする請求項７記載の装置。 9. 前記遅延部は、ケーブル（４ａ、４ｂ）からなることを特徴とする請求項５および６のいずれかに記載の装置。 10．前記同調部は、それぞれ並列共振回路（１４ｂ、１６）に並列に接続された直列共振回路（１３ａ、１３ｂ、１３ｃ）を含み、前記検出信号が供給され、前記検出に関連する周波数範囲にわたり一定のインピーダンスを前記周波数範囲に対して示すように同調されることを特徴とする請求項１−９のいずれかに記載の装置。 11．前記センサは、それぞれ接続コンデンサの周りに配置された少なくとも１つのロゴスキーコイル（２ａ、２ｂ、２ｃ）を含む請求項１−１０のいずれかに記載の装置。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (81)指定国ＥＰ(ＡＴ，ＢＥ，ＣＨ，ＤＥ，ＤＫ，ＥＳ，ＦＩ，ＦＲ，ＧＢ，ＧＲ，ＩＥ，ＩＴ，ＬＵ，ＭＣ，ＮＬ，ＰＴ，ＳＥ)，ＯＡ(ＢＦ，ＢＪ，ＣＦ，ＣＧ，ＣＩ，ＣＭ，ＧＡ，ＧＮ，ＭＬ，ＭＲ，ＮＥ，ＳＮ，ＴＤ，ＴＧ)，ＡＰ(ＧＨ，ＧＭ，ＫＥ，ＬＳ，ＭＷ，ＳＤ，ＳＺ，ＵＧ，ＺＷ)，ＥＡ(ＡＭ，ＡＺ，ＢＹ，ＫＧ，ＫＺ，ＭＤ，ＲＵ，ＴＪ，ＴＭ)，ＡＬ，ＡＵ，ＢＡ，ＢＢ，ＢＧ，ＢＲ，ＣＡ，ＣＮ，ＣＵ，ＣＺ，ＥＥ，ＧＥ，ＧＷ，ＨＵ，ＩＤ，ＩＬ，ＩＳ，ＪＰ，ＫＰ，ＫＲ，ＬＣ，ＬＫ，ＬＲ，ＬＴ，ＬＶ，ＭＧ，ＭＫ，ＭＮ，ＭＸ，ＮＯ，ＮＺ，ＰＬ，ＲＯ，ＳＧ，ＳＩ，ＳＫ，ＳＬ，ＴＲ，ＴＴ，ＵＡ，ＵＳ，ＵＺ，ＶＮ，ＹＵ

Claims

【特許請求の範囲】 1. 好ましくはケーブル継手である２つの電気接続導体（１ａ、１ｂ、１ｃ、１ｄ）を有するテスト対象物（１）の放電を検出する装置であって、評価装置（ＥＶＵ）および少なくとも第１のセンサと第２のセンサ（２ａ、２ｂ、２ｃ、２ｄ）を含み、各センサは、電流パルスにより発生される磁界を検出することにより、接続導体の対応する１つを通じて方向性を検出し、前記電流パルスとその方向に従って検出信号を発生し評価装置に供給し、前記第１のセンサは、第１の検出信号（ｖ１）を発生および供給し、前記第２のセンサは、第２の検出信号（ｖ２）を発生および供給し、前記第１の検出信号と第２の検出信号は、第１の相互間隔（Ｌ１）で配置され、前記テスト対象物を通過する電流パルスから生成する検出信号の第１の時間間隔（△Ｔ１’）に対応し、前記評価装置は、受信検出信号に従って表示信号（ＩＮＤ）を発生し、この表示信号は、２つの接続導体を通じてテスト対象物から離れる方向、または２つの接続導体を通じてテスト対象物の方向に流れる電流パルスを前記センサが検出するとき、テスト対象物の放電を表示する前記装置であって、前記評価装置は、前記第１のセンサに結合する第１の同調部（Ｔ１）と第２のセンサに結合する第２の同調部を含み、各同調部は、それぞれの検出信号に従って第１のフィルタ信号（ＳＦ１）と第２のフィルタ信号（ＳＦ２）をそれぞれ発生し、各フィルタ信号は、前記第１の時間間隔よりも長い所定の周期時間（ＴＰ）で周期的に振動し、前記フィルタ信号が供給される乗算部（ＭＵ）は、積信号（ＳＰ）を形成し、前記評価装置は、前記積信号に従って前記表示信号を形成して成ることを特徴とする前記装置。 2. 前記同調部は、それぞれ前記周期時間に対応する角周波数において共振するように同調された共振回路（ＲＥＳＤ１、ＲＥＳＤ２）を含み、前記共振回路は、それぞれの検出信号に従って形成される信号が供給され、前記同調部は、それぞれ前記共振回路からの出力信号に従って前記フィルタ信号を形成することを特徴とする請求項１記載の装置。 3. 前記同調回路は、それぞれ前記周期時間に対応する角周波数を含む通過帯域および前記遅延時間に対応する帯域幅を有するバンドパスフィルタ部（ＢＰＤ１、ＢＰＤ２）を含み、前記バンドパスフィルタ部は、それぞれの検出信号に従って形成された信号が供給され、前記同調回路は、それぞれのバンドパスフィルタ部からの出力信号に従って前記フィルタ信号を形成することを特徴とする請求項１−３のいずれかに記載の装置。 4. 前記センサにそれぞれ結合する伝送線（３ａ、３ｂ、３ｃ、３ｄ）を経由して前記評価装置に前記信号が伝送される請求項１−３のいずれかに記載の装置であって、さらにそれぞれの伝送線に接続された手段（ＩＭＰＤ、６ａ、６ｂ）を含み、少なくとも前記伝送線の特性インピーダンス（ｚ）にほぼ等しいインピーダンスで各伝送線を終端させることを特徴とする前記装置。 5. 前記評価装置は、第１のセンサに結合する第１の遅延部（Ｄ１）と第２のセンサに結合する第２の遅延部（Ｄ２）を含み、前記第１の遅延部は、第１の検出信号と選択的な第１の時間遅れ（△Ｔ１）だけ遅延された第２の検出信号との差に従って第１の測定信号（ＳＭＥ１）を形成し、前記第２の遅延部は、第２の検出信号と選択的な前記第１の時間遅れだけ遅延された第１の検出信号との差に従って第２の測定信号（ＳＭＥ２）を形成し、前記第１の同調部は、第１の測定信号が供給され、第１のフィルタ信号を形成し、前記第２の同調部は、第２の測定信号が供給され、第２のフィルタ信号を形成することを特徴とする請求項１− ４のいずれかに記載の装置。 6. 前記第１の同調部と前記第２の同調部は、前記第１のフィルタ信号と前記第２のフィルタ信号をそれぞれ形成し、１０ｋＨｚから１０ＭＨｚの範囲内に位置する周波数に対応する周期で発振することを特徴とする請求項１−５のいずれかに記載の装置。 7. 前記接続導体を通じて電流パルスの方向性を検出する第３のセンサと第４のセンサ（２ｃ、２ｄ）を含み、前記第３のセンサは、前記第１のセンサと同一の接続導体の前記第３のセンサは、前記評価装置に第３の信号（ｖ３）を発生および供給し、前記第２のセンサと同一の接続導体の前記第４のセンサは、前記評価装置に第４の信号（ｖ４）を発生および供給し、前記第１のセンサと前記第３のセンサは、テスト対象物を通る電流パルスから生じる検出信号の第２の時間間隔（△Ｔ２’）に対応する第２の相互間隔（Ｌ２）で配置され、前記第２のセンサと前記第４のセンサは、テスト対象物を通る電流パルスから生じる検出信号の第３の時間間隔（△Ｔ３’）に対応する第３の相互間隔（Ｌ３）で配置される前記装置であって、前記評価装置は、前記第３のセンサに結合する第３の遅延部（Ｄ３）と前記第４のセンサに結合する第４の遅延部（Ｄ４）を含み、前記第３の遅延部は、前記第１の検出信号と選択的な第２の時間遅れ（△Ｔ２）だけ遅延された前記第３のセンサ信号との差に従って第３の測定信号（ＳＭＥ３）を形成し、前記第４の遅延部は、前記第２の検出信号と選択的な第３の時間遅れ（△Ｔ３）だけ遅延された前記第４の検出信号との差に従って第４の測定信号（ＳＭＥ４）を形成し、第１の同調部は、第３の測定信号が供給され、第１のフィルタ信号を形成し、第２の同調部は、第４の測定信号が供給され、第２のフィルタ信号を形成することを特徴とする請求項１−４のいずれかに記載の前記装置。 8. 前記時間間隔は、少なくともほぼ前記第３の時間間隔に等しく、前記第１の同調部と前記第２の同調部は、前記第１のフィルタ信号と前記第２のフィルタ信号をそれぞれ形成し、前記第２の時間間隔よりも４倍長い周期時間で発振することを特徴とする請求項７記載の装置。 9. 前記遅延部は、ケーブル（４ａ、４ｂ）からなることを特徴とする請求項５および６のいずれかに記載の装置。 10．前記同調部は、それぞれ並列共振回路（１４ｂ、１６）に並列に接続された直列共振回路（１３ａ、１３ｂ、１３ｃ）を含み、前記検出信号が供給され、前記検出に関連する周波数範囲にわたり一定のインピーダンスを前記周波数範囲に対して示すように同調されることを特徴とする請求項１−９のいずれかに記載の装置。 11．前記センサは、それぞれ接続コンデンサの周りに配置された少なくとも１つのロゴスキーコイル（２ａ、２ｂ、２ｃ）を含む請求項１−１０のいずれかに記載の装置。