JP3097424U - 光ディスク装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】何らかの原因により電源供給回路による電源供給が不可能な場合でも、静電気やサージ電流によるレーザダイオードの劣化や破壊を防止可能にする。
【解決手段】リレー3は、スイッチ31と電磁石32とを有している。スイッチ31は、平常時クローズするようにバネなどで付勢されている。電圧検出回路2からリレー3にVref(≠0)が印加された場合、電磁石32はバネの付勢に抗した磁気力をスイッチ31に加えスイッチ31をオープンにする。この場合、レーザダイオード41は駆動回路13から供給された電圧により発光可能である。一方、電圧検出回路2から印加される電圧Vref=0の場合、電磁石32は磁気力を失うため、バネの付勢によりスイッチ31はクローズし、アノード側端子16とカソード側端子17とがショート(短絡)する。
【選択図】 図1
【解決手段】リレー3は、スイッチ31と電磁石32とを有している。スイッチ31は、平常時クローズするようにバネなどで付勢されている。電圧検出回路2からリレー3にVref(≠0)が印加された場合、電磁石32はバネの付勢に抗した磁気力をスイッチ31に加えスイッチ31をオープンにする。この場合、レーザダイオード41は駆動回路13から供給された電圧により発光可能である。一方、電圧検出回路2から印加される電圧Vref=0の場合、電磁石32は磁気力を失うため、バネの付勢によりスイッチ31はクローズし、アノード側端子16とカソード側端子17とがショート(短絡)する。
【選択図】 図1
Description
【0001】
【考案の属する技術分野】
本考案は、光ディスク装置に用いられるレーザダイオードの保護に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来、CD、DVDなどの光ディスクに記録されているデータの読み取りや、データの書き込みを行う光ディスク装置の光ピックアップに用いられるレーザダイオードの保護回路として、様々なものが考案されている。
【0003】
例えば、実開平6−52018号公報(以下、文献1)には、電源電圧が定常状態に安定するまでレーザダイオードへの通電を遮断する技術が開示されている。文献1によると、レーザダイオード211と並列にトランジスタ251を接続する。電源電圧Vccが主制御部24のCPUを正常に動作できる電圧になっていない場合、レーザダイオード保護回路25の比較器256から出力されるイネーブル信号ENの電圧レベルをローレベルに設定し、トランジスタ251をオン状態にして、レーザダイオード211のアノード・カソード間を短絡する。そして、電源電圧Vccが主制御部24のCPUを正常に動作できる電圧になった場合、比較器256から出力されるイネーブル信号ENの電圧レベルをハイレベルに設定し、トランジスタ251をオフ状態にして、レーザダイオード211への通電を可能にする。
【0004】
また、例えば、実開平4−241485号公報(以下、文献2)には、電源電圧の異常が検出された場合レーザダイオードへの電源を遮断する技術が開示されている。文献2によると、電源モニタ15は入力端電圧を監視し、電圧異常を検出して異常信号を出力する。電源ブレーカ16はその異常信号または遮断信号に応じて電源12を遮断する。
【0005】
また、例えば、特開昭62−12177号公報(以下、文献3)には、電源が定常状態でないときにはレーザダイオードにバイアス電流を流さない技術が開示されている。文献3によると、電源電源20が定常状態でない場合、スイッチ23をオフにし、レーザダイオード11にバイアス電流19を流さないようにする。
【0006】
【考案が解決する課題】
文献1の技術は、電源電圧の低下によるレーザダイオードの劣化や破壊を防止することができる。しかし、何らかの原因でトランジスタ251への電源供給が不可能な場合はレーザダイオード211のアノード・カソード間を短絡できない。この場合、レーザダイオード211の端子に静電気やサージが加わり、レーザの劣化や破壊を起こす可能性がある。
【0007】
文献2の技術は、電圧異常によるレーザダイオードの破損を防ぐことができる。しかし、電源ブレーカ16が電源12を遮断しても、レーザダイオードの端子に静電気やサージが加わる可能性があるため、レーザの劣化や破壊を起こす可能性がある。
【0008】
文献3の技術は、電源電圧の異常によるレーザダイオードの破損を防ぐことができる。しかし、スイッチ23をオフにしても、レーザダイオード11の端子に静電気やサージが加わる可能性があるため、レーザダイオード11の劣化や破壊を起こす可能性がある。
【0009】
本考案の目的は、何らかの原因により電源供給回路による電源供給が不可能な場合でも、静電気やサージ電流によるレーザダイオードの劣化や破壊を防止可能にすることにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】
請求項1記載の考案は、レーザダイオードへ電源を供給する電源供給回路における前記レーザダイオードのアノード側の端子の電圧を検出する電圧検出回路と、前記電圧検出回路が検出した電圧が零の場合、前記レーザダイオードのアノード側とカソード側とを短絡する機械スイッチとを備えることを特徴とする光ディスク装置である。
【0011】
請求項2記載の考案は、レーザダイオードへ電源を供給する電源供給回路における所定の地点の電圧を検出する電圧検出回路と、前記電圧検出回路が検出した電圧が零の場合、前記レーザダイオードのアノード側とカソード側とを短絡する機械スイッチとを備えることを特徴とする光ディスク装置である。
【0012】
本考案によると、レーザダイオードへ電源を供給する電源供給回路の所定の地点における電圧が零の場合、レーザダイオードのアノード側とカソード側とが機械スイッチにより短絡される。即ち、電源供給回路の電源オフ、故障、断線、レーザダイオードの電源供給回路への接続ミスなど何らかの原因で電源供給回路による電源供給が不可能な状態でも、静電気やサージ電流は短絡されたリレーを迂回して流れ、レーザダイオードには流れない。従って、電源供給回路に問題が生じ電源供給が不可能であっても静電気やサージ電流によるレーザダイオードの劣化や破壊を防ぐことができる。また、レーザダイオードの位置合わせ作業などにおいて、レーザダイオードの取り扱いが容易になる。
【0013】
請求項3記載の考案は、前記所定の地点は、前記レーザダイオードのアノード側の端子であることを特徴とする請求項2記載の光ディスク装置である。
【0014】
本考案によると、レーザダイオードのアノード側の端子における電圧が零の場合、レーザダイオードのアノード側とカソード側とが短絡される。即ち、電源供給回路の電源オフ、故障、断線、レーザダイオードの電源供給回路への接続ミスなど何らかの原因で電源供給回路による電源供給が不可能な状態でも、静電気やサージ電流は短絡されたリレーを迂回して流れ、レーザダイオードには流れない。従って、電源供給回路に問題が生じても静電気やサージ電流によるレーザダイオードの劣化や破壊を防ぐことができる。
【0015】
請求項4記載の考案は、前記所定の地点は、前記電源供給回路に含まれる前記レーザダイオードの駆動回路の出力端子であることを特徴とする請求項2記載の光ディスク装置である。
【0016】
本考案によると、レーザダイオードの駆動回路の出力端子における電圧が零の場合、レーザダイオードのアノード側とカソード側とが短絡される。即ち、レーザダイオードの駆動回路の故障、断線、接続ミスなど何らかの原因で電源供給回路による電源供給が不可能な状態でも、静電気やサージ電流は短絡されたリレーを迂回して流れ、レーザダイオードには流れない。従って、駆動回路に問題が生じても静電気やサージ電流によるレーザダイオードの劣化や破壊を防ぐことができる。
【0017】
請求項5記載の考案は、前記所定の地点は、前記電源供給回路に含まれる前記電源変換回路の出力端子であることを特徴とする請求項2記載の光ディスク装置である。
【0018】
本考案によると、電源変換回路の出力端子における電圧が零の場合、レーザダイオードのアノード側とカソード側とが短絡される。即ち、電源変換回路の故障、断線、接続ミスなど電源変換回路に関する何らかの原因で電源変換回路が電源供給不可能な状態でも、静電気やサージ電流は短絡されたリレーを迂回して流れ、レーザダイオードには流れない。従って、電源変換回路に問題が生じても静電気やサージ電流によるレーザダイオードの劣化や破壊を防ぐことができる。
【0019】
【考案の実施の形態】
<第1実施形態>
図1は、本考案の第1実施形態に係る光ディスク装置の回路図である。この光ディスク装置は、電源供給回路1、電圧検出回路2、リレー3及び光ピックアップ4を備えている。光ピックアップ4は、レーザダイオード41、ビームスプリッタ42、対物レンズ43及び再生部44を有している。レーザダイオード41は、レーザ光Lをビームスプリッタ42に照射する。ビームスプリッタ42は、レーザ光Lを対物レンズ43に反射する。対物レンズ43は、レーザ光Lを集光して光ディスク100に照射する。ビームスプリッタ42は、光ディスク100からの反射光L’を再生部44に通過させる。再生部44は、反射光L’から検出される情報を再生する。
【0020】
電源供給回路1は、電源変換回路11及び駆動回路13を有している。電源変換回路11は、商用電源などから供給される電流を所定の電圧Vcc(例えば5V)に変換し、出力端子12に出力する。駆動回路13は、出力端子12から出力される電圧Vccをパルス変換するなどして、出力端子14に出力する。分岐部15は、出力端子14とレーザダイオード41のアノード側端子16とを接続する一方、出力端子14とリレー3とを接続する。電圧検出回路2は、直列接続した抵抗器21、22によってアノード側端子16の電圧を分圧した電圧Vrefを検出し、リレー3に印加する。リレー3は、レーザダイオード41のアノード側端子16とカソード側端子17との接続をショートまたはオープンにする。
【0021】
リレー3は、スイッチ31と電磁石32とを有している。スイッチ31は、平常時クローズするようにバネなどで付勢されている。電圧検出回路2からリレー3にVref(≠0)が印加された場合、電磁石32はバネの付勢に抗した磁気力をスイッチ31に加えスイッチ31をオープンにする。この場合、レーザダイオード41は駆動回路13から供給された電圧により発光可能である。一方、電圧検出回路2から印加される電圧Vref=0の場合、電磁石32は磁気力を失うため、バネの付勢によりスイッチ31はクローズし、アノード側端子16とカソード側端子17とがショート(短絡)する。
【0022】
即ち、電源変換回路11や駆動回路13の故障、駆動回路13からレーザダイオード41までの配線の断線、分岐部15の切断、出力端子12、14、分岐部15の接続ミス、電源供給回路1の電源オフなど、何らかの原因で電源供給回路1からレーザダイオード41への電源供給が不可能なためにVref=0となった場合、アノード側端子16とカソード側端子17とがショートする。この場合、電源供給回路1からレーザダイオード41へ静電気やサージ電流が加えられても、レーザダイオード41には電流が流れず、リレー3を介して流れる。従って、レーザダイオード41に静電気やサージが加わることでレーザダイオード41が劣化したり破壊したりすることを防ぐことができる。また、レーザダイオード41の位置合わせ作業などにおいて、レーザダイオード41の取り扱いが容易になる。
【0023】
<第2実施形態>
図2は、本考案の第2実施形態に係る光ディスク装置の回路図である。この光ディスク装置は、第1実施形態と同様、電源供給回路1、電圧検出回路2、リレー3及び光ピックアップ4を備えている。電源供給回路1、リレー3及び光ピックアップ4の機能は第1実施形態と同様であるため説明を省略する。電圧検出回路2は、第1実施形態と異なり出力端子12の電圧Vrefを検出してリレー3に印加する。リレー3は、Vref=0の場合、アノード側端子16とカソード側端子17とがショート(短絡)する。
【0024】
このようにすれば、電源変換回路11の故障や断線など、電源変換回路11に関係する何らかの原因で電源供給回路1からレーザダイオード41への電源供給が不可能なためにVref=0となった場合、アノード側端子16とカソード側端子17とがショートする。この場合、電源供給回路1からレーザダイオード41へ静電気やサージ電流が加えられても、レーザダイオード41には電流が流れず、リレー3を介して流れる。従って、レーザダイオード41に静電気やサージが加わることでレーザダイオード41が劣化したり破壊したりすることを防ぐことができる。また、レーザダイオード41の位置合わせ作業などにおいて、レーザダイオード41の取り扱いが容易になる。
【0025】
<その他の実施形態>
電圧検出回路2が電圧を検出する箇所は、上記以外であってもよい。例えば、図3に示すように出力端子14の電圧を検出するようにしてもよい。あるいは、分岐部15の電圧を検出するようにしてもよい。このようにしても、何らかの原因でVref=0となった場合、アノード側端子16とカソード側端子17とがショートし、静電気やサージによるレーザダイオード41の劣化や破壊を防ぐことができる。
【0026】
【考案の効果】
本考案によると、何らかの原因で電源供給回路による電源供給が不可能であっても静電気やサージ電流によるレーザダイオードの劣化や破壊を防ぐことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】第1実施形態に係る光ディスク装置の回路図。
【図2】第2実施形態に係る光ディスク装置の回路図。
【図3】その他の実施形態に係る光ディスク装置の回路図。
【符号の説明】
1:電源供給回路
11:電源変換回路
12、14:出力端子
13:駆動回路
15:分岐部
16:アノード端子
17:カソード端子
3:リレー
31:スイッチ
32:電磁石
4:光ピックアップ
100:光ディスク
【考案の属する技術分野】
本考案は、光ディスク装置に用いられるレーザダイオードの保護に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来、CD、DVDなどの光ディスクに記録されているデータの読み取りや、データの書き込みを行う光ディスク装置の光ピックアップに用いられるレーザダイオードの保護回路として、様々なものが考案されている。
【0003】
例えば、実開平6−52018号公報(以下、文献1)には、電源電圧が定常状態に安定するまでレーザダイオードへの通電を遮断する技術が開示されている。文献1によると、レーザダイオード211と並列にトランジスタ251を接続する。電源電圧Vccが主制御部24のCPUを正常に動作できる電圧になっていない場合、レーザダイオード保護回路25の比較器256から出力されるイネーブル信号ENの電圧レベルをローレベルに設定し、トランジスタ251をオン状態にして、レーザダイオード211のアノード・カソード間を短絡する。そして、電源電圧Vccが主制御部24のCPUを正常に動作できる電圧になった場合、比較器256から出力されるイネーブル信号ENの電圧レベルをハイレベルに設定し、トランジスタ251をオフ状態にして、レーザダイオード211への通電を可能にする。
【0004】
また、例えば、実開平4−241485号公報(以下、文献2)には、電源電圧の異常が検出された場合レーザダイオードへの電源を遮断する技術が開示されている。文献2によると、電源モニタ15は入力端電圧を監視し、電圧異常を検出して異常信号を出力する。電源ブレーカ16はその異常信号または遮断信号に応じて電源12を遮断する。
【0005】
また、例えば、特開昭62−12177号公報(以下、文献3)には、電源が定常状態でないときにはレーザダイオードにバイアス電流を流さない技術が開示されている。文献3によると、電源電源20が定常状態でない場合、スイッチ23をオフにし、レーザダイオード11にバイアス電流19を流さないようにする。
【0006】
【考案が解決する課題】
文献1の技術は、電源電圧の低下によるレーザダイオードの劣化や破壊を防止することができる。しかし、何らかの原因でトランジスタ251への電源供給が不可能な場合はレーザダイオード211のアノード・カソード間を短絡できない。この場合、レーザダイオード211の端子に静電気やサージが加わり、レーザの劣化や破壊を起こす可能性がある。
【0007】
文献2の技術は、電圧異常によるレーザダイオードの破損を防ぐことができる。しかし、電源ブレーカ16が電源12を遮断しても、レーザダイオードの端子に静電気やサージが加わる可能性があるため、レーザの劣化や破壊を起こす可能性がある。
【0008】
文献3の技術は、電源電圧の異常によるレーザダイオードの破損を防ぐことができる。しかし、スイッチ23をオフにしても、レーザダイオード11の端子に静電気やサージが加わる可能性があるため、レーザダイオード11の劣化や破壊を起こす可能性がある。
【0009】
本考案の目的は、何らかの原因により電源供給回路による電源供給が不可能な場合でも、静電気やサージ電流によるレーザダイオードの劣化や破壊を防止可能にすることにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】
請求項1記載の考案は、レーザダイオードへ電源を供給する電源供給回路における前記レーザダイオードのアノード側の端子の電圧を検出する電圧検出回路と、前記電圧検出回路が検出した電圧が零の場合、前記レーザダイオードのアノード側とカソード側とを短絡する機械スイッチとを備えることを特徴とする光ディスク装置である。
【0011】
請求項2記載の考案は、レーザダイオードへ電源を供給する電源供給回路における所定の地点の電圧を検出する電圧検出回路と、前記電圧検出回路が検出した電圧が零の場合、前記レーザダイオードのアノード側とカソード側とを短絡する機械スイッチとを備えることを特徴とする光ディスク装置である。
【0012】
本考案によると、レーザダイオードへ電源を供給する電源供給回路の所定の地点における電圧が零の場合、レーザダイオードのアノード側とカソード側とが機械スイッチにより短絡される。即ち、電源供給回路の電源オフ、故障、断線、レーザダイオードの電源供給回路への接続ミスなど何らかの原因で電源供給回路による電源供給が不可能な状態でも、静電気やサージ電流は短絡されたリレーを迂回して流れ、レーザダイオードには流れない。従って、電源供給回路に問題が生じ電源供給が不可能であっても静電気やサージ電流によるレーザダイオードの劣化や破壊を防ぐことができる。また、レーザダイオードの位置合わせ作業などにおいて、レーザダイオードの取り扱いが容易になる。
【0013】
請求項3記載の考案は、前記所定の地点は、前記レーザダイオードのアノード側の端子であることを特徴とする請求項2記載の光ディスク装置である。
【0014】
本考案によると、レーザダイオードのアノード側の端子における電圧が零の場合、レーザダイオードのアノード側とカソード側とが短絡される。即ち、電源供給回路の電源オフ、故障、断線、レーザダイオードの電源供給回路への接続ミスなど何らかの原因で電源供給回路による電源供給が不可能な状態でも、静電気やサージ電流は短絡されたリレーを迂回して流れ、レーザダイオードには流れない。従って、電源供給回路に問題が生じても静電気やサージ電流によるレーザダイオードの劣化や破壊を防ぐことができる。
【0015】
請求項4記載の考案は、前記所定の地点は、前記電源供給回路に含まれる前記レーザダイオードの駆動回路の出力端子であることを特徴とする請求項2記載の光ディスク装置である。
【0016】
本考案によると、レーザダイオードの駆動回路の出力端子における電圧が零の場合、レーザダイオードのアノード側とカソード側とが短絡される。即ち、レーザダイオードの駆動回路の故障、断線、接続ミスなど何らかの原因で電源供給回路による電源供給が不可能な状態でも、静電気やサージ電流は短絡されたリレーを迂回して流れ、レーザダイオードには流れない。従って、駆動回路に問題が生じても静電気やサージ電流によるレーザダイオードの劣化や破壊を防ぐことができる。
【0017】
請求項5記載の考案は、前記所定の地点は、前記電源供給回路に含まれる前記電源変換回路の出力端子であることを特徴とする請求項2記載の光ディスク装置である。
【0018】
本考案によると、電源変換回路の出力端子における電圧が零の場合、レーザダイオードのアノード側とカソード側とが短絡される。即ち、電源変換回路の故障、断線、接続ミスなど電源変換回路に関する何らかの原因で電源変換回路が電源供給不可能な状態でも、静電気やサージ電流は短絡されたリレーを迂回して流れ、レーザダイオードには流れない。従って、電源変換回路に問題が生じても静電気やサージ電流によるレーザダイオードの劣化や破壊を防ぐことができる。
【0019】
【考案の実施の形態】
<第1実施形態>
図1は、本考案の第1実施形態に係る光ディスク装置の回路図である。この光ディスク装置は、電源供給回路1、電圧検出回路2、リレー3及び光ピックアップ4を備えている。光ピックアップ4は、レーザダイオード41、ビームスプリッタ42、対物レンズ43及び再生部44を有している。レーザダイオード41は、レーザ光Lをビームスプリッタ42に照射する。ビームスプリッタ42は、レーザ光Lを対物レンズ43に反射する。対物レンズ43は、レーザ光Lを集光して光ディスク100に照射する。ビームスプリッタ42は、光ディスク100からの反射光L’を再生部44に通過させる。再生部44は、反射光L’から検出される情報を再生する。
【0020】
電源供給回路1は、電源変換回路11及び駆動回路13を有している。電源変換回路11は、商用電源などから供給される電流を所定の電圧Vcc(例えば5V)に変換し、出力端子12に出力する。駆動回路13は、出力端子12から出力される電圧Vccをパルス変換するなどして、出力端子14に出力する。分岐部15は、出力端子14とレーザダイオード41のアノード側端子16とを接続する一方、出力端子14とリレー3とを接続する。電圧検出回路2は、直列接続した抵抗器21、22によってアノード側端子16の電圧を分圧した電圧Vrefを検出し、リレー3に印加する。リレー3は、レーザダイオード41のアノード側端子16とカソード側端子17との接続をショートまたはオープンにする。
【0021】
リレー3は、スイッチ31と電磁石32とを有している。スイッチ31は、平常時クローズするようにバネなどで付勢されている。電圧検出回路2からリレー3にVref(≠0)が印加された場合、電磁石32はバネの付勢に抗した磁気力をスイッチ31に加えスイッチ31をオープンにする。この場合、レーザダイオード41は駆動回路13から供給された電圧により発光可能である。一方、電圧検出回路2から印加される電圧Vref=0の場合、電磁石32は磁気力を失うため、バネの付勢によりスイッチ31はクローズし、アノード側端子16とカソード側端子17とがショート(短絡)する。
【0022】
即ち、電源変換回路11や駆動回路13の故障、駆動回路13からレーザダイオード41までの配線の断線、分岐部15の切断、出力端子12、14、分岐部15の接続ミス、電源供給回路1の電源オフなど、何らかの原因で電源供給回路1からレーザダイオード41への電源供給が不可能なためにVref=0となった場合、アノード側端子16とカソード側端子17とがショートする。この場合、電源供給回路1からレーザダイオード41へ静電気やサージ電流が加えられても、レーザダイオード41には電流が流れず、リレー3を介して流れる。従って、レーザダイオード41に静電気やサージが加わることでレーザダイオード41が劣化したり破壊したりすることを防ぐことができる。また、レーザダイオード41の位置合わせ作業などにおいて、レーザダイオード41の取り扱いが容易になる。
【0023】
<第2実施形態>
図2は、本考案の第2実施形態に係る光ディスク装置の回路図である。この光ディスク装置は、第1実施形態と同様、電源供給回路1、電圧検出回路2、リレー3及び光ピックアップ4を備えている。電源供給回路1、リレー3及び光ピックアップ4の機能は第1実施形態と同様であるため説明を省略する。電圧検出回路2は、第1実施形態と異なり出力端子12の電圧Vrefを検出してリレー3に印加する。リレー3は、Vref=0の場合、アノード側端子16とカソード側端子17とがショート(短絡)する。
【0024】
このようにすれば、電源変換回路11の故障や断線など、電源変換回路11に関係する何らかの原因で電源供給回路1からレーザダイオード41への電源供給が不可能なためにVref=0となった場合、アノード側端子16とカソード側端子17とがショートする。この場合、電源供給回路1からレーザダイオード41へ静電気やサージ電流が加えられても、レーザダイオード41には電流が流れず、リレー3を介して流れる。従って、レーザダイオード41に静電気やサージが加わることでレーザダイオード41が劣化したり破壊したりすることを防ぐことができる。また、レーザダイオード41の位置合わせ作業などにおいて、レーザダイオード41の取り扱いが容易になる。
【0025】
<その他の実施形態>
電圧検出回路2が電圧を検出する箇所は、上記以外であってもよい。例えば、図3に示すように出力端子14の電圧を検出するようにしてもよい。あるいは、分岐部15の電圧を検出するようにしてもよい。このようにしても、何らかの原因でVref=0となった場合、アノード側端子16とカソード側端子17とがショートし、静電気やサージによるレーザダイオード41の劣化や破壊を防ぐことができる。
【0026】
【考案の効果】
本考案によると、何らかの原因で電源供給回路による電源供給が不可能であっても静電気やサージ電流によるレーザダイオードの劣化や破壊を防ぐことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】第1実施形態に係る光ディスク装置の回路図。
【図2】第2実施形態に係る光ディスク装置の回路図。
【図3】その他の実施形態に係る光ディスク装置の回路図。
【符号の説明】
1:電源供給回路
11:電源変換回路
12、14:出力端子
13:駆動回路
15:分岐部
16:アノード端子
17:カソード端子
3:リレー
31:スイッチ
32:電磁石
4:光ピックアップ
100:光ディスク
Claims (5)
- レーザダイオードへ電源を供給する電源供給回路における前記レーザダイオードのアノード側の端子の電圧を検出する電圧検出回路と、前記電圧検出回路が検出した電圧が零の場合、前記レーザダイオードのアノード側とカソード側とを短絡する機械スイッチとを備えることを特徴とする光ディスク装置。
- レーザダイオードへ電源を供給する電源供給回路における所定の地点の電圧を検出する電圧検出回路と、前記電圧検出回路が検出した電圧が零の場合、前記レーザダイオードのアノード側とカソード側とを短絡する機械スイッチとを備えることを特徴とする光ディスク装置。
- 前記所定の地点は、前記レーザダイオードのアノード側の端子であることを特徴とする請求項2記載の光ディスク装置。
- 前記所定の地点は、前記電源供給回路に含まれる前記レーザダイオードの駆動回路の出力端子であることを特徴とする請求項2記載の光ディスク装置。
- 前記所定の地点は、前記電源供給回路に含まれる前記電源変換回路の出力端子であることを特徴とする請求項2記載の光ディスク装置。
Priority Applications (1)
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---|---|---|---|
JP2003002325U JP3097424U (ja) | 2003-04-25 | 2003-04-25 | 光ディスク装置 |
Applications Claiming Priority (1)
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JP2003002325U JP3097424U (ja) | 2003-04-25 | 2003-04-25 | 光ディスク装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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JP3097424U true JP3097424U (ja) | 2004-01-29 |
Family
ID=43251234
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2003002325U Expired - Fee Related JP3097424U (ja) | 2003-04-25 | 2003-04-25 | 光ディスク装置 |
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JP (1) | JP3097424U (ja) |
-
2003
- 2003-04-25 JP JP2003002325U patent/JP3097424U/ja not_active Expired - Fee Related
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