JP3070370B2 - 電磁継電器の特性測定方法 - Google Patents
電磁継電器の特性測定方法Info
- Publication number
- JP3070370B2 JP3070370B2 JP5313886A JP31388693A JP3070370B2 JP 3070370 B2 JP3070370 B2 JP 3070370B2 JP 5313886 A JP5313886 A JP 5313886A JP 31388693 A JP31388693 A JP 31388693A JP 3070370 B2 JP3070370 B2 JP 3070370B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- voltage
- measurement
- measured
- value
- electromagnetic relay
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Landscapes
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は電磁継電器の動作特性の
中でも重要とされる感動値および開放値を高精度に測定
する方法に係り、特に測定に要する時間の短縮と測定精
度の向上を同時に実現できる電磁継電器の特性測定方法
に関する。
中でも重要とされる感動値および開放値を高精度に測定
する方法に係り、特に測定に要する時間の短縮と測定精
度の向上を同時に実現できる電磁継電器の特性測定方法
に関する。
【０００２】電磁継電器における感動値と開放値の測定
はピーク値が漸増または漸減するパルス状測定電圧を印
加することにより、開放状態の接点間が閉止したときの
印加電圧を感動値、閉止状態の接点間が開いたときの印
加電圧を開放値としている。
はピーク値が漸増または漸減するパルス状測定電圧を印
加することにより、開放状態の接点間が閉止したときの
印加電圧を感動値、閉止状態の接点間が開いたときの印
加電圧を開放値としている。
【０００３】しかし、測定電圧の変化量が等しい従来の
方法では測定時間を短縮するため変化量を大きくすると
測定精度が低下し、逆に測定精度を向上させるため変化
量を小さくすると測定時間が増大し測定時間の短縮と測
定精度の向上が両立しない。
方法では測定時間を短縮するため変化量を大きくすると
測定精度が低下し、逆に測定精度を向上させるため変化
量を小さくすると測定時間が増大し測定時間の短縮と測
定精度の向上が両立しない。
【０００４】そこで測定に要する時間の短縮と測定精度
の向上を同時に実現できる電磁継電器の特性測定方法の
確立が要望されている。
の向上を同時に実現できる電磁継電器の特性測定方法の
確立が要望されている。
【０００５】
【従来の技術】図４は測定装置の構成を示すブロック
図、図５は従来の測定方法を示すタイムチャートであ
る。
図、図５は従来の測定方法を示すタイムチャートであ
る。
【０００６】電磁継電器の特性を測定する装置は図４に
示す如くマイクロプロセッサ11を具えた制御部１と電源
部２とで構成され、出力バッファ12を介しマイクロプロ
セッサ11に接続された電源部２はパワーアンプ21とＤＡ
コンバータ22を具えている。
示す如くマイクロプロセッサ11を具えた制御部１と電源
部２とで構成され、出力バッファ12を介しマイクロプロ
セッサ11に接続された電源部２はパワーアンプ21とＤＡ
コンバータ22を具えている。
【０００７】測定条件を設定し測定値を表示する入出力
部４が入出力バッファ14を介してマイクロプロセッサ11
に接続されており、入出力部４に測定条件を設定しスタ
ートさせるとマイクロプロセッサ11の指示で感動値と開
放値が自動的に測定される。
部４が入出力バッファ14を介してマイクロプロセッサ11
に接続されており、入出力部４に測定条件を設定しスタ
ートさせるとマイクロプロセッサ11の指示で感動値と開
放値が自動的に測定される。
【０００８】感動値と開放値が測定される被測定電磁継
電器３は図示の如くコイル31がパワーアンプ21の出力側
に接続されており、コモン接点32、メーク接点33、およ
びブレーク接点34が入力バッファ13を介しマイクロプロ
セッサ11に接続されている。
電器３は図示の如くコイル31がパワーアンプ21の出力側
に接続されており、コモン接点32、メーク接点33、およ
びブレーク接点34が入力バッファ13を介しマイクロプロ
セッサ11に接続されている。
【０００９】条件を設定しスタートさせると予め設定さ
れたプログラムに従ってマイクロプロセッサ11から制御
信号が出力され、例えば、図５に示すピーク値が漸増ま
たは漸減するパルス状の測定電圧が被測定電磁継電器３
のコイル31に印加される。
れたプログラムに従ってマイクロプロセッサ11から制御
信号が出力され、例えば、図５に示すピーク値が漸増ま
たは漸減するパルス状の測定電圧が被測定電磁継電器３
のコイル31に印加される。
【００１０】即ち、不感動値ＶNOP や保持電圧ＶNREL、
変化量ＶDE等の測定に必要な初期条件は予め入出力部４
に設定されており、被測定電磁継電器３に印加する測定
電圧値ＶTEの初期値として被測定電磁継電器の動作定格
値ＶRAT が設定されている。
変化量ＶDE等の測定に必要な初期条件は予め入出力部４
に設定されており、被測定電磁継電器３に印加する測定
電圧値ＶTEの初期値として被測定電磁継電器の動作定格
値ＶRAT が設定されている。
【００１１】従来の測定方法は不感動値ＶNOP を基準と
し不感動値ＶNOP に一定の変化量Ｖ DEを繰り返し加算し
て感動値を検出し、保持電圧ＶNRELを基準とし保持電圧
ＶNR ELから一定の変化量ＶDEを繰り返し減算することに
より開放値を検出している。
し不感動値ＶNOP に一定の変化量Ｖ DEを繰り返し加算し
て感動値を検出し、保持電圧ＶNRELを基準とし保持電圧
ＶNR ELから一定の変化量ＶDEを繰り返し減算することに
より開放値を検出している。
【００１２】測定を開始すると電源部２から図５に示す
如く０ＶがＴof時間印加され続いて測定電圧ＶTEがＴOP
時間印加される。測定電圧ＶTEの初期値は動作定格値Ｖ
RATに設定されているためメーク接点側が閉止されブレ
ーク接点側が開放される。
如く０ＶがＴof時間印加され続いて測定電圧ＶTEがＴOP
時間印加される。測定電圧ＶTEの初期値は動作定格値Ｖ
RATに設定されているためメーク接点側が閉止されブレ
ーク接点側が開放される。
【００１３】測定電圧ＶTEの内容を不感動値ＶNOP に置
換すると共に０ＶをＴof時間印加し続いて測定電圧ＶTE
をＴOP時間印加する。測定電圧ＶTEは不感動値ＶNOP に
置換されておりメーク接点側は閉止しないでブレーク接
点側の閉止状態が持続する。
換すると共に０ＶをＴof時間印加し続いて測定電圧ＶTE
をＴOP時間印加する。測定電圧ＶTEは不感動値ＶNOP に
置換されておりメーク接点側は閉止しないでブレーク接
点側の閉止状態が持続する。
【００１４】次いで測定電圧ＶTEの内容を前の測定電圧
ＶTEに一定の変化量ＶDEを加算した新しい測定電圧ＶTE
に置換すると共に、前に印加した測定電圧ＶTEの影響を
無くすために０ＶをＴof時間印加し続いて新しい測定電
圧ＶTEをＴOP時間印加する。
ＶTEに一定の変化量ＶDEを加算した新しい測定電圧ＶTE
に置換すると共に、前に印加した測定電圧ＶTEの影響を
無くすために０ＶをＴof時間印加し続いて新しい測定電
圧ＶTEをＴOP時間印加する。
【００１５】このように０Ｖと前の測定電圧ＶTEに変化
量ＶDEを加算した新しい測定電圧Ｖ TEの印加を交互に繰
り返すことにより、測定電圧ＶTEは不感動値ＶNOP に変
化量ＶDEが繰り返し加算され感動電圧ＶOPに到達すると
メーク接点側が閉止される。
量ＶDEを加算した新しい測定電圧Ｖ TEの印加を交互に繰
り返すことにより、測定電圧ＶTEは不感動値ＶNOP に変
化量ＶDEが繰り返し加算され感動電圧ＶOPに到達すると
メーク接点側が閉止される。
【００１６】メーク接点側が閉止された時点でそのとき
印加された測定電圧ＶTEが感動値Ｖ OPとして前記入出力
部４に表示され、前の測定電圧ＶTEへの変化量ＶDEの加
算や測定電圧ＶTEの内容の置換等が停止されて次の開放
値の測定工程が開始される。
印加された測定電圧ＶTEが感動値Ｖ OPとして前記入出力
部４に表示され、前の測定電圧ＶTEへの変化量ＶDEの加
算や測定電圧ＶTEの内容の置換等が停止されて次の開放
値の測定工程が開始される。
【００１７】感動値の測定が終わると０に代えて動作定
格値ＶRAT がＴRT時間印加され続いて測定電圧ＶTEがＴ
RL時間印加される。測定電圧ＶTEの初期値は保持電圧Ｖ
NRELに設定されておりメーク接点側が閉じてブレーク接
点側は開放状態を持続する。
格値ＶRAT がＴRT時間印加され続いて測定電圧ＶTEがＴ
RL時間印加される。測定電圧ＶTEの初期値は保持電圧Ｖ
NRELに設定されておりメーク接点側が閉じてブレーク接
点側は開放状態を持続する。
【００１８】次いで測定電圧ＶTEの内容を前の測定電圧
ＶTEから一定の変化量ＶDEを減じた新しい測定電圧ＶTE
に置換すると共に、動作定格値ＶRAT をＴRT時間印加す
ることによって一旦保持状態に戻したあと新しい測定電
圧ＶTEをＴRL時間印加する。
ＶTEから一定の変化量ＶDEを減じた新しい測定電圧ＶTE
に置換すると共に、動作定格値ＶRAT をＴRT時間印加す
ることによって一旦保持状態に戻したあと新しい測定電
圧ＶTEをＴRL時間印加する。
【００１９】このように動作定格値ＶRAT の印加と内容
が置換された新しい測定電圧ＶTEの印加を交互に繰り返
すことによって、測定電圧ＶTEは保持電圧ＶNRELから変
化量ＶDEが繰り返し減算されて開放値ＶRLに到達すると
メーク接点側が開放される。
が置換された新しい測定電圧ＶTEの印加を交互に繰り返
すことによって、測定電圧ＶTEは保持電圧ＶNRELから変
化量ＶDEが繰り返し減算されて開放値ＶRLに到達すると
メーク接点側が開放される。
【００２０】メーク接点側が開放された時点でそのとき
印加された測定電圧ＶTEが開放値Ｖ RLとして前記入出力
部４に表示され、前の測定電圧ＶTEからの変化量ＶDEの
減算や測定電圧ＶTEの内容の置換等が停止されて電磁継
電器の特性測定が終了する。
印加された測定電圧ＶTEが開放値Ｖ RLとして前記入出力
部４に表示され、前の測定電圧ＶTEからの変化量ＶDEの
減算や測定電圧ＶTEの内容の置換等が停止されて電磁継
電器の特性測定が終了する。
【００２１】
【発明が解決しようとする課題】しかし、従来の測定方
法は測定電圧ＶTEの変化量ＶDEを一定にしているため測
定精度が変化量ＶDEによって左右され、測定精度を向上
させるため変化量ＶDEを縮小すると測定電圧ＶTEを印加
する回数が増えて測定に要する時間が増大する。
法は測定電圧ＶTEの変化量ＶDEを一定にしているため測
定精度が変化量ＶDEによって左右され、測定精度を向上
させるため変化量ＶDEを縮小すると測定電圧ＶTEを印加
する回数が増えて測定に要する時間が増大する。
【００２２】反対に変化量ＶDEを大きくすると測定電圧
ＶTEの印加回数が減少し測定時間は短縮されるが測定値
の精度が低下する。即ち、従来の測定方法では測定時間
の短縮と測定精度の向上を同時に実現することが極めて
難しいという問題があった。
ＶTEの印加回数が減少し測定時間は短縮されるが測定値
の精度が低下する。即ち、従来の測定方法では測定時間
の短縮と測定精度の向上を同時に実現することが極めて
難しいという問題があった。
【００２３】本発明の目的は測定に要する時間の短縮と
測定精度の向上を同時に実現できる電磁継電器の特性測
定方法を提供することにある。
測定精度の向上を同時に実現できる電磁継電器の特性測
定方法を提供することにある。
【００２４】
【課題を解決するための手段】図１は本発明になる感動
値の測定方法を示すフローチャートである。なお全図を
通し同じ対象物は同一記号で表している。
値の測定方法を示すフローチャートである。なお全図を
通し同じ対象物は同一記号で表している。
【００２５】上記課題は開放値以下の電圧を基準として
ピーク値が漸増または漸減するパルス状測定電圧を被測
定電磁継電器に印加し、開放状態の接点間が閉止したと
き印加された測定電圧値を感動値とする電磁継電器の特
性測定方法であって、測定時に被測定電磁継電器に印加
する測定電圧をＶTE、漸増または漸減する測定電圧Ｖ TE
の変化量をＶDEとし、測定の開始に際して測定電圧
ＶTE、および変化量ＶDEの初期値を被測定電磁継電器の
動作定格値に設定したあと、測定電圧ＶTEを印加する毎
に次に印加する測定電圧ＶTEの変化量ＶDEを前の変化量
ＶDEの１／２に設定すると共に、測定電圧ＶTEを印加す
ることによって接点の間が閉じれば測定電圧ＶTE−変化
量ＶDEを次の測定電圧ＶTEとし、測定電圧ＶTEを印加し
ても接点の間が閉じないときは測定電圧ＶTE＋変化量Ｖ
DEを次の測定電圧ＶTEとして、被測定電磁継電器への測
定電圧ＶTEの印加を繰り返し感動値を検出する本発明に
なる特性測定方法によって達成される。
ピーク値が漸増または漸減するパルス状測定電圧を被測
定電磁継電器に印加し、開放状態の接点間が閉止したと
き印加された測定電圧値を感動値とする電磁継電器の特
性測定方法であって、測定時に被測定電磁継電器に印加
する測定電圧をＶTE、漸増または漸減する測定電圧Ｖ TE
の変化量をＶDEとし、測定の開始に際して測定電圧
ＶTE、および変化量ＶDEの初期値を被測定電磁継電器の
動作定格値に設定したあと、測定電圧ＶTEを印加する毎
に次に印加する測定電圧ＶTEの変化量ＶDEを前の変化量
ＶDEの１／２に設定すると共に、測定電圧ＶTEを印加す
ることによって接点の間が閉じれば測定電圧ＶTE−変化
量ＶDEを次の測定電圧ＶTEとし、測定電圧ＶTEを印加し
ても接点の間が閉じないときは測定電圧ＶTE＋変化量Ｖ
DEを次の測定電圧ＶTEとして、被測定電磁継電器への測
定電圧ＶTEの印加を繰り返し感動値を検出する本発明に
なる特性測定方法によって達成される。
【００２６】
【作用】図１において測定時に電磁継電器に印加する測
定電圧をＶTE、漸増または漸減する測定電圧ＶTEの変化
量をＶDEとし、測定の開始に際して測定電圧ＶTE、およ
び変化量ＶDEの初期値を被測定電磁継電器の動作定格値
に設定したあと、測定電圧ＶTEを印加する毎に次に印加
する測定電圧ＶTEの変化量ＶDEを前の変化量ＶDEの１／
２に設定すると共に、測定電圧ＶTEを印加して接点の間
が閉じれば測定電圧ＶTE−変化量ＶDEを次の測定電圧Ｖ
TEとし、測定電圧ＶTEを印加しても接点の間が閉じない
ときは測定電圧ＶTE＋変化量ＶDEを次の測定電圧ＶTEと
して、被測定電磁継電器への測定電圧ＶTEの印加を繰り
返し感動値を検出することによって、初期は変化量が大
きく測定時間の短縮が可能で且つ終了間際は変化量が小
さくなって測定精度の向上が可能になる。即ち、測定に
要する時間の短縮と測定精度の向上を同時に実現できる
電磁継電器の特性測定方法を実現することができる。
定電圧をＶTE、漸増または漸減する測定電圧ＶTEの変化
量をＶDEとし、測定の開始に際して測定電圧ＶTE、およ
び変化量ＶDEの初期値を被測定電磁継電器の動作定格値
に設定したあと、測定電圧ＶTEを印加する毎に次に印加
する測定電圧ＶTEの変化量ＶDEを前の変化量ＶDEの１／
２に設定すると共に、測定電圧ＶTEを印加して接点の間
が閉じれば測定電圧ＶTE−変化量ＶDEを次の測定電圧Ｖ
TEとし、測定電圧ＶTEを印加しても接点の間が閉じない
ときは測定電圧ＶTE＋変化量ＶDEを次の測定電圧ＶTEと
して、被測定電磁継電器への測定電圧ＶTEの印加を繰り
返し感動値を検出することによって、初期は変化量が大
きく測定時間の短縮が可能で且つ終了間際は変化量が小
さくなって測定精度の向上が可能になる。即ち、測定に
要する時間の短縮と測定精度の向上を同時に実現できる
電磁継電器の特性測定方法を実現することができる。
【００２７】
【実施例】以下添付図により本発明の実施例について説
明する。なお、図２は本発明になる開放値の測定方法を
示すフローチャート、図３は本発明になる測定方法の一
実施例を示すタイムチャートである。
明する。なお、図２は本発明になる開放値の測定方法を
示すフローチャート、図３は本発明になる測定方法の一
実施例を示すタイムチャートである。
【００２８】本発明になる感動値の測定方法は図１に示
す如く測定電圧ＶTEおよび変化量Ｖ DEの初期値を動作定
格値ＶRAT に設定し、更に測定電圧ＶTEを印加する毎に
次に印加する測定電圧ＶTEの変化量ＶDEを前の変化量Ｖ
DEの１／２に設定している。
す如く測定電圧ＶTEおよび変化量Ｖ DEの初期値を動作定
格値ＶRAT に設定し、更に測定電圧ＶTEを印加する毎に
次に印加する測定電圧ＶTEの変化量ＶDEを前の変化量Ｖ
DEの１／２に設定している。
【００２９】即ち、測定が始まると電磁継電器のコイ
ルに０ＶがＴof時間印加され続いて測定電圧ＶTEがＴ
OP時間印加される。その時の接点の開閉に関係なく次
に印加する測定電圧ＶTEの変化量ＶDEは必ず前の変化量
ＶDEの１／２に設定される。
ルに０ＶがＴof時間印加され続いて測定電圧ＶTEがＴ
OP時間印加される。その時の接点の開閉に関係なく次
に印加する測定電圧ＶTEの変化量ＶDEは必ず前の変化量
ＶDEの１／２に設定される。
【００３０】においてコイルに測定電圧ＶTEを印加す
ることによりメーク接点側が閉じた場合は測定電圧Ｖ
TE−変化量ＶDEが、反対にメーク接点側が閉じなかっ
た場合は測定電圧ＶTE＋変化量ＶDEが次に印加する測定
電圧ＶTEとして設定される。
ることによりメーク接点側が閉じた場合は測定電圧Ｖ
TE−変化量ＶDEが、反対にメーク接点側が閉じなかっ
た場合は測定電圧ＶTE＋変化量ＶDEが次に印加する測定
電圧ＶTEとして設定される。
【００３１】なお、図において測定電圧ＶTE±変化量Ｖ
DEを次の測定電圧ＶTEとして設定する際に加算または減
算されているＣは、前の変化量ＶDEに１／２を乗じた際
に生じる剰余数で測定された感動値を一層高精度化する
ため加減する補正値である。
DEを次の測定電圧ＶTEとして設定する際に加算または減
算されているＣは、前の変化量ＶDEに１／２を乗じた際
に生じる剰余数で測定された感動値を一層高精度化する
ため加減する補正値である。
【００３２】次に印加する測定電圧ＶTEが設定されると
再びに戻り０Ｖを印加したあと次に印加する測定電圧
ＶTEが設定される。測定開始直後の変化量ＶDEは極く粗
いが前記工程を繰り返すことで次第に０に近づき測定電
圧ＶTEも感動値に収斂する。
再びに戻り０Ｖを印加したあと次に印加する測定電圧
ＶTEが設定される。測定開始直後の変化量ＶDEは極く粗
いが前記工程を繰り返すことで次第に０に近づき測定電
圧ＶTEも感動値に収斂する。
【００３３】変化量ＶDEとＣが０になると０ＶをＴof
時間印加し続いて最終的に得られた測定電圧ＶTEをＴ
OP時間印加する。測定電圧ＶTEの印加によってメーク接
点側が閉じれば測定電圧ＶTEの内容を感動値ＶOPとして
前記入出力部４に表示する。
時間印加し続いて最終的に得られた測定電圧ＶTEをＴ
OP時間印加する。測定電圧ＶTEの印加によってメーク接
点側が閉じれば測定電圧ＶTEの内容を感動値ＶOPとして
前記入出力部４に表示する。
【００３４】なお、最終的に得られた測定電圧ＶTEを印
加してもメーク接点側が閉じない場合は測定電圧ＶTEを
最小単位分増加し、メーク接点側が閉じれば最小単位分
増加させてなる測定電圧ＶTEの内容を感動値ＶOPとして
前記入出力部４に表示する。
加してもメーク接点側が閉じない場合は測定電圧ＶTEを
最小単位分増加し、メーク接点側が閉じれば最小単位分
増加させてなる測定電圧ＶTEの内容を感動値ＶOPとして
前記入出力部４に表示する。
【００３５】一方、開放値の測定は図２に示す如く測定
電圧ＶTEの初期値が０、変化量ＶDEの初期値が動作定格
値ＶRAT に設定され、測定電圧ＶTEを印加する毎に次に
印加する測定電圧ＶTEの変化量ＶDEが前の変化量ＶDEの
１／２に設定されている。
電圧ＶTEの初期値が０、変化量ＶDEの初期値が動作定格
値ＶRAT に設定され、測定電圧ＶTEを印加する毎に次に
印加する測定電圧ＶTEの変化量ＶDEが前の変化量ＶDEの
１／２に設定されている。
【００３６】即ち、測定が始まるとコイルに動作定格
値ＶRAT がＴRT時間印加され続いて測定電圧ＶTEがＴ
RL時間印加される。その時の接点の開閉に関係なく次
に印加する測定電圧ＶTEの変化量ＶDEは必ず前の変化量
ＶDEの１／２に設定される。
値ＶRAT がＴRT時間印加され続いて測定電圧ＶTEがＴ
RL時間印加される。その時の接点の開閉に関係なく次
に印加する測定電圧ＶTEの変化量ＶDEは必ず前の変化量
ＶDEの１／２に設定される。
【００３７】においてコイルに測定電圧ＶTEを印加す
ることによりブレーク接点が閉じた場合は測定電圧Ｖ
TE＋変化量ＶDEが、反対にブレーク接点が閉じなかっ
た場合は測定電圧ＶTE−変化量ＶDEが次に印加する測定
電圧ＶTEとして設定される。
ることによりブレーク接点が閉じた場合は測定電圧Ｖ
TE＋変化量ＶDEが、反対にブレーク接点が閉じなかっ
た場合は測定電圧ＶTE−変化量ＶDEが次に印加する測定
電圧ＶTEとして設定される。
【００３８】なお、図において測定電圧ＶTE±変化量Ｖ
DEを次の測定電圧ＶTEとして設定する際に加算または減
算されているＣは、前の変化量ＶDEに１／２を乗じた際
に生じる剰余数で測定された開放値を一層高精度化する
ため加減する補正値である。
DEを次の測定電圧ＶTEとして設定する際に加算または減
算されているＣは、前の変化量ＶDEに１／２を乗じた際
に生じる剰余数で測定された開放値を一層高精度化する
ため加減する補正値である。
【００３９】次に印加する測定電圧ＶTEが設定されると
再びに戻って動作定格値ＶRAT を印加し次の測定電圧
ＶTEが設定される。測定開始直後の変化量ＶDEは極く粗
いが前記工程を繰り返すことで次第に０に近づき測定電
圧ＶTEも開放値に収斂する。
再びに戻って動作定格値ＶRAT を印加し次の測定電圧
ＶTEが設定される。測定開始直後の変化量ＶDEは極く粗
いが前記工程を繰り返すことで次第に０に近づき測定電
圧ＶTEも開放値に収斂する。
【００４０】ＶDEとＣが０になると動作定格値ＶRAT を
ＴRT時間印加し続いて最終的に得られた測定電圧ＶTEを
ＴRL時間印加する。測定電圧ＶTEの印加でブレーク接点
側が閉じれば測定電圧ＶTEの内容を開放値ＶRLとして前
記入出力部４に表示する。
ＴRT時間印加し続いて最終的に得られた測定電圧ＶTEを
ＴRL時間印加する。測定電圧ＶTEの印加でブレーク接点
側が閉じれば測定電圧ＶTEの内容を開放値ＶRLとして前
記入出力部４に表示する。
【００４１】なお、最終的に得られた測定電圧ＶTEを印
加したときブレーク接点側が閉じない場合は測定電圧Ｖ
TEを最小単位分減じ、ブレーク接点側が閉じれば最小単
位分減じてなる測定電圧ＶTEの内容を開放値ＶRLとして
前記入出力部４に表示する。
加したときブレーク接点側が閉じない場合は測定電圧Ｖ
TEを最小単位分減じ、ブレーク接点側が閉じれば最小単
位分減じてなる測定電圧ＶTEの内容を開放値ＶRLとして
前記入出力部４に表示する。
【００４２】本発明になる測定方法の一実施例は図３に
示す如く前半において感動値を測定し後半において開放
値を測定している。即ち、感動値の測定に際し測定電圧
ＶTEと変化量ＶDEの初期値が被測定電磁継電器の動作定
格値５Ｖに設定されている。
示す如く前半において感動値を測定し後半において開放
値を測定している。即ち、感動値の測定に際し測定電圧
ＶTEと変化量ＶDEの初期値が被測定電磁継電器の動作定
格値５Ｖに設定されている。
【００４３】感動値の測定を開始するとコイルに０Ｖが
Ｔof時間印加され続いて測定電圧Ｖ TEの初期値５ＶがＴ
OP時間印加される。その時の接点の開閉に関係なく次に
印加する測定電圧ＶTEの変化量ＶDEは前の変化量ＶDEの
半分、 2.5Ｖに設定される。
Ｔof時間印加され続いて測定電圧Ｖ TEの初期値５ＶがＴ
OP時間印加される。その時の接点の開閉に関係なく次に
印加する測定電圧ＶTEの変化量ＶDEは前の変化量ＶDEの
半分、 2.5Ｖに設定される。
【００４４】例えば、感動値が 3.5Ｖであれば５Ｖを印
加するとメーク接点が閉じて次の測定電圧ＶTEは５−
2.5＝ 2.5Ｖになり、測定電圧ＶTEとして 2.5Ｖを印加
したときに設定される変化量ＶDEは前の変化量 2.5Ｖの
半分に相当する1.25Ｖになる。
加するとメーク接点が閉じて次の測定電圧ＶTEは５−
2.5＝ 2.5Ｖになり、測定電圧ＶTEとして 2.5Ｖを印加
したときに設定される変化量ＶDEは前の変化量 2.5Ｖの
半分に相当する1.25Ｖになる。
【００４５】感動値が 3.5Ｖであり 2.5Ｖを印加しても
メーク接点が閉じることなく次の測定電圧ＶTEは 2.5＋
1.25＝3.75Ｖになり、測定電圧ＶTEとして3.75Ｖを印加
する時の変化量ＶDEは前の変化量1.25Ｖの半分に相当す
る0.62ＶでＣ＝0.01になる。
メーク接点が閉じることなく次の測定電圧ＶTEは 2.5＋
1.25＝3.75Ｖになり、測定電圧ＶTEとして3.75Ｖを印加
する時の変化量ＶDEは前の変化量1.25Ｖの半分に相当す
る0.62ＶでＣ＝0.01になる。
【００４６】測定電圧3.75Ｖは感動値 3.5Ｖより大きく
印加するとメーク接点が閉じ次の測定電圧ＶTEは3.75−
0.62−0.01＝3.12Ｖ、測定電圧ＶTEとして3.12Ｖを印加
したとき設定される変化量ＶDEは前の変化量0.62Ｖに１
／２を乗じた0.31Ｖになる。
印加するとメーク接点が閉じ次の測定電圧ＶTEは3.75−
0.62−0.01＝3.12Ｖ、測定電圧ＶTEとして3.12Ｖを印加
したとき設定される変化量ＶDEは前の変化量0.62Ｖに１
／２を乗じた0.31Ｖになる。
【００４７】このように半減された変化量ＶDEにより補
正すると以下の測定電圧ＶTEは3.43、3.59、3.51、3.4
7、3.49Ｖと収斂する。しかし、3.49Ｖをコイルに印加
してもメーク接点側が閉じないため１最小単位分増加せ
しめた3.50Ｖが感動値になる。
正すると以下の測定電圧ＶTEは3.43、3.59、3.51、3.4
7、3.49Ｖと収斂する。しかし、3.49Ｖをコイルに印加
してもメーク接点側が閉じないため１最小単位分増加せ
しめた3.50Ｖが感動値になる。
【００４８】感動値の測定が終了すると一旦コイルに被
測定電磁継電器の動作定格値５Ｖが印加されて開放値の
測定が開始される。即ち、開放値の測定に際して測定電
圧Ｖ TEの初期値が０に設定され変化量ＶDEの初期値が動
作定格値５Ｖに設定される。
測定電磁継電器の動作定格値５Ｖが印加されて開放値の
測定が開始される。即ち、開放値の測定に際して測定電
圧Ｖ TEの初期値が０に設定され変化量ＶDEの初期値が動
作定格値５Ｖに設定される。
【００４９】開放値の測定を開始するとコイルに５Ｖが
ＴRT時間印加され続いて測定電圧Ｖ TEの初期値０ＶがＴ
RL時間印加される。その時の接点の開閉に関係なく次に
印加する測定電圧ＶTEの変化量ＶDEは前の変化量ＶDEの
半分、 2.5Ｖに設定される。
ＴRT時間印加され続いて測定電圧Ｖ TEの初期値０ＶがＴ
RL時間印加される。その時の接点の開閉に関係なく次に
印加する測定電圧ＶTEの変化量ＶDEは前の変化量ＶDEの
半分、 2.5Ｖに設定される。
【００５０】例えば、開放値が 0.9Ｖであれば０Ｖの印
加でブレーク接点側が閉じて次の測定電圧ＶTEは０＋
2.5＝ 2.5Ｖになり、測定電圧ＶTEとして 2.5Ｖを印加
したときに設定される変化量ＶDEは前の変化量 2.5Ｖの
半分に相当する1.25Ｖになる。
加でブレーク接点側が閉じて次の測定電圧ＶTEは０＋
2.5＝ 2.5Ｖになり、測定電圧ＶTEとして 2.5Ｖを印加
したときに設定される変化量ＶDEは前の変化量 2.5Ｖの
半分に相当する1.25Ｖになる。
【００５１】開放値が 0.9Ｖであり 2.5Ｖの印加でブレ
ーク接点側が閉じることなく次の測定電圧ＶTEは 2.5−
1.25＝1.25Ｖになり、測定電圧ＶTEとして1.25Ｖを印加
する時の変化量ＶDEは前の変化量1.25Ｖの半分に相当す
る0.62ＶでＣ＝0.01になる。
ーク接点側が閉じることなく次の測定電圧ＶTEは 2.5−
1.25＝1.25Ｖになり、測定電圧ＶTEとして1.25Ｖを印加
する時の変化量ＶDEは前の変化量1.25Ｖの半分に相当す
る0.62ＶでＣ＝0.01になる。
【００５２】開放値より大きい測定電圧1.25Ｖを印加し
てもブレーク接点側が閉じず次の測定電圧ＶTEは1.25−
0.62−0.01＝0.62Ｖ、測定電圧ＶTEとして0.62Ｖを印加
したときの変化量ＶDEの内容は前の変化量0.62Ｖに１／
２を乗じた0.31Ｖになる。
てもブレーク接点側が閉じず次の測定電圧ＶTEは1.25−
0.62−0.01＝0.62Ｖ、測定電圧ＶTEとして0.62Ｖを印加
したときの変化量ＶDEの内容は前の変化量0.62Ｖに１／
２を乗じた0.31Ｖになる。
【００５３】このように半減された変化量ＶDEにより補
正すると以下の測定電圧ＶTEは0.93、0.77、0.85、0.8
9、0.91Ｖと収斂する。しかし、0.91Ｖをコイルに印加
してもブレーク接点側が閉じることなく１最小単位分減
じた 0.9Ｖが開放値になる。
正すると以下の測定電圧ＶTEは0.93、0.77、0.85、0.8
9、0.91Ｖと収斂する。しかし、0.91Ｖをコイルに印加
してもブレーク接点側が閉じることなく１最小単位分減
じた 0.9Ｖが開放値になる。
【００５４】上述の如く測定時に電磁継電器に印加する
測定電圧をＶTE、漸増または漸減する測定電圧ＶTEの変
化量をＶDEとし、測定の開始に際して測定電圧ＶTE、お
よび変化量ＶDEの初期値を被測定電磁継電器の動作定格
値に設定したあと、測定電圧ＶTEを印加する毎に次に印
加する測定電圧ＶTEの変化量ＶDEを前の変化量ＶDEの１
／２に設定すると共に、測定電圧ＶTEを印加して接点の
間が閉じれば測定電圧ＶTE−変化量ＶDEを次の測定電圧
ＶTEとし、測定電圧ＶTEを印加しても接点の間が閉じな
いときは測定電圧ＶTE＋変化量ＶDEを次の測定電圧ＶTE
として、被測定電磁継電器への測定電圧ＶTEの印加を繰
り返し感動値を検出することによって、初期は変化量が
大きく測定時間の短縮が可能で且つ終了間際は変化量が
小さくなって測定精度の向上が可能になる。即ち、測定
に要する時間の短縮と測定精度の向上を同時に実現でき
る電磁継電器の特性測定方法を実現することができる。
測定電圧をＶTE、漸増または漸減する測定電圧ＶTEの変
化量をＶDEとし、測定の開始に際して測定電圧ＶTE、お
よび変化量ＶDEの初期値を被測定電磁継電器の動作定格
値に設定したあと、測定電圧ＶTEを印加する毎に次に印
加する測定電圧ＶTEの変化量ＶDEを前の変化量ＶDEの１
／２に設定すると共に、測定電圧ＶTEを印加して接点の
間が閉じれば測定電圧ＶTE−変化量ＶDEを次の測定電圧
ＶTEとし、測定電圧ＶTEを印加しても接点の間が閉じな
いときは測定電圧ＶTE＋変化量ＶDEを次の測定電圧ＶTE
として、被測定電磁継電器への測定電圧ＶTEの印加を繰
り返し感動値を検出することによって、初期は変化量が
大きく測定時間の短縮が可能で且つ終了間際は変化量が
小さくなって測定精度の向上が可能になる。即ち、測定
に要する時間の短縮と測定精度の向上を同時に実現でき
る電磁継電器の特性測定方法を実現することができる。
【００５５】
【発明の効果】上述の如く本発明によれば測定に要する
時間の短縮と測定精度の向上を同時に実現できる電磁継
電器の特性測定方法を提供することができる。
時間の短縮と測定精度の向上を同時に実現できる電磁継
電器の特性測定方法を提供することができる。
【図１】 本発明になる感動値の測定方法を示すフロー
チャートである。
チャートである。
【図２】 本発明になる開放値の測定方法を示すフロー
チャートである。
チャートである。
【図３】 本発明になる測定方法の一実施例を示すタイ
ムチャートである。
ムチャートである。
【図４】 測定装置の構成を示すブロック図である。
【図５】 従来の測定方法を示すタイムチャートであ
る。 １ 制御部 ２ 電源部 ３ 被測定電磁継電器 ４ 入出力部 11 マイクロプロセッサ 12 出力バッファ 13 入力バッファ 14 入出力バッファ 21 パワーアンプ 22 ＤＡコンバータ 31 コイル 32 コモン接点 33 メーク接点 34 ブレーク接点 ＶTE 測定電圧 ＶDE 変化量 ＶOP 感動値 ＶRL 開放値 ＶRAT 動作定格値
る。 １ 制御部 ２ 電源部 ３ 被測定電磁継電器 ４ 入出力部 11 マイクロプロセッサ 12 出力バッファ 13 入力バッファ 14 入出力バッファ 21 パワーアンプ 22 ＤＡコンバータ 31 コイル 32 コモン接点 33 メーク接点 34 ブレーク接点 ＶTE 測定電圧 ＶDE 変化量 ＶOP 感動値 ＶRL 開放値 ＶRAT 動作定格値
Claims (2)
- 【請求項１】 開放値以下の電圧を基準としてピーク値
が漸増または漸減するパルス状測定電圧を被測定電磁継
電器に印加し、開放状態の接点間が閉止したとき印加さ
れた測定電圧値を感動値とする電磁継電器の特性測定方
法であって、 測定時に該被測定電磁継電器に印加される測定電圧をＶ
TE、漸増または漸減する該測定電圧ＶTEの変化量をＶDE
とし、測定の開始に際して該測定電圧ＶTE、および該変
化量ＶDEの初期値を該被測定電磁継電器の動作定格値に
設定したあと、 該測定電圧ＶTEを印加する毎に次に印加する該測定電圧
ＶTEの変化量ＶDEを前の変化量ＶDEの１／２に設定する
と共に、該測定電圧ＶTEを印加することによって接点の
間が閉じれば該測定電圧ＶTE−該変化量ＶDEを次の測定
電圧ＶTEとし、 該測定電圧ＶTEを印加しても接点の間が閉じないときは
該測定電圧ＶTE＋該変化量ＶDEを次の測定電圧ＶTEとし
て、該被測定電磁継電器への該測定電圧ＶTEの印加を繰
り返し感動値を検出することを特徴とする電磁継電器の
特性測定方法。 - 【請求項２】 動作定格値を基準としてピーク値が漸増
または漸減するパルス状の測定電圧を被測定電磁継電器
に印加し、閉止状態の接点間が開放されたとき印加され
た測定電圧値を開放値とする電磁継電器の特性測定方法
であって、 測定時に該被測定電磁継電器に印加される測定電圧をＶ
TE、漸増または漸減する該測定電圧ＶTEの変化量をＶDE
とし、測定の開始に際して該測定電圧ＶTEを０、該変化
量ＶDEの初期値を該被測定電磁継電器の動作定格値に設
定したあと、 該測定電圧ＶTEを印加する毎に次に印加する該測定電圧
ＶTEの変化量ＶDEを前の変化量ＶDEの１／２に設定する
と共に、該測定電圧ＶTEを印加することにより接点間が
開放されれば該測定電圧ＶTE＋該変化量ＶDEを次の測定
電圧ＶTEとし、 該測定電圧ＶTEを印加しても接点間が開放されないとき
該測定電圧ＶTE−該変化量ＶDEを次の測定電圧ＶTEとし
て、該被測定電磁継電器への該測定電圧ＶTEの印加を繰
り返し開放値を検出することを特徴とする電磁継電器の
特性測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5313886A JP3070370B2 (ja) | 1993-12-15 | 1993-12-15 | 電磁継電器の特性測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5313886A JP3070370B2 (ja) | 1993-12-15 | 1993-12-15 | 電磁継電器の特性測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07167927A JPH07167927A (ja) | 1995-07-04 |
| JP3070370B2 true JP3070370B2 (ja) | 2000-07-31 |
Family
ID=18046700
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5313886A Expired - Fee Related JP3070370B2 (ja) | 1993-12-15 | 1993-12-15 | 電磁継電器の特性測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3070370B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007173029A (ja) * | 2005-12-22 | 2007-07-05 | Hitachi Plant Technologies Ltd | 継電器の試験方法と試験装置 |
| KR101667635B1 (ko) | 2013-10-24 | 2016-10-19 | 엘에스산전 주식회사 | 고전압 릴레이 고장 진단 장치 및 이의 방법 |
| CN104635112B (zh) * | 2015-01-30 | 2017-05-10 | 山东钢铁股份有限公司 | 断路器合闸控制回路故障点的查找方法及装置 |
| CN108549023B (zh) * | 2018-06-21 | 2020-01-31 | 厦门大学 | 一种基于寻峰算法的继电器二次吸合电压检测装置与方法 |
-
1993
- 1993-12-15 JP JP5313886A patent/JP3070370B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH07167927A (ja) | 1995-07-04 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US3931610A (en) | Capacitive keyswitch sensor and method | |
| US20110178767A1 (en) | Measuring a time period | |
| JP3070370B2 (ja) | 電磁継電器の特性測定方法 | |
| CN109215559B (zh) | 驱动控制电路、驱动控制方法和显示装置 | |
| KR100327702B1 (ko) | 광센서장치 및 그에 이용되는 신호처리회로 | |
| CN101132152A (zh) | 用于检测切换电流中连续电流的装置与方法 | |
| US4608533A (en) | Automatic compensation circuit for use with analog multiplier | |
| US10778199B2 (en) | Oscillator temperature compensation techniques | |
| JPS59183050A (ja) | 内燃機関の混合気組成制御装置 | |
| JP4184657B2 (ja) | 圧力測定装置 | |
| CN109639261B (zh) | 比较电路、延时消除方法 | |
| JP3080450B2 (ja) | 測定装置 | |
| EP0557885B1 (en) | PWM sensor | |
| JPH0613252A (ja) | 変流器の感度補償方法及び装置 | |
| US6133949A (en) | Measuring circuit | |
| JPH01123161A (ja) | 電圧測定器のゼロオフセット補正装置 | |
| JP4211507B2 (ja) | コンデンサの良否判定方法及びコンデンサの特性選別装置 | |
| EP3729625B1 (en) | Estimation of equivalent input voltage supply | |
| JP2008039637A (ja) | 測定装置 | |
| JP2755291B2 (ja) | スラスタ制御回路 | |
| KR200231860Y1 (ko) | 아나로그/디지털변환기 | |
| SU1017998A2 (ru) | Электронный кулонометр с контролируемым потенциалом | |
| JPS6035314Y2 (ja) | 水平出力回路のホ−ルドダウン電圧測定装置 | |
| JPH0745683A (ja) | 半導体試験装置 | |
| SU661375A1 (ru) | Цифровой интегрирующий измеритель отношени двух посто нных напр жений |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20000425 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080526 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090526 Year of fee payment: 9 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090526 Year of fee payment: 9 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100526 Year of fee payment: 10 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |