JP2000241461A - 計測装置及びその計測装置を用いた回路遮断器 - Google Patents
計測装置及びその計測装置を用いた回路遮断器Info
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- JP2000241461A JP2000241461A JP11039442A JP3944299A JP2000241461A JP 2000241461 A JP2000241461 A JP 2000241461A JP 11039442 A JP11039442 A JP 11039442A JP 3944299 A JP3944299 A JP 3944299A JP 2000241461 A JP2000241461 A JP 2000241461A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 従来、サンプルホールド中のドループレート
を小さくするためには、高価なオペアンプ（低デバイス
電流品）および、ホールド用コンデンサ（低リーク電流
品）等を使用してきた。そこで、予め、電源電圧、温度
変化によるサンプルホールド中のドループレートを求め
て、計測時、電源電圧、および温度からサンプルホール
ド中のドループレートの補正を行い、高精度な回路遮断
器の通電情報計測装置を提供することを目的としいる。 【解決手段】 通電情報計測装置１９の内部に、サンプ
ルホールド回路１１を前段に配置したマイコン１５内の
Ａ／Ｄ変換回路１６と予め電源電圧または温度をパラメ
ータとして求めた補正係数を保持する記憶回路１８と、
補正係数を用い計測値を演算処理手段とを備えたもので
ある。
を小さくするためには、高価なオペアンプ（低デバイス
電流品）および、ホールド用コンデンサ（低リーク電流
品）等を使用してきた。そこで、予め、電源電圧、温度
変化によるサンプルホールド中のドループレートを求め
て、計測時、電源電圧、および温度からサンプルホール
ド中のドループレートの補正を行い、高精度な回路遮断
器の通電情報計測装置を提供することを目的としいる。 【解決手段】 通電情報計測装置１９の内部に、サンプ
ルホールド回路１１を前段に配置したマイコン１５内の
Ａ／Ｄ変換回路１６と予め電源電圧または温度をパラメ
ータとして求めた補正係数を保持する記憶回路１８と、
補正係数を用い計測値を演算処理手段とを備えたもので
ある。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、サンプルホール
ド回路を前段に配置したＡ／Ｄ変換回部（演算装置、例
えばマイコンで構成）有する通電情報の計測装置、並び
にこの計測装置を備えた回路遮断器における、サンプル
ホールド時間が長い（例えば、十から数百μＳ）データ
のドループレートの補正に関する。
ド回路を前段に配置したＡ／Ｄ変換回部（演算装置、例
えばマイコンで構成）有する通電情報の計測装置、並び
にこの計測装置を備えた回路遮断器における、サンプル
ホールド時間が長い（例えば、十から数百μＳ）データ
のドループレートの補正に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の回路遮断器の通電情報計測装置に
ついて説明する。図６は従来の回路遮断器の通電情報計
測装置を示すブロック構成図である。図６において、１
は、通電主導体２、整流回路３、一次変流器５、整流回
路３の出力に応じて開閉接点２を開閉させる引き外し部
（図示しない）等を有する回路遮断器である。２は通電
主導体４の電流をオン・オフする開閉接点、３は一次変
流器５の出力を整流する整流回路、６は一次側変流器５
に流れる電流を検出する二次変流器、７は通電主導体２
間の電圧（相間電圧）を検出する変圧器である。
ついて説明する。図６は従来の回路遮断器の通電情報計
測装置を示すブロック構成図である。図６において、１
は、通電主導体２、整流回路３、一次変流器５、整流回
路３の出力に応じて開閉接点２を開閉させる引き外し部
（図示しない）等を有する回路遮断器である。２は通電
主導体４の電流をオン・オフする開閉接点、３は一次変
流器５の出力を整流する整流回路、６は一次側変流器５
に流れる電流を検出する二次変流器、７は通電主導体２
間の電圧（相間電圧）を検出する変圧器である。
【０００３】１９は、サンプルホールド回路１１、マイ
コン１５（演算装置）等を有する通電情報計測装置であ
る。８は二次変流器６からの出力により通電主導体４に
流れる電流に対応するアナログ出力（IR、IS、IT）を得
る電流入力回路、９は変圧器７からの出力により相間電
圧に対応するアナログ出力（VRS、VST）を得る電圧入力
回路、１０はサンプルホールド回路１１、マイコン１５
等に電力を供給する電源である。１５はマイコンであ
り、通電情報（電流、電圧等）をサンプルホールド回路
１１に一旦保持させ、信号選択回路１３を通して、マイ
コン１５内のＡ／D変換回路１６により、図２のタイミ
ングチャートに示すタイミングで、サンプルホールド値
をデジタル変換し、必要に応じて、表示回路１２に表示
あるいは、通信Ｉ／Ｆ回路１４にて、外部パソコン（図
示しない）等に通電情報を通信する。１７は、時計回路
であり、電力量を演算するために使用する。１８は、負
荷（図示しない）の電圧、負荷へ流れる電流等の設定値
を記憶する回路である。
コン１５（演算装置）等を有する通電情報計測装置であ
る。８は二次変流器６からの出力により通電主導体４に
流れる電流に対応するアナログ出力（IR、IS、IT）を得
る電流入力回路、９は変圧器７からの出力により相間電
圧に対応するアナログ出力（VRS、VST）を得る電圧入力
回路、１０はサンプルホールド回路１１、マイコン１５
等に電力を供給する電源である。１５はマイコンであ
り、通電情報（電流、電圧等）をサンプルホールド回路
１１に一旦保持させ、信号選択回路１３を通して、マイ
コン１５内のＡ／D変換回路１６により、図２のタイミ
ングチャートに示すタイミングで、サンプルホールド値
をデジタル変換し、必要に応じて、表示回路１２に表示
あるいは、通信Ｉ／Ｆ回路１４にて、外部パソコン（図
示しない）等に通電情報を通信する。１７は、時計回路
であり、電力量を演算するために使用する。１８は、負
荷（図示しない）の電圧、負荷へ流れる電流等の設定値
を記憶する回路である。
【０００４】サンプルホールド回路１１について図を用
いて説明する。図７は、例えば特開昭６３−１００７０
０号公報に示される従来のサンプルホールド回路図であ
る。サンプルリング時における動作について説明する。
まず目標電圧が入力端子２５に印加され、その目標電圧
に達するまで、ホールド用コンデンサ２６が充電または
放電される。ついで入力端子２５をオープンとした場
合、出力端子２７には、ホールド用コンデンサ２６に充
電された目標電圧が出力される。このとき、主にオペア
ンプ２４の入力バイアス電流あるいは、ホールド用コン
デンサ２６のリーク電流によって、ドループレート（出
力電圧の変動）が生じる。従来は、このドループレート
を小さくするために、ホールド用コンデンサの低リーク
電流化、または、オペアンプの低入力バイアス電流化
等、部品自体の特性で対応していた。
いて説明する。図７は、例えば特開昭６３−１００７０
０号公報に示される従来のサンプルホールド回路図であ
る。サンプルリング時における動作について説明する。
まず目標電圧が入力端子２５に印加され、その目標電圧
に達するまで、ホールド用コンデンサ２６が充電または
放電される。ついで入力端子２５をオープンとした場
合、出力端子２７には、ホールド用コンデンサ２６に充
電された目標電圧が出力される。このとき、主にオペア
ンプ２４の入力バイアス電流あるいは、ホールド用コン
デンサ２６のリーク電流によって、ドループレート（出
力電圧の変動）が生じる。従来は、このドループレート
を小さくするために、ホールド用コンデンサの低リーク
電流化、または、オペアンプの低入力バイアス電流化
等、部品自体の特性で対応していた。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】従来の回路遮断器の通
電情報計測装置、特にそのサンプルホールド回路は、上
述したように、サンプルホールド中のドループレートを
小さくするために、高価なオペアンプ（低デバイス電流
品）および、ホールド用コンデンサ（低リーク電流品）
等を使用する必要があった。また、サンプルホールド時
間が長い（例えば、十から数百μＳ）サンプルホールド
回路のドループレートに対する対策が不十分であったの
で通電情報の計測精度が悪いという問題があった。さら
にまた、設置環境、特に温度に関し低温または高温であ
るときの条件が考慮されておらず、通電情報の計測精度
が悪いという問題があった。
電情報計測装置、特にそのサンプルホールド回路は、上
述したように、サンプルホールド中のドループレートを
小さくするために、高価なオペアンプ（低デバイス電流
品）および、ホールド用コンデンサ（低リーク電流品）
等を使用する必要があった。また、サンプルホールド時
間が長い（例えば、十から数百μＳ）サンプルホールド
回路のドループレートに対する対策が不十分であったの
で通電情報の計測精度が悪いという問題があった。さら
にまた、設置環境、特に温度に関し低温または高温であ
るときの条件が考慮されておらず、通電情報の計測精度
が悪いという問題があった。
【０００６】この発明は、かかる問題点を解決するため
になされたものであり、通電情報の計測制精度が高い計
測装置及びその計測装置を用いた回路遮断器を提供する
ことを目的としている。
になされたものであり、通電情報の計測制精度が高い計
測装置及びその計測装置を用いた回路遮断器を提供する
ことを目的としている。
【０００７】
【課題を解決するための手段】この発明に係る計測装置
は、通電導体の通電情報をサンプリングし、このサンプ
リング値を保持する複数のサンプルホールド素子を有す
るサンプルホールド回路と、このサンプルホールド回路
のサンプリング電圧を順次Ａ／Ｄ変換部を介して入力
し、上記通電導体の通電情報を計測する演算装置とを備
えた計測装置において、上記演算装置は、上記Ａ／Ｄ変
換部の出力値を入力し、当該サンプルホールド回路のサ
ンプリング値保持時間に応じて当該Ａ／Ｄ変換部の出力
値を補正し通電情報を計測するものである。
は、通電導体の通電情報をサンプリングし、このサンプ
リング値を保持する複数のサンプルホールド素子を有す
るサンプルホールド回路と、このサンプルホールド回路
のサンプリング電圧を順次Ａ／Ｄ変換部を介して入力
し、上記通電導体の通電情報を計測する演算装置とを備
えた計測装置において、上記演算装置は、上記Ａ／Ｄ変
換部の出力値を入力し、当該サンプルホールド回路のサ
ンプリング値保持時間に応じて当該Ａ／Ｄ変換部の出力
値を補正し通電情報を計測するものである。
【０００８】また、演算装置は、サンプルホールド回路
への供給電圧を入力し、この供給電圧に応じてＡ／Ｄ変
換部の出力値を補正するものである。また、演算装置
は、サンプルホールド回路周辺の温度を入力し、この温
度に応じてＡ／Ｄ変換部の出力値を補正するように形成
されたものである。また、演算装置は、サンプルホール
ド回路の使用時間を入力し、この使用時間に応じてＡ／
Ｄ変換部の出力値を補正するものである。
への供給電圧を入力し、この供給電圧に応じてＡ／Ｄ変
換部の出力値を補正するものである。また、演算装置
は、サンプルホールド回路周辺の温度を入力し、この温
度に応じてＡ／Ｄ変換部の出力値を補正するように形成
されたものである。また、演算装置は、サンプルホール
ド回路の使用時間を入力し、この使用時間に応じてＡ／
Ｄ変換部の出力値を補正するものである。
【０００９】また、サンプルホールド回路中のサンプル
ホールド素子の特性ばらつきを補正するために基準電圧
を発生する基準電圧発生回路と、上記サンプルホールド
回路の前段に、上記基準電圧発生回路からの出力と通電
導体からの通電情報を検出する手段からの出力値を切換
える基準電圧入力回路とを設けたものである。また、演
算装置との通信Ｉ／Ｆ回路を有し、Ａ／Ｄ変換部の出力
値を補正するための補正係数を上記通信Ｉ／Ｆ回路を介
して書き換え可能に形成されたものである。
ホールド素子の特性ばらつきを補正するために基準電圧
を発生する基準電圧発生回路と、上記サンプルホールド
回路の前段に、上記基準電圧発生回路からの出力と通電
導体からの通電情報を検出する手段からの出力値を切換
える基準電圧入力回路とを設けたものである。また、演
算装置との通信Ｉ／Ｆ回路を有し、Ａ／Ｄ変換部の出力
値を補正するための補正係数を上記通信Ｉ／Ｆ回路を介
して書き換え可能に形成されたものである。
【００１０】さらにまた、電流を通電する通電導体と、
この通電導体を開閉する開閉接点と、計測装置とを備
え、上記主回路の通電情報を計測するように形成された
ものである。
この通電導体を開閉する開閉接点と、計測装置とを備
え、上記主回路の通電情報を計測するように形成された
ものである。
【００１１】
【発明の実施の形態】実施の形態１．以下この発明の実
施の形態１について説明する。図１はこの発明の実施の
形態１に係る回路遮断器の通電情報計測装置のブロック
構成図である。図１において、１は、通電主導体（通電
導体）２、整流回路３、一次変流器５、整流回路３の出
力に応じて開閉接点２を開閉させる引き外し部（図示し
ない）等を有する回路遮断器である。２は通電主導体４
の電流をオン・オフする開閉接点、３は一次変流器５の
出力を整流する整流回路、４は電源（図示しない）側に
電源側端子４Ａ、負荷（図示しない）側に負荷側端子４
Ｂを有する回路遮断器１の主回路導体、６は一次側変流
器５に流れる電流を検出する二次変流器、７は通電主導
体２間の電圧（相間電圧）を検出する変圧器である。
施の形態１について説明する。図１はこの発明の実施の
形態１に係る回路遮断器の通電情報計測装置のブロック
構成図である。図１において、１は、通電主導体（通電
導体）２、整流回路３、一次変流器５、整流回路３の出
力に応じて開閉接点２を開閉させる引き外し部（図示し
ない）等を有する回路遮断器である。２は通電主導体４
の電流をオン・オフする開閉接点、３は一次変流器５の
出力を整流する整流回路、４は電源（図示しない）側に
電源側端子４Ａ、負荷（図示しない）側に負荷側端子４
Ｂを有する回路遮断器１の主回路導体、６は一次側変流
器５に流れる電流を検出する二次変流器、７は通電主導
体２間の電圧（相間電圧）を検出する変圧器である。
【００１２】１９は、サンプリング値を各サンプルホー
ルド素子（図示しない）に保持するサンプルホールド回
路１１、マイコン１５（演算装置）等を有する通電情報
計測装置である。８は二次変流器６からの出力により通
電主導体４に流れる電流に対応するアナログ出力
（ＩR、ＩS、ＩT）を得る電流入力回路、９は変圧器７
からの出力により相間電圧に対応するアナログ出力（Ｖ
RS、ＶST）を得る電圧入力回路、１０はサンプルホール
ド回路１１、マイコン１５等に所定の電圧（例えば１２
Ｖ）の電力を供給する電源である。１５はマイコンであ
り、通電情報（電流、電圧等）をサンプルホールド回路
１１に一旦保持させ、信号選択回路１３を通して、マイ
コン１５内のＡ／D（アナログ／ディジタル）変換回路
（Ａ／Ｄ変換部）１６により、サンプルホールド値をデ
ジタル変換し、必要に応じて、表示回路１２に表示ある
いは、通信Ｉ／Ｆ回路１４にて、外部パソコン（図示し
ない）等に通電情報を通信する。１７は、時計回路であ
り、時間計測や電力量を演算するために使用する。１８
は、後述するパラメータ、負荷の電圧、負荷へ流れる電
流等の設定値を記憶する回路である。２０は、電源回路
１０からサンプルホールド回路１１へ供給された供給電
圧信号であり、マイコン１５は／Ｄ変換回路１６を通し
て供給電圧を検出する。２１は例えばサーミスタにより
形成され、通電情報計測装置の温度を検出する温度検出
回路であり、この温度信号はＡ／Ｄ変換回路１６を通し
てマイコン１５に入力される。
ルド素子（図示しない）に保持するサンプルホールド回
路１１、マイコン１５（演算装置）等を有する通電情報
計測装置である。８は二次変流器６からの出力により通
電主導体４に流れる電流に対応するアナログ出力
（ＩR、ＩS、ＩT）を得る電流入力回路、９は変圧器７
からの出力により相間電圧に対応するアナログ出力（Ｖ
RS、ＶST）を得る電圧入力回路、１０はサンプルホール
ド回路１１、マイコン１５等に所定の電圧（例えば１２
Ｖ）の電力を供給する電源である。１５はマイコンであ
り、通電情報（電流、電圧等）をサンプルホールド回路
１１に一旦保持させ、信号選択回路１３を通して、マイ
コン１５内のＡ／D（アナログ／ディジタル）変換回路
（Ａ／Ｄ変換部）１６により、サンプルホールド値をデ
ジタル変換し、必要に応じて、表示回路１２に表示ある
いは、通信Ｉ／Ｆ回路１４にて、外部パソコン（図示し
ない）等に通電情報を通信する。１７は、時計回路であ
り、時間計測や電力量を演算するために使用する。１８
は、後述するパラメータ、負荷の電圧、負荷へ流れる電
流等の設定値を記憶する回路である。２０は、電源回路
１０からサンプルホールド回路１１へ供給された供給電
圧信号であり、マイコン１５は／Ｄ変換回路１６を通し
て供給電圧を検出する。２１は例えばサーミスタにより
形成され、通電情報計測装置の温度を検出する温度検出
回路であり、この温度信号はＡ／Ｄ変換回路１６を通し
てマイコン１５に入力される。
【００１３】次に動作について説明する。まずマイコン
１５への通電情報の取り込みについて説明する。図２は
通電情報計測装置の計測タイミングを示すタイミングチ
ャートであり、（ａ）はマイコン１５がサンプルホール
ド回路１１にサンプル値をホールドさせるサンプルホー
ルド信号、（ｂ）はマイコン１５が信号選択回路１３に
所望のチャネル（ＣＨ）の信号を選択させる選択信号、
（ｃ）はＡ／Ｄ変換回路１６に入力され変換される信
号、（ｄ）はマイコン１５の処理内容である。図２中、
Ｔ1，Ｔ2，Ｔ3，Ｔ4，Ｔ5は各チャネルの変換時刻、Ｔ
SHはサンプルホールド時間、ＴSRは１周期のサンプリン
グ時間であり、通電導体を通電する電流の周波数の１／
６４（約２４４μｓ）に相当する。なお、各チャネルは
サンプルホールド回路中の各サンプルホールド素子に対
応する。
１５への通電情報の取り込みについて説明する。図２は
通電情報計測装置の計測タイミングを示すタイミングチ
ャートであり、（ａ）はマイコン１５がサンプルホール
ド回路１１にサンプル値をホールドさせるサンプルホー
ルド信号、（ｂ）はマイコン１５が信号選択回路１３に
所望のチャネル（ＣＨ）の信号を選択させる選択信号、
（ｃ）はＡ／Ｄ変換回路１６に入力され変換される信
号、（ｄ）はマイコン１５の処理内容である。図２中、
Ｔ1，Ｔ2，Ｔ3，Ｔ4，Ｔ5は各チャネルの変換時刻、Ｔ
SHはサンプルホールド時間、ＴSRは１周期のサンプリン
グ時間であり、通電導体を通電する電流の周波数の１／
６４（約２４４μｓ）に相当する。なお、各チャネルは
サンプルホールド回路中の各サンプルホールド素子に対
応する。
【００１４】マイコン１５はサンプルホールド回路１１
にホールド切換を指令し、サンプルホールド回路１１は
入力を切換えサンプリングする（Ｓ１０）。サンプルホ
ールド回路１１は、サンプルホールド信号を入力したと
き（図２（ａ）で信号がＨとなったとき）、サンプリン
グ値をホールドする（Ｓ１２）。このとき、マイコン１
５から選択信号を入力した信号選択回路１３はサンプル
ホールド回路１１の１ＣＨの信号即ちＲ相電流ＩＲを選
択し、Ａ／Ｄ変換回路１６に出力し、Ａ／Ｄ変換する
（Ｓ１４）。１ＣＨの信号を変換後、マイコン１５から
選択信号を入力した信号選択回路１３はサンプルホール
ド回路１１の２ＣＨの信号即ちＳ相電流ＩＳを選択し、
Ａ／Ｄ変換回路１６に出力し、Ａ／Ｄ変換する（Ｓ１
６）。以降、同様にして、３ＣＨ〜５ＣＨの信号をＡ／
Ｄ変換する（Ｓ１８〜Ｓ２２）。その後、マイコン１５
はサンプルホールド回路１１にホールド解除させ（Ｓ２
４）、サンプルホールド信号をＬとして１周期のサンプ
リングを終了する。
にホールド切換を指令し、サンプルホールド回路１１は
入力を切換えサンプリングする（Ｓ１０）。サンプルホ
ールド回路１１は、サンプルホールド信号を入力したと
き（図２（ａ）で信号がＨとなったとき）、サンプリン
グ値をホールドする（Ｓ１２）。このとき、マイコン１
５から選択信号を入力した信号選択回路１３はサンプル
ホールド回路１１の１ＣＨの信号即ちＲ相電流ＩＲを選
択し、Ａ／Ｄ変換回路１６に出力し、Ａ／Ｄ変換する
（Ｓ１４）。１ＣＨの信号を変換後、マイコン１５から
選択信号を入力した信号選択回路１３はサンプルホール
ド回路１１の２ＣＨの信号即ちＳ相電流ＩＳを選択し、
Ａ／Ｄ変換回路１６に出力し、Ａ／Ｄ変換する（Ｓ１
６）。以降、同様にして、３ＣＨ〜５ＣＨの信号をＡ／
Ｄ変換する（Ｓ１８〜Ｓ２２）。その後、マイコン１５
はサンプルホールド回路１１にホールド解除させ（Ｓ２
４）、サンプルホールド信号をＬとして１周期のサンプ
リングを終了する。
【００１５】ついで、通電情報の計測について説明す
る。図３はサンプルホールド時間と電圧降下のモデルを
示す図であり、縦軸はサンプルホールド回路から出力さ
れる電圧、横軸はサンプルホールド時間、ΔＶi（ｉ＝
１，２，３，４，５）は時間Ｔi（ｉ＝１，２，３，
４，５）に対する補正値である。記憶回路１８に予め時
間Ｔi（ｉ＝１，２，３，４，５）に対する補正値ΔＶi
（ｉ＝１，２，３，４，５）を記憶させておく。マイコ
ン１５は、Ｓ１４〜Ｓ２２によりＡ／Ｄ変換部の出力値
Ｖを入力したとき、時計回路１７の入力に基づいて時間
Ｔiを検出し、この時間Ｔiに対応する補正値ΔＶiを記
憶回路１８から呼出し、当該出力値Ｖと当該補正値ΔＶ
iとを加算し、通電情報Ｖiを得る。即ち、マイコン１５
は式１により通電情報を計測する。 Ｖi＝Ｖ＋ΔＶi（ｉ＝１，２，３，４，５） ・・（式１）
る。図３はサンプルホールド時間と電圧降下のモデルを
示す図であり、縦軸はサンプルホールド回路から出力さ
れる電圧、横軸はサンプルホールド時間、ΔＶi（ｉ＝
１，２，３，４，５）は時間Ｔi（ｉ＝１，２，３，
４，５）に対する補正値である。記憶回路１８に予め時
間Ｔi（ｉ＝１，２，３，４，５）に対する補正値ΔＶi
（ｉ＝１，２，３，４，５）を記憶させておく。マイコ
ン１５は、Ｓ１４〜Ｓ２２によりＡ／Ｄ変換部の出力値
Ｖを入力したとき、時計回路１７の入力に基づいて時間
Ｔiを検出し、この時間Ｔiに対応する補正値ΔＶiを記
憶回路１８から呼出し、当該出力値Ｖと当該補正値ΔＶ
iとを加算し、通電情報Ｖiを得る。即ち、マイコン１５
は式１により通電情報を計測する。 Ｖi＝Ｖ＋ΔＶi（ｉ＝１，２，３，４，５） ・・（式１）
【００１６】以上のように、通電情報計測装置１９は、
複数のサンプルホールド素子を有するサンプルホールド
回路の出力を入力し、Ａ／Ｄ変換した値Ｖiをサンプル
ホールド時間Ｔiに応じて補正するので、通電情報の計
測制精度が高く、また、高価なオペアンプ（低デバイス
電流品）および、ホールド用コンデンサ（低リーク電流
品）等を用いずに、廉価に構成することができる。ま
た、サンプリング時間が例えば約２４４μｓと比較的長
くてもドループレートの影響がほとんどないので、クロ
ック周波数の低い廉価なマイコン１５を使用することが
可能となるばかりでなく、クロック周波数が低いので消
費電力を低くすることができという効果がある。また、
通電情報計測装置１９を用いた回路遮断器１は、上述と
同様の効果に加え、特に長時間例えば数十年通電情報を
計測する必要があるので消費電力を低くできるという優
れた効果を奏する。さらにまた、通電情報計測装置１９
を回路遮断器１以外に、例えば配電盤内に設けても長時
間通電情報を計測する必要があるので同様の効果があ
る。
複数のサンプルホールド素子を有するサンプルホールド
回路の出力を入力し、Ａ／Ｄ変換した値Ｖiをサンプル
ホールド時間Ｔiに応じて補正するので、通電情報の計
測制精度が高く、また、高価なオペアンプ（低デバイス
電流品）および、ホールド用コンデンサ（低リーク電流
品）等を用いずに、廉価に構成することができる。ま
た、サンプリング時間が例えば約２４４μｓと比較的長
くてもドループレートの影響がほとんどないので、クロ
ック周波数の低い廉価なマイコン１５を使用することが
可能となるばかりでなく、クロック周波数が低いので消
費電力を低くすることができという効果がある。また、
通電情報計測装置１９を用いた回路遮断器１は、上述と
同様の効果に加え、特に長時間例えば数十年通電情報を
計測する必要があるので消費電力を低くできるという優
れた効果を奏する。さらにまた、通電情報計測装置１９
を回路遮断器１以外に、例えば配電盤内に設けても長時
間通電情報を計測する必要があるので同様の効果があ
る。
【００１７】実施の形態２．図４はこの発明の実施の形
態２に係る通電情報計測装置の計測の補正係数を示す表
図であり、温度は温度検出回路２１により検出された温
度、電源はサンプルホールド回路１１への供給電圧、α
は補正係数である。温度検出回路２１により検出された
通電情報計測装置の温度信号、及び供給電圧信号２１
は、Ａ／Ｄ変換回路１６を通してマイコン１５に入力さ
れる。これら温度、電源（供給電圧）、補正係数αの対
応は予め記憶回路１８に保持しておく。
態２に係る通電情報計測装置の計測の補正係数を示す表
図であり、温度は温度検出回路２１により検出された温
度、電源はサンプルホールド回路１１への供給電圧、α
は補正係数である。温度検出回路２１により検出された
通電情報計測装置の温度信号、及び供給電圧信号２１
は、Ａ／Ｄ変換回路１６を通してマイコン１５に入力さ
れる。これら温度、電源（供給電圧）、補正係数αの対
応は予め記憶回路１８に保持しておく。
【００１８】次に動作について説明する。マイコン１５
は、Ｓ１４〜Ｓ２２によりＡ／Ｄ変換部の出力値Ｖを入
力したとき、時計回路１７の入力に基づいて時間Ｔiを
検出し、この時間Ｔiに対応する補正値ΔＶiを記憶回路
１８から呼出し、さらに、サンプルホールド回路１１へ
の供給電圧及び温度検出回路２１から温度の入力に基づ
いて対応する補正係数αを記憶回路１８から呼出し、当
該出力値Ｖと当該補正値ΔＶiに当該補正係数αを乗算
した値とを加算し、通電情報Ｖiを得る。即ち、マイコ
ン１５は式２により通電情報を計測する。 Ｖi＝Ｖ＋α・ΔＶi（ｉ＝１，２，３，４，５） ・・（式２）
は、Ｓ１４〜Ｓ２２によりＡ／Ｄ変換部の出力値Ｖを入
力したとき、時計回路１７の入力に基づいて時間Ｔiを
検出し、この時間Ｔiに対応する補正値ΔＶiを記憶回路
１８から呼出し、さらに、サンプルホールド回路１１へ
の供給電圧及び温度検出回路２１から温度の入力に基づ
いて対応する補正係数αを記憶回路１８から呼出し、当
該出力値Ｖと当該補正値ΔＶiに当該補正係数αを乗算
した値とを加算し、通電情報Ｖiを得る。即ち、マイコ
ン１５は式２により通電情報を計測する。 Ｖi＝Ｖ＋α・ΔＶi（ｉ＝１，２，３，４，５） ・・（式２）
【００１９】供給電圧にばらつきのある電源を使用した
ときにも、通電情報の計測制精度が高い計測装置を提供
することができる。
ときにも、通電情報の計測制精度が高い計測装置を提供
することができる。
【００２０】以上のように構成したので、実施の形態１
と同等の効果に加え、サンプルホールド回路１１への供
給電圧及び温度検出回路２１から温度に応じて補正値Δ
Ｖiを補正するので、より計測の精度を高くすることが
可能であるとともに、供給電圧にばらつきのある電源を
使用したときにも、温度にばらつきがある雰囲気におい
ても、精度の高い計測が可能となる。また、温度による
補正値ΔＶiの補正をすることができるので、雰囲気の
比較的広範囲で温度が変化する（例えば夏の昼間と冬の
夜間の温度）位置に設けられる回路遮断器のときに特に
有用である。なお、実施の形態２では、供給電圧及び温
度に応じて補正値ΔＶiを補正する例について説明した
が、供給電圧と温度の一方をパラメータとして補正係数
αを決定する構成としても良い。また、通電情報計測装
置１９の温度を検出する例について説明したが、精度の
観点から温度検出回路２１はサンプルホールド回路１１
の周辺に配置することが好ましい。
と同等の効果に加え、サンプルホールド回路１１への供
給電圧及び温度検出回路２１から温度に応じて補正値Δ
Ｖiを補正するので、より計測の精度を高くすることが
可能であるとともに、供給電圧にばらつきのある電源を
使用したときにも、温度にばらつきがある雰囲気におい
ても、精度の高い計測が可能となる。また、温度による
補正値ΔＶiの補正をすることができるので、雰囲気の
比較的広範囲で温度が変化する（例えば夏の昼間と冬の
夜間の温度）位置に設けられる回路遮断器のときに特に
有用である。なお、実施の形態２では、供給電圧及び温
度に応じて補正値ΔＶiを補正する例について説明した
が、供給電圧と温度の一方をパラメータとして補正係数
αを決定する構成としても良い。また、通電情報計測装
置１９の温度を検出する例について説明したが、精度の
観点から温度検出回路２１はサンプルホールド回路１１
の周辺に配置することが好ましい。
【００２１】実施の形態３．図５はこの発明の実施の形
態３を示す回路遮断器の通電情報計測装置のブロック構
成図である。図５において、２２はサンプルホールド回
路１１中の各サンプルホールド素子のバラツキ補正をす
るための基準電圧を発生する基準電圧発生回路、２３は
サンプルホールド回路１１の前段に設けられ、基準電圧
発生回路２３と電流入力回路８、電圧入力回路９との入
力を切換える基準電圧入力回路である。その他の構成は
実施の形態１、２と同様であるのでその説明を省略す
る。
態３を示す回路遮断器の通電情報計測装置のブロック構
成図である。図５において、２２はサンプルホールド回
路１１中の各サンプルホールド素子のバラツキ補正をす
るための基準電圧を発生する基準電圧発生回路、２３は
サンプルホールド回路１１の前段に設けられ、基準電圧
発生回路２３と電流入力回路８、電圧入力回路９との入
力を切換える基準電圧入力回路である。その他の構成は
実施の形態１、２と同様であるのでその説明を省略す
る。
【００２２】次に動作について説明する。まず、初期の
ばらつき補正について説明する。通電情報計測装置１９
の使用前に、例えばマイコン１５の指令により、基準電
圧入力回路２３を基準電圧発生回路２２に接続させ、サ
ンプルホールド回路１５の各サンプルホールド素子に基
準電圧例えば５Ｖを保持させる。Ｓ１２〜Ｓ２２によ
り、マイコン１５は上記各サンプルホールド素子に保持
された電圧を検出し（補正値ΔＶiによる補正済）、基
準電圧との電圧差を求める。マイコン１５はこの電圧差
に基づいて補正値ΔＶ iを補正し、その値を記憶回路１
８に保持させ、以後計測の補正値として使用する。例え
ば、３番目のサンプルホールド素子に保持された電圧
４．８Ｖを検出し、基準電圧５Ｖとの電圧差０．２Ｖを
求める。マイコン１５はこの電圧差０．２Ｖに基づいて
補正値ΔＶiを補正する（＋０．２Ｖ加算する）。
ばらつき補正について説明する。通電情報計測装置１９
の使用前に、例えばマイコン１５の指令により、基準電
圧入力回路２３を基準電圧発生回路２２に接続させ、サ
ンプルホールド回路１５の各サンプルホールド素子に基
準電圧例えば５Ｖを保持させる。Ｓ１２〜Ｓ２２によ
り、マイコン１５は上記各サンプルホールド素子に保持
された電圧を検出し（補正値ΔＶiによる補正済）、基
準電圧との電圧差を求める。マイコン１５はこの電圧差
に基づいて補正値ΔＶ iを補正し、その値を記憶回路１
８に保持させ、以後計測の補正値として使用する。例え
ば、３番目のサンプルホールド素子に保持された電圧
４．８Ｖを検出し、基準電圧５Ｖとの電圧差０．２Ｖを
求める。マイコン１５はこの電圧差０．２Ｖに基づいて
補正値ΔＶiを補正する（＋０．２Ｖ加算する）。
【００２３】ついで、定期的なばらつき補正について説
明する。マイコン１５は、所定の期間毎例えばサンプル
ホールド回路１１の使用時間が１０００時間毎に、基準
電圧入力回路２３を基準電圧発生回路２２に接続させ、
サンプルホールド回路１５の各サンプルホールド素子に
基準電圧例えば５Ｖを保持させる。Ｓ１２〜Ｓ２２によ
り、マイコン１５は上記各サンプルホールド素子に保持
された電圧を検出し（補正値ΔＶiによる補正済）、基
準電圧との電圧差を求める。マイコン１５はこの電圧差
に基づいて補正値ΔＶiを補正し、その値を記憶回路１
８に保持させ、以後計測の補正値として使用する。
明する。マイコン１５は、所定の期間毎例えばサンプル
ホールド回路１１の使用時間が１０００時間毎に、基準
電圧入力回路２３を基準電圧発生回路２２に接続させ、
サンプルホールド回路１５の各サンプルホールド素子に
基準電圧例えば５Ｖを保持させる。Ｓ１２〜Ｓ２２によ
り、マイコン１５は上記各サンプルホールド素子に保持
された電圧を検出し（補正値ΔＶiによる補正済）、基
準電圧との電圧差を求める。マイコン１５はこの電圧差
に基づいて補正値ΔＶiを補正し、その値を記憶回路１
８に保持させ、以後計測の補正値として使用する。
【００２４】以上のように、基準電圧によりサンプルホ
ールド回路１１の各サンプルホールド素子を個別に補正
することができるので、サンプルホールド素子個体によ
らず高精度な計測をすることができるとともに、比較的
精度の低い廉価なサンプルホールド素子を使用すること
ができる。また、通電情報計測装置１９を用いた回路遮
断器１は、上述と同様の効果に加え、特に長時間例えば
数十年通電情報を計測する必要があるので、定期的なば
らつき補正をすることにより、経時的なサンプルホール
ド素子他の特性変化に対応すべく対応できるので高精度
な計測をすることができる。
ールド回路１１の各サンプルホールド素子を個別に補正
することができるので、サンプルホールド素子個体によ
らず高精度な計測をすることができるとともに、比較的
精度の低い廉価なサンプルホールド素子を使用すること
ができる。また、通電情報計測装置１９を用いた回路遮
断器１は、上述と同様の効果に加え、特に長時間例えば
数十年通電情報を計測する必要があるので、定期的なば
らつき補正をすることにより、経時的なサンプルホール
ド素子他の特性変化に対応すべく対応できるので高精度
な計測をすることができる。
【００２５】なお、時計回路１７を用いて、予め経時変
化をパラメータとして求めた補正係数を記憶回路１８に
保持させ、その補正係数を用いて、計測値をマイコン１
５により演算処理させても上述と同様の効果が得られ
る。また、補正係数を通信Ｉ／Ｆ回路１４を通して書き
換え可能な構成とすれば、回路遮断器本体１側が、故障
あるいは負荷電圧等の仕様変更による補正係数の変更が
必要となった場合においても対応が可能となる。
化をパラメータとして求めた補正係数を記憶回路１８に
保持させ、その補正係数を用いて、計測値をマイコン１
５により演算処理させても上述と同様の効果が得られ
る。また、補正係数を通信Ｉ／Ｆ回路１４を通して書き
換え可能な構成とすれば、回路遮断器本体１側が、故障
あるいは負荷電圧等の仕様変更による補正係数の変更が
必要となった場合においても対応が可能となる。
【００２６】
【発明の効果】この発明に係る計測装置は、通電導体の
通電情報をサンプリングし、このサンプリング値を保持
する複数のサンプルホールド素子を有するサンプルホー
ルド回路と、このサンプルホールド回路のサンプリング
電圧を順次Ａ／Ｄ変換部を介して入力し、上記通電導体
の通電情報を計測する演算装置とを備えた計測装置にお
いて、上記演算装置は、上記Ａ／Ｄ変換部の出力値を入
力し、当該サンプルホールド回路のサンプリング値保持
時間に応じて当該Ａ／Ｄ変換部の出力値を補正し通電情
報を計測するので、サンプリング周期が長いときにも通
電情報の計測制精度が高い計測装置を提供することがで
きる。
通電情報をサンプリングし、このサンプリング値を保持
する複数のサンプルホールド素子を有するサンプルホー
ルド回路と、このサンプルホールド回路のサンプリング
電圧を順次Ａ／Ｄ変換部を介して入力し、上記通電導体
の通電情報を計測する演算装置とを備えた計測装置にお
いて、上記演算装置は、上記Ａ／Ｄ変換部の出力値を入
力し、当該サンプルホールド回路のサンプリング値保持
時間に応じて当該Ａ／Ｄ変換部の出力値を補正し通電情
報を計測するので、サンプリング周期が長いときにも通
電情報の計測制精度が高い計測装置を提供することがで
きる。
【００２７】また、演算装置は、サンプルホールド回路
への供給電圧を入力し、この供給電圧に応じてＡ／Ｄ変
換部の出力値を補正するので、供給電圧にばらつきのあ
る電源を使用したときにも、通電情報の計測制精度が高
い計測装置を提供することができる。
への供給電圧を入力し、この供給電圧に応じてＡ／Ｄ変
換部の出力値を補正するので、供給電圧にばらつきのあ
る電源を使用したときにも、通電情報の計測制精度が高
い計測装置を提供することができる。
【００２８】また、演算装置は、サンプルホールド回路
周辺の温度を入力し、この温度に応じてＡ／Ｄ変換部の
出力値を補正するように形成されたので、温度にばらつ
きがある雰囲気においても、通電情報の計測制精度が高
い計測装置を提供することができる。
周辺の温度を入力し、この温度に応じてＡ／Ｄ変換部の
出力値を補正するように形成されたので、温度にばらつ
きがある雰囲気においても、通電情報の計測制精度が高
い計測装置を提供することができる。
【００２９】また、演算装置は、サンプルホールド回路
の使用時間を入力し、この使用時間に応じてＡ／Ｄ変換
部の出力値を補正するので、経時変化による特性変化が
あっても、通電情報の計測制精度が高い計測装置を提供
することができる。
の使用時間を入力し、この使用時間に応じてＡ／Ｄ変換
部の出力値を補正するので、経時変化による特性変化が
あっても、通電情報の計測制精度が高い計測装置を提供
することができる。
【００３０】また、サンプルホールド回路中のサンプル
ホールド素子の特性ばらつきを補正するために基準電圧
を発生する基準電圧発生回路と、上記サンプルホールド
回路の前段に、上記基準電圧発生回路からの出力と通電
導体からの通電情報を検出する手段からの出力値を切換
える基準電圧入力回路とを設けたので、サンプルホール
ド素子個体によらず高精度な計測をすることができる。
ホールド素子の特性ばらつきを補正するために基準電圧
を発生する基準電圧発生回路と、上記サンプルホールド
回路の前段に、上記基準電圧発生回路からの出力と通電
導体からの通電情報を検出する手段からの出力値を切換
える基準電圧入力回路とを設けたので、サンプルホール
ド素子個体によらず高精度な計測をすることができる。
【００３１】また、演算装置との通信Ｉ／Ｆ回路を有
し、Ａ／Ｄ変換部の出力値を補正するための補正係数を
上記通信Ｉ／Ｆ回路を介して書き換え可能に形成された
ので、サンプルホールド素子個体の経時的特性によらず
高精度な計測をすることができる。
し、Ａ／Ｄ変換部の出力値を補正するための補正係数を
上記通信Ｉ／Ｆ回路を介して書き換え可能に形成された
ので、サンプルホールド素子個体の経時的特性によらず
高精度な計測をすることができる。
【００３２】さらにまた、電流を通電する通電導体と、
この通電導体を開閉する開閉接点と、計測装置とを備
え、上記主回路の通電情報を計測するように形成された
ので、通電情報の計測制精度が高い計測装置を用いた回
路遮断器を提供することができる。
この通電導体を開閉する開閉接点と、計測装置とを備
え、上記主回路の通電情報を計測するように形成された
ので、通電情報の計測制精度が高い計測装置を用いた回
路遮断器を提供することができる。
【図１】 従来の回路遮断器の通電情報計測装置のブロ
ック構成を示す図である。
ック構成を示す図である。
【図２】 通電情報計測装置の計測タイミングを示すタ
イミングチャートである。
イミングチャートである。
【図３】 サンプルホールド時間と電圧降下のモデルを
示す図である。
示す図である。
【図４】 この発明の実施の形態２に係る通電情報計測
装置の計測の補正係数を示す表図である。
装置の計測の補正係数を示す表図である。
【図５】 この発明の実施の形態３を示す回路遮断器の
通電情報計測装置のブロック構成図である。
通電情報計測装置のブロック構成図である。
【図６】 従来の回路遮断器の通電情報計測装置を示す
ブロック構成図である。
ブロック構成図である。
【図７】従来のサンプルホールド回路図である。
１ 回路遮断器本体、 ２ 開閉接点、 ３ 整流
回路、 ４ 通電主導体、 ５ １次変流器、
６ ２次変流器、 ７ 変圧器、 ８ 電流入力回
路、 ９ 電圧入力回路、 １０ 電源回路、
１１ サンプルホールド回路、 １２ 表示回路、
１３ 信号選択回路、 １４ 通信Ｉ／Ｆ回路、
１５ マイコン、 １６ Ａ／Ｄ変換回路、 １
７ 時計回路、 １８ 記憶回路、 １９ 通電情
報計測装置、 ２０ 電源電圧信号、 ２１ 温度
検出回路、 ２２ 基準電圧発生回路、 ２３ 基
準電圧入力回路、 ２４ オペアンプ、 ２５ 入
力端子、 ２６ ホールド用コンデンサ、 ２７
出力端子
回路、 ４ 通電主導体、 ５ １次変流器、
６ ２次変流器、 ７ 変圧器、 ８ 電流入力回
路、 ９ 電圧入力回路、 １０ 電源回路、
１１ サンプルホールド回路、 １２ 表示回路、
１３ 信号選択回路、 １４ 通信Ｉ／Ｆ回路、
１５ マイコン、 １６ Ａ／Ｄ変換回路、 １
７ 時計回路、 １８ 記憶回路、 １９ 通電情
報計測装置、 ２０ 電源電圧信号、 ２１ 温度
検出回路、 ２２ 基準電圧発生回路、 ２３ 基
準電圧入力回路、 ２４ オペアンプ、 ２５ 入
力端子、 ２６ ホールド用コンデンサ、 ２７
出力端子
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考） Ｈ０３Ｍ 1/12 Ｈ０３Ｍ 1/12 Ａ Ｃ
Claims (7)
- 【請求項１】 通電導体の通電情報をサンプリングし、
このサンプリング値を保持する複数のサンプルホールド
素子を有するサンプルホールド回路と、このサンプルホ
ールド回路のサンプリング電圧を順次Ａ／Ｄ変換部を介
して入力し、上記通電導体の通電情報を計測する演算装
置とを備えた計測装置において、 上記演算装置は、上記Ａ／Ｄ変換部の出力値を入力し、
当該サンプルホールド回路のサンプリング値保持時間に
応じて当該Ａ／Ｄ変換部の出力値を補正し通電情報を計
測するように形成されたことを特徴とする計測装置。 - 【請求項２】 演算装置は、サンプルホールド回路への
供給電圧を入力し、この供給電圧に応じてＡ／Ｄ変換部
の出力値を補正するように形成されたことを特徴とする
請求項１記載の計測装置。 - 【請求項３】 演算装置は、サンプルホールド回路周辺
の温度を入力し、この温度に応じてＡ／Ｄ変換部の出力
値を補正するように形成されたことを特徴とする請求項
１又は２記載の計測装置。 - 【請求項４】 演算装置は、サンプルホールド回路の使
用時間を入力し、この使用時間に応じてＡ／Ｄ変換部の
出力値を補正するように形成されたことを特徴とする請
求項１〜３のいずれか一項記載の計測装置。 - 【請求項５】 サンプルホールド回路中のサンプルホー
ルド素子の特性ばらつきを補正するために基準電圧を発
生する基準電圧発生回路と、上記サンプルホールド回路
の前段に、上記基準電圧発生回路からの出力と通電導体
からの通電情報を検出する手段からの出力値を切換える
基準電圧入力回路とを設けたことを特徴とする請求項１
〜４のいずれか一項記載の計測装置。 - 【請求項６】 演算装置との通信Ｉ／Ｆ回路を有し、請
求項１〜４のいずれか一項記載のＡ／Ｄ変換部の出力値
を補正するための補正係数を上記通信Ｉ／Ｆ回路を介し
て書き換え可能に形成されたことを特徴とする請求項５
記載の計測装置。 - 【請求項７】 電流を通電する通電導体と、この通電導
体を開閉する開閉接点と、請求項１〜６のいずれか一項
記載の計測装置とを備え、上記主回路の通電情報を計測
するように形成されたことを特徴とする回路遮断器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11039442A JP2000241461A (ja) | 1999-02-18 | 1999-02-18 | 計測装置及びその計測装置を用いた回路遮断器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11039442A JP2000241461A (ja) | 1999-02-18 | 1999-02-18 | 計測装置及びその計測装置を用いた回路遮断器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000241461A true JP2000241461A (ja) | 2000-09-08 |
Family
ID=12553142
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11039442A Pending JP2000241461A (ja) | 1999-02-18 | 1999-02-18 | 計測装置及びその計測装置を用いた回路遮断器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000241461A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002008510A (ja) * | 2000-06-16 | 2002-01-11 | Mitsubishi Electric Corp | 配線用遮断器 |
| JP2006127888A (ja) * | 2004-10-28 | 2006-05-18 | Hitachi Industrial Equipment Systems Co Ltd | 漏電遮断器及びそれを用いた絶縁監視システム |
| JP2008079367A (ja) * | 2006-09-19 | 2008-04-03 | Toshiba Corp | 保護継電装置 |
| JP2009095097A (ja) * | 2007-10-04 | 2009-04-30 | Panasonic Electric Works Co Ltd | 電子式遮断器 |
| JP2016011922A (ja) * | 2014-06-30 | 2016-01-21 | 新電元工業株式会社 | 電圧測定回路 |
-
1999
- 1999-02-18 JP JP11039442A patent/JP2000241461A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002008510A (ja) * | 2000-06-16 | 2002-01-11 | Mitsubishi Electric Corp | 配線用遮断器 |
| JP2006127888A (ja) * | 2004-10-28 | 2006-05-18 | Hitachi Industrial Equipment Systems Co Ltd | 漏電遮断器及びそれを用いた絶縁監視システム |
| JP4504783B2 (ja) * | 2004-10-28 | 2010-07-14 | 株式会社日立産機システム | 絶縁監視システム |
| JP2008079367A (ja) * | 2006-09-19 | 2008-04-03 | Toshiba Corp | 保護継電装置 |
| JP2009095097A (ja) * | 2007-10-04 | 2009-04-30 | Panasonic Electric Works Co Ltd | 電子式遮断器 |
| JP2016011922A (ja) * | 2014-06-30 | 2016-01-21 | 新電元工業株式会社 | 電圧測定回路 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| RD01 | Notification of change of attorney |
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|
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