JP3067331B2 - 顕微鏡 - Google Patents

顕微鏡

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  • Microscoopes, Condenser (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は比較的大きな標本,例え
ば大径ウェハや大型液晶基板の検査に用いられる顕微鏡
に関する。
【0002】
【従来の技術】従来のこの種の顕微鏡は観察を必要とす
る試料の範囲をカバーできるX−Y方向に移動可能なス
テージを備えた構造であった。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上記のような従来の顕
微鏡においては、例えば液晶基板の顕微鏡検査の場合、
500mm角の試料を観察しようとすると、ステージのス
トロークだけでもステージの占有床面積が1000mm角
になってしまい、構造上大変に大きな装置となり、限ら
れた工場スペースを占拠してしまうという問題があっ
た。また、このようなステージは重量も大きくその移動
には大きなトルクを必要とする。特にX−Yステージの
下側のステージの移動の際には大重量の二つのステージ
全体を動かすことになる。そのためステージを電動駆動
する場合には大出力のモータを必要とし、更に装置の大
型化を助長してしまうという問題点があった。
【0004】本発明はこのような従来の問題点に鑑みて
なされたもので、標本を観察するときに、リレー光学系
の伸縮量を小さくすることが可能な顕微鏡を提供するこ
とを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、本発明においては、対物レンズの光軸に直交する
平面内で移動するステージを有する顕微鏡において、前
記対物レンズの光軸と平行な光軸を有する観察光学系
と、前記対物レンズと前記観察光学系との間にリレー光
路を形成する伸縮可能なリレー光学系と、前記リレー光
学系及び前記対物レンズが前記観察光学系の光軸を中心
に所定角度範囲内で旋回する旋回手段とを有し、前記ス
テージは、前記旋回手段の所定角度範囲内の中間位置に
おける、前記対物レンズの光軸と前記観察光学系の光軸
とを結ぶ直線と略平行な第1の方向に移動可能で、前記
対物レンズは、前記第1の方向と略直交する第2の方向
に移動可能である構成とした。
【0006】
【0007】
【0008】
【作用】リレー光学系及び対物レンズが観察光学系の光
軸を中心に所定角度範囲内で旋回する旋回手段を有する
顕微鏡は、ステージが、前記旋回手段の所定角度範囲内
の中間位置における、前記対物レンズの光軸と前記観察
光学系の光軸とを結ぶ直線と略平行な第1の方向に移動
可能で、対物レンズが、前記第1の方向と略直交する第
2の方向に移動可能であるので、前記リレー光学系の伸
縮量が小さくなる。
【0009】
【実施例】図1および図2を参照して本発明の第1実施
例を説明する。ベース1上にはレール12が固定され、
ステージ4の下部に直動ガイド11が固定され、ステー
ジ4はベース1上で観察鏡筒9に取り付けられた接眼レ
ンズ10を覗く観察者に対して、近づいたり遠ざかった
りする方向に直線移動する。対物レンズ5は対物レンズ
ユニット6の下端に取り付けられ、該対物レンズユニッ
ト6は対物レンズ移動部材8の下部に設けられた回転案
内8aに対物レンズの光軸を中心に回転可能に取り付け
られている。対物レンズ移動部材8の上部には、直動ガ
イド13が固定され、天井2の下部に固定されたレール
14により、対物レンズ移動部材8はステージの移動方
向と直交する方向に直線移動する。
【0010】ベース1と天井2とは支持部材3a,3b
によって互いに連結固定され、天井2の下部に設けられ
た回転案内2aには、観察光学系ユニット7が回転可能
に嵌合している。対物レンズユニット6内には1個以上
のリレーレンズ15,17が設けられ、ユニット6内に
固定された反射鏡16により対物レンズからの光を偏向
させ、観察光学系ユニット7へ導く。ユニット7内には
1個以上のリレーレンズ18,20が設けられ、反射鏡
16と平行な反射面を有する反射鏡19が固定されてい
る。リレーレンズ15の光軸(対物レンズ光軸)は対物
レンズユニット6の回転軸と一致し、リレーレンズ20
の光軸(観察光軸)は観察光学系ユニット7の回転軸と
一致するようにそれぞれ設けられている。
【0011】対物レンズユニット6からの光の射出口部
分と観察光学系ユニット7への光の入射口部分とは、直
線案内6a,7aによって、光軸方向に相対的に移動可
能に連結され、これらの部分にそれぞれ設けられたリレ
ーレンズ17,18の間は、対物レンズ5によって形成
された物体像に関して平行系になるように構成されてい
る。
【0012】ベース1とステージ4との間には、ステー
ジ4をレール12に沿ってX方向に移動させるための図
示なき移動機構が設けられ、天井2と対物レンズ移動部
材8との間にも、対物レンズ移動部材8をレール14に
そってY方向に移動させるための図示なき移動機構が設
けられている。これらの移動機構は何れも電動モータを
備え、これらの電動モータを制御する駆動制御回路は、
キーボードやジョイスティック等の操作装置からのステ
ージ移動指令、あるいはコンピュータに予めプログラム
されたステージ移動指令に従って電動モータを駆動す
る。
【0013】本実施例の動作を説明する。ステージ移動
指令が発せられると、駆動制御回路はX−Y方向の電動
モータを各成分の移動量に対応して駆動する。それによ
って試料のX方向への移動のためにステージ4がレール
12に沿って直線移動し、試料のY方向への移動のため
に対物レンズ移動部材8がレール14に沿って直線移動
する。この両者の移動によって試料全体が観察可能なよ
うに、それぞれの移動範囲が定められている。
【0014】図1に示すように対物レンズ5がレール1
4のほぼ中央に位置する時、対物レンズ光軸と観察光軸
との光軸間距離はL1であり、対物レンズ5がレール1
4の上端または下端に移動した位置にある時、上記光軸
間距離はL2となる。このように対物レンズ5がY方向
に移動すると光軸間距離が変化するが、回転案内8a,
2aに伴う反射鏡16,19の回転と、直線案内6a,
7aにおける相対移動とによって、リレーレンズ17,
18間は平行系が維持される。光軸間に生じる光路長の
変化(L2−L1)に従ってリレーレンズ17,18間
の距離が変化するが、物体像に関して平行系になってい
るために焦準ずれや倍率の変化は起きず、試料全体を同
一条件で観察することができる。
【0015】尚、照明系については図示していないが、
反射照明装置は対物レンズユニット6に直接装着して対
物レンズと一体に動かしても良いし、上述のような構成
を照明系に採用することも可能である。また、透過照明
装置については、ベース1の内部に対物レンズユニット
の動きと連動してY方向に移動するように設けると共
に、ベース1およびステージ4にY方向に延びた照明窓
をそれぞれ設けておけば良い。
【0016】図3および図4は本発明の第2実施例を示
し、第1実施例と同一機能の部材には同一番号を付して
ある。第2実施例では観察者に対してステージ4が左右
方向に移動するように構成され、そのために図示なきリ
レーレンズと反射鏡とを含む光学ユニット21が観察鏡
筒と観察光学系ユニット7との間に設けられている。ま
た、ベース1と天井22とを連結する支持部材23a,
23bは、第1実施例よりもステージ4の移動範囲の外
側に(図の左方向に)ずれた位置にそれぞれ配置され、
特に観察側の支持部材23bの右端のX方向の長さは他
方の支持部材23aより短く構成されている。それによ
ってステージ上での試料交換が妨げられることがない。
【0017】顕微鏡が配置される工場内のレイアウトの
関係で、上述の第1実施例と第2実施例との何れを選択
すれかを決定すればよい。図5および図6は本発明の第
3実施例を示す。ベース31上にはX−方向に延びるレ
ール42が固定され、ステージ34の下部に設けられた
直動ガイド41を介してステージ34は観察鏡筒39を
覗く観察者に対して近づいたり遠ざかったりする方向に
直線移動する。対物レンズ35は対物レンズユニット3
6の下端に取り付けられ、該対物レンズユニット36の
対物レンズ移動部材38の下部に設けられた回転案内3
8aに対物レンズの光軸を中心に回転可能に装着されて
いる。対物レンズ移動部材38は、上部に固定された直
動ガイド43によって、天井32の下部に固定されたレ
ール44に沿ってY方向に直線移動する。ベース31と
天井32とは支持部材33a,33bによって連結固定
されている。
【0018】観察光学系ユニット37は、天井32の下
部に設けられた回転案内32aに、観察鏡筒への光軸
(観察光軸)を中心に回転可能に嵌合している。対物レ
ンズユニット36内には第1,第2の反射鏡45,46
が反射面を平行に対向させてそれぞれ固定され、観察光
学系ユニット37内には第3,第4の反射鏡47,48
が反射面を平行に対向させてそれぞれ固定されている。
第2の反射鏡46と第3の反射鏡47の反射面も平行に
対向するように設けられている。そして、対物レンズユ
ニット36からの光の射出口部分と観察光学系ユニット
37への光の入射口部分とは、回転案内36a,37a
によって回転可能に連結されている。
【0019】前述の第1実施例において説明したよう
に、対物レンズ35がレール44のほぼ中央に位置する
時、対物レンズ光軸と観察光軸との光軸間距離はL1で
あり、対物レンズ35がレール44の上端または下端に
移動した位置にある時、上記光軸間距離はL2となるの
で、対物レンズの移動に伴ってX−Y平面内で(L2−
L1)だけ距離の変化が生じることになる。本実施例は
この距離の変化を、回転案内36a,37aの回転によ
る光路の折り曲げによって対応するように構成したもの
である。即ち、第1,第2反射鏡45,46間の光路長
l1と第3,第4反射鏡47,48間の光路長l2との
和が(l1+l2)≧l2となるように構成されてい
る。
【0020】以下に動作を説明する。対物レンズ35か
らの光は第1の反射鏡45で偏向され、第2〜第4の反
射鏡46〜48によって観察鏡筒39に導かれる。対物
レンズによる像は図示なきリレーレンズ系によって接眼
レンズの像面に結像される。対物レンズ35がレール4
4のほぼ中央に位置する時、対物レンズ光軸と観察光軸
との光軸間距離が最短のため、対物レンズユニット36
と観察光学系ユニット37とは中央の回転案内36a,
37aで大きな角度で屈曲した状態になる。また、対物
レンズ35がレール44の両端に位置する時には上記光
軸間距離が最長になり、対物レンズユニット36と観察
光学系ユニット37とは中央の回転案内36a,37a
で小さな角度で屈曲するか、一直線状に整列する。この
ように、対物レンズが移動しても光学的な光路長は一定
であり、また第1,第2反射鏡45,46の両反射面お
よび第3,第4反射鏡47,48の両反射面は、それぞ
れ平行が維持されるので、像の回転もなく試料の全範囲
を同一条件で観察することができる。
【0021】本第3実施例についても、観察者に対して
ステージ34の移動方向が左右方向になるように、第2
実施例と同様な構成を用いて変更可能であることは言う
までもない。
【0022】
【発明の効果】リレー光学系及び対物レンズが観察光学
系の光軸を中心に所定角度範囲内で旋回する旋回手段を
有し、ステージは、前記旋回手段の所定角度範囲内の中
間位置における、前記対物レンズの光軸と前記観察光学
系の光軸とを結ぶ直線と略平行な第1の方向に移動可能
で、前記対物レンズは、前記第1の方向と略直交する第
2の方向に移動可能であるような構成にしたので、リレ
ー光学系の伸縮量が非常に小さくなり、操作性が向上す
ると共に装置を小さくすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施例による顕微鏡の平面図であ
る。
【図2】図1のA−A矢視断面図である。
【図3】本発明の第2実施例による顕微鏡の平面図であ
る。
【図4】図3のB−B矢視断面図である。
【図5】本発明の第3実施例による顕微鏡の平面図であ
る。
【図6】図5のC−C矢視断面図である。
【符号の説明】
1,31 ・・・・ベース 2,22,32 ・・・・天井 4,34 ・・・・ステージ 5,35 ・・・・対物レンズ 6,36 ・・・・対物レンズユニット 7,37 ・・・・観察光学系ユニット 8,38 ・・・・対物レンズ移動部材 2,32a・・・・回転案内 8,38a・・・・回転案内 36a,37a・・・・回転案内 9,39 ・・・・観察鏡筒 10,40・・・・接眼レンズ 11,13,41,43・・・・直動ガイド 12,14,42,44・・・・レール 15,17,18,20・・・・リレーレンズ 16,19,45〜48・・・・反射鏡

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】対物レンズの光軸に直交する平面内で移動
    するステージを有する顕微鏡において、 前記対物レンズの光軸と平行な光軸を有する観察光学系
    と、 前記対物レンズと前記観察光学系との間にリレー光路を
    形成する伸縮可能なリレー光学系と、 前記リレー光学系及び前記対物レンズが前記観察光学系
    の光軸を中心に所定角度範囲内で旋回する旋回手段とを
    有し、 前記ステージは、前記旋回手段の所定角度範囲内の中間
    位置における、前記対物レンズの光軸と前記観察光学系
    の光軸とを結ぶ直線と略平行な第1の方向に移動可能
    で、 前記対物レンズは、前記第1の方向と略直交する第2の
    方向に移動可能であることを特徴とする顕微鏡。
  2. 【請求項2】前記リレー光学系は、前記対物レンズの光
    軸を垂直に偏向する第1反射面と、前記第1反射面と前
    記撮影光学系との間に設けられた少なくとも一対のリレ
    ーレンズとを有し、前記一対のリレーレンズの間が平行
    系で構成され、前記一対のリレーレンズの間隔が変化す
    ることを特徴とする請求項1に記載の顕微鏡。
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Families Citing this family (27)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3384163B2 (ja) * 1994-11-09 2003-03-10 株式会社ニコン 顕微鏡対物レンズ
US6469779B2 (en) 1997-02-07 2002-10-22 Arcturus Engineering, Inc. Laser capture microdissection method and apparatus
US6495195B2 (en) 1997-02-14 2002-12-17 Arcturus Engineering, Inc. Broadband absorbing film for laser capture microdissection
DE19742802C1 (de) 1997-09-27 1998-10-22 Leica Mikroskopie & Syst Mikroskopstativ für ein Waferinspektionsmikroskop
US5985085A (en) * 1997-10-01 1999-11-16 Arcturus Engineering, Inc. Method of manufacturing consumable for laser capture microdissection
US7473401B1 (en) 1997-12-04 2009-01-06 Mds Analytical Technologies (Us) Inc. Fluidic extraction of microdissected samples
US6201639B1 (en) 1998-03-20 2001-03-13 James W. Overbeck Wide field of view and high speed scanning microscopy
US6185030B1 (en) 1998-03-20 2001-02-06 James W. Overbeck Wide field of view and high speed scanning microscopy
US6528248B2 (en) 1999-04-29 2003-03-04 Arcturus Engineering, Inc. Processing technology for LCM samples
US6867851B2 (en) * 1999-11-04 2005-03-15 Regents Of The University Of Minnesota Scanning of biological samples
AU2922701A (en) 1999-11-04 2001-05-14 Arcturus Engineering, Inc. Automated laser capture microdissection
US6784982B1 (en) 1999-11-04 2004-08-31 Regents Of The University Of Minnesota Direct mapping of DNA chips to detector arrays
US6544477B1 (en) 2000-08-01 2003-04-08 Regents Of The University Of Minnesota Apparatus for generating a temperature gradient
JP2002277751A (ja) * 2001-03-15 2002-09-25 Olympus Optical Co Ltd 検査装置
US6850362B2 (en) 2001-08-08 2005-02-01 Atto Bioscience Inc. Microscope optical system with a stationary sample stage and stationary viewing ports suited for viewing various fields of view of a sample
DE10152609A1 (de) * 2001-10-25 2003-05-08 Max Planck Gesellschaft Optisches Mikroskop mit verstellbarem Objektiv
US8722357B2 (en) 2001-11-05 2014-05-13 Life Technologies Corporation Automated microdissection instrument
US10156501B2 (en) 2001-11-05 2018-12-18 Life Technologies Corporation Automated microdissection instrument for determining a location of a laser beam projection on a worksurface area
EP1520037A4 (en) * 2002-02-27 2006-06-07 Miragene Inc CHEMICAL COMPOSITION WITH IMPROVED SUBSTRATE FOR IMMOBILIZATION OF PROTEIN ON RIGID SUPPORT
US20050054118A1 (en) * 2002-02-27 2005-03-10 Lebrun Stewart J. High throughput screening method
US20040072274A1 (en) * 2002-05-09 2004-04-15 Lebrun Stewart J. System and method for visualization and digital analysis of protein and other macromolecule microarrays
US20060127963A1 (en) * 2003-11-21 2006-06-15 Lebrun Stewart J Microarray-based analysis of rheumatoid arthritis markers
US20050124017A1 (en) * 2003-12-05 2005-06-09 Stewart Lebrun Quantitative alkaline-phosphatase precipitation reagent and methods for visualization of protein microarrays
CA2580025A1 (en) 2004-09-09 2006-03-23 Molecular Devices Corporation Laser microdissection apparatus and method
EP2175302B1 (en) * 2007-08-07 2018-09-19 Nikon Corporation Microscope
JP5136835B2 (ja) * 2007-10-29 2013-02-06 株式会社ニコン 顕微鏡
JP5479253B2 (ja) 2010-07-16 2014-04-23 東京エレクトロン株式会社 基板処理装置、基板処理方法、プログラム及びコンピュータ記憶媒体

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0169387B1 (en) * 1984-06-25 1990-04-25 Olympus Optical Co., Ltd. Microscope
DE3662731D1 (en) * 1985-02-04 1989-05-11 Olympus Optical Co Microscope apparatus for examining wafer
US4676608A (en) * 1985-05-20 1987-06-30 Donald Faubion Measuring microscope assembly
DE3740737A1 (de) * 1986-12-01 1988-06-09 Olympus Optical Co Mikroskopeinrichtung

Also Published As

Publication number Publication date
JPH05127088A (ja) 1993-05-25
US5552928A (en) 1996-09-03

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