JP3057250U - Cmp用電着ドレッサ - Google Patents
Cmp用電着ドレッサInfo
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- JP3057250U JP3057250U JP1998006839U JP683998U JP3057250U JP 3057250 U JP3057250 U JP 3057250U JP 1998006839 U JP1998006839 U JP 1998006839U JP 683998 U JP683998 U JP 683998U JP 3057250 U JP3057250 U JP 3057250U
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- cmp
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Abstract
(57)【要約】
【課題】ポリッシングパッドの除去率が安定し、切れ味
の低下が少ないCMP用電着ドレッサを提供することに
ある。 【解決手段】カップ型台金11の作用面14に、粒度が
#50/60〜#270/325の超砥粒15を隙間を
存して分散させるとともに、前記超砥粒15を電気ニッ
ケルメッキまたは無電解ニッケルメッキによって作用面
14に固着したことを特徴とするCMP用電着ドレッサ
10にある。
の低下が少ないCMP用電着ドレッサを提供することに
ある。 【解決手段】カップ型台金11の作用面14に、粒度が
#50/60〜#270/325の超砥粒15を隙間を
存して分散させるとともに、前記超砥粒15を電気ニッ
ケルメッキまたは無電解ニッケルメッキによって作用面
14に固着したことを特徴とするCMP用電着ドレッサ
10にある。
Description
【0001】
この考案は、例えば超LSIデバイスの層間絶縁膜や金属膜ウエハ等を研磨する 研磨パッドの平坦化に用いるCMP用電着ドレッサに関する。
【0002】
従来、超LSIデバイスの多層配線化が進むにつれて、その層間絶縁膜や金属膜 ウエハの平坦化にCMP(Chemical Mechanical Polishing)が実用化されてい る。CMPは研磨パッドの平坦化及びウエハ研磨レ−トを維持する目的で、常時 または間欠的にパッドの表面をドレッシングする必要があり、一般にダイヤモン ド等の超砥粒を電着したCMP用電着ドレッサが使用されている。
【0003】 図5〜図7は従来のCMP用ドレッサを示し、カップ型台金1はステンレスまた は鉄等の金属材料からなり、中心部には回転軸に装着するための軸孔2が穿設さ れている。また、カップ型台金1の外周縁には環状凸部3が設けられ、この環状 凸部3の上面には放射方向に複数条の凹溝3aが設けられ、上面は作用面4に形 成されている。
【0004】 作用面4には、粒度が、#60/80〜#230/270の超砥粒5が隙間なく 電着されている。作用面4に超砥粒5を電着する手段としては、作用面4の表面 に超砥粒5を電気ニッケルメッキで仮固着し、次に、電気ニッケルメッキまたは 無電解ニッケルメッキで超砥粒径の60〜65%まで均一に埋め込みを行なった 後、超砥粒層上の不安定砥粒(浮いた砥粒)をドレッシングによって除去したも のが用いられていた。
【0005】
ところで、CMP装置で使用するポリシングパッドをコンディショニングする時 に用いられる電着ドレッサは、切れ味やコンディショニング後のパッド表面粗さ 、うねり量による研磨レ−トの相関関係がある。また、コンディショニング中に 電着ドレッサから超砥粒が脱落してパッドに大きな傷が入ることがあり、使用開 始直後と途中では、ポリシングパッド除去率と面粗さ、うねり量も変化する。
【0006】 従来の電着ドレッサは、CMP装置に取付け後、そのままの状態で使用されるた め、電着ドレッサの作用面の振れ量を確認できず、コンディショニング後のポリ シングパッド面性状が電着ドレッサの取付け毎に異なるという問題があった。
【0007】 この考案は、前記事情に着目してなされたもので、その目的とするところは、コ ンディショニング中に発生するポリシングパッドの削り屑を超砥粒相互間の空隙 に保有させることで、研削性とポリシングパッド除去率を安定化させることがで き、また振れ量を調整することにより、パッド面の粗さとうねり量が安定し、寿 命のバラツキを大幅に改善できるCMP用電着ドレッサを提供することにある。
【0008】
この考案は、前記目的を達成するために、請求項1は、カップ型台金の作用面に 超砥粒1個づつまたは複数個づつを隙間を存して固着したことを特徴とするCM P用電着ドレッサにある。 請求項2は、請求項1の超砥粒は電気ニッケルメッキまたは無電解ニッケルメッ キによって作用面に固着されていることを特徴とする。 請求項3は、請求項1の前記超砥粒の粒度は、#50/60〜#270/325 であることを特徴とする。 請求項4は、請求項1の前記作用面に超砥粒を固着した超砥粒層に、樹脂被膜を 施したことを特徴とする。 請求項5は、前記カップ型台金の内周面及び内底面に振れ測定面を設けたことを 特徴とする。
【0009】 請求項1〜4の構成によれば、ポリシングパッドの削り屑を超砥粒相互間の空隙 に保有して研削性とポリシングパッドの除去率を安定化させることができる。請 求項5の構成によれば、CMP用電着ドレッサをCMP装置に取付けた後、振れ 測定面にダイヤルゲ−ジを当てて、電着ドレッサの振れ量を調整することにより 、ポリシングパッド面の粗さとうねり量が安定し、さらに電着ドレッサの寿命の バラツキを改善できる。
【0010】
以下、この考案の実施の形態を図面に基づいて説明する。 図1〜図4は本実施形態のCMP用電着ドレッサ10を示す。図1に示すように 、カップ型台金11はステンレスまたは鉄等の金属材料からなり、中心部には回 転軸に装着するための軸孔12が穿設されている。また、カップ型台金11の外 周縁には環状凸部13が設けられ、この環状凸部13の上面には放射方向に複数 条の凹溝13aが設けられ、上面は作用面14に形成されている。
【0011】 作用面14には、粒度が、#50/60〜#270/325の超砥粒15が1個 づつ、または複数個づつ隙間gを介して分散された状態に電着されている。作用 面14に超砥粒15を分散させて電着するためには、例えば次の手段をとること ができる。即ち、作用面14の表面に固着する超砥粒15の粒度より1〜3ラン ク粗いメッシュサイズのプラスチック製の網18を貼り付け、超砥粒15が脱落 しない程度に電気ニッケルメッキで仮固着した後、網18を取り外して余分な超 砥粒15を洗浄または脱粒させ、電気ニッケルメッキまたは無電解ニッケルメッ キで超砥粒径の55〜65%まで均一に埋め込む。
【0012】 次に、このCMP用電着ドレッサ10を旋盤またはツル−イング装置に取付け、 カップ型台金11の内周面及びこれと直角の内底面に振れ測定面16を形成し、 この振れ測定面16にダイヤルゲ−ジを当てて、2マイクロメ−タ以下の振れ量 に調整する。さらに、超硬合金やセラミックス素材片をCMP用電着ドレッサ1 0の超砥粒層17に押し当て、機械的に不安定砥粒を除去する。次に、カ−ボン またはセラミックスなどの試験片を超砥粒層17に押当て、研削された試験片の 面粗さを測定してCMP用電着ドレッサ10の超砥粒層17の不安定砥粒の有無 を判断する。また、酸性スラリ−用の場合、結合剤の溶解をなくすために、超砥 粒層17の表面にアルキド樹脂などの液状樹脂を用いて、極薄の塗膜を形成して もよい。
【0013】 前述したように、この考案のCMP用電着ドレッサ10は、旋盤またはツル−イ ング装置に取付け後、振れ測定面16を同時加工したので、振れ量を調整してC MP用電着ドレッサ10の品質を一定に保つことができる。
【0014】
以上説明したように、この考案のCMP用電着ドレッサによれば、カップ型台金 の作用面に超砥粒を隙間を存して固着することにより、従来の隙間なく超砥粒を 固着したものに比べ、ポリッシングパッドの除去率の変化を見ると、1.5〜2 倍以上も安定しており、切れ味の低下が少ないことが分かった。また、CMP用 電着ドレッサをCMP装置に取付けた後、振れ量を調整することにより、パッド 面の粗さとうねり量が安定し、さらにCMP用電着ドレッサの寿命のバラツキを 大幅に改善できた。さらに、コンディショニング時のドレッサの押し付け圧も低 圧が可能となり、超砥粒の食込みのよさから、良好なコンディショニング結果が 得られた。また、酸性スラリ−溶液用に樹脂被膜を施したものは、結合剤の溶解 もなく、不純物混入対策に効果が得られた。
【図1】この考案の一実施形態のCMP用電着ドレッサ
の平面図。
の平面図。
【図2】同実施形態のCMP用電着ドレッサの半縦断側
面図。
面図。
【図3】同実施形態の超砥粒層を拡大して示す断面図。
【図4】図2のA部を拡大して示す断面図。
【図5】従来のCMP用電着ドレッサの平面図。
【図6】同従来のCMP用電着ドレッサの反縦断側面
図。
図。
【図7】同従来の超砥粒層を拡大して示す断面図。
11 カップ型台金 14 作用面 15 超砥粒 16 振れ測定面 17 超砥粒層
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 FI B24D 3/06 B24D 3/06 Z 7/00 7/00 Z
Claims (5)
- 【請求項1】 カップ型台金の作用面に超砥粒を1個づ
つまたは複数個づつ隙間を存して固着したことを特徴と
するCMP用電着ドレッサ。 - 【請求項2】 前記超砥粒は、電気ニッケルメッキまた
は無電解ニッケルメッキによって作用面に固着されてい
ることを特徴とする請求項1記載のCMP用電着ドレッ
サ。 - 【請求項3】 前記超砥粒の粒度は、#50/60〜#
270/325であることを特徴とする請求項1記載の
CMP用電着ドレッサ。 - 【請求項4】 前記作用面に超砥粒を固着した超砥粒層
に、樹脂被膜を施したことを特徴とする請求項1記載の
CMP用電着ドレッサ。 - 【請求項5】 前記カップ型台金の内周面及び内底面に
振れ測定面を設けたことを特徴とする請求項1記載のC
MP用電着ドレッサ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1998006839U JP3057250U (ja) | 1998-09-03 | 1998-09-03 | Cmp用電着ドレッサ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1998006839U JP3057250U (ja) | 1998-09-03 | 1998-09-03 | Cmp用電着ドレッサ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP3057250U true JP3057250U (ja) | 1999-04-09 |
Family
ID=43191185
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1998006839U Expired - Fee Related JP3057250U (ja) | 1998-09-03 | 1998-09-03 | Cmp用電着ドレッサ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3057250U (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001121418A (ja) * | 1999-10-29 | 2001-05-08 | Noritake Diamond Ind Co Ltd | ポリッシング用電着ドレッサ |
JP2002127017A (ja) * | 2000-10-26 | 2002-05-08 | Read Co Ltd | 研磨布用ドレッサーおよびその製造方法 |
-
1998
- 1998-09-03 JP JP1998006839U patent/JP3057250U/ja not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2001121418A (ja) * | 1999-10-29 | 2001-05-08 | Noritake Diamond Ind Co Ltd | ポリッシング用電着ドレッサ |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |