JP3056269B2 - プリント回路基板検査装置 - Google Patents

プリント回路基板検査装置

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Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は一般的にプリント回路
基板を検査するためのシステムに関する。より詳細に
は、この一般的な型のシステムと組み合わせて使用する
照明およびデータ処理技術に関する。
【０００２】
【従来の技術】当業者にはよく知られているように、プ
リント回路基板は、予め決められた構成に従って回路要
素を実装しそれらを電気的に接続するために使用され
る。このようなプリント回路基板は、人手による組み立
てコストを削減するために、自動化された組み立て機械
を使用してできる限り機械により組み立てられる。全体
的なコストは削減できるけれども、このような自動化さ
れた組み立て技術では、回路要素およびそれらのリード
やピンの挿入ミス、およびその後の半田づけ工程におけ
る半田づけの欠陥などの組立不良が、ある程度まで増加
することが知られている。当初は、製造工程の適宜な段
階に、人間が肉眼でまた可能ならば立体顕微鏡やその他
の機具で、各プリント回路基板を視覚により検査し、こ
の一般的な種類の組立不良を発見するための工程が設け
られていた。しかしながらこの作業は、比較コストがか
かるうえ、非常に退屈でしかも不正確であることがわか
ったので、このような視覚による検査の代りに、プリン
ト回路基板を検査するための自動化されたシステムの開
発が行なわれてきた。この一般的な型の装置の例として
は、ニュージャージ州プリンストンの Cimflex Teknowl
edge 社により製造されているモデル 5511 およびモデ
ル 5512 プリント回路基板検査システムがある。これら
の検査装置は、一般的に、プリント回路基板に対して相
対的に制御された動きをする支持部材（検査ヘッド）の
内部に取り付けられた１組のカメラを使用している。こ
の検査ヘッドは、マイクロプロセッサで解析するための
データを取り込むために、そのとき検査している回路基
板の表面に沿って決められた連接する視野に順次（典型
的には１インチずつ）動かされるか、またはプリント回
路基板の表面に沿って連続的に動かされる。何か欠陥が
検出されると、適宜な処置を行なうために、操作員に報
告する。これらの検査を行なうために使用される技術に
関する詳細は、”Apparatusfor Inspecting Printed Ci
rcuit Boards with Surface Mounted Components"とい
う名称で出願された米国特許出願 07/159,774 に開示さ
れている。その内容は、ほとんど完全に説明する程度に
まで、参照により本明細書にも組み入れられている。開
示されているとおり、検査の正確さは、選択的に制御す
ることができる光源と組み合わせて操作される，４角に
直交するように置かれた１組のカメラを組み込んだ検査
ヘッドを使用することにより向上させることができる。
光源の選択的な制御と、１組のカメラの望ましい操作の
組み合わせにより、半田づけの前および後における回路
要素（およびそのリードやピン）の装着の検証、半田づ
け作業後の半田づけ部の検証をはじめとするいろいろな
テストが可能になる。従来は、この光源の選択的な制御
は、検査のためのイメージを取り込むために使用される
１組のカメラを取り囲む略円筒形の取付け部材の内部に
設けられた８組の光源のうちの１組を、選択的に点灯す
ることにより行なっていた。この照明は、所期の目的に
は十分であるが、点灯させることができる光源パターン
が十分でないことがわかった。すなわちこの照明は、本
質的には、システムの検査ヘッドに設けられた４つのカ
メラの各々に対して、”高”または”低”のどちらか１
つの光源群しか利用できなかった。したがってこの照明
方法は、プリント回路基板の状態を検査するために必要
な情報を得るためにプリント回路基板を照明するには効
果的であるが、それにもかわらず、このような検査に使
用するためのより汎用の照明システムを開発することが
望ましくなった。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】本発明の主な課題は、
プリント回路基板検査装置のための改良された照明シス
テムを提供することである。また検査すべき領域を選択
的に照明することにおいてより高い汎用性を持つプリン
ト回路基板検査装置のための照明システムを提供するこ
とも本発明の課題の１つであるまたアドレスを指定する
ことにより光源を選択的に制御することができ、より多
様な制御を行なうことができるプリント回路基板検査装
置のための照明システムを提供することも本発明の課題
である。また上記の機能を持ち、かつ既存のプリント回
路基板検査装置にもよく適合する照明システムを提供す
ることも本発明の課題である。また本発明の改良された
照明システムを利用することにより、プリント回路基板
検査装置のビデオカメラにより取り込んだ信号の処理を
向上させることも本発明の課題である。
【０００４】
【課題を解決するための手段】上記の課題およびその他
の課題は、プリント回路基板検査装置の１組のカメラと
共働して使用するための、本質的に半球状をしており，
その内部に選択的に制御可能な複数の発光素子が配置さ
れた本発明の照明装置により達成される。さらに本発明
によれば、発光ダイオードを、半球状の支持部材の内部
に緯度および経度を定めるように配置し、選択的に制御
できるように設ける。これは、発光ダイオードを、本質
的にダイオード制御マトリックスを構成するような配列
に接続することにより実現される。この構成により、希
望する照明パターンで照射するために、アドレスにより
発光ダイオードを選択することが可能になる。さらに、
米国特許出願 07/159,774 （上述）に記載されているよ
うな、プリント回路基板の検査を行なうのに便利な照明
パターンで照射できることに加えて、本発明の進歩した
照明システムは、取り込んだイメージの”トポグラフ表
示（地勢図式表示）”を行なうために便利なイメージを
取り込むことが可能になる。トポグラフ表示は、その後
のプリント回路基板の検査能力の向上に役立つ。次に本
発明の改良された照明システムに関するさらに詳しい説
明と、プリント回路基板の検査におけるその使い方を、
本発明の実施例にもとづき、図面を参照しながら詳細に
説明する。
【０００５】
【実施例】本発明によるプリント回路基板検査装置１０
の構成を大まかに図１に示す。装置１０は通常検査ヘッ
ド１１を含む。装置１０は、Ｘ−Ｙテーブル（全体を参
照番号１２で指し示す）によって定められる平面内で、
多種多様な既知のサーボモータによる制御方法のどれか
を用いて、所定の動作をするように支持された検査ヘッ
ドを含む。検査ヘッド１１の基本的な構成に関する一層
の詳細と、検査ヘッド１１をプリント回路基板を走査す
るように動かして欠陥の疑いのあるものを表示する方法
は、米国特許出願 ０７／１５９，７７４を参照するこ
とにより理解されるであろう。しかしながら大まかな説
明では、そして添付図の図２では、検査ヘッド１１は、
通常、複数のＴＶカメラまたはビデオカメラ１３，１
４，１５，１６と、本発明にしたがって造られた照明装
置２０を含む。ここまでは、照明装置２０を除いて、先
に説明し、また図１にも示した構成要素は、本質的に、
従来利用可能なこの型のプリント回路基板検査装置にお
いて使用されている既知の構成要素に対応している。し
たがって、本発明による改良点についてのこの後の説明
は、本発明の改良された照明装置２０と、本発明による
プリント回路基板の検査能力を高めるためのこの照明装
置２０の使い方について行なう。図２と３に示すよう
に、照明装置２０は、半球状のフレーム２１の形をして
いる。フレーム２１には、カメラ１３，１４，１５，１
６の対物レンズを適宜に受けるための複数の穴２２が設
けられている。フレーム２１には、さらに、装置１０に
より検査するプリント回路基板を照明するための複数の
発光ダイオード（ＬＥＤ）２４を配列して取り付けるた
めの複数の穴２３が設けられている。後でさらに詳しく
説明する目的のために、複数のＬＥＤ２４は、照明装置
２０のフレーム２１の内部に、複数の緯度２５および経
度２６を形成するように配置するのが望ましい。各緯度
２５の間および各経度２６の間の平面に展開した距離
は、本発明によるプリント回路基板の正確な検査を可能
にするために望ましい照明効果を得るために、適宜に設
定することができる。本発明の照明装置２０の１つの重
要な特徴は、検査するプリント回路基板を照明するため
にＬＥＤ２４を使用することである。ＬＥＤ２４を使用
することは、発光ダイオードの２つの機能、すなわち望
ましい照明効果を得るために点滅させることができるこ
とと、方向性のある動作とから考えついたものである。
この２機能の兼備により、所望の領域（すなわち検査領
域）を効果的に照明することができる、しかも制御が容
易な照明システムを構成することができる。添付図の図
４に、配列したＬＥＤ２４を、本発明に従って効果的に
制御することができる方法を示す。同図には、アドレス
指定できる電気的な接続端子３１，３２を含むダイオー
ド制御マトリックス３０の本質的な構成部分が示されて
いる。注目するべきことは、電気的な接続端子３１が照
明装置２０の決められた緯度２５に対応し、電気的な接
続端子３２が照明装置２０の決められた経度２６に対応
することである。配列されたＬＥＤ２４の各発光ダイオ
ードは、接続端子３１のうちの１つと接続端子３２のう
ちの１つの間に接続されている。また配列内で発生する
明るさを等しくするために、１つの抵抗器（図を解りや
すくするために示されていない）と直列に接続されてい
る。そして各ＬＥＤ２４は、そのＬＥＤ２４が接続され
ている電気的な接続端子３１，３２に対して適宜な制御
（バイアス）電圧を加えることにより選択的に（個々に
またはグループ単位で）駆動される。この方法には、他
の型の発光要素を制御するために必要となるであろう個
別の点灯スイッチ（またはリレー）を必要としない直接
的な制御技術を用いて、いろいろな点灯パターンのうち
のどのパターンででも点灯させることができるという利
点がある。例えば、電気的な接続端子３６，３７をアド
レス指定すると、単一のＬＥＤ３８が発光する。電気的
な接続端子３６，３７，４０，４１をアドレス指定する
と、４分の１象限３９のＬＥＤが発光する。電気接続端
子３６と照明装置２０の電気接続端子３２の各々をアド
レス指定すると、１つの環４２のＬＥＤ２４を発光させ
ることができる。必要に応じてまた希望に応じて、他の
パターンでも発光させることができる選択したＬＥＤま
たは選択した象限のＬＥＤを発光させることは、米国特
許出願０７／１５９，７７４に開示されている技術を利
用してプリント回路基板を検査するために求められる選
択された照明を提供するために使用できる。これによ
り、この先の特許出願に開示されている、製造工程の”
半田づけ前”および”半田づけ後”の段階でのプリント
回路基板の検査が可能になる。しかしながら本発明によ
ればさらに、ＬＥＤ２４の配列（およびその容易な制御
方法）は、環状の照明を発生させるために特に便利であ
ることがわかった。この環状の照明を使用すると、後述
するように、米国特許出願０７／１５９，７７４に開示
されている検査機能よりもさらにすぐれた検査機能を提
供することができる。従来は、１組のカメラ１３，１
４，１５，１６を選択的に作動させて、１組のイメージ
を取り込み、次にそれらのイメージを利用してその時検
査している視野の強度分布図を作成することが普通のや
り方であった。この検査方法でも十分信頼性のあるプリ
ント回路基板の検査が可能であったが、本発明の照明装
置２０を使って、検査している視野の”トポグラフマッ
プ”を作成すると、さらに検査機能を強化することがで
きることがわかった。概説すると、これは、照明装置２
０により定められる複数の緯度２６に対応する環状の照
明を、選択的に望ましくは順番に、点灯させることによ
り実現される。そしてカメラ１３，１４，１５，１６を
それぞれ使用して、これらの異なるリング状の照明によ
り生じる”１組”のイメージを取り込む。これらのイメ
ージは適宜にメモリに格納して、図５に示すように、画
面に表示したり解析したりすることができる。これらの
イメージは、照明装置２０の中心に向かって内向きに順
番に一連の環状の照明を利用して、照度で、一定の時間
間隔（例えば 33 ms）で発生させるのが好ましい。図５
において、要素５０は、検査穴１０の”フレームグラッ
バー”（格納バッファ）として一般的に知られているも
のを表す。先に説明したようにそしてさらに本発明にし
たがって、照明装置２０の経度２６に沿って環状の光を
順番に発光させることに対応して、１組の”ビットプレ
ーン”５１が、カメラ１３，１４，１５，１６の各々に
対して、フレームグラッバー５０の内部に形成される。
各ビットブレーン５１には、さらに下記のような処理を
行なうために、カラーとレベル（重み）が割り当てられ
る。表示のために、従来利用できるカラープロセッサ５
２がフレームグラッバー５０に接続されており、上記の
ようにして生成されたいくつかのビットプレーン５１に
いろいろな色を割り当てる。グラッバー５０に格納され
ているデータに”色づけされた”データは、モニターに
表示することができる。すなわちモニターは、この色づ
けされた各データを、前記のようにして順番に発光され
る環状の照明に対応するように生成された１組の色づけ
された層として表示する。これは、本質的に、その時点
で検査している視野に対応する浮彫りにされた絵すなわ
ち３次元のイメージを構成する。なぜならモニター５３
に表示された複数の異なる色は、検査している視野のプ
リント回路基板に対して異なる高さにおいて（発光され
る環状の光に対応して）生成されたイメージに対応する
からである。この効果は、２次元のイメージを３次元で
（画面上に）表示すべくマッピングするために見つけ出
したもので、目視検査のために大幅に強化されたイメー
ジを提供する。また解析のために、プロセッサー５４が
フレームグラッバー５０と接続される。プロセッサー５
４は、前記のようにしてフレームグラッバー５０の内部
に定義されたいくつかのビットプレーン５１の各々に対
して、レベル（または重み）を割り当てる働きをする。
これらの重みを付けられた値は、数値的に解析して、そ
の時検査している視野の特徴に対応するいくつかの体積
を決定することができる。
【０００６】
【発明の効果】ここで最も重要なことは、これにより半
田づけ接続部（すなわちもり）の形状が、従来可能であ
ったよりも一層効率的に解析できることである。例え
ば”トポグラフゾーン（地勢図式の図のある高さ範
囲）”を形成しているいくつかの層を取り出して、各ト
ポグラフゾーンの内部で検出される画素の数を合計する
ことにより、半田の量の測定を行なうことができる。１
つのトポグラフゾーンからその次のトポグラフゾーンへ
の移行の滑らかさを解析することにより、半田のぬれ
（主に導体表面への半田の付着によって決定され、一般
に接合部の滑らかさで表される）を測定することができ
る。歪みや２次的な形状（同様にして測定される）を検
出することにより、隙間，気孔，ピンホールなどを検出
できる可能性もある。このように、本発明にしたがっ
て、フレームグラッバー５０の内部に取り込まれた１組
のイメージを利用して、付重計算を行なうことにより、
重要な情報が生成される。さらに、検査のために利用可
能な１組の４つのカメラ１３，１４，１５，１６を使用
している結果、本発明により利用範囲が拡大される。こ
の利用範囲の拡大は、用意されている４つのカメラの各
々により、取り込むイメージを別々に生成することから
得られる。これにより、順番に、検査対象すなわち完了
した半田のもりの４つの側面の各々から、１組の４つの
トポグラフマップが生成される。１組のカメラ１３，１
４，１５，１６の動作に対応して取り込まれた，いくつ
かのビットプレーン５１内に格納されたデータの相関を
計算する（組み合せたり連結したりする）ことにより、
単一の垂直なカメラにより得られるイメージよりもはる
かに完全な全体的なイメージが、メモリ内に形成され
る。その結果得られるイメージによれば、垂直方向から
見たときは隠されてしまうような内表面も明らかになる
ので、真っ直ぐなスルーホールリードの半田のもりの検
査、または”Ｊリード”デバイス（上方からは見えない
半田接続が形成される代表的なもの）の解析に特に役に
立つ。本発明の性質について説明するためここに記載し
または図示した構成の細部，物質，および部品の配置
は、本発明の原理および範囲内で、当業者にはいろいろ
と変更可能であることは、理解されるであろう。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の照明システムを使用した、プリント回
路基板検査装置の検査ヘッドの斜視図である。
【図２】本発明の照明システムの平面図である。プリン
ト回路基板を検査するためのイメージを取り込むために
使用されるカメラも示されている。
【図３】図２に示す照明システムの側断面図である。
【図４】図２に示す照明システムを制御するために使用
される電気的接続の１部分の説明図である。
【図５】図２に示す照明システムを利用して取り込んだ
イメージを処理するためのシステムのブロック線図であ
る。
【符号の説明】
１０ プリント回路基板検査装置 １１ 検査ヘッド １３，１４，１５，１６ カメラ ２０ 照明支持部材 ２１ フレーム ２３ 穴 ２４ 発光ダイオード ２５ 緯度 ２６ 経度
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭61−293657（ＪＰ，Ａ) 特開 昭61−41906（ＪＰ，Ａ) 特開 平２−49500（ＪＰ，Ａ) 特開 平３−218407（ＪＰ，Ａ) 特開 平２−268260（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01N 21/84 - 21/958 H05K 13/08

Claims (43)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 リードまたはピンをもつ回路要素が半田
    づけにより取り付けられたプリント回路基板の基板およ
    び回路要素を検査するための装置であって、 前記プリント回路基板および前記回路要素を照明するた
    めの照明手段であってほぼ半球状に配列された選択的に
    制御可能な発光素子を含む照明手段と、 前記プリント回路基板および前記回路要素から反射され
    る光を受光し、前記カメラ手段により受光した反射光の
    強弱に応じて変化する電気信号を発生するためのカメラ
    手段と、 前記カメラ手段によって取得されたイメージに色を割り
    当てるカラープロセッサであって、照明する前記発光素
    子の群が異なるときは異なる色を前記イメージに割り当
    てるカラープロセッサと を含むプリント回路基板検査装
    置。
  2. 【請求項２】 前記カメラ手段が、前記照明手段と共働
    する４つの直交して配置されたカメラを含む請求項１の
    プリント回路基板検査装置。
  3. 【請求項３】 前記選択的に制御可能な発光要素が個別
    に制御可能である請求項１のプリント回路基板検査装
    置。
  4. 【請求項４】 前記発光要素が発光ダイオードである請
    求項３のプリント回路基板検査装置。
  5. 【請求項５】 前記発光ダイオードが正規配列を構成す
    るように接続されている請求項４のプリント回路基板検
    査装置。
  6. 【請求項６】 前記発光ダイオードが、前記照明手段の
    内部で複数の緯度および経度を形成するように配列され
    ている請求項５のプリント回路基板検査装置。
  7. 【請求項７】 選択された経度上の発光ダイオードを同
    時に駆動する請求項６のプリント回路基板検査装置。
  8. 【請求項８】 さらに、一連の環状の光源で照射するた
    めに，選択された緯度に沿って配置されている１組の発
    光ダイオードを順番に駆動するための手段を含む請求項
    ７のプリント回路基板検査装置。
  9. 【請求項９】 選択された４分の１象限内の発光ダイオ
    ードを同時に駆動可能に設けた請求項６のプリント回路
    基板検査装置。
  10. 【請求項１０】 さらに、前記カメラ手段からイメージ
    信号を取り込み、バッファに格納する手段を含む請求項
    １のプリント回路基板検査装置。
  11. 【請求項１１】 前記発光要素が、複数の環状の照明で
    照射できるように制御することができ、かつ前記カメラ
    手段からのイメージ取り込む手段が前記複数の環状の照
    明に対応する複数のイメージを取り込んで格納する請求
    項１０のプリント回路基板検査装置。
  12. 【請求項１２】 前記複数の環状の照明が、前記回路要
    素と前記リードまたはピンの異なるトポグラフゾーンを
    照射する請求項１１のプリント回路基板検査装置。
  13. 【請求項１３】 前記複数の環状の照明を、順番に連続
    して駆動する請求項１２のプリント回路基板検査装置。
  14. 【請求項１４】 前記複数の環状の照明をほぼ１定の照
    度になるように駆動する請求項１２のプリント回路基板
    検査装置。
  15. 【請求項１５】 さらに、カラーモニタに表示するため
    に，前記異なるトポグラフゾーンに対して異なる色を割
    り当てるための手段を含む請求項１２のプリント回路基
    板検査装置。
  16. 【請求項１６】 さらに、前記異なるトポグラフゾーン
    に対して異なるレベルを割り当て、前記割り当てられた
    レベルに応じて重みづけられた体積計算を行なうための
    手段を含む請求項１２のプリント回路基板検査装置。
  17. 【請求項１７】 さらに、前記カメラ手段が４つの直交
    して配置されたカメラを含み、かつ前記計算手段が前記
    各カメラのための前記バッファ内に格納されたデータの
    相関を計算する手段を含む請求項１６のプリント回路基
    板検査装置。
  18. 【請求項１８】 プリント回路基板とプリント回路基板
    に取り付けられた回路要素を検査するための装置であっ
    て、前記回路要素がプリント回路基板に半田づけするた
    めのリードまたはピンを持ち、前記装置が前記プリント
    回路基板および前記回路要素を照明するための手段と、 前記プリント回路基板および前記回路要素から反射され
    る光を受光し、前記カメラ手段により受光された反射光
    に応じて変化する電気信号を発生するためのカメラ手段
    と、 選択的に制御可能な発光素子の配列を支持するためのほ
    ぼ半球状の支持部材を含む照明手段と、 前記カメラ手段によって取得されたイメージに色を割り
    当てるカラープロセッサであって、照明する前記発光素
    子の群が異なるときは異なる色を前記イメージに割り当
    てるカラープロセッサと を含むプリント回路基板検査装
    置。
  19. 【請求項１９】 前記カメラ手段が前記照明手段と共働
    する４つの直交して配置されたカメラを含む請求項１８
    のプリント回路基板検査装置。
  20. 【請求項２０】 前記選択的に制御可能な発光素子が個
    別に制御可能である請求項１８のプリント回路基板検査
    装置。
  21. 【請求項２１】 前記発光素子が発光ダイオードである
    請求項２０のプリント回路基板検査装置。
  22. 【請求項２２】 前記発光ダイオードが正規配列を構成
    するように接続された請求項２１のプリント回路基板検
    査装置。
  23. 【請求項２３】 前記発光ダイオードが、前記照明手段
    の内部で複数の緯度および経度を形成するように配列さ
    れている請求項２２のプリント回路基板検査装置。
  24. 【請求項２４】 選択された緯度上にある１組の発光ダ
    イオードを同時に駆動することができ、環状の照明で照
    射することができる請求項２３のプリント回路基板検査
    装置。
  25. 【請求項２５】 選択された経度上にある１組の発光ダ
    イオードを同時に駆動することができ、一連の環状の照
    明で照射できる請求項２４のプリント回路基板検査装
    置。
  26. 【請求項２６】 前記複数の環状の照明が、前記回路要
    素と前記リードおよびピンの異なるトポグラフゾーンを
    照射する請求項２５のプリント回路基板検査装置。
  27. 【請求項２７】 前記複数の環状の照明を連続してかつ
    順番に駆動する請求項２６のプリント回路基板検査装
    置。
  28. 【請求項２８】 前記複数の環状の照明をほぼ１定の照
    度になるように駆動する請求項２６のプリント回路基板
    検査装置。
  29. 【請求項２９】 選択された４分の１象限内の発光ダイ
    オードの組を同時に駆動可能に設けた請求項２６のプリ
    ント回路基板検査装置。
  30. 【請求項３０】 プリント回路基板とプリント回路基板
    に取り付けられた回路要素を検査するための方法であっ
    て、前記回路要素がプリント回路基板に半田づけするた
    めのリードまたはピンを持ち、 ほぼ半球状に配列された選択的に制御可能な発光素子を
    含む照明手段により前記プリント回路基板と回路要素を
    照射し、 受光した光に応じて変化する電気信号を発生するための
    カメラ手段により前記プリント回路基板および前記回路
    要素からの反射光を受光し、前記カメラ手段により取得されたイメージに、前記プリ
    ント回路基板と回路要素に照射した前記照明手段に対応
    する色を割り当てることにより 前記プリント回路基板と
    前記回路要素のトポグラフマップを生成するステップを
    含むプリント回路基板検査方法。
  31. 【請求項３１】 前記選択的に制御可能な発光素子が個
    別に制御可能である請求項３０のプリント回路基板検査
    方法。
  32. 【請求項３２】 前記発光素子が、前記照明手段の内部
    で複数の緯度および経度を形成するように配列されてい
    る請求項３０のプリント回路基板検査方法。
  33. 【請求項３３】 さらに、選択された緯度上にある１組
    の発光素子を同時に駆動することを含む請求項３２のプ
    リント回路基板検査方法。
  34. 【請求項３４】 さらに、複数の経度を順番に、各経度
    上にある１組の発光素子を同時に駆動することを含む請
    求項３３のプリント回路基板検査方法。
  35. 【請求項３５】 選択された４分の１象限内の発光素子
    の組を同時に駆動することを含む請求項３２のプリント
    回路基板検査方法。
  36. 【請求項３６】 前記カメラ手段からイメージ信号を取
    り込み、前記イメージをデータとしてバッファに格納す
    るステップを含む請求項３０のプリント回路基板検査方
    法。
  37. 【請求項３７】 さらに、前記発光要素を複数の環状の
    照明で照射するように駆動し、前記複数の環状の照明に
    対応する複数のイメージを取り込む請求項３６のプリン
    ト回路基板検査方法。
  38. 【請求項３８】 前記複数の環状の照明が、前記回路要
    素と前記リードまたはピンの異なるトポグラフゾーンを
    照射する請求項３７のプリント回路基板検査方法。
  39. 【請求項３９】 前記複数の環状の照明を、順番に連続
    して駆動する請求項３８のプリント回路基板検査方法。
  40. 【請求項４０】 前記複数の環状の照明をほぼ１定の照
    度になるように駆動する請求項３８のプリント回路基板
    検査方法。
  41. 【請求項４１】 さらに、カラーモニタに表示するため
    に，前記異なるトポグラフゾーンに対して異なる色を割
    り当てる請求項３８のプリント回路基板検査方法。
  42. 【請求項４２】 さらに、前記異なるトポグラフゾーン
    に対して異なるレベルを割り当て、前記割り当てられた
    レベルに応じて重み付けをした体積計算を行なう請求項
    ３８のプリント回路基板検査方法。
  43. 【請求項４３】 前記カメラ手段が４つの直交して配置
    されたカメラを含み、さらに前記各カメラのためのバッ
    ファ内に格納されたデータの相関を計算する請求項４２
    のプリント回路基板検査方法。
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