JP3040979B1 - 配線基板及び補強板 - Google Patents
配線基板及び補強板Info
- Publication number
- JP3040979B1 JP3040979B1 JP10342739A JP34273998A JP3040979B1 JP 3040979 B1 JP3040979 B1 JP 3040979B1 JP 10342739 A JP10342739 A JP 10342739A JP 34273998 A JP34273998 A JP 34273998A JP 3040979 B1 JP3040979 B1 JP 3040979B1
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- wiring board
- reinforcing plate
- outer peripheral
- integrated circuit
- circuit chip
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/16—Fillings or auxiliary members in containers or encapsulations, e.g. centering rings
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/12—Mountings, e.g. non-detachable insulating substrates
- H01L23/14—Mountings, e.g. non-detachable insulating substrates characterised by the material or its electrical properties
- H01L23/142—Metallic substrates having insulating layers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/34—Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
- H01L23/36—Selection of materials, or shaping, to facilitate cooling or heating, e.g. heatsinks
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/48—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
- H01L23/488—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
- H01L23/498—Leads, i.e. metallisations or lead-frames on insulating substrates, e.g. chip carriers
- H01L23/49866—Leads, i.e. metallisations or lead-frames on insulating substrates, e.g. chip carriers characterised by the materials
- H01L23/49894—Materials of the insulating layers or coatings
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/02—Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/04—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
- H01L2224/05—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of an individual bonding area
- H01L2224/0554—External layer
- H01L2224/0556—Disposition
- H01L2224/05568—Disposition the whole external layer protruding from the surface
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/02—Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/04—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
- H01L2224/05—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of an individual bonding area
- H01L2224/0554—External layer
- H01L2224/05573—Single external layer
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/10—Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/15—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
- H01L2224/16—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/48—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
- H01L23/488—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
- H01L23/498—Leads, i.e. metallisations or lead-frames on insulating substrates, e.g. chip carriers
- H01L23/49811—Additional leads joined to the metallisation on the insulating substrate, e.g. pins, bumps, wires, flat leads
- H01L23/49816—Spherical bumps on the substrate for external connection, e.g. ball grid arrays [BGA]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01078—Platinum [Pt]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01079—Gold [Au]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/151—Die mounting substrate
- H01L2924/1515—Shape
- H01L2924/15153—Shape the die mounting substrate comprising a recess for hosting the device
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/151—Die mounting substrate
- H01L2924/1517—Multilayer substrate
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/151—Die mounting substrate
- H01L2924/153—Connection portion
- H01L2924/1531—Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface
- H01L2924/15311—Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface being a ball array, e.g. BGA
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S428/00—Stock material or miscellaneous articles
- Y10S428/901—Printed circuit
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T428/00—Stock material or miscellaneous articles
- Y10T428/24—Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.]
- Y10T428/24273—Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.] including aperture
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T428/00—Stock material or miscellaneous articles
- Y10T428/31504—Composite [nonstructural laminate]
- Y10T428/31678—Of metal
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T428/00—Stock material or miscellaneous articles
- Y10T428/31504—Composite [nonstructural laminate]
- Y10T428/31678—Of metal
- Y10T428/31681—Next to polyester, polyamide or polyimide [e.g., alkyd, glue, or nylon, etc.]
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Wire Bonding (AREA)
- Structure Of Printed Boards (AREA)
Abstract
発生する変形、および動作時等の温度変化に伴って発生
する変形を抑えることのできる配線基板、およびそれに
用いる補強板を提供することを目的とする。 【解決手段】 本発明の配線基板10は、第1主面11
A及び第2主面11Bを有する配線基板本体11と、圧
延された金属板からなり、配線基板本体11の第1主面
11Aに固着された補強板1とを備える。そして、補強
板1の外周縁形状1Cが配線基板本体11の外周縁形状
11Cと略同一の場合、補強板1及び配線基板本体11
のそれぞれの外周縁形状1C,11Cの第1方向と、補
強板1の圧延方向とが角度を持って交差している。この
ため、補強板1を配線基板本体11に固着する際に、配
線基板10に反りやうねりなどの変形が生じ難く、さら
には、配線基板10の冷熱による変形の変動量も少な
い。従って、配線基板本体11と搭載する集積回路チッ
プ等の電子部品との接続信頼性を高くすることができ、
また、配線基板10と別のプリント配線板との接続信頼
線も高くすることができる。
Description
本体とを備える配線基板、及びこれに用いる補強板に関
し、特に、圧延された金属板からなる補強板を備える配
線基板、及びこれに用いる補強板に関する。
属製の補強板、いわゆるスティフナーが固着された配線
基板が知られている。補強板は、配線基板本体の剛性が
低く、外力が加わった時に容易に変形してしまう場合
や、配線基板本体が熱膨張等で容易に変形してしまう場
合に用いられている。補強板を備えることで、配線基板
の変形は抑制され、その平坦性が維持されるため、信頼
性の高い製品となる。
(a)に配線基板220の拡大断面図を、図9(b)に
この配線基板220に用いる補強板201を示す。この
配線基板220は、補強板201と配線基板本体211
と集積回路チップ221とを備えている。このうち補強
板201は、圧延された金属板を所定の略矩形状に剪断
したものであり、その中央付近には搭載する集積回路チ
ップ221に対応した透孔202が形成されている。
1と外周縁形状211Cが略同一の略矩形状で、搭載す
る集積回路チップ221の端子222に対応した接続パ
ッド212を第1主面211A側に有し、この接続パッ
ド212と導通した電極パッド215を第2主面211
B側に有する。この配線基板本体211の第1主面21
1A上には、配線基板本体211の外周縁形状211C
と補強板201の外周縁形状201Cとが略一致するよ
うにして、補強板201が接着層217を介して固着さ
れている。さらに、同じく第1主面211A上に、集積
回路チップ221がその周囲を補強板201によって取
り囲まれるように透孔202内に収められ、集積回路チ
ップ221の端子222と接続パッド212とがハンダ
付けによって接続されている。
1と配線基板本体211の第1主面211A上との間に
樹脂からなるアンダーフィルレジンを充填させて、集積
回路チップ221と接続パット212との接続部分の信
頼性を向上させることがある。また、補強板201およ
び集積回路チップ221上に放熱板や放熱フィンを固着
させ、集積回路チップ221から生じる熱の放熱性を向
上させることもある。
うな補強板201を備えた配線基板220を製造するに
あたり、補強板201を配線基板本体211に固着する
と、配線基板220に反りやうねりなどの変形が生じる
ことがある。これは、補強板201と配線基板本体21
1との熱膨張率の差や、配線基板本体211の熱膨張率
の微妙なバラツキなどによるものと考えられる。このよ
うな変形が生じると、固着後に集積回路チップ221を
搭載する場合には、集積回路チップ221の端子222
と配線基板本体211の接続パッド212との接続が上
手くできず、歩留まりが低下する。また、集積回路チッ
プ221を搭載した後に補強板201を固着する場合に
は、集積回路チップ211の端子222と配線基板本体
211の接続パッド212との接続部分に強い応力がか
かり、この部分に亀裂が入るなどして破損し、電気的不
良を起こすことがある。さらに、この配線基板220を
別のプリント配線板に搭載する場合も、この配線基板2
20の電極パッド215とプリント配線板との接続が上
手くできず、歩留まりが低下する。
度変化があると反りやうねりなどの変形量が変動する。
このため、集積回路チップ221の動作・停止を繰り返
すなどして配線基板の冷熱を繰り返すと、集積回路チッ
プ221の端子222と配線基板本体211の接続パッ
ド212との接続部分にかかる応力によって、この部分
に経時的に金属疲労が蓄積し、最終的には亀裂が入るな
どして電気的不良を起こすことがある。
0の変形は、等方的に生じるのではなく、特定方向に大
きく生じる傾向があることを見出した。即ち、長方形状
の配線基板本体211の短辺方向と補強板201の圧延
方向とが略一致するようにして、補強板201を配線基
板本体211に固着した場合には、配線基板220の変
形量が最も小さく、逆に、この対角方向と圧延方向とが
平行となるように両者を固着した場合には、配線基板2
20の変形量が最も大きくなることを見出した。従っ
て、配線基板本体211の形状や補強板201の形状と
補強板201の圧延方向との関係を検討することによっ
て、配線基板220の変形量を抑えることができると考
えられた。
であって、金属製の補強板を有する配線基板の製造時に
発生する変形、および動作時等の温度変化に伴って発生
する変形を抑えることのできる配線基板、およびそれに
用いる補強板を提供することを目的とする。
手段は、主面を有する配線基板本体と、圧延された金属
板からなり、外周縁形状が上記配線基板本体の外周縁形
状と略同一のまたはそれよりも小さい外形を有し、上記
主面内で上記配線基板本体と固着された補強板と、を備
える配線基板であって、上記補強板は、平行な2直線で
その間の距離が最大となるように上記外周縁を挟んだと
きのこれら2直線に対し垂直な方向である補強板の外周
縁形状の第1方向と上記圧延方向とが角度を持って交差
していることを特徴とする配線基板である。
剛性が方向によって異なる。つまり、圧延方向に変形し
易く、圧延方向と直交する方向に変形し難い。一方、補
強板と配線基板本体とを固着したとき、前述したように
微妙な熱膨張率の差などにより応力が生じることがあ
る。これにより、配線基板は、固着された補強板が変形
し易い圧延方向には大きく反ったりうねったりする一
方、変形しにくい圧延方向と直交する方向には反りやう
ねりが少なくなる。従って、補強板の外周縁形状の第1
方向と圧延方向とが一致、即ち平行となって両者が交差
しないようにすると、補強板の寸法が変形し易い圧延方
向(つまり第1方向)に最も大きくなるので、配線基板
が長い寸法に渡って大きく反ったりうねったりすること
により、配線基板の変形量が最大となる。例えば、補強
板が矩形状である場合には、その対角方向と圧延方向が
一致した場合に、配線基板の変形量が最大となる。従っ
て、補強板の外周縁形状の第1方向と圧延方向とを角度
を持って交差させることで、配線基板に生じる変形の変
形量を抑制することができる。
板と搭載する電子部品等との接続信頼性が高くなり、ま
た、配線基板を別のプリント配線板に接続させたときの
接続信頼性も高くなる。従って、配線基板製造時あるい
は配線基板を他のプリント配線板に接続する際の歩留ま
りを向上させ、信頼性の高い配線基板とすることができ
る。
ときの反りやうねりなどの変形の変動量も、補強板の外
周縁形状の第1方向と圧延方向とが平行になっている場
合に比し抑制される。このため、搭載する電子部品等の
作動・停止を繰り返すなどして配線基板の冷熱を繰り返
しても、電子部品等と配線基板本体との接続部分、ある
いは配線基板と別のプリント配線板との接続部分が破壊
されて電気的不良の発生が抑制される。
域等の第1方向とは、平行な2直線でその間の距離が最
大となるように外周縁や領域等を挟んだときのこれら2
直線に垂直な方向を指す。外周縁形状が略矩形など、上
記の2直線間の距離の最大となるところが複数存在する
ときは、そのうちのいずれを第1方向としても良い。ま
た、外周縁形状や領域等の第2方向とは、平行な2直線
でその間の距離が最小となるように外周縁や領域等を挟
んだときのこれら2直線に垂直な方向を指す。また、外
周縁形状や領域等を圧延方向に見たときの寸法とは、圧
延方向と直交する2直線で外周縁や領域等を挟んだとき
の2直線間の距離を指す。
配線層とを有するものであれば良く、例えば、コア基板
の片面あるいは両面に絶縁層と配線層とを交互に複数層
積層した積層配線基板本体等が挙げられる。また、コア
基板を有さない配線基板本体であっても良い。また、絶
縁層としては、例えば、エポキシ樹脂やポリイミド樹
脂、BT樹脂、PPE樹脂等の樹脂や、これらの樹脂と
ガラス繊維(ガラス織布やガラス不織布)やポリアミド
繊維等の有機繊維との複合材料、あるいは、連続多孔質
PTFE等の三次元網目状フッ素系樹脂基材にエポキシ
樹脂などの樹脂を含浸させた樹脂−樹脂複合材料等が挙
げられる他、アルミナ等のセラミックからなる絶縁材な
どを絶縁層としても良い。
チップやその他の電子部品等を接続するための接続パッ
ドやバンプ等の端子が形成されていても良い。例えば集
積回路チップを搭載する場合、接続パッドやバンプは、
格子状に配置されていることが多いが、必ずしも格子状
に規則的に配置されていなくとも良い。また、配線基板
本体には、配線基板を他のプリント配線基板に接続する
ための接続パッドやバンプ等の端子が形成されていても
良いし、またピンが立設されていても良い。配線基板本
体の外周縁形状としては、例えば、略矩形(略正方形も
含む)、略多角形などが挙げられるが、目的に応じて適
宜の形状とすれば良い。
張率等を考慮して適宜選択すれば良いが、例えば、銅、
銅合金、アルミニウム、ステンレス等の金属板が挙げら
れる。また、圧延されてなるこれらの金属板に、ニッケ
ル、金等のメッキを施したものも含まれる。補強板の熱
膨張率と配線基板本体の熱膨張率の差が大きいと、配線
基板が変形し易くなるため、熱膨張率の差が小さくなる
ようにするのが好ましい。補強板の外周縁形状として
は、例えば、略矩形(略正方形も含む)、略多角形、な
どが挙げられるが、目的に応じて適宜の形状とすれば良
く、配線基板本体の外周縁形状の相似形でなくても良
い。また、補強板には、集積回路チップやその他の電子
部品を搭載するために、それらに対応した透孔が形成さ
れていても良い。
層としては、補強板および配線基板本体との接着性や、
固着時の温度と配線基板本体の耐熱性等を考慮して選択
すれば良く、ペースト状の接着剤を用いても良いし、フ
ィルム状のものを利用しても良い。配線基板としては、
配線基板本体と補強板とを備える他、集積回路チップや
その他の電子部品を搭載したものをも含む。さらに、こ
れらの電子部品は配線基板に複数個搭載されていても良
い。
板は、平行な2直線でその間の距離が最小となるように
上記外周縁を挟んだときのこれら2直線に対し垂直な方
向である補強板の外周縁形状の第2方向と前記圧延方向
とが略一致していることを特徴とする配線基板とするの
が好ましい。これによれば、補強板は、その外周縁形状
の第2方向と圧延方向とが略一致しているので、例え
ば、補強板が略矩形状の場合においては、その短辺方向
と圧延方向とが略一致しているので、その外周縁形状を
圧延方向に見たときの寸法が最も短い。このため、配線
基板本体に補強板を固着する際に生じる変形や配線基板
の温度変化に伴う変形の変動量を最小限に抑えることが
できる。したがって、この配線基板は、電子部品や別の
プリント配線板との接続信頼性を最も向上させることが
できる。
を有する配線基板本体と、圧延された金属板からなり、
外周縁形状が上記配線基板本体の外周縁形状と略同一の
外形を有し、上記外周縁を上記配線基板本体の外周縁に
略一致させて上記主面に固着された補強板と、を備える
配線基板であって、上記補強板は、対角方向と上記圧延
方向とが角度を持って交差していることを特徴とする配
線基板とするのが好ましい。
の対角方向と圧延方向とが角度を持って交差している。
即ち、この補強板は、圧延方向に見たときの寸法が対角
方向の寸法よりも短くされたものである。このため、こ
の補強板は、外周縁形状の対角方向と圧延方向とが略一
致したものに比べて変形し難い。従って、配線基板本体
に補強板を固着する際に生じる配線基板の変形や配線基
板の温度変化に伴う変形を抑えることができるので、搭
載する電子部品等や別のプリント配線基板との接続信頼
性を高くすることができる。
板は、短辺方向と前記圧延方向とが略一致していること
を特徴とする配線基板とするのが好ましい。これによれ
ば、補強板は、外周縁形状の短辺方向と圧延方向とが略
一致しているので、圧延方向に見たときの寸法が最も短
くなる。このため、配線基板本体に補強板を固着する際
に生じる変形や温度変化に伴う配線基板の変形を最小限
に抑えることができる。従って、この配線基板は、電子
部品や別のプリント配線板との接続信頼性を最も向上さ
せることもできる。
いる補強板であって、前記補強板の外周縁形状の第1方
向と圧延方向とが角度を持って交差していることを特徴
とする補強板である。
に見た寸法が第1方向の寸法より短くなっている。この
ため、外周縁形状の第1方向と圧延方向とが略同一な補
強板に比べて、反りやうねりなどの変形が生じ難い。従
って、この補強板を用いて配線基板を製造すると、補強
板を配線基板本体に固着する際に生じる変形が抑制され
るので、配線基板の変形が抑えられる。また、温度変化
に伴う配線基板の変形量が少ない。従って、配線基板と
搭載する電子部品等との接続信頼性や、配線基板を別の
プリント配線板に接続させるときの接続信頼性を高くす
ることができる。
の外周縁形状の第2方向と圧延方向とが略一致している
ことを特徴とする補強板とするのが好ましい。この補強
板は、外周縁形状の第1方向と圧延方向が略一致してい
るので、圧延方向に見た寸法が最も短い。このため、こ
の補強板を用いて配線基板を製造すれば、配線基板製造
時に生じる変形や温度変化に伴う配線基板の変形を最小
限に抑えることができる。従って、この配線基板は、電
子部品等や別のプリント配線板との接続信頼性を最も向
上させることができる。
基板本体と、圧延された金属板からなり、外周縁形状が
上記配線基板本体の外周縁形状と略同一のまたはそれよ
りも大きい外形を有し、上記外形内で上記配線基板本体
の主面と固着された補強板と、を備える配線基板であっ
て、平行な2直線でその間の距離が最大となるように上
記配線基板本体の外周縁を挟んだときのこれら2直線に
対し垂直な方向である配線基板本体の外周縁形状の第1
方向と上記補強板の圧延方向とが角度を持って交差して
いることを特徴とする配線基板である。
し易い。一方、補強板と配線基板本体との間で応力が発
生し、配線基板に変形が生じるのは、配線基板のうち補
強板と配線基板本体とが固着されている部分である。従
って、補強板と配線基板本体とが略同一な外周縁形状で
あるか、または配線基板本体の方が小さい場合、配線基
板本体の形状と補強板の圧延方向との関係により、変形
の大きさが変化する。この場合には、配線基板本体の外
周縁形状の第1方向と補強板の圧延方向とを角度を持っ
て交差させると、配線基板の製造時に生じる変形や温度
変化に伴う変形を抑制することができる。このため、配
線基板と搭載する電子部品等との接続信頼性が高くな
り、また、配線基板を別のプリント配線板に接続させた
ときもその接続信頼性が高なるので、製造時の歩留まり
を向上させ、信頼性の高い配線基板とすることができ
る。
直線でその間の距離が最小となるように前記配線基板本
体の外周縁を挟んだときのこれら2直線に対し垂直な方
向である配線基板本体の外周縁形状の第2方向と前記補
強板の圧延方向とが略一致していることを特徴とする配
線基板とするのが好ましい。これによれば、配線基板の
うちの配線基板本体の存在する部分の第2方向と圧延方
向とが略一致しているので、配線基板のうち配線基板本
体の存在する部分を圧延方向に見た寸法が最も短い。こ
のため、配線基板に生じる変形量や温度変化に伴う変形
量が最も小さいので、この配線基板と電子部品等や別の
プリント配線板との接続信頼性を最も向上させることが
できる。
載領域とほぼこれを囲む補強板固着領域とを備える主面
を有する配線基板本体と、圧延された金属板からなり、
上記集積回路チップ搭載領域に対応する部分が除かれた
外形を有し、上記補強板固着部に固着された補強板と、
を備える配線基板であって、平行な2直線でその間の距
離が最大となるように上記集積回路チップ搭載領域を挟
んだときのこれら2直線に対し垂直な方向である集積回
路チップ搭載領域の第1方向と上記補強板の圧延方向と
が角度を持って交差していることを特徴とする配線基板
である。
ると、集積回路チップを確実に搭載することができない
ことがある。さらに、集積回路チップを搭載した後、配
線基板が冷却または加熱されると、反りやうねりの量が
変動し、接続端子に応力がかかって破断することがあ
る。ここで、最も応力がかかり破断しやすいのは、他の
接続端子との距離が最も大きくなる端子である。従っ
て、このような接続端子同士の間での反りやうねり、さ
らには、冷熱時の反りやうねりの変動量を小さくするこ
とにより、接続端子が破断し難くなり、接続信頼性を向
上させることができる。
1方向と補強板の圧延方向とが角度を持って交差してい
る。このため、集積回路チップ搭載領域の第1方向と補
強板の圧延方向とが略一致している配線基板に比べて、
配線基板のうち集積回路チップ搭載領域の変形量が抑え
られる。さらに、この領域の温度変化に伴う変形量も抑
えられる。従って、後に集積回路チップを搭載する場合
には、集積回路チップの端子と配線基板本体上の接続パ
ッドやバンプなどとを確実に接続することができ、ま
た、先に集積回路チップを搭載して後に補強板を固着す
る場合も、接続部分にかかる応力が少ないので、この接
続部分が破損することはない。さらに、配線基板の冷熱
による温度変化に伴う変形量が少ないので、接続部分が
破断し難く、接続信頼性を向上させることができる。
直線でその間の距離が最小となるように上記集積回路チ
ップ搭載領域を挟んだときのこれら2直線に対し垂直な
方向である集積回路チップ搭載領域の第2方向と前記補
強板の圧延方向とが略一致していることを特徴とする配
線基板とするのが好ましい。これによれば、集積回路チ
ップ搭載領域の第2方向と補強板の圧延方向とが略一致
しているので、集積回路チップ搭載領域を圧延方向に見
た寸法が最も短い。このため、集積回路チップ搭載領域
の変形量や温度変化に伴うこの領域の変形量が最小限に
抑えられている。従って、配線基板と集積回路チップと
の接続信頼性を最も向上させることができる。
施の形態について図を参照しつつ説明する。本発明に係
る配線基板及び補強板について、図1(a)(b)に配
線基板10の拡大断面図および配線基板本体11の第1
主面11A側から見た平面図を示し、図2に補強板1の
平面図を示す。
の板状で、補強板1と配線基板本体11とを備えてい
る。補強板1と配線基板本体11とは、互いの外周縁形
状1C,11Cが略一致するようにして、接着層17を
介して固着されている。このうち補強板1は、図2に示
すように、厚さ0.7mm、外周縁形状1Cが略矩形の
板状をなし、長辺方向の長さが40mm、短辺方向の長
さが30mmである。主面側から見て補強板1の略中央
には、搭載する集積回路チップに対応して、18×18
mmの略正方形状の透孔2が形成されている。この補強
板1は、圧延された銅板を剪断したものである。
Aと第2主面11Bとを有する略板形状をなし、その外
周縁形状11Cは、補強板1と同様に40×30mmの
略矩形状である。その第1主面11A側には、図1
(b)に示すように、搭載する集積回路チップに対応し
て、接続パッド12(直径φ115μm)が略格子状に
多数配置され、補強板1の透孔2よりも若干小さい略正
方形状の集積回路チップ搭載領域13(図中に破線で示
す。)をなしている。また、これらの接続パッド12
は、配線基板10を第1主面11A側から見て、補強板
1の透孔2内に配置されている。
B側には、後に、別のプリント配線板に接続したり、配
線基板10と別のプリント配線板とを中継する中継配線
基板に接続したりするための電極パッド15(直径φ5
20μm)が多数配置されている。この配線基板本体1
1は、樹脂絶縁層及び配線層が複数層積層されたもので
あり、配線層(図示しない)を介して、接続パッド12
と電極パッド15が導通している。また、樹脂絶縁層と
して、連続多孔質PTFE基材にエポキシ樹脂を含浸さ
せた複合材料を用いている。
向との関係について説明する。図2に示すように、図中
に矢印で示す補強板1の圧延方向(図中上下方向)は、
図中に矢印で示す補強板1の外周縁形状1Cの第1方向
(対角方向)と角度を持って交差し、さらに、圧延方向
は、図中に矢印で示す外周縁形状1Cの第2方向(短辺
方向:図中上下方向)と略一致している。
ち、補強板1と配線基板本体11とは、互いの外周縁形
状1C,11Cが略一致するように固着されている。従
って、図1(b)に示すように、図中に矢印で示す補強
板1の圧延方向(図中上下方向)は、図中に矢印で示す
配線基板本体11の外周縁形状11Cの第1方向(対角
方向)とも角度を持って交差し、また、圧延方向は、図
中に矢印で示す配線基板本体11の外周縁形状11Cの
第2方向(短辺方向:図中上下方向)とも略一致してい
る。
る反りと、補強板の圧延方向との関係について、以下の
ように調査した。上記補強板1を用意し、上記配線基板
本体11に固着した。そして、固着後の配線基板10の
反り量について測定した。なお、比較形態として外周縁
形状の第1方向(即ち対角方向)と圧延方向とが略一致
し、形状は上記補強板1と同一の補強板を用いた配線基
板についても同様に測定した。測定試料数は各5ヶであ
る。その測定結果をまとめて表1に示す。
線基板10は、比較形態に比して反り量(変形量)が小
さい。これは、圧延された金属板からなる補強板は、圧
延方向に変形し易く、圧延方向と直交する方向には変形
し難いことに起因すると考えられる。本実施形態の補強
板1は、圧延方向に見た寸法を最も短くしたものであ
り、一方、比較形態の補強板は、圧延方向に見た寸法を
最も長くしたものである。このため、本実施形態の補強
板1の方が比較形態の補強板よりも変形し難いことによ
り、本実施形態の配線基板10は、比較形態の配線基板
よりも変形量が小さくなっている。従って、補強板を圧
延方向に見た寸法が短くなるほど補強板は変形し難くな
り、配線基板も変形し難くなる。また、本実施形態のよ
うに、補強板1と配線基板本体11の外周縁形状1C,
11Cが略同一の場合、配線基板本体11を圧延方向に
見た寸法が短くなるほど、配線基板が変形し難くなると
もいえる。
10は、補強板1及び配線基板本体11の外周縁形状1
C,11Cの第1方向と圧延方向とが角度を持って交差
し、さらには、それらの第2方向と圧延方向とが略一致
している。このため、配線基板本体11に補強板1を固
着する際、反りやうねりなどを抑制することができる。
従って、図3に示すように、この配線基板10に、集積
回路チップ21を搭載した配線基板20を製造する際、
集積回路チップ21の端子22と配線基板本体11の接
続パッド12とを確実に接続することができる。
プリント配線板に搭載する際、配線基板10,20の電
極パッド15とプリント配線板とを確実に接続すること
ができるので、接続信頼性が高い。さらに、これらの配
線基板10,20は、加熱、冷却を繰り返して温度変化
させても、反りやうねりなどの変動量が少ないので、配
線基板本体11と集積回路チップ21との接続部分や、
これらの配線基板10,20と別のプリント配線基板な
どとの接続部分が破断することがなく、接続信頼性が高
い。
基板本体11の外周縁形状1C,11Cの第2方向と、
補強板1の圧延方向とが略一致した配線基板10,20
について示したが、これに限らず、これらの外周縁形状
1C,11Cの第1方向と圧延方向とが角度を持って交
わるようすれば、上述したように、接続信頼性を高くす
ることができる。ただし、本実施形態のように、これら
の第2方向と圧延方向とを略一致させたときに、最も大
きな効果が得られるので好ましい。
用いる補強板1の製造方法について、図4を参照しつつ
説明する。補強板1は、図4(a)及び図4(b)に示
すようにして製造される。即ち、図4(a)に示す圧延
されてなる厚さ0.7mmの銅板CUを用意し、破線C
Lで示すようにプレス打ち抜きして、さらに、ニッケル
メッキ及び金メッキ(図示しない)を施して、図4
(b)に示す透孔2が穿孔された補強板1を形成する。
このとき、補強板1の外周縁形状1Cの第2方向と図中
に矢印で示す圧延方向とが略一致するように(外周縁形
状1Cの第1方向と圧延方向とが角度を持って交差する
ように)剪断する。
に、図4(c)に示すように、フィルム状の接着シート
17A(シート厚100μm)、具体的には、樹脂絶縁
層の材質と同様に、連続多孔質PTFE基材にエポキシ
樹脂を含浸させたものであるが、エポキシ樹脂含有量を
少なくした接着シート17Aを、100〜120℃で仮
接着しておく。その後、接着シート17Aを貼り付けた
補強板1を配線基板本体11上に戴置し、170℃で加
熱圧着する。このようにして、図4(d)(及び図1)
に示す配線基板10が完成する。
17Aと補強板1とを順に重ねて接着しても良いが、予
め、補強板1に接着シート17Aを貼り付けておくと、
これら三者の位置合わせが容易になるので、好適であ
る。また、予め、接着シート17Aを配線基板本体11
上に仮接着しておいても良い。また、接着材のはみ出し
を防止するために、接着シート17Aは補強板1の外周
縁形状1Cより少し引き下がった形状のものを用いると
良い。さらに、本実施形態では、配線基板本体11の絶
縁層と近似した材質の接着シート17Aを用いて接着し
たので、これらの間で熱膨張率等が適合するので好まし
い。
プ21を搭載すると、図3に示す配線基板20ができ
る。即ち、配線基板本体11の接続パッド12上にハン
ダバンプをそれぞれ形成しておき、その上に集積回路チ
ップ21を戴置する。その後、加熱してハンダを溶解さ
せ、集積回路チップ21の端子22と配線基板本体11
の接続パッド12とを接続する。このようにして、配線
基板20が完成する。
1に補強板1を固着した後に集積回路チップ21を搭載
しているが、先に配線基板本体11に集積回路チップ2
1を搭載した後に補強板1を固着しても良い。このよう
にして図3に示す配線基板20を製造しても、集積回路
チップ21を搭載した配線基板本体11に補強板1を固
着する際に、配線基板20に生じる反りやうねりなどが
少なくなるので、集積回路チップ21と配線基板本体1
1との接続部分に強い応力がかかり、この部分に亀裂が
入るなどして破断することはなくなる。
について説明する。本実施形態は、補強板、配線基板本
体及び配線基板の外周縁形状が略正方形状である点が、
上記実施形態1と異なる。実施形態1と同様な部分の説
明は省略または簡略化する。本実施形態に係る配線基板
40について、図5(a)に拡大断面図および図5
(b)に配線基板本体41の第1主面41A側から見た
平面図を示す。
面視略正方形の板状で、補強板31と配線基板本体41
とを備えている。補強板31と配線基板本体41とは、
実施形態1と同様に、互いの外周縁形状31C,41C
が略一致するようにして、接着層17を介して固着され
ている。このうち補強板31は、圧延された銅板からな
り、外周縁形状31Cが略正方形状をなし、その略中央
には、実施形態1と同様の略正方形状の透孔32が形成
されている。
Aと第2主面41Bとを有し、その外周縁形状41C
は、補強板31の外周縁形状31Cと略同一の略正方形
状である。実施形態1と同様に、第1主面41Aには、
接続パッド42が多数配置されて略正方形状の集積回路
チップ搭載領域43(図中に破線で示す。)をなしてい
る。また、第2主面41Bには、電極パッド45が多数
配置されている。
方向との関係について説明する。図5(b)に示すよう
に、図中に矢印で示す補強板31の圧延方向(図中上下
方向)は、図中に矢印で示す補強板31の外周縁形状3
1Cの第1方向(対角方向)と角度を持って交差し、さ
らに、圧延方向は、図中に矢印で示す補強板31の外周
縁形状31Cの第2方向(一辺の方向:本実施形態では
図中上下方向)と略一致している。また、この圧延方向
は、配線基板本体41の外周縁形状41Cの第1方向
(対角方向)とも角度を持って交差し、また、配線基板
本体41の外周縁形状41Cの第2方向(一辺の方向:
図中上下方向)とも略一致している。
際に生じる反りと、補強板31の圧延方向との関係につ
いて、実施形態1における調査と同様に、以下のように
調査した。上記補強板31を用意し、上記配線基板本体
41に固着して、固着後の配線基板40の反り量(変形
量)について測定した。なお、比較形態として、外周縁
形状31Cの第1方向(対角線方向)と圧延方向とが略
一致し、形状は上記の補強板31と同一のものを用いた
配線基板についても同様に測定した。測定試料数は各5
ヶである。その測定結果をまとめて表2に示す。
線基板40は、比較形態のものに比して反り量(変形
量)が小さい。本実施形態のように、補強板31の外周
縁形状31が略正方形状の場合、第2方向は一辺の方向
になるので、いずれの辺の方向を第2方向としても良
い。本実施形態の補強板31は、その外周縁形状31の
第2方向と圧延方向とが略一致しているため、圧延方向
に見た寸法が最も短くなっている。一方、比較形態の補
強板は、圧延方向に見た寸法を最も長くしたものであ
る。このため、上記実施形態1と同様に、補強板31が
変形し難く、配線基板40の変形量が小さくなってい
る。従って、補強板を圧延方向に見た寸法が短くなるほ
ど補強板は変形し難くなり、配線基板も変形し難くな
る。
施形態1と同様に、補強板31及び配線基板本体41の
外周縁形状31C,41Cの第1方向と圧延方向とが角
度を持って交差し、さらには、それらの第2方向と圧延
方向とが略一致している。このため、配線基板40を製
造する際に反りやうねりなどが生じ難く、配線基板40
の冷熱による変形の変動量も少ない。従って、この配線
基板40は、搭載する集積回路チップや別のプリント配
線板等との接続信頼性が高い。
形態1で示したのと同様にして製造すればよい。本実施
形態も、補強板31及び配線基板本体41の外周縁形状
31C,41Cの第2方向と、補強板31の圧延方向と
が略一致しているが、これに限らず、これらの外周縁形
状31C,41Cの第1方向と圧延方向とが角度を持っ
て交わるようすれば良い。ただし、このように略一致さ
せたときに、最も大きな効果が得られるので好ましい。
について説明する。本実施形態は、上記実施形態2と比
べ、搭載する集積回路チップに対応した接続パッドの配
置、従って集積回路チップ搭載領域の形状が異なる。上
記各実施形態と同様な部分の説明は省略または簡略化す
る。本実施形態に係る配線基板70について、図6に配
線基板本体71の第1主面71A側から見た平面図を示
す。
様に、40×40mmの平面視略正方形の板状で、配線
基板本体71と実施形態2と同様の補強板31とを備
え、それらの外周縁形状31C,71Cが互いに略一致
するように固着されている。このうち配線基板本体71
は、第1主面71Aと第2主面(図示しない)とを有
し、この第1主面71Aには、上記各実施形態とは形状
が異なる15×10mmの集積回路チップ(図示しな
い)に対応して、接続パッド72が多数配置され、集積
回路チップ搭載領域73(6.98mm×4.22m
m)(図中に破線で示す。)を構成している。
方向との関係について説明する。図6に示すように、図
中に矢印で示す補強板31の圧延方向(図中上下方向)
は、図中に矢印で示す集積回路チップ搭載領域73の第
1方向(対角方向)と角度を持って交差し、また、図中
に矢印で示す集積回路チップ搭載領域73の第2方向
(短辺方向:図中上下方向)と略一致している。
続信頼性に関し、略矩形状の集積回路チップ搭載領域の
第1及び第2方向と補強板の圧延方向との関係につい
て、以下のように調査した。まず、上記配線基板70全
体の反り量について測定した。さらに、この配線基板7
0に集積回路チップを接続し、熱サイクルテスト(−5
5〜125℃、1000サイクル)を行い、電気的な接
続及び外観等を検査した。なお、比較形態として、集積
回路チップ搭載領域73の第1方向(対角方向)と圧延
方向とが略一致するような補強板を製作し、これを配線
基板本体71に固着した配線基板を用意し、同様に調査
を行った。測定試料数は各10ヶである。その測定結果
をまとめて表3に示す。
線基板70は、比較形態の配線基板に比べ、反り量が小
さい。これは、第1方向に比べ第2方向に見た補強板の
寸法の方が小さいためである。さらに、集積回路チップ
を搭載し、熱サイクルテストを行うと、比較形態では1
0ヶ中7ヶに接続不良が見られたが、実施形態ではその
ような電気的接続不良が生じたものはなかった。これ
は、配線基板のうち集積回路チップ搭載領域73の部分
に発生する反り等の変形の変動量が、補強板の圧延方向
に大きく、それと直交する方向に小さいことに起因する
と思われる。即ち、比較形態では、集積回路搭載領域7
3の第1方向と補強板の圧延方向とが略一致しているの
で、この領域73を圧延方向に見た寸法が最も長くな
り、集積回路チップ搭載領域73における配線基板の変
形の変動量が大きい。
ップ搭載領域73の第2方向と圧延方向が略一致してい
るので、この領域73を圧延方向に見た寸法が最も短く
なり、集積回路チップ搭載領域73における配線基板7
0の変形の変動量が最も抑制されている。このため、熱
サイクルテストを行っても、集積回路チップと配線基板
70との接合部分に破損が生じなかったものと考えられ
る。このように本実施形態の配線基板70は、搭載する
集積回路チップとの接続信頼性が高い。
形態1で示したのと同様にして製造すればよい。本実施
形態では、集積回路チップ搭載領域73の第2方向と補
強板31の圧延方向とが略一致した配線基板70につい
て示したが、これに限らず、集積回路チップ搭載領域7
3の第1方向と圧延方向とが角度を持って交わるように
すれば、上述したように、接続信頼性を高くすることが
できる。ただし、本実施形態のように、集積回路チップ
搭載領域73の第2方向と圧延方向とを略一致させたと
きに、最も大きな効果が得られるので好ましい。
について説明する。本実施形態では、補強板の外周縁形
状が配線基板本体の外周縁形状よりも小さい点で上記各
実施形態と異なる。上記各実施形態と同様な部分の説明
は省略または簡略化する。本実施形態に係る配線基板1
00について、図7(a)に拡大断面図を示し、図7
(b)に配線基板本体101の第1主面101A側から
見た平面図を示す。
状で、30×40mmの略矩形状の補強板91と38×
50mmの略矩形状の配線基板本体101とを備えてい
る。この補強板91は、配線基板本体101の第1主面
101A内の略中央に位置するようにして、配線基板本
体101に固着されている。この補強板91の形状は、
実施形態1の補強板1と同様であるが、その材質は、圧
延されたステンレス板からなる。
01Aと第2主面101Bとを有する略板状をなし、そ
の外周縁形状101Cは、補強板91よりも大きい。こ
の第1主面101Aには、接続パッド102が多数配置
されて略正方形状の集積回路チップ搭載領域103(図
中に破線で示す。)をなしている。また、第2主面10
1Bには、電極パッド105が多数配置されている。
延方向との関係について説明する。本実施形態のよう
に、補強板91が配線基板本体101よりも小さい場
合、配線基板100の製造時に生じる変形や、配線基板
100の温度変化に伴う変形は、配線基板100のうち
補強板91と配線基板本体101とが固着された部分に
生じる。このため、補強板91の外周縁形状91Cと圧
延方向について考慮することで配線基板100の反り等
を抑制することができる。
図7(b)に示すように、図中に矢印で示す補強板91
の圧延方向(図中上下方向)は、図中に矢印で示す補強
板91の外周縁形状91Cの第1方向(対角方向)と角
度を持って交差し、さらに、図中に矢印で示す補強板9
1の外周縁形状91Cの第2方向(短辺方向:図中上下
方向)と略一致している。
0も、上記各実施形態と同様に、配線基板100を製造
する際に、反りやうねりなどが生じ難く、配線基板10
0の冷熱による変形の変動量も少ない。従って、この配
線基板100は、搭載する集積回路チップとの接続信頼
性が高く、また、別のプリント配線板等に接続する場合
の接続信頼性も高い。なお、本実施形態の配線基板10
0も、実施形態1で示したのと同様にして製造すればよ
い。
について説明する。本実施形態では、補強板の外周縁形
状が配線基板本体の外周縁形状よりも大きい点で上記各
実施形態と異なる。上記各実施形態と同様な部分の説明
は省略または簡略化する。本実施形態に係る配線基板1
30について、図8(a)に拡大断面図を示し、図8
(b)に配線基板本体11の第1主面11A側から見た
平面図を示す。
状で、38×50mmの略矩形状の補強板121と実施
形態1と同様の30×40mmの略矩形状の配線基板本
体11とを備えている。配線基板本体11は、補強板1
21の略中央に位置するようにして、補強板121に固
着されている。配線基板130のうち補強板121は、
圧延されたアルミニウム板からなり、略中央に実施形態
1と同様の透孔122を有する。
延方向との関係について説明する。本実施形態のよう
に、補強板121が配線基板本体11よりも大きい場
合、配線基板130の製造時に生じる変形や、配線基板
130の温度変化に伴う変形は、配線基板130のうち
補強板121と配線基板本体11とが固着された部分に
生じる。このため、配線基板本体11の外周縁形状11
Cと圧延方向との関係について考慮することで配線基板
130の反り等を抑制することができる。
図8(b)に示すように、図中に矢印で示す補強板12
1の圧延方向(図中上下方向)は、図中に矢印で示す配
線基板本体11の外周縁形状11Cの第1方向(対角方
向)と角度を持って交差し、また、配線基板本体11の
外周縁形状11Cの第2方向(短辺方向:図中上下方
向)と略一致している。
0も、配線基板130を製造する際に、反りやうねりな
どが生じ難く、配線基板130の冷熱による変形の変動
量も少ない。従って、この配線基板130は、搭載する
集積回路チップとの接続信頼性が高く、また、別のプリ
ント配線板等に接続する場合の接続信頼性も高い。な
お、本実施形態の配線基板130も、実施形態1で示し
たのと同様にして製造すればよい。
て説明したが、本発明は上記実施形態に限定されるもの
ではなく、その要旨を逸脱しない範囲で、適宜変更して
適用できることはいうまでもない。例えば、上記各実施
形態では、配線基板10,20等に搭載する電子部品と
して、集積回路チップ21を用いているが、例えば、チ
ップ抵抗やコンデンサなどの電子部品を搭載することも
できる。また、集積回路チップ21と配線基板本体11
とをフリップチップ接続したものを例示したが、配線基
板本体にダイボンディングしても良い。また、電子部品
等は、複数個を同時に搭載しても良い。
基板本体及び配線基板がそれぞれ略矩形状(略正方形状
も含む。)のものを示したが、これに限らず、例えば、
略矩形状の角部がC面取りまたはR面取りされた外周縁
形状のものでも良い。さらに、多角形等の形状にしても
良い。
(a)は拡大断面図であり、(b)は第1主面側から見
た平面図である。
線基板の拡大断面図である。
法を示す説明図であり、(a)は圧延された銅板を示
し、(b)は補強板を示す。また、(c)は補強板に接
着シートを仮接着した状態を示し、(d)は配線基板を
示す。
(a)は拡大断面図であり、(b)は第1主面側から見
た平面図である。
(a)は拡大断面図であり、(b)は第1主面側から見
た平面図である。
(a)は拡大断面図であり、(b)は第1主面側から見
た平面図である。
(a)は拡大断面図であり、(b)は第1主面側から見
た平面図である。
断面図であり、(b)は補強板を示す図である。
周縁形状 2,32,92,122 透孔 10,40,70,100,130 配線基板 11,41,71,101 配線基板本体 11A,41A,71A,101A (配線基板本体
の第1)主面 11B,41B,71B,101B (配線基板本体
の第2)主面 11C,41C,71C,101C (配線基板本体
の)外周縁形状 12,42,72,102 接続パッド 13,43,73,103 集積回路チップ
搭載領域 15,45,105 電極パッド 20 (集積回路チッ
プを搭載した)配線基板 21 集積回路チップ 22 (集積回路チッ
プの)端子
Claims (4)
- 【請求項1】主面を有する配線基板本体と、 圧延された金属板からなり、外周縁形状が上記配線基板
本体の外周縁形状と略同一のまたはそれよりも小さい外
形を有し、上記主面内で上記配線基板本体と固着された
補強板と、を備える配線基板であって、 上記補強板は、平行な2直線でその間の距離が最大とな
るように上記外周縁を挟んだときのこれら2直線に対し
垂直な方向である補強板の外周縁形状の第1方向と上記
圧延方向とが角度を持って交差していることを特徴とす
る配線基板。 - 【請求項2】請求項1に記載の配線基板に用いる補強板
であって、 前記補強板の外周縁形状の第1方向と圧延方向とが角度
を持って交差していることを特徴とする補強板。 - 【請求項3】主面を有する配線基板本体と、 圧延された金属板からなり、外周縁形状が上記配線基板
本体の外周縁形状と略同一のまたはそれよりも大きい外
形を有し、上記外形内で上記配線基板本体の主面と固着
された補強板と、を備える配線基板であって、 平行な2直線でその間の距離が最大となるように上記配
線基板本体の外周縁を挟んだときのこれら2直線に対し
垂直な方向である配線基板本体の外周縁形状の第1方向
と上記補強板の圧延方向とが角度を持って交差している
ことを特徴とする配線基板。 - 【請求項4】集積回路チップ搭載領域とほぼこれを囲む
補強板固着領域とを備える主面を有する配線基板本体
と、 圧延された金属板からなり、上記集積回路チップ搭載領
域に対応する部分が除かれた外形を有し、上記補強板固
着部に固着された補強板と、を備える配線基板であっ
て、 平行な2直線でその間の距離が最大となるように上記集
積回路チップ搭載領域を挟んだときのこれら2直線に対
し垂直な方向である集積回路チップ搭載領域の第1方向
と上記補強板の圧延方向とが角度を持って交差している
ことを特徴とする配線基板。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10342739A JP3040979B1 (ja) | 1998-12-02 | 1998-12-02 | 配線基板及び補強板 |
US09/579,140 US6391422B1 (en) | 1998-12-02 | 2000-05-30 | Wiring substrate and stiffener therefor |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10342739A JP3040979B1 (ja) | 1998-12-02 | 1998-12-02 | 配線基板及び補強板 |
US09/579,140 US6391422B1 (en) | 1998-12-02 | 2000-05-30 | Wiring substrate and stiffener therefor |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP3040979B1 true JP3040979B1 (ja) | 2000-05-15 |
JP2000174159A JP2000174159A (ja) | 2000-06-23 |
Family
ID=26577350
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10342739A Expired - Fee Related JP3040979B1 (ja) | 1998-12-02 | 1998-12-02 | 配線基板及び補強板 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6391422B1 (ja) |
JP (1) | JP3040979B1 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2018093007A (ja) * | 2016-12-01 | 2018-06-14 | 富士通株式会社 | 光モジュール及び光モジュールの製造方法 |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002353350A (ja) * | 2001-05-28 | 2002-12-06 | Kyocera Corp | 電子部品収納用パッケージ |
JP2004103700A (ja) * | 2002-09-06 | 2004-04-02 | Toyota Industries Corp | 低膨張部材及びその製造方法並びに低膨張部材を用いた半導体装置 |
US7327554B2 (en) * | 2003-03-19 | 2008-02-05 | Ngk Spark Plug Co., Ltd. | Assembly of semiconductor device, interposer and substrate |
US7952188B2 (en) * | 2007-01-08 | 2011-05-31 | Infineon Technologies Ag | Semiconductor module with a dielectric layer including a fluorocarbon compound on a chip |
DE102008006390A1 (de) * | 2008-01-28 | 2009-07-30 | Tesa Ag | Verfahren zur Verklebung von flexiblen Leiterplatten mit Polymermaterialien zur partiellen oder vollständigen Versteifung |
JP2012104557A (ja) * | 2010-11-08 | 2012-05-31 | Ngk Spark Plug Co Ltd | 電子部品付き配線基板及びその製造方法 |
US20150371884A1 (en) * | 2014-06-19 | 2015-12-24 | Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd | Concentric Stiffener Providing Warpage Control To An Electronic Package |
US9832860B2 (en) * | 2014-09-26 | 2017-11-28 | Intel Corporation | Panel level fabrication of package substrates with integrated stiffeners |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5221399A (en) * | 1991-03-05 | 1993-06-22 | Harris Corporation | Joining of printed wiring board to aluminum stiffener using adhesive film, electrically insulative mesh structure that cures at room temperature |
JPH09293808A (ja) | 1996-04-25 | 1997-11-11 | Fujitsu Ltd | 半導体装置 |
JPH1050877A (ja) | 1996-07-30 | 1998-02-20 | Toshiba Corp | 半導体パッケージ |
US6145365A (en) * | 1997-09-29 | 2000-11-14 | Nakamura Seisakusho Kabushikigaisha | Method for forming a recess portion on a metal plate |
-
1998
- 1998-12-02 JP JP10342739A patent/JP3040979B1/ja not_active Expired - Fee Related
-
2000
- 2000-05-30 US US09/579,140 patent/US6391422B1/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2018093007A (ja) * | 2016-12-01 | 2018-06-14 | 富士通株式会社 | 光モジュール及び光モジュールの製造方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US6391422B1 (en) | 2002-05-21 |
JP2000174159A (ja) | 2000-06-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100531393B1 (ko) | 반도체 장치 및 그 제조 방법 | |
JP4504798B2 (ja) | 多段構成半導体モジュール | |
TW502353B (en) | Flip chip assembly structure for semiconductor device and its assembling method | |
JP4305502B2 (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
US20040212075A1 (en) | Semiconductor device including a wiring board with a three-dimensional wiring pattern | |
US6720644B2 (en) | Semiconductor device using interposer substrate and manufacturing method therefor | |
JP2002530892A (ja) | 高密度電子パッケージ | |
KR20110014598A (ko) | 인쇄회로기판을 제조하는 방법, 용도 및 인쇄회로기판 | |
JP3119630B2 (ja) | 半導体チップモジュール用多層回路基板およびその製造方法 | |
JP2000031327A (ja) | 半導体装置及びその製造方法 | |
JP3040979B1 (ja) | 配線基板及び補強板 | |
JP2009026028A (ja) | ハイブリッド型icカードおよびその製造方法 | |
US7791197B2 (en) | Semiconductor device, connecting member, method for manufacturing a semiconductor device and method for manufacturing a connecting member | |
JPH06291165A (ja) | フリップチップ接続構造 | |
JP6639934B2 (ja) | 配線基板、半導体装置及び配線基板の製造方法 | |
US9565755B2 (en) | Electronic component | |
KR102368837B1 (ko) | 배선기판 | |
US6803647B2 (en) | Mounting structure of semiconductor device and mounting method thereof | |
JP2002151549A (ja) | 異方導電性フィルム | |
JP2001007236A (ja) | ウェハー状積層体および半導体素子パッケージならびにウェハー状積層体の製造方法 | |
JPH1131716A (ja) | 半導体装置の製造方法及び半導体チップ | |
JP4436931B2 (ja) | 配線基板の製造方法 | |
JP2000150577A (ja) | 配線基板とその製造方法、半導体装置、これらを用いた電気部品とその製造方法 | |
JP2001345132A (ja) | 異方導電シート体およびそれを用いたパッケージ構造ならびに半導体装置 | |
JP2000012724A (ja) | ベアチップ実装用回路基板 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090303 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090303 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100303 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100303 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100303 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110303 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110303 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120303 Year of fee payment: 12 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120303 Year of fee payment: 12 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120303 Year of fee payment: 12 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130303 Year of fee payment: 13 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130303 Year of fee payment: 13 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140303 Year of fee payment: 14 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |