JP3032442B2 - 光学活性エリスロ−3−アミノ−1,2−エポキシ体の製造法 - Google Patents

光学活性エリスロ−3−アミノ−1,2−エポキシ体の製造法

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JP3032442B2 JP6312338A JP31233894A JP3032442B2 JP 3032442 B2 JP3032442 B2 JP 3032442B2 JP 6312338 A JP6312338 A JP 6312338A JP 31233894 A JP31233894 A JP 31233894A JP 3032442 B2 JP3032442 B2 JP 3032442B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明における光学活性エリスロ
−3−アミノ−エポキシ体は、医薬品中間体の合成原料
として用いられている。例えば、HIVプロテアーゼ阻
害剤(特開平3−251563等)の有用な原料中間体
として利用されている。
【0002】
【従来の技術】光学活性エリスロ−3−アミノ−1,2
−エポキシ体の製造法としては下記のごとき方法が知ら
れている。 (S)−α−アミノ酸から合成した(S)−α−アミ
ノプロパナール誘導体にジメチルスルホニルメチリドを
反応させる方法(J.Org.Chem,1985,5
0,4615−4625) (S)−α−アミノ酸から合成した(s)−3−アミ
ノ−1−クロル−2−ブタノン誘導体をケトン還元して
環化する方法(特開平2−42048) (S)−α−アミノ酸から合成した(S)−3−アミ
ノ−2−置換−1−ブタノールを経由する方法(特開平
3−251563)
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、一般的
に上記のような方法においては新たに不斉炭素を一つ構
築しなければならず、通常反応が立体特異的にいかない
ため、必要としないジアステレオマーの副生は避けられ
ない。現に上記のいずれの方法も選択性が悪く、所望の
ものを光学純度良く得るために光学分割やシリカゲルク
ロマトグラフィー等での光学精製などが行われている。
そのため収率が低く、操作上効率が悪く実用的方法とは
言い難い。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明は次の(1)〜
(15)に関する。 (1) 式(1)
【化5】
【0005】(式中のR1は、炭素数3〜12の炭化水
素残基、R2はアミノ基または保護されたアミノ基、R
3は炭素数1〜12の炭化水素残基、R4はエステル残
基、*3の立体配置がS配置の時、*2の立体配置はR
配置、*3の配置がRの時、*2の配置はS配置を示
す。)で表わされる光学活性スレオ−3−アミノ−2−
置換酪酸エステル誘導体を還元し、次いで得られる式
(2)
【化6】
【0006】(式中のR1、R2、*2、*3は前記と
同じ意味を示す。)で表わされる光学活性スレオ−3−
アミノ−2−置換−1−ブタノール誘導体を塩基の存在
下でエポキシ化することを特徴とする式(3)
【化7】
【0007】(式中のR1、R2は前記と同じ意味を示
す。)*3の立体配置がS配置の時、*2の立体配置は
S配置、*3の配置がRの時、*2の配置はR配置を示
す。)で表される光学活性エリスロ−3−アミノ−1,
2−エポキシ体の製造法 (2)R1が炭素数3ないし8の炭化水素残基である
(1)の方法 (3)R1が炭素数6の炭化水素残基である(1)の方
【0008】(4)R1がシクロヘキシル基又はフェニ
ル基である(1)の方法 (5)R2がアシル基又はウレタン形成保護基で保護さ
れたアミノ基である(1)〜(4)のいずれかの方法 (6)R2が置換又は非置換低級アルカノイル基、低級
アルコキシカルボニル基で保護されたアミノ基である
(5)の方法
【0009】(7)R1がシクロヘキシル基又はフェニ
ル基で、R2がtert−ブトキシカルボニル基又はベ
ンジルオキシカルボニル基である(1)の方法 (8)R3が低級アルキル基又は低級アルキル置換フェ
ニル基である(1)〜(7)のいずれかの方法 (9)式(1)の化合物の還元剤が還元性ほう素族元素
化合物である(1)〜(8)のいずれかの方法
【0010】(10)式(1)の化合物の還元剤が水素
化ほう素化合物である(1)〜(9)のいずれかの方法 (11)式(2)の化合物のエポキシ化をアルカリ金属
炭酸塩の存在下で行う(1)〜(10)のいずれかの方
【0011】(12) 式(4)
【0012】
【化8】
【0013】(式中のR1は、炭素数3〜12の炭化水
素残基、R21はアミノ基又は低級アルカノイル基、低
級アルコキシカルボニル基、アラルキルオキシカルボニ
ル基、アリ−ルスルホニル基若しくはアラルキル基で保
護されたアミノ基(但しフタルイミノ基は除く)、R3
は炭素数1〜12の炭化水素残基、*3の立体配置がS
配置の時、*2の立体配置はR配置、*3の配置がRの
時、*2の配置はS配置を示す。)で表わされる光学活
性スレオ−3−アミノ−2−置換−1−ブタノ−ル誘導
体。
【0014】(13)式(4)において、R1がフェニ
ル基である(12)の光学活性スレオ−3−アミノ−4
−フェニル−2−置換−1−ブタノール誘導体 (14)式(4)において、R1がフェニル基又はシク
ロヘキシル基、R21が低級アルカノイル基又は低級ア
ルコキシカルボニル基で保護されたアミノ基、R3が低
級アルキル基又は低級アルキル置換フェニル基である
(12)の光学活性スレオ−3−アミノ−4−フェニル
−2−置換−1−ブタノール誘導体 (15)式(4)において、R1がフェニル基又はシク
ロヘキシル基、R21がtert−ブトキシカルボニル
基又はベンジルオキシカルボニル基で保護されたアミノ
基である(12)の光学活性スレオ−3−アミノ−4−
フェニル−2−置換−1−ブタノール誘導体
【0015】本発明における式(1)〜(3)のR1で
示される炭素数3〜12好ましくは3〜8の炭化水素残
基としては飽和、不飽和、直鎖状、環状およびそれらの
組合せのいずれでもよく、具体的にはアルキル基、アリ
ール基、アラルキル基などがあげられる。これらは反応
に関与しない置換基を有していてもよい。例えば、アル
キル基としては炭素数3〜8程度のものがよく、n−プ
ロピル、イソプロピル、n−ブチル、イソブチル、se
c−ブチル、tert−ブチル、ペンチル、ヘキシルな
どの基があげられ、シクロアルキル基としては、例え
ば、シクロプロピル、シクロブチル、シクロペンチル、
シクロヘキシルなどがあげられる。また、アリール基と
しては、置換または非置換フェニル及びナフチル、例え
ば、フェニル、p−トリルなどの低級アルキル置換フェ
ニル、4−メトキシフェニルなどの低級アルコキシ置換
フェニル、4−クロロフェニルなどのハロゲン置換フェ
ニル、1−ナフチル、2−ナフチルなどの基があげられ
る。ここで低級アルキルや低級アルコキシの低級とは炭
素数1〜8、好ましくは1〜4の基であることを示し、
以下も同様の意味を示す。
【0016】また式(1)〜(3)のR2で示される保
護されたアミノ基としては特に制限はされない。例え
ば、その保護基は(1)アシル基 具体的にはホルミル
基、アセチル基、プロピオニル基、トリフルオロアセチ
ル基等のような置換又は非置換の低級アルカノイル基、
(2)ウレタン形成保護基 例えば第三級ブトキシカル
ボニル及び第三級アミロキシカルボニル基等のような置
換又は非置換の低級アルコキシカルボニル基、p−ニト
ロベンジルオキシカルボニル基、ベンジルオキシカルボ
ニル基、のような置換又は非置換のアラルキルオキシカ
ルボニル基、(3)トシル基等のような置換又は非置換
等のアリールスルホニル基、(4)トリチル基、ベンジ
ル基等のようなアラルキル基等があげられる。最も一般
的な保護基は(1)アシル基又は(2)ウレタン形成保
護基である。具体的には好ましくは置換又は非置換の低
級アルカノイル基、置換又は非置換の低級アルコキシカ
ルボニル基又は置換又は非置換のアラルキルオキシカル
ボニル基があげられる。より好ましくはtert−ブト
キシカルボニル基とベンジルオキシカルボニル基であ
る。式(4)のR21で示される保護されたアミノ基と
してはアミノ基がフタリルで保護されている場合を除き
R2と同じものがあげられる。またR3及びR4で示さ
れる炭素数1〜12の炭化水素残基としては、好ましく
はメチル、エチル、プロピル、ブチルなどの炭素数1〜
8、好ましくは1〜4の低級アルキル基又はアリール基
があげられ、アリール基としては前記R1と同様のもの
があげられるが、好ましくは低級アルキル置換フェニル
があげられる。
【0017】式(1)の酪酸エステル誘導体のアルコー
ルへの還元反応は、通常、式(1)の化合物を、溶媒に
溶解し、適当な還元剤を作用させることにより行うこと
ができる。溶媒は式(1)の化合物を溶解するものであ
れば特に制限はされないが、アルコール類、エーテル類
などの極性溶媒が好ましい。還元方法は一般的には比較
的温和の条件で還元する還元性ほう素族元素化合物、例
えば還元性ほう素化合物、還元性アルミニウム化合物を
用いる方法例えば、水素化ほう素化合物、水素化アルミ
ニウム化合物を用いる方法、ジボランによる方法等が上
げられるが、本発明における式(1)から式(2)を得
るための還元方法としては、式(1)の分子内に存在す
るスルホニル基が強力な還元剤を用いると還元される可
能性がありうるので、好適には水素化ほう素アルカリ金
属又は水素化ほう素アルカリ土類金属化合物例えば水素
化ほう素ナトリウム、水素化ほう素カルシウム、水素化
ほう素リチウムのような、水素化ほう素化合物を用いて
行なわれる。
【0018】その使用量としては、反応基質に対して1
〜10当量、好ましくは2〜5当量が良い。還元剤例え
ば水素化ほう素化合物は固体のままでもよいし、溶液と
して加えてもよい。また、入手困難なものについては反
応系内で生成させて反応させることもある。
【0019】水素化ほう素ナトリウムを用いる場合、反
応溶媒としてメタノール、エタノール、イソプロパノー
ル等の低級アルコール類またはテトラヒドロフランもし
くはそれらの混合溶媒が用いられ、−20℃〜溶媒の還
流温度(例えば80℃程度)、好ましくは、5℃〜30
℃で反応を行う。
【0020】水素化ほう素カルシウムの場合は溶媒にエ
タノールを用い、水素化ほう素ナトリウムの溶液中に塩
化カルシウム溶液を加えて、反応系内で水素化ほう素カ
ルシウムを生成させて用いることもある。この時の反応
温度は−20℃〜室温(30℃)、好ましくは、−10
℃〜10℃で反応を行う。
【0021】水素化ほう素リチウムの場合には、ジエチ
ルエーテル、テトラヒドロフラン等のエーテル類を用
い、10℃〜溶媒還流温度(例えば80℃)で反応を行
う。好ましくは副反応を防ぐために20℃〜30℃で反
応を行うのがよい。
【0022】反応終了後は、常法に従って処理すること
により、式(2)の化合物を得ることができる。例え
ば、濃縮、抽出、晶析などの手段を適宜組合せて処理す
ることにより、式(2)の化合物を単離することができ
る。具体的には、水溶性のアルコール溶媒の場合には、
反応液のpHを、酸例えば塩酸などの鉱酸、クエン酸な
どの有機酸を用いて、酸性例えばpH2〜6、好ましく
は3〜5程度にした後、溶媒を留去して、濃縮し、次い
で、水を加えた後、酢酸エチルなどの水不溶性溶媒で目
的化合物を抽出し、該抽出液を濃縮し、目的化合物の不
溶性溶媒を添加して、目的化合物を析出させることがで
きる。また場合により、式(2)の化合物を単離するこ
となく次の工程にまわしてもよい。
【0023】式(2)の化合物のエポキシ化は、例え
ば、式(2)の化合物を不活性溶媒に溶解し、塩基の存
在下に、反応させ、縮合閉環することにより行われる。
式(2)の化合物のエポキシ化反応の塩基としては、ア
ルカリ金属化合物又はアルカリ土類金属化合物等が使用
され、好ましくはカリウムt−ブチレート、ナトリウム
エチレート等のアルカリ金属アルコレート、ナトリウム
またはカリウム水素化物等のアルカリ金属水素化物、水
酸化ナトリウム、水酸化カリウム等のアルカリ金属水酸
化物、炭酸カリウム、炭酸ナトリウム等のアルカリ金属
炭酸塩が用いられる。なお、強い塩基を用いると条件に
より副反応を起こし易く収率を低下させる場合があるの
で、上記の中でもより好適には炭酸カリウム、あるいは
炭酸ナトリウム等のアルカリ金属炭酸塩を用いるのが良
い。その使用量としては、特に制限はされないが、反応
基質(式(2)の化合物)に対して1〜4当量、好まし
くは1〜2当量を加え、0℃〜60℃、好ましくは、2
0℃〜30℃で反応を行うのが良い。
【0024】溶媒としては、アセトン等のケトン類、ジ
オキサン、テトラヒドロフラン、エチレングリコールジ
メチルエーテル等のエーテル類や、N,N−ジメチルホ
ルムアミド、N,N−ジメチルアセトアミド等のアミド
類、ジメチルスルホキシド等の低級アルキルスルホキシ
ド類、エタノール、メタノール等のアルコール類等の極
性溶媒を用いることができるが、メタノール等の低級ア
ルコール類を用いるのが好ましい。アルカリ金属炭酸塩
は溶媒に懸濁させたままでもよいし、溶解させるために
水を添加することもできる。反応終了後は、反応液を希
硫酸、希塩酸等の希鉱酸水又はクエン酸水、酢酸等のカ
ルボン酸水溶液で中和した後、抽出溶媒を留去すること
により式(3)の化合物を得ることができる。
【0025】本発明における式(1)の化合物としては
例えば下記のものがあげられる。 (1)N−ベンジルオキシカルボニルー3(S)−アミ
ノ−2(R)−p−トルエンスルホニルオキシ又はメタ
ンスルホニルオキシ−4−フェニル酪酸メチルエステル (2)N−tert−ブトキシカルボニル−3(S)−
アミノ−2(R)−p−トルエンスルホニルオキシ又は
メタンスルホニルオキシ−4−フェニル酪酸メチルエス
テル (3)N−ベンジルオキシカルボニル−3(S)−アミ
ノ−2(R)−p−トルエンスルホニルオキシ−4−フ
ェニル酪酸エチルエステル (4)N−tert−ブトキシカルボニル−3(S)−
アミノ−2(R)−p−トルエンスルホニルオキシ−4
−シクロヘキシル酪酸メチルエステル (5)N−ベンゾイル−3(S)−アミノ−2(R)−
メタンスルホニルオキシ−4−フェニル酪酸メチルエス
テル
【0026】これらの式(1)の化合物は、特公昭61
−51578号記載の方法もしくはそれに準じて、N−
保護−3(S)−アミノ−2(R)−ヒドロキシ−4−
C3〜C12炭化水素残基(フェニル又はシクロヘキシ
ルなど)酪酸アルキルエステルに、有機塩基(例えばピ
リジン、ジメチルピリジン等のピリジン類や、トリエチ
ルアミン等の第3級アルキルアミン類)の存在下に、ハ
ロゲノアルキル又はアリールスルホニル化合物(例えば
ハロゲノメタンスルホニル又はp−トルエンスルホニル
ハロゲニド)を反応させることにより得ることができ
る。
【0027】本発明における式(2)の化合物として
は、例えば下記のものがあげられる。 (1)N−ベンジルオキシカルボニル−3(S)−アミ
ノ−2(R)−p−トルエンスルホニルオキシ又はメタ
ンスルホニルオキシ−4−フェニル−1−ブタノール (2)N−tert−ブトキシカルボニル−3(S)−
アミノ−2(R)−p−トルエンスルホニルオキシ又は
メタンスルホニルオキシ−4−フェニル−1−ブタノー
ル (3)N−tert−ブトキシカルボニル−3(S)−
アミノ−2(R)−p−トルエンスルホニルオキシ−4
−シクロヘキシル−1−ブタノール (4)N−ベンゾイル−3(S)−アミノ−2(R)−
メタンスルホニルオキシ−4−フェニル−1−ブタノー
【0028】本発明における式(3)のエポキシ化合物
としては例えば下記のものがあげられる。 (1)N−ベンジルオキシカルボニル−3(S)−アミ
ノ−1,2(S)−エポキシ−4−フェニルブタン (2)N−tert−ブトキシカルボニル−3(S)−
アミノ−1,2(S)−エポキシ−4−フェニルブタン (3)N−ベンジルオキシカルボニル−3(S)−アミ
ノ−1,2(S)−エポキシ−4−シクロヘキシルブタ
ン (4)N−ベンゾイル−3(S)−アミノ−1,2
(S)−エポキシ−4−フェニルブタン
【0029】
【実施例】実施例によって本発明を具体的に説明する
が、本発明がこれらの実施例のみに限定されるものでは
ない。
【0030】実施例1N−ベンジルオキシカルボニル−3(S)−アミノ−2
(R)−p−トルエンスルホニルオキシ−4−フェニル
酪酸メチルエステル N−ベンジルオキシカルボニル−3(S)−アミノ−2
(R)−ヒドロキシ−4−フェニル酪酸メチルエステル
20gをピリジン100mlに溶解し、10〜20℃を
保ちp−トルエンスルホニルクロリド13.3gを加え
た。次いで、触媒としてジメチルアミノピリジン(DM
AP)0.03gを添加して20〜25℃で5時間撹拌
した。反応液を水500mlで希釈し、酢酸エチル15
0ml(2回)で抽出した。抽出液を2N塩酸50m
l、飽和食塩水50mlで順次洗浄した。無水硫酸ナト
リウムで脱水し、濾過後、溶媒を留去し、N−ベンジル
オキシカルボニル−3(S)−アミノ−2(R)−p−
トルエンスルホニルオキシ−4−フェニル酪酸メチルエ
ステルを淡黄色油状物として32.5g得た。 分析確認 TLC KIESELGEL(商品名)60F254
(メルク社製) 展開溶媒 シクロヘキサン:酢酸エチル=1:1(v
/v) Rf値 0.82
【0031】実施例2N−ベンジルオキシカルボニル−3(S)−アミノ−2
(R)−p−トルエンスルホニルオキシ−4−フェニル
−1−ブタノール 実施例1で得られたN−ベンジルオキシカルボニル−3
(S)−アミノ−2(R)−p−トルエンスルホニルオ
キシ−4−フェニル酪酸メチルエステル32.4gをエ
タノール250mlに溶解させ、−5〜0℃に冷却し、
水素化ほう素ナトリウム9.03gを加えた。0℃以下
を保ち塩化カルシウム−エタノール溶液62.4g(塩
化カルシウム12.8gをエタノール250mlに溶
解)を滴下し、次いで、3時間撹拌した。反応液に5%
クエン酸水を加えpH4〜4.5に調整した後、溶媒を
減圧留去した。濃縮物に水210mlを加え酢酸エチル
150ml(2回)で抽出した。抽出液を飽和食塩水5
0mlで洗浄した後、無水硫酸ナトリウムで乾燥した。
硫酸ナトリウムを濾過し、溶媒を減圧留去した濃縮残留
物にn−ヘキサン200mlを加えて晶析させた。析出
結晶を濾過し、真空乾燥して、粗N−ベンジルオキシカ
ルボニル−3(S)−アミノ−2(R)−p−トルエン
スルホニルオキシ−4−フェニル−1−ブタノール2
5.5g得た。 分析確認 HPLC 使用カラム;Nucleosil (商品名)100
5 C18 250×4.6mm ID 溶出液 ;0.1 M NH4PO4:CH3CN =1:1(v/v) 溶出速度 ;1ml/min 検出 ;UV 254nm カラム温度;35℃ 保持時間(retention time) 11.3min
【0032】実施例3N−ベンジルオキシカルボニル−3(S)−アミノ−
1,2(S)−エポキシ−4−フェニルブタン 実施例2で得られた粗N−ベンジルオキシカルボニル−
3(S)−アミノ−2(R)−p−トルエンスルホニル
−4−フェニル−1−ブタノール25.5gをメタノー
ル750mlに溶解させ、10℃で炭酸カリウム13.
9gを加えた。次いで、10〜20℃で3時間撹拌し
た。反応液を5%クエン酸水でpH7〜7.5に調整
後、溶媒を減圧留去した。濃縮物に水150mlを加
え、酢酸エチル150ml(2回)で抽出した。抽出液
を飽和食塩水50mlで洗浄した後、無水硫酸ナトリウ
ムで乾燥した。硫酸ナトリウムを濾過し、溶媒を減圧留
去して、粗N−ベンジルオキシカルボニル−3(S)−
アミノ−1,2(S)−エポキシ−4−フェニルブタン
14.4g得た。上記で得られた粗N−ベンジルオキシ
カルボニル−3(S)−アミノ−2(S)−1,2
(S)−エポキシ−4−フェニルブタン14.2gに酢
酸エチル30mlを加え35〜45℃で溶解させ、活性
炭0.5gを加え脱色、濾過後、濾過液にn−ヘキサン
150mlを加え晶析させた。析出結晶を濾過し、真空
乾燥して、精製N−ベンジルオキシカルボニル−3
(S)−アミノ−1,2(S)−エポキシ−4−フェニ
ルブタン13.0g得た。実施例1〜3の通算収率は7
5.1%であった。またHPLC分析により、2R、3
S−異性体は検出されなかった。 分析確認 HPLC 実施例2と同条件 保持時間(retention time) 7.0min
【0033】1H−NMR (CDCl3 ) δ(ppm)2.68〜3.07(m, 5H) 3.75 (m, 1H) 4.70 (br,1H) 5.04 (s, 2H) 7.15〜7.40(m,10H) 融点 101〜102℃ 比旋光度 〔α〕20 D =+110°(c=1,CHCl
3
【0034】実施例4N−ベンジルオキシカルボニル−3(S)−アミノ−2
(R)−メタンスルホニルオキシ−4−フェニル酪酸メ
チルエステル N−ベンジルオキシカルボニル−3(S)−アミノ−2
(R)−ヒドロキシ−4−フェニル酪酸メチルエステル
206gを塩化メチレン1,000mlに溶解後、−1
0℃に冷却し、トリエチルアミン79gを加えた。次い
で、同温度に冷却下、メタンスルホニルクロリド82.
5gをゆっくり滴下した。15〜0℃で1時間撹拌後、
水500mlを加え、分液した。有機層を1N−塩酸、
5%炭酸水素ナトリウム水溶液及び飽和食塩水で順次洗
浄後、減圧濃縮し、N−ベンジルオキシカルボニル−3
(S)−アミノ−2(R)−メタンスルホニルオキシ−
4−フェニル酪酸メチルエステルを淡黄色油状物として
253g得た。 分析確認 HPLC 使用カラム;Inertsil(商品名)ODS 2 250×4.6mmID 溶出液 ;0.01M NH4H2PO4 (pH 2.5) CH3CN =35:65(v/v) その他、実施例2と同条件 保持時間(retention time) 6.0min
【0035】実施例5N−ベンジルオキシカルボニル−3(S)−アミノ−2
(R)−メタンスルホニルオキシ−4−フェニル−1−
ブタノール 実施例4で得られたN−ベンジルオキシカルボニル−3
(S)−アミノ−2(R)−メタンスルホニルオキシ−
4−フェニル酪酸メチル253gをエタノール1,80
0ml、テトラヒドロフラン600mlの混合溶媒に溶
解した。−10℃に冷却後、水素化ほう素ナトリウム4
5.4gを加え、0℃以下を保ちながら塩化カルシウム
66.6gのエタノール330ml溶液を滴下した。滴
下終了後、0〜10℃で2時間撹拌し、2N−塩酸を加
えてpH3〜4に調整した後、溶媒を留去した。濃縮物
に水を加えて酢酸エチルで抽出し、有機層を飽和食塩水
で洗浄後、無水硫酸ナトリウムで乾燥した。硫酸ナトリ
ウムを濾過し、減圧濃縮後、n−ヘキサンを加えて晶析
させ、析出結晶を濾過、乾燥して、N−ベンジルオキシ
カルボニル−3(S)−アミノ−2(R)−メタンスル
ホニルオキシ−4−フェニル−1−ブタノール216g
を白色結晶として得た。 分析確認 HPLC 実施例4と同条件 保持時間(retention time) 4.3min
【0036】1HNMR (CDCl3 ) δ(ppm)2.77〜3.10(m,2H) 3.08 (s,3H) 3.60〜3.90(m,2H) 4.31 (m,1H) 4.76 (d,J=6.7Hz,1.8H
z,1H) 4.98 (d like,1H) 5.04 (s,2H) 7.15〜7.37(m,10H) 融点 121〜122℃
【0037】実施例6N−ベンジルオキシカルボニル−3(S)−アミノ−
1,2(S)−エポキシ−4−フェニルブタン 実施例5で得られたN−ベンジルオキシカルボニル−3
(S)−アミノ−2(R)−メタンスルホニルオキシ−
4−フェニル−1−ブタノール196.7gのメタノー
ル2,500ml懸濁液に炭酸カリウム90gを加え、
室温で5時間撹拌した。反応液を10%クエン酸水でp
H7に調整後 、溶媒を減圧濃縮し、濃縮物に水を加え
て酢酸エチルで抽出した。有機層を飽和食塩水で洗浄
後、無水硫酸ナトリウム、活性炭を加えて濾過し、溶媒
を濃縮後、n−ヘキサンを加えて晶析した。析出結晶を
濾過、乾燥し、目的のN−ベンジルオキシカルボニル−
3(S)−アミノ−1,2(S)−エポキシ−4−フェ
ニルブタン129gを白色結晶として得た。実施例4〜
6の通算収率は72.3%であった。 分析確認 HPLC 実施例4と同条件、但し溶出液比率 1:
1(v/v) 保持時間(retention time) 13.2min
【0038】1H−NMRデータ、融点および比旋光度
は、実施例3に記載のデータと完全に一致した。またH
PLC分析より、2R,3S−異性体は検出されなかっ
た。
【0039】実施例7N−tert−ブトキシカルボニル−3(S)−1.2
(S)−エポキシ−4−フェニルブタン N−tert−ブトキシカルボニル−3(S)−アミノ
−2(R)−ヒドロキシ−4−フェニル酪酸メチルエス
テル30.9gを実施例1〜3に記載の方法と同様に処
理して、N−tert−ブトキシカルボニル−3(S)
−1.2(S)−エポキシ−4−フェニルブタン22.
3g(収率84.7%)を白色結晶として得た。またH
PLC分析により、2R、3S−異性体は検出されなか
った。 分析確認 HPLC 実施例2と同条件 保持時間(retention time)16.7min
【0040】1HNMR (CDCl3 ) δ(ppm)1.40 (s,9H) 2.78〜2.97(total,5H) 3.70 (brs,1H) 4.45 (brs,1H) 7,20〜7.39(m,5H) 融点 123〜124℃
【0041】実施例8N−tert−ブトキシカルボニル−3(S)−アミノ
−1,2(S)−エポキシ−4−シクロヘキシルブタン N−tert−ブトキシカルボニル−3(S)−アミノ
−2(R)−ヒドロキシ−4−シクロヘキシル酪酸メチ
ル15.8gを実施例4〜6記載の方法と同様に処理し
て、N−tert−ブトキシカルボニル−3(S)−ア
ミノ−1,2(R)−エポキシ−4−シクロヘキシルブ
タン12.5g(収率92.9%)を白色ろう状物質と
して得た。
【0042】1HNMR (CDCl3 ) δ(ppm)0.8〜1.9(m,22H)inclu
ding1.44(s,9H) 2.75 (m,2H) 2.84 (m,1H) 3.55 (br,1H) 4.37 (m,1H)
【0043】
【発明の効果】本発明によれば、スレオ3−アミノ−2
−ヒドロキシ−酪酸誘導体を原料に使い、所望する立体
配置のエリスロ3−アミノ−1,2−エポキシ体を選択
的に収率良く、しかも効率的に得ることができる。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI // C07M 7:00 (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) C07D 301/02 CA(STN) REGISTRY(STN)

Claims (15)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】式(1) 【化1】 (式中のR1は炭素数3〜12の炭化水素残基R2はア
    ミノ基または保護されたアミノ基、R3は炭素数1〜1
    2の炭化水素残基、R4はエステル残基、*3の立体配
    置がS配置の時、*2の立体配置はR配置、*3の配置
    がRの時、*2の配置はS配置を示す。)で表わされる
    光学活性スレオ−3−アミノ−2−置換酪酸エステル誘
    導体を還元し、次いで得られる式(2) 【化2】 (式中のR1、R2、*2、*3は前記と同じ意味を示
    す。)で表わされる光学活性スレオ−3−アミノ−2−
    置換−1−ブタノール誘導体を塩基の存在下でエポキシ
    化することを特徴とする式(3) 【化3】 (式中のR1、R2は前記と同じ意味を示す。)*3の
    立体配置がS配置の時、*2の立体配置はS配置、*3
    の配置がRの時、*2の配置はR配置を示す。)で表さ
    れる光学活性エリスロ−3−アミノ−1,2−エポキシ
    体の製造法。
  2. 【請求項2】R1が炭素数3ないし8の炭化水素残基で
    ある請求項1の方法
  3. 【請求項3】R1が炭素数6の炭化水素残基である請求
    項1の方法
  4. 【請求項4】R1がシクロヘキシル基又はフェニル基で
    ある請求項1の方法
  5. 【請求項5】R2がアシル基又はウレタン形成保護基で
    保護されたアミノ基である請求項1〜4のいずれかの方
  6. 【請求項6】R2が置換又は非置換低級アルカノイル
    基、低級アルコキシカルボニル基で保護されたアミノ基
    である請求項5の方法
  7. 【請求項7】R1がシクロヘキシル基又はフェニル基
    で、R2がtert−ブトキシカルボニル基又はベンジ
    ルオキシカルボニル基である請求項1の方法
  8. 【請求項8】R3が低級アルキル基又は低級アルキル置
    換フェニル基である請求項1〜7のいずれかの方法
  9. 【請求項9】式(1)の化合物還元剤が還元性ほう素族
    元素化合物である請求項1〜8のいずれかの方法
  10. 【請求項10】式(1)の化合物の還元剤が水素化ほう
    素化合物である請求項1〜9のいずれかの方法
  11. 【請求項11】式(2)の化合物のエポキシ化をアルカ
    リ金属炭酸塩の存在下で行う請求項1〜10のいずれか
    の方法
  12. 【請求項12】 式(4) 【化4】 (式中のR1は、炭素数3〜12の炭化水素残基、R2
    1はアミノ基又は低級アルカノイル基、低級アルコキシ
    カルボニル基、アラルキルオキシカルボニル基、アリ−
    ルスルホニル基若しくはアラルキル基で保護されたアミ
    ノ基(但しフタルイミノ基は除く)、R3は炭素数1〜
    12の炭化水素残基、*3の立体配置がS配置の時、*
    2の立体配置はR配置、*3の配置がRの時、*2の配
    置はS配置を示す。)で表わされる光学活性スレオ−3
    −アミノ−2−置換−1−ブタノ−ル誘導体。
  13. 【請求項13】式(4)において、R1がフェニル基で
    ある請求項12の光学活性スレオ−3−アミノ−4−フ
    ェニル−2−置換−1−ブタノール誘導体
  14. 【請求項14】式(4)において、R1がフェニル基又
    はシクロヘキシル基、R21が低級アルカノイル基又は
    低級アルコキシカルボニル基で保護されたアミノ基、R
    3が低級アルキル基又は低級アルキル置換フェニル基で
    ある請求項12の光学活性スレオ−3−アミノ−4−フ
    ェニル−2−置換−1−ブタノール誘導体
  15. 【請求項15】式(4)において、R1がフェニル基又
    はシクロヘキシル基、R21がtert−ブトキシカル
    ボニル基又はベンジルオキシカルボニル基で保護された
    アミノ基である請求項12の光学活性スレオ−3−アミ
    ノ−4−フェニル−2−置換−1−ブタノール誘導体
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