JP3021107B2 - Ｌｓｉにおける発振回路の発振検証方法及び発振検証装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明はＬＳＩにおける発振回路
の発振検証方法及び発振検証装置に関する。ＬＳＩに作
り込まれた発振回路、例えばリングオシレータ回路は、
ＬＳＩの内部クロックの発振源として使用するほかに、
これを外部に出力しておき、その発振周期をモニターし
てこの発振周期の長さが規格通りか否かを調べること
で、そのＬＳＩが正しく作られているか否かを調べる目
安となる。又、発振周期よりそのリングオシレータ回路
で使用しているゲートや配線路の遅延値を求めることが
でき、発振周期はそのＬＳＩの代表的特性を知るための
手掛かりとなる。

【０００２】そのため、発振回路の発振状態又は発振周
期の正確な値を知ることが重要となる。

【０００３】

【従来の技術】従来、ＬＳＩにおけるリングオシレータ
回路の発振周期を求める方法は、ＬＳＩ回路の配置図を
もとに、配線路の幅や長さ、その回路に使われているゲ
ートの種類からそれぞれの遅延値を求め、それを用いて
計算するという手作業によって求めていた。又、実際に
テスト用のデータで正しく発振が行われるどうかを調べ
るには、完成品を用いて調べるほかには、論理シミュレ
ーション結果をもとに目視によって直に調べる以外に方
法がなかった。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、発振周
期を手作業で計算する方法では計算に時間がかかるとと
もに、間違いも起こり易いという問題があり、論理シミ
ュレーション結果を目視で調べる方法も間違いも起こり
易いという問題がある。

【０００５】本発明は上記問題点を解決するためになさ
れたものであって、ＬＳＩ設計の早い段階で発振回路の
発振検証をより速く、より正確に行うことができ、これ
により省力化、納期の短縮化及びコストの低減を図るこ
とができることを目的とする。

【０００６】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、第１発明では、発振回路を含むＬＳＩの結線，配
置，ゲート特性，配線の遅延値等からなる回路データ
と、発振回路を動作させるためにＬＳＩに入力する信号
の時間的変化，発振回路の発振開始時刻，及び発振安定
時刻等からなる信号データと、回路データ及び信号デー
タに基づいて論理シミュレーションにより得られた発振
回路の信号変化履歴データとを入力する。そして、信号
データの発振開始時刻又は発振安定時刻以後における信
号変化履歴データの最初の信号変化を含んで信号変化履
歴データの終了点までの信号変化回数を求め、その求め
た信号変化回数が３回以上のとき発振回路が発振したと
判定し、信号変化回数が３回未満のとき発振回路が発振
しなかったと判定するようにした。

【０００７】又、第２発明では、発振回路を含むＬＳＩ
の結線，配置，ゲート特性，配線の遅延値等からなる回
路データと、発振回路を動作させるためにＬＳＩに入力
する信号の時間的変化，発振安定時刻，及び発振周期の
出力期待値等からなる信号データと、回路データ及び信
号データに基づいて論理シミュレーションにより得られ
た発振回路の信号変化履歴データとを入力する。そし
て、信号データの発振安定時期以後における信号変化履
歴データの最初の信号変化を含んで（２ｎ＋１）回目
（ｎは自然数）の信号変化までの所要時間を求め、この
所要時間をｎで除して信号変化履歴データにおける周期
を算出し、この算出した周期と信号データにおける発振
周期の出力期待値とを比較するようにした。

【０００８】又、第３発明では、発振回路を含むＬＳＩ
の結線，配置，ゲート特性，配線の遅延値等からなる回
路データと、発振回路を動作させるためにＬＳＩに入力
する信号の時間的変化，発振回路の発振開始時刻，及び
発振安定時刻等からなる信号データと、回路データ及び
信号データに基づいて論理シミュレーションにより得ら
れた発振回路の信号変化履歴データとに基づいてＬＳＩ
における発振回路の発振検証を行う発振検証装置であっ
て、信号データにおける発振開始時刻又は発振安定時刻
を測定時期として検出する測定時期検出部と、測定時期
検出部による測定時期の検出に基づいてその測定時期以
後における信号変化履歴データの最初の信号変化を測定
開始点として設定する測定開始点設定部と、測定開始点
設定部による測定開始点の設定に基づいて当該測定開始
点を含んで信号変化履歴データにおける信号変化回数を
カウントする変化回数計数部と、信号変化履歴データと
変化回数計数部の計数値とを入力し、信号変化履歴デー
タの終了点が入力されたとき変化回数計数部の計数値が
３回以上のとき発振回路が発振したと判定し、計数値が
３回未満のとき発振しなかったと判定する発振判定部
と、発振判定部による判定結果を出力する検証結果出力
部とを備えて構成した。

【０００９】更に、第４発明では、発振回路を含むＬＳ
Ｉの結線，配置，ゲート特性，配線の遅延値等からなる
回路データと、発振回路を動作させるためにＬＳＩに入
力する信号の時間的変化，発振回路の発振安定時刻，及
び発振周期の出力期待値等からなる信号データと、回路
データ及び信号データに基づいて論理シミュレーション
により得られた発振回路の信号変化履歴データとに基づ
いてＬＳＩにおける発振回路の発振検証を行う発振検証
装置であって、信号データにおける発振安定時刻を測定
時期として検出する測定時期検出部と、測定時期検出部
による測定時期の検出に基づいてその測定時期以後にお
ける信号変化履歴データの最初の信号変化を測定開始点
として設定する測定開始点設定部と、測定開始点設定部
による測定開始点の設定に基づいて当該測定開始点を含
んで（２ｎ＋１）回目（ｎは自然数）までの信号変化回
数をカウントする変化回数計数部と、測定開始点設定部
による測定開始点の設定に基づいて計時動作を開始し、
変化回数計数部によるカウント終了までの所要時間を計
測する計時部と、計時部により算出された所要時間をｎ
で除することにより信号変化履歴データにおける周期を
算出する周期算出部と、周期算出部により算出された周
期と信号データにおける発振周期の出力期待値との比較
判定を行う周期判定部と、周期判定部による判定結果を
出力する検証結果出力部とを備えて構成した。

【００１０】

【作用】第１，第３発明によれば、ＬＳＩ設計の早い段
階で発振回路の発振の有無の検証を手作業に依らず、よ
り速く、より正確に行うことができ、これにより省力
化、納期の短縮化及びコストの低減を図ることが可能と
なる。

【００１１】又、第２，第４発明によれば、ＬＳＩ設計
の早い段階で発振回路の発振周期の検証を手作業に依ら
ず、より速く、より正確に行うことができ、これにより
省力化、納期の短縮化及びコストの低減を図ることが可
能となる。

【００１２】

【実施例】以下、本発明を具体化した一実施例を図面に
従って説明する。図１は一実施例の発振検証装置を示す
概略構成図、図２は発振検証部の詳細を示すブロック
図、図３，図４は発振検証部の作用を説明するフローチ
ャート、図５はリングオシレータ回路の発振周期の検出
方法を示す説明図、図６はＬＳＩにおけるリングオシレ
ータ回路を示す図、図７はＬＳＩテスターにおけるリン
グオシレータ回路の発振周期の検出方法を示す説明図で
ある。

【００１３】図１に示すように、本実施例における発振
検証装置１はＣＡＤ装置からなり、データ格納部２、論
理シミュレート部３、発振検証部４、検証結果保存部５
等を備えて構成されている。

【００１４】データ格納部２にはこのＬＳＩを論理回路
で表現した場合の発振回路を含む各ゲートの結線，配
置，ゲート特性，配線の遅延値等からなる回路データ６
と、このＬＳＩの外部入力ピンより入力し、発振回路を
動作させるために入力する信号の時間的変化，発振回路
の発振開始時刻，発振安定時刻，及び発振周期の出力期
待値等からなる信号データ７とが格納されている。

【００１５】図６はこのＬＳＩの回路データ６に含まれ
た発振回路としてのリングオシレータ回路５０ａ〜５０
ｃを示し、セレクタ端子５２にセレクト信号が印加され
ると、第１のセレクタ５３によりリングオシレータ回路
５０ａ〜５０ｃのうち、いずれか１つが選択され、トリ
ガ端子５１に入力されるトリガ信号に基づいてその選択
されたリングオシレータ回路が発振を開始し、その発振
信号が前記セレクト信号に基づいて第２のセレクタ５４
を介してモニタ端子５５を介して出力される。

【００１６】又、データ格納部２には、論理シミュレー
ト部３の実行結果である信号変化履歴データ８も記憶さ
れるようになっている。論理シミュレート部３は、回路
データ６からこのＬＳＩを論理回路で表現されたものを
読み出し、それを展開する。そして、論理シミュレート
部３はここに信号データ７より入力信号を入力し、この
入力信号をもとに各論理ゲートを擬似的に動作させて各
外部出力端子の信号変化履歴データ８、即ち、各出力端
子の値の変化及び変化する時刻の履歴を求める。そし
て、この求めた信号変化履歴データ８をデータ格納部２
に一旦保存するようになっている。論理シミュレート部
３は信号データ７が終了するまで論理シミュレーション
を行い、各外部出力端子の信号変化履歴を逐次、データ
格納部２に保存する。

【００１７】発振検証部４は論理シミュレート部３によ
る論理シミュレーションの終了後、回路データ６、信号
データ７及び信号変化履歴データ８を入力し、信号変化
履歴データ８における任意の信号変化の履歴を取り出
し、その信号変化の履歴に対応するリングオシレータ回
路のデータを回路データ６から読み出すとともに、信号
データ７からその読み出したリングオシレータ回路に対
応する入力信号の時間的変化，発振開始時刻，発振安定
時刻，及び発振周期の出力期待値等のデータを読み出
し、そのリングオシレータ回路の発振の有無及び発振周
期等を求め、この検証結果を検証結果保存部５に出力し
て保存させるようになっている。

【００１８】そして、最後に、作業者が検証結果保存部
５の内容を調べることにより、ＬＳＩにおけるリングオ
シレータ回路の発振の有無、信号データ７の正否を判定
することができる。

【００１９】次に、前記発振検証部４を図２に従って詳
細に説明する。発振検証部４は、測定時期検出部１１，
測定開始点設定部１２，回路検索部１３，信号検索部１
４，変化回数計数部１５，計時部１６，周期算出部１
７，周期判定部１８，発振判定部１９，及び検証結果出
力部２０等を備えて構成されている。

【００２０】測定時期検出部１１は信号データ７を入力
し、その発振安定時刻ｔＯＣ（図５参照）を測定時期と
して検出し、その検出した測定時期ｔＯＣを測定開始点
設定部１２に出力する。

【００２１】測定開始点設定部１２は信号変化履歴デー
タ８から１つの信号変化履歴を読み出し、測定時期検出
部１１から入力された測定時期ｔＯＣに基づいてその測
定時期ｔＯＣ以後におけるその読み出した信号変化履歴
の最初の信号変化Ｐｃ０を測定開始点として設定する。

【００２２】回路検索部１３は測定開始点設定部１２に
よる測定開始点Ｐｃ０の設定に基づいて当該信号変化履
歴に対応するリングオシレータ回路を回路データ６より
検索し、その検索結果を信号検索部１４及び検証結果出
力部２０に出力する。

【００２３】信号検索部１４は回路検索部１３の検索結
果に基づいて当該リングオシレータ回路に対応する入力
信号の時間的変化，発振開始時刻，発振安定時刻，及び
発振周期の出力期待値等のデータを信号データ７より検
索し、その検索結果を周期判定部１８及び検証結果出力
部２０に出力する。

【００２４】変化回数計数部１５は測定開始点設定部１
２による測定開始点の設定に基づいて当該測定開始点を
含んで測定開始点設定部１２により読み出された当該信
号変化履歴における３回目までの信号変化回数をカウン
トし、３回目をカウントすると、カウント終了信号Ｓ_CE
を周期判定部１７に出力する。

【００２５】計時部１６は測定開始点設定部１２による
測定開始点の設定に基づいて発振周期の始点時刻を設定
して計時動作を開始するとともに、測定開始点設定部１
２により読み出された当該信号変化履歴における新たな
信号変化が入力される毎にその入力時刻を発振周期の終
点時刻として更新し、その更新した終点時刻を周期算出
部１７に出力するようになっている。

【００２６】周期算出部１７は変化回数計数部１５から
カウント終了信号Ｓ_CEが入力されたとき、計時部１６に
より設定された終点時刻から始点時刻を引くことにより
測定開始点（最初の信号変化）から最新の信号変化まで
の所要時間を算出し、この所要時間をそのまま、即ち、
所要時間を「１」で除することにより当該信号変化履歴
における発振周期として算出するようになっており、そ
の算出結果を周期判定部１８に出力する。

【００２７】周期判定部１８は信号検索部１４によって
信号データ７から読み出された発振周期の出力期待値
と、周期算出部１７により算出された周期との比較を行
って読み出された発振周期の出力期待値が正しいか否か
を判定し、その判定結果を検証結果出力部２０に出力す
る。

【００２８】発振判定部１９は測定開始点設定部１２に
より読み出された信号変化履歴と変化回数計数部１５の
計数値とを入力し、当該信号変化履歴の終了点の入力時
における変化回数計数部１５の計数値に応じて所定のリ
ングオシレータ回路の発振の有無を判定し、その判定結
果を検証結果出力部２０に出力する。即ち、信号変化履
歴の終了点が入力された時、変化回数計数部１５の計数
値が「３」に達していると当該リングオシレータ回路が
発振したと判定し、変化回数計数部１５の計数値が
「３」未満のとき当該リングオシレータ回路が発振しな
かったと判定するようになっている。

【００２９】検証結果出力部２０は前記回路検索部１３
及び信号検索部１４の検索結果、周期算出部１７の算出
結果、周期判定部１８及び発振判定部１９の判定結果を
入力している。そして、検証結果出力部２０は回路検索
部１３により読み出されたリングオシレータ回路の発振
の有無を出力するとともに、信号検索部１４により読み
出された当該リングオシレータ回路に対応する信号デー
タを出力するようになっている。又、検証結果出力部２
０は当該リングオシレータ回路が発振したときには周期
算出部１７による発振周期Ｔと、周期判定部１８による
周期判定結果とを出力するようになっている。

【００３０】次に上記のように構成された発振検証部４
の作用を図３，図４に示すフローチャートに従って説明
する。尚、信号変化履歴データ８から読み出された信号
変化履歴８Ａを図５に示すものとする。

【００３１】まず、ステップ３１で測定開始点設定部１
２により信号変化履歴データ８から読み出された信号変
化履歴８Ａがその先頭から読み飛ばされ、ステップ３２
で測定時期検出部１１により測定時刻か否か、即ち、信
号データ７における発振安定時刻ｔＯＣとなったか否か
が判定される。ステップ３２で発振安定時刻ｔＯＣでな
いと判定されると、ステップ３１，３２の処理が繰り返
し実行され、ステップ３２で発振安定時刻ｔＯＣである
と判定されると、ステップ３３に進む。

【００３２】ステップ３３では測定開始点設定部１２に
よりテスト終了時刻か否か、即ち、信号変化履歴８Ａの
終了点であるか否かが判定される。テスト終了時刻でな
いと判定されると、ステップ３４で測定開始点設定部１
２に信号変化履歴８Ａの信号変化Ｐｃ０が読み込まれ
る。そして、次のステップ３５で測定開始点設定部１２
によりその信号変化Ｐｃ０が最初の信号変化であると判
定され、その信号変化Ｐｃ０が測定開始点として設定さ
れ、ステップ３６でその信号変化時刻ｔ０が発振周期Ｔ
の始点時刻として設定されて計時部１６の計時動作が開
始される。

【００３３】続くステップ３８で変化回数計数部１５に
より最初の信号変化Ｐｃ０がカウントアップされ、計数
値は「１」となる。ステップ３９では信号が３回変化し
たか否かが判定される。このステップ３９で変化回数計
数部１５の計数値は「１」であるので３回未満であると
判定され、再び前記ステップ３３〜３５の処理が実行さ
れる。

【００３４】そして、ステップ３４で２つ目の信号変化
Ｐｃ１が読み込まれると、ステップ３５で最初の信号変
化でないと判定されるため、ステップ３７に進む。ステ
ップ３７ではその信号変化時刻ｔ１が発振周期Ｔの終点
時刻として更新されて計時部１６の計時動作が引き続き
継続される。

【００３５】次のステップ３８で変化回数計数部１５に
よりその信号変化Ｐｃ１がカウントアップされ、その計
数値は「２」となる。そして、ステップ３９でこのとき
計数値は「２」であるので３回未満であると判定され、
再々度前記ステップ３３〜３５の処理が実行される。

【００３６】そして、ステップ３４で３つ目の信号変化
Ｐｃ２が読み込まれると、ステップ３５で最初の信号変
化でないと判定され、ステップ３７にてその信号変化時
刻ｔ２が発振周期Ｔの終点時刻として更新されて計時部
１６の計時動作が引き続き継続される。

【００３７】ステップ３８で変化回数計数部１５により
その信号変化Ｐｃ２がカウントアップされ、計数値は
「３」となる。次のステップ３９でこのとき計数値は
「３」であるので３回であると判定され、ステップ４０
で周期算出部１７によりステップ３６で設定された始点
時刻ｔ０と最新のステップ３７で設定された終点時刻ｔ
２とから発振周期Ｔが算出される。

【００３８】そして、ステップ４１にて周期判定部１８
により前記ステップ４０で算出された発振周期Ｔと信号
データ７から読み出された出力期待値とが比較される。
このステップ４１で発振周期Ｔが出力期待値と等しいと
判定されると、ステップ４２でその算出された発振周期
Ｔが検証結果保存部５に出力され、発振周期Ｔが出力期
待値と等しくないと判定されると、ステップ４３で信号
データ７の出力期待値のエラーが検証結果保存部５に出
力されて当該信号変化履歴に対する発振検証処理が終了
する。

【００３９】又、前記ステップ３３でテスト終了時刻で
ある、即ち、信号変化履歴の終了点であると判定される
と、ステップ４４にて発振判定部１９により当該信号変
化履歴に対応するリングオシレータ回路が発振しなかっ
たことを示すエラーが検証結果保存部５に出力されて当
該信号変化履歴に対する発振検証処理が終了する。即
ち、当該信号変化履歴において発振したと判定するには
発振安定時刻以後において少なくとも３つの信号変化が
検出される必要がある。ところが、ステップ３３の処理
はステップ３９の処理に先行して行われており、ステッ
プ３３にて信号変化履歴の終了点であると判定されるこ
とは、このとき信号変化回数は３回目になっていないこ
とであり、発振しなかったことを示すエラーが出力され
ることとなる。

【００４０】図７はＬＳＩテスターを使用して実際に行
われているＬＳＩにおけるリングオシレータ回路の発振
検証方法を示している。まず、電源ＶDD，ＧＮＤ間にＬ
ＳＩ５７を接続し、同ＬＳＩ５７の全ての入力ピン５８
をテスタ５６の各信号源５９に接続するとともに、モニ
タ出力端子５５をテスタ５６の測定機６０に接続する。
そして、各信号源５９を介して前記信号データ７（テス
トパターンデータ）を入力してＬＳＩ５７を動作させ
る。そして、この過程において、信号データ７の変化を
止めてＬＳＩ５７の動作を安定させ、モニタ出力端子５
５の発振を測定機６０にて調べる。

【００４１】これは、ＬＳＩ５７における各リングオシ
レータ回路５０ａ〜５０ｃ等（図６参照）はトリガ端子
５１からのトリガ信号に基づいて一旦発振が始まると、
発振停止の操作を行わない限り発振を続け、発振安定時
間以上経過すると発振が安定することを考慮してのこと
である。

【００４２】このように、本実施例では回路データ６と
信号データ７とに基づいて論理シミュレート部３により
論理シミュレーションを実行し、各リングオシレータ回
路の信号変化履歴データ８をデータ格納部２に一時記憶
した。そして、発振検証部４に回路データ６，信号デー
タ７及び信号変化履歴データ８を入力し、信号データ７
の発振安定時刻ｔＯＣ以後における信号変化履歴の最初
の信号変化を含んで当該信号変化履歴の終了点までの信
号変化回数が３回以上のとき発振回路が発振したと判定
し、信号変化回数が３回未満のとき発振回路が発振しな
かったと判定し、その判定結果を検証結果保存部５に格
納した。又、信号データ７の発振安定時刻ｔＯＣ以後に
おける信号変化履歴の最初の信号変化Ｐｃ０を含んで３
回目の信号変化Ｐｃ２までの所要時間を当該信号変化履
歴における周期Ｔとして算出し、この算出した周期Ｔと
信号データ７における発振周期の出力期待値との比較判
定結果を検証結果保存部５に格納した。

【００４３】従って、試験者は検証結果保存部５に格納
されている内容を確認することにより、信号データ７に
おける発振回路を動作させるための信号又は発振周期の
出力期待値の正否を容易に知ることができる。その結
果、ＬＳＩ設計の早い段階でリングオシレータ回路の発
振の有無の検証又は発振周期の検証を手作業に依らず、
より速く、より正確に行うことができ、これにより省力
化、納期の短縮化及びコストの低減を図ることができ
る。

【００４４】尚、本実施例では発振の有無の検証及び発
振周期の検証のために、測定時期検出部１１は信号デー
タ７における発振安定時刻ｔＯＣを測定時期として検出
するようにしたが、発振の有無の検証については信号デ
ータ７における発振開始時刻ｔＯＳを測定時期として検
出することにより、発振判定部１９は発振開始時刻ｔＯ
Ｓ以後における信号変化履歴の最初の信号変化を含んで
当該信号変化履歴の終了点までの信号変化回数が３回以
上のとき発振回路が発振したと判定し、信号変化回数が
３回未満のとき発振回路が発振しなかったと判定するよ
うにしてもよい。

【００４５】又、本実施例では変化回数計数部１５を測
定開始点設定部１２による測定開始点の設定に基づいて
当該測定開始点を含んで３回目までの信号変化回数をカ
ウントするようにしたが、変化回数計数部１５を（２ｎ
＋１）回目（ｎは自然数）までの信号変化回数をカウン
トするものとし、周期算出部１７は計時部１６により算
出された所要時間をｎで除することにより信号変化履歴
における周期を算出するように構成してもよい。

【００４６】又、本実施例ではデータ格納部２及び論理
シミュレート部３を含んで発振検証装置１を構成した
が、発振検証装置を図２に示した発振検証部４のみで構
成してもよい。このように発振検証部４のみで構成した
発振検証装置では、発振回路の発振検証を行いたいＬＳ
Ｉについて、回路データと、このＬＳＩに入力する信号
データと、この発振検証装置とは別個に設けられた論理
シミュレータによる信号変化履歴データとを用意し、こ
れらのデータをこの発振検証装置にかけることにより、
随時、発振検証を行うことができ、上記実施例のように
論理シミュレート部３のシミュレート結果を待たずに済
むため、検証効率を向上することができる。

【００４７】

【発明の効果】以上詳述したように、第１，第３発明に
よれば、ＬＳＩ設計の早い段階で発振回路の発振の有無
の検証を手作業に依らず、より速く、より正確に行うこ
とができ、これにより省力化、納期の短縮化及びコスト
の低減を図ることができる。

【００４８】又、第２，第４発明によれば、ＬＳＩ設計
の早い段階で発振回路の発振周期の検証を手作業に依ら
ず、より速く、より正確に行うことができ、これにより
省力化、納期の短縮化及びコストの低減を図ることがで
きる。

【図面の簡単な説明】

【図１】一実施例の発振検証装置を示す概略構成図であ
る。

【図２】発振検証部の詳細を示すブロック図である。

【図３】発振検証部の作用を説明するフローチャートで
ある。

【図４】発振検証部の作用を説明するフローチャートで
ある。

【図５】リングオシレータ回路の発振周期の検出方法を
示す説明図である。

【図６】ＬＳＩにおけるリングオシレータ回路を示す図
である。

【図７】ＬＳＩテスターにおけるリングオシレータ回路
の発振周期の検出方法を示す説明図である。

【符号の説明】

１ 発振検証装置 ２ データ格納部 ３ 論理シミュレート部 ４ 発振検証部 ５ 検証結果保存部 ６ 回路データ ７ 信号データ ８ 信号変化履歴データ １１ 測定時期検出部 １２ 測定開始点設定部 １３ 回路検索部 １４ 信号検索部 １５ 変化回数計数部 １６ 計時部 １７ 周期算出部 １８ 周期判定部 １９ 発振判定部 ２０ 検証結果出力部

フロントページの続き (51)Int.Cl.⁷ 識別記号 ＦＩ Ｇ０６Ｆ 17/50 Ｇ０６Ｆ 15/60 ３６０Ｄ (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) G01R 31/28 G06F 11/25 G06F 17/50

Claims (4)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 発振回路を含むＬＳＩの結線，配置，ゲ
   ート特性，配線の遅延値等からなる回路データと、発振
   回路を動作させるためにＬＳＩに入力する信号の時間的
   変化，発振回路の発振開始時刻，及び発振安定時刻等か
   らなる信号データと、回路データ及び信号データに基づ
   いて論理シミュレーションにより得られた発振回路の信
   号変化履歴データとを入力し、 信号データの発振開始時刻又は発振安定時刻以後におけ
   る信号変化履歴データの最初の信号変化を含んで信号変
   化履歴データの終了点までの信号変化回数を求め、その
   求めた信号変化回数が３回以上のとき発振回路が発振し
   たと判定し、信号変化回数が３回未満のとき発振回路が
   発振しなかったと判定するようにしたことを特徴とする
   ＬＳＩにおける発振回路の発振検証方法。
2. 【請求項２】 発振回路を含むＬＳＩの結線，配置，ゲ
   ート特性，配線の遅延値等からなる回路データと、発振
   回路を動作させるためにＬＳＩに入力する信号の時間的
   変化，発振安定時刻，及び発振周期の出力期待値等から
   なる信号データと、回路データ及び信号データに基づい
   て論理シミュレーションにより得られた発振回路の信号
   変化履歴データとを入力し、 信号データの発振安定時刻以後における信号変化履歴デ
   ータの最初の信号変化を含んで（２ｎ＋１）回目（ｎは
   自然数）の信号変化までの所要時間を求め、この所要時
   間をｎで除して信号変化履歴データにおける周期を算出
   し、この算出した周期と信号データにおける発振周期の
   出力期待値とを比較するようにしたことを特徴とするＬ
   ＳＩにおける発振回路の発振検証方法。
3. 【請求項３】 発振回路を含むＬＳＩの結線，配置，ゲ
   ート特性，配線の遅延値等からなる回路データと、発振
   回路を動作させるためにＬＳＩに入力する信号の時間的
   変化，発振回路の発振開始時刻，及び発振安定時刻等か
   らなる信号データと、回路データ及び信号データに基づ
   いて論理シミュレーションにより得られた発振回路の信
   号変化履歴データとに基づいてＬＳＩにおける発振回路
   の発振検証を行う発振検証装置であって、 信号データにおける発振開始時刻又は発振安定時刻を測
   定時期として検出する測定時期検出部（１１）と、 測定時期検出部（１１）による測定時期の検出に基づい
   てその測定時期以後における信号変化履歴データの最初
   の信号変化を測定開始点として設定する測定開始点設定
   部（１２）と、 測定開始点設定部（１２）による測定開始点の設定に基
   づいて当該測定開始点を含んで信号変化履歴データにお
   ける信号変化回数をカウントする変化回数計数部（１
   ５）と、 信号変化履歴データと変化回数計数部（１５）の計数値
   とを入力し、信号変化履歴データの終了点が入力された
   とき変化回数計数部（１５）の計数値が３回以上のとき
   発振回路が発振したと判定し、計数値が３回未満のとき
   発振しなかったと判定する発振判定部（１９）と、 発振判定部（１９）による判定結果を出力する検証結果
   出力部（２０）とを備えることを特徴とするＬＳＩにお
   ける発振回路の発振検証装置。
4. 【請求項４】 発振回路を含むＬＳＩの結線，配置，ゲ
   ート特性，配線の遅延値等からなる回路データと、発振
   回路を動作させるためにＬＳＩに入力する信号の時間的
   変化，発振回路の発振安定時刻，及び発振周期の出力期
   待値等からなる信号データと、回路データ及び信号デー
   タに基づいて論理シミュレーションにより得られた発振
   回路の信号変化履歴データとに基づいてＬＳＩにおける
   発振回路の発振検証を行う発振検証装置であって、 信号データにおける発振安定時刻を測定時期として検出
   する測定時期検出部（１１）と、 測定時期検出部（１１）による測定時期の検出に基づい
   てその測定時期以後における信号変化履歴データの最初
   の信号変化を測定開始点として設定する測定開始点設定
   部（１２）と、 測定開始点設定部（１２）による測定開始点の設定に基
   づいて当該測定開始点を含んで（２ｎ＋１）回目（ｎは
   自然数）までの信号変化回数をカウントする変化回数計
   数部（１５）と、 測定開始点設定部（１２）による測定開始点の設定に基
   づいて計時動作を開始し、変化回数計数部（１５）によ
   るカウント終了までの所要時間を計測する計時部（１
   ６）と、 計時部（１６）により算出された所要時間をｎで除する
   ことにより信号変化履歴データにおける周期を算出する
   周期算出部（１７）と、 周期算出部（１７）により算出された周期と信号データ
   における発振周期の出力期待値との比較判定を行う周期
   判定部（１８）と、 周期判定部（１８）による判定結果を出力する検証結果
   出力部（２０）とを備えることを特徴とするＬＳＩにお
   ける発振回路の発振検証装置。