JP2990491B2 - 指紋登録方法及び指紋照合装置 - Google Patents
指紋登録方法及び指紋照合装置Info
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- JP2990491B2 JP2990491B2 JP7061340A JP6134095A JP2990491B2 JP 2990491 B2 JP2990491 B2 JP 2990491B2 JP 7061340 A JP7061340 A JP 7061340A JP 6134095 A JP6134095 A JP 6134095A JP 2990491 B2 JP2990491 B2 JP 2990491B2
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Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、指紋の登録可否を判定
して指紋登録を行う指紋登録方法及び指紋照合装置に関
する。登録された指紋と押捺した指紋とを照合して本人
確認を行う指紋照合装置は既に実用化されている。この
ような指紋照合装置に於いて、確実な指紋の登録を簡単
に実現することが要望されている。
して指紋登録を行う指紋登録方法及び指紋照合装置に関
する。登録された指紋と押捺した指紋とを照合して本人
確認を行う指紋照合装置は既に実用化されている。この
ような指紋照合装置に於いて、確実な指紋の登録を簡単
に実現することが要望されている。
【0002】
【従来の技術】従来例の指紋の登録は、図5に示すよう
に、指紋撮像の為の押捺が1回目か否かを判定し(D
1)、1回目の場合は仮登録し(D2)、又1回目でな
い場合は2回目の押捺か否かを判定し(D3)、2回目
の押捺の場合は、仮登録された指紋と2回目の押捺指紋
とを照合し(D4)、照合一致か否かを判定し(D
5)、照合一致の場合に本登録し(D6)、正常終了と
する。又照合不一致の場合は、登録失敗処理とする。こ
の登録失敗の場合、他の指を用いて登録処理を繰り返す
ことができる。
に、指紋撮像の為の押捺が1回目か否かを判定し(D
1)、1回目の場合は仮登録し(D2)、又1回目でな
い場合は2回目の押捺か否かを判定し(D3)、2回目
の押捺の場合は、仮登録された指紋と2回目の押捺指紋
とを照合し(D4)、照合一致か否かを判定し(D
5)、照合一致の場合に本登録し(D6)、正常終了と
する。又照合不一致の場合は、登録失敗処理とする。こ
の登録失敗の場合、他の指を用いて登録処理を繰り返す
ことができる。
【0003】図6の(A)に示す指紋を2値化した後、
細線化処理すると、(B)に示すものとなり、その中の
四角形で囲む登録窓内を拡大して(C)に示す。この
(C)に於いて、Nは正規特徴点、P1〜P4は疑似特
徴点を示す。例えば、隆線の所定長以上の分岐長を有す
る分岐点及び所定長以上の間隔が生じる端点を正規特徴
点とし、他の条件の分岐点及び端点は疑似特徴点とする
ものである。
細線化処理すると、(B)に示すものとなり、その中の
四角形で囲む登録窓内を拡大して(C)に示す。この
(C)に於いて、Nは正規特徴点、P1〜P4は疑似特
徴点を示す。例えば、隆線の所定長以上の分岐長を有す
る分岐点及び所定長以上の間隔が生じる端点を正規特徴
点とし、他の条件の分岐点及び端点は疑似特徴点とする
ものである。
【0004】前述の仮登録及び本登録に於いては、図6
の(C)に示すように、正規特徴点Nがほぼ中心となる
例えば36×30画素からなる登録窓を、1指紋画像中
の例えば15個所程度抽出して登録するものである。
の(C)に示すように、正規特徴点Nがほぼ中心となる
例えば36×30画素からなる登録窓を、1指紋画像中
の例えば15個所程度抽出して登録するものである。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】指紋は変化しないこと
から、本人確認に適しており、指紋照合装置によって登
録指紋と押捺指紋とを照合し、照合一致の場合に登録本
人と判定するものであるが、指先のひび割れ,しわ,汚
れ及び押捺圧力等によって、指紋撮像部で撮像した指紋
画像は大きく変化する。従って、仮登録した直後の照合
処理に於いては、殆どの場合照合一致となるが、日時の
経過に従って急激に照合一致率が低下する問題がある。
から、本人確認に適しており、指紋照合装置によって登
録指紋と押捺指紋とを照合し、照合一致の場合に登録本
人と判定するものであるが、指先のひび割れ,しわ,汚
れ及び押捺圧力等によって、指紋撮像部で撮像した指紋
画像は大きく変化する。従って、仮登録した直後の照合
処理に於いては、殆どの場合照合一致となるが、日時の
経過に従って急激に照合一致率が低下する問題がある。
【0006】図7及び図8は指紋画像と細線化画像との
説明図であり、各図の(A)は撮像した指紋画像、
(B)は二値化した後、細線化処理を施した画像を示
し、四角形は登録窓を示す。図7に於いては、比較的良
好な指紋画像であるから、(B)に示すように、正規特
徴点の抽出が容易である。しかし、図8に於いては、ひ
び割れ等を含み、従って、(B)に示すように、疑似特
徴点が多く、登録窓の選定が容易でなくなる。
説明図であり、各図の(A)は撮像した指紋画像、
(B)は二値化した後、細線化処理を施した画像を示
し、四角形は登録窓を示す。図7に於いては、比較的良
好な指紋画像であるから、(B)に示すように、正規特
徴点の抽出が容易である。しかし、図8に於いては、ひ
び割れ等を含み、従って、(B)に示すように、疑似特
徴点が多く、登録窓の選定が容易でなくなる。
【0007】このような図8に示す指紋についても、仮
登録直後に押捺指紋と照合すれば照合一致となる確率が
高いものであるから、本登録されることになる。しか
し、日時の経過に従ってひび割れやしわ等の状態が変化
し、それに伴って、照合一致の確率が急激に低下する。
これを回避する為には、図7に示すような画質の良い指
紋画像を得ることが望ましいが、指紋登録時には、照合
不一致となるような指紋画像が著しく劣化した場合以外
は、指紋画像の良否の判定は困難であった。従って、照
合不一致の時に他の指を用いて指紋登録を行ったとし
て、最良の指がどれであるかを判定することは不可能で
あった。本発明は、指紋画像の品質を疑似特徴点数によ
って表し、指紋登録の確実性及び容易性を実現すること
を目的とする。
登録直後に押捺指紋と照合すれば照合一致となる確率が
高いものであるから、本登録されることになる。しか
し、日時の経過に従ってひび割れやしわ等の状態が変化
し、それに伴って、照合一致の確率が急激に低下する。
これを回避する為には、図7に示すような画質の良い指
紋画像を得ることが望ましいが、指紋登録時には、照合
不一致となるような指紋画像が著しく劣化した場合以外
は、指紋画像の良否の判定は困難であった。従って、照
合不一致の時に他の指を用いて指紋登録を行ったとし
て、最良の指がどれであるかを判定することは不可能で
あった。本発明は、指紋画像の品質を疑似特徴点数によ
って表し、指紋登録の確実性及び容易性を実現すること
を目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明の指紋登録方法
は、指紋撮像部1により撮像した指紋の正規特徴点及び
疑似特徴点を検出し、正規特徴点をほぼ中心とした登録
窓内の疑似特徴点を計数し、全登録窓内の疑似特徴点数
の合計から登録窓内の平均疑似特徴点数を求め、この平
均疑似特徴点数が閾値以下の時に、指紋の登録処理を行
うものである。
は、指紋撮像部1により撮像した指紋の正規特徴点及び
疑似特徴点を検出し、正規特徴点をほぼ中心とした登録
窓内の疑似特徴点を計数し、全登録窓内の疑似特徴点数
の合計から登録窓内の平均疑似特徴点数を求め、この平
均疑似特徴点数が閾値以下の時に、指紋の登録処理を行
うものである。
【0009】又登録窓内の平均疑似特徴点数が閾値を超
えた時に、別指登録指示を行い、登録窓内の平均疑似特
徴点数が閾値以下の指紋が得られるまで、順次指を変更
して登録処理を行うことかできる。
えた時に、別指登録指示を行い、登録窓内の平均疑似特
徴点数が閾値以下の指紋が得られるまで、順次指を変更
して登録処理を行うことかできる。
【0010】又登録窓内の平均疑似特徴点数が閾値を超
えた時に、別指登録指示を行い、各指の指紋について、
平均疑似特徴点数が最小の指を最良指として選択し、こ
の最良指の指紋の登録処理を行うことができる。
えた時に、別指登録指示を行い、各指の指紋について、
平均疑似特徴点数が最小の指を最良指として選択し、こ
の最良指の指紋の登録処理を行うことができる。
【0011】又本発明の指紋照合装置は、指紋撮像部1
と、この指紋撮像部1による撮像画像の細線化処理を行
う画像処理部2と、この画像処理部2からの細線化され
た画像から正規特徴点及び疑似特徴点を検出する特徴点
検出部3と、正規特徴点をほぼ中心とした登録窓内の疑
似特徴点を計数して、全登録窓についての平均疑似特徴
点数を算出する平均特徴点数算出部4と、指紋を登録す
る登録部6と、平均疑似特徴点算出部4からの平均疑似
特徴点数と閾値とを比較し、平均特徴点数が閾値以下の
時に登録部6に指紋登録を行う判定処理部5と、平均疑
似特徴点算出部4からの平均疑似特徴点数又は平均疑似
特徴点数に対応した情報を表示する表示部7と、登録部
6に登録された指紋と指紋撮像部1により撮像された指
紋とを照合する照合処理部8とを備えている。
と、この指紋撮像部1による撮像画像の細線化処理を行
う画像処理部2と、この画像処理部2からの細線化され
た画像から正規特徴点及び疑似特徴点を検出する特徴点
検出部3と、正規特徴点をほぼ中心とした登録窓内の疑
似特徴点を計数して、全登録窓についての平均疑似特徴
点数を算出する平均特徴点数算出部4と、指紋を登録す
る登録部6と、平均疑似特徴点算出部4からの平均疑似
特徴点数と閾値とを比較し、平均特徴点数が閾値以下の
時に登録部6に指紋登録を行う判定処理部5と、平均疑
似特徴点算出部4からの平均疑似特徴点数又は平均疑似
特徴点数に対応した情報を表示する表示部7と、登録部
6に登録された指紋と指紋撮像部1により撮像された指
紋とを照合する照合処理部8とを備えている。
【0012】又判定処理部5は、平均疑似特徴点数が閾
値を超えた時に、表示部7に別指登録指示の表示を行
い、全指についての平均疑似特徴点数が閾値を超えた時
に、平均疑似特徴点数の最小の指を最良指として選択
し、この最良指の指紋を登録部6に登録する構成を備え
ている。
値を超えた時に、表示部7に別指登録指示の表示を行
い、全指についての平均疑似特徴点数が閾値を超えた時
に、平均疑似特徴点数の最小の指を最良指として選択
し、この最良指の指紋を登録部6に登録する構成を備え
ている。
【0013】
(1)指紋の正規特徴点と疑似特徴点とを検出し、正規
特徴点をほぼ中心とした登録窓内の疑似特徴点を計数す
る。そして、全登録窓内の疑似特徴点を合計し、登録窓
数で除算することにより、登録窓内の平均疑似特徴点数
が求まる。この平均疑似特徴点数が少ない程、指紋画像
の画質が良好なことを示すものであり、平均疑似特徴点
数が閾値以下の場合に、撮像した指紋画像が良好である
と判定して、登録処理を行う。この場合、仮登録と2回
目押捺による照合処理とを行った後に本登録とすること
もできる。
特徴点をほぼ中心とした登録窓内の疑似特徴点を計数す
る。そして、全登録窓内の疑似特徴点を合計し、登録窓
数で除算することにより、登録窓内の平均疑似特徴点数
が求まる。この平均疑似特徴点数が少ない程、指紋画像
の画質が良好なことを示すものであり、平均疑似特徴点
数が閾値以下の場合に、撮像した指紋画像が良好である
と判定して、登録処理を行う。この場合、仮登録と2回
目押捺による照合処理とを行った後に本登録とすること
もできる。
【0014】(2)又登録窓内の平均疑似特徴点数が閾
値を超えた場合は、指紋画像の画質が不良であることを
示すものであるから、例えば、5指について、平均疑似
特徴点数が閾値以下となるまで、順次指を変更して指紋
撮像を繰り返すことにより、指紋画像の画質が良好な指
についての指紋登録が可能となる。
値を超えた場合は、指紋画像の画質が不良であることを
示すものであるから、例えば、5指について、平均疑似
特徴点数が閾値以下となるまで、順次指を変更して指紋
撮像を繰り返すことにより、指紋画像の画質が良好な指
についての指紋登録が可能となる。
【0015】(3)又全部の指について指紋登録の操作
を順次行った結果、総て平均疑似特徴点数が閾値を超え
ている場合、平均疑似特徴点数が最小の指の指紋画像の
画質が最良と判定できるから、その場合の指を最良指と
して選択し、その指の指紋を登録する。
を順次行った結果、総て平均疑似特徴点数が閾値を超え
ている場合、平均疑似特徴点数が最小の指の指紋画像の
画質が最良と判定できるから、その場合の指を最良指と
して選択し、その指の指紋を登録する。
【0016】(4)又指紋撮像部1は、CCDカメラ等
によって撮像面に押捺している状態の指紋を撮像し、画
像処理部2は、指紋画像の二値化を行って細線化処理を
行い、特徴点検出部3は、分岐点や端点等の正規特徴点
と、疑似分岐点,疑似端点等の疑似特徴点とを検出す
る。平均疑似特徴点数算出部4は、正規特徴点をほぼ中
心とした登録窓内の疑似特徴点を計数し、全登録窓につ
いての疑似特徴点数を加算して、登録窓数で除算するこ
とにより、登録窓の平均疑似特徴点数を求める。判定処
理部5は、平均疑似特徴点数が閾値以下の場合は、指紋
画像の画質が良好と判定し、登録部6にその指紋登録の
処理を行う。又表示部7に、平均疑似特徴点数又はそれ
に関連する情報を表示し、指紋画像の画質を数値で表示
することができる。又照合処理部8は、登録された指紋
と指紋撮像部1で撮像した指紋とを照合するものであ
る。
によって撮像面に押捺している状態の指紋を撮像し、画
像処理部2は、指紋画像の二値化を行って細線化処理を
行い、特徴点検出部3は、分岐点や端点等の正規特徴点
と、疑似分岐点,疑似端点等の疑似特徴点とを検出す
る。平均疑似特徴点数算出部4は、正規特徴点をほぼ中
心とした登録窓内の疑似特徴点を計数し、全登録窓につ
いての疑似特徴点数を加算して、登録窓数で除算するこ
とにより、登録窓の平均疑似特徴点数を求める。判定処
理部5は、平均疑似特徴点数が閾値以下の場合は、指紋
画像の画質が良好と判定し、登録部6にその指紋登録の
処理を行う。又表示部7に、平均疑似特徴点数又はそれ
に関連する情報を表示し、指紋画像の画質を数値で表示
することができる。又照合処理部8は、登録された指紋
と指紋撮像部1で撮像した指紋とを照合するものであ
る。
【0017】(5)又判定処理部5は、指紋画像の画質
が不良で、平均疑似特徴点数が閾値を超えた時に、表示
部7に別指登録指示を表示する。それに従って別の指の
登録操作を行い、これを全指について行った時に、総て
平均疑似特徴点数が閾値を超えた場合、登録不可とする
か、又は全指についての平均疑似特徴点数が最小の指の
指紋画像が最良であると判定して、その指を最良指とし
て選択し、この最良指の指紋を登録部6に登録すること
ができる。
が不良で、平均疑似特徴点数が閾値を超えた時に、表示
部7に別指登録指示を表示する。それに従って別の指の
登録操作を行い、これを全指について行った時に、総て
平均疑似特徴点数が閾値を超えた場合、登録不可とする
か、又は全指についての平均疑似特徴点数が最小の指の
指紋画像が最良であると判定して、その指を最良指とし
て選択し、この最良指の指紋を登録部6に登録すること
ができる。
【0018】
【実施例】図1は本発明の実施例の指紋照合装置の説明
図であり、1は指紋撮像部、2は画像処理部、3は特徴
点検出部、4は平均疑似特徴点数算出部、5は判定処理
部、6は登録部、7は表示部、8は照合処理部、9は多
値画像取込部、10は二値画像変換部、11は細線化部
である。指紋撮像部1は、既に知られいてる各種の構成
を適用できるものであり、通常は、指紋押捺面を光源に
よって照明し、押捺した指の表面の反射光をCCDカメ
ラ等によって撮像する構成を備えている。
図であり、1は指紋撮像部、2は画像処理部、3は特徴
点検出部、4は平均疑似特徴点数算出部、5は判定処理
部、6は登録部、7は表示部、8は照合処理部、9は多
値画像取込部、10は二値画像変換部、11は細線化部
である。指紋撮像部1は、既に知られいてる各種の構成
を適用できるものであり、通常は、指紋押捺面を光源に
よって照明し、押捺した指の表面の反射光をCCDカメ
ラ等によって撮像する構成を備えている。
【0019】又画像処理部2は、指紋撮像部1からの指
紋画像を多値画像取込部9により多値レベルにディジタ
ル化し、二値画像変換部10により二値化する。そし
て、二値化された指紋画像を細線化部11により細線化
する。例えば、二値画像を、3×3画素のマスクを用い
て、中心の注目画素に対する隣接画素について連続か否
かの判定処理によって、図6,図7,図8の(B)に示
すように、指紋の隆線を1画素程度の線に変換する。
紋画像を多値画像取込部9により多値レベルにディジタ
ル化し、二値画像変換部10により二値化する。そし
て、二値化された指紋画像を細線化部11により細線化
する。例えば、二値画像を、3×3画素のマスクを用い
て、中心の注目画素に対する隣接画素について連続か否
かの判定処理によって、図6,図7,図8の(B)に示
すように、指紋の隆線を1画素程度の線に変換する。
【0020】又特徴点検出部3は、細線化された指紋画
像について、所定の画素数がそれぞれ連続する分岐点、
又は所定の画素数の間隔がある端点を正規特徴点として
検出し、その条件以外の分岐点や端点を疑似特徴点とし
て検出する。この場合の処理も、例えば、前述の3×3
画素のマスクを用いて、中心の注目画素に対する隣接画
素について連続か分岐かの判定処理によって、それぞれ
の特徴点を検出することができる。
像について、所定の画素数がそれぞれ連続する分岐点、
又は所定の画素数の間隔がある端点を正規特徴点として
検出し、その条件以外の分岐点や端点を疑似特徴点とし
て検出する。この場合の処理も、例えば、前述の3×3
画素のマスクを用いて、中心の注目画素に対する隣接画
素について連続か分岐かの判定処理によって、それぞれ
の特徴点を検出することができる。
【0021】又平均疑似特徴点数算出部4は、特徴点検
出部3による正規特徴点をほぼ中心とした登録窓、例え
ば、図6の(B)の細線化画像の中の四角形に示す登録
窓について、疑似特徴点、例えば、図6の(C)のP1
〜P4に示す疑似特徴点を計数し、全登録窓についての
疑似特徴点数を加算し、登録窓数によって除算すること
により、登録窓の平均疑似特徴点数を求める。
出部3による正規特徴点をほぼ中心とした登録窓、例え
ば、図6の(B)の細線化画像の中の四角形に示す登録
窓について、疑似特徴点、例えば、図6の(C)のP1
〜P4に示す疑似特徴点を計数し、全登録窓についての
疑似特徴点数を加算し、登録窓数によって除算すること
により、登録窓の平均疑似特徴点数を求める。
【0022】判定処理部5は、平均疑似特徴点数が閾
値、例えば、5以下ならば指紋画像が良好と判定する。
例えば、図6の(C)の登録窓内の疑似特徴点数は4で
あり、平均疑似特徴点数も4であるとすると、閾値以下
となるから、この場合の図6の(A)の指紋画像は画質
が良好と判定し、登録部6にその指紋を登録する。この
場合の登録は、正規特徴点を含む登録窓の座標情報と、
登録窓内の2値画像が登録される。又登録部6は、半導
体集積回路メモリや磁気ディスク装置等の各種の記憶装
置を適用することができる。
値、例えば、5以下ならば指紋画像が良好と判定する。
例えば、図6の(C)の登録窓内の疑似特徴点数は4で
あり、平均疑似特徴点数も4であるとすると、閾値以下
となるから、この場合の図6の(A)の指紋画像は画質
が良好と判定し、登録部6にその指紋を登録する。この
場合の登録は、正規特徴点を含む登録窓の座標情報と、
登録窓内の2値画像が登録される。又登録部6は、半導
体集積回路メモリや磁気ディスク装置等の各種の記憶装
置を適用することができる。
【0023】又表示部7は、液晶表示装置や陰極線管表
示装置等により構成することが可能であり、前述の平均
疑似特徴点数を表示するか、或いは平均疑似特徴点数が
多い程、指紋画像の画質が悪いことを示すから、画質を
表す数値に変換して表示することができる。登録可能か
否かの情報を含めて表示することができる。又判定処理
部5に於いて、平均疑似特徴点数が閾値を超えた場合、
他の指による登録を行うように表示することができる。
又最良指の指紋を登録する場合は、その最良指を登録指
として表示することができる。
示装置等により構成することが可能であり、前述の平均
疑似特徴点数を表示するか、或いは平均疑似特徴点数が
多い程、指紋画像の画質が悪いことを示すから、画質を
表す数値に変換して表示することができる。登録可能か
否かの情報を含めて表示することができる。又判定処理
部5に於いて、平均疑似特徴点数が閾値を超えた場合、
他の指による登録を行うように表示することができる。
又最良指の指紋を登録する場合は、その最良指を登録指
として表示することができる。
【0024】又照合処理部8は、登録部6に指紋を登録
した後、指紋撮像部1によって撮像した指紋と登録され
た指紋とを照合し、照合一致の場合に、本人確認と判定
する処理を行うものであり、各種のセキュリティ装置に
適用することができる。なお、前述の各部の機能は、各
部の個別の構成によって実現するか、又はメモリやプロ
セッサの演算処理機能によって実現することができる。
した後、指紋撮像部1によって撮像した指紋と登録され
た指紋とを照合し、照合一致の場合に、本人確認と判定
する処理を行うものであり、各種のセキュリティ装置に
適用することができる。なお、前述の各部の機能は、各
部の個別の構成によって実現するか、又はメモリやプロ
セッサの演算処理機能によって実現することができる。
【0025】図2は本発明の実施例の指紋登録処理のフ
ローチャートであり、nは登録操作の指の本数を示し、
例えば、1本目は0,2本目は1,3本目は2となる。
又m〔 〕は平均疑似特徴点数を記憶するメモリのアド
レスであり、例えば、1本目の指の平均疑似特徴点数を
記憶するアドレスをm
ローチャートであり、nは登録操作の指の本数を示し、
例えば、1本目は0,2本目は1,3本目は2となる。
又m〔 〕は平均疑似特徴点数を記憶するメモリのアド
レスであり、例えば、1本目の指の平均疑似特徴点数を
記憶するアドレスをm
〔0〕とし、2本目の指の平均疑
似特徴点数を記憶するアドレスをm〔1〕とする。
似特徴点数を記憶するアドレスをm〔1〕とする。
【0026】先ず、n=0とし(A1)、指紋押捺か否
かを判定し(A2)、押捺ありの場合は、平均疑似特徴
点数算出部4(図1参照)により登録窓内の平均疑似特
徴点数を算出する(A3)。この平均疑似特徴点数をメ
モリのアドレスm
かを判定し(A2)、押捺ありの場合は、平均疑似特徴
点数算出部4(図1参照)により登録窓内の平均疑似特
徴点数を算出する(A3)。この平均疑似特徴点数をメ
モリのアドレスm
〔0〕に格納する。そして、判定処理
部5に於いて、平均疑似特徴点数が閾値以下であるか否
かを判定する(A5)。平均疑似特徴点数が閾値以下の
場合は、指紋画像が良好と判定して、本登録を行う(A
7)。或いは、本登録前に、仮登録と、照合処理(A1
5)とを行って、照合一致の場合に本登録とすることが
できる。
部5に於いて、平均疑似特徴点数が閾値以下であるか否
かを判定する(A5)。平均疑似特徴点数が閾値以下の
場合は、指紋画像が良好と判定して、本登録を行う(A
7)。或いは、本登録前に、仮登録と、照合処理(A1
5)とを行って、照合一致の場合に本登録とすることが
できる。
【0027】又平均疑似特徴点数が閾値を超えた場合、
平均疑似特徴点数を表示部7に表示する(A8)。この
場合、前述のように、平均疑似特徴点数をそのまま数値
として表示するか、又画質を示すパーセンテージ等によ
って表示することができる。又その表示に伴って、別指
登録指示が行われたか否かを判定し(A9)、別指登録
指示が行われた場合は、登録操作の指の本数nを+1と
して格納し、ステップ(A2)に移行する。
平均疑似特徴点数を表示部7に表示する(A8)。この
場合、前述のように、平均疑似特徴点数をそのまま数値
として表示するか、又画質を示すパーセンテージ等によ
って表示することができる。又その表示に伴って、別指
登録指示が行われたか否かを判定し(A9)、別指登録
指示が行われた場合は、登録操作の指の本数nを+1と
して格納し、ステップ(A2)に移行する。
【0028】又全指についての登録の繰り返しが終わっ
た場合等に於いて、別指登録指示がないことになるか
ら、その場合は、最良指登録指示の有無を判定し(A1
0)、最良指登録指示があれば、最良指選択処理を行う
(A11)。この最良指選択処理によって選択された最
良指の指紋が登録される。
た場合等に於いて、別指登録指示がないことになるか
ら、その場合は、最良指登録指示の有無を判定し(A1
0)、最良指登録指示があれば、最良指選択処理を行う
(A11)。この最良指選択処理によって選択された最
良指の指紋が登録される。
【0029】又最良指登録指示がない場合は、強制登録
指示の有無を判定する(A12)。即ち、全指の指紋に
ついての平均疑似特徴点数が閾値を超えている場合に、
希望する指を指定して強制登録指示を行うことができ、
その場合は、指定された指の指紋を登録する。この場
合、従来例と同様に、仮登録と、指紋押捺による照合と
を行い、仮登録指紋と押捺指紋との照合一致の場合に本
登録(A7)に移行し、照合不一致の場合は登録を拒否
することができる。又強制登録指示がなければ、強制終
了指示の有無を判定し(A13)、指示があれば強制終
了とし、強制終了指示がなければステップ(A9)に移
行する。
指示の有無を判定する(A12)。即ち、全指の指紋に
ついての平均疑似特徴点数が閾値を超えている場合に、
希望する指を指定して強制登録指示を行うことができ、
その場合は、指定された指の指紋を登録する。この場
合、従来例と同様に、仮登録と、指紋押捺による照合と
を行い、仮登録指紋と押捺指紋との照合一致の場合に本
登録(A7)に移行し、照合不一致の場合は登録を拒否
することができる。又強制登録指示がなければ、強制終
了指示の有無を判定し(A13)、指示があれば強制終
了とし、強制終了指示がなければステップ(A9)に移
行する。
【0030】図3は本発明の実施例の登録窓内平均疑似
特徴点数算出のフローチャートであり、指紋撮像部1か
らの画像信号を、画像処理部2の多値画像取込部9によ
り多値ディジタル信号に変換して取込み(B1)、二値
画像変換部10により二値画像変換し(B2)、細線化
部11により前述のようにマスク処理等によって細線化
処理を行い(B3)、特徴点検出部3に於いて、細線化
画像を基に、特徴点抽出(B4),疑似特徴点検出(B
5),登録用正規特徴点抽出(B6)等の処理を行う。
特徴点数算出のフローチャートであり、指紋撮像部1か
らの画像信号を、画像処理部2の多値画像取込部9によ
り多値ディジタル信号に変換して取込み(B1)、二値
画像変換部10により二値画像変換し(B2)、細線化
部11により前述のようにマスク処理等によって細線化
処理を行い(B3)、特徴点検出部3に於いて、細線化
画像を基に、特徴点抽出(B4),疑似特徴点検出(B
5),登録用正規特徴点抽出(B6)等の処理を行う。
【0031】次に、平均疑似特徴点数算出部4に於い
て、正規特徴点をほぼ中心とした登録窓内の疑似特徴点
数を計数し(B7)、全登録窓内の疑似特徴点数の合計
を求め(B8)、登録窓数で除算して平均疑似特徴点数
を算出する(B9)。このような演算処理は、既に知ら
れている加算とシフトとの演算の組合せによって高速で
実行することが可能である。
て、正規特徴点をほぼ中心とした登録窓内の疑似特徴点
数を計数し(B7)、全登録窓内の疑似特徴点数の合計
を求め(B8)、登録窓数で除算して平均疑似特徴点数
を算出する(B9)。このような演算処理は、既に知ら
れている加算とシフトとの演算の組合せによって高速で
実行することが可能である。
【0032】図4は本発明の実施例の最良指選択処理の
フローチャートであり、図2のステップ(A11)の詳
細を示すものである。又nt は最良指を選択する時に用
いるカウンタの内容、mt は平均疑似特徴点数を示す。
登録窓内の平均疑似特徴点数が閾値を超え、且つ別指登
録指示がない場合に於いて、nt =0(C1)とし、そ
れによって、mt =m
フローチャートであり、図2のステップ(A11)の詳
細を示すものである。又nt は最良指を選択する時に用
いるカウンタの内容、mt は平均疑似特徴点数を示す。
登録窓内の平均疑似特徴点数が閾値を超え、且つ別指登
録指示がない場合に於いて、nt =0(C1)とし、そ
れによって、mt =m
〔0〕として(C2)、1本目の
指の平均疑似特徴点数mt を読出し、mt >m〔nt 〕
か否かを判定する(C3)。
指の平均疑似特徴点数mt を読出し、mt >m〔nt 〕
か否かを判定する(C3)。
【0033】そして、mt >m〔nt 〕の場合は、mt
←m〔nt 〕とし(C4)、nt =nか否かを判定する
(C5)。又mt >m〔nt 〕でない場合もnt =nか
否かを判定する。そして、nt =nの場合は、nt で示
される指を最良指として登録処理を行う(C7)。又n
t ≠nの場合は、nt をカウントアップし(C6)、ス
テップ(C3)に移行する。それによって、全指につい
ての平均疑似特徴点数の最小の指を、指紋画像としては
満足すべきものではないが、一応の最良指として選択
し、その最良指の指紋を登録する。この場合、最良指に
ついて表示部7に指名や指番号を表示し、指紋登録操作
者に通知することができる。それにより、指紋照合を行
う場合に、選択された最良指を押捺すれば良いことにな
る。
←m〔nt 〕とし(C4)、nt =nか否かを判定する
(C5)。又mt >m〔nt 〕でない場合もnt =nか
否かを判定する。そして、nt =nの場合は、nt で示
される指を最良指として登録処理を行う(C7)。又n
t ≠nの場合は、nt をカウントアップし(C6)、ス
テップ(C3)に移行する。それによって、全指につい
ての平均疑似特徴点数の最小の指を、指紋画像としては
満足すべきものではないが、一応の最良指として選択
し、その最良指の指紋を登録する。この場合、最良指に
ついて表示部7に指名や指番号を表示し、指紋登録操作
者に通知することができる。それにより、指紋照合を行
う場合に、選択された最良指を押捺すれば良いことにな
る。
【0034】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は、指紋登
録時に、登録窓内の平均疑似特徴点数を求め、指紋画像
の画質が良好な場合は、平均疑似特徴点数が少なく、画
質が不良な場合は多くなるから、指紋画像の良否を数値
で表現することが可能となり、これに基づいて、閾値以
下ならば登録可能の指紋画像と判定することができ、日
時の経過によっても、登録指紋と押捺指紋との照合一致
の確率の低下が発生しない利点がある。
録時に、登録窓内の平均疑似特徴点数を求め、指紋画像
の画質が良好な場合は、平均疑似特徴点数が少なく、画
質が不良な場合は多くなるから、指紋画像の良否を数値
で表現することが可能となり、これに基づいて、閾値以
下ならば登録可能の指紋画像と判定することができ、日
時の経過によっても、登録指紋と押捺指紋との照合一致
の確率の低下が発生しない利点がある。
【0035】又複数の指についての登録操作を行った場
合に総て平均疑似特徴点数が閾値を超えるような指紋画
像が不良な場合でも、平均疑似特徴点数の最小の指を最
良指として選択し、この最良指の指紋を登録することが
できるから、ひび割れやしわ等が多い指紋について、そ
の中の最良の指を自動的に選択することにより、指紋照
合の適用範囲の拡大と正確さとを図ることができる利点
がある。
合に総て平均疑似特徴点数が閾値を超えるような指紋画
像が不良な場合でも、平均疑似特徴点数の最小の指を最
良指として選択し、この最良指の指紋を登録することが
できるから、ひび割れやしわ等が多い指紋について、そ
の中の最良の指を自動的に選択することにより、指紋照
合の適用範囲の拡大と正確さとを図ることができる利点
がある。
【図1】本発明の実施例の指紋照合装置の説明図であ
る。
る。
【図2】本発明の実施例の指紋登録処理のフローチャー
トである。
トである。
【図3】本発明の実施例の登録窓内の平均疑似特徴点数
算出のフローチャートである。
算出のフローチャートである。
【図4】本発明の実施例の最良指選択処理のフローチャ
ートである。
ートである。
【図5】従来例の指紋登録のフローチャートである。
【図6】正規特徴点と疑似特徴点との説明図である。
【図7】指紋画像と細線化画像との説明図である。
【図8】指紋画像と細線化画像との説明図である。
1 指紋撮像部 2 画像処理部 3 特徴点検出部 4 平均疑似特徴点数算出部 5 判定処理部 6 登録部 7 表示部 8 照合処理部 9 多値画像取込部 10 二値画像変換部 11 細線化部
Claims (5)
- 【請求項1】 指紋撮像部により撮像した指紋の正規特
徴点及び疑似特徴点を検出し、前記正規特徴点をほぼ中
心とした登録窓内の前記疑似特徴点を計数し、全登録窓
内の疑似特徴点数の合計から登録窓内の平均疑似特徴点
数を求め、該平均疑似特徴点数が閾値以下の時に、前記
指紋の登録処理を行うことを特徴とする指紋登録方法。 - 【請求項2】 前記登録窓内の平均疑似特徴点数が閾値
を超えた時に、別指登録指示を行い、前記登録窓内の平
均疑似特徴点数が閾値以下の指紋が得られるまで、順次
指を変更して登録処理を行うことを特徴とする請求項1
記載の指紋登録方法。 - 【請求項3】 前記登録窓内の平均疑似特徴点数が閾値
を超えた時に、別指登録指示を行い、各指の指紋につい
て、前記登録窓内の平均疑似特徴点数が最小の指を最良
指として選択し、該最良指の指紋の登録処理を行うこと
を特徴とする請求項1記載の指紋登録方法。 - 【請求項4】 指紋撮像部と、 該指紋撮像部による撮像画像の細線化処理を行う画像処
理部と、 該画像処理部からの細線化された画像から正規特徴点及
び疑似特徴点を検出する特徴点検出部と、 前記正規特徴点をほぼ中心とした登録窓内の前記疑似特
徴点を計数して、全登録窓についての平均疑似特徴点数
を算出する平均疑似特徴点数算出部と、 指紋を登録する登録部と、 前記平均疑似特徴点数算出部からの前記平均疑似特徴点
数と閾値とを比較し、前記平均疑似特徴点数が前記閾値
以下の時に前記登録部に指紋登録を行う判定処理部と、 前記平均特徴点算出部からの前記平均疑似特徴点数又は
該平均疑似特徴点数に対応した情報を表示する表示部
と、 前記登録部に登録された指紋と前記指紋撮像部により撮
像された指紋とを照合する照合処理部とを備えたことを
特徴とする指紋照合装置。 - 【請求項5】 前記判定処理部は、前記平均疑似特徴点
数が前記閾値を超えた時に、前記表示部に別指登録指示
の表示を行い、全指についての平均疑似特徴点数が前記
閾値を超えた時に、前記平均疑似特徴点数の最小の指を
最良指として選択し、該最良指の指紋を前記登録部に登
録する構成を備えたことを特徴とする請求項4記載の指
紋照合装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7061340A JP2990491B2 (ja) | 1995-03-20 | 1995-03-20 | 指紋登録方法及び指紋照合装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7061340A JP2990491B2 (ja) | 1995-03-20 | 1995-03-20 | 指紋登録方法及び指紋照合装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH08263658A JPH08263658A (ja) | 1996-10-11 |
JP2990491B2 true JP2990491B2 (ja) | 1999-12-13 |
Family
ID=13168311
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7061340A Expired - Fee Related JP2990491B2 (ja) | 1995-03-20 | 1995-03-20 | 指紋登録方法及び指紋照合装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2990491B2 (ja) |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7079672B2 (en) | 2000-01-28 | 2006-07-18 | Chuo Hatsujo Kabushiki Kaisha | Fingerprint image evaluating method and fingerprint matching device |
JP2002297550A (ja) * | 2001-03-30 | 2002-10-11 | Mitsubishi Electric Corp | 個人識別支援システム |
EP1603077B1 (en) | 2003-03-07 | 2010-06-02 | Nippon Telegraph and Telephone Corporation | Biological image correlation device and correlation method thereof |
WO2006078054A1 (ja) | 2005-01-19 | 2006-07-27 | Nec Corporation | パターン情報登録装置、パターン情報登録方法、パターン情報登録プログラム及びパターン照合システム |
JP4952026B2 (ja) * | 2006-03-31 | 2012-06-13 | 株式会社日立製作所 | 生体情報認証装置および認証方法 |
JP4757173B2 (ja) * | 2006-11-17 | 2011-08-24 | キヤノン株式会社 | 撮像装置及びその制御方法及びプログラム |
KR100985775B1 (ko) * | 2008-10-14 | 2010-10-06 | (주) 위트젠 | 지문의 변형을 탐지하여 인증 대상자의 변형된 지문을 자동으로 등록하는 방법 및 시스템 |
JP5809792B2 (ja) * | 2010-11-04 | 2015-11-11 | 株式会社日立製作所 | 生体認証装置および方法 |
US9600709B2 (en) | 2012-03-28 | 2017-03-21 | Synaptics Incorporated | Methods and systems for enrolling biometric data |
CN103389042A (zh) * | 2013-07-11 | 2013-11-13 | 夏东 | 基于深度图像的地面自动检测以及场景高度计算的方法 |
-
1995
- 1995-03-20 JP JP7061340A patent/JP2990491B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Publication date |
---|---|
JPH08263658A (ja) | 1996-10-11 |
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