JP2983460B2 - 電源供給感知回路 - Google Patents

電源供給感知回路

Info

Publication number
JP2983460B2
JP2983460B2 JP7333838A JP33383895A JP2983460B2 JP 2983460 B2 JP2983460 B2 JP 2983460B2 JP 7333838 A JP7333838 A JP 7333838A JP 33383895 A JP33383895 A JP 33383895A JP 2983460 B2 JP2983460 B2 JP 2983460B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
terminal
power supply
differential amplifier
external voltage
voltage
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP7333838A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0933576A (ja
Inventor
煕▲福▼ 姜
賢庭 金
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
ERU JII SEMIKON CO Ltd
Original Assignee
ERU JII SEMIKON CO Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by ERU JII SEMIKON CO Ltd filed Critical ERU JII SEMIKON CO Ltd
Publication of JPH0933576A publication Critical patent/JPH0933576A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2983460B2 publication Critical patent/JP2983460B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K19/00Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/22Modifications for ensuring a predetermined initial state when the supply voltage has been applied
    • H03K17/223Modifications for ensuring a predetermined initial state when the supply voltage has been applied in field-effect transistor switches
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Computing Systems (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
  • Control Of Voltage And Current In General (AREA)
  • Dram (AREA)
  • Amplifiers (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】夲発明は、電源供給感知回路(P
ower−up TransitionDetecti
on Circuit)に係るもので、詳しくは、印加
する電圧が多様な形態の上昇スロープ(Ramping
Slope)を有していても、電源の供給を正確に感
知し得る電源供給感知回路に関するものである。
【0002】
【従来の技術】一般に、各種の集積回路に電源が印加す
ると、ロジックフリップフロップ又はレジスターのよう
な記憶素子(storage Element)は、電
源の供給を感知した後、所定状態に初期化される過程を
経る。該初期化される過程を経る理由は供給されたパワ
ーが安定状態に至る間に、若し外部から予期しない不要
な動作が発生する場合、不利な動作発生から防止するた
めである。このような初期化の過程は、電源供給感知回
路に電源が印加され、電源供給感知パルス(PTD P
ulse;Power−up Transition
Detection Pulse)が発生して、該電源
供給感知パルスが各記憶素子に供給されることにより行
われる。
【0003】そして、このような従来電源供給感知回路
においては、図4に示したように、ゲート端子が接地さ
れソース端子に印加した外部電圧Vddがドレイン端子
に伝達されるPMOSトランジスター1と、該PMOS
トランジスター1のドレイン端子にソース端子が連結さ
れゲート端子及びドレイン端子が相互接続してノードN
D1に連結されるPMOSトランジスター2と、ソース
端子及びドレイン端子が外部電圧と前記ノードND1間
に連結されゲート端子にはインバーター7の出力信号が
フィードバックして印加されるPMOSトランジスター
3と、前記ノードND1にゲート端子が連結されドレイ
ン端子及びソース端子が接地されるNMOSキャパシタ
ー4と、前記ノードND1の出力信号を順次反転する各
インバーター5、6、7と、前記各PMOSトランジス
ター1、2の各ドレイン端子及びソース端子に連結され
るPMOSキャパシター8と、前記インバーター5の出
力端子のノードND2にゲート端子が連結されドレイン
端子及びソース端子が外部電圧に連結されるPMOSキ
ャパシター9と、前記インバーター7の出力信号により
電源供給感知パルスを発生するパルス発生部10と、を
備えていた。
【0004】又、このように構成された従来電源供給感
知回路の作用を説明すると次のようであった。先ず回路
に外部電圧が印加すると、該電圧は夫々ターンオンされ
たPMOSトランジスター1、2を通ってノードND1
に伝達され、該ノードND1の電圧はNMOSキャパシ
ター4を通って所定時間(R−C遅延時間)遅延された
後、インバーター5に伝達される。従って、前記ノード
ND1の出力信号は、印加された外部電圧が所定時間遅
延された形態に表れ、初期にロー状態であったノードN
D1の電圧はハイ状態に遷移され、該ハイ状態の電圧は
各インバーター5、6、7に印加し、順次反転される。
一方、PMOSトランジスター3は、前記ノードND1
がロー状態の場合、前記インバーター7からハイ状態の
出力信号が印加してターンオフされるが、前記ノードN
D1がハイ状態に遷移されると、前記インバーター7か
らロー状態の出力信号が印加してターンオンされ、前記
ノードND1の状態をハイ状態に維持させる。即ち、該
PMOSトランジスター3は、動作初期に前記ノードN
D1をロー状態に維持させ、R−C遅延後には該ノード
ND1をハイ状態に維持させる。且つ、PMOSトラン
ジスター1からPMOSトランジスター2に流れる電流
の量はPMOSキャパシター8により調整され、前記ノ
ードND1がロー状態の場合、PMOSキャパシター9
によりノードND2はハイ状態になるので、前記インバ
ーター7の出力信号がハイ状態になり、前記PMOSト
ランジスター3はターンオフされる。又、インバーター
7の出力信号がハイ状態からロー状態に遷移されると、
パルス発生部10からは電源供給感知パルスが発生され
る。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】然るに、このように構
成された従来電源供給感知回路においては、印加する外
部電圧の上昇が緩慢(Slow Ramping)なと
き及び急激(FastRamping)なときに、電圧
の上昇スロープ(Ramping Slope)の変化
によりノードND1に表れる電圧の遅延時間の変化幅が
大きくなるので、電源の供給を正確に感知することが難
しくなるという不都合な点があった。且つ、電源の供給
が急に中断された後、直ちに再供給される場合も電源の
供給を正確に感知することが難しくなるという不都合な
点があった。
【0006】それで、このような問題点を解決するた
め、夲発明者達は研究を重ねた結果、次のような電源供
給感知回路を提供しようとするものである。
【0007】
【課題を解決するための手段】夲発明の目的は、印加す
る電圧の上昇スロープが多様な形態の場合においても、
電源の供給を正確に感知し得る電源供給感知回路を提供
しようとするものである。
【0008】又、夲発明の他の目的は、電源の供給が供
給中一時中断された後、直ちに再供給されても、該電源
の供給を正確に感知し得る電源供給感知回路を提供しよ
うとするものである。
【0009】そして、このような本発明の目的は、印加
する外部電圧をノードに伝達するPMOSトランジスタ
と、このノードの出力信号を受けるインバータと、
インバータの出力信号に従って電源供給感知信号の電
源供給感知パルスを発生するパルス発生部とを備え
源供給感知回路において、入力する外部電圧を所定時間
遅延させる遅延部と、一方側入力端子と他方側入力端子
とを有し、該遅延部で遅延されて該一方側入力端子に印
される外部電圧と遅延されずに直接他方側入力端子
に印加される外部電圧のレベルを比較し、該比較結果を
ノードに連結される出力端子に出力する差動増幅器と、
該差動増幅器の出力信号と外部電圧とに従って、外部電
圧が印加された初期においては差動増幅器をイネーブル
させ、かつ差動増幅器の出力信号が遅延部からの遅延さ
れた外部電圧が安定状態になったことを示すときには差
動増幅器をディスエーブルさせる差動増幅器制御手段
備え電源供給感知回路を提供することにより達成さ
れる。
【0010】
【作用】外部電圧が電源供給感知回路に印加する場合、
直接印加する外部電圧と、所定時間遅延されて入力する
外部電圧とのレベルが比較され、該外部電圧の状態に従
い差動増幅器がイネーブル又はディスエーブルされ、外
部電圧の上昇スロープの状態に関係なく、電源の供給が
正確に感知される。
【0011】
【実施例】以下夲発明の実施例に対し図面を用いて説明
する。図1に示したように、夲発明に係る電源供給感知
回路の第1実施例においては、遅延せずに入力する外部
電圧Vddと所定時間遅延されて入力する外部電圧のレ
ベルとを比較しその結果を出力する差動増幅器20と、
該差動増幅器20により制御され一方側端子に印加する
外部電圧Vddを所定時間遅延させて該差動増幅器20
に出力する遅延部30と、外部電圧Vddがハイ状態か
らロー状態に遷移されるとき該外部電圧Vddの状態に
従うように第1ノードN1を制御するノード制御部40
と、前記第1ノードN1の電圧状態に従い外部電圧及び
差動増幅器20の反転された出力信号により該差動増幅
器20を所定時間イネーブルさせる差動増幅器イネーブ
ル部50と、外部電圧にソース端子が連結されゲート端
子が接地されドレイン端子が第2ノードN2に連結され
て印加する外部電圧を該第2ノードN2に伝達するPM
OSトランジスター61と、第4ノードN4の出力信号
を反転する各インバーター62ー66と、該インバータ
ー66の出力信号により電源供給感知信号の電源供給感
知パルスを発生するパルス発生部70と、を備えてい
る。
【0012】そして、前記差動増幅器20においては、
一般の差動増幅器であって、二つのNMOSトランジス
ター23、24の各ソース端子の接続点と、電流ソース
を形成するNMOSトランジスター26間に、NMOS
トランジスター25が追加連結されている。前記NMO
Sトランジスター25は、ゲート端子が前記NMOSト
ランジスター23のドレイン端子に接続され、外部電圧
の低い場合においても増幅度を良好にさせる役割を行
う。前記NMOSトランジスター26のゲート端子には
第3ノードN3が接続されている。
【0013】且つ、前記遅延部30においては、前記差
動増幅器20の出力信号により制御され一方側端子に印
加する外部電圧を夫々伝達する各PMOSトランジスタ
ー31ー33と、該PMOSトランジスター33の他方
側端子と前記差動増幅器20の一方側入力端子間に連結
され前記各PMOSトランジスター31ー33から伝達
された外部電圧を充電させ印加した外部電圧を所定時間
遅延させて前記差動増幅器20に出力する各NMOSキ
ャパシター34、35と、を備えている。又、前記ノー
ド制御部40においては、前記各PMOSトランジスタ
ー31ー33と並列に連結されるNMOSトランジスタ
ー42と、該NMOSトランジスター42のゲート及び
ドレイン端子に接続された抵抗41と、を備え、ゲート
及びソース端子は前記第1ノードN1に接続されてい
る。
【0014】更に、前記差動増幅器イネーブル部50に
おいては、前記第2ノードN2に表れる信号を反転する
インバーター51と、前記第1ノードN1の状態に従い
前記第4ノードN4に表れる信号を伝達するNMOSト
ランジスター52と、第3ノードN3にゲート端子が連
結されドレイン端子及びソース端子が共通接続されて外
部電圧の印加されるPMOSキャパシター53と、を備
え、前記第3ノードN3の出力信号が前記差動増幅器2
0のNMOSトランジスター26に印加すると該差動増
幅器20はイネーブル/ディスエーブルされるようにな
っている。このようにそれらノード制御部40及び差動
増幅器イネーブル部50は前記差動増幅器20を制御す
る差動増幅器制御手段として動作される。且つ、前記パ
ルス発生部70においては、前記インバーター66の出
力信号を反転して出力する各インバーター71ー75と
それらインバーター71ー75から反転されて出力する
信号を否定論理積するNANDゲート76と、該NAN
Dゲート76の出力信号を反転して出力するインバータ
ー77と、を備えている。
【0015】このように構成された本発明に係る電源供
給感知回路の第1の実施例の作用を説明すると次のよう
である。まず、回路に外部電圧Vddが印加すると、初
期にはNMOSキャパシタ34、35により第1ノード
N1がロー状態に維持され、該第1ノードN1のロー状
態によりNMOSトランジスタ52はターンオフされ
る。また、外部電圧は、そのゲート電極が接地されてタ
ーンオン状態のPMOSトランジスタ61を通って第2
ノードN2に印加されるので、該第2のノードN2はハ
イ状態に転換される。次いで、該第2ノードN2のハイ
状態の電圧はインバータ51でロー状態に反転され、第
1ノードN4にロー状態として現れるが、該ロー状態は
前記ターンオフされたNMOSトランジスタ52により
第3ノードN3に伝達されなくなるため、該第3ノード
N3は、電気的にフローティング状態とされ、PMOS
キャパシタ53のキャパシタンスカップリング作用によ
り該第3ノードN3がハイ状態に上昇される。
【0016】その後、該第3ノードN3のハイ状態によ
りNMOSトランジスタ26がオンされ、差動増幅器2
0の動作が開始される。該差動増幅器20に入力する電
圧としては、NMOSトランジスタ24のゲート端子に
直接印加する外部電圧と、所定時間遅延されてNMOS
トランジスタ23のゲート端子に印加する電圧とがあ
る。該NMOSトランジスタ23のゲート端子に印加す
る電圧としては、外部電圧が各PMOSトランジスタ3
1−33と各NMOSキャパシタ34、35とにより所
定時間(R−C遅延時間)遅延して入力される。すなわ
ち、外部電圧が印加した後、前記差動増輻器20が動作
を開始する以前までは、ターンオンされたPMOSトラ
ンジスタ61により第2ノードN2はハイ状態を維持
し、該第2ノードN2のハイ状態により各PMOSトラ
ンジスタ31−33はすべてターンオフされる。次い
で、第3ノードN3がハイ状態に駆動され、差動増幅器
20か動作すると、該差動増幅器20には電流が各トラ
ンジスタ22、24、25、26を通って流れるので、
前記第2ノードN2に現れる差動増幅器20の出力信号
はロー状態になる。該第2ノードN2は、ゲート端子が
接地されて常時ターンオン状態のPMOSトランジスタ
61により入力する外部電圧がハイ状態に維持しようと
するが、該PMOSトランジスタ61の大きなチャネル
抵抗値により前記第2ノードN2はロー状態に遷移され
る。
【0017】次いで、該第2ノードN2のロー状態の遷
移により前記各PMOSトランジスター31ー33は全
てターンオンされ、それらターンオンされた各PMOS
トランジスター31ー33と各NMOSキャパシター3
4、35とを外部電圧が順次経てR−C遅延時間だけ遅
延され、該遅延された電圧はNMOSトランジスター2
3のゲート端子に印加される。その後、該NMOSトラ
ンジスター23に印加した電圧は時間が経過するにつれ
て最大レベル(Full Vcc)に上昇され、前記差
動増幅器20に印加した二つの電圧レベルが殆ど同様に
なると、該差動増幅器20の出力端子の第2ノードN2
は再びハイ状態に遷移される。次いで、該第2ノードN
2のハイ状態の電圧がインバーター51のしきい値電圧
を越えると、第4ノードN4の電圧はハイ状態からロー
状態に遷移され、オン状態のNMOSトランジスター5
2を通って第3ノードN3に印加され、差動増幅器20
がディスエーブルして動作が停止される。
【0018】従って、差動増幅器20を通る電流は存在
しなくなるので、前記第2ノードN2は恒常ターンオン
を維持するPMOSトランジスター61により損失なし
に継続ハイ状態を維持し、該第2ノードN2からハイ状
態の遷移信号が発生すると、該遷移信号は各インバータ
ー62ー66を通ってパルス発生部70に印加され、電
源供給感知パルスが発生される。即ち、第2ノードN2
がハイ状態になると電源供給感知パルスが発生され、各
PMOSトランジスター31ー33は全てターンオフさ
れる。
【0019】一方、外部電圧が0VからVddへ上昇す
るとき、ノード制御部40においては、抵抗41の抵抗
値が極めて大きな値(約5TΩ)に設定されており、N
MOSトランジスタ42もゲートおよびソース端子
通接続されてターンオフされるので、該抵抗41の一端
の外部電圧は第1ノードN1に伝達される。しかし、外
部電圧がVddから0Vに降下する場合は、NMOSト
ランジスタ42は、電圧レベルの高い端子がドレイン端
子であり、かつ低い方の端子がソース端子となるため、
前記NMOSトランジスタ42のドレインおよびソース
端子は相互交換され、それらドレインおよびソース端子
が相互交換されるとゲートおよびドレイン端子が共通接
続されるので、NMOSトランジスタ42はターンオン
され、各NMOSキャパシタ34、35の充電電圧が直
ちに放電される。すなわち、該ノード制御部40は、外
部電圧が0VからVddに上昇するときには、単に、抵
抗41の抵抗値と遅延部30のキャパシタの容量値とに
より決定されるRC時定数に従って第1ノードN1の電
圧レベルを緩やかに上昇させるだけであり、NMOSト
ランジスタ42のドレインおよびソース端子はそれぞ
れ、外部電圧を受ける端子および第1ノードN1に接続
される端子に維持されており、何ら外部電圧降下時のよ
うにドレインおよびソース端子を逆転させてはいない。
しかしながら、この外部電圧がVddから0Vに降下す
るときは、このノード制御部40は、第1ノードN1
の電圧レベルを外部電圧の降下と同時に降下させ、もし
ハイ状態の外部電圧が0Vに降下した後再びハイ状態に
上昇する場合、第1ノードN1の状態を外部電圧の変化
に従って変化させる。したがって、第1のノードN1の
状態変化により、NMOSトランジスタ52のスイッチ
ングが制御され、該NMOSトランジスタ52により差
動増幅器20が制御されて、外部電圧と遅延外部電圧が
差動増幅されて外部電圧の遮断時再び差動増幅器20が
増幅動作を行なうことによりパルス発生回路70からパ
ルスが発生されることになり、したがって外部電圧の瞬
間的な遮断を正確に検知することができ、本発明に係る
電源供給感知回路は外部電圧の変化を正確に感知し得る
ようになる。
【0020】そして、夲発明に係る電源供給感知回路の
第2実施例として次のように構成して使用することもで
きる。即ち、図2に示したように、差動増幅器80と、
遅延部90と、差動増幅器イネーブル部100と、PM
OSトランジスター61と、各インバーター62ー66
及びパルス発生部70(図示されず)と、を備え、それ
ら差動増幅器80、PMOSトランジスター61、各イ
ンバーター62ー66及びパルス発生部70は前記第1
実施例とほぼ同様に構成されるが、その他は次のように
構成されている。前記遅延部90においては、一方側端
子に印加する外部電圧をノードN5に伝達する抵抗91
と、該ノードN5にゲート端子が接続されソース端子及
びドレイン端子が接地されるNMOSキャパシター92
と、を備え、所定時間遅延された外部電圧が前記ノード
N5により前記差動増幅器80のNMOSトランジスタ
ー83に印加されるようになっている。
【0021】且つ、前記作動増幅器イネーブル部100
においては、PMOSキャパシター53の一方側端子に
NMOSトランジスター104が接続され、該PMOS
キャパシター53の他方側端子に抵抗105が接続さ
れ、前記NMOSトランジスター104のゲート及びド
レイン端子は共通接続された後前記PMOSキャパシタ
ー53を通って外部電圧に連結され、該NMOSトラン
ジスター104のソース端子はNMOSトランジスター
52のゲート端子に接続されている。前記抵抗105の
一方側端子は前記PMOSキャパシター53を通って外
部電圧に連結され、他方側端子はノードN8に接続され
ている。前記NMOSトランジスター52のゲート端子
は抵抗106及びNMOSトランジスター86のソース
端子を通って接地されている。
【0022】このように構成された夲発明に係る電源供
給感知回路の第2実施例の作用に対し、前記第1実施例
と異なる部分を説明すると次のようである。即ち、NM
OSトランジスター52はNMOSトランジスター10
4により制御され、若し、印加する外部電圧が前記NM
OSトランジスター104のしきい値を越えると、該N
MOSトランジスター104がターンオンされるので、
該ターンオンされたNMOSトランジスター104のソ
ース端子に表れる電圧は前記NMOSトランジスター5
2のゲート端子に印加し、該NMOSトランジスター5
2はターンオンされる。次いで、外部電圧が0Vの場
合、該NMOSトランジスター52のゲート端子は抵抗
106により接地されるため該NMOSトランジスター
52のターンオフ状態が確実に維持される。且つ、動作
の初期に、前記PMOSキャパシター53及び抵抗10
5によりノードN8の状態はハイ状態に遷移される。
【0023】また、本発明に係る電源供給感知回路にお
いては、図3(A)、(B)、(C)にそれぞれ示すよ
うに、5V、3V、2Vの外部電圧がそれぞれ電源供給
感知回路に印加される場合、これらの瞬間的な遮断にお
ける電圧上昇時のスロープは互いに異なる。しかしなが
ら、単に外部電圧とその外部電圧の遅延した電圧の差動
増幅を行ない、外部電圧と遅延外部電圧がほぼ同じ電圧
レベルに到達したときにパワーアップ切換パルスを発生
しているために、この外部電圧のスロープに関係なくパ
ワーアップ切換パルスが正確に発生される。
【0024】
【発明の効果】以上説明したように、本発明に係る電源
供給感知回路においては、差動増幅器に直接印加する電
圧と遅延して入力する電圧との差を利用してこの差動増
幅器のイネーブル/ディスエーブルの制御を行ない、外
部からの電圧と遅延して入力される電圧のレベルがほぼ
一致したときに、パルス信号を生成するように構成して
いるため、電源供給感知回路に印加される外部電圧の上
昇スロープが多様な形態の場合においても、遅延外部電
圧と外部電圧との差に基づいて電源供給が検知されるだ
けであり、このスロープの形態にかかわらず正確に電源
の供給を感知し得るという効果がある。
【0025】又、PMOSトランジスター及びNMOS
キャパシターを用い、入力電圧の遅延時間を調整するよ
うになっているため、電源供給感知パルスの発生時点を
適宜に制御し得るという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】夲発明に係る電源供給感知回路の第1実施例を
示した回路図である。
【図2】夲発明に係る電源供給感知回路の第2実施例を
示した回路図でる。
【図3】(A)−(C)は、電源供給感知回路に印加す
る多様な形態の電圧を示した図である。
【図4】従来電源供給感知回路図である。
【符号の説明】
20、80:差動増幅器 30、90:遅延部 40:ノード制御部 41、105、106:抵抗 42、52、104:NMOSトランジスター 50、100:差動増幅器イネーブル部 53:PMOSキャパシター 61:PMOSトランジスター 70:パルス発生部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G01R 19/165 G05F 1/10 G11C 11/413

Claims (10)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 印加される外部電圧をノードに伝達する
    PMOSトランジスタ−と、前記ノードの出力信号を
    けるインバータと、前記インバータの出力信号に
    って電源供給感知信号の電源供給感知パルスを発生する
    パルス発生部とを備え電源供給感知回路において、 入力する外部電圧を所定時間遅延させる遅延部と、一方側入力端子と他方側入力端子とを有し、 該遅延部で
    遅延されて前記一方側入力端子に印加される外部電圧
    延されずに直接前記他方側入力端子に印加される外部
    圧のレベルを比較し、該比較結果を前記ノードに連結
    される出力端子に出力する差動増幅器と、 該差動増幅器の出力信号と前記外部電圧とに従って、前
    記外部電圧が印加された初期においては前記差動増幅器
    をイネーブルさせ、かつ前記差動増幅器の出力信号が
    記遅延部から遅延された外部電圧が安定状態になった
    ことを示すときには前記差動増幅器をディスエーブルさ
    せる差動増幅器制御手段と、 を備えた電源供給感知回路。
  2. 【請求項2】 前記遅延部は、前記差動増幅器の出力信
    号により制御され、一方側端子に印加する外部電圧を他
    方側端子に伝達するように直列連結された一つ以上のト
    ランジスターと、 該トランジスターの出力端子にゲート端子が連結され、
    ドレイン端子およびソース端子接地され、該トランジ
    スターから印加する電圧を充電するように並列連結され
    た1つ以上のキャパシターと、 を備え、それら1つ以上のトランジスタおよび1つの以
    上のキャパシタの接続点から出力する電圧を前記差動増
    幅器の一方側入力端子に出力する、請求項1記載の電源
    供給感知回路。
  3. 【請求項3】前記一つ以上のトランジスターは、PMO
    Sトランジスターである請求項2記載の電源供給感知回
    路。
  4. 【請求項4】前記一つ以上のトランジスターは、外部電
    圧端子と前記一つ以上のキャパシターとの間に連結され
    た抵抗により交替して使用することもできる請求項2記
    載の電源供給感知回路。
  5. 【請求項5】 前記差動増幅器制御手段は、 外部電圧が印加するとき所定制御信号により制御され、
    記差動増幅器の反転された信号をスイッチングするN
    MOSトランジスター(52)と、 該NMOSトランジスター(52)がターンオフされる
    ときそのゲート端子が電気的にフローティング状態と
    れ、ドレイン端子およびソース端子の接続点に印加する
    外部電圧を充電させ、前記NMOSトランジスター(5
    2)がターンオンされてロー状態の信号が記ゲート端
    子に入力すると、前記差動増幅器をディスエーブルさせ
    る制御信号を出力するPMOSキャパシター(53)
    と、 を備えた請求項1記載の電源供給感知回路。
  6. 【請求項6】 前記所定制御信号は、ドレイン端子に外
    部電圧が印加され、ソース端子はゲート端子と共通に接
    続され、前記遅延部および差動増幅器の一方側入力端子
    の接続点に連結されたNMOSトランジスター(42)
    と、 該NMOSトランジスタ(42)のゲート端子およびソ
    ース端子の接続点に一端が連結されかつ他端に前記外部
    電圧を受ける抵抗(41)と、 の接続点から出力される請求項5記載の電源供給感知回
    路。
  7. 【請求項7】前記所定制御信号は、ゲート端子及びドレ
    イン端子の共通接続端子に外部電圧が印加されるNMO
    Sトランジスター(104)のソース端子から出力する
    ようになる請求項5記載の電源供給感知回路。
  8. 【請求項8】前記NMOSトランジスター(52)は、
    該NMOSトランジスター(52)のゲート端子が抵抗
    (106)を通って接地される請求項5記載の電源供給
    感知回路。
  9. 【請求項9】前記PMOSキャパシター(53)は、該
    PMOSキャパシター(53)のドレイン端子及びソー
    ス端子の接続点が抵抗(105)を通ってゲート端子に
    連結される請求項5記載の電源供給感知回路。
  10. 【請求項10】 前記PMOSトランジスターは、その
    ドレイン端子が前記差動増幅器の出力端子に連結され、
    そのソース端子には前記外部電圧が印加され、かつその
    ゲート端子は接地され、前記差動増幅器がディスエーブ
    ルされるとき前記差動増幅器の出力端子の電圧および前
    記ノードの電圧を一定に維持させる、請求項1記載の電
    源供給感知回路。
JP7333838A 1995-07-08 1995-12-22 電源供給感知回路 Expired - Fee Related JP2983460B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR95P20088 1995-07-08
KR1019950020088A KR0157885B1 (ko) 1995-07-08 1995-07-08 전원 공급 감지 회로

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0933576A JPH0933576A (ja) 1997-02-07
JP2983460B2 true JP2983460B2 (ja) 1999-11-29

Family

ID=19420144

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP7333838A Expired - Fee Related JP2983460B2 (ja) 1995-07-08 1995-12-22 電源供給感知回路

Country Status (3)

Country Link
US (1) US5610542A (ja)
JP (1) JP2983460B2 (ja)
KR (1) KR0157885B1 (ja)

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR960011205B1 (ko) * 1993-11-08 1996-08-21 삼성전자 주식회사 반도체메모리장치의 안정된 파워-온을 위한 스타트-엎회로
US6768222B1 (en) * 2000-07-11 2004-07-27 Advanced Micro Devices, Inc. System and method for delaying power supply power-up
KR100344843B1 (ko) * 2000-10-24 2002-07-20 주식회사 하이닉스반도체 전압 상승 감지 회로
US6943596B2 (en) * 2002-03-12 2005-09-13 Broadcom Corporation Power-on reset circuit for use in low power supply voltage applications
US6735142B1 (en) * 2002-10-01 2004-05-11 Nanoamp Solutions, Inc. Power-up control circuit with a power-saving mode of operation
KR100492801B1 (ko) * 2002-11-14 2005-06-07 주식회사 하이닉스반도체 리셋신호 발생회로 및 이를 이용한 불휘발성 강유전체메모리 장치
KR100557539B1 (ko) * 2003-05-30 2006-03-03 주식회사 하이닉스반도체 리셋신호 발생회로
US7504870B2 (en) * 2006-04-07 2009-03-17 Stmicroelectronics, Inc. Power-on reset circuit
WO2009012735A1 (de) * 2007-07-23 2009-01-29 Hüttinger Elektronik Gmbh + Co. Kg Plasmaversorgungseinrichtung
JP2009152735A (ja) * 2007-12-19 2009-07-09 Seiko Instruments Inc パワーオンクリア回路
CN107229015B (zh) * 2016-04-29 2020-03-24 上海良信电器股份有限公司 一种用于识别系统电源电压初始上电的检测方法

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4717840A (en) * 1986-03-14 1988-01-05 Western Digital Corporation Voltage level sensing power-up reset circuit
US4888498A (en) * 1988-03-24 1989-12-19 Texas Instruments Incorporated Integrated-circuit power-up pulse generator circuit
US5376835A (en) * 1992-10-22 1994-12-27 Advanced Micro Devices, Inc. Power-on reset circuit
KR960011205B1 (ko) * 1993-11-08 1996-08-21 삼성전자 주식회사 반도체메모리장치의 안정된 파워-온을 위한 스타트-엎회로
US5508649A (en) * 1994-07-21 1996-04-16 National Semiconductor Corporation Voltage level triggered ESD protection circuit

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0933576A (ja) 1997-02-07
KR0157885B1 (ko) 1999-03-20
KR970008885A (ko) 1997-02-24
US5610542A (en) 1997-03-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5612642A (en) Power-on reset circuit with hysteresis
US5581206A (en) Power level detection circuit
US5856748A (en) Sensing amplifier with current mirror
US7436226B2 (en) Power-up detection circuit that operates stably regardless of variations in process, voltage, and temperature, and semiconductor device thereof
US5767710A (en) Power-up reset signal generating circuit for an integrated circuit
JPH07235869A (ja) 入力バッファ
JP2983460B2 (ja) 電源供給感知回路
JPH1188146A (ja) レベルインターフェース回路
KR100548558B1 (ko) 반도체 장치용 내부전압 발생기
US5027324A (en) Sense amplifier driver for use in memory device
JP4169288B2 (ja) 低出力装置用電源投入検出回路
JPH05168151A (ja) 電源投入検出回路
KR100298182B1 (ko) 반도체메모리소자의출력버퍼
KR100307637B1 (ko) 부스팅 커패시터를 구비하는 입력버퍼 회로
US6362661B1 (en) Sense amplifier for use in a semiconductor memory device
JP3249396B2 (ja) ダイナミック回路
KR970005570B1 (ko) 데이타 출력버퍼
JPH04115622A (ja) カレントミラー型増幅回路及びその駆動方法
US7372321B2 (en) Robust start-up circuit and method for on-chip self-biased voltage and/or current reference
KR100349356B1 (ko) 파워 온 리셋 회로
JP2000252808A (ja) 集積回路
US6353560B1 (en) Semiconductor memory device
KR0137343B1 (ko) 반도체 메모리장치의 내부전원전압 발생회로 및 그 방법
KR100576923B1 (ko) 반도체 소자의 전압 드라이버 회로
JP3211881B2 (ja) 半導体記憶装置

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 19990907

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080924

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080924

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090924

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100924

Year of fee payment: 11

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110924

Year of fee payment: 12

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120924

Year of fee payment: 13

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130924

Year of fee payment: 14

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees